JP2018008040A5 - - Google Patents
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Description
本発明の一側面としての波面制御装置は、光が照射された媒質から発生する信号を検出する検出手段と、前記検出手段の出力に基づいて、前記光の波面を制御する制御手段と、を有し、前記制御手段は、前記媒質の内部における第1の測定位置から発生する信号に基づいて前記光の第1の波面を形成する処理と、前記第1の波面を有する光が照射された前記媒質から発生する信号に基づいて、前記媒質の内部における前記第1の測定位置とは異なる第2の測定位置を設定する処理と、前記第2の測定位置から発生する信号に基づいて前記光の第2の波面を形成する処理とを行うことを特徴とする。
Claims (17)
- 光が照射された媒質から発生する信号を検出する検出手段と、
前記検出手段の出力に基づいて前記光の波面を制御する制御手段とを有し、
前記制御手段は、
前記媒質の内部における第1の測定位置から発生する信号に基づいて前記光の第1の波面を形成する処理と、
前記第1の波面を有する光が照射された前記媒質から発生する信号に基づいて、前記媒質の内部における前記第1の測定位置とは異なる第2の測定位置を設定する処理と、
前記第2の測定位置から発生する信号に基づいて前記光の第2の波面を形成する処理とを行うことを特徴とする波面制御装置。 - 前記制御手段は、前記第2の測定位置を前記第1の測定位置、前記第2の波面を前記第1の波面として、前記第2の測定位置を設定する処理及び前記第2の波面を形成する処理を前記第2の測定位置が目標位置となるまで繰り返すことを特徴とする請求項1に記載の波面制御装置。
- 前記目標位置から発生する信号は、前記目標位置以外の位置から発生する信号とは異なる信号であることを特徴とする請求項2に記載の波面制御装置。
- 前記制御手段は、前記媒質から発生する信号の強度の最大値に対して、前記第1の測定位置から発生する信号の強度が75%よりも高くなるように前記第1の波面を形成し、前記第2の測定位置から発生する信号の強度が75%よりも高くなるように前記第2の波面を形成することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の波面制御装置。
- 前記制御手段は、前記第1の波面を有する光が照射された前記媒質から発生する信号の強度が閾値よりも高くなる領域において前記第2の測定位置を設定することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の波面制御装置。
- 前記制御手段は、前記媒質の深さ方向に垂直な面内における前記信号の強度分布に基づいて前記領域を推定することを特徴とする請求項5に記載の波面制御装置。
- 前記制御手段は、前記媒質の深さ方向における位置又は該深さ方向に垂直な方向における位置に応じて変化する信号の強度に基づいて、前記第2の測定位置を設定することを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の波面制御装置。
- 前記制御手段は、前記媒質の表面からの距離に応じて変化する信号の強度が、閾値よりも高くなる領域において前記第2の測定位置を設定することを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の波面制御装置。
- 前記閾値は、前記媒質の表面からの距離に応じて変化する信号の強度の最大値の半値であることを特徴とする請求項8に記載の波面制御装置。
- 前記第2の測定位置は、前記第1の測定位置よりも前記媒質の表面から離れた位置であることを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の波面制御装置。
- 前記制御手段は、超音波が入射した前記媒質の内部における該超音波が集束する領域の深さ方向での大きさに基づいて前記第2の測定位置を設定することを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の波面制御装置。
- 前記制御手段は、前記媒質に対する前記光の入射角を制御することで前記第2の測定位置を設定することを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の波面制御装置。
- 請求項1乃至10の何れか一項に記載の波面制御装置と、前記媒質の内部の光学特性に関する情報を取得する取得部とを有することを特徴とする情報取得装置。
- 前記光学特性に関する情報を表示する表示手段を有することを特徴とする請求項13に記載の情報取得装置。
- 媒質に照射される光の波面を制御する波面制御方法であって、
前記媒質の内部における第1の測定位置から発生する信号に基づいて前記光の第1の波面を形成するステップと、
前記第1の波面を有する光が照射された前記媒質から発生する信号に基づいて、前記媒質の内部における前記第1の測定位置とは異なる第2の測定位置を設定するステップと、
前記第2の測定位置から発生する信号に基づいて前記光の第2の波面を形成するステップとを有することを特徴とする波面制御方法。 - 請求項15に記載の波面制御方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
- 請求項16に記載のプログラムを記憶していることを特徴とする記憶媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/635,682 US10760956B2 (en) | 2016-07-05 | 2017-06-28 | Wavefront control apparatus, wavefront control method, information acquiring apparatus, and storage medium |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016133424 | 2016-07-05 | ||
JP2016133424 | 2016-07-05 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018008040A JP2018008040A (ja) | 2018-01-18 |
JP2018008040A5 true JP2018008040A5 (ja) | 2020-07-02 |
JP6882085B2 JP6882085B2 (ja) | 2021-06-02 |
Family
ID=60994595
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017113432A Active JP6882085B2 (ja) | 2016-07-05 | 2017-06-08 | 波面制御装置、波面制御方法、情報取得装置、プログラム、および、記憶媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6882085B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113574438B (zh) | 2019-02-03 | 2023-07-18 | 巴伊兰大学 | 通过散射介质成像的系统及方法 |
JP7252887B2 (ja) * | 2019-03-28 | 2023-04-05 | 株式会社アドバンテスト | 光音響波測定装置 |
JP7432227B2 (ja) * | 2020-02-27 | 2024-02-16 | 国立大学法人 東京大学 | 位相イメージング装置、位相イメージング方法 |
CN111202499B (zh) * | 2020-02-27 | 2023-05-23 | 浙江大学 | 快速高效自适应光学补偿的受激拉曼散射成像系统和方法 |
CN113959677A (zh) * | 2021-09-26 | 2022-01-21 | 上海日晴智能科技有限公司 | 一种结合3d全息技术的超高精度的超声波波面控制技术 |
KR102651449B1 (ko) * | 2022-03-16 | 2024-03-26 | 광주과학기술원 | 임의의 매질 내에서의 초음파 속도를 결정하는 방법 |
JP2024011846A (ja) | 2022-07-15 | 2024-01-25 | 株式会社アドバンテスト | 超音波測定装置、方法、プログラム、記録媒体 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9335605B2 (en) * | 2010-01-25 | 2016-05-10 | Washington University | Iteration of optical time reversal by ultrasonic encoding in biological tissue |
US20120127557A1 (en) * | 2010-11-19 | 2012-05-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for irradiating a medium |
US8817255B2 (en) * | 2010-12-17 | 2014-08-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for irradiating a scattering medium |
DE112014001147T5 (de) * | 2013-03-06 | 2015-11-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Fluoreszenz-Empfangsvorrichtung und Verfahren zum Empfangen von Fluoreszenz |
-
2017
- 2017-06-08 JP JP2017113432A patent/JP6882085B2/ja active Active
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