JP2017523422A - 同時光学電気信号の可干渉性受信 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (23)
- 変調周波数電圧に基づいて変調光信号を生成するように構成した変調光源と;
一またはそれ以上の試料の特性測定用に、前記変調光信号の少なくとも一部を試料に入射させるように構成した試料測定システムであって、前記一またはそれ以上の試料の特性の測定に応じて複数の測定電流を生成するように構成した試料測定システムと;
前記複数の電流からそれぞれ複数の測定電圧を生成するように構成した信号調整器と;
データ取得回路であって:
前記複数の測定電圧をサンプリング及びデジタル化して複数の測定デジタル信号を生成し、
前記変調周波数電圧をサンプリング及びデジタル化して基準デジタル信号を生成するように構成したデータ取得回路であり、
前記測定電圧と変調周波数電圧のサンプリングがほぼ同時に行われる、データ取得回路と;
前記基準デジタル信号を用いて前記測定デジタル信号のソフトウエアベースの可干渉性検出を行うように構成したコンピュータデバイスと;
を具えることを特徴とするシステム。 - 請求項1に記載のシステムにおいて、前記コンピュータデバイスが、少なくとも:
前記測定デジタル信号を前記基準デジタル信号に基づく混合信号と混合して複数の混合デジタル信号をそれぞれ生成すること;及び
前記デジタル混合信号をフィルタにかけて、出力デジタル信号を生成することによって、
前記測定デジタル信号の可干渉性検出を行うように構成されていることを特徴とするシステム。 - 請求項2に記載のシステムにおいて、前記混合信号が前記基準デジタル信号の高調和周波数に関連することを特徴とするシステム。
- 請求項2に記載のシステムにおいて、前記コンピュータデバイスが、前記出力デジタル信号に基づいて前記試料の前記一またはそれ以上の特性の一またはそれ以上の表示を生成するように構成されていることを特徴とするシステム。
- 請求項4に記載のシステムにおいて、前記一またはそれ以上の表示が、前記試料の外部量子効率(EQE)、内部量子効率(IQE)、あるいはEQEとIQEの両方を具えることを特徴とするシステム。
- 請求項1に記載のシステムにおいて、前記試料測定システムが:
前記複数の電流のうちの第1の電流であって、前記入射光信号の強度に関連する第1の電流を生成するように構成された基準検出器を具え;
前記複数の電流のうちの第2の電流が、前記入射光信号に応じて前記試料によって生成される;
ことを特徴とするシステム。 - 請求項1に記載のシステムにおいて、前記試料測定システムが:
前記複数の電流のうちの第1の電流であって、前記入射光信号の強度に関連する第1の電流を生成するように構成された基準検出器と;
前記複数の電流のうちの第2の電流であって、前記入射光信号に応じて前記試料によって反射された光信号の強度に関連する第2の電流を生成するように構成された反射率検出器と;を具え、
前記複数の電流のうちの第3の電流が、前記入射光信号に応じて前記試料によって生成される;
ことを特徴とするシステム。 - 複数の異なる変調周波数電圧に基づいて変調した複数の異なる波長の光信号をそれぞれ生成するように構成した光源と;
前記複数の異なる波長の光信号に基づいて複合光信号を生成するように構成した光学コンバイナと;
試料に前記複合光信号の少なくとも一部を入射させて、前記試料の一またはそれ以上の特性を測定するように構成した試料測定システムであって、前記試料の一またはそれ以上の特性の測定に応じて複数の測定電流を生成するように構成した、試料測定システムと;
前記複数の電流から複数の測定電圧を生成するように構成した信号調整器と;
データ取得回路であって:
前記複数の測定電圧をサンプリング及びデジタル化して複数の測定デジタル信号を生成し、
前記複数の変調周波数電圧をサンプリング及びデジタル化して複数の基準デジタル信号を生成するように構成したデータ取得回路であり、
前記測定電圧と変調周波数電圧のサンプリングがほぼ同時に行われる、データ取得回路と;
前記基準デジタル信号を用いて前記測定デジタル信号のソフトウエアベースの可干渉性検出を行うように構成したコンピュータデバイスと;
を具えることを特徴とするシステム。 - 請求項8に記載のシステムにおいて、前記コンピュータデバイスが、少なくとも:
前記基準信号に基づいて前記測定デジタル信号と混合信号を混合して、複数の混合デジタル信号をそれぞれ生成することと;
前記デジタル混合信号をフィルタにかけて出力デジタル信号を生成すること;
によって、前記測定デジタル信号の可干渉性検出を行うように構成されていることを特徴とするシステム。 - 請求項9に記載のシステムにおいて、前記混合信号が、前記基準デジタル信号の高調和周波数に関連することを特徴とするシステム。
- 請求項9に記載のシステムにおいて、前記混合信号が、少なくとも一対の前記基準信号に基づいて、それぞれ一又はそれ以上のビート周波数に関連することを特徴とするシステム。
- 請求項9に記載のシステムにおいて、前記コンピュータデバイスが、前記出力デジタル信号に基づいて前記試料の一またはそれ以上の特性の一またはそれ以上の表示を生成するように構成されていることを特徴とするシステム。
- 請求項12に記載のシステムにおいて、前記一またはそれ以上の表示が、前記試料の外部量子効率(EQE)、内部量子効率(IQE)、あるいはEQEとIQEの両方を具えることを特徴とするシステム。
- 請求項8に記載のシステムにおいて、前記試料測定システムが:
前記複数の電流のうちの第1の電流であって、前記入射光信号の強度に関連する第1の電流を生成するように構成された基準検出器を具え;
前記複数の電流のうちの第2の電流が、前記入射光信号に応じて前記試料によって生成される;
ことを特徴とするシステム。 - 請求項8に記載のシステムにおいて、前記試料測定システムが:
前記複数の電流のうちの第1の電流であって、前記入射光信号の強度に関連する第1の電流を生成するように構成された基準検出器と;
前記複数の電流のうちの第2の電流であって、前記入射光信号に応じて前記試料によって反射された光信号の強度に関連する第2の電流を生成するように構成された反射率検出器と;を具え、
前記複数の電流のうちの第3の電流が、前記入射光信号に応じて前記試料によって生成される;
ことを特徴とするシステム。 - 複数の異なる変調周波数電圧に基づいて変調した複数の異なる波長の光信号をそれぞれ生成するように構成した光源と;
試料の異なる領域に前記複数の光信号の一部を入射させて、前記試料の一またはそれ以上の特性を測定するように構成した試料測定システムであって、前記試料の一またはそれ以上の特性の測定に応じて複数の測定電流を生成するように構成した、試料測定システムと;
前記複数の電流から複数の測定電圧を生成するように構成した信号調整器と;
データ取得回路であって:
前記複数の測定電圧をサンプリング及びデジタル化して複数の測定デジタル信号を生成し、
前記複数の変調周波数電圧をサンプリング及びデジタル化して複数の基準デジタル信号を生成するように構成したデータ取得回路であり、
前記測定電圧と変調周波数電圧のサンプリングがほぼ同時に行われる、データ取得回路と;
前記基準デジタル信号を用いて前記測定デジタル信号のソフトウエアベースの可干渉性検出を行うように構成したコンピュータデバイスと;
を具えることを特徴とするシステム。 - 請求項16に記載のシステムにおいて、前記コンピュータデバイスが、少なくとも:
前記基準信号に基づいて前記測定デジタル信号と混合信号を混合して、複数の混合デジタル信号をそれぞれ生成するステップと;
前記デジタル混合信号をフィルタにかけて出力デジタル信号を生成するステップと;
によって、前記測定デジタル信号の可干渉性検出を行うように構成されていることを特徴とするシステム。 - 請求項17に記載のシステムにおいて、前記混合信号が、前記基準デジタル信号の高調和周波数に関連することを特徴とするシステム。
- 請求項17に記載のシステムにおいて、前記混合信号が、少なくとも一対の前記基準信号に基づいて、それぞれ一又はそれ以上のビート周波数に関連することを特徴とするシステム。
- 請求項17に記載のシステムにおいて、前記コンピュータデバイスが、前記出力デジタル信号に基づいて前記試料の一またはそれ以上の特性の一またはそれ以上の表示を生成するように構成されていることを特徴とするシステム。
- 請求項20に記載のシステムにおいて、前記一またはそれ以上の表示が、前記試料の外部量子効率(EQE)、内部量子効率(IQE)、あるいはEQEとIQEの両方を具えることを特徴とするシステム。
- 請求項16に記載のシステムにおいて、前記試料測定システムが:
前記複数の電流のうちの第1の電流であって、前記入射光信号の強度に関連する第1の電流を生成するように構成された基準検出器を具え;
前記複数の電流のうちの第2の電流が、前記入射光信号に応じて前記試料によって生成される;
ことを特徴とするシステム。 - 請求項16に記載のシステムにおいて、前記試料測定システムが:
前記複数の電流のうちの第1の電流であって、前記入射光信号の強度に関連する第1の電流を生成するように構成された基準検出器と;
前記複数の電流のうちの第2の電流であって、前記入射光信号に応じて前記試料によって反射された光信号の強度に関連する第2の電流を生成するように構成された反射率検出器と;を具え、
前記複数の電流のうちの第3の電流が、前記入射光信号に応じて前記試料によって生成される;
ことを特徴とするシステム。
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