JP2017521660A - 構造化光イメージング用の光パターンを調整するための方法およびシステム - Google Patents
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Abstract
Description
本願明細書で使用される「構造化光」という用語は、既知の画素パターン(例えばグリッドまたは水平バー)をシーン上に投影するプロセスとして定義される。投影されたパターン化光は、表面に至ると変形され、その変形を解析することにより、視覚システムが、シーン中の対象物の深度および表面の情報を計算することが可能になる。構造化光がどのように実現され得るかについてのさらなる詳細を提供するために、単に例示として、特許文献1の全体が本願明細書に援用される。
る。
でよい。本発明の複数の実施形態は、オペレーティング・システム、プロセッサ、メモリ、ディスク・ドライブ、および入出力デバイスなどの標準的な構成要素を含む、例えばパーソナル・コンピュータやワークステーションなどの、コンピューティング・システムの一部として含まれてよい。本発明の複数の実施形態は、限定されないが、OSXオペレーティング・システムまたはWINDOWS(登録商標)オペレーティング・システムを含む、任意のデバイス上の任意のオペレーティング・システムと適合性があってもよく、それと統合されてもよい。これに代わるコンピュータ構成が可能であり、本発明のシステムおよび方法は、限定されないが、ハンド・ヘルド・コンピューティング・システム、マウンタブル・コンピューティング・システム、またはモバイル・コンピューティング・システムを含む、さまざまな適切なコンピューティング・システム上で実現されてよい。
ターン300の最上線および最下線のところでも、線310は、より厚いものとしてもたらされることがあるが、一般的には、線310は、光源212を不必要に停止することなく、ほぼ一定の強度を呈する。水平ミラーの速度のため、強度は線に沿って幾分変動することがあることに留意されるべきである。十分に密な光パターン(例えば、カバーされるエリアに対する、ジグソー・パターンにおける線間の距離)を生成するために、およそ1:10以上の水平軸と垂直軸との間の比が要されることがある。前述の比は、線の数を規定しており、そのため、1:10は10本の線を与えるにすぎず、通常は、より多くの線が実際的な応用に要されることに留意されるべきである(例えば100本以上の線)。より速いスキャン速度は、立体軸(立体イメージがそれに沿って2つの視点から生じさせられる軸である)に沿って要され、この軸はたいてい、線パターン化光を使用する構造化光応用における垂直軸であり、この場合、ユーザの頭部や手の掌などの追跡されるべき対象物が垂直に配向されている。パターンの反射から抽出される深度マップは、本出願のある特定の実施形態に従って、ユーザの手または他の任意の身体部分によってとられるポーズおよびジェスチャーの認識に使用されてよいことに留意されよう。
な垂直線解像度を手に入れるというものである。複数回の露光の実現には、複数回の露光を達成することができるように、ゆっくりと変動するシーンを要する。投光部によって生成されるパターンに対する他の全ての調整と同じ様に、受光部には、そのパターンに対して加えられた調整に関係するデータが提供され、そのため、調整されたパターンごとの解析は、当技術分野で知られている空間符号化に依然として似ている。
本発明の教示の原理および使用は、添付の記述、図、および例を参照してより良く理解されることが可能である。
その上、本発明は、さまざまな方途で行われまたは実践され得ること、また本発明は、上の記述の中で概説されたもの以外の実施形態において実現され得ることが、理解されるべきである。
特許請求の範囲または本明細書が、「a」または「an」要素に言及する場合、そのような言及は、その要素が1つしかないとは解釈されないことが、理解されるべきである。
特許請求の範囲および本明細書に提示される記述、例、方法、および材料は、限定的なものと解釈されるべきではなく、単に例示的なものと解釈されるべきである。
本発明は、本願明細書に記述されたものと等価なまたは同様の方法および材料を使ったテストまたは実践において、実現されてよい。
Claims (26)
- 予め定義された基準に基づいて調整されたパターン化光によってシーンの照明を行うように構成されている投光部と、
調整された前記パターン化光の反射を受光するように構成されている受光部と、
前記パターン化光の前記調整を制御し、さらに、受光された前記反射を解析して、前記シーン内の対象物の深度マップを得るように構成されているコンピュータ・プロセッサとを備え、
前記投光部は、
光ビームを生み出すように構成されている光源と、
xyzデカルト座標系におけるxy平面に対し傾動可能な第1の反射器と、
前記xyzデカルト座標系におけるz軸に沿って傾動可能な第2の反射器と
を備え、
前記反射器は、調整された前記パターン化光を生じるように前記光ビームの方向を変更するべく、それらのそれぞれの軸に沿って傾動される
システム。 - 受光された前記反射の前記解析は、前記パターン化光の空間符号化に基づく、請求項1に記載のシステム。
- 前記パターン化光は閉リサージュ曲線である、請求項1に記載のシステム。
- 前記パターンの前記調整は、前記反射器のスキャンを、指定されたセクタ内の限定されたセクタに制限することによって行われる、請求項1に記載のシステム。
- 前記パターンの前記調整は、前記予め定義された調整基準を考慮することによって行われる、請求項1に記載のシステム。
- 前記パターンの前記調整は、前記パターン化光が照明されている関心領域(ROI)を生じさせるように前記光ビームの強度を低減させることによって行われる、請求項1に記載のシステム。
- 前記調整は、センサによって捕捉されるシーンの各フレームに対し異なるパターン化光を設定することを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記調整は、前記パターン化光の異なるセグメントに対し異なる強度を設定することを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記異なる強度は、前記シーンの幾何学的特性に基づいて決定される、請求項7に記載のシステム。
- 前記照明は可視波長内のレーザを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記コンピュータ・プロセッサは、相対周波数を制御して前記パターン中の線の数を変化させるようにさらに構成されている、請求項1に記載のシステム。
- 前記コンピュータ・プロセッサは、複数回の露光を生成してより高い解像度を得るようにさらに構成されている、請求項1に記載のシステム。
- 前記第1の反射器は、前記xy平面上の45°線にほぼ沿って傾動可能である、請求項
1に記載のシステム。 - 前記反射器は、それらのそれぞれの軸に沿って前後に傾動可能である、請求項1に記載のシステム。
- 予め定義された基準に基づいて調整されたパターン化光によってシーンの照明を行う方法であって、
光ビームを生み出す工程と、
第1の反射器をxyzデカルト座標系におけるxy平面に対し傾動させる工程と、
第2の反射器を前記xyzデカルト座標系におけるz軸に沿って傾動させる工程であって、両反射器の傾動は、調整された前記パターン化光を生じるように前記光ビームの方向を変更するべく協調される、工程と、
調整された前記パターン化光の反射を受光する工程と、
前記パターン光の前記調整を制御する工程と、
受光された前記反射を解析して、前記シーン内の対象物の深度マップを得る工程と
を備える方法。 - 受光された前記反射の前記解析は、前記パターン化光の空間符号化に基づく、請求項15に記載の方法。
- 前記パターン化光は閉リサージュ曲線である、請求項15に記載の方法。
- 前記パターンの前記調整は、前記予め定義された調整基準を考慮することによって行われる、請求項15に記載の方法。
- 前記パターンの前記調整は、前記パターン化光が照明されている関心領域(ROI)を生じさせるように前記光ビームの強度を低減させることによって行われる、請求項15に記載の方法。
- 前記調整は、センサによって捕捉されるシーンの各フレームに対し異なるパターン化光を設定することを含む、請求項15に記載の方法。
- 前記調整は、前記パターン化光の異なるセグメントに対し異なる強度を設定することを含む、請求項15に記載の方法。
- 前記異なる強度は、前記シーンの幾何学的特性に基づいて決定される、請求項21に記載の方法。
- 前記照明は可視波長内のレーザを含む、請求項15に記載の方法。
- 前記第1の反射器を傾動させる前記工程が、前記xy平面上の45°線にほぼ沿っている、請求項15に記載の方法。
- 前記反射器を傾動させる前記工程が、それらのそれぞれの軸に沿って前後に行われる、請求項15に記載の方法。
- 予め定義された基準に基づいて調整されたパターン化光によってシーンの照明を行うように構成されている投光部と、
調整された前記パターン化光の反射を受光するように構成されている受光部と、
前記パターン光の前記調整を制御し、さらに、受光された前記反射を解析して、前記シ
ーン内の対象物の深度マップを得るように構成されているコンピュータ・プロセッサと
を備え、
前記投光部は、調整された前記パターン化光としての閉リサージュ曲線を生成するように同期化される、2つ以上の制御可能な反射器を備える
システム。
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