JP2017519216A - 光学センサ表面における物質移動特性の正規化 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)既知の濃度の対照高分子粒子を含んでいる前記高分子粒子たんぱく質のpIよりも低いpHおよび低イオン強度の溶液を用意するステップと、
(2)前記溶液を負に帯電した光学センサ表面に第1の流量にて接触させて、前記高分子粒子の前記表面への静電的結合を可能にし、第1のセンサグラムを得るステップと、
(3)前記溶液を前記光学センサ表面に第2の流量にて接触させて、前記高分子粒子の前記表面への静電的結合を可能にし、第2のセンサグラムを得るステップと、
(4)前記センサグラムを結合方程式へとフィッティングし、前記対照高分子粒子の測定濃度を明らかにするステップと、
を含んでおり、
前記光学センサ表面には、前記対照高分子粒子のためのリガンドが固定されておらず、前記接触させるステップは、物質移動による律速のもとで実行される、方法を提供することである。
1)アナライトを含んでいる前記アナライトのpIよりも低いpHおよび低イオン強度の溶液を用意するステップと、
2)前記溶液を負に帯電した光学センサ表面に第1の流量にて接触させて、前記アナライトの前記表面への静電的結合を可能にし、第1のセンサグラムを得るステップと、
3)前記溶液を前記負に帯電した光学センサ表面に第2の流量にて接触させて、前記アナライトの前記表面への静電的結合を可能にし、第2のセンサグラムを得るステップと、
4)前記センサグラムを結合方程式へとフィッティングすることによって、前記アナライトの濃度を割り出すステップと、
を含んでおり、
前記光学センサ表面には、前記対照高分子粒子のためのリガンドが固定されておらず、前記接触させるステップは、物質移動による律速のもとで実行される、方法を提供することである。
(1)既知の濃度の対照高分子粒子を含んでいる前記高分子粒子のpIよりも低いpHおよび低イオン強度の溶液を用意するステップと、
(2)前記溶液を負に帯電した光学センサ表面に第1の流量にて接触させて、前記高分子粒子の前記表面への静電的結合を可能にし、第1のセンサグラムを得るステップと、
(3)前記溶液を前記光学センサ表面に第2の流量にて接触させて、前記高分子粒子の前記表面への静電的結合を可能にし、第2のセンサグラムを得るステップと、
(4)前記センサグラムを結合方程式へとフィッティングし、前記対照高分子粒子の測定濃度を明らかにするステップと、
を含んでおり、
前記光学センサ表面には、前記対照高分子粒子のためのリガンドが固定されておらず、前記接触させるステップは、物質移動による律速のもとで実行される、方法が提供される。
使用して得ることができる。光学センサ表面にリガンドを存在させて得られる濃度測定と異なり、測定は、アナライトとリガンドとの間の結合を必要としない。したがって、測定は、「活性な」(すなわち、リガンドに結合できる)アナライトと、不活性なアナライトとを区別しない。すなわち、「活性」濃度と比べて、総濃度が測定される。
(1)前記アナライトを含んでいる前記アナライトのpIよりも低いpHおよび低イオン強度の溶液を用意するステップと、
(2)前記溶液を負に帯電した光学センサ表面に第1の流量にて接触させて、前記アナライトの前記表面への静電的結合を可能にし、第1のセンサグラムを得るステップと、
(3)前記溶液を前記負に帯電した光学センサ表面に第2の流量にて接触させて、前記アナライトの前記表面への静電的結合を可能にし、第2のセンサグラムを得るステップと、
(4)前記センサグラムを結合方程式へとフィッティングすることによって、前記アナライトの濃度を割り出すステップと、
を含んでおり、
前記光学センサ表面には、前記対照高分子粒子のためのリガンドが固定されておらず、前記接触させるステップは、物質移動による律速のもとで実行される、方法が提供される。
A[0]=0
dA/dt=kt*(Conc−A)−(ka*A*B−kd*AB)
B[0]=RMax
dB/dt=−(ka*A*B−kd*AB)
AB[0]=0
dAB/dt=(ka*A*B−kd*AB)
総応答:
AB+RI
このモデルにおいて、物質移動定数ktの値は、以下の式に従って計算される定数として導入される。
完全な物質移動による律速の条件下で、結合速度は、流量の立方根に比例し、したがって指数Qは、1という値を有する。物質移動による律速が存在しない場合、結合速度は、流量とは無関係であり、したがってQは、流量比の立方根に等しい値を有する。したがって、Qについて考えられる理論値の範囲は、使用される流量に依存する(5および100μ/分の流量の場合、値は0.37)。QC比は、0〜1の尺度へと正規化されたQについての測定値から計算される。
Qmin=(小流量/大流量)1/3
QC比=(Qmeasured−Qmin)/(Qmax−Qmin)
場合により、測定された結合速度が、大流量における結合速度よりも低くなり、QC比について負の値がもたらされる可能性がある。これは、センサグラムが乱された場合や、実験変動の結果として結合速度が流量に左右されない(したがって、結合速度が理論的には等しくなり、QC比が0となる)場合に生じ得る。
Claims (21)
- 較正不要濃度分析のための標識不要システムの正規化のための方法であって、
(1)既知の濃度の対照高分子粒子を含んでいる前記高分子粒子のpIよりも低いpHおよび低イオン強度の溶液を用意するステップと、
(2)前記溶液を負に帯電した光学センサ表面に第1の流量にて接触させて、前記高分子粒子の前記表面への静電的結合を可能にし、第1のセンサグラムを得るステップと、
(3)前記溶液を前記光学センサ表面に第2の流量にて接触させて、前記高分子粒子の前記表面への静電的結合を可能にし、第2のセンサグラムを得るステップと、
(4)前記センサグラムを結合方程式へとフィッティングし、前記対照高分子粒子の測定濃度を明らかにするステップと、
を含んでおり、
前記光学センサ表面には、前記対照高分子粒子のためのリガンドが固定されておらず、前記接触させるステップは、物質移動による律速のもとで実行される、方法。 - 前記同じ光学センサ表面におけるアナライトの後の較正不要濃度分析のために、前記測定された濃度を前記既知の濃度と比較することによって前記センサ表面の補正係数を計算するステップ、をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記負に帯電した光学センサ表面は、カルボキシル基によって官能化されている、請求項1に記載の方法。
- 前記負に帯電した光学センサ表面は、カルボキシデキストランによって官能化されている、請求項1に記載の方法。
- ステップ2および3の間に、より高いイオン強度の緩衝液で前記光学センサ表面を洗浄することで、前記表面から前記結合した高分子粒子を取り除くステップ、をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- ステップ3の後で、より高いイオン強度の緩衝液で前記光学センサ表面を洗浄することで、前記表面から前記結合した高分子粒子を取り除く随意によるステップ、をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第1および第2の流量は異なる、請求項1に記載の方法。
- 前記第1の流量は、約5μl/分であり、前記第2の流量は、約100μl/分である、請求項1に記載の方法。
- 前記対照高分子粒子は、対照たんぱく質である、請求項1に記載の方法。
- 前記対照高分子粒子は、対照抗体である、請求項1に記載の方法。
- アナライトの濃度を割り出すための方法であって、
(1)前記アナライトを含んでいる前記アナライトのpIよりも低いpHおよび低イオン強度の溶液を用意するステップと、
(2)前記溶液を負に帯電した光学センサ表面に第1の流量にて接触させて、前記アナライトの前記表面への静電的結合を可能にし、第1のセンサグラムを得るステップと、
(3)前記溶液を前記負に帯電した光学センサ表面に第2の流量にて接触させて、前記アナライトの前記表面への静電的結合を可能にし、第2のセンサグラムを得るステップと、
(4)前記センサグラムを結合方程式へとフィッティングすることによって、前記アナライトの濃度を割り出すステップと、
を含んでおり、
前記光学センサ表面には、前記アナライトのためのリガンドが固定されておらず、前記接触させるステップは、物質移動による律速のもとで実行される、方法。 - ステップ2および3の間に、より高いイオン強度の緩衝液で前記光学センサ表面を洗浄することで、前記表面から前記結合したアナライトを取り除くステップ、をさらに含む、請求項11に記載の方法。
- ステップ3の後で、より高いイオン強度の緩衝液で前記光学センサ表面を洗浄することで、前記表面から前記結合したアナライトを取り除く随意によるステップ、をさらに含む、請求項11に記載の方法。
- 前記第1および第2の流量は異なる、請求項11に記載の方法。
- 前記第1の流量は、約5μl/分であり、前記第2の流量は、約100μl/分である、請求項11に記載の方法。
- 別の測定にて前記アナライトの濃度を測定し、測定された濃度を比較するステップ、をさらに含む、請求項11に記載の方法。
- 前記アナライトは、たんぱく質である、請求項11に記載の方法。
- 既知の濃度の既知の高分子粒子の溶液と、
前記高分子粒子の溶液の希釈のための低pHおよび低イオン強度の緩衝液と、
指示マニュアルと、
を含んでおり、
アナライトの較正不要濃度分析のための光学センサ表面の正規化のための標識不要システムにおける使用に適したキット。 - 前記光学センサ表面に付着した高分子粒子を洗い落とすためのより高いイオン強度の緩衝液、をさらに含む、請求項18に記載のキット。
- 前記高分子粒子の溶液は、前記高分子粒子のpIよりも低いpHを有する、請求項18に記載のキット。
- 前記高分子粒子は、たんぱく質である、請求項18に記載のキット。
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