JP2017220410A - 積層膜の製造装置、及び積層膜の製造方法 - Google Patents

積層膜の製造装置、及び積層膜の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2017220410A
JP2017220410A JP2016115945A JP2016115945A JP2017220410A JP 2017220410 A JP2017220410 A JP 2017220410A JP 2016115945 A JP2016115945 A JP 2016115945A JP 2016115945 A JP2016115945 A JP 2016115945A JP 2017220410 A JP2017220410 A JP 2017220410A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transfer
chamber
substrate
processed
transfer machine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016115945A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6937549B2 (ja
JP2017220410A5 (ja
Inventor
孝明 石川
Takaaki Ishikawa
孝明 石川
孝明 上村
Takaaki Kamimura
孝明 上村
教行 平田
Noriyuki Hirata
教行 平田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Display Inc
Original Assignee
Japan Display Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Display Inc filed Critical Japan Display Inc
Priority to JP2016115945A priority Critical patent/JP6937549B2/ja
Priority to TW106112151A priority patent/TWI655799B/zh
Priority to US15/599,788 priority patent/US10269597B2/en
Priority to KR1020170064177A priority patent/KR101952814B1/ko
Priority to CN201911155469.1A priority patent/CN110828349A/zh
Priority to CN201910608870.XA priority patent/CN110246789B/zh
Priority to CN201710391405.6A priority patent/CN107492602B/zh
Publication of JP2017220410A publication Critical patent/JP2017220410A/ja
Priority to KR1020190020467A priority patent/KR102059069B1/ko
Publication of JP2017220410A5 publication Critical patent/JP2017220410A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6937549B2 publication Critical patent/JP6937549B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67161Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/418Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41865Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by job scheduling, process planning, material flow
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67121Apparatus for making assemblies not otherwise provided for, e.g. package constructions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67138Apparatus for wiring semiconductor or solid state device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67161Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers
    • H01L21/67173Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the layout of the process chambers in-line arrangement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67184Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the presence of more than one transfer chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67207Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations comprising a chamber adapted to a particular process
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67236Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations the substrates being processed being not semiconductor wafers, e.g. leadframes or chips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67745Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber characterized by movements or sequence of movements of transfer devices
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • H10K50/125OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers specially adapted for multicolour light emission, e.g. for emitting white light
    • H10K50/13OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers specially adapted for multicolour light emission, e.g. for emitting white light comprising stacked EL layers within one EL unit
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/14Carrier transporting layers
    • H10K50/15Hole transporting layers
    • H10K50/157Hole transporting layers between the light-emitting layer and the cathode
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/14Carrier transporting layers
    • H10K50/16Electron transporting layers
    • H10K50/167Electron transporting layers between the light-emitting layer and the anode
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】設置場所の形状、広さに対する自由度が高く、工程変更、拡張等への対応度に優れた有機EL装置の製造装置を提供する。【解決手段】第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、前記第1又は第2移載機に接続された第2受渡室、及び前記第2受渡室に接続された搬送室とを有し、前記主搬送路と交差する方向に延在する副搬送路と、前記搬送室に接続された複数の処理室と、を有し、前記第1及び第2移載機と、前記第1受渡室と、前記第2受渡室と、が接続された領域は、連続した真空環境である。【選択図】図1

Description

本発明は、発光素子の製造装置及びその製造方法に関する。特に、表示装置に有機EL素子を形成する有機層および電極層を形成するための製造装置及びその製造方法に関する。
近年、表示部に有機エレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子)を用いた表示装置が、スマートフォン等の携帯情報端末を始め、様々な電子デバイスに広く用いられている。有機EL素子は、一対の電極の間に、各機能を有する有機層を積層挟持した構造を有し、その製造は、一方の電極が形成された基板上に、有機層を蒸着法又は塗布法等によって順次形成し、他方の電極をスパッタリング又は塗布法等によって形成することで行われる。
代表的な有機EL素子の有機層の構造としては、正孔注入層\正孔輸送層\発光層\電子輸送層\電子注入層といった積層構造が挙げられるが、これらを含め、有機EL素子を構成する積層を順次好適に形成するための製造装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−288463号公報
有機EL素子は、一対の電極間に挟持された有機層の材料、及び積層により構成されるが、要求する特性に応じてその構造は大きく異なる。このため、従来の有機EL素子とは異なる材料、及び積層構造を有する素子が提案されるに従い、それに合わせた製造装置の構築が必要となる。例えば特許文献1に記載の製造装置等においては、複数の処理室が接続された搬送室が、受渡室を介して直列に接続されているが、このような構成の場合、途中で積層構造を変更、あるいは新たな層を追加するには、一度配置した装置群の一部を分解して再配置する、あるいは新たな搬送室を追加接続するといった大規模な改修を必要とする。また、各処理はそれぞれの処理時間が異なるため、ある一工程では処理能力が高く、他の一工程では処理能力が低いといった差が生ずるが、搬送室が直列に接続されている場合、処理能力の低い工程がボトルネックとなり、全体のスループットを律速してしまうといった問題がある。
本発明は、上記に鑑み、各工程の処理能力に応じた最適な装置の構成を可能とし、かつ積層構造の変更や新たな層の追加等に伴う工程変更にも柔軟に対応することのできる発光素子の製造装置を提供することを課題の一とする。
本発明の一態様である発光素子の製造装置は、第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、第1又は第2移載機に接続された第2受渡室、及び第2受渡室に接続された搬送室とを有し、主搬送路と交差する方向に延在する副搬送路と、搬送室に接続された複数の処理室と、を有し、第1及び第2移載機と、第1受渡室と、第2受渡室と、が接続された領域は、連続した真空環境であることを特徴とする。
本発明の他の一態様である発光素子の製造装置は、第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、主搬送路に交差する方向に、第1又は第2移載機から、第2受渡室を介して接続された搬送室と、搬送室に接続された複数の処理室と、を有し、第1移載機又は第2移載機は、第1受渡室が接続される第1ポートと、第2受渡室が接続される第2ポートと、被処理基板を格納するバッファが接続される第3ポートと、を有し、搬送室は、第2受渡室が接続される第4ポート、及び複数の処理室の一が接続される第5ポートと、を有し、第1受渡室は、少なくとも二つが並行して設けられていることを特徴とする。
本発明の他の一態様である発光素子の製造方法は、第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、主搬送路に交差する方向に、第1移載機から、第2受渡室を介して接続された第1搬送室と、主搬送路に交差する方向に、第2移載機から、第3受渡室を介して接続された第2搬送室と、第1搬送室に接続された第1処理室と、第2搬送室に接続された第2処理室と、を有する発光素子の製造装置を用いた発光素子の製造方法であって、絶縁表面上に、画素電極と、画素電極の端部を覆うと共に、画素電極の一部を露出するバンクと、を有する被処理基板を用意し、被処理基板を、製造装置の主搬送路上に設けられた第1移載機に搬入し、被処理基板を、第1移載機から、第2受渡室を介して第1搬送室に搬入し、被処理基板を、第1搬送室から第1搬送室に接続された第1処理室に搬入し、画素電極及びバンク上に第1有機層を形成し、被処理基板を、第1処理室から第1搬送室に戻し、被処理基板を、第1搬送室から第2受渡室を介して第1移載機に戻し、被処理基板を、第1移載機から主搬送路上に設けられた第2移載機に搬入し、被処理基板を、第2移載機から、第3受渡室を介して第2搬送室に搬入し、被処理基板を、第2搬送室から第2搬送室に接続された第2処理室に搬入し、第1有機層上の、画素電極に重畳する領域に第2有機層を形成し、被処理基板を、第2処理室から第2搬送室に戻し、被処理基板を、第2搬送室から、第3受渡室を介して第2移載機に戻す工程を含み、被処理基板は、主搬送路、第2受渡室、第1搬送室、第1処理室、第3受渡室、第2搬送室、及び第2処理室を通じて連続した真空環境下に置かれることを特徴とする。
本発明の一態様である発光素子の製造装置を示す図。 本発明の一態様である発光素子の製造装置を示す図。 本発明の一態様である発光素子の製造装置を示す図。 従来の発光素子の製造装置の構成例を示す図。 有機EL素子の形成工程を示す図。 本発明の一態様である発光素子の製造装置を示す図。 本発明の一態様である発光素子の製造装置を示す図。
以下に、本発明の実施の形態の各々について、図面を参照しつつ説明する。図面は、説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状、大小関係等について模式的に表される場合があるが、特にそれらについての断りが無い限りは、これらはあくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して詳細な説明を適宜省略する場合がある。
また、本発明において、ある構造体の「上に」他の構造体を配置する態様を表現するにあたり、単に「上に」と表記する場合、特に断りの無い限りは、ある構造体に接するように、直上に他の構造体を配置する場合と、ある構造体の上方に、さらに他の構造体を介して他の構造体を配置する場合との両方を含むものとする。
図1は、本発明の一実施形態である発光素子の製造装置100の構成例を示したものである。図1において、移載機101〜103、および搬送コンベア(受渡室)111〜113で構成される部分が主搬送路であり、移載機101〜103の各々から、主搬送路に交差する方向に、搬送コンベア131〜135を介して、処理装置A〜Eが枝状に接続されている。110は基板投入取出口であり、例えば基板ストッカ(図示せず)等と接続される。搬送コンベア111〜113、及び131〜135は、隣接する移載機の間、又は移載機と処理装置A〜Eの搬送室191〜195との間で被処理基板の受け渡しを行うものである。図1においては、主搬送路は直線状となっているが、特に限定するものではなく、この例においては主搬送路を構成する移載機101〜103、及び搬送コンベア111〜113が一筆書き線状に接続されていれば良い。
移載機101は複数のポートを有し、ポートを介して搬送コンベア111、112、131、134が接続される。移載機101は、搬送アーム161を有し、搬送コンベア111、112、131、134と被処理基板の授受を行う。さらに、移載機101には一つ、あるいは複数のバッファ162が接続されていても良い。バッファ162は、装置投入待ちの被処理基板を一時的に退避させるものである。各処理装置A〜Eの処理能力が異なる場合、主搬送路上で被処理基板が滞留して、搬送順が前後する被処理基板がお互いを邪魔しないようにすることができる。図1においては、移載機101には2室のバッファが接続されているが、バッファは各移載機で必要な台数だけ接続されれば良く、例えば空きポート163があっても良い。
処理装置Aは、搬送アーム152を有する搬送室191に、各処理を行うチャンバ(処理室)151が複数接続されるように構成される。搬送室191と各チャンバは、ポートを介して接続される。各ポートは、ロードロック扉153を有する。ロードロック扉153は、装置の各部を必要に応じて真空又は特定雰囲気とするための気密性を備えており、ロードロック扉153の内側で連続する空間を、ロードロック扉153の外側の空間と遮断するロードロック機構を有する。図1においては、搬送室191は8箇所のポートを有し、うち1箇所を搬送コンベア131との接続で占有するため、最大7室のチャンバを接続することが可能である。チャンバは各工程で必要な台数だけ接続されれば良く、例えば空きポート154があっても良い。他の処理装置B〜Eについても同様である。
また、搬送コンベア111〜113、131〜135は、図1では基板が内部を移動するコンベア構造を有しているが、それぞれの移載機の間、又は移載機と処理装置との間の距離がそれほど長くなく、搬送アーム161の作動範囲内で被処理基板の受け渡しが可能であるのならば、単に被処理基板を設置するステージが設けられているだけでも良い。
本発明の一態様である発光素子の製造装置においては、移載機101〜103、主搬送路に設けられた搬送コンベア111〜113、及び枝状に設けられた搬送コンベア131〜135で接続された領域は、真空状態を保っている。このため、複数の処理装置間を被処理基板が行き来する場合にも、被処理基板は工程途中で大気曝露されない。
図2に、処理工程実施の一例を示す。矢印は、発光素子の製造装置100内での、被処理基板の進行ルートを簡単に示している。基板投入取出口110より、被処理基板が、搬送コンベア111を介して移載機101に送られる。移載機101は、搬送コンベア131を介して、最初の処理を行う処理装置Aの搬送室191に被処理基板を投入する。処理装置A内では、搬送室191と各処理室との間で被処理基板の受け渡しが行われ、それぞれの処理を行う。処理装置Aで全ての工程が完了すると、移載機101は搬送コンベア131から被処理基板を受け取り、搬送コンベア134に受け渡す。
以後、処理装置B、C、D、Eと、順次処理が実行され、全ての処理装置での工程が完了した被処理基板は、再び基板投入取出口110に戻る。
本発明の一態様である発光素子の製造装置の主たる特徴の一として、各処理装置A〜Eは、搬送コンベア131〜135を介して、主搬送路から枝状に接続されている点がある。例えば図2に示したように、処理装置A→B→C→D→Eのように、順次処理を行うのみならず、例えば積層構造の変更によって、使用する処理装置の順番がA→E→C→D→Bなどと変わっても、各処理装置の接続を変更せずに対応が可能である。
また、各処理装置に接続されたチャンバにおける工程は必ずしも連続しているとは限らないし、同一チャンバでの処理が、異なる工程で複数含まれる場合もある。このような場合も、被処理基板は主搬送路の往復を容易に行うことができる。
仮に、使用する処理装置の順番が複雑になったとしても、各移載機が有しているバッファによって、被処理基板の退避、すれ違いは容易に行うことができる。製造装置内に複数の被処理基板が投入されていても同様である。
移載機102の空きポート164や、移載機103の空きポート165には、将来的な拡張の余地がある。例えば、新たに処理装置170を接続したり(図1参照)、さらに搬送コンベアを接続して工程数を拡大したりすることが可能である。
本発明の一態様である発光素子の製造装置においては、このような拡張に対する柔軟性を有する。例えば空きポート164に接続する新たな処理装置170は、他の処理装置で行われる処理の間に行われるものであっても良い。例えば、処理装置A→B→C→D→Eの間に、新たな処理装置Fを追加し、工程をA→F→B→C→D→Eと組み替える必要があったとしても、空きポート164を利用して処理装置Fを追加するのみで良い。他の処理装置A〜Eや、移載機101〜103等、既存の設備については移設の必要がない。
また、各処理装置で実施される工程は、その全てが同等の処理時間を有するとは限らず、ある工程が他の工程に比べてより長い処理時間を要することは珍しくない。長い処理時間を要する処理装置がボトルネックとなり、発光素子の製造装置全体のスループットを低下させてしまう。このような場合、空きポート164を利用して、長い処理時間を要する処理装置を並列に増設しても良い。複数の被処理基板のそれぞれを並列処理向けに振り分け、各部のバッファ162を用いることで、単機の処理装置で行う工程と、複数機の処理装置で並列で行う工程との間を適切に接続することができる。
例えば有機EL素子の形成には、複数の有機層の各々を別工程で純度良く成膜することが必要であり、かつその成膜環境は真空又は減圧、もしくは特定の雰囲気下であるため、多数の処理室が必要である。従って製造装置の規模が大きくなり、クリーンルームの形状、床面積に対してレイアウトが簡単でない場合がある。本発明の一態様である発光素子の製造装置は、主搬送路上に、移載機を複数並べることで、枝状に接続される処理装置の配置自由度を高くできるため、前述の問題を適切に解決できる。
さらに、装置のレイアウト形状が著しく限定されるような場合は、一部の搬送コンベアを長くして、移載機同士、処理装置同士、又は移載機と処理装置との間隔を広げての対応も可能である。例えば図6に示すように、処理装置A、Cはそれぞれ1枚葉の処理室601、602を有し、処理装置B、Dはそれぞれ2枚葉の処理室603、604を有する場合、当然ながら処理室603、604は床面積が大きくなるため配置の都合が悪くなる場合がある。このような場合、搬送コンベア620を搬送コンベア610よりも長くすることによって、処理装置B、Dの配置自由度を高くすることができる。
図6では、処理装置A、Cの処理室は全て1枚葉、処理装置B、Dの処理室は全て2枚葉として示しているが、これに限定されるものではなく、一台の処理装置に1枚葉、2枚葉の処理室が混在しても良い。
図3は、図1のX−X’断面を示している。図1にて既に説明したものについては同一の符号を付している。図3中、310で示す箇所、つまり搬送コンベア111、移載機101は主搬送路に該当し、320で示す箇所、つまり搬送コンベア131、処理装置Aは、主搬送路から枝状に配置されている。
基板投入取出口110には、投入を待つ基板カセット301が設置されている。搬送アーム302は、基板カセット301から被処理基板を取り出し、搬送コンベア111に移送する。図3中、搬送コンベア111は二層式として示されている。これは、主搬送路においては被処理基板が同時期に行き来する場合の効率化を狙ったものである。図3に示す通り、上層側コンベア、及び下層側コンベアの一方を往路方向、他方を復路方向とする一方向搬送型でも良いし、各々が自由に往復可能な双方向搬送型であっても良い。この構成によって、複数の被処理基板が主搬送路をすれ違うことが可能となる。また、図3において、搬送コンベア111は上下に二層が重なっているが、これに限定するものではなく、水平方向あるいは斜め方向に二層が並んでいても良い。
移載機101は搬送アーム161を有し、主搬送路の搬送コンベア111と搬送コンベア112(図3には図示せず)との間、又は主搬送路の搬送コンベア111と処理装置Aの搬送室191に繋がる搬送コンベア131との間で被処理基板の受け渡しを行う。搬送コンベア131は処理装置Aの搬送室191への被処理基板の受け渡しを行うものであり、この経路においては、同時期に複数の被処理基板が行き来する必要は通常無いため、主搬送路に属する搬送コンベア111と異なり、一層式の双方向搬送型で良い。勿論二層式としても良い。主搬送路と処理装置Aとの距離を十分に近づけることが出来る場合は、搬送コンベア131は単なる被処理基板設置用のステージであっても良い。
処理装置Aは、搬送コンベア131から、搬送室191に設けられた搬送アーム152によって被処理基板を取り出し、チャンバ151に投入する。搬送室191には、複数のチャンバが接続されているのが一般的であり、搬送室191と各チャンバの間を被処理基板が往復しながら処理が進行する。処理装置A内での処理が完了すると、被処理基板は搬送コンベア131を戻り、主搬送路に送り出される。
基板投入口110、搬送コンベア111、移載機101、搬送コンベア131、及び搬送室191は、それぞれポートを介して接続されている。搬送室191には、チャンバ151がポートを介して接続されている。各ポートは、ロードロック扉351〜357を有する。発光素子の製造装置100内で実施される処理のいくつかは、真空又は減圧、あるいは特定の雰囲気を必要とするため、各ロードロック扉は十分な気密性を有している。処理装置内では、各チャンバで異なる雰囲気とすることも可能であり、基板移載の際は、必要最小限の領域だけを開放するようにして、雰囲気置換や減圧を効率化することができる。
搬送コンベア111、131はそれぞれ、被処理基板を載せて移動するステージ303を有する。表示装置の製造装置においては、例えばステージ303では、被処理基板が移動中にずれたりステージ303から脱落したりしないように、真空チャック等によって吸着されるが、有機EL素子の蒸着装置等においては、搬送経路が大気曝露されないように真空保持されるため、真空チャックでの吸着が難しい。被処理基板のズレ、脱落防止の一策として、例えばステージ303上に被処理基板を保持するためのピンを、被処理基板の周端部近傍に当たるように、かつ中央部には当たらないように設けることで、敢えて被処理基板の中央が重力でたわんだ状態で移送する等の手法が考えられる。被処理基板の中央部は、たわみによってピンの頂点より低い位置となるため、被処理基板の横方向へのズレが防止される。
又は、特に図示しないが、ステージ303に被処理基板ホールド用の爪を持たせて、基板の端部、特に成膜に影響の無い箇所を掴んで保持できるようにしても良い。
次に、図5を用いて、有機EL素子の製造工程に関して説明する。図5(A)〜(F)は、表示装置500の表示領域の断面図を示している。絶縁表面501上には、画素電極502、503が形成されている。ここで、絶縁表面501の下層には、各画素を制御するためのトランジスタや、発光素子に電流を供給するための配線等が形成されている。画素電極502、503の端部を覆うように、バンク504が形成されている。画素電極502、503の表面のうち、バンク504から露出する領域に重畳する領域が、後の発光領域となる。画素電極502、503及びバンク504の形成までは、フォトリソグラフィ及びエッチングを用いた工程で行われる。図5(A)まで終了した状態の基板が、前述の被処理基板に該当する。
ここでは、画素電極502、503が、有機EL素子の陽極(ANODE)となる場合の構成について説明する。画素電極502、503が陽極となる場合は、表面に仕事関数の大きい材料を用いることが望まれる。図5(A)において、下側に出射光を取り出す構成をボトムエミッション方式と呼ぶが、この場合、画素電極502、503はITO、IZO、ZnO等の透明導電材料で形成することが好ましい。画素電極が透明であるから光の取り出しが可能であり、かつ仕事関数も大きいため、好適である。反対に、上側に出射光を取り出すトップエミッション方式の場合、画素電極502、503には反射性が求められるため、Ag等が用いられると共に、最表面にITOの層を薄く形成して、表面での仕事関数を大きくする等の構成が挙げられる。
図5(B)に示すように、被処理基板上に、まずホール輸送層505を形成する。ホール輸送性材料としては、トリアリールアミン誘導体、又はビススチリルアミン誘導体等が望ましく、代表的な化合物としては、α―NPD、TPD、TPAC、Spiro−TPD、PDA、m−MTDATA等が挙げられる。画素電極502、503の表面の仕事関数によっては、画素電極502、503とホール輸送層505との間に、ホール注入層を設けても良い。また、ホール輸送層505は、画素電極502、503、及びバンク504を覆うように、連続的な膜として設けられているが、画素電極502、503の各々に対して個別に形成されても良い。
続いて、図5(C)に示すように、ホール輸送層505上に、発光層506、507を形成する。図5(C)では、画素電極502と重なる領域には発光層506が形成され、画素電極503と重なる領域には発光層507が形成されている。これは、各画素の発光色に合わせて、異なる材料を含む発光層を個別に形成するためである。図5(C)では、発光層506を形成するために、画素電極502と重なる領域に開口を有するマスク550を基板と平行に配置している。これにより、画素電極503と重なる領域には発光層506は形成されない。画素電極503上に発光層507を形成する際には、異なる位置に開口を有するマスク550を用いて、画素電極503と重なる領域のみに発光層507が形成される。図5(C)に示すように、発光色に応じて個別に発光層を形成する場合は、発光色の数だけマスクを使用し、前述の工程を繰り返すことによって行われる。これとは別の方式として、例えば白色発光が得られる材料を用いて、ホール輸送層505等と同様に、画素電極502上から画素電極503上に亘って連続的な発光層を形成する場合もある。この場合、発色は別途設けるカラーフィルタや色変換層が用いられる。
発光層506、507の材料としては、アルミニウム錯体、イリジウム錯体、ベリリウム錯体等の金属錯体が代表的である。また、前述の材料をホスト材料とし、微量のドーパントを共蒸着することで発光層506、507を形成しても良い。この場合のドーパント材料としては、ペリレン、ルブレン、クマリン等が代表的である。発光層506、507で所望する発光色に合わせて、前述の材料がそれぞれ選択される。
続いて、図5(D)に示すように、ホール輸送層505、及び発光層506、507上に、電子輸送層508を形成する。電子輸送性材料としては、トリアゾール誘導体、又はオキサジアゾール誘導体等が望ましく、代表的な化合物としては、BND、PBD、TAZ、OXD等が挙げられる。図5(D)においては、電子輸送層508はホール輸送層505、及び発光層506、507を覆うように、連続的な膜として設けられているが、画素電極502、503の各々の上に、個別に形成されても良い。
続いて、図5(E)に示すように、電子輸送層508上に、対向電極509を形成する。対向電極509は、有機EL素子の陰極(CATHODE)となるため、仕事関数の小さい材料が望まれる。代表的には、MgAg、又はAl等が用いられる。これらは金属材料であるため、通常は反射電極として形成される。ボトムエミッション方式の場合、対向電極509は反射電極として構わないが、トップエミッション方式の場合、対向電極509は出射光を透過させる必要があるため、先の金属材料を、10nm〜数10nm程度の薄膜状に形成し、ある程度の透過性を有するように形成される。対向電極509として、ITO、IZO、ZnO等の透明導電材料を用いて形成しても良い。この場合、材料の仕事関数が比較的大きいため、電子輸送層508と対向電極509との間に、電子注入層を設けても良い。
以上で、有機EL素子の形成は完了する。有機EL素子は、大気中の水分により容易に劣化が進行するため、各成膜工程、及びその間の被処理基板の搬送中は大気曝露を避けることが好ましい。従って、製造装置内は真空、あるいは特定ガス雰囲気が保たれ、その中を被処理基板が移動する構成とすることが好ましい。
また、前述の大気中の水分による劣化は、有機EL素子の形成が完了した後であっても進行し得るため、有機EL素子の大気曝露を防ぐことを目的の一つとして、図5(F)に示すように、封止膜を形成しても良い。ここでは、窒化シリコン膜510、有機樹脂膜511、窒化シリコン膜512の3層構造として形成している。封止膜の最下層に窒化シリコン膜510を形成することで、高い防湿性を付与することができるため、その後の有機樹脂膜511等の形成においては、大気圧下で実施されても良い。これらの封止膜は、有機EL素子への異物の付着や、鋭利な異物による積層膜の破損等を防止する点でも有用である。
図4は、従来の発光素子の製造装置を示しているが、処理装置A〜Eが移載機421〜424及び搬送コンベア411、412を介して、基板投入口401及び基板取出口402の間に直列に接続されている。基板投入口401から投入された被処理基板は、処理装置Aから順にB、C、D、Eと通過する。
このような構成において、処理順序を変更したい場合、例えば処理装置Aでの処理の直後に、処理装置Bではなく処理装置Dでの処理を行いたい場合であっても、介在する処理装置B、Cを経由しなければならない。つまり、基板の動線上に処理装置が配置されているため、処理装置Aでの処理が終了してから処理装置Dの処理を開始するまでの間に、処理装置BおよびCでの基板の処理は出来ない。また、仮に処理装置Aと処理装置Bとの間に、新たに処理装置Fを追加しようとすると、少なくとも処理装置A、搬送コンベア411、基板投入口401の移設が必須となってしまう。従って、図4のような従来の発光素子の製造装置においては、工程の変更及び追加に伴う装置構成の変更は容易ではない。さらに、前述したように、途中の特定の処理装置がボトルネックになる場合、その部分を並列化して全体のスループットを上げるといった手法も、従来の構成では困難である。
また、図4に示した発光素子の製造装置は、装置を直列に接続する都合上、基板投入口401と基板取出口402が別になる。一方、図1に示した本発明の一態様である発光素子の製造装置は、基板投入取出口110が被処理基板の投入、取り出しを行うため、他の装置やストッカとの被処理基板の受け渡しが簡単であるという利点もある。このように、投入口と取出口を共通とする構成を、インターバック方式と呼んでいる。基板投入取出口110のみならず、各処理装置A〜Eについても、搬送コンベア131〜135がそれぞれの装置への投入、取り出しを行っているから、インターバック方式が採られている。また、各処理装置をインターバック方式とすることにより、主搬送路に対して枝状に配置することができ、装置間の接続やレイアウトが簡単かつ自由度が高くなる。もちろん、処理装置を配置する環境によっては、基板の投入口と取出口を別とするのが望ましい場合もあるから、適宜構成を選択すれば良い。
また、図1において、基板投入取出口110、移載機101〜103、及び搬送コンベア111〜113で構成される主搬送路において、移載機103の、搬送コンベア113が接続されている側でない空きポート180の先を、さらに基板投入取出口110に接続して、主搬送路を環状とする構成としても良い。この場合、厳密にはインターバック式ではないが、主搬送路上を進んだ被処理基板が、一周して基板投入取出口110に戻って回収される点ではインターバック式と同等である。
図7に、具体例を示す。発光素子の製造装置700は、基板投入取出口110は搬送コンベア731に接続されており、搬送コンベア731との間で被処理基板の授受を行う。移載機701〜708、及び搬送コンベア731〜738で形成される環状の経路が主搬送路であり、各移載機には、主搬送路を構成する搬送コンベアが接続されるポートを除くポートに、副搬送路を介して処理装置を接続することができる。図7においては、実線で示した処理装置Aの他、さらに点線で示した処理装置B〜H、J〜Lを接続することができる。図7の例では、主搬送路上の移載機701〜708にはそれぞれ、副搬送路を介して1台又は2台の処理装置が接続されているが、配置スペースが許す限りにおいて、3台以上の処理装置が接続されても良い。
さらに、各処理装置に接続するチャンバの数に着目すると、図4に示した従来の構成によると、各処理装置には、前工程からの基板を受け入れる基板投入面と、次工程に基板を流す基板排出面が独立して必要となる。一方、図1に示した本発明の一態様の構成においては、各処理装置は主搬送路から枝状に配置されているため、基板投入面と基板排出面は同一で良い。すなわち、1機の処理装置に接続可能なチャンバが1箇所多いという利点もある。
以上のことからも、本発明の一態様である発光素子の製造装置の構成の優位性は顕著なものであるといえる。
付記として、本発明の一態様である発光素子の製造装置及び発光素子の製造方法における技術的特徴について以下に列記する。
第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、前前記第1又は第2移載機に接続された第2受渡室、及び前記第2受渡室に接続された搬送室とを有し、前記主搬送路と交差する方向に延在する副搬送路と、前記搬送室に接続された複数の処理室と、を有し、前記第1及び第2移載機と、前記第1受渡室と、前記第2受渡室と、が接続された領域は、連続した真空環境であることを特徴とする。
前記第1移載機又は前記第2移載機は、前記第1の受渡室が接続される第1ポートと、前記第2受渡室が接続される第2ポートと、被処理基板を格納するバッファが接続される第3ポートと、を有し、前記バッファは、前記第3ポートを介して接続される前記第1又は前記第2移載機と連続した真空環境であることを特徴とする。
第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、前記主搬送路に交差する方向に、前記第1又は第2移載機から、第2受渡室を介して接続された搬送室と、前記搬送室に接続された複数の処理室と、を有し、前記第1移載機又は前記第2移載機は、前記第1受渡室が接続される第1ポートと、前記第2受渡室が接続される第2ポートと、被処理基板を格納するバッファが接続される第3ポートと、を有し、前記搬送室は、前記第2受渡室が接続される第4ポート、及び前記複数の処理室の一が接続される第5ポートと、を有し、前記第1受渡室は、少なくとも二つが並行して設けられていることを特徴とする。
前記第1乃至第3ポートは、前記第1又は前記第2移載機を中心に放射状に配置され、前記第1又は前記第2移載機の、隣接しない2箇所に前記第1ポートが配置され、前記第1又は前記第2移載機の、前記第1ポートが配置された箇所を除く、隣接しない2箇所に前記第2ポートが配置され、前記第1ポートと前記第2ポートとの間に前記第3ポートが配置されることを特徴とする。
前記複数の処理室はそれぞれ、前記搬送室を中心に、放射状に接続されることを特徴とする。
前記第1乃至第3ポートはそれぞれ、気密性を有することを特徴とする。
前記第1乃至第5ポートはそれぞれ、気密性を有することを特徴とする。
前記主搬送路上の末端に位置する前記第1又は前記第2移載機の前記第1ポートに、基板投入取出口をさらに有し、処理前の前記被処理基板の投入と、処理済の前記被処理基板の取り出しは、いずれも前記基板投入取出口を介して行われることを特徴とする。
前記主搬送路上の一の末端に位置する前記第1又は前記第2移載機の前記第1ポートに、基板投入口をさらに有し、前記主搬送路上の他の末端に位置する前記第1又は前記第2移載機の前記第1ポートに、基板取出口をさらに有し、処理前の前記被処理基板の投入は、前記基板投入口を介して行われ、処理済の前記被処理基板の取り出しは、前記基板取出口を介して行われることを特徴とする。
前記主搬送路上の他の移載機の一の前記第1ポートの一に、基板投入取出口をさらに有し、前記基板投入取出口は、前記主搬送路上の前記移載機の他の一の前記第1ポートの一と接続され、前記主搬送路は、前記第1移載機、前記第1受渡室、前記第2移載機、前記他の移載機の一、及び前記基板投入取出口を通る環状経路を有し、処理前の前記被処理基板の投入と、処理済の前記被処理基板の取り出しは、いずれも前記基板投入取出口を介して行われることを特徴とする。
前記主搬送路は、一筆書き形状であることを特徴とする。
前記第1受渡室は、前記第1及び前記第2移載機の間に複数並列に接続されることを特徴とする。
前記第1受渡室は、前記主搬送路と前記副搬送路とが交差する箇所に設けられ、被処理基板を主搬送路から副搬送路へ、あるいは副搬送路から主搬送路へ移動させるように構成されることを特徴とする。
第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、前記主搬送路に交差する方向に、前記第1移載機から、第2受渡室を介して接続された第1搬送室と、前記主搬送路に交差する方向に、前記第2移載機から、第3受渡室を介して接続された第2搬送室と、前記第1搬送室に接続された第1処理室と、前記第2搬送室に接続された第2処理室と、を有する発光素子の製造装置を用いた発光素子の製造方法であって、絶縁表面上に、画素電極と、前記画素電極の端部を覆うと共に、前記画素電極の一部を露出するバンクと、を有する被処理基板を用意し、前記被処理基板を、製造装置の主搬送路上に設けられた第1移載機に搬入し、前記被処理基板を、前記第1移載機から、前記第2受渡室を介して第1搬送室に搬入し、前記被処理基板を、前記第1搬送室から前記第1搬送室に接続された第1処理室に搬入し、前記画素電極及び前記バンク上に第1有機膜を形成し、前記被処理基板を、前記第1処理室から前記第1搬送室に戻し、前記被処理基板を、前記第1搬送室から前記第2受渡室を介して前記第1移載機に戻し、前記被処理基板を、前記第1移載機から前記主搬送路上に設けられた第2移載機に搬入し、前記被処理基板を、前記第2移載機から、前記第3受渡室を介して第2搬送室に搬入し、前記被処理基板を、前記第2搬送室から前記第2搬送室に接続された第2処理室に搬入し、前記第1有機層上の、前記画素電極に重畳する領域に第2有機層を形成し、前記被処理基板を、前記第2処理室から前記第2搬送室に戻し、前記被処理基板を、前記第2搬送室から、前記第3受渡室を介して前記第2移載機に戻す工程を含み、前記被処理基板は、前記主搬送路、前記第2受渡室、前記第1搬送室、前記第1処理室、前記第3受渡室、前記第2搬送室、及び前記第2処理室を通じて連続した真空環境下に置かれることを特徴とする。
前記第1搬送室に接続された、第3処理室をさらに有し、前記第2有機層の形成後、前記被処理基板を、前記第2移載機から前記第1移載機に搬入し、前記被処理基板を、前記第1移載機から、前記第1副搬送路を介して前記第1搬送室に搬入し、前記被処理基板を、前記第1搬送室から前記第3処理室に搬入し、前記第1有機層及び前記第2有機層上に第3有機層を形成する工程をさらに含み、前記被処理基板は、前記第3処理室において真空環境下に置かれることを特徴とする。
前記主搬送路上で、前記第1移載機又は前記第2移載機に、第4受渡室を介して接続された第3移載機と、前記主搬送路に交差する方向に、前記第3移載機から、第5受渡室を介して接続された第3搬送室と、前記第3搬送室に接続された、第3処理室をさらに有し、前記第2有機層の形成後、前記被処理基板を、前記第2移載機から前記第3移載機に搬入し、前記被処理基板を、前記第3移載機から、前記第5受渡室を介して前記第3搬送室に搬入し、前記被処理基板を、前記第3搬送室から前記第3処理室に搬入し、前記第1有機層及び前記第2有機層上に第3有機層を形成する工程をさらに含み、前記被処理基板は、前記第4受渡室、前記第5受渡室、前記第3搬送室、及び前記第3処理室において真空環境下に置かれることを特徴とする。
前記第1有機膜は、前記発光素子のホール輸送層又は電子輸送層を含むことを特徴とする。
前記第2有機膜は、前記発光素子の発光層を含むことを特徴とする。
前記第1有機膜は、前記発光素子のホール輸送層又は電子輸送層のいずれか一方を含み、前記第3有機膜は、前記発光素子のホール輸送層又は電子輸送層の他方を含むことを特徴とする。
前記第1移載機又は前記第2移載機に接続されたバッファを有し、前記第1移載機又は前記第2移載機から前記バッファに前記被処理基板を搬入する工程をさらに含むことを特徴とする。
前記第1移載機、前記第2移載機、及び前記第3移載機のいずれか一に接続されたバッファを有し、 前記第1移載機、前記第2移載機、及び前記第3移載機のいずれか一から前記バッファに前記被処理基板を搬入する工程をさらに含むことを特徴とする。
100,700:発光素子の製造装置、101〜103,421〜424,701〜708:移載機、111〜113,131〜135,411,412,610,620,731〜738:搬送コンベア、191〜195:搬送室、110:基板投入取出口、151:チャンバ、152,161,302:搬送アーム、153,351〜357:ロードロック扉、154,163〜165:空きポート、162:バッファ、301:基板カセット、303:ステージ、401:基板投入口、402:基板取出口、500:表示装置、501:絶縁表面、502,503:画素電極、504:バンク、505:ホール輸送層、506,507:発光層、508:電子輸送層、509:対向電極、510,512:窒化シリコン膜、511:有機樹脂膜、550:マスク、601〜604:処理室

Claims (21)

  1. 第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、
    前記第1又は第2移載機に接続された第2受渡室、及び前記第2受渡室に接続された搬送室とを有し、前記主搬送路と交差する方向に延在する副搬送路と、
    前記搬送室に接続された複数の処理室と、を有し、
    前記第1及び第2移載機と、前記第1受渡室と、前記第2受渡室と、が接続された領域は、連続した真空環境であることを特徴とする、発光素子の製造装置。
  2. 前記第1移載機又は前記第2移載機は、
    前記第1受渡室が接続される第1ポートと、前記第2受渡室が接続される第2ポートと、被処理基板を格納するバッファが接続される第3ポートと、を有し、
    前記バッファは、前記第3ポートを介して接続される前記第1又は前記第2移載機と連続した真空環境であることを特徴とする、請求項1記載の発光素子の製造装置。
  3. 第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、
    前記主搬送路に交差する方向に、前記第1又は第2移載機から、第2受渡室を介して接続された搬送室と、
    前記搬送室に接続された複数の処理室と、を有し、
    前記第1移載機又は前記第2移載機は、前記第1受渡室が接続される第1ポートと、前記第2受渡室が接続される第2ポートと、被処理基板を格納するバッファが接続される第3ポートと、を有し、
    前記搬送室は、前記第2受渡室が接続される第4ポート、及び前記複数の処理室の一が接続される第5ポートと、を有し、
    前記第1受渡室は、少なくとも二つが並行して設けられていることを特徴とする、発光素子の製造装置。
  4. 前記第1乃至第3ポートは、前記第1又は前記第2移載機を中心に放射状に配置され、
    前記第1又は前記第2移載機の、隣接しない2箇所に前記第1ポートが配置され、
    前記第1又は前記第2移載機の、前記第1ポートが配置された箇所を除く、隣接しない2箇所に前記第2ポートが配置され、
    前記第1ポートと前記第2ポートとの間に前記第3ポートが配置されることを特徴とする、請求項2又は請求項3記載の発光素子の製造装置。
  5. 前記複数の処理室はそれぞれ、前記搬送室を中心に、放射状に接続されることを特徴とする、請求項1又は請求項3に記載の発光素子の製造装置。
  6. 前記第1乃至第3ポートはそれぞれ、気密性を有することを特徴とする、請求項2記載の発光素子の製造装置。
  7. 前記第1乃至第5ポートはそれぞれ、気密性を有することを特徴とする、請求項3又は請求項4記載の発光素子の製造装置。
  8. 前記主搬送路上の末端に位置する前記第1又は前記第2移載機の前記第1ポートに、基板投入取出口をさらに有し、
    処理前の前記被処理基板の投入と、処理済の前記被処理基板の取り出しは、いずれも前記基板投入取出口を介して行われることを特徴とする、請求項2乃至請求項7のいずれか一に記載の発光素子の製造装置。
  9. 前記主搬送路上の一の末端に位置する前記第1又は前記第2移載機の前記第1ポートに、基板投入口をさらに有し、
    前記主搬送路上の他の末端に位置する前記第1又は前記第2移載機の前記第1ポートに、基板取出口をさらに有し、
    処理前の前記被処理基板の投入は、前記基板投入口を介して行われ、処理済の前記被処理基板の取り出しは、前記基板取出口を介して行われることを特徴とする、請求項2乃至請求項7のいずれか一に記載の発光素子の製造装置。
  10. 前記主搬送路上の他の移載機の一の前記第1ポートの一に、基板投入取出口をさらに有し、
    前記基板投入取出口は、前記主搬送路上の前記移載機の他の一の前記第1ポートの一と接続され、
    前記主搬送路は、前記第1移載機、前記第1受渡室、前記第2移載機、前記他の移載機の一、及び前記基板投入取出口を通る環状経路を有し、
    処理前の前記被処理基板の投入と、処理済の前記被処理基板の取り出しは、いずれも前記基板投入取出口を介して行われることを特徴とする、請求項2乃至請求項7のいずれか一に記載の発光素子の製造装置。
  11. 前記主搬送路は、一筆書き形状であることを特徴とする、請求項1乃至請求項10のいずれか一に記載の発光素子の製造装置。
  12. 前記第1受渡室は、前記第1及び前記第2移載機の間に複数並列に接続されることを特徴とする、請求項1乃至請求項11のいずれか一に記載の発光素子の製造装置。
  13. 前記第1受渡室は、前記主搬送路と前記副搬送路とが交差する箇所に設けられ、
    被処理基板を主搬送路から前記副搬送路へ、あるいは前記副搬送路から主搬送路へ移動させるように構成されることを特徴とする、請求項1乃至請求項11のいずれか一に記載の発光素子の製造装置。
  14. 第1受渡室を介して接続された、第1及び第2移載機を有する主搬送路と、
    前記主搬送路に交差する方向に、前記第1移載機から、第2受渡室を介して接続された第1搬送室と、
    前記主搬送路に交差する方向に、前記第2移載機から、第3受渡室を介して接続された第2搬送室と、
    前記第1搬送室に接続された第1処理室と、
    前記第2搬送室に接続された第2処理室と、を有する発光素子の製造装置を用いた発光素子の製造方法であって、
    絶縁表面上に、画素電極と、前記画素電極の端部を覆うと共に、前記画素電極の一部を露出するバンクと、を有する被処理基板を用意し、
    前記被処理基板を、製造装置の主搬送路上に設けられた第1移載機に搬入し、
    前記被処理基板を、前記第1移載機から、前記第2受渡室を介して第1搬送室に搬入し、
    前記被処理基板を、前記第1搬送室から前記第1搬送室に接続された第1処理室に搬入し、
    前記画素電極及び前記バンク上に第1有機層を形成し、
    前記被処理基板を、前記第1処理室から前記第1搬送室に戻し、
    前記被処理基板を、前記第1搬送室から前記第2受渡室を介して前記第1移載機に戻し、
    前記被処理基板を、前記第1移載機から前記主搬送路上に設けられた第2移載機に搬入し、
    前記被処理基板を、前記第2移載機から、前記第3受渡室を介して第2搬送室に搬入し、
    前記被処理基板を、前記第2搬送室から前記第2搬送室に接続された第2処理室に搬入し、
    前記第1有機層上の、前記画素電極に重畳する領域に第2有機層を形成し、
    前記被処理基板を、前記第2処理室から前記第2搬送室に戻し、
    前記被処理基板を、前記第2搬送室から、前記第3受渡室を介して前記第2移載機に戻す工程を含み、
    前記被処理基板は、前記主搬送路、前記第2受渡室、前記第1搬送室、前記第1処理室、前記第3受渡室、前記第2搬送室、及び前記第2処理室を通じて連続した真空環境下に置かれることを特徴とする、発光素子の製造方法。
  15. 前記第1搬送室に接続された、第3処理室をさらに有し、
    前記第2有機層の形成後、
    前記被処理基板を、前記第2移載機から前記第1移載機に搬入し、
    前記被処理基板を、前記第1移載機から、前記第1副搬送路を介して前記第1搬送室に搬入し、
    前記被処理基板を、前記第1搬送室から前記第3処理室に搬入し、
    前記第1有機層及び前記第2有機層上に第3有機層を形成する工程をさらに含み、
    前記被処理基板は、前記第3処理室において真空環境下に置かれることを特徴とする、請求項14記載の発光素子の製造方法。
  16. 前記主搬送路上で、前記第1移載機又は前記第2移載機に、第4受渡室を介して接続された第3移載機と、
    前記主搬送路に交差する方向に、前記第3移載機から、第5受渡室を介して接続された第3搬送室と、
    前記第3搬送室に接続された、第3処理室をさらに有し、
    前記第2有機層の形成後、
    前記被処理基板を、前記第2移載機から前記第3移載機に搬入し、
    前記被処理基板を、前記第3移載機から、前記第5受渡室を介して前記第3搬送室に搬入し、
    前記被処理基板を、前記第3搬送室から前記第3処理室に搬入し、
    前記第1有機層及び前記第2有機層上に第3有機層を形成する工程をさらに含み、
    前記被処理基板は、前記第4受渡室、前記第5受渡室、前記第3搬送室、及び前記第3処理室において真空環境下に置かれることを特徴とする、請求項14記載の発光素子の製造方法。
  17. 前記第1有機層は、前記発光素子のホール輸送層又は電子輸送層を含むことを特徴とする、請求項14記載の発光素子の製造方法。
  18. 前記第2有機層は、前記発光素子の発光層を含むことを特徴とする、請求項14記載の発光素子の製造方法。
  19. 前記第1有機層は、前記発光素子のホール輸送層又は電子輸送層のいずれか一方を含み、
    前記第3有機層は、前記発光素子のホール輸送層又は電子輸送層の他方を含むことを特徴とする、請求項15又は請求項16記載の発光素子の製造方法。
  20. 前記第1移載機又は前記第2移載機に接続されたバッファを有し、
    前記第1移載機又は前記第2移載機から前記バッファに前記被処理基板を搬入する工程をさらに含むことを特徴とする、請求項14記載の発光素子の製造方法。
  21. 前記第1移載機、前記第2移載機、及び前記第3移載機のいずれか一に接続されたバッファを有し、
    前記第1移載機、前記第2移載機、及び前記第3移載機のいずれか一から前記バッファに前記被処理基板を搬入する工程をさらに含むことを特徴とする、請求項16記載の発光素子の製造方法。
JP2016115945A 2016-06-10 2016-06-10 発光素子の製造装置 Active JP6937549B2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016115945A JP6937549B2 (ja) 2016-06-10 2016-06-10 発光素子の製造装置
TW106112151A TWI655799B (zh) 2016-06-10 2017-04-12 發光元件之製造裝置及製造方法
US15/599,788 US10269597B2 (en) 2016-06-10 2017-05-19 Manufacturing apparatus of light-emitting element
KR1020170064177A KR101952814B1 (ko) 2016-06-10 2017-05-24 발광 소자의 제조 장치 및 그 제조 방법
CN201911155469.1A CN110828349A (zh) 2016-06-10 2017-05-27 发光元件的制造装置
CN201910608870.XA CN110246789B (zh) 2016-06-10 2017-05-27 发光元件的制造方法
CN201710391405.6A CN107492602B (zh) 2016-06-10 2017-05-27 发光元件的制造装置和制造方法
KR1020190020467A KR102059069B1 (ko) 2016-06-10 2019-02-21 발광 소자의 제조 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016115945A JP6937549B2 (ja) 2016-06-10 2016-06-10 発光素子の製造装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2017220410A true JP2017220410A (ja) 2017-12-14
JP2017220410A5 JP2017220410A5 (ja) 2019-07-11
JP6937549B2 JP6937549B2 (ja) 2021-09-22

Family

ID=60572988

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016115945A Active JP6937549B2 (ja) 2016-06-10 2016-06-10 発光素子の製造装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10269597B2 (ja)
JP (1) JP6937549B2 (ja)
KR (2) KR101952814B1 (ja)
CN (3) CN107492602B (ja)
TW (1) TWI655799B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11189514B2 (en) * 2019-07-29 2021-11-30 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus and substrate transfer method
WO2022137022A1 (ja) * 2020-12-25 2022-06-30 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の製造装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6830772B2 (ja) * 2016-08-04 2021-02-17 株式会社ジャパンディスプレイ 積層膜の製造装置、及び積層膜の製造方法
CN110544660B (zh) * 2018-08-02 2022-08-16 北京北方华创微电子装备有限公司 模块化晶圆传输系统和半导体设备
JP2021180306A (ja) * 2020-05-12 2021-11-18 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 高スループットマルチチャンバ基材処理システム

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07211762A (ja) * 1994-01-13 1995-08-11 Hitachi Ltd ウエハ搬送処理装置
JP2002117973A (ja) * 2000-05-16 2002-04-19 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 有機電界発光素子及びその製造装置
JP2008178946A (ja) * 2007-01-25 2008-08-07 Ulvac Japan Ltd 搬送ロボット、真空装置
JP2009224231A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Ulvac Japan Ltd 有機el製造装置及び有機el製造方法
KR20130074307A (ko) * 2011-12-26 2013-07-04 엘아이지에이디피 주식회사 척킹 및 디척킹 장치부를 갖는 유기발광소자 양산 시스템
JP2015502654A (ja) * 2011-10-26 2015-01-22 ブルックス オートメーション インコーポレイテッド 半導体ウェハのハンドリングおよび搬送
WO2015139776A1 (en) * 2014-03-21 2015-09-24 Applied Materials, Inc. Evaporation source for organic material

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5934856A (en) * 1994-05-23 1999-08-10 Tokyo Electron Limited Multi-chamber treatment system
DE10061882C1 (de) * 2000-12-12 2002-05-29 Georg Bollig Dünnband-Gießanlage
JP4078813B2 (ja) * 2001-06-12 2008-04-23 ソニー株式会社 成膜装置および成膜方法
US8900366B2 (en) * 2002-04-15 2014-12-02 Samsung Display Co., Ltd. Apparatus for depositing a multilayer coating on discrete sheets
US20040035360A1 (en) * 2002-05-17 2004-02-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing apparatus
US20040040504A1 (en) * 2002-08-01 2004-03-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing apparatus
JP2004288463A (ja) 2003-03-20 2004-10-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 製造装置
US20040206307A1 (en) * 2003-04-16 2004-10-21 Eastman Kodak Company Method and system having at least one thermal transfer station for making OLED displays
EP1717339A2 (de) * 2005-04-20 2006-11-02 Applied Films GmbH & Co. KG Kontinuierliche Beschichtungsanlage
JP5051869B2 (ja) * 2006-06-14 2012-10-17 東京エレクトロン株式会社 発光素子および発光素子の製造方法
JP5051870B2 (ja) * 2006-06-14 2012-10-17 東京エレクトロン株式会社 発光素子の製造装置および発光素子の製造方法
CN101674893B (zh) * 2007-05-09 2012-08-08 应用材料公司 用真空延伸室储放遮盘的传输室及包含该传输室的主框架及设备组
US9353436B2 (en) 2008-03-05 2016-05-31 Applied Materials, Inc. Coating apparatus with rotation module
JP2011518252A (ja) * 2008-03-05 2011-06-23 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 回転モジュールを備えたコーティング装置
US8070408B2 (en) * 2008-08-27 2011-12-06 Applied Materials, Inc. Load lock chamber for large area substrate processing system
JP4954162B2 (ja) 2008-08-29 2012-06-13 東京エレクトロン株式会社 処理システム
TW201408133A (zh) * 2008-09-04 2014-02-16 Hitachi High Tech Corp 有機電激發光裝置製造裝置及其製造方法以及成膜裝置及成膜方法
JP5476171B2 (ja) * 2010-03-16 2014-04-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 真空処理装置
JP5427099B2 (ja) * 2010-04-23 2014-02-26 西部電機株式会社 板状物の搬送システム
JP5551625B2 (ja) * 2011-01-13 2014-07-16 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び基板処理方法
JP2013251416A (ja) * 2012-05-31 2013-12-12 Tokyo Electron Ltd 積層膜の製造方法及び真空処理装置
KR101971199B1 (ko) * 2012-09-21 2019-08-14 삼성디스플레이 주식회사 유기층 증착 장치, 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07211762A (ja) * 1994-01-13 1995-08-11 Hitachi Ltd ウエハ搬送処理装置
JP2002117973A (ja) * 2000-05-16 2002-04-19 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 有機電界発光素子及びその製造装置
JP2008178946A (ja) * 2007-01-25 2008-08-07 Ulvac Japan Ltd 搬送ロボット、真空装置
JP2009224231A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Ulvac Japan Ltd 有機el製造装置及び有機el製造方法
JP2015502654A (ja) * 2011-10-26 2015-01-22 ブルックス オートメーション インコーポレイテッド 半導体ウェハのハンドリングおよび搬送
KR20130074307A (ko) * 2011-12-26 2013-07-04 엘아이지에이디피 주식회사 척킹 및 디척킹 장치부를 갖는 유기발광소자 양산 시스템
WO2015139776A1 (en) * 2014-03-21 2015-09-24 Applied Materials, Inc. Evaporation source for organic material

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11189514B2 (en) * 2019-07-29 2021-11-30 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus and substrate transfer method
WO2022137022A1 (ja) * 2020-12-25 2022-06-30 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20170140075A (ko) 2017-12-20
KR101952814B1 (ko) 2019-02-28
TW201810763A (zh) 2018-03-16
KR102059069B1 (ko) 2019-12-24
CN107492602A (zh) 2017-12-19
TWI655799B (zh) 2019-04-01
KR20190020014A (ko) 2019-02-27
US20170358469A1 (en) 2017-12-14
US10269597B2 (en) 2019-04-23
CN110246789B (zh) 2023-05-23
CN110246789A (zh) 2019-09-17
JP6937549B2 (ja) 2021-09-22
CN107492602B (zh) 2019-12-20
CN110828349A (zh) 2020-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6830772B2 (ja) 積層膜の製造装置、及び積層膜の製造方法
KR102059069B1 (ko) 발광 소자의 제조 장치
US8802488B2 (en) Substrate depositing system and depositing method using the same
JP7148587B2 (ja) 成膜装置、および電子デバイスの製造方法
JP2009170282A (ja) 基板処理装置および有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
TWI518828B (zh) 基板處理系統
KR102038816B1 (ko) 유기발광소자 박막 증착 장치 및 유기발광소자 제조방법
KR101700608B1 (ko) 기판처리장치
KR102413664B1 (ko) 클러스터 증착 시스템
KR101225212B1 (ko) Oled제조장치 및 방법
KR101175988B1 (ko) 기판처리장치 및 방법
WO2011040538A1 (ja) 基板処理システム
KR20220103545A (ko) 증착 시스템
JP2009218384A (ja) 基板処理装置および有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190605

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190605

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200522

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200728

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200925

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201119

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210105

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20210305

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210428

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210803

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210831

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6937549

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150