JP2017198519A

JP2017198519A - 発光装置の検査方法

Info

Publication number: JP2017198519A
Application number: JP2016088839A
Authority: JP
Inventors: 佳生常本; Yoshio Tsunemoto
Original assignee: Nichia Chemical Industries Ltd
Current assignee: Nichia Chemical Industries Ltd
Priority date: 2016-04-27
Filing date: 2016-04-27
Publication date: 2017-11-02
Anticipated expiration: 2036-04-27
Also published as: JP6623918B2

Abstract

【課題】発光装置の特性検査を容易に行うことができる検査方法を提供する。【解決手段】下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、上面に備えられる発光装置載置部及び発光装置載置部とは異なる位置に備えらえる当接部を備える一対の導電部と、導電部を支持する支持部と、発光装置を固定するための吸着孔とを備える測定台を準備する工程と、測定台の導電部と、発光装置の端子部とが接するように、発光装置を前記導電部上に載置し、発光装置の上面を治具で押さえずに、測定台の上面に設けられた吸着孔を用いた真空吸着により発光装置を固定する工程と、当接部にプローブを当接して通電し、発光装置を発光させる工程と、を含む発光装置の検査方法。【選択図】図２

Description

本発明は、発光装置の検査方法に関する。

発光ダイオード（ＬＥＤ）等の発光装置として、種々の構造の発光装置が知られている。例えば、セラミックパッケージや、成形された樹脂パッケージなどのパッケージに、半導体発光素子（以下「発光素子」とも称する）が載置され、さらに発光素子を透光性樹脂で被覆した構造が知られている。

このような発光装置に通電して検査を行う際は、発光装置の端子にプローブを接触させて通電する。その際、発光装置は動かないように固定される（例えば、特許文献１）。

特開平５−２１５４４号公報

近年、種々の構造の発光装置が開発されており、上述のような検査方法では検査が困難な場合がある。

本開示は、以下の構成を含む。
下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、上面に備えられる発光装置載置部及び発光装置載置部とは異なる位置に備えらえる当接部を備える一対の導電部と、導電部を支持する支持部と、発光装置を固定するための吸着孔とを備える測定台を準備する工程と、測定台の導電部と、発光装置の端子部とが接するように、発光装置を前記導電部上に載置し、発光装置の上面を治具で押さえずに、測定台の上面に設けられた吸着孔を用いた真空吸着により発光装置を固定する工程と、当接部にプローブを当接して通電し、発光装置を発光させる工程と、を含む発光装置の検査方法。

以上により、発光装置の特性検査を容易に行うことができる。

図１（ａ）〜（ｃ）は、実施形態に係る発光装置の検査方法に用いられる発光装置を示す概略図である。図２（ａ）、（ｂ）は、実施形態に係る発光装置の検査方法を説明する概略図である。

本発明を実施するための形態を、以下に図面を参照しながら説明する。ただし、以下に示す形態は、本発明の技術思想を具体化するための発光装置の検査方法を例示するものであって、本発明は、発光装置の検査方法を以下に限定するものではない。

また、本明細書は、特許請求の範囲に示される部材を、実施の形態の部材に特定するものでは決してない。特に、実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は、特定的な記載がない限りは、本開示の範囲をそれのみに限定する趣旨ではない。尚、各図面が示す部材の大きさや位置関係等は、説明を明確にするため誇張していることがある。さらに以下の説明において、同一の名称、符号については同一もしくは同質の部材を示しており、詳細説明を適宜省略する。

＜実施形態１＞
実施形態１に係る発光装置の検査方法は、以下の工程を備える。
１）発光装置を準備する工程
２）測定台を準備する工程
３）発光装置を測定台に固定する工程
４）発光装置を発光させる工程
以下、各工程について詳説する。

１）発光装置を準備する工程
図１（ａ）〜（ｃ）に、発光装置の一例を示す。（ａ）は斜め上からみた斜視図、（ｂ）斜め下から見た斜視図、（ｃ）は（ａ）のＡ−Ａ線における断面図である。は発光装置１は、下面１ａに一対の端子部１１を備える。端子部１１は、発光装置１の一対の電極として機能する部材である。

発光装置１は、発光素子１２と、発光素子１２を被覆する樹脂部材１３とを備えている。発光素子１２は、発光層などの半導体層を含む積層構造体１２ａと、正負一対の電極１２ｂと、を備えている。電極１２ｂは、端子部１１と電気的に接続されている。樹脂部材１３は、発光素子１２の側面を覆う遮光性樹脂部材１３ｂと、発光素子１２の上面を覆う透光性樹脂部材１３ａとを備えている。これにより、発光装置１の側面１ｃは、主として遮光性樹脂部材１３ｂで構成され、発光装置１の上面１ｂは、主として透光性樹脂部材１３ａで構成される。発光装置１の下面１ａは、一対の端子部１１と、遮光性樹脂部材１３ｂとで構成される。尚、発光装置の構成は、上述の構成部材の他の部材を備えていてもよい。

２）測定台を準備する工程
測定台２０は、発光装置に通電し、発光特性などを測定するための検査装置に備えられる。測定台２０は、図２（ａ）に示すように、一対の導電部２１と、導電部を支持する絶縁性の支持部２２と、を備える。導電部２１は、測定台２０の上面２０ａに配置される発光装置載置部２１ａと、発光装置載置部２１ａとは異なる位置に備えらえる当接部２１ｃと、を備える。当接部２１ｃは、プローブが当接される部分である。当接部２１ｃは、図２（ａ）では測定台２０の下面に設けられている。ただし、この位置に限らず、プローブを当接しやすい場所であれば、測定台の上面又は側面などであってもよい。測定台２０の上面２０ａには、発光装置を吸着するための吸着孔２３を備えている。吸着孔は、例えば、一対の導電部の間、または、一対の導電部の外側に設けることができる。

３）発光装置を測定台に固定する工程
次いで、上述の測定台２０の上面２０ａに、発光装置１を載置する。その際に、測定台２０の上面２０ａの発光装置載置部２１ａと、発光装置１の下面の端子部１１とが接するように、導電部２１上に発光装置１を載置する。

次に、発光装置１を測定台２０の上面２０ａにおいて動かないように固定する。固定方法は、図２（ｂ）に示すように、測定台２０の上面２０ａの導電部２１の間に設けられた吸着孔２３を用いて真空吸着によって固定する。このとき、発光装置１の上面を治具で押さえずに固定するのが好ましい。これにより、発光装置１側面又は上面を構成する樹脂部材には負荷がかからないように発光装置１固定することができる。

４）発光装置を発光させる工程
次に、測定台２０の当接部２１ｃにプローブ２４を当接して通電する。これにより発光装置１を発光させることができる。プローブ２４が接触するのは、発光装置１ではなく測定台２０の当接部２１ｃであるため、発光装置１を下方向から押圧することがない。

以上のように、発光装置１の下面１ａ側のみを真空吸着により固定する場合であっても、プローブを直接発光装置に当接させないため、その当接させる際に係る押力によって発光装置の固定が解除されにくい。

＜実施形態２＞
実施形態２では、発光装置を固定する工程が実施形態１と異なる。すなわち、実施形態１では、測定台に設けられた吸着孔による真空吸着で発光装置を固定していたのに対し、実施形態２では導電部に備えられた磁石と発光装置の電極とを磁力により固定する点が異なる。

実施形態２に係る検査方法は、磁石に引っ付く材料を備えている発光装置に適用することができる。例えば、電極として鉄（Ｆｅ）を含む金属材料が用いられた発光装置などに適用することができる。あるいは、電極として機能しない部材として、例えば、放熱部材として鉄を含む金属材料を用いた発光装置などに適用することができる。

磁石としては、電磁石が好ましい。また、真空吸着と磁石とを併用してもよい。また、導電部自体が磁石であってもよく、あるいは、導電部に磁石を接続させて導電部を擬似的に磁石として用いてもよい。

以上の各実施形態に係る発光装置の検査方法に用いられる発光装置は、その上面や側面などを押さえにくい構造を備える場合に有効である。例えば、図１に示すような、発光装置の上面全面が透光性部材である場合は、検査時に、何らかの治具を用いて上から押さえる際に、その治具に引っ付く虞がある。そのため、本開示に示す方法で検査することで、容易に検査することができる。

また、図１に示す発光装置１では、発光装置の下面１ａの一対の端子部１１が比較的大きな面積で設けられている。このような発光装置の場合は、測定台の上面の一対の導電部の間に吸着孔を設けることで、発光装置の下面１ａの樹脂部材を吸着することができる。発光装置の下面において、端子部と発光装置の側面との間の距離が大きい場合は、端子部の外側の樹脂部材を吸着孔してもよい。その場合、一対の導電部の外側に吸着孔を備えた測定台を用いる。

また、発光装置が、平板状の基板上に凸レンズ部を備えるような構造の場合、検査時に、何らかの治具を用いて上から押さえる際に、その治具が凸レンズ部に当たるなどにより損傷する可能性がある。そのため、本開示に示す方法で検査することで、発光装置を損傷せず、容易に検査することができる。

また、発光装置が、発光素子の上面に配置される透光性樹脂よりも、発光素子の側面に配置される樹脂部材の方が硬度が低い場合、あるいはタック性が高い場合も、治具に引っ付いたり、変形したりする虞がある。そのため、本開示に示す方法で検査することで、発光装置を損傷せず、容易に検査することができる。

本開示に係る発光装置の検査方法は、種々の発光装置の検査方法として適用することができる。

１…発光装置
１ａ…発光装置の下面
１ｂ…発光装置の上面
１ｃ…発光装置の側面
１１…端子部
１２…発光素子
１２ａ…積層構造体
１２ｂ…電極
１３…樹脂部材
１３ａ…透光性樹脂部材
１３ｂ…遮光性樹脂部材
２０…測定台
２０ａ…測定台の上面
２１…導電部
２１ａ…発光装置載置部
２１ｃ…当接部
２２…支持部
２３…吸着孔
２４…プローブ

Claims

下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、
上面に備えられる発光装置載置部及び前記発光装置載置部とは異なる位置に備えらえる当接部を備える一対の導電部と、前記導電部を支持する支持部と、前記発光装置を固定するための吸着孔とを備える測定台を準備する工程と、
前記測定台の前記導電部と、前記発光装置の前記端子部とが接するように、前記発光装置を前記導電部上に載置し、前記測定台の上面に設けられた吸着孔を用いた真空吸着により前記発光装置を固定する工程と、
前記当接部にプローブを当接して通電し、前記発光装置を発光させる工程と、
を含む発光装置の検査方法。
下面に端子部を備える発光装置を準備する工程と、
上面に備えられる発光装置載置部及び前記発光装置載置部とは異なる位置に備えらえる当接部を備える一対の導電部と、前記導電部を支持する支持部と、前記発光装置を固定するための磁石とを備える測定台を準備する工程と、
前記測定台の前記導電部と、前記発光装置の前記端子部とが接するように、前記発光装置を前記導電部上に載置し、前記導電部に備えられた磁石により前記発光装置を固定する工程と、
前記当接部にプローブを当接して通電し、前記発光装置を発光させる工程と、
を含む発光装置の検査方法。
前記発光装置は、上面を治具で押さえずに固定される請求項１又は請求項２記載の発光装置の検査方法。
前記吸着孔は、前記一対の導電部の間に設けられる請求項１又は請求項３記載の発光装置の検査方法。
前記吸着孔は、前記一対の導電部の外側に設けられる請求項１又は請求項３記載の発光装置の検査方法。
前記発光装置は、前記発光素子を被覆する透光性部材を備え、前記発光装置の上面全面が透光性部材からなる請求項１〜請求項５のいずれか一項に記載の発光装置の検査方法。
前記発光装置は、前記発光素子を被覆する透光性部材を備え、前記透光性部材は凸レンズ部を備える請求項１〜請求項６記載のいずれか一項に記載の発光装置の検査方法。