JP2017198465A - 検査装置、処理装置、及び処理方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 検査の作業性の高い検査装置、ワーク処理装置、及び検査方法を提供する。【解決手段】 実施形態にかかる処理装置は、ワーク支持部と、第1の光源部と、受光部と、第2の光源部と、サンプル支持部と、移動機構部と、を備える。ワーク支持部はワークを支持する。第1の光源部は前記ワークの一方側に配され前記ワークに第1の光を照射する。受光部は前記ワークの他方側に配され前記第1の光を検出する。第2の光源部は前記受光部に向けて第2の光を照射可能に構成される。サンプル支持部はサンプルを支持する。移動機構部は、前記受光部に対向する検査位置と、前記検査位置から退避した退避位置とで、前記サンプル支持部及び前記第2の光源部を移動させる。【選択図】図2
Description
実施形態は、検査装置、処理装置、及び処理方法に関する。
例えば鋼板などの製品の生産ラインにおいて、最終製品の表面キズや穴を検出するワーク処理装置が知られている。処理装置は、例えば光源と、光源上で対象物を回転させる回転機構と、対象を透過する光を検出する光検出部と、を備える。このようなワーク処理装置において、光検出部の性能を検査するための検査装置を備えるものがある。
検査装置、ワーク処理装置、及び検査方法において、検査の作業性を向上することが望まれている。
本発明が解決しようとする課題は、検査の作業性の高い検査装置、処理装置、及び処理方法を提供することである。
実施形態にかかる処理装置は、ワーク支持部と、第1の光源部と、受光部と、第2の光源部と、サンプル支持部と、移動機構部と、を備える。ワーク支持部はワークを支持する。第1の光源部は前記ワークの一方側に配され前記ワークに第1の光を照射する。受光部は前記ワークの他方側に配され前記第1の光を検出する。第2の光源部は前記受光部に向けて第2の光を照射可能に構成される。サンプル支持部はサンプルを支持する。移動機構部は、前記受光部に対向する検査位置と、前記検査位置から退避した退避位置とで、前記サンプル支持部及び前記第2の光源部を移動させる。
[第1実施形態]
以下、第1実施形態に係るワークW1の処理装置としての穴検出装置10の構成について、図1及び図2を参照して説明する。図1は第1実施形態にかかる穴検出装置10の構成を示す側面図である。図2は、穴検出装置10の一部を拡大して示す側面図である。
以下、第1実施形態に係るワークW1の処理装置としての穴検出装置10の構成について、図1及び図2を参照して説明する。図1は第1実施形態にかかる穴検出装置10の構成を示す側面図である。図2は、穴検出装置10の一部を拡大して示す側面図である。
図1及び図2に示すように、穴検出装置10は、支持部11と、第1の光源部12と、受光部13と、検査装置14と、制御部15と、を備える。
支持部11は、ベース部21と、ベース部21から水平に延びる下フレーム22と、ベース部21から上方に延びる縦フレーム23と、縦フレーム23の上端から水平に延びる上フレーム24と、下フレーム22に設けられたワーク支持部25と、を備えている。
下フレーム22と上フレーム24との間に、ワークW1が搬送される搬送路が形成される。
ワーク支持部25は、ワークW1の所定位置を保持する保持機構部26と、所定の軸を中心に保持機構部26を回転させる回転機構部であるワーク回転モータ27と、保持機構部26を所定の搬送路に沿って移動させるワーク移動部28と、を備える。ワーク支持部25は例えば薄板などの円盤状のワークW1を回転可能に支持する。
保持機構部26は、例えば、ワークW1の中心軸と、ワークW1の外縁部の所定位置を保持し、第2の光源部42からの光を遮らない条件で構成されている。
ワーク回転モータ27は制御部15に接続され、制御部15の制御により、所定のタイミングで、所定の回転数にて、保持機構部26を回転させる。
第1の光源部12は、ワーク支持部25の保持機構部26の近傍に設けられ、ワークW1の下方の所定位置に配置されている。第1の光源部12は、受光部13に向けて第2の光を照射可能に構成されている。第1の光源部12は、例えばランプであり、ワークW1下から上方の受光部13に向けて光を照射する。第1の光源部12は制御部15に接続され、制御部15の制御によって所定のタイミングで光を照射する。
受光部13は、ワーク支持部25の上方の所定位置に配される複数のカメラ31と、複数のカメラ31を覆うカバーケース32と、を備える。受光部13は、ワークW1を挟んで第1の光源部12と対向して配置される。本実施形態において、カバーケース32には2台のカメラ31が収容されている。カメラ31として、例えばラインセンサカメラやCCDカメラなどが用いられる。各カメラ31は制御部15に接続され、各カメラ31にて検出された情報は制御部15に送られる。カバーケース32は、下面に開口または光を透過可能に構成された光透過部32aを有する箱状に構成される。
検査装置14は、検査ケース41と、第2の光源部42と、サンプルS1を支持するサンプル支持部43と、検査ケース41を移動させる移動機構部44と、を備える。
検査ケース41は例えば上フレーム24に支持され、受光部13の直下を含む所定のルートにおいて往復移動可能に設けられている。検査ケース41は例えば上下左右前後6面が壁で囲まれる箱形状に構成されている。検査ケース41は、第2の光源部42と、サンプル支持部43と、を収容する。検査ケース41の上壁であって、第2の光源部42の光の通路である第2光路42Aには、光を透過可能に構成された光透過窓41aが設けられている。
サンプル支持部43は、検査ケース41内に設けられている。サンプル支持部43は、サンプルS1の所定位置を保持するサンプル保持部45と、所定の軸を中心にサンプル保持部45を回転させるサンプル回転モータ46(回転機構)と、を備える。サンプルS1は例えば複数の孔が形成された円盤である。すなわちサンプルS1は、穴検出装置10が検出すべき穴や傷が所定位置に形成された板状部材である。
サンプル支持部43はサンプルS1を回転可能に支持する。例えばサンプル保持部45は、第2の光源部42からの光を遮らない位置や形状に構成されている。
第2の光源部42は、検査ケース41内において、サンプルS1の下側の所定位置に配置されている。第2の光源部42は、例えばランプであり、サンプルS1下から上方に向けて光を照射する。第2の光源部42は、検査ケース41が検査位置P1にあるときに受光部13の直下に配置され、受光部13の一方のカメラ31に向けて第2の光を照射可能に構成されている。第2の光源部42は制御部15に接続され、制御部15の制御によって所定のタイミングで光を照射する。
移動機構部44は、例えば縦フレーム23や上フレーム24に支持されるガイドレール部材47と、ガイドレール部材47を移動させることで検査ケース41を所定位置に移動させる移動用モータ49と、を備えている。移動機構部44は、受光部13のカメラ31に対向する検査位置P1と、検査位置P1から退避した退避位置P2とで検査ケース41を往復移動させる。
検査ケース41の移動経路は、第1の光源部12と受光部13との間であって第1の光の経路内に位置する検査位置P1と、第1の光路から外れた退避位置P2とを含む。例えば本実施形態において、検査位置P1は受光部13のカメラ31の直下であり、退避位置P2は検査位置P1からX方向一方側に退避した位置である。なお、本実施形態において複数台のカメラ31を備えるため、この複数台のカメラ31の直下の複数箇所が、それぞれ検査位置P1となる。
移動機構部44は制御部15に接続されている。制御部15の制御によって移動用モータ49が所定の条件で駆動されることにより、検査ケース41が所定の移動経路において移動可能に構成されている。
制御部15は予め設定された制御プログラムや各種検出情報に基づいて、各種モータや第1の光源部12、第2の光源部42、及びカメラ31等の動作を制御する。例えば制御部15は、所定のタイミングでワーク回転モータ27やサンプル回転モータ46を駆動することにより、ワークW1またはサンプルS1を回転させる。また制御部15は、所定のタイミングで第1の光源部12を駆動することにより、第1の光をワークW1及び受光部13に向けて照射する。また制御部15は、所定のタイミングで第2の光源部42を駆動することにより、第2の光をサンプルS1及び受光部13に向けて照射する。制御部15は、移動機構部44を駆動することで、検査ケース41を所定のタイミングで検査位置P1や退避位置P2に移動させる。
次に、本実施形態にかかる穴検出装置10の動作について説明する。穴検出装置10はワークの処理方法である穴検出方法及び受光部13の性能を検査する検査方法を行う。
穴検出処理において、制御部15は、ワーク回転モータ27を駆動してワークW1を回転させるとともに、第1の光源部12を駆動して所定位置に支持されるワークW1の一方側からワークW1に第1の光を照射する。受光部13にて第1の光を検出すると、検出結果が制御部15に送られる。制御部15は受光部13における検出結果から対象のワークW1の光透過性を検出し、穴や傷の有無を判定する。なお、穴検出処理の際には、検査装置14は退避位置P2に退避している。例えば制御部15は光透過性を検出する穴検出処理に先だって、初期設定として移動機構部44を駆動し、検査ケース41を退避位置P2に移動させる。以上の行程をくり返し行うことで、複数のワークW1に対して穴検出処理を順次行う。
また、穴検出装置10は所定のタイミングで受光部13の性能を検査する検査処理を行う。検査処理において、制御部15は、移動機構部44を駆動して、検査ケース41を検査位置P1に配置する。このとき、受光部13の直下にワークW1とは異なるサンプルS1が配され、その直下に第2の光源部42が配置される。次に制御部15は第2の光源部42を駆動する。これにより第2の光源部42から第2の光がサンプルS1に照射され、受光部13にて第2の光を検出する。受光部13における検出結果は制御部15に送られる。制御部15はこの第2の光の検出結果に基づき、受光部13の受光性能を判定する。例えば予めサンプルS1に応じて算出された基準と、受光部13にて検出された検出結果とを比較することで、受光部13が正常に機能しているかどうかを判定することができる。本実施形態においては、1つの検査装置14を移動させながら複数のカメラ31の性能検査を順次行う。
本実施形態にかかる穴検出装置10及び検査装置14は、以下の様な効果を奏する。すなわち、各カメラ31の直下の検査位置P1と退避位置P2とで移動可能な検査装置14を備えるため、検査装置14の設置作業を省略することができる。すなわち、例えばワーク支持部25にサンプルS1を載せて検査を行う場合には、検査の度にワークW1の生産ラインを止めてワークW1を取り外し、サンプルS1をワーク支持部25に設置することが必要となり作業性が悪い。これに対し上記本実施形態によれば、ワークW1の設置部とは別に構成されたサンプル支持部43と第2の光源部42とを移動可能としたことで、例えばワークW1が生産ラインに有る状態で短時間にて検査処理を行うことが可能である。したがって、通常のワークW1処理である穴検出作業を中断せずに、受光部13の性能を検査することが可能となり、作業性が高い。
[第2実施形態]
以下、本発明の第2実施形態に係る穴検出装置10の構成について、図3を参照して説明する。図3は第2実施形態にかかる穴検出装置10の一部の構成を拡大して示す側面図である。
以下、本発明の第2実施形態に係る穴検出装置10の構成について、図3を参照して説明する。図3は第2実施形態にかかる穴検出装置10の一部の構成を拡大して示す側面図である。
なお、第2実施形態にかかる穴検出装置10Aは、検査装置14Aが第2の光路の光路長を調整する光路調整部50を備える点において第1実施形態と異なるが、この他の構成は第1実施形態にかかる穴検出装置10及び検査装置14と同様であるため、共通する説明を省略する。
本実施形態にかかる穴検出装置10Aの検査装置14Aは、検査ケース41の光透過窓41a上に、光路調整部50を備える。光路調整部50は、第2の光を屈折させる屈折レンズ51を備える。光路調整部50は、例えば第2の光を屈折させて焦点距離を調整することにより、受光部13に入射する第2の光を第1の光源部12からの第1の光と同じ焦点距離を持たせる。このため、検査処理にて受光部13で検出する第2の光と、通常のワークW1の穴検出処理において受光部13で検出する第1の光の性質を同等とし、受光部13の検出性能の検査精度を向上することができる。
[第3実施形態]
以下、本発明の第3実施形態に係る穴検出装置10の構成について、図4を参照して説明する。図4は第3実施形態にかかる穴検出装置10の一部の構成を拡大して示す側面図である。
[第3実施形態]
以下、本発明の第3実施形態に係る穴検出装置10の構成について、図4を参照して説明する。図4は第3実施形態にかかる穴検出装置10の一部の構成を拡大して示す側面図である。
なお、第3実施形態にかかる穴検出装置10Bは、検査装置14Bが第2の光路の光路長を調整する光路調整部50を備える点において第1実施形態と異なるが、この他の構成は第1実施形態にかかる穴検出装置10及び検査装置14と同様であるため、共通する説明を省略する。
本実施形態にかかる穴検出装置10Bの検査装置14Bは、検査ケース41の光透過窓41a上に、光路調整部50を備える。光路調整部50は、第2の光を反射させる反射部材である複数の反射鏡52を備える。光路調整部50は、例えば第2の光を所定の方向に反射させ、複数の反射鏡52を介して受光部13に至るように光路を延ばすことができる。したがって、受光部13に入射する第2の光に、第1の光源部12からの第1の光と同じ光路長さを持たせる。このため、受光部13の検査処理にて受光部13で検出する第2の光と、ワークW1の穴検出処理において受光部13で検出する第1の光の性質を同等とし、性能の検出精度を向上することができる。
なお、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10、10A、10B…穴検出装置(処理装置)、11…支持部、12…光源部、13…受光部、14…検査装置(検査ユニット)、15…制御部、21…ベース部、22…下フレーム、23…縦フレーム、24…上フレーム、25…ワーク支持部、26…保持機構部、27…ワーク回転モータ、31…カメラ、32…カバーケース、41…検査ケース、41a…光透過窓、42…第2の光源部、42A…光路、43…サンプル支持部、44…移動機構部、45…サンプル保持部、46…サンプル回転モータ、47…ガイドレール部材、49…移動用モータ、50…光路調整部、51…屈折レンズ、52…反射鏡、P1…検査位置、P2…退避位置、S1…サンプル、W1…ワーク。
Claims (7)
- ワークを支持するワーク支持部と、
前記ワークの一方側に配され前記ワークに第1の光を照射する第1の光源部と、
前記ワークの他方側に配され前記第1の光を検出する受光部と、
前記受光部に向けて第2の光を照射可能に構成された第2の光源部と、
サンプルを支持するサンプル支持部と、
前記受光部に対向する検査位置と、前記検査位置から退避した退避位置とで、前記サンプル支持部及び前記第2の光源部を移動させる移動機構部と、
を備える処理装置。 - 前記サンプル支持部及び前記第2の光源部を収容する検査ケースを備え、
前記移動機構部は、前記受光部に対向する検査位置と、前記検査位置から退避した退避位置とで、前記検査ケースを移動させる移動機構部と、を備える、請求項1記載の処理装置。 - 前記検査ケースは、前記ワーク支持部と前記受光部との間を通る経路で移動可能に構成され、
前記サンプル支持部は前記サンプルを回転させる回転機構を備え、
前記サンプルは、光を透過する穴が形成された板状部材であり、
前記検査ケースが前記退避位置に配された状態で、前記受光部にて前記ワークを透過した前記第1の光を検出した結果に基づいて、前記ワークの光透過性を検出し、前記検査ケースが前記検査位置に配された状態で、前記受光部にて前記サンプルを透過した前記第2の光を検出した結果に基づいて、前記受光部の性能を判定する、制御部を備える、請求項2に記載の処理装置。 - 前記第2の光源部からの光を反射させる1以上の反射部材を備え、前記第2の光源部からの光の経路である第2の光路の光路長を調整する光路調整部を備える請求項1または2に記載の処理装置。
- 前記第2の光源部からの光を屈折させるレンズ部材を備え、
前記第2の光源からの光の焦点距離を調整する光路調整部を備える請求項1または2に記載の処理装置。 - ワークに第1の光を照射する第1の光源部と、前記第1の光を検出する受光部と、を備える検出装置に設けられ、前記受光部に向けて第2の光を照射可能に構成された第2の光源部と、サンプルを支持するサンプル支持部及び前記第2の光源部を収容する検査ケースと、前記受光部に対向する検査位置と、前記検査位置から退避した退避位置とで、前記検査ケースを移動させる移動機構部と、を備える検査装置。
- 所定位置に支持されるワークの一方側から前記ワークに第1の光を照射し、前記ワークの他方側に配される受光部にて前記第1の光を検出することで、前記ワークの光透過性を検出することと、
前記ワークとは異なるサンプルを前記受光部に対向する検査位置に配した状態で第2の光源から第2の光を前記サンプルに照射し、前記受光部にて前記第2の光を検出することで前記受光部の性能を検査することと、を備え、
前記光透過性を検出する際には、前記サンプル及び前記第2の光源を、前記検査位置から退避した退避位置に配する、処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016087016A JP2017198465A (ja) | 2016-04-25 | 2016-04-25 | 検査装置、処理装置、及び処理方法 |
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JP2016087016A JP2017198465A (ja) | 2016-04-25 | 2016-04-25 | 検査装置、処理装置、及び処理方法 |
Publications (1)
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JP2017198465A true JP2017198465A (ja) | 2017-11-02 |
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Family Applications (1)
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JP2016087016A Pending JP2017198465A (ja) | 2016-04-25 | 2016-04-25 | 検査装置、処理装置、及び処理方法 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2017198465A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019138761A (ja) * | 2018-02-09 | 2019-08-22 | 株式会社東芝 | 端部撮像装置 |
-
2016
- 2016-04-25 JP JP2016087016A patent/JP2017198465A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2019138761A (ja) * | 2018-02-09 | 2019-08-22 | 株式会社東芝 | 端部撮像装置 |
JP7067944B2 (ja) | 2018-02-09 | 2022-05-16 | 株式会社東芝 | 端部撮像装置 |
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