JP2017173344A - プローブ及びプローブの製造方法 - Google Patents

プローブ及びプローブの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2017173344A
JP2017173344A JP2017124545A JP2017124545A JP2017173344A JP 2017173344 A JP2017173344 A JP 2017173344A JP 2017124545 A JP2017124545 A JP 2017124545A JP 2017124545 A JP2017124545 A JP 2017124545A JP 2017173344 A JP2017173344 A JP 2017173344A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plunger
spring
probe
region
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017124545A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6517275B2 (ja
Inventor
哲学 田中
Tetsugaku Tanaka
哲学 田中
佐藤 公紀
Kiminori Sato
公紀 佐藤
小林 満
Mitsuru Kobayashi
満 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Component Ltd
Original Assignee
Fujitsu Component Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Component Ltd filed Critical Fujitsu Component Ltd
Priority to JP2017124545A priority Critical patent/JP6517275B2/ja
Publication of JP2017173344A publication Critical patent/JP2017173344A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6517275B2 publication Critical patent/JP6517275B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

【課題】小型化が可能であり、接続信頼性に優れたプローブを提供すること。
【解決手段】軸方向に伸縮するばね部と、前記ばね部の前記軸方向における一方側を覆い、前記一方側の端部に第1接点部を備える第1プランジャ部と、前記ばね部の前記軸方向における他方側を覆い、前記他方側の端部に第2接点部を備える第2プランジャ部とを有し、前記第1プランジャ部及び前記第2プランジャ部の一方は、側面に前記軸方向に延びるガイド穴を有し、前記第1プランジャ部及び前記第2プランジャ部の他方は、側面に前記第1プランジャ部及び前記第2プランジャ部の一方側に突出して前記ガイド穴に係合する係合爪を有するプローブ。
【選択図】図1

Description

本発明は、プローブ及びプローブの製造方法に関する。
例えば半導体集積回路等の製造工程において、ウエハに形成されている半導体集積回路等の電気的特性を測定する測定機器が用いられている。この様な測定機器は、例えばウエハに形成されている電極端子等の測定対象物にプローブを接触させることで、測定対象物の電気的特性を測定する。
測定機器に設けられるプローブは、例えば筐体の一方の端部が測定機器に接続され、他方の端部に測定対象物に接触する接触端子を有し、筐体内にコイルばねが内蔵されている。プローブが測定対象物に押圧されると、接触端子が筐体内のコイルばねの伸縮に伴って変位すると共に測定対象物を押し返すことで、測定対象物と測定機器との接続信頼性が確保される。
この様なプローブとして、1枚の板状部材から折り曲げ等によって製造可能なプローブが開示されている(例えば、特許文献1参照)。この様なプローブによれば、製造工程において複数の部品を組み立てる組み立て工程が省略されることで、製造時間が短縮されて生産性が向上する。
特表2010−532908号公報
しかしながら、特許文献1に係るプローブを、高密度化された電子部品の測定に対応出来る様に小型化すると、十分な長さのコイルばねを設けることが出来ず、接触端子の可動範囲が小さくなる可能性がある。接触端子の可動範囲が小さいと、測定対象物と測定機器との接続信頼性が低下する虞がある。
本発明は上記に鑑みてなされたものであって、小型化が可能であり、接続信頼性に優れたプローブを提供することを目的とする。
本発明の一態様によれば、一方側から順に、第1プランジャ領域、ばね領域、第2プランジャ領域が連結されている一枚の板状部材から形成されるプローブであって、前記ばね領域から形成され、軸方向に伸縮するばね部と、前記第1プランジャ領域と前記ばね領域とを連結し、前記軸方向において前記第1プランジャ領域が前記ばね部に重なる様に折り曲げられる第1連結部と、前記第1プランジャ領域から形成され、前記ばね部の前記軸方向における一方側を覆い、前記一方側の端部に第1接点部を備える第1プランジャ部と、前記ばね領域と前記第2プランジャ領域とを連結し、前記軸方向において前記第2プランジャ領域が前記ばね部及び前記第1プランジャ部に重なる様に折り曲げられる第2連結部と、前記第2プランジャ領域から形成され、前記ばね部及び前記第1プランジャ部の前記軸方向における他方側を覆い、前記他方側の端部に第2接点部を備える第2プランジャ部とを有し、前記第1連結部及び前記第2連結部は、折り曲げられて屈曲する部分が切断されていることを特徴とする。
本発明の実施形態によれば、小型化が可能であり、接続信頼性に優れたプローブを提供できる。
実施形態に係るプローブを例示する図である。 実施形態に係るプローブを例示する正面図及び断面概略図である。 実施形態に係るプローブを例示する上面図及び断面概略図である。 実施形態に係るプローブの製造方法を説明する図である。 実施形態に係るプローブの製造方法を説明する図である。 実施形態に係るプローブの製造方法を説明する図である。 実施形態に係るプローブの製造方法を説明する図である。 実施形態に係るプローブの製造方法を説明する図である。
以下、図面を参照して発明を実施するための形態について説明する。各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を省略する場合がある。
以下で説明する実施形態に係るプローブは、例えば電子部品や電気回路等の電気特性を測定する測定機器に設けられ、電子部品、電気回路等に形成されている電気パッド、電極端子等の測定対象物と測定機器との接続に用いられる。
図1は、実施形態に係るプローブ100を例示する図である。なお、以下の図中に示すX方向は、プローブ100の長手方向であり、プローブ100の軸方向である。Y方向は、プローブ100の短手方向である。Z方向は、X方向及びY方向に垂直な方向である。
プローブ100は、一枚の導電性金属板から、後述する製造方法により形成され、図1に示す様に、第1プランジャ部10、ばね部30、第2プランジャ部50を有する。なお、以下の説明では、プローブ100の軸方向であるX方向において、第1プランジャ部10側を一方側、第2プランジャ部50側を他方側として説明する。
第1プランジャ部10は、円筒形状を有し、X方向に伸縮するばね部30の一方側を覆い、一方側端部には測定対象物に接触する第1接点部12が設けられている。第1接点部12は、第1プランジャ部10の一方側端部からプローブ100の中心軸に向かって突出し、第1プランジャ部10から脱落しない様にばね部30を係止する。
第2プランジャ部50は、円筒形状を有し、第1プランジャ部10及びばね部30の他方側を覆い、他方側端部には例えば測定機器に設けられている電極端子等に接続される第2接点部52が設けられている。第2接点部52は、第2プランジャ部50の他方側端部からプローブ100の中心軸に向かって突出し、第2プランジャ部50から脱落しない様にばね部30を係止する。第1プランジャ部10と第2プランジャ部50とは、側面同士が接触することで導通される。
ばね部30は、X方向に伸縮可能に形成され、一方側が第1プランジャ部10に覆われて第1接点部12により係止され、他方側が第2プランジャ部50に覆われて第2接点部52により係止されている。例えば、第1プランジャ部10の第1接点部12が測定対象物に接触して第2プランジャ部50に向かって押圧されるとばね部30はX方向に縮み、X方向に縮むばね部30に生じる復元力によって、第1接点部12が測定対象物に向かって押し返される。また、プローブ100は、測定対象物に対する押圧状態から開放されると、ばね部30がX方向に伸長し、第1プランジャ部10及び第2プランジャ部50が押し戻されて元の状態に戻る。
この様に、第1プランジャ部10及び第2プランジャ部50は、伸縮するばね部30によって、測定対象物との接触時において一方が他方に対して相対的に変位する。測定対象物との接触時には、ばね部30に生じる復元力によって第1プランジャ部10の第1接点部12が測定対象物に押し返されるため、測定機器と測定対象物との接続がより確実なものとなる。
図2(a)は、実施形態に係るプローブ100の側面図である。また、図2(b)は、図2(a)のA−A断面の概略図である。
図2に示す様に、第1プランジャ部10には、一方側端部からX方向外側に突出し且つ中心軸に向かって折り曲げられている2つの第1接点部12が、Y方向に対向して設けられている。第1接点部12は、内面がばね部30の一方側端部に接触し、第1プランジャ部10から脱落しない様にばね部30を係止している。
また、第2プランジャ部50には、他方側端部からX方向外側に突出し且つ中心軸に向かって折り曲げられている2つの第2接点部52が、Y方向に対向して設けられている。第2接点部52は、内面がばね部30の他方側端部に接触し、第2プランジャ部50から脱落しない様にばね部30を係止している。
この様な構成により、ばね部30は、第1プランジャ部10及び第2プランジャ部50に収容され、X方向において第1接点部12と第2接点部52との間に挟まれることでプローブ100からの脱落が防止されている。なお、第1接点部12及び第2接点部52の数、形状等は、本実施形態において例示する構成に限られない。
また、図2に示す様に、本実施形態に係るプローブ100では、ばね部30を、X方向において第1接点部12から第2接点部52までのほぼ全域に設けることが可能である。したがって、例えばプローブ100が小型化(X方向の長さが短くなる様に構成)された場合であっても、第1プランジャ部10及び第2プランジャ部50の可動範囲(ストローク)を確保するために必要な長さのばね部30をプローブ100内に設置可能である。そのため、プローブ100が小型化された場合であっても、第1プランジャ部10及び第2プランジャ部50の可動範囲が確保され、測定対象物と測定機器との接続信頼性に優れたプローブ100が提供される。
図3(a)は、実施形態に係るプローブ100の上面図である。また、図3(b)は、図3(a)のB−B断面の概略図である。
図3に示す様に、第2プランジャ部50の側面であって、第1プランジャ部10を覆う部分には、X方向に延びる矩形の貫通孔であるガイド穴54が設けられている。また、第1プランジャ部10の側面には、第2プランジャ部50のガイド穴54に対応する位置に、第1プランジャ部10の外周側に突出してガイド穴54に係合する係合爪14が設けられている。
第1プランジャ部10の係合爪14が第2プランジャ部50のガイド穴54に係合することで、第1プランジャ部10及び第2プランジャ部50は、内部にばね部30を収容した状態で結合される。図3に図示される様に、係合爪14の図示左端部が、ガイド穴54の図示左端面に接することで、第2プランジャ部50に対する第1プランジャ部10の図3の図示左方向への移動が規制され、第1プランジャ部10と第2プランジャ部50との抜けも防止できる。第1プランジャ部10及び第2プランジャ部50は、例えば測定対象物に対して押圧されると、係合爪14がガイド穴54に沿って変位する。
本実施形態に係るプローブ100では、係合爪14及びガイド穴54が、周方向の異なる位置にそれぞれ3箇所設けられているが、係合爪14及びガイド穴54の数、形状等は、本実施形態において例示する構成に限られない。また、図3の態様とは逆に、第1プランジャ部10の側面にガイド穴を設け、第2プランジャ部50の側面に、第1プランジャ部側に突出して第1プランジャ部10のガイド穴に係合する係合爪を設けてもよい。
次に、実施形態に係るプローブ100の製造方法について、図4から図8に例示する図面に基づいて説明する。なお、以下に示す図4から図7の各図には、プローブ100の原形となる板状部材又は製造過程におけるプローブ100を例示する正面図、上面図、左側面図及び右側面図が示されている。
本実施形態に係るプローブ100は、図4に示す様に、第1プランジャ部10となる第1プランジャ領域11、ばね部30となるばね領域31、第2プランジャ部50となる第2プランジャ領域51が連結された一枚の板状部材から形成される。
プローブ100の原形となる板状部材は、例えば導電性金属板から打ち抜き加工により形成される。第1プランジャ領域11には、ばね領域31側に第1接点部12となる部分が、第1プランジャ部10の側面となる部分に係合爪14となる部分が形成されている。ばね領域31は、複数の屈曲部を有する波形状に形成されている。第2プランジャ領域51には、ばね領域31側に第2接点部52となる部分が、第2プランジャ部50の側面となる部分であって係合爪14に対応する位置にガイド穴54となる部分が形成されている。
第1プランジャ領域11とばね領域31とは、第1連結部20により連結され、ばね領域31と第2プランジャ領域51とは、第2連結部40により連結されている。
プローブ100は、図4に例示する板状部材から折り曲げ加工により形成され、まず図5に示す様に、ばね領域31が筒状に折り曲げられて、軸方向に伸縮可能な円筒状のばね部30が形成される。また、第1接点部12及び第2接点部52が、ばね部30が折り曲げられた側とは反対面側に折り曲げられる。
次に、図6に示す様に、ばね部30が形成された側に第1連結部20が折り曲げられ、次いで第1プランジャ領域11がばね部30の一方側を覆う円筒形状に折り曲げられ、第1プランジャ部10が形成される。
続いて、図7に示す様に、ばね部30が形成された側に第2連結部40が折り曲げられ、第2プランジャ領域51がばね部30及び第1プランジャ部10の他方側を覆う円筒形状に折り曲げられる。
最後に、図8に示す様に、係合爪14が第2プランジャ部50のガイド穴54に嵌る様に内側に折り曲げられた後、第1連結部20及び第2連結部40が切断され、本実施形態に係るプローブ100が形成される。プローブ100は、上記した様に、一枚の板状部材を折り曲げることで形成されるため、別体の部品を組み立てる必要がなく、製造工程が簡略化されて優れた生産性を有している。また、第1連結部20及び第2連結部40が切断されることで、より小型化が可能になっている。
なお、第1連結部20及び第2連結部40が切断されるため、第1プランジャ部10、第2プランジャ部50及びばね部30はそれぞれ連結されていない状態になっている。そのため、第1接点部12、第2接点部52をプローブ100の軸方向内側に折り曲げて、ばね部30のプローブ100からの脱落を防ぐと共に、第1プランジャ部10に形成された係合爪14を第2プランジャ部50のガイド穴54に嵌めることで、第1プランジャ部10の第2プランジャ部50からの脱落を防いでいる。
以上で説明した様に、本実施形態に係るプローブ100は、一枚の板状部材から折り曲げ加工により形成され、第1連結部20及び第2連結部40が切断されることで小型化されている。また、本実施形態に係るプローブ100は、軸方向のほぼ全体にばね部30を設置可能であり、さらに小型化された場合であっても、第1プランジャ部10及び第2プランジャ部50の可動範囲を確保可能なばね部30を設置可能であり、測定対象物との接続信頼性が向上する。
以上、実施形態に係るプローブ及びプローブの製造方法について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能である。
10 第1プランジャ部
11 第1プランジャ領域
12 第1接点部
14 係合爪
20 第1連結部
30 ばね部
31 ばね領域
40 第2連結部
50 第2プランジャ部
51 第2プランジャ領域
52 第2接点部
54 ガイド穴
100 プローブ

Claims (2)

  1. 一方側から順に、第1プランジャ領域、ばね領域、第2プランジャ領域が連結されている一枚の板状部材から形成されるプローブであって、
    前記ばね領域から形成され、軸方向に伸縮するばね部と、
    前記第1プランジャ領域と前記ばね領域とを連結し、前記軸方向において前記第1プランジャ領域が前記ばね部に重なる様に折り曲げられる第1連結部と、
    前記第1プランジャ領域から形成され、前記ばね部の前記軸方向における一方側を覆い、前記一方側の端部に第1接点部を備える第1プランジャ部と、
    前記ばね領域と前記第2プランジャ領域とを連結し、前記軸方向において前記第2プランジャ領域が前記ばね部及び前記第1プランジャ部に重なる様に折り曲げられる第2連結部と、
    前記第2プランジャ領域から形成され、前記ばね部及び前記第1プランジャ部の前記軸方向における他方側を覆い、前記他方側の端部に第2接点部を備える第2プランジャ部とを有し、
    前記第1連結部及び前記第2連結部は、折り曲げられて屈曲する部分が切断されている
    ことを特徴とするプローブ。
  2. 軸方向に伸縮するばね部と、前記ばね部を覆い端部に第1接点部を備える第1プランジャ部と、前記ばね部を覆い端部に第2接点部を備える第2プランジャ部とを有するプローブの製造方法であって、
    一方側から順に、第1プランジャ領域、ばね領域、第2プランジャ領域が連結されている一枚の板状部材を形成し、
    前記ばね領域を折り曲げて前記ばね部を形成し、
    前記第1プランジャ領域と前記ばね領域とを連結する第1連結部を、前記第1プランジャ領域が前記ばね部に重なる様に折り曲げ、
    前記ばね部を覆う様に前記第1プランジャ領域を折り曲げて、前記第1プランジャ部を形成し、
    前記ばね領域と前記第2プランジャ領域とを連結する第2連結部を、前記第2プランジャ領域が前記ばね部及び前記第1プランジャ部に重なる様に折り曲げ、
    前記ばね部及び前記第1プランジャ部を覆う様に前記第2プランジャ領域を折り曲げて、前記第2プランジャ部を形成し、
    前記第1連結部及び前記第2連結部を切断する
    ことを特徴とするプローブの製造方法。
JP2017124545A 2017-06-26 2017-06-26 プローブの製造方法 Expired - Fee Related JP6517275B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017124545A JP6517275B2 (ja) 2017-06-26 2017-06-26 プローブの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017124545A JP6517275B2 (ja) 2017-06-26 2017-06-26 プローブの製造方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013236236A Division JP6258011B2 (ja) 2013-11-14 2013-11-14 プローブ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017173344A true JP2017173344A (ja) 2017-09-28
JP6517275B2 JP6517275B2 (ja) 2019-05-22

Family

ID=59971002

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017124545A Expired - Fee Related JP6517275B2 (ja) 2017-06-26 2017-06-26 プローブの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6517275B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102283174B1 (ko) * 2021-04-26 2021-07-28 조상희 원터치 조립의 고성능 테스트 프로브 핀

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5667410A (en) * 1995-11-21 1997-09-16 Everett Charles Technologies, Inc. One-piece compliant probe
JP2010532908A (ja) * 2008-01-02 2010-10-14 中村 敏幸 一体型で構成されるプローブピン及びその製造方法
JP2011191104A (ja) * 2010-03-12 2011-09-29 Advantest Corp コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法
JP2013205191A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Nidai Seiko:Kk スプリングプローブおよびスプリングプローブの製造方法
JP2013217800A (ja) * 2012-04-10 2013-10-24 Fujitsu Component Ltd コンタクト、コネクタ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5667410A (en) * 1995-11-21 1997-09-16 Everett Charles Technologies, Inc. One-piece compliant probe
JP2010532908A (ja) * 2008-01-02 2010-10-14 中村 敏幸 一体型で構成されるプローブピン及びその製造方法
JP2011191104A (ja) * 2010-03-12 2011-09-29 Advantest Corp コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法
JP2013205191A (ja) * 2012-03-28 2013-10-07 Nidai Seiko:Kk スプリングプローブおよびスプリングプローブの製造方法
JP2013217800A (ja) * 2012-04-10 2013-10-24 Fujitsu Component Ltd コンタクト、コネクタ

Also Published As

Publication number Publication date
JP6517275B2 (ja) 2019-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9905968B2 (en) Coaxial connector with floating mechanism
JP6298066B2 (ja) 2つの回路基板間で高周波数信号を伝送するためのコンタクト要素
JP2003017173A (ja) スプリングコネクタ
TWI530036B (zh) Connectors and performance boards, motherboards, and semiconductor test devices including the connector
JP2010182644A (ja) コンタクト及び電気コネクタ
JP5924038B2 (ja) 端子の接続構造
JP5020155B2 (ja) コンタクト
US9236199B2 (en) Switch
KR20200002214U (ko) 플로팅 커넥터
CN111509446A (zh) 连接器
JP6258011B2 (ja) プローブ
JP7247621B2 (ja) 雌型コンタクト
TWI586966B (zh) Probe and electronic device with probe
JP6517275B2 (ja) プローブの製造方法
JP5904283B2 (ja) 同軸コネクタ
JP6272125B2 (ja) コネクタ
JP2015170526A (ja) 電子機器用コネクタ
KR20160001700A (ko) 커넥터 단자 및 그를 포함하는 커넥터
WO2018042931A1 (ja) プローブピン
JP4933325B2 (ja) 接続端子構造
JP5931095B2 (ja) 2つのばね領域を備えた直接差込エレメント
JP2015170515A (ja) 電子機器用コネクタ
JP6589452B2 (ja) マイクロスイッチおよび空調装置
JP5066618B2 (ja) コンタクト及び電気コネクタ
JP2010170790A (ja) プリント配線基板用コネクタ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170626

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180405

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180417

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20180618

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180625

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181023

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181220

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190409

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190417

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6517275

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees