JP2017168332A - 質量分析データ補正方法及び装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 41
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 16
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 3
- 238000013075 data extraction Methods 0.000 claims 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 claims 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 abstract description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 30
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 230000037427 ion transport Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【課題】 アナログ/デジタル変換器固有のノイズを除去した質量スペクトルデータを得る。【解決手段】 複数のアナログ/デジタル変換器によりAD変換されたデジタルデータを、変換器の個数に応じた数のグループに順番に振り分けて、グループ分けしたデータの中から、ノイズレベルデータをグループ毎に抽出して、ノイズレベルデータの平均値をグループ毎に取得した後、取得したノイズレベルデータの平均値に基づき、各グループのノイズレベルを等しく揃えるための補正値をグループ毎に取得し、取得した補正値を用いて、グループ毎にデータを補正して、補正されたデータをグループ分けする前の順番に再配列することによりデータの補正を行なう。【選択図】 図4
Description
本発明は、質量分析データ補正方法及び装置に関する。
質量分析装置の1つの方式として、質量によるイオンの飛行時間の違いを利用してイオンを分離する飛行時間型質量分析装置が知られている。
飛行時間型質量分析装置では、ドリフト空間を飛行して質量電荷比(以下、単に質量と呼ぶことがある)に応じて展開されたイオンが次々にイオン検出器に入射して検出される。検出器から得られた電気信号は、AD変換部に入力され、アナログ信号からデジタル信号への変換が行われる。そして、AD変換部から出力されるデジタル信号が、データ処理装置に取り込まれる。
AD変換部から出力されるデジタル信号は、そのまま質量スペクトルデータとして使用されるため、デジタル信号に含まれる電気的なノイズが質量スペクトルデータに反映されてしまうことは避けられない。
デジタル信号に含まれるノイズには、ランダムに現れるノイズと周期的に現れるノイズとがある。
質量分析装置が備えるAD変換部は、時間幅が極めて短いパルス信号を変換処理するため高速動作が必要であり、複数のアナログ/デジタル変換器を用意して、変換するタイミングを所定時間ずつずらすことにより、高速動作を実現している。このように複数のアナログ/デジタル変換器を用意し、タイミングをずらして動作させた場合、デジタル変換後の信号には、それぞれのアナログ/デジタル変換器での変換特性のばらつきにより、変換に使用したアナログ/デジタル変換器固有のノイズが周期的に含まれることがある。
質量分析装置が備えるAD変換部は、時間幅が極めて短いパルス信号を変換処理するため高速動作が必要であり、複数のアナログ/デジタル変換器を用意して、変換するタイミングを所定時間ずつずらすことにより、高速動作を実現している。このように複数のアナログ/デジタル変換器を用意し、タイミングをずらして動作させた場合、デジタル変換後の信号には、それぞれのアナログ/デジタル変換器での変換特性のばらつきにより、変換に使用したアナログ/デジタル変換器固有のノイズが周期的に含まれることがある。
本発明の目的は、質量スペクトルデータに現れる周期的なノイズを精度よく除去して高品質な質量スペクトルデータを得ることのできる質量分析データ補正方法及び質量分析データ補正装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の質量分析データ補正方法は、質量分離されたイオンを検出する検出器が出力するアナログ信号を、位相をずらして作動させたN個のAD変換器を用いてデジタル変換して得られたデジタルデータ(D1、D2、…、Dn)に対して補正を行なう質量分析データ補正方法であって、前記デジタルデータ(D1、D2、…、Dn)を前記変換器の個数に応じたN個のグループ(G1、G2、…、GN)に順番に繰り返し振り分けてグループ化するデータ分離工程と、各グループに振り分けられたデジタルデータの中から、前記質量分離されたイオンを検出していない期間に検出器が出力したアナログ信号に基づくデジタルデータをノイズレベルデータとしてグループ毎に抽出するノイズレベルデータ抽出工程と、グループ毎に抽出された前記ノイズレベルデータに基づき、ノイズレベルデータの平均値をグループ毎に取得する平均値取得工程と、取得したグループ毎の平均値(h1、h2、…、hN)に基づき、各グループのノイズレベルを等しく揃えるための補正値をグループ毎に取得する補正値取得工程と、グループ毎に取得した補正値(Δh1、Δh2、…、ΔhN)を用いて、各グループの全てのデジタルデータをグループ毎に補正するデータ補正工程と、グループ毎に補正されたデジタルデータについて、グループ分けを解除し、グループに振り分ける前の順番に再配列するデータ再配列工程と、を備えることを特徴とする。
また、本発明の質量分析データ補正装置は、質量分離されたイオンを検出する検出器が出力するアナログ信号を、位相をずらして作動させたN個のAD変換器を用いてデジタル変換して得られたデジタルデータ(D1、D2、…、Dn)に対して補正処理を行なう質量分析データ補正装置であって、前記補正処理は、前記デジタルデータ(D1、D2、…、Dn)を前記変換器の個数に応じたN個のグループ(G1、G2、…、GN)に順番に繰り返し振り分けてグループ化し、各グループに振り分けられたデジタルデータの中から、前記質量分離されたイオンを検出していない期間に検出器が出力したアナログ信号に基づくデジタルデータをノイズレベルデータとしてグループ毎に抽出し、グループ毎に抽出された前記ノイズレベルデータに基づき、ノイズレベルデータの平均値をグループ毎に取得し、取得したグループ毎の平均値(h1、h2、…、hN)に基づき、各グループのノイズレベルを等しく揃えるための補正値をグループ毎に取得し、グループ毎に取得した補正値(Δh1、Δh2、…、ΔhN)を用いて、各グループの全てのデジタルデータをグループ毎に補正し、グループ毎に補正されたデジタルデータについて、グループ分けを解除し、グループに振り分ける前の順番に再配列することを特徴とする。
本発明によれば、アナログ/デジタル変換器固有のノイズが精度よく除去され、ノイズの非常に少ない良好な質量スペクトルデータを得ることが可能となる。
以下、図面を用いて本発明の実施の形態について説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
図1は、本実施形態に係る質量分析データの補正を可能とする質量分析装置100の構成の一例を示す図である。
質量分析装置100は、図1に示すように、イオン源1と質量分離部2とイオン加速部4とイオン反射部5とイオン検出部6とを備える。また、イオン検出部6で検出された信号を処理する構成として前置増幅器7とAD変換部8とデータ処理部9とを備える。また、データ処理部9により出力されたデータを質量スペクトルとして表示する表示部10を備える。
イオン源1で生成されたイオンは、イオン輸送部11を経由して、質量分離部2内のイオン加速部4に導入される。イオン加速部4において導入方向に対して垂直方向に加速されたイオンは、ドリフト空間3を飛行し質量に応じて展開されつつ、イオン反射部5で反射されて、イオン検出器6に順次入射する。イオンの飛行距離は、例えば数mから十数m程度である。
各イオンはイオン検出器6において時間幅が極めて短いパルス信号として検出される。
イオン検出器6により出力される電気信号(アナログマススペクトル信号)は、前置増幅器7により増幅された後、AD変換部8で順次デジタルデータに変換される。
図2は、AD変換部8の構造を図示したものである。
質量分析装置100のイオン検出器6が出力するアナログ信号は幅が狭いパルス信号であるため、デジタル変換を高速に行なう必要がある。このため、本実施例では、図2に示すように、複数個(ここでは4個)のアナログ/デジタル変換器22a〜22dを位相をずらして動作させて、高速にデジタル変換を行なう構成としている(一般的にはインターリーブ方式と呼ばれている)。例えば、それぞれのアナログ/デジタル変換器22a〜22dが最大1GHzでAD変換が可能な場合は、4つのアナログ/デジタル変換器22a〜22dに90°ずつ位相をずらした1GHzのクロック信号を供給するとともに、各アナログ/デジタル変換器の出力を4GHzの周波数で動作する切替スイッチを介して順次切り替えて取り出すことにより、全体として4GHzの速さでデジタル信号への変換が可能となる。
具体的には、図2に示すように、入力端子21に入力されるアナログ信号が、4個のアナログ/デジタル変換器22a、22b、22c、22dに供給される。一方で、各アナログ/デジタル変換器22a、22b、22c、22dでは、クロック発生器26が出力するクロックの周波数を分周器27で1/4分周したクロックに同期して変換動作が行われる。ここで、分周器27から各アナログ/デジタル変換器22a、22b、22c、22dに供給されるクロックは、遅延回路25a〜25cによりそれぞれの位相が90°ずつシフトしている。
例えば、クロック発生器26が4GHzのクロックを出力した場合には、分周器27で1GHzのクロックとなり、第1アナログ/デジタル変換器22aは、その1GHzのクロックに同期して変換動作が行われる。また、分周器27が出力する1GHzのクロックは、遅延回路25aで1/4周期遅延されて第2アナログ/デジタル変換器22bに供給されるため、第2アナログ/デジタル変換器22bでは、第1アナログ/デジタル変換器22aの変換動作から1/4周期遅延して変換動作が行われる。同様に、遅延回路25b、25cにより、第3アナログ/デジタル変換器22cと第4アナログ/デジタル変換器22dでは、第1アナログ/デジタル変換器22aの変換動作からそれぞれ2/4周期、3/4周期遅延して変換動作が行われる。
1GHzのクロックに対して1/4周期ずつずれて各アナログ/デジタル変換器22a〜22dで変換されたデジタルデータは、4GHzのクロックが供給される切替スイッチ23により順次選択されて取り出され、出力端子24から4GHzでAD変換されたデジタルデータとして出力される。即ち、切替スイッチ23は、可動接点23mが4GHzの周波数で4つの固定接点23a〜23dに順次接続されるように構成されるため、出力端子24からは4GHzでAD変換されたデジタルデータが出力される。
AD変換されたデジタルデータはデータ処理部9に順次供給されて記憶される。
図3は、データ処理部9の構成の一例を示したものである。
データ処理部9は、デジタルデータを記憶するメモリ91、デジタルデータの補正を行なうデータ補正部92、補正されたデジタルデータから質量スペクトルデータを作成するスペクトル作成部93で構成されている。
図4は、本実施形態に係るデータ処理部9におけるデータ処理の一例を示すフローチャートである。
図4は、本実施形態に係るデータ処理部9におけるデータ処理の一例を示すフローチャートである。
データ補正部92は、メモリ91からAD変換部8によりAD変換された順に並んだn個のデジタルデータ(D1、D2、…、Dn)を取り出して、取り出したデジタルデータ(D1、D2、…、Dn)を順番に4つのグループに振り分ける(ステップS11)。ここでのグループの数は、AD変換部8を構成するアナログ/デジタル変換器22a〜22dの個数に対応する。データを順番に4つのグループに振り分けることで、それぞれのグループのデータは、同じアナログ/デジタル変換器(22a〜22dのいずれか)で変換されたデータになる。
図5はデジタルデータ(D1、D2、…、Dn)を振り分ける例を示している。図5の最上段のデータは、グループ分けされる前のデータを示し、グループ分け後のデータを下側に示している。図5に示すように、積算データ(D1、D2、…、Dn)を4つのグループに振り分けることにより、グループ1は(D1、D5、D9、D13、…)のデータを、グループ2は(D2、D6、D10、D14、…)のデータを、グループ3は(D3、D7、D11、…)のデータを、グループ4は(D4、D8、D12、…)のデータを有することになる。
続いて、グループ分けしたデータの中から、イオン源1からのイオンがイオン検出部6に到達していない期間にイオン検出器6により出力される電気信号をAD変換部8によりアナログ/デジタル変換されたデータを抽出する(ステップS12)。これらのデータはアナログ/デジタル変換器22a〜22d固有のノイズレベルデータとして扱うことができる。
続いて、グループ毎に抽出したノイズレベルデータの平均値を取得する(ステップS13)。図6はグループ毎に抽出したノイズレベルデータの平均値を示している。図6では、グループ1のノイズレベルデータの平均値をh1、グループ2のノイズレベルデータの平均値をh2、グループ3のノイズレベルデータの平均値をh3、グループ4のノイズレベルデータの平均値をh4として示している。
続いて、取得したグループ毎のノイズレベルデータの平均値(h1、h2、h3、h4)を用いて各グループのノイズレベルを等しく揃えるために、グループ毎の補正値Δh1、Δh2、Δh3、Δh4を取得する(ステップS14)。例えば、図7(a)に示すようにグループ毎の平均値(h1、h2、h3、h4)の中で、最も小さい平均値(図7(a)ではh4)に揃えるような補正値(Δh1=h1-h4、Δh2=h2-h4、Δh3=h3-h4、Δh4=h4-h4(=0))を取得してもよいし、図7(b)に示すようにグループ毎の平均値(h1、h2、h3、h4)の平均値Hに揃えるような補正値(Δh1=h1-H、Δh2=h2-H、Δh3=h3-H、Δh4=h4-H)を取得してもよい。
取得したグループ毎の補正値(Δh1、Δh2、Δh3、Δh4)を用いて、グループ毎にグループ内の全データを補正する(ステップS15)。すなわち、グループ1のデータ(D1、D5、D9、D13、…)に対して補正値Δh1を、グループ2のデータ(D2、D6、D10、D14、…)に対してΔh2を、グループ3のデータ(D3、D7、D11、…)に対してΔh3を、グループ4のデータ(D4、D8、D12、…)に対してΔh4を差し引くことにより補正が行われる。
取得したグループ毎の補正値(Δh1、Δh2、Δh3、Δh4)を用いて、グループ毎にグループ内の全データを補正する(ステップS15)。すなわち、グループ1のデータ(D1、D5、D9、D13、…)に対して補正値Δh1を、グループ2のデータ(D2、D6、D10、D14、…)に対してΔh2を、グループ3のデータ(D3、D7、D11、…)に対してΔh3を、グループ4のデータ(D4、D8、D12、…)に対してΔh4を差し引くことにより補正が行われる。
補正を行なった後、グループ分けを解除して、グループに振り分ける前の順番に補正されたデータを再配列することにより(ステップS16)、図8に示すようなアナログ/デジタル変換器22a〜22d固有のノイズが解消されたデータを取得することができる。
その後は、スペクトル生成部93でノイズが解消されたデータに基づいて質量スペクトルデータが作成され(ステップS17)、作成された質量スペクトルデータは、表示部10で質量スペクトルとして表示される。
図9は、上述した補正適用前後の質量スペクトルの例を示している。
図9(a)は補正前の質量スペクトルを示している。補正前の質量スペクトルには、AD変換部8が備えるアナログ/デジタル変換器22a〜22dの固有ノイズが含まれており、スペクトルのベースライン部分に周期的な変動が見られる。
図9(b)は補正後の質量スペクトルを示している。補正前の質量スペクトルは、アナログ/デジタル変換器22a〜22dの固有ノイズが取り除かれており、変動が見られず、精度の良いスペクトルが得られる。
なお、図1に示す質量分析装置100の構成は、飛行時間型質量分析装置の一例を示すものであり、その他の構成の質量分析装置としてもよい。また、図1の構成では、反射型の飛行時間型質量分析装置を例としたが、直線型、リフレクトロン型、多重反射型、多重周回型、らせん型等を含むその他の構成の飛行時間型質量分析装置に、本発明の処理を適用してもよい。
また、本実施形態では、4個のアナログ/デジタル変換器を備えたAD変換部8を用いているが、4個以外の複数個のアナログ/デジタル変換器を備えたAD変換部8を用いて本発明の処理を行なってもよい。また、本実施形態で説明したアナログ/デジタル変換器の変換周波数等の数値についても、一例を示したものであり、本発明はこれらの数値に限定されるものではない。
また、本実施形態では、アナログ/デジタル変換器固有のノイズレベルデータを、イオン源1からのイオンを検出する期間の直前のデータから抽出したが、これに限られるものではなく、図9に示すような質量スペクトルにおいて、スペクトルピークが存在しない区間のデータであれば、どの区間のデータから抽出を行なってもよい。
また、本実施形態では、AD変換部8によりAD変換されたデジタルデータ(D1、D2、…、Dn)に対して補正値を取得してデータの補正を行なったが、AD変換されたデジタルデータに対して所定回数分の積算処理が施された積算データに対して補正値を取得してデータの補正を行なうようにしてもよい。
また、本発明は上述した実施の形態例に限られるものではなく、特許請求範囲に記載した本発明の要旨を逸脱しない限り、その他種々の応用例、変形例を取り得ることはもちろんである。
また、本発明は上述した実施の形態例に限られるものではなく、特許請求範囲に記載した本発明の要旨を逸脱しない限り、その他種々の応用例、変形例を取り得ることはもちろんである。
100…質量分析装置、1…イオン源、2…質量分離部、3…ドリフト空間、4…イオン加速部、5…イオン反射部、6…イオン検出器、7…前置増幅器、8…AD変換部、9…データ処理部、10…表示部、11…イオン輸送部、21…入力端子、22a〜22d…アナログ/デジタル変換器、23…切替スイッチ、23a〜23d…固定接点、23m…可動接点、24…出力端子、25a〜25c…遅延回路、26…クロック発生器、27…分周器、91…メモリ、92…データ補正部、93…スペクトル作成部
Claims (5)
- 質量分離されたイオンを検出する検出器が出力するアナログ信号を、位相をずらして作動させたN個のAD変換器を用いてデジタル変換して得られたデジタルデータ(D1、D2、…、Dn)に対して補正を行なう質量分析データ補正方法であって、
前記デジタルデータ(D1、D2、…、Dn)を前記変換器の個数に応じたN個のグループ(G1、G2、…、GN)に順番に繰り返し振り分けてグループ化するデータ分離工程と、
各グループに振り分けられたデジタルデータの中から、前記質量分離されたイオンを検出していない期間に検出器が出力したアナログ信号に基づくデジタルデータをノイズレベルデータとしてグループ毎に抽出するノイズレベルデータ抽出工程と、
グループ毎に抽出された前記ノイズレベルデータに基づき、ノイズレベルデータの平均値をグループ毎に取得する平均値取得工程と、
取得したグループ毎の平均値(h1、h2、…、hN)に基づき、各グループのノイズレベルを等しく揃えるための補正値をグループ毎に取得する補正値取得工程と、
グループ毎に取得した補正値(Δh1、Δh2、…、ΔhN)を用いて、各グループの全てのデジタルデータをグループ毎に補正するデータ補正工程と、
グループ毎に補正されたデジタルデータについて、グループ分けを解除し、グループに振り分ける前の順番に再配列するデータ再配列工程と、
を備える質量分析データ補正方法。
- 前記質量分離されたイオンを検出していない期間は、前記検出器がイオンを検出する期間の直前または直後の期間であることを特徴とする請求項1記載の質量分析データ補正方法。
- 前記補正値取得工程において、前記平均値取得工程により取得したグループ毎の平均値(h1、h2、…、hN)のいずれか1つの平均値とグループ毎の平均値(h1、h2、…、hN)との差を補正値(Δh1、Δh2、…、ΔhN)として取得することを特徴とする請求項1または2記載の質量分析データ補正方法。
- 前記補正値取得工程において、前記平均値取得工程により取得したグループ毎の平均値(h1、h2、…、hN)の平均値Hを求め、平均値Hとグループ毎の平均値(h1、h2、…、hN)との差を補正値(Δh1、Δh2、…、ΔhN)として取得することを特徴とする請求項1または2記載の質量分析データ補正方法。
- 質量分離されたイオンを検出する検出器が出力するアナログ信号を、位相をずらして作動させたN個のAD変換器を用いてデジタル変換して得られたデジタルデータ(D1、D2、…、Dn)に対して補正処理を行なう質量分析データ補正装置であって、
前記補正処理は、前記デジタルデータ(D1、D2、…、Dn)を前記変換器の個数に応じたN個のグループ(G1、G2、…、GN)に順番に繰り返し振り分けてグループ化し、
各グループに振り分けられたデジタルデータの中から、前記質量分離されたイオンを検出していない期間に検出器が出力したアナログ信号に基づくデジタルデータをノイズレベルデータとしてグループ毎に抽出し、
グループ毎に抽出された前記ノイズレベルデータに基づき、ノイズレベルデータの平均値をグループ毎に取得し、
取得したグループ毎の平均値(h1、h2、…、hN)に基づき、各グループのノイズレベルを等しく揃えるための補正値をグループ毎に取得し、
グループ毎に取得した補正値(Δh1、Δh2、…、ΔhN)を用いて、各グループの全てのデジタルデータをグループ毎に補正し、
グループ毎に補正されたデジタルデータについて、グループ分けを解除し、グループに振り分ける前の順番に再配列することを特徴とする質量分析データ補正装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020061272A (ja) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000299083A (ja) * | 1999-04-15 | 2000-10-24 | Jeol Ltd | 質量分析装置用データ収集システム |
JP2015115786A (ja) * | 2013-12-12 | 2015-06-22 | 株式会社島津製作所 | データ処理装置 |
US9172388B1 (en) * | 2014-06-12 | 2015-10-27 | Guzik Technical Enterprises | High speed interleaved ADC with compensation for DC offset mismatch |
-
2016
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000299083A (ja) * | 1999-04-15 | 2000-10-24 | Jeol Ltd | 質量分析装置用データ収集システム |
JP2015115786A (ja) * | 2013-12-12 | 2015-06-22 | 株式会社島津製作所 | データ処理装置 |
US9172388B1 (en) * | 2014-06-12 | 2015-10-27 | Guzik Technical Enterprises | High speed interleaved ADC with compensation for DC offset mismatch |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020061272A (ja) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
JP7047698B2 (ja) | 2018-10-10 | 2022-04-05 | 株式会社島津製作所 | 分析装置 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190830 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A02 | Decision of refusal |
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