JP2017134048A - 温度検出回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】より広い温度範囲で定着ローラ等の高温異常を精度良く検出する温度検出回路を提供する。
【解決手段】検知用サーミスタと補償用サーミスタとを有して検知用サーミスタの出力と補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第1差動出力として検出する差動出力検出回路部C1と、第1差動出力と補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第2差動出力として出力する第2差動増幅部C2と、補償用サーミスタの出力と第2差動出力とをデジタル値に変換するAD変換部C3とを備えている。
【選択図】図1
【解決手段】検知用サーミスタと補償用サーミスタとを有して検知用サーミスタの出力と補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第1差動出力として検出する差動出力検出回路部C1と、第1差動出力と補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第2差動出力として出力する第2差動増幅部C2と、補償用サーミスタの出力と第2差動出力とをデジタル値に変換するAD変換部C3とを備えている。
【選択図】図1
Description
本発明は、例えば定着ローラ等の温度を高精度で検出可能なサーミスタを用いた温度検出回路に関する。
従来、複写機やプリンタ等の定着ローラ等の測定対象物から輻射により放射される赤外線を非接触で検出して測定対象物の温度を測定する温度センサとして、サーミスタが使用されている。このようなサーミスタを用いて定着ローラ等の温度を測定する場合、サーミスタの出力に基づいて定着ローラ等の温度を検出する温度検出回路が装置に用いられている。特に、定着ローラ等が加熱して異常温度に達した際に装置を停止させる等の必要があるため、高精度な温度検出回路が要望されている。
例えば、特許文献1には、非接触温度センサの出力に基づいて定着ローラの表面温度を検出する温度検出回路を用いた技術が記載されている。すなわち、この温度検出回路では、演算増幅器によってそれぞれ検知側感熱素子電圧VDETと補償側感熱素子電圧VREFとに対応した出力が得られ、これら出力を演算することにより差動出力VDIF(VDET−VREF)を得ている。すなわち、この回路では、差動出力VDIFを、周囲温度の影響を相殺した定着ローラの表面温度に対応した出力として検出している。
上記従来の技術には、以下の課題が残されている。
従来の温度設定回路では、補償温度に対する差動出力VDIFの変化が少ない場合、出力をデジタル値に変換するAD変換器での変換誤差の影響が大きくなり、測定対象物の算出温度の誤差が大きくなってしまうという問題があった。すなわち、低温時と高温時とで同様の差動出力VDIFであっても、差動出力VDIFの変化が少ないと、AD変換器の分解能に応じて生じる誤差に測定対象物の算出温度が大きく影響されてしまう場合があった。
従来の温度設定回路では、補償温度に対する差動出力VDIFの変化が少ない場合、出力をデジタル値に変換するAD変換器での変換誤差の影響が大きくなり、測定対象物の算出温度の誤差が大きくなってしまうという問題があった。すなわち、低温時と高温時とで同様の差動出力VDIFであっても、差動出力VDIFの変化が少ないと、AD変換器の分解能に応じて生じる誤差に測定対象物の算出温度が大きく影響されてしまう場合があった。
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたもので、補償温度に対する差動出力VDIFの変化が少ない場合でも測定対象物の温度を高精度に検出することができる温度検出回路を提供することを目的とする。
本発明は、前記課題を解決するために以下の構成を採用した。すなわち、第1の発明に係る温度検出回路は、検知用サーミスタと補償用サーミスタとを有して前記検知用サーミスタの出力と前記補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第1差動出力として検出する差動出力検出回路部と、前記第1差動出力と前記補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第2差動出力として出力する第2差動増幅部と、前記補償用サーミスタの出力と前記第2差動出力とをデジタル値に変換するAD変換部とを備えていることを特徴とする。
本発明の温度検出回路では、第1差動出力と補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第2差動出力として出力する第2差動増幅部を備えているので、差動出力の変化が小さくても第2差動増幅部で差動出力の変化を大きく増幅した第2差動出力を得ることで、AD変換部によるデジタル変換時の誤差の影響を小さくすることができる。したがって、デジタル変換された補償用サーミスタの出力と第2差動出力とから測定対象物の温度を高精度に算出することが可能になる。
第2の発明に係る温度検出回路は、第1の発明において、前記第2差動増幅部が、2つの抵抗で構成される分圧回路によって前記補償用サーミスタの出力の入力レベルを調整可能であることを特徴とする。
すなわち、この温度検出回路では、第2差動増幅部が、2つの抵抗で構成される分圧回路によって補償用サーミスタの出力の入力レベルを調整可能であるので、2つの抵抗の抵抗比に基づいて、補償用サーミスタの出力の入力レベルを簡易に変更可能である。
すなわち、この温度検出回路では、第2差動増幅部が、2つの抵抗で構成される分圧回路によって補償用サーミスタの出力の入力レベルを調整可能であるので、2つの抵抗の抵抗比に基づいて、補償用サーミスタの出力の入力レベルを簡易に変更可能である。
第3の発明に係る温度検出回路は、第1又は2の発明において、前記検知用サーミスタが、画像形成装置の定着ローラの温度を測定する温度センサであることを特徴とする。
すなわち、この温度検出回路では、検知用サーミスタが、画像形成装置の定着ローラの温度を測定する温度センサであるので、定着ローラの温度を高精度に検出して高温異常を検知し、加熱を停止させることも可能になる。
すなわち、この温度検出回路では、検知用サーミスタが、画像形成装置の定着ローラの温度を測定する温度センサであるので、定着ローラの温度を高精度に検出して高温異常を検知し、加熱を停止させることも可能になる。
本発明によれば、以下の効果を奏する。
すなわち、本発明に係る温度検出回路によれば、第1差動出力と補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第2差動出力として出力する第2差動増幅部を備えているので、差動出力の変化が小さくてもデジタル変換時の誤差の影響を小さくすることができ、測定対象物の温度を高精度に算出することが可能になる。
特に、検知用サーミスタを、画像形成装置の定着ローラの温度を測定する温度センサとすることで、定着ローラの温度を高精度に検出し、高温異常を検知して加熱を停止させることも可能になる。
すなわち、本発明に係る温度検出回路によれば、第1差動出力と補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第2差動出力として出力する第2差動増幅部を備えているので、差動出力の変化が小さくてもデジタル変換時の誤差の影響を小さくすることができ、測定対象物の温度を高精度に算出することが可能になる。
特に、検知用サーミスタを、画像形成装置の定着ローラの温度を測定する温度センサとすることで、定着ローラの温度を高精度に検出し、高温異常を検知して加熱を停止させることも可能になる。
以下、本発明に係る温度検出回路の一実施形態を、図1から図6を参照しながら説明する。
本実施形態の温度検出回路1は、例えば画像形成装置の定着ローラの高温異常を検出する回路であって、図1及び図2に示すように、検知用サーミスタTH1と補償用サーミスタTH2とを有し検知用サーミスタTH1の出力(検出用サーミスタ電圧VDET)と補償用サーミスタTH2の出力(補償用サーミスタ電圧VREF)との差分を増幅し第1差動出力VDIFとして検出する差動出力検出回路部C1と、第1差動出力と補償用サーミスタTH2の出力との差分を増幅し第2差動出力VDIF2として出力する第2差動増幅部C2と、補償用サーミスタTH2の出力と第2差動出力VDIF2とをデジタル値に変換するAD変換部C3とを備えている。
上記第2差動増幅部C2は、2つの抵抗R12、R13で構成される分圧回路によって補償用サーミスタTH2の出力の入力レベルを調整可能である。すなわち、電源V1とグランドとの間の電圧を2つの抵抗R12、R13で分圧することで、補償用サーミスタTH2の出力の入力レベルを調整可能にしている。
上記検知用サーミスタTH1は、赤外線を受光して温度を検出可能な非接触温度センサであり、測定対象物の定着ローラに対向配置され、定着ローラからの赤外線を受光して定着ローラの温度を測定可能になっている。
上記検知用サーミスタTH1は、赤外線を受光して温度を検出可能な非接触温度センサであり、測定対象物の定着ローラに対向配置され、定着ローラからの赤外線を受光して定着ローラの温度を測定可能になっている。
また、補償用サーミスタTH2は、検知用サーミスタTH1と同構造であるが、定着ローラからの赤外線を遮断して周囲温度(補償温度)の検出が可能になっている。
なお、検知用サーミスタTH1及び補償用サーミスタTH2は、NTCサーミスタ素子である。
なお、検知用サーミスタTH1及び補償用サーミスタTH2は、NTCサーミスタ素子である。
上記差動出力検出回路部C1は、検知用サーミスタTH1と補償用サーミスタTH2と抵抗R1と抵抗R2と抵抗R3とにより構成されたブリッジ回路部B1と、ブリッジ回路部B1による補償用サーミスタ電圧VREFが入力され増幅率が1で補償用サーミスタ電圧VREFを出力するバッファ部B2と、バッファ部B2を経由した補償用サーミスタ電圧VREFが入力されると共に検知用サーミスタ電圧VDETが直接入力されこれらの差分(VDET−VREF)を増幅し差動出力として第1差動電圧VDIFを出力する第1差動増幅部B3とを備えている。
上記バッファ部B2は、補償用サーミスタ電圧VREFの出力抵抗を小さくするためのインピーダンス変換回路である。
上記第1差動電圧VDIFの増幅率は、抵抗R8/抵抗R7に依存する。
上記第1差動電圧VDIFの増幅率は、抵抗R8/抵抗R7に依存する。
上記第2差動増幅部C2では、第1差動増幅部B3のオペアンプU1の出力である第1差動電圧VDIFがオペアンプU3の非反転入力側に入力されると共に、補償用サーミスタ電圧VREFが反転入力側に入力される。さらに、オペアンプU3により増幅された第2差動電圧VDIF2が出力される。
上記AD変換部C3では、出力された第2差動電圧VDIF2と補償用サーミスタ電圧VREFとがそれぞれデジタル値VDIF2−D、VREF−Dに変換されて出力される。
なお、測定対象物の温度条件によって第2差動電圧VDIF2が飽和しないようにするために、抵抗R9〜R14の抵抗定数が調整されている。
なお、測定対象物の温度条件によって第2差動電圧VDIF2が飽和しないようにするために、抵抗R9〜R14の抵抗定数が調整されている。
このように本実施形態の温度検出回路1では、第1差動出力VDIFと補償用サーミスタTH2の出力との差分を増幅し第2差動出力として出力する第2差動増幅部C2を備えているので、差動出力の変化が小さくても第2差動増幅部C2で差動出力の変化を大きく増幅した第2差動出力を得ることで、AD変換部C3によるデジタル変換時の誤差の影響を小さくすることができる。
したがって、デジタル変換された補償用サーミスタ電圧VREF−Dと第2差動電圧VDIF2−Dとから測定対象物の温度を高精度に算出することが可能になる。
特に、検知用サーミスタTH1を、画像形成装置の定着ローラの温度を測定する温度センサとすることで、定着ローラの温度を高精度に検出し、高温異常を検知して加熱を停止させることも可能になる。
特に、検知用サーミスタTH1を、画像形成装置の定着ローラの温度を測定する温度センサとすることで、定着ローラの温度を高精度に検出し、高温異常を検知して加熱を停止させることも可能になる。
また、第2差動増幅部C2が、2つの抵抗R12、R13で構成される分圧回路によって補償用サーミスタTH2の出力の入力レベルを調整可能であるので、2つの抵抗R12、R13の抵抗比に基づいて、補償用サーミスタTH2の出力の入力レベルを簡易に変更可能である。
本実施形態の温度検出回路1について、補償温度(補償用サーミスタTH2で検出した温度)に対する差動出力電圧(第2差動電圧VDIF2)の変化について調べた。なお、比較のため、図3に示す第2差動増幅部C2を有さない参考回路についても、同様に補償温度に対する差動出力電圧(差動電圧VDIF)の変化について調べた。これらの結果を、図4及び図5に示す。
図4に示すように、第2差動増幅部C2を有さない参考回路の場合、補償温度に対して差動出力電圧(差動電圧VDIF)の変化が小さくなってしまうのに対し、本実施形態の温度検出回路1では、図5に示すように、補償温度に対して差動出力電圧(第2差動電圧VDIF2)の変化が大きくなっている。本実施形態の参考例の検出回路と比較して、本実施形態の検出回路においては、相対的に大きな差動出力電圧が生じることにより、温度検出の精度を向上させることが可能である。
また、本実施形態の参考例及び本実施形態に示す検出回路において、精度良く検出されるべき物理量は、差動出力検出回路から出力されるサーミスタ電圧由来のアナログ出力(VDIF)であり、本実施形態においてAD変換後の差動出力電圧(VDIF2−DとVREF−D)から計算されるVDIFを、VDIF−CALC(本実施形態)と定義する場合、各検出回路の出力信号から算出される対象物温度は、主に、参考例においてはVDIFとVDIF−Dとの差、本実施形態においてはVDIFとVDIF−CALCとの差に影響される。ここで、ΔV1をΔV1=VDIF−VDIF−D、また、ΔV2をΔV2=VDIF−VDIF−CALCの各式で表現される差分量と定義する。
図6に、測定対象物を100℃とした場合の、補償温度に対するΔV1及びΔV2の変化を示す。なお、ΔV1及びΔV2の算出においては、AD変換部C3は10bitで、変換誤差を±3LSBとした場合の出力電圧を用いた。
本実施形態の参考例の検出回路と比較し(ΔV1)、本実施形態における検出回路(ΔV2)は、今回調査した全補償温度領域において、小さい値を示している。この結果は、本実施形態の検出回路においては、AD変換後の電圧(VREF−D及びVDIF2−D)から算出されるVDIF−CALCが、差動出力検出回路から出力されるサーミスタ電圧由来のアナログ出力(VDIF)に対して、誤差が小さいことを示している。したがって、本実施形態の検出回路において、精度の高い対象物温度検出が可能になる。
本実施形態の参考例の検出回路と比較し(ΔV1)、本実施形態における検出回路(ΔV2)は、今回調査した全補償温度領域において、小さい値を示している。この結果は、本実施形態の検出回路においては、AD変換後の電圧(VREF−D及びVDIF2−D)から算出されるVDIF−CALCが、差動出力検出回路から出力されるサーミスタ電圧由来のアナログ出力(VDIF)に対して、誤差が小さいことを示している。したがって、本実施形態の検出回路において、精度の高い対象物温度検出が可能になる。
さらに、測定対象物を100℃及び150℃とした際、上記参考回路でのデジタル変換された差動電圧VDIF−D及び補償用サーミスタ電圧VREF−Dから算出した測定対象物の温度と、本実施形態の温度検出回路1でのデジタル変換された第2差動電圧VDIF2−D及び補償用サーミスタ電圧VREF−Dから算出した測定対象物の温度とを解析し、補償温度(25℃、50℃、75℃、100℃)に対する検出温度誤差を調べた。その結果を表1に示す。
なお、AD変換部C3は、10bitで変換誤差を±3LSBとしている。
なお、AD変換部C3は、10bitで変換誤差を±3LSBとしている。
これらの結果からわかるように、本実施形態の温度検出回路1は、参考回路に比べて検出温度誤差が小さくなっており、AD変換部C3による変換誤差の影響が低減され、対象物温度の算出温度の誤差が抑えられている。
なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
1…温度検出回路、C1…差動出力検出回路部、C2…第2差動増幅部、C3…AD変換部、TH1…検知用サーミスタ、TH2…補償用サーミスタ
Claims (3)
- 検知用サーミスタと補償用サーミスタとを有して前記検知用サーミスタの出力と前記補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第1差動出力として検出する差動出力検出回路部と、
前記第1差動出力と前記補償用サーミスタの出力との差分を増幅し第2差動出力として出力する第2差動増幅部と、
前記補償用サーミスタの出力と前記第2差動出力とをデジタル値に変換するAD変換部とを備えていることを特徴とする温度検出回路。 - 請求項1に記載の温度検出回路において、
前記第2差動増幅部が、2つの抵抗で構成される分圧回路によって前記補償用サーミスタの出力の入力レベルを調整可能であることを特徴とする温度検出回路。 - 請求項1又は2に記載の温度検出回路において、
前記検知用サーミスタが、画像形成装置の定着ローラの温度を測定する温度センサであることを特徴とする温度検出回路。
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