JP2017131663A - 磁気共鳴イメージング装置 - Google Patents

Abstract

【課題】装置のダウンタイム、即ち、装置の使用不可期間を最小限にし、また、装置の故障による影響を極力低減させることができる磁気共鳴イメージング装置を提供する。
【解決手段】磁気共鳴イメージング装置は、異常が発生しうる複数の箇所から検出される少なくとも１つの異常箇所に応じて撮像条件を変更する変更部と、変更された前記撮像条件に基づいて、前記異常箇所を有する状態であっても撮像可能な縮退モード、に移行して被検体を撮像する撮像部６００と、を備える。
【選択図】図２

Description

本発明の実施形態は、磁気共鳴イメージング装置に関する。

磁気共鳴イメージング装置は、静磁場中に置かれた患者の原子核スピンをラーモア周波数の高周波（ＲＦ：Radio Frequency）信号で励起し、励起に伴って被検体から発生する磁気共鳴信号を再構成して画像を生成する撮像装置である。

従来の磁気共鳴イメージング装置では、装置に何らかの故障や異常が発生した場合、サービスエンジニアが装置を復旧させるまで、その装置を使用できなくなることが多々ある。このため、予定していた被験者の撮像ができなくなってしまう。また、被験者を緊急に撮像し診断しなければならないようなときに装置に故障や異常が発生した場合にも撮像ができず、結果的には病院経営に支障をきたし、さらには、被験者の生命そのものにも影響が出てしまう恐れもあった。
また、故障状態の判別が不十分な場合、故障していることに気付かずに装置を使用しつづける恐れもある。

特許第５５３４６５２号公報

本発明が解決しようとする課題は、装置のダウンタイム、即ち、装置の使用不可期間を最小限にし、また、装置の故障による影響を極力低減させることができる磁気共鳴イメージング装置を提供することである。

一実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置は、異常が発生しうる複数の箇所から検出される少なくとも１つの異常箇所に応じて撮像条件を変更する変更部と、変更された前記撮像条件に基づいて、前記異常箇所を有する状態であっても撮像可能な縮退モード、に移行して被検体を撮像する撮像部と、を備える。

実施形態の磁気共鳴イメージング装置の全体構成例を示す構成図。 実施形態の磁気共鳴イメージング装置の詳細構成例を示すブロック図。 縮退モードに関連する実施形態の磁気共鳴イメージング装置の全体動作の処理例を示すフローチャート。 実施例１の縮退モードの処理例を示すフローチャート。 実施例１の縮退モードの動作概念を示す図。 実施例２の縮退モードの処理例を示すフローチャート。 実施例２の縮退モードの動作概念を示す図。 実施例３の縮退モードの処理例を示すフローチャート。 実施例３の縮退モードの動作概念を示す図。 実施例４の縮退モードの処理例を示すフローチャート。 実施例４の縮退モードの動作概念を示す図。 実施例５の縮退モードの処理例を示すフローチャート。 実施例５の縮退モードの動作概念を示す図。 実施例６の縮退モードの処理例を示すフローチャート。 実施例６の縮退モードの動作概念を示す図。 実施例７の縮退モードの処理例を示すフローチャート。 実施例７の縮退モードの動作概念を示す図。 実施例８の縮退モードの処理例を示すフローチャート。 実施例８の縮退モードの動作概念を示す図。 通常モードでのパルスシーケンスの設定画面の一例を示す図。 異常種別とパルスシーケンス群とを関連付けるデータベースの一例を示す図。 縮退モードでのパルスシーケンスの設定画面の一例を示す図。

以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて説明する。

（構成）
図１は、本実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置１の全体構成を示すブロック図である。磁気共鳴イメージング装置１は、磁石架台１００、寝台５００、制御キャビネット３００、コンソール４００、及びＲＦ（Radio Frequency）コイル２０を備える。

磁石架台１００は、静磁場磁石１０、傾斜磁場コイル１１、及びＷＢ（Whole Body）コイル１２を有しており、これらの構成品は円筒状の筐体に収納されている。寝台５００は、寝台本体５０と天板５１を有している。

制御キャビネット３００は、静磁場用電源３０、傾斜磁場電源３１（Ｘ軸用３１ｘ、Ｙ軸用３１ｙ、Ｚ軸用３１ｚ）、ＲＦ受信器３２、ＲＦ送信器３３、及びシーケンスコントローラ３４を備えている。

磁石架台１００の静磁場磁石１０は、概略円筒形状をなしており、被検体、例えば患者、が搬送されるボア内に静磁場を発生させる。ボアとは、磁石架台１００の円筒内部の空間のことである。静磁場磁石１０は超電導コイルを内蔵し、液体ヘリウムによって超電導コイルが極低温に冷却されている。液体ヘリウムは、熱シールド（図示せず）と呼ばれる容器に収納されており、冷凍機（図示せず）によって冷却される。

静磁場磁石１０は、励磁モードにおいて静磁場用電源３０から供給される電流を超電導コイルに印加することで静磁場を発生する。その後、永久電流モードに移行すると、静磁場用電源３０は切り離される。一旦永久電流モードに移行すると、静磁場磁石１０は長時間、例えば１年以上に亘って、大きな静磁場を発生し続ける。被検体の胸部にある黒丸は、磁場中心を示している。

傾斜磁場コイル１１も概略円筒形状をなし、静磁場磁石１０の内側に固定されている。この傾斜磁場コイル１１は、傾斜磁場電源（３１ｘ、３１ｙ、３１ｚ）から供給される電流によりＸ軸，Ｙ軸，Ｚ軸の方向に傾斜磁場を被検体に印加する。

寝台５００の寝台本体５０は天板５１を上下方向及び水平方向に移動することができる。撮像前に天板５１に載置された被検体を所定の高さまで移動させる。その後、撮影時には天板５１を水平方向に移動させて被検体をボア内に移動させる。

ＷＢコイル１２は全身用コイルとも呼ばれ、傾斜磁場コイル１１の内側に被検体を取り囲むように概略円筒形状に固定されている。ＷＢコイル１２は、ＲＦ送信器３３から伝送されるＲＦパルスを被検体に向けて送信する一方、また、水素原子核の励起によって被検体から放出される磁気共鳴信号、即ちＭＲ（Magnetic Resonance）信号を受信する。

磁気共鳴イメージング装置１は、ＷＢコイル１２の他、図１に示すようにＲＦコイル２０を備える。ＲＦコイル２０は、被検体の体表面に近接して載置されるコイルである。ＲＦコイル２０は複数のコイル要素を備えている。これら複数のコイル要素は、ＲＦコイル２０の内部でアレイ状に配列されるため、ＰＡＣ（Phased Array Coil）と呼ばれることもある。

ＲＦ送信器３３は、シーケンスコントローラ３４からの指示に基づいてＲＦパルスを生成する。生成したＲＦパルスはＷＢコイル１２に伝送され、被検体に印加される。ＲＦパルスの印加によって被検体からＭＲ信号が発生する。このＭＲ信号をＲＦコイル２０又はＷＢコイル１２が受信する。

ＲＦコイル２０で受信したＭＲ信号、より具体的には、ＲＦコイル２０内の各コイル要素で受信したＭＲ信号は、天板５１及び寝台本体５０に設けられたケーブルを介してＲＦ受信器３２に出力される。ＲＦ受信器３２は、ＭＲ信号をＡＤ（Analog to Digital）変換して、シーケンスコントローラ３４に出力する。デジタルに変化されたＭＲ信号は、生データ（Raw Data）と呼ばれることもある。また、このＭＲ信号は、フーリエ変換によって実空間データに変換される前の空間周波数データであるため、ｋ空間データと呼ばれることもある。

シーケンスコントローラ３４は、コンソール４００による制御のもと、傾斜磁場電源３１、ＲＦ送信器３３及びＲＦ受信器３２をそれぞれ駆動することによって被検体のスキャンを行う。スキャンによってＲＦ受信器３２から生データを受信すると、シーケンスコントローラ３４は、その生データをコンソール４００に送信する。

シーケンスコントローラ３４は、処理回路（図示を省略）を具備している。この処理回路は、例えば所定のプログラムを実行するプロセッサや、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）等のハードウェアで構成される。

コンソール４００は、処理回路４０、記憶回路４１、ディスプレイ４２、入力デバイス４３、及び外部Ｉ／Ｆ（Interface）４４を備えている。コンソール４００は、ホスト計算機として機能する。

記憶回路４１は、ＲＯＭ（Read Only Memory）やＲＡＭ（Random Access Memory）の他、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）や光ディスク装置等の外部記憶装置を含む記憶媒体である。記憶回路４１は、各種の情報やデータを記憶する他、処理回路４０が具備するプロセッサが実行する各種のプログラムを記憶する。

入力デバイス４３は、例えば、マウス、キーボード、トラックボール、タッチパネル等であり、各種の情報やデータを操作者が入力するための種々のデバイスを含む。ディスプレイ４２は、液晶ディスプレイパネル、プラズマディスプレイパネル、有機ＥＬパネル等の表示デバイスである。

処理回路４０は、例えば、ＣＰＵや、専用又は汎用のプロセッサを備える回路である。プロセッサは、記憶回路４１に記憶した各種のプログラムを実行することによって、後述する各種の機能を実現する。処理回路４０は、ＦＰＧＡやＡＳＩＣ等のハードウェアで構成してもよい。これらのハードウェアによっても後述する各種の機能を実現することができる。また、処理回路４０は、プロセッサとプログラムによるソフトウェア処理と、ハードウェア処理とを組わせて、各種の機能を実現することもできる。

外部Ｉ／Ｆ４４は、ＬＡＮ（Local Area Network）やインターネット等のネットワークを介して、外部の機器や、カスタマーサービスセンタ等の施設と情報の授受を行う。

図２は、本実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置１の詳細構成を示すブロック図である。図２の左側に示す構成は、図１に示した磁石架台１００及び制御キャビネット３００の夫々の内部構成、及びＲＦコイル２０に該当する。磁石架台１００及び制御キャビネット３００の夫々の内部構成、及びＲＦコイル２０で、撮像部６００を構成する。

図２の右側は、コンソール４００の、より具体的な機能構成を示す。コンソール４００は、前述したように、処理回路４０、記憶回路４１、ディスプレイ４２、入力デバイス４３、及び外部Ｉ／Ｆ４４を備えている。

処理回路４０は、異常検出／取得機能４０１、入力受付機能４０２、撮像条件変更機能（縮退モード設定機能）４０３、撮像条件設定機能４０４、再構成機能４０５、表示制御機能４０６、の各機能を実現する。処理回路４０は、例えば、処理回路４０が具備するプロセッサが、記憶回路４１に記憶される所定のプログラムを実行することによって、上記の各機能を実現する。以下、各機能について説明する。

異常検出／取得機能４０１は、撮像部６００から出力される信号やデータに基づいて、撮像部６００の内部で異常が発生したことを検出する。また、異常検出／取得機能４０１は、撮像部６００から出力される信号やデータに基づいて、撮像部６００内部の異常箇所を特定したり、異常箇所を推定したりしてもよい。

撮像部６００から出力される信号やデータには、異常の発生や異常の発生箇所を間接的に示す信号やデータ、例えば、シーケンスコントローラ３４から出力されるＭＲ信号や、各構成品から出力される温度モニタ信号等が含まれる。異常検出／取得機能４０１は、例えば、ＭＲ信号に対しては、所定の解析等を行って、異常発生の有無や、異常箇所の推定を行う。また、例えば、温度モニタ信号に対しては、所定の閾値判定等を行って、異常箇所の推定を行う。例えば、後述する実施例１〜実施例３では、シーケンスコントローラ３４から出力されるＭＲ信号に基づいて異常を検出する。また、実施例４、実施例８では、傾斜磁場コイルの温度や、熱シールドの温度等から異常を検出する。

一方、撮像部６００から出力される信号やデータには、異常の発生や異常の発生箇所を直接的に示す信号やデータも含まれる。例えば、撮像部６００内部の個々の構成品自体が異常検出機能を有している場合、各構成品で異常が検出されると、該当する構成品から、異常が発生したことや異常部位を示す異常情報が出力される。この場合、異常検出／取得機能４０１は、該当する構成品から異常情報を取得して、異常の有無や異常箇所を特定する。例えば、後述する実施例５、実施例６では、傾斜磁場電源３１やＲＦ送信器３３の内部のモジュールの異常を夫々が自己点検で検出し、検出した異常情報に関するモニタ信号を異常検出／取得機能４０１が取得している。また、実施例７では、ＲＦコイル２０の内部のＰＩＮダイオードの異常を検出し、検出した異常情報に関するモニタ情報を異常検出／取得機能４０１が取得している。

このように、異常検出／取得機能４０１は、装置自体が、異常箇所を検出或いは推定する機能である。

一方、入力受付機能４０２は、操作者が推定した異常箇所を受け付ける機能である。装置が異常を検出しない場合であっても、操作者が、ディスプレイ４２に表示された画像から、装置に何らかの異常が発生していると判断することが可能である。装置が異常を検出するためには何らかの閾値判定が必要であるが、閾値判定をくぐり抜けるような異常であっても、操作者が、画像の歪み具合や、画像に生じているアーティファクトの状況から、装置に何らかの異常が発生していると判断することができる場合がある。そして、操作者は、過去の経験等に基づいて、画像の異常状態から装置の異常箇所を推定できる場合もある。

撮像条件変更機能（縮退モード設定機能）４０３は、異常が発生しうる複数の箇所から検出される少なくとも１つの異常箇所に応じて撮像条件を変更する。

撮像条件の変更機能、即ち、縮退モードの設定機能について説明する前に、変更前の撮像条件及びその設定方法について簡単に以下に説明しておく。変更前の撮像条件は、撮像条件設定機能４０４で設定される。撮像条件設定機能で設定される撮像条件は、装置に異常が無いという前提の下で設定される。

ここでの撮像条件とは、撮像部位や診断内容に応じて、Ｔ１強調画像、Ｔ２強調画像、拡散強調画像等の画像を生成するのに適したパルスシーケンスの種類や各パルスシーケンスのパラメータ等を含むものである。各パルスシーケンスの実行順序も撮像条件に含まれる。また、パルスシーケンスの種類とは、ＳＥ（Spin Echo）法、ＧＲＥ（Gradient Echo）法、ＦＳＥ（Fast Spin Echo）法、ＥＰＩ（Echo Planar Imaging）法等の各種の撮像法に対応するパルスシーケンスの種類のことである。

また、パルスシーケンスのパラメータとは、パルスシーケンスを構成するＲＦパルスや傾斜磁場パルスに関するパラメータのことである。例えば、励起パルス、再収束パルス、反転パルス等ＲＦパルスのフリップ角、繰り返し時間ＴＲ、実効エコー時間ＴＥ、拡散強調イメージングにおけるｂ値、ＦＳＥ法やＥＰＩ法におけるエコー間隔ＥＳＰ（Echo Spacing）、傾斜磁場強度等がパルスシーケンスのパラメータに該当する。さらに、ＦＯＶ（Field of View）の大きさ、分解能、スライスの厚み、数、間隔、及び向き、といったパラメータも、パルスシーケンスのパラメータに含まれる。

上記の撮像条件は、例えば、記憶回路４１に予め保存されている。最像条件設定機能４０４は、記憶回路４１から保全されている撮像条件を読み出し、表示制御機能４０６を用いてディスプレイ４２に表示する。操作者は、所望のパルスシーケンスの種類や順序を、入力デバイス４３を介して選択することによって、或いは必要に応じてパラメータの値を変更することによって、撮像条件を決定する。決定された撮像条件は、撮像条件設定機能４０４により、シーケンスコントローラ３４に対して設定される。

その後、設定された撮像条件にしたがった撮像が撮像部６００によって実行される。そして、この撮像によって収集されたＭＲ信号は、再構成機能４０５によって再構成される。さらに、再構成された画像は、表示制御機能４０６によってディスプレイ４２に表示される。

撮像条件設定機能４０４で設定される撮像条件は、前述したように、あくまで装置に異常がないことを前提とするものである。装置によって異常が検出された場合、或いは、操作者によって推定異常箇所入力された場合には、撮像条件変更機能４０３によって撮像条件が変更される。

変更される撮像条件は、異常箇所を有する状態であっても撮像可能な撮像条件である。ここで、「異常箇所を有する状態であっても撮像可能」とは、正常な状態での撮像に比べると、何らかの制約を受けるものの、システムダウンにすることなく撮像を続行することができる、という意味である。正常な状態での撮像に対して、ある程度縮退した撮像となるため、異常箇所を有する状態であっても撮像可能な動作モードを、縮退モードと呼ぶものとする。したがって、異常箇所に応じて撮像条件を変更することと、異常箇所に応じて縮退モードを設定することとは、実質的に同義である。

（動作）
図３は、縮退モードに関連する磁気共鳴イメージング装置１の全体動作例を示すフローチャートである。より具体的な縮退モードの例として、実施例１〜実施例８を後に説明するが、図３は、各実施例に共通する処理を示している。以下、本実施形態の縮退モードの全体動作について、図３のフローチャートにしたがって説明する。

ステップＳＴ１０で、磁気共鳴イメージング装置１が起動される。装置の起動後、ステップＳＴ１１で、撮像条件変更機能４０３は、異常が検出されたか否か、或いは、異常箇所が入力デバイス４３を介して入力されたか否かを判定する。異常箇所の検出自体は上述したように異常検出／取得機能４０１が行う。また、異常箇所の入力受付自体も入力受付機能４０２が行う。ステップＳＴ１１の判定は、装置の異常が検出される前に設定された撮像条件にしたがった撮像（以下、非縮退モードでの撮像と呼ぶ）の途中でもよいし、非縮退モードでの撮像前でもよい。

ステップＳＴ１１で、装置で異常が検出されず、かつ、操作者による異常箇所の入力が行われなかったと判定された場合、ステップＳＴ１９に進んで、非縮退モードでの撮像が開始、又は続行される。

一方、装置の異常が検出された場合、或いは、装置の推定異常箇所が操作者によって入力された場合、撮像条件変更機能４０３は、異常箇所や異常状態に応じた縮退モードを設定する（ステップＳＴ１２）。具体的な縮退モードの例については後述するが、例えば、異常が発生した場合、その異常の影響を受けやすい撮像法の使用を避けて、その異常の影響を受けにくい撮像法に変更することも縮退モードの一例である。この段階では、設定された縮退モードでの撮像は未だ実行されない。

次に、撮像条件変更機能４０３は、設定された縮退モードに自動移行するか否かを判定する（ステップＳＴ１３）。例えば、入力デバイス４３を介して、縮退モードへの自動移行を許可するか禁止するかの設定を操作者が予めしておく。自動移行を許可する設定がなされている場合には、ステップＳＴ１６に進む。一方、自動移行を禁止する設定が行われている場合は、ステップＳＴ１４に進む。

ステップＳＴ１４で、撮像条件変更機能４０３は、検出された異常箇所や異常状態、及び設定された縮退の内容をディスプレイ４２に表示する。

操作者は表示された内容を確認し、（ａ）表示された縮退モードを承認する場合は、入力デバイス４３を介して、そのまま縮退モードへの移行指示をする、（ｂ）表示された縮退モードを必要に応じて修正した後、或いは、縮退モードが複数ある場合は所望の縮退モードを選択した後、入力デバイス４３を介して、縮退モードへの移行指示をする、（ｃ）表示された縮退モードを承認せず、あえて非縮退モードのまま撮像する、（ｄ）表示された縮退モードを承認せず、撮像の続行自体を断念する、等の行動を起こすことになる。

上記の（ｃ）、（ｄ）のケースは、縮退モードの動作とは直接関係しないため、図３には図示していない。一方、上記の（ａ）、（ｂ）のケースは、図３のステップＳＴ１５に進むことになる。

ステップＳＴ１５で、縮退モードへの移行指示の入力を待ち、移行指示を受け付けると、ステップＳＴ１６に進む。

ステップＳＴ１６では、ステップＳＴ１２で設定された縮退モード、或いは、上記のケース（ｂ）で修正された縮退モードにしたがった撮像が行われる。具体的には、撮像条件変更機能４０３が、非縮退モードの撮像条件から縮退モードの撮像条件に変更し、変更した撮像条件をシーケンスコントローラ３４等に設定した後、撮像を行う。

ステップＳＴ１７では、撮像条件変更機能４０３は、必要に応じて、縮退モードの内容を記憶回路４１に保存する。縮退モードを保存しておくことにより、縮退モードで行った当該撮像を、後の撮像でも確実に再現することができる。

ステップＳＴ１８で、撮像条件変更機能４０３は、必要に応じて、異常箇所や異常状態を、外部Ｉ／Ｆ４４を介して、他のユーザや、外部のカスタマーサービスセンタ、保守センタ等に通報する。縮退モードは、システムダウンさせることなく、異常箇所の影響を極力避けた状態で行う一時的な動作モードであり、異常箇所の早期の復旧が望ましいことに変わりはないからでる。

次に、より具体的な縮退モードの動作について、８つの実施例（実施例１から実施例８）について、順次説明していく。

（実施例１）
図４は、実施例１の縮退モードの処理例を示すフローチャートである。また、図５は、実施例１の縮退モードの動作概念を示す図である。

実施例１は、ｋ空間上のスパイクノイズに基づいて異常の有無を検出する。スパイクノイズは、画像上のアーティファクトとなり、画質の劣化の要因となるからである。

図４のステップＳＴ１０で装置を起動した後、非縮退モードで撮像条件を設定し（ステップＳＴ１００）、点検用スキャン、又は、通常スキャンを実施する（ステップＳＴ１０１）。点検用スキャンは、例えばファントム等に対して行うスキャンであり、通常スキャンは、患者等の被検体に対して行うスキャンである。

ステップＳＴ１０２では、これらのスキャンの実施によってｋ空間データとしてのＭＲ信号を収集する。そして、ステップＳＴ１０３で、ｋ空間上にスパイクノイズが存在するか、また、存在する場合は、そのスパイクノイズが所定値よりも大きいか否かを判定する。

図５の下の図に例示するように、ｋ空間上の端部、例えば、ｋ空間上の高周波領域を判定領域として設定し、この判定領域においてスパイクノイズのピーク値とバックグランドノイズとの大きさを比較する。ｋ空間上の高周波領域を判定領域とする理由は、低周波領域では、ファントムや被検体の信号強度が支配的となるため、スパイクノイズが存在しても、その検出が高周波領域に比べて困難となるからである。

判定領域において、スパイクノイズのピーク値とバックグランドノイズとの比が所定値以上、例えば１００倍以上あったとき異常と判定し、縮退モードの設定（ステップＳＴ１０４）に進む。ステップＳＴ１０４で否の判定の場合は、図３のステップＳＴ１９に進み、非縮退モードでの撮像が実行される。

ステップＳＴ１０４では、異常箇所の推定と縮退モードの設定が行われる。スパイクノイズが生じているときは、傾斜磁場コイルの内部で微弱な放電が発生している可能性が疑われる。そこで、異常箇所として、傾斜磁場コイル等を推定する。

また、縮退モードとして、スルーレートの高いパルスシーケンス、例えばＥＰＩ法やＧＲＥ法で使用されるパルスシーケンスの使用を避ける撮像条件を設定する。傾斜磁場コイルの内部の放電は、スルーレートの高いパルスシーケンスによって発生しやすいからである。
上述した実施例１に係る縮退モードによれば、例えば傾斜磁場コイルを異常箇所として推定することにより、スパイクノイズなどの画像上のアーティファクトが発生しない撮像条件を設定することができる。

（実施例２）
図６は、実施例２の縮退モードの処理例を示すフローチャートである。また、図７は、実施例２の縮退モードの動作概念を示す図である。

実施例２は、磁場の変動に起因する周波数誤差（又は位相誤差）に基づいて異常の有無を検出する。周波数誤差（又は位相誤差）は、画像歪みの要因となるからである。

図６のステップＳＴ１０で装置を起動した後、ＭＴ（Maxwell Term）値測定用のパルスシーケンスを実施し（ステップＳＴ２００）、ＭＴ値を測定する（ステップＳＴ２０１）。ここで、磁場の変動に起因する周波数誤差に関する指標をＭＴ値と呼ぶものとしている。

磁気共鳴周波数（ω＝２πｆ）と磁場強度Ｂとの間には、ω＝γ＊Ｂ、の関係がある。したがって、理想的な磁場強度と実際の磁場強度とのずれを、理想的な磁気共鳴周波数と、実際の磁気共鳴周波数とのずれ（周波数誤差）として表すことができる。

図７は、磁場の一例としてＸ方向の傾斜磁場Ｇｘを挙げ、Ｘに対する磁場Ｇｘ・Ｘ（傾斜磁場Ｇｘと磁場中心からの位置Ｘの積）の振舞いを示す図である。理想的な状態では、磁場Ｇｘ・ＸはＸに比例して直線的に変化するが、実際の磁場Ｇｘ・Ｘは、渦電流等の種々の要因によって直線からずれることになる。傾斜磁場強度の０次から２次の成分に起因する磁場のずれを、周波数として表した指標が上記のＭＴ値である。

図７に示すように、理想的な磁場Ｇｘ・Ｘと実際の磁場Ｇｘ・Ｘとのずれは、Ｘの位置によって異なっている。図７に示す例では、Ｘが大きくなるほどずれの量も大きくなっている。上記のＭＴ値は、理想的な磁場Ｇｘ・Ｘと実際の磁場Ｇｘ・Ｘとのずれの大きさを、Ｘの位置に依存しない、統合的な１つの値の指標値として表したものである。

ステップＳＴ２００で行われるＭＴ値測定用のパルスシーケンスは、例えば、毎日の初期点検の際に、ファントムに対して傾斜磁場を印加して行われるものである。図７において破線で示す理想的な直線は、ＭＴ値測定用のパルスシーケンスで使用されるパラメータの情報から求めることができる。一方、図７において実線で示す曲線は、ファントムからのＭＲ信号をＷＢコイル１２で受信し、受信したＭＲ信号に基づいて２次関数で近似したものである。ＭＴ値は、図７に示す破線と実線との乖離の大きさを表す指標である。そして、このＭＴ値が、理想的な磁気共鳴周波数と実際の磁気共鳴周波数とのずれの大きさを表わす指標となる。
なお、図７において、Ｘに対する磁場Ｇｘ・Ｘの振舞いを例示したが、静磁場Ｂ_０の影響を加味して、磁場（Ｇｘ・Ｘ＋Ｂ_０）を縦軸にとってもよい。

図６のステップＳＴ２０２では、ＭＴ値が所定値よりも大きいか否かが判定される。ＭＴ値が所定値以下、例えば２Ｈｚ以下であれば、図３のステップＳＴ１９に進み、非縮退モードでの撮像が実行される。

一方、ＭＴ値が所定値よりも大きい場合には、ステップＳＴ２０３に進み、異常箇所の推定と縮退モードの設定が行われる。

推定される異常箇所の例としては、傾斜磁場コイルが挙げられる。経年変化等によって、傾斜磁場コイルの断面形状が変形して真円からずれてしまい、その結果、ＭＴ値が大きくなることが考えられるからである。

また、縮退モードとして、高分解能撮像用のシーケンスやパラメータの使用を避けた撮像条件を設定する。ＭＴ値が大きい状態で、高分解能画像（例えば、ピクセルサイズが０．５ｍｍ以下の高分解能画像）を得ようとすると、ＳＮ比の低下が顕著となるからである。

また、毎日の初期点検においてＭＴ値が大きいことが検出された場合には、本スキャンの前に位相補正用のプリスキャンを必ず実施することも、有効な縮退モードとなり得る。位相補正用のプリスキャンで収集した補正データによって、本スキャンで収集したデータの位相を補正することにより、画像の歪みを低減することができるからである。
上述した実施例２に係る縮退モードによれば、例えば傾斜磁場コイルを異常箇所として推定することにより、例えば画像歪みの低減やＳＮ比の低下を抑制する撮像条件を設定することができる。

（実施例３）
図８は、実施例３の縮退モードの処理例を示すフローチャートである。また、図９は、実施例３の縮退モードの動作概念を示す図である。

実施例３は、実施例２で説明したＭＴ値の温度変化を示す指標（即ち、ΔＭＴ）に基づいて異常の有無を検出する。ＭＴ値が１つのパルスシーケンス内で温度によって変化した場合、即ち、１つのパルスシーケンス内で磁気共鳴周波数（或いは位相）が変化した場合、Ｎ／２アーティファクトと呼ばれるアーティファクトが発生しやすくなるからである。

図８のステップＳＴ１０で装置を起動した後、温度Ｔ_Ａで、ＭＴ値測定用の１回目のパルスシーケンスを実施し、ＭＴ値を測定する（ステップＳＴ３００）。さらに、温度Ｔ_Ｂで、ＭＴ値測定用の２回目のパルスシーケンスを実施し、ＭＴ値を測定する（ステップＳＴ３０１）。各ＭＴ値測定用のパルスシーケンスは、毎日の初期点検時に行われ、傾斜磁場コイルが常温時（温度Ｔ_Ａ）（例えば２０℃）と、加熱時（温度Ｔ_Ｂ）（例えば４０℃）で行われる。

ステップＳＴ３０２で、ＭＴ値の差（ΔＭＴ）を算出し、ステップＳＴ３０３で、ΔＭＴが所定値、例えば０．５Ｈｚ、よりも大きいか否かを判定する。ΔＭＴが所定値以下であれば、図３のステップＳＴ１９に進み、非縮退モードでの撮像が実行される。

一方、ΔＭＴが所定値よりも大きい場合には、ステップＳＴ３０４に進み、異常箇所の推定と縮退モードの設定が行われる。

推定される異常箇所は、例えば、傾斜磁場コイルの冷却系等である。また、例えば、縮退モードとして、ΔＭＴの影響が大きいと考えられるパルスシーケンス、例えば、ＥＰＩ等、の使用を避ける撮像条件を設定する。Ｎ／２アーティファクトが発生しやすくなることを表示して、操作者に注意を喚起することも有効である。
上述した実施例３に係る縮退モードによれば、例えば傾斜磁場コイルの冷却系などを異常箇所として推定することにより、例えば、パルスシーケンス内で磁気共鳴周波数が変化した場合に生じる、Ｎ／２アーティファクト等のアーティファクトを抑制する撮像条件を設定することができる。

（実施例４）
図１０は、実施例４の縮退モードの処理例を示すフローチャートである。また、図１１は、実施例４の縮退モードの動作概念を示す図である。

実施例４の縮退モードは、傾斜磁場コイルの温度が温度制限値を超えることによって使用不可となることを避けるための動作モードである。図１１に示すように、傾斜磁場コイルの温度は、パルスシーケンスの印加中には温度が上昇し、パルスシーケンスの停止期間は温度が下降する。パルスシーケンスの停止後、次のパルスシーケンスを開始するまでの時間が短いと、傾斜磁場コイルの温度は十分に下がりきらず、次のパルスシーケンスの印加中に温度制限値に達してしまい、その時点で撮像を停止せざるを得なくなる。

そこで、実施例４では、装置起動後（ステップＳＴ１０）、非縮退モードで撮像を開始後、傾斜磁場コイルの温度を測定する（ステップＳＴ４００）。そして、測定した温度と、温度制限値（例えば、６０℃）との差が所定値以下か否かを判定する（ステップＳＴ４０２）。

測定した温度と温度制限値との差が所定値よりも大きい場合、即ち、温度制限値までの間に十分余裕がある場合には、図３のステップＳＴ１９に進み、非縮退モードでの撮像を継続する。

一方、測定した温度と温度制限値との差が所定値以下の場合には、ステップＳＴ４０３に進み、縮退モードの設定を行う。例えば、縮退モードとして、デューティ比の高いパルスシーケンスの使用を避けた撮像条件を設定する。

また、複数のパルスシーケンスを順次行うプロトコルを操作者が設定する際に、傾斜磁場コイルの温度が温度制限値を超えないような待ち時間を、各パルスシーケンスの間に設けるように操作者に促す表示を行ったり、具体的な待ち時間を表示したりすることも有効である。また、傾斜磁場コイルの温度が温度制限値を超えないように、パルスシーケンスの実行順序を変更することも有効な方法である。
上述した実施例４に係る縮退モードによれば、例えば傾斜磁場コイルの温度上昇を抑制し、傾斜磁場コイルの温度が温度制限値に達するのを事前に防止する撮像条件を設定することができる。

（実施例５）
図１２は、実施例５の縮退モードの処理例を示すフローチャートである。また、図１３は、実施例５の縮退モードの動作概念を示す図である。

実施例５の縮退モードは、傾斜磁場電源を構成する複数の増幅モジュールのうち、少なくとも１つの増幅モジュールが故障した場合、傾斜磁場電源全体を使用不可とするのではなく、正常な増幅モジュールを活かして、傾斜磁場コイルへの電源供給を継続させる動作モードである。

図１３の左の図に示すように、非縮退モードでは、複数の（例えば５つの）増幅モジュールが直列接続されて、所定の電圧を傾斜磁場コイルに印加している。この場合、増幅モジュールの右側に示す各スイッチは、全てオープンとなっている。

ここで、図１３の右の図に示すように、例えば、上から２番目と３番目の増幅モジュールが故障したとする。この故障は傾斜磁場電源内の制御回路が検出する。そして、制御回路は、故障した増幅モジュールをバイパスするように、該当するスイッチをクローズにして、正常な増幅モジュールのみを直列接続して傾斜磁場コイルに電圧を印加する。このような動作モードが、実施例５の縮退モードである。

縮退モードでの印加電圧は、非縮退モードにおける所定の電圧よりも低くなるものの、撮像を完全に停止させることなく、継続することが可能となる。

実施例５の処理の流れは、図１２に示すように、装置起動後（ステップＳＴ１０）、まず、傾斜磁場電源の自己点検を実施する（ステップＳＴ５００）。傾斜磁場電源内の全ての増幅モジュールが正常な場合（ステップＳＴ５０１のＮＯ）は、図３のステップＳＴ１９に進み、非縮退モードでの撮像を行う。

一方、傾斜磁場電源内の少なくとも１つの増幅モジュールが異常であることが検出された場合（ステップＳＴ５０１のＹＥＳ）には、ステップＳＴ５０２に進み、縮退モードを設定する。

まず、縮退モードとして、前述したように、正常な増幅モジュールを直列接続するように、スイッチを設定する。この場合、正常時にくらべて傾斜磁場電源の出力電圧は低下することになる。

そこで、さらに縮退モードとして、高電圧を必要とするパルスシーケンス、即ち、スルーレートの高いパルスシーケンス（例えば、ＥＰＩ等）の使用を避ける撮像条件を設定する。

この他、出力電圧の低下に伴って必要となる、傾斜磁場電源内部の制御パラメータ（例えば、フィードバック制御のパラメータ）を適宜変更する。
上述した実施例５に係る縮退モードによれば、例えば傾斜磁場電源の増幅モジュール等を異常箇所として検出することにより、傾斜磁場電源を継続的に使用可能な状態に設定することが可能となり、また、正常時よりも低い出力電圧でも動作可能な撮像条件を設定することができる。

（実施例６）
図１４は、実施例６の縮退モードの処理例を示すフローチャートである。また、図１５は、実施例６の縮退モードの動作概念を示す図である。

実施例６の縮退モードは、ＲＦ増幅器を構成する複数のＲＦ増幅モジュールのうち、少なくとも１つのＲＦ増幅モジュールが故障した場合、ＲＦ増幅器全体を使用不可とするのではなく、正常なＲＦ増幅モジュールを活かして、ＷＢコイルへのＲＦ出力を継続させる動作モードである。

図１４の左の図に示すように、非縮退モードでは、複数の（例えば５つの）ＲＦ増幅モジュールが、電力合成器に並列接続されて、所定のＲＦ電力をＷＢコイルに印加している。この場合、ＲＦ増幅モジュールの右側に示す各スイッチは、全てクローズとなっている。

ここで、図１５の右の図に示すように、例えば、上から２番目と４番目のＲＦ増幅モジュールが故障したとする。この故障はＲＦ送信器内の制御回路が検出する。そして、制御回路は、故障したＲＦ増幅モジュールを切り離すように、該当するスイッチをオープンにして、正常なＲＦ増幅モジュールのみを並列接続してＷＢコイルにＲＦ電力を印加する。このような動作モードが、実施例６の縮退モードである。

縮退モードでのＲＦ電力は、非縮退モードにおける所定のＲＦ電力よりも低くなるものの、撮像を完全に停止させることなく、継続することが可能となる。

実施例６の処理の流れは、図１４に示すように、装置起動後（ステップＳＴ１０）、まず、ＲＦ送信器の自己点検を実施する（ステップＳＴ６００）。ＲＦ送信器内の全てのＲＦ増幅モジュールが正常な場合（ステップＳＴ６０１のＮＯ）は、図３のステップＳＴ１９に進み、非縮退モードでの撮像を行う。

一方、ＲＦ送信器内の少なくとも１つのＲＦ増幅モジュールが異常であることが検出された場合（ステップＳＴ６０１のＹＥＳ）には、ステップＳＴ６０２に進み、縮退モードを設定する。

まず、縮退モードとして、前述したように、正常なＲＦ増幅モジュールを並列接続するように、スイッチを設定する。この場合、正常時にくらべてＲＦ送信器のＲＦ出力は低下することになる。

そこで、さらに縮退モードとして、ＲＦピーク電力が小さいパルスシーケンスやパラメータの撮像条件を設定する。例えば、ＲＦパルスのフリップ角が小さな撮像条件を設定する。或いは、フリップ角を維持するために、ＲＦパルスのパルス長を伸ばしてＲＦピーク電力を低下させるような撮像条件を設定する。

この他、出力電圧の低下に伴って必要となる、傾斜磁場電源内部の制御パラメータ、例えば、フィードバック制御のパラメータや、ＳＡＲ算出のためのパラメータを適宜変更する。
上述した実施例６に係る縮退モードによれば、例えばＲＦ増幅器のＲＦ増幅モジュール等を異常箇所として検出することにより、ＲＦ増幅器を継続的に使用可能な状態に設定することが可能となり、また、正常時よりも低いＲＦ電力でも動作可能な撮像条件を設定することができる。

（実施例７）
図１６は、実施例７の縮退モードの処理例を示すフローチャートである。また、図１７は、実施例７の縮退モードの動作概念を示す図である。

実施例７の縮退モードは、ＲＦコイルの中のＰＩＮダイオードの故障が検出されたときに設定される動作モードである。ＰＩＮダイオードは、ＲＦコイルの中のデカップリング回路に使用されるものである。

図１７に示すように、ＲＦコイルのＰＩＮダイオードが故障すると、ＲＦコイルとＷＢコイルとのデカップリングが不良となる。この結果、ＷＢコイルの感度パタンが、本来の感度パタンとは異なったものとなってしまう。

パラレルイメージングでは、展開処理に感度マップを使用するが、感度マップは、ＲＦコイルの受信信号と、ＷＢコイルの受信信号とを用いて生成している。このため、デカップリングの不良によってＷＢコイルの感度パタンが異常になると、感度マップの感度分布も異常となり、結果的に展開処理後の画像が異常となる。

また、ＷＢコイルの受信信号を用いて輝度補正を行うこともあり、この場合には、輝度補正が異常となる。

そこで、実施例７の縮退モードは、ＲＦコイルのＰＩＮダイオードの故障した場合でも、その影響を受けないようにするものである。

実施例７の処理の流れは、図１６に示すように、装置起動後（ステップＳＴ１０）、まず、ＲＦ送信器の自己点検を実施する（ステップＳＴ７００）。そして、ＲＦコイル内のＰＩＮダイオードが異常か否かを判定する（ステップＳＴ７０１）。例えば、ＲＦコイルを寝台のコネクタに接続し、ＰＩＮダイオードの順方向電流をモニタする。順方向電流が流れていなければ、そのＰＩＮダイオードは異常であると判定することができる。

接続されているＲＦコイルのすべてのＰＩＮダイオードが正常であれば（ステップＳＴ７０１のＮＯ）、図３のステップＳＴ１９に進み、非縮退モードでの撮像を行う。

一方、接続されているＲＦコイルの少なくとも１つのＰＩＮダイオードが異常であることが検出された場合（ステップＳＴ７０１のＹＥＳ）には、ステップＳＴ７０２に進み、縮退モードを設定する。

例えば、縮退モードとして、パラレルイメージングを用いない撮像条件に設定する。また、非縮退モードとしてＷＢコイルの画像を用いた輝度補正を行っている場合には、ＷＢコイルの画像を必要としない輝度補正方法に変更する。
上述した実施例７に係る縮退モードによれば、例えばＲＦコイルのＰＩＮダイオ―ド等を異常箇所として検出することにより、例えば、ＷＢコイルの感度パタンが正常時の感度パタンから変化したとしても、その影響を受けにくい撮像条件を設定することができる。

（実施例８）
図１８は、実施例８の縮退モードの処理例を示すフローチャートである。また、図１９は、実施例８の縮退モードの動作概念を示す図である。

実施例８の縮退モードは、超電導静磁場磁石の熱シールドの温度をモニタし、この温度が所定値以上となったときに設定される動作モードである。図１９に示すように、熱シールドの温度が上昇すると渦電流磁場の振舞いが変化する。渦電流磁場による静磁場への影響は、例えば、傾斜磁場パルスの形状を補正する等の方法を用いた渦調整によって、事前に補正されている。しかしながら、熱シールドの温度が想定以上に上昇すると、渦調整がずれ、結果的に画像の歪みが生じることになる。

そこで、実施例８の縮退モードは、熱シールドの温度が想定以上に上昇した場合でも、その影響を極力受けないようにするものである。

実施例８の処理の流れは、図１８に示すように、装置起動後（ステップＳＴ１０）、静磁場磁石の熱シールドの温度を測定する（ステップＳＴ８００）。熱シールドの温度測定は、例えば、静磁場磁石の動作監視ユニットから出力されるモニタ信号を利用することができる。

そして、ステップＳＴ８０１で、熱シールドの温度が所定値以上か否かを判定する。所定値よりも小さければ（ステップＳＴ８０１のＮＯ）、図３のステップＳＴ１９に進み、非縮退モードでの撮像を行う。

一方、熱シールドの温度が所定値以上の場合（ステップＳＴ８０１のＹＥＳ）には、ステップＳＴ８０２に進み、縮退モードを設定する。

例えば、縮退モードとして、渦電流磁場の影響の少ない撮像条件を設定する。逆に、渦電流磁場の影響の大きい、ｆＭＲＩ等の撮像条件を避ける。また、熱シールドの温度が所定値以上の場合、画像歪みの可能性が有る旨のアラーム表示等を行っても良い。
上述した実施例８に係る縮退モードによれば、例えば超電導静磁場磁石の冷却系を異常箇所として検出することにより、例えば、渦電流磁場の影響の少ない撮像条件を設定することができる。

ここまで、実施例１乃至実施例８を用いて、装置が判定或いは検出した異常に関する情報に基づいて、或いは、ユーザが入力した異常の情報に基づいて、非縮退モード（即ち、通常モード）から縮退モードに移行する例を説明してきた。以下では、縮退モードの設定方法、特に、縮退モードにおけるパルスシーケンスの設定方法について、具体的に説明する。

縮退モードにおけるパルスシーケンスの設定の説明に先立ち、図２０を用いて、通常モードでのパルスシーケンスの設定方法について説明しておく。図２０は、通常モードにおけるパルスシーケンスの設定画面ＳＣの一例を示す図である。

設定画面ＳＣは、その右側から、撮像部位を指定するウィンドＷ１、ＰＡＳ名を指定するウィンドＷ２、指定されたＰＡＳに含まれるパルシーケンス群を表示するウィンドＷ３、及びパルシーケンス群の中から選択されたパルスシーケンスを実行順に表示するウィンドＷ４を有している。

ここで、ＰＡＳ（Programmable Anatomical Scan）とは、様々な解剖学的撮像部位（例えば、頭部や脚部等）に応じた複数のパルスシーケンス群を記憶するデータベースである。例えば、図２０に例示するように、ウィンドＷ１において、撮像対象部位としてユーザが「頭部」を選択すると、ウィンドＷ２に、「頭部」に対応する複数のＰＡＳ名（即ち、複数のパルスシーケンス群の夫々に付された識別名）が表示される。ユーザが、複数のＰＡＳ名の中から、例えば、「ＨＥＡＤ ＭＲＡ」を指定すると、指定されたＰＡＳに含まれるパルスシーケンス群がウィンドＷ３に表示される。

ユーザが、ウィンドＷ３に表示されたパルスシーケンス群の中から、所望のパルスシーケンスを選択すると、選択したパルスシーケンスが、選択した順序に従ってウィンドＷ４に表示される。そして、撮像が開始されると、ウィンドＷ４に配列された順序で、各パルスシーケンスが順次実行されることになる。

なお、パルスシーケンスは「プロトコル」と呼ばれ、パルスシーケンス群は「プロトコル群」と呼ばれることもある。

以上は、非縮退モード（即ち、通常モード）におけるパルスシーケンスの設定方法であるが、本実施形態の縮退モードにおけるパルスシーケンスの設定方法においても、類似した手法を用いる。但し、上述した各実施例からも判るように、磁気共鳴イメージング装置１で発生しうる異常の種類は様々である。したがって、設定する縮退モードのパルスシーケンスも、異常の種類に対応したものである必要がある。

そこで、本実施形態の磁気共鳴イメージング装置１では、異常の種類に応じたパルシーケンス群を予めデータベースとして保有しておくものとしている。そして、装置が検出した異常箇所に対応する異常の種類に応じて、縮退モード用のパルスシーケンス群を装置が自動的にユーザに提供するようにしている。

図２１は、縮退モード用のパルスシーケンス群をユーザに提供するためのデータベースＤＢＲの一例を示す図である。このデータベースＤＢＲでは、複数の異常種別（例えば、異常種別（１）から異常種別（Ｎ）までのＮ種の異常種別）と、これら複数の異常種別の夫々に対応する複数の縮退モード（例えば、縮退モード（１）から縮退モード（Ｎ）までのＮ種の縮退モード）のパルスシーケンス群（及びその識別名であるＰＡＳ名）とが互いに関連付けられている。データベースＤＢＲは、例えば、記憶回路４１に記憶される。

そして、図３のステップＳＴ１１において、装置が異常を検出すると（或いは、推定異常箇所がユーザによって入力されると）、装置はデータベースＤＢＲを参照し、検出された（或いは入力された）異常の種類に応じたパルスシーケンス群がデータベースＤＢＲから抽出される。

抽出されたパルシーケンス群は、例えば、図２２に例示するように、パルスシーケンスの設定画面ＳＣに表示される。例えば、検出された異常が異常種別（n）であった場合には、この異常種別に関連付けられた縮退モード(n)のパス名とパルスシーケンス群とが、ウィンドＷ２とウィンドＷ３に夫々表示される。

例えば、実施例１で説明したように、異常の種別が、傾斜磁場コイルの異常に起因するスパイクノイズの発生であった場合には、ＥＰＩやＧＲＥのようにスルーレートの高いパルスシーケンスが含まれないパルスシーケンス群がデータベースＤＢＲから抽出され、ウィンドＷ３に表示される。

或いは、例えば、実施例６で説明したように、異常の種別が、ＲＦ増幅モジュールの異常に起因する送信電力の低下であった場合には、フリップ角が通常モードよりも小さく設定されたパルスシーケンス群がデータベースＤＢＲから抽出され、ウィンドＷ３に表示される。

ここまで、縮退モードにおけるパルスシーケンスの設定方法について、異常の種類に応じたパルスシーケンス群を予めデータベースとして保有しておく例を示したが、パルスシーケンスの設定方法はこれに限られず、装置が異常を検出した時（或いは、推定異常箇所がユーザによって入力された時）に、異常の種類と程度に応じて非縮退モード（即ち、通常モード）のプロトコルの撮像条件を設定し直す手法を用いても良い。言い換えれば、異常箇所の情報に夫々対応する複数の異常種別と、複数の異常種別の夫々に関連付けられたパルスシーケンス変更方法とをデータベースに記憶しておき、異常種別に関連付けられたパルスシーケンス変更方法をデータベースから抽出し、抽出した前記パルスシーケンス変更方法に基づいて、縮退モードにおける撮像条件を設定する手法を用いてもよい。

例えば、実施例５で説明したように、異常の種別が、傾斜磁場電源を構成する複数の増幅モジュールのうち、少なくとも１つの増幅モジュールが故障した場合、正常時に比べて傾斜磁場電源の出力電圧は低下するため、傾斜磁場パルスのスルーレートは低下する。例えば、正常時に５つの増幅モジュールで最大スルーレートが１５０（ｍＴ／ｍ／ｍｓ）であった場合に、５つのうち２つの増幅モジュールの故障が検出されてバイパスされると、最大スルーレートは９０（ｍＴ／ｍ／ｍｓ）程度まで低下する。装置が異常を検出すると、装置はデータベースＤＢＲを参照し、パルスシーケンスが９０（ｍＴ／ｍ／ｍｓ）以上のスルーレートを使用している場合には、エコー時間ＴＥを延長したり、空間分解能を低下させたりするなどの手段により、低下したスルーレート９０（ｍＴ／ｍ／ｍｓ）で実現できる新しいプロトコルを生成し、非縮退モードのプロトコルと置き換える。この処理を撮像に使用する全てのプロトコルについて行う。新しいプロトコルへの置き換えは、異常を検出した時にデータベースＤＢＲ内の全てのＰＡＳについて行っても良く、また、検査の前に、その検査に使用するＰＡＳについてその都度行っても良い。

ユーザが、異常状態を理解して、その異常状態に応じた適切なパルスシーケンスを設定することは容易ではない。特に、急患等でとにかく撮像を急ぎたいような状況のなかで、ユーザに、異常状況に応じた適切なパルスシーケンスの修正を強いるのは現実的とは言えない。

これに対して、本実施形態では、上述したように、ユーザの知識に依存することなく、異常の種別に対応した縮退モードのパルスシーケンス群を、装置が自動的に判断し、ユーザに提供することができる。

以上、いくつかの実施例を説明してきたが、本実施形態に係る磁気共鳴イメージング装置１は、上述した実施例に限定されるものではなく、他の縮退モードへの展開も可能であることは言うまでもない。また、パルスシーケンスの設定方法は、一例として説明した、ＰＡＳ名の指定を経てパルスシーケンス群が表示されるという形態に限らない。つまり、検出された装置の異常に応じて、異常がある状況下であっても実行可能なパルスシーケンス群を表示したり、異常がある状況下でも実行可能なようにパラメータ設定されたパルスシーケンス群に置き換えて表示したりすることができる構成であればよい。

以上説明してきた少なくとも１つの実施形態の磁気共鳴イメージング装置によれば、装置のダウンタイム、即ち、装置の使用不可期間を最小限にし、また、装置の故障による影響を極力低減させることができる。

なお、各実施形態の説明における撮像条件変更機能（縮退モード設定機能）は、請求項における変更部の一例である。各実施形態の説明における入力受付機能は、請求項における入力部の一例である。各実施形態の説明における異常検出／取得機能は、請求項における検出部の一例である。また、傾斜磁場電源及びＲＦ送信機の夫々の制御回路も検出部の一例である。各実施形態の説明における外部Ｉ／Ｆは、請求項における通報部の一例である。各実施形態の説明における入力デバイスは、請求項における入力部の一例である

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１…磁気共鳴イメージング装置
１０…静磁場磁石
１１…傾斜磁場コイル
１２…ＷＢコイル
２０…ＲＦコイル
３２…ＲＦ受信器
３３…ＲＦ送信器
３４…シーケンスコントローラ
４０…処理回路
４１…記憶回路
４２…入力デバイス
４３…ディスプレイ
４４…外部Ｉ／Ｆ
４００…コンソール
４０１…異常検出／取得機能
４０２…入力受付機能
４０３…撮像条件変更機能（縮退モード設定機能）
４０４…撮像条件設定機能
４０５…再構成機能
４０６…表示制御機能

Claims (19)

1. 異常が発生しうる複数の箇所から検出される少なくとも１つの異常箇所に応じて撮像条件を変更する変更部と、
   変更された前記撮像条件に基づいて、前記異常箇所を有する状態であっても撮像可能な縮退モードに移行して被検体を撮像する撮像部と、
   を備える磁気共鳴イメージング装置。
2. 前記異常箇所の情報を、操作者から受け付ける入力部、をさらに備え、
   前記変更部は、操作者から受け付けた前記異常箇所の情報に応じて前記撮像条件を変更する、
   請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
3. 前記異常箇所の情報を検出する検出部、をさらに備え、
   前記変更部は、前記検出部で検出された前記異常箇所の情報に応じて前記撮像条件を変更する、
   請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
4. 前記検出部で検出された前記異常箇所の情報を表示する表示部、
   をさらに備える請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
5. 前記検出部で検出された前記異常箇所の情報を外部に通報する通報部、
   をさらに備える請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
6. 前記縮退モードに移行するか否かの操作者の指示を受け付ける入力部、をさらに備え、
   前記撮像部は、移行するとの指示を受け付けたとき、前記縮退モードに移行して前記被検体を撮像する、
   請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
7. 前記撮像部は、前記異常箇所の情報に基づいて、前記縮退モードに自動で移行して前記被検体を撮像する、
   請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
8. 第１の撮像に使用された前記縮退モードを記憶する記憶回路、をさらに備え、
   前記撮像部は、前記第１の撮像後に行われる第２の撮像において、記憶された前記縮退モードを再現して前記被検体を撮像する、
   請求項１に記載の磁気共鳴イメージング装置。
9. 前記検出部は、ｋ空間上のスパイクノイズを検出し、
   前記変更部は、前記スパイクノイズが所定値よりも大きい場合、スルーレートの高いパルスシーケンスの使用を避けるように前記撮像条件を変更する、
   請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
10. 前記検出部は、磁場の変動に起因する周波数誤差に関する指標を検出し、
    前記指標が所定値よりも大きい場合、（ａ）前記変更部は、解像度の高いパルスシーケンスの使用を避けるように前記撮像条件を変更する、又は、（ｂ）前記撮像部は、本スキャンの実行の都度、前記本スキャンの前に位相補正用又は周波数補正用のプリスキャンを行う、
    請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
11. 前記検出部は、磁場の変動に起因する周波数誤差に関する指標の温度変化を検出し、
    前記変更部は、前記指標の温度変化が所定値よりも大きい場合、スルーレートの高いパルスシーケンスの使用を避けるように前記撮像条件を変更する、
    請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
12. 前記検出部は、傾斜磁場コイルの温度を検出し、
    前記変更部は、前記傾斜磁場コイルの温度と、所定の温度制限値との差が所定値よりも小さい場合、デューティ比の高いパルスシーケンスの使用をさけるように前記撮像条件を変更する、
    請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
13. 複数の電力増幅モジュールが直列接続されて所定の電圧を出力する傾斜磁場電源、をさらに備え、
    前記検出部は、前記電力増幅モジュールのそれぞれの異常を検出し、
    前記傾斜磁場電源は、前記複数の電力増幅モジュールの中の少なくとも１つの異常が検出された場合、異常が検出された電力増幅モジュール以外の電力増幅モジュールを直列接続して、前記所定の電圧よりも低い電圧を出力する、
    請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
14. 複数のＲＦ増幅モジュールが並列接続されて所定のＲＦ電力を出力するＲＦ増幅器、をさらに備え、
    前記検出部は、前記ＲＦ増幅モジュールのそれぞれの異常を検出し、
    前記ＲＦ増幅器は、前記複数のＲＦ増幅モジュールの中の少なくとも１つの異常が検出された場合、異常が検出されたＲＦ増幅モジュール以外のＲＦ増幅モジュールを並列接続して、前記所定のＲＦ電力よりも低いＲＦ電力を出力する、
    請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
15. ピンダイオードを具備するＲＦコイルであって、前記ピンダイオードのオン、オフによって、他のＲＦコイル又は全身用コイルとのカップリングを抑制するＲＦコイル、をさらに備え、
    前記検出部は、前記ピンダイオードの異常を検出し、
    前記変更部は、前記ピンダイオードの異常が検出された場合は、（ａ）パラレルイメージングによる撮像を行わないように前記撮像条件を変更する、又は、（ｂ）前記全使用コイルの画像を使用した輝度補正を行わないように前記撮像条件を変更する、
    請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
16. 熱シールドを具備する静磁場磁石、をさらに備え、
    前記検出部は、前記熱シールドの温度を検出し、
    前記変更部は、前記熱シールドの温度が所定値よりも大きい場合、渦電流磁場の影響の少ない撮像条件に変更する、
    請求項３に記載の磁気共鳴イメージング装置。
17. 複数の前記異常箇所の情報に夫々対応する複数の異常種別と、前記複数の異常種別の夫々に関連付けられたパルスシーケンス群とを記憶する記憶回路、をさらに備え、
    前記変更部は、前記異常種別に関連付けられた前記パルスシーケンス群を前記記憶回路から抽出し、前記縮退モードにおける撮像条件として設定する、
    請求項１乃至１６のいずれか１項に記載の磁気共鳴イメージング装置。
18. 表示部を更に備え、
    前記表示部は、前記変更部にて抽出された前記パルスシーケンス群を表示する、
    請求項１７に記載の磁気共鳴イメージング装置。
19. 複数の前記異常箇所の情報に夫々対応する複数の異常種別と、前記複数の異常種別の夫々に関連付けられたパルスシーケンス変更方法とを記憶する記憶回路、をさらに備え、
    前記変更部は、前記異常種別に関連付けられた前記パルスシーケンス変更方法を前記記憶回路から抽出し、抽出した前記パルスシーケンス変更方法に基づいて、前記縮退モードにおける撮像条件を設定する、
    請求項１乃至１６のいずれか１項に記載の磁気共鳴イメージング装置。

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