JP2017096749A - 位置決め方法、外観検査装置、プログラム、コンピュータ可読記録媒体および外観検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
検査対象物を撮像して得られた検査対象画像の中から予め登録された規範パターンをサーチし、当該検査対象画像に対して当該規範パターンの位置および姿勢を決定する位置決め方法であって、
前記検査対象物の規範となる製品の規範画像を表示し、当該規範画像において前記規範パターンを取り囲むように第一領域を設定するとともに、当該規範画像において前記規範パターンの位置および姿勢を特徴づける第二領域を設定する設定工程と、
前記規範画像に設定された前記第一領域から抽出された特徴を前記検査対象画像からサーチすることで前記検査対象画像における前記規範パターンの位置および姿勢を粗に求める第一サーチ工程と、
前記第一サーチ工程において決定された前記規範パターンの位置および姿勢の少なくとも一方を細密に求める第二サーチ工程であって、前記規範画像に設定された前記第二領域から抽出された特徴を前記検査対象画像からサーチし、前記検査対象画像における前記規範パターンの位置および姿勢の少なくとも一方を細密に求める第二サーチ工程と
を有することを特徴とする位置決め方法を提供する。
図2は外観検査装置1のハードウェア構成の一例を示す図である。主制御部21は、各種プログラムに基づき数値計算や情報処理を行うとともに、ハードウェア各部の制御を行う。たとえば、中間演算処理装置としてのCPU22と、主制御部21が各種プログラムを実行する際のワークエリアとして機能するRAMなどのワークメモリ23と、起動プログラムや初期化プログラムなどが格納されたROM、フラッシュROMまたはEEPROMなどのプログラムメモリ24とを有している。照明制御部26は主制御部21のCPU22やPLC3からの命令に基づいて照明装置5に対して照明制御信号を送信する。
ここでは、外観検査を実行する計測モジュールを画像処理ツールと呼ぶことにする。なお、画像処理ツールは検査ツールや計測ツールと呼ばれてもよい。画像処理ツールには様々なものがあり、主要な画像処理ツールとしては、エッジ位置計測ツール、エッジ角度計測ツール、エッジ幅計測ツール、エッジピッチ計測ツール、エリア計測ツール、ブロブ計測ツール、パターンサーチ計測ツール、傷計測ツールなどがある。
●エッジ位置計測ツール:検査対象物8の画像が表示される画面上において、エッジ位置を検出したい検査領域に対してウインドウを設定することにより、設定された検査領域内で、任意の方向にスキャンして複数のエッジ(明から暗に切り替わる箇所または暗から明に切り替わる箇所)を検出する。検出した複数のエッジから、一のエッジの指定を受け付け、指定を受け付けたエッジの位置を計測する。
●エッジ角度計測ツール:設定を受け付けた検査領域内に2つのセグメントを設定し、それぞれのセグメントで検出したエッジからの検査対象物8の傾斜角度を計測する。傾斜角度は、たとえば時計回りを正とすることができる。
●エッジ幅計測ツール:設定を受け付けた検査領域内で、任意の方向にスキャンして複数のエッジを検出し、検出した複数のエッジ間の幅を計測する。
●エッジピッチ計測ツール:設定を受け付けた検査領域内で、任意の方向にスキャンして複数のエッジを検出する。検出した複数のエッジ間の距離(角度)の最大値/最小値や平均値を計測する。
●エリア計測ツール:カメラ4で撮像した検査対象物8の画像を二値化処理して、白色領域または黒色領域の面積を計測する。たとえば、計測する対象として白色領域または黒色領域の指定をパラメータとして受け付けることにより、白色領域または黒色領域の面積を計測する。
●ブロブ計測ツール:カメラ4で撮像した検査対象物8の画像を二値化処理して、同一の輝度値(255または0)の画素の集合(ブロブ)に対してパラメータとしての数、面積、重心位置等を計測する。
●パターンサーチ計測ツール:比較対象とする画像パターン(モデル画像)を事前に記憶装置に記憶しておき、撮像した検査対象物8の画像の中から記憶してある画像パターンに類似している部分を検出することで、画像パターンの位置、傾斜角度、相関値を計測する。
●傷計測ツール:設定を受け付けた検査領域内で、小領域(セグメント)を移動させて画素値の平均濃度値を算出し、閾値以上の濃度差となった位置を傷が存在すると判定する。
●その他にも、検査領域内の文字情報を切り出して辞書データ等と照合することで文字列を認識するOCR認識ツール、画像上に設定したウインドウ(領域)をシフトさせながら、各ウインドウの位置においてエッジの検出を繰り返す機能を有するトレンドエッジツール、設定したウインドウ内の濃淡の平均、偏差等を計測する機能を有する濃淡ツール、設定したウインドウ内の濃度の平均、偏差等を計測する機能を有する濃度ツールなどもあり、ユーザは検査内容に応じて必要な画像処理ツールを選択することができる。なお、これらの画像処理ツールは、典型的な機能およびその実現方法の代表例を示すものに過ぎない。あらゆる画像処理に対応する画像処理ツールが本願発明の対象になり得る。
図3は外観検査処理の基本フローを示すフローチャートである。外観検査処理は、検査対象物8の良否を判定するために必要となる規範画像、検査領域、サーチ領域、検出点(以下、基準点と称す)、基準線、公差などの閾値を設定する設定モードと、実際に検査対象物8を撮像してパターンマッチングなどの画像処理を実行して良否を判定する運転モードとに分かれている。なお、検査用のパラメータを適切に設定するために、設定モードと運転モードとを繰り返し実行することが一般的である。なお、寸法計測、エリアツールや傷ツールなどによる外観検査処理が実行されてもよい。
各検査ツールの設定に用いられる規範画像における検査対象物8(検査合格品)の位置や姿勢と、運転モードにおいて取得された画像内での検査対象物8(未検査品)の位置や姿勢は一致していないことが多い。なお、検査合格品は規範品や基準品、モデル品と称されてもよい。未検査品とは、検査ツールによって検査の対象となっている製品であり、検査対象品と呼ばれてもよい。
本実施形態では、CPU22や画像処理部30がユーザ操作に応じて検査対象物8の規範となる製品(検査合格品)の外形特徴(輪郭)を含む第一領域と、検査合格品の位置や姿勢の規範となる特徴(姿勢特徴)を含む第二領域とを設定する。さらに、CPU22や画像処理部30は外形特徴に基づいて検査画像内での検査対象物8(未検査品)の位置や姿勢を大まか(ラフ)にサーチする(第一サーチ工程)。さらに、CPU22や画像処理部30は姿勢特徴を用いて未検査品の位置や姿勢を細密にサーチする(第二サーチ工程)。このように姿勢特徴を用いて位置や姿勢が決定されるため、検査ツールの検査領域の位置や姿勢の精度が向上する。
図5は位置・姿勢補正に関するパラメータを設定する処理を示すフローチャートである。図6はCPU22や画像処理部30などが実現する機能を示している。CPU22はプログラムメモリ24に記憶されている制御プログラムを実行することで様々な機能を実現する。これらの機能の一部またはすべてはASICやFPGAなどの論理回路によって実現されてもよい。
図5に示したUI制御部50は表示系のユーザインタフェースや入力系のユーザインタフェースを制御する。表示系のユーザインタフェースとしては、たとえば、外観検査や位置・姿勢補正に関する各種のパラメータを設定するために使用されるユーザインタフェースがある。また、入力系のユーザインタフェースにはコンソール9やキーボードなどがある。パラメータ設定部51はコンソール9などから入力されるユーザの指示に従って外観検査や位置・姿勢補正に関する各種のパラメータを設定する。
ここでは幾何サーチを用いて検査画像内での規範パターンの位置と姿勢を求め、求められた位置および姿勢に応じて検査領域の位置と姿勢の補正量を決定する。一般に幾何サーチでは、規範画像に対して検査画像の位置を少しずつシフトさせながらエッジの類似度や相関値等の評価値が求められ、最も高い評価値となった位置が特定される。つまり、検査画像のシフト量が検査領域の位置の補正量となる。なお、ここでは検査ツールの検査領域が検査画像ごとに補正されるものとして説明するが、規範画像を用いて決定された検査ツールの検査領域を固定したまま検査画像の位置や姿勢が補正されてもよい。つまり、検査領域の位置や姿勢を補正する代わりに、検査画像の位置や姿勢が補正されてもよい。
図6に示した検査ツール選択部55は検査対象物8に対して実行される検査ツールを、コンソール9を通じて入力されるユーザ指示にしたがって選択する。画像処理部30の外観検査部68は様々な検査ツールを有しているが、そのすべてが常に必要となるわけではない。ユーザは検査対象物8に応じて実行されるべき検査ツールを選択する。検査領域設定部56は検査ツール選択部55によって選択された検査ツールによって検査の対象となる領域(検査領域)を設定する。たとえば、検査対象物8の第一部位から第二部位までの距離を計測する計測ツールが選択された場合、検査対象物8の規範となる製品(検査合格品)の画像に対して第一部位を囲む検査領域と第二部位を囲む検査領域とが設定される。検査対象物8の第一部位の面積を計測する面積計測ツールが選択された場合は、検査対象物8の規範となる製品(検査合格品)の画像に対して第一部位を囲む検査領域が設定される。検査閾値設定部57は検査対象物8の良否を判定するための基準となる検査閾値を設定する。たとえば、検査ツール選択部55によって距離を計測する計測ツールが選択された場合、検査閾値設定部57は距離の合格基準となる範囲(公差)を検査閾値として設定する。検査閾値はコンソール9などを通じてユーザにより入力される。これらの設定データも設定データ記憶部62に記憶され、運転モードにおいて外観検査部68により読み出されて使用される。
検査画像における規範パターンの位置と姿勢を正確に求める際に、規範パターンの姿勢を固定しつつ、基本パターンをある特定の方向にのみ直線的にサーチすることで、検査画像内での規範パターンの位置と姿勢が正確に求められることがある。
姿勢特徴サーチには様々な応用例が存在する。図12(A)はコンデンサの側面図である。コンデンサ100には端子101が設けられる底面102と、この底面102の反対側に位置する頂面103とがある。よって、コンデンサ100の本体に端子101を接続するためにコンデンサ100の上下を検査ツールによって判別することがある。上述した姿勢特徴を抽出するための第二領域72をコンデンサ100の底面付近にある姿勢特徴に設定することで、検査ツールによって精度よくコンデンサ100の上下を判別することが可能となる。
図9のS24では姿勢特徴のみを用いた幾何サーチによって検査画像における規範パターンの位置と姿勢を求めていた。しかし、外形的特徴など姿勢特徴以外の特徴も姿勢特徴とともに考慮されてもよい。ただし、姿勢特徴は外形的特徴と比較して小さな特徴であるため、姿勢特徴のサーチへの寄与率が低い。そこで、本実施形態では、姿勢特徴のみの評価値(例:相関値)に大きな重みαを付与することで、複数の特徴の内で姿勢特徴のサーチへの寄与率を相対的に増加させる。
このように各回転角度について重みづけされた評価値を求めることで、姿勢特徴のサーチへの寄与率が増加し、精度よく、位置と姿勢が決定されるようになる。
図9や図11では第二サーチ工程で幾何サーチを実行するものとして説明した。一般に幾何サーチでは、規範画像または検査画像のうち一方の位置を少しずつシフトしながら、規範画像におけるエッジと検査画像におけるエッジとの重なっている数を求め、重なっている数が最も大きいときの位置(シフト量)が求められる。上述したように各エッジにいくつかのモデル点が設定され、各モデル点からエッジに対して法線方向に延びる探索ラインが設定され、この探索ラインに沿ってシフトが実行されてもよい。このような幾何サーチに代えて、図13が示すような正規化相関サーチが適用されてもよい。この場合、第二サーチ工程(S24)と微細サーチ(S25)はS31ないしS33に置換される。S31で第二サーチ部66は予め設定された回転中心42を基準として、規範画像に設定された第二領域内の模範パターンを一定角度ずつ回転させ、各角度における規範パターンと検査画像との相関値を求める。S32で第二サーチ部66は求められた複数の相関値のうち最も高い相関値を求め、最も高い相関値が得られた角度を特定する。S33で第一サーチ部65は最も高い相関値が得られた角度について上述した微細サーチを実行することで、偏芯の影響が低減される。
図8に示したユーザインタフェースでは姿勢特徴領域である第二領域72は一つだけ設定されていたが、図14が示すように複数の第二領域72a、72bが設定されてもよい。この場合、第二領域72a、72bのそれぞれについて姿勢特徴が抽出され、幾何サーチや正規化相関サーチなどが実行されることになる。
以上説明したように本実施形態によれば、検査対象物8を撮像して得られた検査対象画像(検査画像45)の中から、予め登録された規範パターンをサーチし、当該検査画像45に対して当該規範パターンの位置および姿勢を決定する位置決め方法が提供される。図5ないし図8などを用いて説明したように、設定工程では、検査対象物8の規範となる製品(検査合格品など)の規範画像40が表示され、当該規範画像40において規範パターンを取り囲むように第一領域70が設定される。さらに、設定工程では、当該規範画像40において規範パターンの位置や姿勢を特徴づける第二領域72が設定される。S21に関して説明したように、第一サーチ工程では、規範画像40に設定された第一領域70から抽出された特徴を検査画像45からサーチすることで検査画像45における規範パターンの位置および姿勢が粗く(ラフに)求められる。S24に関して説明したように、第二サーチ工程では、第一サーチ工程で決定された規範パターンの位置および姿勢の少なくとも一方が細密に求められる。とりわけ、第二サーチ工程では、規範画像40の第二領域72から抽出された特徴が検査画像45からサーチされ、検査画像45における規範パターンの位置および姿勢の少なくとも一方が細密に求められる。このように、本実施形態では、規範パターンの位置や姿勢を特徴づける第二領域72が設定され、第二領域72からこれらの特徴が抽出され、検査画像45における規範パターンの位置および姿勢が求められる。したがって、外形形状の対称性を有する製品であっても精度よく位置決めを行うことが可能となる。
Claims (15)
- 検査対象物を撮像して得られた検査対象画像の中から予め登録された規範パターンをサーチし、当該検査対象画像に対して当該規範パターンの位置および姿勢を決定する位置決め方法であって、
前記検査対象物の規範となる製品の規範画像を表示し、当該規範画像において前記規範パターンを取り囲むように第一領域を設定するとともに、当該規範画像において前記規範パターンの位置および姿勢を特徴づける第二領域を設定する設定工程と、
前記規範画像に設定された前記第一領域から抽出された特徴を前記検査対象画像からサーチすることで前記検査対象画像における前記規範パターンの位置および姿勢を粗に求める第一サーチ工程と、
前記第一サーチ工程において決定された前記規範パターンの位置および姿勢の少なくとも一方を細密に求める第二サーチ工程であって、前記規範画像に設定された前記第二領域から抽出された特徴を前記検査対象画像からサーチし、前記検査対象画像における前記規範パターンの位置および姿勢の少なくとも一方を細密に求める第二サーチ工程と
を有することを特徴とする位置決め方法。 - 前記第一サーチ工程および前記第二サーチ工程を通じて決定された前記規範パターンの位置および姿勢に合わせて前記検査対象物の外観検査を実行する検査ツールの検査領域の位置および姿勢を決定する決定工程と、
前記検査対象画像に対して配置された前記検査領域において前記検査ツールにより外観検査を実行する実行工程と
を有することを特徴とする請求項1に記載の位置決め方法。 - 前記第二サーチ工程を実行するか否かを選択する選択工程をさらに有し、
前記選択工程において前記第二サーチ工程を実行することが選択されると、前記決定工程において、前記第一サーチ工程および前記第二サーチ工程を通じて決定された前記規範パターンの位置および姿勢に合わせて前記検査領域の位置および姿勢を決定し、前記選択工程において前記第二サーチ工程を実行しないことが選択されると、前記決定工程において、前記第一サーチ工程により決定された前記規範パターンの位置および姿勢に合わせて前記検査領域の位置および姿勢を決定することを特徴とする請求項2に記載の位置決め方法。 - 前記第二サーチ工程は、前記規範パターンに対して設定された回転中心を基準として前記検査対象画像を回転させることで前記検査対象画像における前記規範パターンの姿勢を細密に決定する工程を含むことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載の位置決め方法。
- 前記第二サーチ工程は、前記規範パターンの姿勢を固定し、前記規範パターンの位置を直線的に変化させることで前記規範パターンの位置を細密に決定する工程を含むことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載の位置決め方法。
- 前記第一サーチ工程および前記第二サーチ工程では前記規範画像と前記検査対象画像とからそれぞれ抽出されたエッジ情報を用いて幾何サーチが実行されることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一項に記載の位置決め方法。
- 前記第一サーチ工程および前記第二サーチ工程では前記規範画像と前記検査対象画像を用いたパターンマッチングまたは正規化相関サーチが実行されることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一項に記載の位置決め方法。
- 前記第一サーチ工程では、前記規範画像と前記検査対象画像をそれぞれ縮小して得られる縮小画像を用いてサーチが実行されることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか一項に記載の位置決め方法。
- 前記第一サーチ工程では、前記検査対象画像を縮小して得られる第一縮小画像を用いて粗サーチが実行され、さらに、前記検査対象画像の等倍画像または前記第一縮小画像よりも大きな第二縮小画像を用いて微細サーチが実行されることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか一項に記載の位置決め方法。
- 前記第二サーチ工程では、予め設定された回転中心に対して前記検査対象画像を回転させながら前記検査対象画像において前記規範パターンに対する類似度が最も高くなる姿勢を探索し、さらに、再度、前記微細サーチを実行することで最終的な前記規範パターンの位置と姿勢を確定させることを特徴とする請求項9に記載の位置決め方法。
- 前記第一サーチ工程では相対的に大きな面積の特徴の類似度に基づき前記検査対象画像での前記規範パターンの位置および姿勢がサーチされ、
前記第二サーチ工程では相対的に小さな面積の特徴の類似度に基づき前記検査対象画像での前記規範パターンの位置および姿勢がサーチされることを特徴とする請求項1ないし10のいずれか一項に記載の位置決め方法。 - コンピュータに請求項1ないし11のいずれか一項に記載の各工程を実行させるプログラム。
- 請求項12に記載のプログラムを記録したコンピュータ可読記録媒体。
- 検査対象物を撮像して得られた検査対象画像の中から予め登録された規範パターンをサーチし、当該検査対象画像に対して当該規範パターンの位置および姿勢を決定し、前記検査対象物の外観検査を実行する外観検査装置であって、
前記検査対象物の規範となる製品の規範画像を表示し、当該規範画像において前記規範パターンを取り囲むように第一領域を設定するとともに、当該規範画像において前記規範パターンの位置および姿勢を特徴づける第二領域を設定する設定手段と、
前記第一領域から抽出された特徴を前記検査対象画像からサーチすることで前記検査対象画像における前記規範パターンの位置および姿勢を粗に決定する第一サーチ手段と、
前記第一サーチ手段により決定された前記規範パターンの位置および姿勢の少なくとも一方を細密に求める第二サーチ手段であって、前記第二領域から抽出された特徴を前記検査対象画像からサーチすることで、前記規範パターンの位置および姿勢の少なくとも一方を細密に求める第二サーチ手段と、
前記第一サーチ手段および前記第二サーチ手段を通じて決定された前記規範パターンの位置および姿勢に合わせて前記検査対象物の外観検査を実行する検査ツールの検査領域の位置および姿勢を補正し、当該位置および姿勢を補正された検査領域を用いて前記検査ツールにより外観検査を実行する検査手段と
を有することを特徴とする外観検査装置。 - 検査対象物の規範となる規範製品が写っている規範画像を表示し、当該規範画像において前記規範製品の外形特徴を取り囲むように外形特徴領域を設定するとともに、前記規範製品の位置および姿勢を特徴づける姿勢特徴を取り囲むように前記規範画像に対して姿勢特徴領域を設定する設定工程と、
検査対象物を撮像することで検査対象画像を取得する取得工程と、
前記規範画像の前記外形特徴領域から抽出された外形特徴を前記検査対象画像からサーチして当該検査対象画像における検査対象製品の位置と姿勢を抽出する第一サーチ工程と、
前記規範画像の前記姿勢特徴領域から抽出された姿勢特徴を前記検査対象画像からサーチすることで、前記第一サーチ工程において決定された前記検査対象製品の位置および姿勢の少なくとも一方を細密に決定する第二サーチ工程と
前記第一サーチ工程および前記第二サーチ工程を通じて特定された前記検査対象画像における前記検査対象製品の位置および姿勢に応じて、前記検査対象画像に対して検査領域を配置する配置工程と、
前記検査対象画像に対して配置された前記検査領域において前記検査対象製品の外観検査を実行する外観検査工程と
を有することを特徴とする外観検査方法。
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021033555A (ja) * | 2019-08-22 | 2021-03-01 | ファナック株式会社 | 物体検出装置及び物体検出用コンピュータプログラム |
JP2021041021A (ja) * | 2019-09-12 | 2021-03-18 | カシオ計算機株式会社 | 移動軌跡検出プログラム、移動軌跡検出方法および情報端末 |
TWI725235B (zh) * | 2017-09-26 | 2021-04-21 | 美商克萊譚克公司 | 用於在製造過程中控制基板上圖案之定位的方法及電腦程式產品 |
US11074718B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-07-27 | Fanuc Corporation | Image processing device |
JP2021113772A (ja) * | 2020-01-21 | 2021-08-05 | Juki株式会社 | 部品認識装置、部品実装装置、及び部品認識方法 |
US11107210B2 (en) | 2019-03-25 | 2021-08-31 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Image data generating apparatus generating image data for inspecting external appearance of product |
JP2022505986A (ja) * | 2018-10-31 | 2022-01-14 | イシダ ヨーロッパ リミテッド | 食品パックに貼られたラベルを検査する方法および装置 |
JP2023034688A (ja) * | 2021-08-31 | 2023-03-13 | 楽天グループ株式会社 | コード表示媒体、情報処理装置、方法およびプログラム |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6474334B2 (ja) * | 2015-07-30 | 2019-02-27 | 株式会社キーエンス | 画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム |
JP6630545B2 (ja) | 2015-11-24 | 2020-01-15 | 株式会社キーエンス | 位置決め方法、位置決め装置、プログラムおよびコンピュータ可読記録媒体 |
JP6333871B2 (ja) * | 2016-02-25 | 2018-05-30 | ファナック株式会社 | 入力画像から検出した対象物を表示する画像処理装置 |
EP3339801B1 (en) * | 2016-12-20 | 2021-11-24 | Hexagon Technology Center GmbH | Self-monitoring manufacturing system, production monitoring unit and use of production monitoring unit |
JP7214432B2 (ja) * | 2018-10-22 | 2023-01-30 | キヤノン株式会社 | 画像処理方法、画像処理プログラム、記録媒体、画像処理装置、生産システム、物品の製造方法 |
CN111352411B (zh) * | 2018-12-20 | 2024-05-24 | 北京新联铁集团股份有限公司 | 空心车轴定位方法、装置及智能空心车轴探伤机 |
CN109829389B (zh) * | 2019-01-08 | 2021-01-26 | 上海上湖信息技术有限公司 | 机器移位判断方法、装置以及计算机存储介质 |
US11164333B2 (en) | 2020-01-31 | 2021-11-02 | Gracenote, Inc. | Monitoring icon status in a display from an external device |
CN111289531B (zh) * | 2020-03-31 | 2022-10-14 | 厦门力和行自动化有限公司 | 一种连续供给的图案材料的定位采集系统和定位采集方法 |
CN113675121A (zh) * | 2020-05-13 | 2021-11-19 | 苏州能讯高能半导体有限公司 | 定位方法及装置 |
CN116187726B (zh) * | 2023-04-28 | 2023-07-18 | 天津大学 | 一种绿色供应链的能源大数据处理系统 |
CN118015075A (zh) * | 2024-04-10 | 2024-05-10 | 江苏时代新能源科技有限公司 | 边缘定位方法及系统 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010067247A (ja) * | 2008-08-09 | 2010-03-25 | Keyence Corp | 画像処理におけるパターンモデルの位置決め方法、画像処理装置、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2010067246A (ja) * | 2008-08-09 | 2010-03-25 | Keyence Corp | 画像のデータ圧縮方法、画像処理におけるパターンモデルの位置決め方法、画像処理装置、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5241423B2 (ja) | 2008-10-16 | 2013-07-17 | 株式会社キーエンス | 画像処理における画像データ縮小率の決定方法、画像処理におけるパターンモデルの位置決め方法、画像処理におけるパターンモデルの作成方法、画像処理装置、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2010097438A (ja) | 2008-10-16 | 2010-04-30 | Keyence Corp | 画像処理を用いた輪郭情報抽出方法、画像処理におけるパターンモデルの作成方法、画像処理におけるパターンモデルの位置決め方法、画像処理装置、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP6630545B2 (ja) | 2015-11-24 | 2020-01-15 | 株式会社キーエンス | 位置決め方法、位置決め装置、プログラムおよびコンピュータ可読記録媒体 |
-
2015
- 2015-11-24 JP JP2015228727A patent/JP6608682B2/ja active Active
-
2016
- 2016-10-05 US US15/285,498 patent/US10366485B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010067247A (ja) * | 2008-08-09 | 2010-03-25 | Keyence Corp | 画像処理におけるパターンモデルの位置決め方法、画像処理装置、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2010067246A (ja) * | 2008-08-09 | 2010-03-25 | Keyence Corp | 画像のデータ圧縮方法、画像処理におけるパターンモデルの位置決め方法、画像処理装置、画像処理プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI725235B (zh) * | 2017-09-26 | 2021-04-21 | 美商克萊譚克公司 | 用於在製造過程中控制基板上圖案之定位的方法及電腦程式產品 |
US11074718B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-07-27 | Fanuc Corporation | Image processing device |
JP2022505986A (ja) * | 2018-10-31 | 2022-01-14 | イシダ ヨーロッパ リミテッド | 食品パックに貼られたラベルを検査する方法および装置 |
US11107210B2 (en) | 2019-03-25 | 2021-08-31 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Image data generating apparatus generating image data for inspecting external appearance of product |
JP2021033555A (ja) * | 2019-08-22 | 2021-03-01 | ファナック株式会社 | 物体検出装置及び物体検出用コンピュータプログラム |
US11961255B2 (en) | 2019-08-22 | 2024-04-16 | Fanuc Corporation | Object detection device and object detection computer program |
JP7488033B2 (ja) | 2019-08-22 | 2024-05-21 | ファナック株式会社 | 物体検出装置及び物体検出用コンピュータプログラム |
JP2021041021A (ja) * | 2019-09-12 | 2021-03-18 | カシオ計算機株式会社 | 移動軌跡検出プログラム、移動軌跡検出方法および情報端末 |
JP7383945B2 (ja) | 2019-09-12 | 2023-11-21 | カシオ計算機株式会社 | 移動軌跡検出プログラム、移動軌跡検出方法および情報端末 |
JP2021113772A (ja) * | 2020-01-21 | 2021-08-05 | Juki株式会社 | 部品認識装置、部品実装装置、及び部品認識方法 |
JP2023034688A (ja) * | 2021-08-31 | 2023-03-13 | 楽天グループ株式会社 | コード表示媒体、情報処理装置、方法およびプログラム |
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