JP2017083360A - 電圧差における異常を検出する異常検出装置 - Google Patents

電圧差における異常を検出する異常検出装置 Download PDF

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Abstract

【課題】第1電圧に基づいて生成した電圧範囲から第2電圧が外れていることを検出することができる異常検出装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る異常検出装置1Aは、第1電圧Vin1を反転増幅する第1増幅回路2と、電圧Vop1を1倍よりも小さいゲインで反転増幅する第2増幅回路3と、電圧Vop1を1倍よりも大きいゲインで反転増幅する第3増幅回路4と、下限値としての電圧Vop2と第2電圧Vin2との大小関係、および上限値としての電圧Vop3と第2電圧Vin2との大小関係に基づいて、第1電圧Vin1がGNDレベルを上回る場合の異常を検出する第1検出回路5Aと、下限値としての電圧Vop3と第2電圧Vin2との大小関係、および上限値としての電圧Vop2と第2電圧Vin2との大小関係に基づいて、第1電圧Vin1がGNDレベルを下回る場合の異常を検出する第2検出回路6Aとを備えている。
【選択図】図1

Description

本発明は、2つの電圧の電圧差における異常を検出する異常検出装置に関する。
従来から、様々な分野において、予め定められた第1電圧と検出した物理量等に対応する第2電圧との電圧差における異常を検出するために、異常検出装置が使用されている。このような装置として、例えば特許文献1には、出力巻線112Xに発生する2つの電圧V1X,V2Xの電圧差をトランス30Xによって検出し、検出した電圧差を整流回路124によって整流し、整流後の電圧差(第2電圧)と基準電圧Vから生成した閾値(第1電圧)とを比較回路125によって比較する回路が開示されている(図7参照)。
この回路によれば、同一であるべき2つの電圧V1X,V2Xに閾値よりも大きな電圧差が生じていること、すなわち、出力巻線112Xに無視できない故障が発生していることを検出することができる。同様に、この回路によれば、出力巻線112Yに無視できない故障が発生していることも検出することができる。
特開2001−349738号公報
特許文献1に記載の回路によれば、電圧V1X,V2X(またはV1Y,V2Y)の第2電圧としての電圧差が第1電圧としての閾値よりも大きいことを検出することができる。しかしながら、特許文献1に記載の回路は、1つの比較器125Aによって出力巻線112X(または112Y)の故障を検出するので、第1電圧に基づいて生成した下限値と上限値との間に第2電圧が収まっていること、逆に言うと、第2電圧が予め定められた電圧範囲から外れていることを検出することはできない。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、その課題とするところは、第1電圧に基づいて生成した電圧範囲から第2電圧が外れていることを検出することができる異常検出装置を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明に係る異常検出装置は、予め定められた第1電圧と該第1電圧の比較対象として入力される第2電圧との電圧差における異常を検出する異常検出装置であって、(1)第1電圧を、所定の基準レベルを基準にして反転増幅する第1増幅回路と、(2)第1増幅回路の出力電圧を、基準レベルを基準にして1倍よりも小さいゲインで反転増幅する第2増幅回路と、(3)第1増幅回路の出力電圧を、基準レベルを基準にして1倍よりも大きいゲインで反転増幅する第3増幅回路と、(4)下限値としての第2増幅回路の出力電圧と第2電圧との大小関係、および上限値としての第3増幅回路の出力電圧と第2電圧との大小関係に基づいて、第1電圧が基準レベルを上回る場合の異常を検出する第1検出回路と、(5)下限値としての第3増幅回路の出力電圧と第2電圧との大小関係、および上限値としての第2増幅回路の出力電圧と第2電圧との大小関係に基づいて、第1電圧が基準レベルを下回る場合の異常を検出する第2検出回路と、を備えたことを特徴とする。
この構成によれば、第1電圧に基づいて生成した電圧範囲から第2電圧が外れていることを検出することができる。より詳しくは、第1電圧が基準レベルを上回る場合には、第2増幅回路の出力電圧を下限値とし、かつ第3増幅回路の出力電圧を上限値とした電圧範囲から第2電圧が外れていることを第1検出回路によって検出することができる。一方、第1電圧が基準レベルを下回る場合には、第3増幅回路の出力電圧を下限値とし、かつ第2増幅回路の出力電圧を上限値とした電圧範囲から第2電圧が外れていることを第2検出回路によって検出することができる。
上記異常検出装置の第1検出回路および第2検出回路は、様々な構成をとり得る。
例えば、第1検出回路は、(4a)負端子側に入力される第2増幅回路の出力電圧と正端子側に入力される第2電圧とを比較する第1比較器と、(4b)正端子側に入力される第3増幅回路の出力電圧と負端子側に入力される第2電圧とを比較する第2比較器と、(4c)第1および第2比較器の出力を論理的に取りまとめる第1AND回路または第1NAND回路とを含み、第2検出回路は、(5a)正端子側に入力される第2増幅回路の出力電圧と負端子側に入力される第2電圧とを比較する第3比較器と、(5b)負端子側に入力される第3増幅回路の出力電圧と正端子側に入力される第2電圧とを比較する第4比較器と、(5c)第3および第4比較器の出力を論理的に取りまとめる第2AND回路または第2NAND回路とを含んでいてもよい。
また、第1検出回路は、(4a’)正端子側に入力される第2増幅回路の出力電圧と負端子側に入力される第2電圧とを比較する第1比較器と、(4b’)負端子側に入力される第3増幅回路の出力電圧と正端子側に入力される第2電圧とを比較する第2比較器と、(4c’)第1および第2比較器の出力を論理的に取りまとめる第1OR回路または第1NOR回路とを含み、第2検出回路は、(5a’)負端子側に入力される第2増幅回路の出力電圧と正端子側に入力される第2電圧とを比較する第3比較器と、(5b’)正端子側に入力される第3増幅回路の出力電圧と負端子側に入力される第2電圧とを比較する第4比較器と、(5c’)第3および第4比較器の出力を論理的に取りまとめる第2OR回路または第2NOR回路とを含んでいてもよい。
上記異常検出装置は、(6)第1および第2検出回路の出力を論理的に取りまとめる論理集約回路をさらに備えていることが好ましい。
この構成によれば、論理集約回路の出力を参照するだけで、第1電圧に基づいて生成した電圧範囲から第2電圧が外れていることを検出することができ、利便性が向上する。
本発明によれば、第1電圧に基づいて生成した電圧範囲から第2電圧が外れていることを検出することができる異常検出装置を提供することができる。
本発明の第1実施例に係る異常検出装置の回路図である。 第1実施例に係る異常検出装置の、正常時の動作を示す波形図である。 第1実施例に係る異常検出装置の、異常時の動作を示す波形図である。 第1実施例に係る異常検出装置の、異常時の動作を示す波形図である。 本発明の第2実施例に係る異常検出装置の回路図である。 本発明の第3実施例に係る異常検出装置の回路図である。 従来の異常検出装置の回路図である。
以下、添付図面を参照しつつ、本発明に係る異常検出装置の実施例について説明する。
[第1実施例]
図1に、本発明の第1実施例に係る異常検出装置1Aを示す。同図に示すように、異常検出装置1Aは、第1増幅回路2と、第2増幅回路3と、第3増幅回路4と、第1検出回路5Aと、第2検出回路6Aと、本発明の論理集約回路としてのOR回路OR1とを備えている。この異常検出装置1Aによれば、第1電圧Vin1に基づいて生成した電圧範囲から第1電圧Vin1の比較対象として入力される第2電圧Vin2が外れていることを検出することができる。
第1増幅回路2は、オペアンプOP1と、2つの抵抗器R1,R2とを含んでいる。抵抗器R1は、一端が第1入力端子IN1に接続され、他端がオペアンプOP1の反転入力端子(−)に接続されている。抵抗器R2は、一端がオペアンプOP1の反転入力端子に接続され、他端がオペアンプOP1の出力端子に接続されている。また、オペアンプOP1の非反転入力端子(+)は、接地されている。抵抗器R1,R2の抵抗値は、いずれも10k[Ω]である。
第1増幅回路2は、第1入力端子IN1から入力される第1電圧Vin1を本発明の「基準レベル」に相当するGNDレベル(0[V])を基準にして反転増幅し、これにより得られた電圧Vop1を出力する。第1増幅回路2のゲインG1は、1.0(=R2/R1=10k/10k)倍である。
第2増幅回路3は、オペアンプOP2と、2つの抵抗器R3,R4とを含んでいる。抵抗器R3は、一端が第1増幅回路2の出力に接続され、他端がオペアンプOP2の反転入力端子(−)に接続されている。抵抗器R4は、一端がオペアンプOP2の反転入力端子に接続され、他端がオペアンプOP2の出力端子に接続されている。また、オペアンプOP2の非反転入力端子(+)は、接地されている。抵抗器R3,R4の抵抗値は、それぞれ10k[Ω],8.2k[Ω]である。
第2増幅回路3は、第1増幅回路2の出力電圧Vop1をGNDレベルを基準にして反転増幅し、これにより得られた電圧Vop2を出力する。第2増幅回路3のゲインG2は、0.82(=R4/R3=8.2k/10k)倍である。すなわち、第2増幅回路3のゲインG2は、1倍よりも小さい。
本実施例では、第2増幅回路3の出力電圧Vop2を次式で表すことができる。

Vop2=Vin1×−G1×−G2
=Vin1×−1.0×−0.82
=0.82Vin1
第3増幅回路4は、オペアンプOP3と、2つの抵抗器R5,R6とを含んでいる。抵抗器R5は、一端が第1増幅回路2の出力に接続され、他端がオペアンプOP3の反転入力端子(−)に接続されている。抵抗器R6は、一端がオペアンプOP3の反転入力端子に接続され、他端がオペアンプOP3の出力端子に接続されている。また、オペアンプOP3の非反転入力端子(+)は、接地されている。抵抗器R5,R6の抵抗値は、それぞれ10k[Ω],12k[Ω]である。
第3増幅回路4は、第1増幅回路2の出力電圧Vop1をGNDレベルを基準にして反転増幅し、これにより得られた電圧Vop3を出力する。第3増幅回路4のゲインG3は、1.2(=R6/R5=12k/10k)倍である。すなわち、第3増幅回路4のゲインG3は、1倍よりも大きい。
本実施例では、第3増幅回路4の出力電圧Vop3を次式で表すことができる。

Vop3=Vin1×−G1×−G3
=Vin1×−1.0×−1.2
=1.2Vin1
第1検出回路5Aは、第1比較器COMP1と、第2比較器COMP2と、第1AND回路AND1と、2つの抵抗器R7,R8とを含んでいる。抵抗器R7,R8の抵抗値は、いずれも2.2k[Ω]である。
第1比較器COMP1は、負側の端子(−)が第2増幅回路3の出力に接続され、正側の端子(+)が第2入力端子IN2に接続され、オープンコレクタ形式を有する出力端子が抵抗器R7を介してVCC(5[V])に接続されている。第2比較器COMP2は、正側の端子(+)が第3増幅回路4の出力に接続され、負側の端子(−)が第2入力端子IN2に接続され、オープンコレクタ形式を有する出力端子が抵抗器R8を介してVCCに接続されている。また、第1AND回路AND1は、一方の入力端子が第1比較器COMP1の出力端子に接続され、他方の入力端子が第2比較器COMP2の出力端子に接続されている。
第1比較器COMP1は、第2入力端子IN2から入力される第2電圧Vin2と出力電圧Vop2とを比較する。そして、第2電圧Vin2の方が大きければVCCレベル(“Highレベル”ともいう)の電圧を出力し、出力電圧Vop2の方が大きければGNDレベル(“Lowレベル”ともいう)の電圧を出力する。第2比較器COMP2は、第2電圧Vin2と出力電圧Vop3とを比較する。そして、出力電圧Vop3の方が大きければVCCレベルの電圧を出力し、第2電圧Vin2の方が大きければGNDレベルの電圧を出力する。第1AND回路AND1は、第1比較器COMP1および第2比較器COMP2の出力電圧が、いずれもVCCレベルである場合にVCCレベルの電圧Vand1を出力し、それ以外の場合はGNDレベルの電圧Vand1を出力する。
このように、第1検出回路5Aは、第2増幅回路3の出力電圧Vop2(=0.82Vin1)と第3増幅回路4の出力電圧Vop3(=1.2Vin1)との間に第2電圧Vin2が収まっている場合にVCCレベルの電圧Vand1を出力し、それ以外の場合はGNDレベルの電圧Vand1を出力する。
例えば、第1電圧Vin1が5.0[V]である場合、第1検出回路5Aは、第2電圧Vin2が4.1〜6.0[V]の範囲に収まっていれば正常であることを示すVCCレベルの電圧Vand1を出力し、収まっていなければ異常であることを示すGNDレベルの電圧Vand1を出力する。また、第1検出回路5Aは、第1電圧Vin1が0[V]を下回っている場合は、常にGNDレベルの電圧Vand1を出力する。
第2検出回路6Aは、第3比較器COMP3と、第4比較器COMP4と、第2AND回路AND2と、2つの抵抗器R9,R10とを含んでいる。抵抗器R9,R10の抵抗値は、いずれも2.2k[Ω]である。
第3比較器COMP3は、正側の端子(+)が第2増幅回路3の出力に接続され、負側の端子(−)が第2入力端子IN2に接続され、オープンコレクタ形式を有する出力端子が抵抗器R9を介してVCCに接続されている。第4比較器COMP4は、負側の端子(−)が第3増幅回路4の出力に接続され、正側の端子(+)が第2入力端子IN2に接続され、オープンコレクタ形式を有する出力端子が抵抗器R10を介してVCCに接続されている。また、第2AND回路AND2は、一方の入力端子が第3比較器COMP3の出力端子に接続され、他方の入力端子が第4比較器COMP4の出力端子に接続されている。
第3比較器COMP3は、第2入力端子IN2から入力される第2電圧Vin2と出力電圧Vop2とを比較する。そして、出力電圧Vop2の方が大きければVCCレベルの電圧を出力し、第2電圧Vin2の方が大きければGNDレベルの電圧を出力する。第4比較器COMP4は、第2電圧Vin2と出力電圧Vop3とを比較する。そして、第2電圧Vin2の方が大きければVCCレベルの電圧を出力し、出力電圧Vop3の方が大きければGNDレベルの電圧を出力する。第2AND回路AND2は、第3比較器COMP3および第4比較器COMP4の出力電圧が、いずれもVCCレベルである場合にVCCレベルの電圧Vand2を出力し、それ以外の場合はGNDレベルの電圧Vand2を出力する。
このように、第2検出回路6Aは、第3増幅回路4の出力電圧Vop3(=1.2Vin1)と第2増幅回路3の出力電圧Vop2(=0.82Vin1)との間に第2電圧Vin2が収まっている場合にVCCレベルの電圧Vand2を出力し、それ以外の場合はGNDレベルの電圧Vand2を出力する。
例えば、第1電圧Vin1が−5.0[V]である場合、第2検出回路6Aは、第2電圧Vin2が−6.0〜−4.1[V]の範囲に収まっていれば正常であることを示すVCCレベルの電圧Vand2を出力し、収まっていなければ異常であることを示すGNDレベルの電圧Vand2を出力する。また、第2検出回路6Aは、第1電圧Vin1が0[V]を上回っている場合は、常にGNDレベルの電圧Vand2を出力する。
OR回路OR1は、一方の入力端子が第1検出回路5Aの出力に接続され、他方の入力端子が第2検出回路6Aの出力に接続され、出力端子が検出結果出力端子OUTに接続されている。
OR回路OR1は、第1検出回路5Aの出力電圧Vand1および第2検出回路6Aの出力電圧Vand2の少なくとも一方がVCCレベルである場合にVCCレベルの検出電圧Vdetを出力し、それ以外の場合はGNDレベルの検出電圧Vdetを出力する。VCCレベルの検出電圧Vdetは正常であることを示し、GNDレベルの検出電圧Vdetは異常であることを示す。
図2は、第1電圧Vin1および第2電圧Vin2が一致している場合の動作波形図である。
第1電圧Vin1が0[V]を上回っている領域において、第2電圧Vin2は、第2増幅回路3の出力電圧Vop2よりも大きく、第3増幅回路4の出力電圧Vop3よりも小さい。このため、第1検出回路5Aは、VCCレベルの電圧Vand1を出力している。また、第1電圧Vin1が0[V]を下回っている領域において、第2電圧Vin2は、第3増幅回路4の出力電圧Vop3よりも大きく、第2増幅回路3の出力電圧Vop2よりも小さい。このため、第2検出回路6Aは、VCCレベルの電圧Vand2を出力している。これらの結果、OR回路OR1は、全ての領域において、正常であることを示すVCCレベルの検出電圧Vdetを出力している。
図3は、第1電圧Vin1が0[V]を上回っている領域において、第1電圧Vin1および第2電圧Vin2の電圧差が過大となった場合の動作波形図である。
第1電圧Vin1が0[V]を上回っており、かつ第2電圧Vin2が第3増幅回路4の出力電圧Vop3よりも大きい領域では、第2比較器COMP2がGNDレベルの電圧を出力し、第1AND回路AND1が異常であることを示すGNDレベルの電圧Vand1を出力している。また、第1電圧Vin1が0[V]を上回っており、かつ第2電圧Vin2が第2増幅回路3の出力電圧Vop2よりも小さい領域では、第1比較器COMP1がGNDレベルの電圧を出力し、やはり第1AND回路AND1が異常であることを示すGNDレベルの電圧Vand1を出力している。これらの結果、OR回路OR1は、一部の領域において、異常であることを示すGNDレベルの検出電圧Vdetを出力している。
図4は、第1電圧Vin1が0[V]を下回っている領域において、第1電圧Vin1および第2電圧Vin2の電圧差が過大となった場合の動作波形図である。
第1電圧Vin1が0[V]を下回っており、かつ第2電圧Vin2が第2増幅回路3の出力電圧Vop2よりも大きい領域では、第3比較器COMP3がGNDレベルの電圧を出力し、第2AND回路AND2が異常であることを示すGNDレベルの電圧Vand2を出力している。また、第1電圧Vin1が0[V]を下回っており、かつ第2電圧Vin2が第3増幅回路4の出力電圧Vop3よりも小さい領域では、第4比較器COMP4がGNDレベルの電圧を出力し、やはり第2AND回路AND2が異常であることを示すGNDレベルの電圧Vand2を出力している。これらの結果、OR回路OR1は、一部の領域において、異常であることを示すGNDレベルの検出電圧Vdetを出力している。
以上のように、第1実施例に係る異常検出装置1Aによれば、第2電圧Vin2が第1電圧Vin1に基づいて生成した下限値と上限値の間に収まっていることを検出することができる。
[第2実施例]
図5に、本発明の第2実施例に係る異常検出装置1Bを示す。同図に示すように、異常検出装置1Bは、第1検出回路5Aの代わりに第1検出回路5Bを備えている点、第2検出回路6Aの代わりに第2検出回路6Bを備えている点、およびOR回路OR1の代わり位に第3NAND回路NAND3を備えている点において異常検出装置1Aと相違しているが、他の点については異常検出装置1Aと共通している。
第1検出回路5Bは、第1AND回路AND1の代わりに第1NAND回路NAND1を備えている。第1NAND回路NAND1は、正常であることを示すGNDレベルの電圧Vnand1、または異常であることを示すVCCレベルの電圧Vnand1を出力する。
同様に、第2検出回路6Bは、第2AND回路AND2の代わりに第2NAND回路NAND2を備えている。第2NAND回路NAND2は、正常であることを示すGNDレベルの電圧Vnand2、または異常であることを示すVCCレベルの電圧Vnand2を出力する。
第3NAND回路NAND3は、第1検出回路5Bの出力電圧Vnand1および第2検出回路6Bの出力電圧Vnand2の少なくとも一方がGNDレベルである場合にVCCレベルの検出電圧Vdetを出力し、それ以外の場合はGNDレベルの検出電圧Vdetを出力する。VCCレベルの検出電圧Vdetは正常であることを示し、GNDレベルの検出電圧Vdetは異常であることを示す。
[第3実施例]
図6に、本発明の第3実施例に係る異常検出装置1Cを示す。同図に示すように、異常検出装置1Cは、第1検出回路5Aの代わりに第1検出回路5Cを備えている点、第2検出回路6Aの代わりに第2検出回路6Cを備えている点において異常検出装置1Aと相違しているが、他の点については異常検出装置1Aと共通している。
第1検出回路5Cは、第1検出回路5Aと同様、第1比較器COMP1および第2比較器COMP2を含んでいる。ただし、第1比較器COMP1は、正側の端子(+)が第2増幅回路3の出力に接続され、負側の端子(−)が第2入力端子IN2に接続されている。また、第2比較器COMP2は、負側の端子(−)が第3増幅回路4の出力に接続され、正側の端子(+)が第2入力端子IN2に接続されている。
第1検出回路5Cは、第1AND回路AND1の代わりに第1NOR回路NOR1を備えている。
第1比較器COMP1は、第2電圧Vin2と出力電圧Vop2とを比較する。そして、第2電圧Vin2の方が大きければGNDレベルの電圧を出力し、出力電圧Vop2の方が大きければVCCレベルの電圧を出力する。第2比較器COMP2は、第2電圧Vin2と出力電圧Vop3とを比較する。そして、出力電圧Vop3の方が大きければGNDレベルの電圧を出力し、第2電圧Vin2の方が大きければVCCレベルの電圧を出力する。第1NOR回路NOR1は、第1比較器COMP1および第2比較器COMP2の出力電圧が、いずれもGNDレベルである場合にVCCレベルの電圧Vnor1を出力し、それ以外の場合はGNDレベルの電圧Vnor1を出力する。
第2検出回路6Cは、第2検出回路6Aと同様、第3比較器COMP3および第4比較器COMP4を含んでいる。ただし、第3比較器COMP3は、負側の端子(−)が第2増幅回路3の出力に接続され、正側の端子(+)が第2入力端子IN2に接続されている。また、第4比較器COMP4は、正側の端子(+)が第3増幅回路4の出力に接続され、負側の端子(−)が第2入力端子IN2に接続されている。
第2検出回路6Cは、第2AND回路AND2の代わりに第2NOR回路NOR2を備えている。
第3比較器COMP3は、第2電圧Vin2と出力電圧Vop2とを比較する。そして、出力電圧Vop2の方が大きければGNDレベルの電圧を出力し、第2電圧Vin2の方が大きければVCCレベルの電圧を出力する。第4比較器COMP4は、第2電圧Vin2と出力電圧Vop3とを比較する。そして、第2電圧Vin2の方が大きければGNDレベルの電圧を出力し、出力電圧Vop3の方が大きければVCCレベルの電圧を出力する。第2NOR回路NOR2は、第3比較器COMP3および第4比較器COMP4の出力電圧が、いずれもGNDレベルである場合にVCCレベルの電圧Vnor2を出力し、それ以外の場合はGNDレベルの電圧Vnor2を出力する。
第1実施例と同様、OR回路OR1は、第1検出回路5Cの出力電圧Vnor1および第2検出回路6Cの出力電圧Vnor2の少なくとも一方がVCCレベルである場合にVCCレベルの検出電圧Vdetを出力し、それ以外の場合はGNDレベルの検出電圧Vdetを出力する。VCCレベルの検出電圧Vdetは正常であることを示し、GNDレベルの検出電圧Vdetは異常であることを示す。
[変形例]
以上、本発明に係る異常検出装置の第1〜第3実施例について説明してきたが、本発明はこれらに限定されるものではない。
例えば、第1検出回路は、下限値としての出力電圧Vop2と第2電圧Vin2との大小関係、および上限値としての出力電圧Vop3と第2電圧Vin2との大小関係に基づいて、第1電圧Vin1がGNDレベルを上回る場合(正の電圧範囲)の異常を検出可能な任意の回路構成をとることができる。また、第2検出回路は、下限値としての出力電圧Vop3と第2電圧Vin2との大小関係、および上限値としての出力電圧Vop2と第2電圧Vin2との大小関係に基づいて、第1電圧Vin1がGNDレベルを下回る場合(負の電圧範囲)の異常を検出可能な任意の回路構成をとることができる。
第1検出回路および第2検出回路の具体的な変形例としては、第3実施例における第1NOR回路NOR1および第2NOR回路NOR2をOR回路に置き換えた構成が考えられる。なお、この場合は、論理集約回路としてのOR回路OR1も、AND回路またはNAND回路に置き換える必要がある。OR回路OR1をAND回路に置き換えた場合には、AND回路から出力されるGNDレベルの検出電圧Vdetが正常であることを示し、VCCレベルの検出電圧Vdetが異常であることを示す。一方で、OR回路OR1をNAND回路に置き換えた場合には、NAND回路から出力されるVCCレベルの検出電圧Vdetが正常であることを示し、GNDレベルの検出電圧Vdetが異常であることを示す。
OR回路OR1等の論理集約回路は、任意に変更することができる。論理集約回路は、第1検出回路または第2検出回路の検出結果が正常である場合に、正常であることを示す検出電圧Vdetを出力可能であればよい。
OR回路OR1等の論理集約回路は、省略することもできる。ただし、この場合は、第1電圧Vin1が0[V]を上回っているのか下回っているのかに応じて、第1検出回路および第2検出回路の出力のいずれか一方を参照する必要がある。
第1増幅回路2、第2増幅回路3および第3増幅回路4のゲインも任意に変更することができる。ただし、第2増幅回路3のゲインG2は1倍よりも小さくなくてはならず、第3増幅回路4のゲインG3は1倍よりも大きくなくてはならない。
1A,1B,1C 異常検出回路
2 第1増幅回路
3 第2増幅回路
4 第3増幅回路
5A,5B,5C 第1検出回路
6A,6B,6C 第2検出回路
OP1 オペアンプ
OP2 オペアンプ
OP3 オペアンプ
COMP1 第1比較器
COMP2 第2比較器
COMP3 第3比較器
COMP4 第4比較器
AND1 第1AND回路
AND2 第2AND回路
OR1 OR回路(論理集約回路)
NAND1 第1NAND回路
NAND2 第2NAND回路
NAND3 第3NAND回路(論理集約回路)
NOR1 第1NOR回路
NOR2 第2NOR回路
特開2001−349748号公報

Claims (4)

  1. 予め定められた第1電圧と前記第1電圧の比較対象として入力される第2電圧との電圧差における異常を検出する異常検出装置であって、
    前記第1電圧を、所定の基準レベルを基準にして反転増幅する第1増幅回路と、
    前記第1増幅回路の出力電圧を、前記基準レベルを基準にして1倍よりも小さいゲインで反転増幅する第2増幅回路と、
    前記第1増幅回路の出力電圧を、前記基準レベルを基準にして1倍よりも大きいゲインで反転増幅する第3増幅回路と、
    下限値としての前記第2増幅回路の出力電圧と前記第2電圧との大小関係、および上限値としての前記第3増幅回路の出力電圧と前記第2電圧との大小関係に基づいて、前記第1電圧が前記基準レベルを上回る場合の前記異常を検出する第1検出回路と、
    下限値としての前記第3増幅回路の出力電圧と前記第2電圧との大小関係、および上限値としての前記第2増幅回路の出力電圧と前記第2電圧との大小関係に基づいて、前記第1電圧が前記基準レベルを下回る場合の前記異常を検出する第2検出回路と、
    を備えたことを特徴とする異常検出装置。
  2. 前記第1検出回路が、負端子側に入力される前記第2増幅回路の出力電圧と正端子側に入力される前記第2電圧とを比較する第1比較器と、正端子側に入力される前記第3増幅回路の出力電圧と負端子側に入力される前記第2電圧とを比較する第2比較器と、前記第1および第2比較器の出力を論理的に取りまとめる第1AND回路または第1NAND回路とを含み、
    前記第2検出回路が、正端子側に入力される前記第2増幅回路の出力電圧と負端子側に入力される前記第2電圧とを比較する第3比較器と、負端子側に入力される前記第3増幅回路の出力電圧と正端子側に入力される前記第2電圧とを比較する第4比較器と、前記第3および第4比較器の出力を論理的に取りまとめる第2AND回路または第2NAND回路とを含む
    ことを特徴とする請求項1に記載の異常検出装置。
  3. 前記第1検出回路が、正端子側に入力される前記第2増幅回路の出力電圧と負端子側に入力される前記第2電圧とを比較する第1比較器と、負端子側に入力される前記第3増幅回路の出力電圧と正端子側に入力される前記第2電圧とを比較する第2比較器と、前記第1および第2比較器の出力を論理的に取りまとめる第1OR回路または第1NOR回路とを含み、
    前記第2検出回路が、負端子側に入力される前記第2増幅回路の出力電圧と正端子側に入力される前記第2電圧とを比較する第3比較器と、正端子側に入力される前記第3増幅回路の出力電圧と負端子側に入力される前記第2電圧とを比較する第4比較器と、前記第3および第4比較器の出力を論理的に取りまとめる第2OR回路または第2NOR回路とを含む
    ことを特徴とする請求項1に記載の異常検出装置。
  4. 前記第1および第2検出回路の出力を論理的に取りまとめる論理集約回路をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の異常検出装置。
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