JP2017070711A - 接触力に基づいてカテーテルの電力を制御するためのシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
(1) カテーテル法システムであって、
電極と、前記電極に印加されている接触力を検出するように構成されているセンサアセンブリとを備えるカテーテルと、
前記カテーテルに結合されている制御部と、を備え、前記制御部は、プロセッサと、前記プロセッサにより実行されると、
前記カテーテルの前記センサアセンブリから、検出された接触力を前記プロセッサに受信させ、
前記検出された接触力が第1閾値接触力未満である場合に、非活性化電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される電力を前記プロセッサに制御させ、
前記検出された接触力が前記第1閾値接触力より大きい場合、第1電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させ、かつ、
前記検出された接触力が限界接触力(cutoff contact force)より大きい場合、非活性化電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させる、指示を格納するメモリと、を備え、前記限界接触力が前記第1閾値接触力より大きい、カテーテル法システム。
(2) 前記プロセッサにより実行されると、
前記検出された接触力が第2閾値接触力よりも大きい場合、第2電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させる、指示を、前記メモリが更に格納し、前記第2閾値接触力が前記第1閾値接触力よりも大きく、かつ前記限界接触力よりも小さい、実施態様1に記載のカテーテル法システム。
(3) 前記プロセッサにより実行されると、
前記検出された接触力が前記第1閾値接触力より小さく、かつ前記検出された接触力がそれ以前は前記第1閾値接触力より大きかった場合、第0電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させる、指示を、前記メモリが更に格納し、前記第0電力レベルが前記第1電力レベルより大きい、実施態様1に記載のカテーテル法システム。
(4) 前記プロセッサにより実行されると、
電力制御曲線にしたがって、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させる、指示を、前記メモリが更に格納し、前記電力制御曲線が区分的連続関数である、実施態様1に記載のカテーテル法システム。
(5) 前記プロセッサにより実行されると、
前記接触力が上昇している場合、前記電極に供給される前記電力を第1曲線に沿って前記プロセッサに制御させ、かつ、
前記接触力が下降している場合、前記電極に供給される前記電力を、前記第1曲線とは異なる第2曲線に沿って前記プロセッサに制御させる、指示を、前記メモリが更に格納する、実施態様4に記載のカテーテル法システム。
(7) 前記検出された接触力が、前記センサアセンブリからの複数の接触力データに基づいて算出された平滑化された接触力を含む、実施態様1に記載のカテーテル法システム。
(8) 前記プロセッサにより実行されると、
前記センサアセンブリからの前記複数の接触力データの平均値を算出することにより前記平滑化された接触力を前記プロセッサに算出させる、指示を、前記メモリが更に格納する、実施態様7に記載のカテーテル法システム。
(9) 前記プロセッサにより実行されると、
カルマンフィルターを前記センサアセンブリからの前記複数の接触力データに適用することにより前記平滑化された接触力を前記プロセッサに算出させる、指示を、前記メモリが更に格納する、実施態様7に記載のカテーテル法システム。
(10) 前記プロセッサにより実行されると、
ユーザーパラメータを前記プロセッサに受信させ、かつ、
前記ユーザーパラメータにしたがって、前記第1閾値接触力、前記第1電力レベル、及び前記限界接触力のうちの少なくとも1つを前記プロセッサに調整させる、指示を、前記メモリが更に格納する、実施態様1に記載のカテーテル法システム。
前記電極に印加される接触力を検出するように構成されている前記カテーテルのセンサアセンブリから、検出された接触力を、プロセッサとメモリとを備える制御部によって、受信することと、
前記検出された接触力が第1閾値接触力より小さい場合、非活性化電力レベルを有するように、前記カテーテルの電極に供給される電力を前記制御部により制御することと、
前記検出された接触力が前記第1閾値接触力より大きい場合、第1電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記制御部により制御することと、
前記検出された接触力が限界接触力より大きい場合、非活性化電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記制御部により制御することと、を含み、前記限界接触力が前記第1閾値接触力より大きい、方法。
(12) 前記検出された接触力が第2閾値接触力より大きい場合、第2電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を制御することを更に含み、前記第2閾値接触力が前記第1閾値接触力よりも大きく、かつ前記限界接触力よりも小さい、実施態様11に記載の方法。
(13) 前記検出された接触力が前記第1閾値接触力より小さく、かつ前記検出された接触力がそれ以前は前記第1閾値接触力より大きかった場合、第0電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を制御することを更に含み、前記第0電力レベルが前記第1電力レベルより大きい、実施態様11に記載の方法。
(14) 電力制御曲線にしたがって、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を制御することを更に含み、前記電力制御曲線が区分的連続関数である、実施態様11に記載の方法。
(15) 前記接触力が上昇している場合、前記電極に供給される前記電力を第1曲線に沿って制御することと、
前記接触力が下降している場合、前記電極に供給される前記電力を、前記第1曲線とは異なる第2曲線に沿って制御することと、を更に含む、実施態様14に記載の方法。
(17) 前記検出された接触力が、前記センサアセンブリからの複数の接触力データに基づいて算出された平滑化された接触力を含む、実施態様11に記載の方法。
(18) 前記センサアセンブリからの前記複数の接触力データの平均値を算出することにより、前記平滑化された接触力を算出することを更に含む、実施態様17に記載の方法。
(19) カルマンフィルターを前記センサアセンブリからの前記複数の接触力データに適用することにより前記平滑化された接触力を算出することを更に含む、実施態様17に記載の方法。
(20) ユーザーパラメータを受信することと、
前記ユーザーパラメータにしたがって、前記第1閾値接触力、前記第1電力レベル、及び前記限界接触力のうちの少なくとも1つを調整することと、を更に含む、実施態様11に記載の方法。
Claims (20)
- カテーテル法システムであって、
電極と、前記電極に印加されている接触力を検出するように構成されているセンサアセンブリとを備えるカテーテルと、
前記カテーテルに結合されている制御部と、を備え、前記制御部は、プロセッサと、前記プロセッサにより実行されると、
前記カテーテルの前記センサアセンブリから、検出された接触力を前記プロセッサに受信させ、
前記検出された接触力が第1閾値接触力未満である場合に、非活性化電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される電力を前記プロセッサに制御させ、
前記検出された接触力が前記第1閾値接触力より大きい場合、第1電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させ、かつ、
前記検出された接触力が限界接触力より大きい場合、非活性化電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させる、指示を格納するメモリと、を備え、前記限界接触力が前記第1閾値接触力より大きい、カテーテル法システム。 - 前記プロセッサにより実行されると、
前記検出された接触力が第2閾値接触力よりも大きい場合、第2電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させる、指示を、前記メモリが更に格納し、前記第2閾値接触力が前記第1閾値接触力よりも大きく、かつ前記限界接触力よりも小さい、請求項1に記載のカテーテル法システム。 - 前記プロセッサにより実行されると、
前記検出された接触力が前記第1閾値接触力より小さく、かつ前記検出された接触力がそれ以前は前記第1閾値接触力より大きかった場合、第0電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させる、指示を、前記メモリが更に格納し、前記第0電力レベルが前記第1電力レベルより大きい、請求項1に記載のカテーテル法システム。 - 前記プロセッサにより実行されると、
電力制御曲線にしたがって、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記プロセッサに制御させる、指示を、前記メモリが更に格納し、前記電力制御曲線が区分的連続関数である、請求項1に記載のカテーテル法システム。 - 前記プロセッサにより実行されると、
前記接触力が上昇している場合、前記電極に供給される前記電力を第1曲線に沿って前記プロセッサに制御させ、かつ、
前記接触力が下降している場合、前記電極に供給される前記電力を、前記第1曲線とは異なる第2曲線に沿って前記プロセッサに制御させる、指示を、前記メモリが更に格納する、請求項4に記載のカテーテル法システム。 - 前記第1閾値接触力がノイズ閾値に対応する、請求項1に記載のカテーテル法システム。
- 前記検出された接触力が、前記センサアセンブリからの複数の接触力データに基づいて算出された平滑化された接触力を含む、請求項1に記載のカテーテル法システム。
- 前記プロセッサにより実行されると、
前記センサアセンブリからの前記複数の接触力データの平均値を算出することにより前記平滑化された接触力を前記プロセッサに算出させる、指示を、前記メモリが更に格納する、請求項7に記載のカテーテル法システム。 - 前記プロセッサにより実行されると、
カルマンフィルターを前記センサアセンブリからの前記複数の接触力データに適用することにより前記平滑化された接触力を前記プロセッサに算出させる、指示を、前記メモリが更に格納する、請求項7に記載のカテーテル法システム。 - 前記プロセッサにより実行されると、
ユーザーパラメータを前記プロセッサに受信させ、かつ、
前記ユーザーパラメータにしたがって、前記第1閾値接触力、前記第1電力レベル、及び前記限界接触力のうちの少なくとも1つを前記プロセッサに調整させる、指示を、前記メモリが更に格納する、請求項1に記載のカテーテル法システム。 - カテーテルに印加される焼灼電力を制御するための方法であって、
前記電極に印加される接触力を検出するように構成されている前記カテーテルのセンサアセンブリから、検出された接触力を、プロセッサとメモリとを備える制御部によって、受信することと、
前記検出された接触力が第1閾値接触力より小さい場合、非活性化電力レベルを有するように、前記カテーテルの電極に供給される電力を前記制御部により制御することと、
前記検出された接触力が前記第1閾値接触力より大きい場合、第1電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記制御部により制御することと、
前記検出された接触力が限界接触力より大きい場合、非活性化電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を前記制御部により制御することと、を含み、前記限界接触力が前記第1閾値接触力より大きい、方法。 - 前記検出された接触力が第2閾値接触力より大きい場合、第2電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を制御することを更に含み、前記第2閾値接触力が前記第1閾値接触力よりも大きく、かつ前記限界接触力よりも小さい、請求項11に記載の方法。
- 前記検出された接触力が前記第1閾値接触力より小さく、かつ前記検出された接触力がそれ以前は前記第1閾値接触力より大きかった場合、第0電力レベルを有するように、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を制御することを更に含み、前記第0電力レベルが前記第1電力レベルより大きい、請求項11に記載の方法。
- 電力制御曲線にしたがって、前記カテーテルの前記電極に供給される前記電力を制御することを更に含み、前記電力制御曲線が区分的連続関数である、請求項11に記載の方法。
- 前記接触力が上昇している場合、前記電極に供給される前記電力を第1曲線に沿って制御することと、
前記接触力が下降している場合、前記電極に供給される前記電力を、前記第1曲線とは異なる第2曲線に沿って制御することと、を更に含む、請求項14に記載の方法。 - 前記第1閾値接触力がノイズ閾値に対応している、請求項11に記載の方法。
- 前記検出された接触力が、前記センサアセンブリからの複数の接触力データに基づいて算出された平滑化された接触力を含む、請求項11に記載の方法。
- 前記センサアセンブリからの前記複数の接触力データの平均値を算出することにより、前記平滑化された接触力を算出することを更に含む、請求項17に記載の方法。
- カルマンフィルターを前記センサアセンブリからの前記複数の接触力データに適用することにより前記平滑化された接触力を算出することを更に含む、請求項17に記載の方法。
- ユーザーパラメータを受信することと、
前記ユーザーパラメータにしたがって、前記第1閾値接触力、前記第1電力レベル、及び前記限界接触力のうちの少なくとも1つを調整することと、を更に含む、請求項11に記載の方法。
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