JP2017067628A - ゲージ検査機 - Google Patents
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Abstract
Description
ダイヤルゲージの製造業者は、製品であるダイヤルゲージがISO463やJISB7503に規定された規格値を満足しているかどうかを検査しなければならない。ダイヤルゲージの検査にあたっては、指示精度や測定力、繰返し精密度を検査する必要がある。
既に知られているゲージ検査機の概要を簡単に説明しておく。
ゲージ検査機の外観を図8に示し、ゲージ検査機の内部構造を図9に示す。
ゲージ検査機100は、ダイヤルゲージ10を固定的に保持するためのブラケット部110を有する。ブラケット部110は、ダイヤルゲージ10のステムを挟み込むことでダイヤルゲージ10を固定的に保持する。ダイヤルゲージ10にもいろいろなサイズがあるので、ブラケット部110は高さ位置を変えられるように昇降自在に設けられている。すなわち、ガイドレール121を有するバックボード120が筐体130の上に立設されており、ブラケット部110はこのガイドレール121に沿って昇降自在であるとともに、ハンドル111の操作でその位置が固定されるようになっている。
図9の内部構造に示すように、筐体130の内部には、モータ131とボールネジ132とが内蔵されており、ボールネジ132がモータ131の動力によって上下方向に進退する。具体的には、ボールネジ132を回り止めしておき、ナット133をモータ動力で回転させる。これにより、ボールネジ132が進退する。
ボールネジ132の進退量は、エンコーダ134によって精密に検出できるようになっている。
エンコーダ134のスケール134Aがボールネジ132に平行に配設され、検出ヘッド134Bがボールネジ132に固定されている。なお、測定スピンドル140の上端には、フラット測定子141を螺入できるようになっている。
ここで図10を参照されたい。
ダイヤルゲージ10が示す測定値が真の値からどれほどずれているかを検査したいとする。
ゲージ検査機100は、測定スピンドル140を20mmに少し足りないぐらいまで自動的に上昇させる。
そこからは検査者が測定スピンドル140をマニュアル操作で上昇させ、指針13が20mmを指すところまで測定スピンドルを移動させる。測定スピンドル140の微調整は、操作部150のスイッチ151やジョグダイヤル152でできるようになっている。このときの測定スピンドル140の位置をエンコーダ134で測定する。
エンコーダ134の測定値をパソコン160に取り込んで記録する。
これらの改訂により次の点が追加された。
"製造業者によって指定されない場合の計測特性は、測定範囲内のいかなる位置、いかなる姿勢でもMPE及びMPLの値を満たさなければならない"。
ダイヤルゲージの最大許容誤差(MPE)は、指示値に対して許容する指示誤差の最大値である。
許容限界(MPL)は、測定力に対して仕様で許容する測定力の限界値である。
したがって、ユーザから特別な要望があった場合などには、通常姿勢(測定子下向き)以外でも検査する必要がでてくる。
例えば、ダイヤルゲージ10を横向きで使用する場合を想定して、横姿勢での計測特性を検査する必要がある。
図11に示すように、ゲージ検査機100を横に倒せるようにするためのT字脚180を用意する。
そして、ゲージ検査機100にダイヤルゲージ10をセットして左に倒すと、図12のようになる。
この状態は、ダイヤルゲージ10の測定子16が右向きであって、文字盤12は手前向きになっている。
この状態を、「測定子右向き(ただし文字盤12は手前向き)」と表現する。
単純に「測定子右向き(ただし文字盤12は奥側向き)」の姿勢を実現しようとすると、図14のようにダイヤルゲージ10をゲージ検査機100にセットすることになる。
つまり、ゲージ検査機100を向かって左に倒し、ダイヤルゲージ10の文字盤12を奥側に向けるようにする。
ところが、これではダイヤルゲージ10の文字盤12がゲージ検査機100のバックボード120に隠れて見えない。
ブラケット部110を一旦緩めてからダイヤルゲージ10をセットし直すという作業は案外面倒な作業であり、検査者としては手間の多さを感じやすい。例えば次のような手順が必要になる。
一旦、ゲージ検査機100の測定スピンドル140を下げてダイヤルゲージ10から退避させ、それから、ブラケット部110を緩めてダイヤルゲージ10を外す。ダイヤルゲージ10の向きを変えて再度ブラケット部110にダイヤルゲージ10をセットし、測定スピンドル140をダイヤルゲージ10の測定子16にアプローチしていく。
このような一連の作業をダイヤルゲージ10の姿勢変更の度に行うとすれば、手間が多く、検査効率が上がらない。
昇降自在に設けられた測定スピンドルを所定位置に変位させ、そのときのゲージの表示値に基づいて前記ゲージの精度を検査するゲージ検査機であって、
土台部と、この土台部に回転可能に設けられた回転部と、を有する回転台部と、
前記回転部に連結され、回転部とともに回転可能な本体部と、を備え、
前記本体部は、
前記ゲージを保持するゲージ支持部と、
内部に前記測定スピンドルを駆動する内部機構を収納する筐体部と、を備え、
当該ゲージ検査機を横姿勢にしたとき、前記ゲージ支持部にて前記ゲージを支持したままで前記本体部が回転可能となっている
ことを特徴とする。
前記筐体部は、円筒形である
ことが好ましい。
当該ゲージ検査機が横姿勢になったときに前記本体部の側面を回転可能に支える補助台部を有する
ことが好ましい。
前記補助台部は、
前記本体部の側面に外嵌する回転リング部と、
前記回転リング部を回転可能に支持する軸受脚部と、を有する
ことが好ましい。
当該ゲージ検査機が立姿勢のとき、前記回転リング部が前記本体部の側面を摺動し、前記補助台部が下に下がる
ことが好ましい。
(第1実施形態)
図1は、本実施形態に係るゲージ検査機200の外観斜視図である。
図2は、ゲージ検査機の構造を説明するために、本体部210と回転台部250とを分離させた分解図である。
ゲージ検査機200は、本体部210と、回転台部250と、補助台部270と、を備える。
筐体部220は、円筒形の側壁部221と、上端を閉塞する上蓋部224と、を有する。筐体部220の内部には、モータやボールネジが内蔵されている。この内部機構については、従来(図9)と基本的に同じであり、詳細は割愛する。
上蓋部224に設けられた小さな孔から測定スピンドル225が突き出るようになっている。ゲージ支持部230は、コラム231と、ブラケット部232と、を有する。
コラム231が上蓋部224に立設されており、ブラケット部232はコラム231に沿って移動可能に設けられている。
土台部251は、高さが低い錐台であるが、側面を垂直に切断したような平面部252を有する。
図2においては、向かって左側の側面に平面部252を有する。
平面部252には、球状のスタンド253が設けられている。図2では、一つの平面部252に距離を離して3つのスタンド253が設けられている。
「測定子下向き」でダイヤルゲージ10を検査する方法は従来(図8、図10)と基本的に同じであり、重複説明は割愛する。
横姿勢のときのダイヤルゲージ10を検査するにあたっては、次のようにする。
測定子下向きでダイヤルゲージ10を検査した後、補助台部270を筐体部220に取りつける。すなわち、補助台部270の回転リング部271を筐体部220の側面に外嵌する(図2参照)。そして、ゲージ検査機200ごと横に倒す。すると、図3のように、スタンド253、274によってゲージ検査機200は横向きで載置面に載置される。
図3の状態は、測定子16が右向きで、文字盤12が手前向きになっている。
この状態で測定スピンドル225を左右に進退させてダイヤルゲージ10の計測特性を検査する。
本体部210を45°回転させると、図4のようにダイヤルゲージ10の文字盤12が斜め45°を向く。さらに本体部210を45°回転させると、図5のようにダイヤルゲージ10の文字盤12が上を向く。
さらに本体部210を回転させると、文字盤12が奥側を向く(この状態の図示は省略した)。
文字盤12が奥側を向く姿勢であっても、本体部210ごと回転させるのでダイヤルゲージ10の文字盤12がゲージ検査機自体に隠れてしまうことがない。
このようにして、ダイヤルゲージ10を任意の姿勢にしてその計測特性を検査することができる。
(1)ダイヤルゲージ10の姿勢を変更する場合、ダイヤルゲージ10をセットしたままで本体部210を回転させるだけでよい。したがって非常に簡便である。
ダイヤルゲージ10をゲージ検査機200に着脱する作業は案外手間がかかる。測定スピンドル225を下げたり、ブラケット部232を緩めたり締めたり、測定スピンドル225を再アプローチしたりといった操作が必要になる。
このような煩雑な作業に比べ、本実施形態ではダイヤルゲージ10を逐一取り外す必要はなく、ただ本体部210ごと回転させるだけでよい。これはオペレータにとって画期的な利便性を提供する。
この点、本実施形態では本体部210ごと回転するので、ダイヤルゲージ10の文字盤12がゲージ検査機自体に隠れてしまうことがない。
本体部210が仮に直方体であったとしても回転台部250の回転部255に取り付ければ回転させることはできる。しかしながら、横姿勢で回転させることを考慮すると、回転時に本体部210が載置面に当たらないようにしなければならない。本体部210が直方体のままでは、土台部251や補助台部270を大きくしたり、あるいは、スタンド253、274をかなり高くしたりしなければならない。
この点、横姿勢で本体部210を回転させることを考慮したとき、本体部210を円筒形にするのは最も好適である。
第1実施形態では、ゲージ検査機200を横倒しにする際に、補助台部270を本体部210に取り付けるとした。
この点、補助台部270が常に本体部210の側面に取り付いたままになっていてもよい。
立姿勢でゲージ検査機200を使用するときでも補助台部270は大きな邪魔にはならない。
第1実施形態においては、補助台部270は回転リング部271を有するとした。
この点、軸受脚部272と本体部210の側面との間に滑りがあれば、回転リング部271はなくてもよい。
さらには、軸受脚部272は、本体部210の周囲に外嵌せず、図7に例示するように、略半円の凹部275で本体部210を支持してもよい。
回転台部250の回転部255の角度を固定する角度固定手段を設けてもよい。
たとえば、土台部251の側面からネジを螺入し、ネジの先端を回転部255の側面に接離させるようにしてもよい。
あるいは、回転部255と土台部251との一方に突起を設け、他方にノッチを設けてもよい。ノッチを等角度間隔で設けておき、突起がノッチに係脱することで回転部255の角度決めができるようにしておくとよい。
スピンドル式のダイヤルゲージのみならず、てこ式のダイヤルゲージの検査にも本発明は有用である。
さらに、検査対象となるゲージとしては、歯車式で文字盤表示するいわゆるダイヤルゲージのみならず、デジタル式のダイヤルゲージであってもよい。
15…スピンドル、16…測定子、
100…ゲージ検査機、110…ブラケット部、111…ハンドル、120…バックボード、121…ガイドレール、130…筐体、131…モータ、132…ボールネジ、133…ナット、134…エンコーダ、
140…測定スピンドル、141…フラット測定子、
150…操作部、151…スイッチ、152…ジョグダイヤル、
160…パソコン、180…T字脚、
200…ゲージ検査機、
210…本体部、
220…筐体部、221…側壁部、224…上蓋部、
225…測定スピンドル、
230…ゲージ支持部、231…コラム、232…ブラケット部、233…アーム部、234…座部、
250…回転台部、251…土台部、252…平面部、253…スタンド、255…回転部、
270…補助台部、271…回転リング部、272…軸受脚部、273…平坦面、274…スタンド、
275…凹部。
Claims (5)
- 昇降自在に設けられた測定スピンドルを所定位置に変位させ、そのときのゲージの表示値に基づいて前記ゲージの精度を検査するゲージ検査機であって、
土台部と、この土台部に回転可能に設けられた回転部と、を有する回転台部と、
前記回転部に連結され、回転部とともに回転可能な本体部と、を備え、
前記本体部は、
前記ゲージを保持するゲージ支持部と、
内部に前記測定スピンドルを駆動する内部機構を収納する筐体部と、を備え、
当該ゲージ検査機を横姿勢にしたとき、前記ゲージ支持部にて前記ゲージを支持したままで前記本体部が回転可能となっている
ことを特徴とするゲージ検査機。 - 請求項1に記載のゲージ検査機において、
前記筐体部は、円筒形である
ことを特徴とするゲージ検査機。 - 請求項1または請求項2に記載のゲージ検査機において、
当該ゲージ検査機が横姿勢になったときに前記本体部の側面を回転可能に支える補助台部を有する
ことを特徴とするゲージ検査機。 - 請求項3に記載のゲージ検査機において、
前記補助台部は、
前記本体部の側面に外嵌する回転リング部と、
前記回転リング部を回転可能に支持する軸受脚部と、を有する
ことを特徴とするゲージ検査機。 - 請求項4に記載のゲージ検査機において、
当該ゲージ検査機が立姿勢のとき、前記回転リング部が前記本体部の側面を摺動し、前記補助台部が下に下がる
ことを特徴とするゲージ検査機。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT201800010524A1 (it) * | 2018-11-22 | 2020-05-22 | Giuseppe Gibin | Apparato e metodo per la determinazione dell'errore sistematico strumentale di un comparatore o di un tastatore |
CN111623738A (zh) * | 2019-02-28 | 2020-09-04 | 株式会社三丰 | 计量器检查夹具及计量器检查机 |
DE102023136421A1 (de) | 2022-12-22 | 2024-06-27 | Mitutoyo Corporation | Prüfverfahren, prüfvorrichtung und prüfprogramm für eine scheibenförmige massteilungsplatte |
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US4283857A (en) * | 1979-08-17 | 1981-08-18 | Graham Erwin W | Spindle-height gage and method of calibration |
JP2015152581A (ja) * | 2014-02-19 | 2015-08-24 | 株式会社ミツトヨ | ゲージ検査機、ゲージ検査方法およびゲージをゲージの検査機にセットするための治具 |
-
2015
- 2015-09-30 JP JP2015193939A patent/JP6537950B2/ja active Active
Patent Citations (2)
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DE102023136421A1 (de) | 2022-12-22 | 2024-06-27 | Mitutoyo Corporation | Prüfverfahren, prüfvorrichtung und prüfprogramm für eine scheibenförmige massteilungsplatte |
DE102023136425A1 (de) | 2022-12-22 | 2024-06-27 | Mitutoyo Corporation | Prüfverfahren, prüfvorrichtung und prüfprogramm für eine scheibenförmige massteilungsplatte |
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JP6537950B2 (ja) | 2019-07-03 |
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