JP2017054806A - コンタクト装置システム - Google Patents

コンタクト装置システム Download PDF

Info

Publication number
JP2017054806A
JP2017054806A JP2016161358A JP2016161358A JP2017054806A JP 2017054806 A JP2017054806 A JP 2017054806A JP 2016161358 A JP2016161358 A JP 2016161358A JP 2016161358 A JP2016161358 A JP 2016161358A JP 2017054806 A JP2017054806 A JP 2017054806A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
region
pressing device
device system
support
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016161358A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6469620B2 (ja
Inventor
グートマン ヨハネス
Gutmann Johannes
グートマン ヨハネス
カウフマン ティモ
Kaufmann Timo
カウフマン ティモ
ヘーベアレ クラウス
Klaus Heberle
ヘーベアレ クラウス
クンツェ ミーケ
Kunze Mike
クンツェ ミーケ
フェーガー ティル
Feger Till
フェーガー ティル
ザメル ゲオルク
Sammel Georg
ザメル ゲオルク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Micronas GmbH
Original Assignee
TDK Micronas GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Micronas GmbH filed Critical TDK Micronas GmbH
Publication of JP2017054806A publication Critical patent/JP2017054806A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6469620B2 publication Critical patent/JP6469620B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/71Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
    • H01R12/712Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit
    • H01R12/714Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit with contacts abutting directly the printed circuit; Button contacts therefore provided on the printed circuit
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/71Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
    • H01R12/72Coupling devices for rigid printing circuits or like structures coupling with the edge of the rigid printed circuits or like structures
    • H01R12/73Coupling devices for rigid printing circuits or like structures coupling with the edge of the rigid printed circuits or like structures connecting to other rigid printed circuits or like structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/62Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
    • H01R13/621Bolt, set screw or screw clamp
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/82Coupling devices connected with low or zero insertion force
    • H01R12/85Coupling devices connected with low or zero insertion force contact pressure producing means, contacts activated after insertion of printed circuits or like structures

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

【課題】プレート状の支持体及び押圧装置を備えているコンタクト装置システムが提供される。【解決手段】支持体20は、上面に少なくとも5個の収容領域及び少なくとも5個のコンタクト領域ペアを有しており、コンタクト領域ペアは、導体路セクションを用いて、評価回路に電気的に作用接続される、第1の導電性コンタクト領域30、及び第2の導電性コンタクト領域を含んでおり、収容領域は、パッケージングされた電子コンポーネント40をそれぞれ1つずつ収容し、電子コンポーネント40の、第1の端子コンタクト42、及び第2の端子コンタクトは、それぞれ第1のコンタクト領域30、及び第2のコンタクト領域に配置され、押圧装置27を用いて各コンポーネントの端子コンタクトは下方に押し付けられ、第1の端子コンタクト42、及び第2の端子コンタクトは、それぞれ第1のコンタクト領域30、及び第2のコンタクト領域と電気的に接続される。【選択図】図1a

Description

本発明は、コンタクト装置システムに関する。
コンタクト装置システムは、DE 11 2010 004 846 T5、US 5 528 466及び特開2004−85424号公報から公知である。
更に、米国特許出願公開第2009/0302876号明細書には、複数の電子コンポーネント、特に複数のICをテストするためのコンタクト装置が開示されており、このコンタクト装置は、支持体上に配置されており、且つ、テストすべき各コンポーネントに対してそれぞれ1つずつ設けられている複数のコンタクトユニットと、押圧装置と、を有している。電気的な作用接続は、コンタクト端子、いわゆるピンがコンタクト装置のコンタクト面に載置されることによって達成される。その際、コンポーネントは支持体から距離を置いている。押圧装置を用いることによって、コンポーネントはそれぞれ支持体に押し付けられ、ストローク量に応じて、コンポーネントとコンタクトユニットとの間のコンタクト領域の位置及び大きさが変化する。コンタクトピンの可塑性及び押圧装置によって加えられる力に応じて、コンタクトピンは多かれ少なかれ歪む。
この背景のもとでの本発明の課題は、従来技術を発展させた装置を提供することである。
この課題は、請求項1の特徴を備えているコンタクト装置システムによって解決される。本発明の有利な構成は従属請求項に記載されている。
本発明の対象によれば、プレート状の支持体及び押圧装置を備えている、コンタクト装置システムが提供される。このコンタクト装置システムにおいて、支持体は、下面及び上面を有しており、押圧装置は、下面及び上面を有しており、押圧装置の下面には、少なくとも5個の収容領域が配置されており、支持体の上面には、少なくとも5個の収容領域及び少なくとも5個のコンタクト領域ペアが配置されており、コンタクト領域ペアは、それぞれ、第1の導電性コンタクト領域及び第2の導電性コンタクト領域を含んでおり、第1のコンタクト領域はそれぞれ第2のコンタクト領域から距離を置いており、且つ、第1のコンタクト領域及び第2のコンタクト領域は相互に電気的に絶縁されており、第1のコンタクト領域及び第2のコンタクト領域は、それぞれ、導体路セクションを用いて、評価回路に電気的に作用接続されており、複数の電子コンポーネントは、少なくとも2つの端子コンタクトを有しており、パッケージングされた電子コンポーネントの収容後に、各コンポーネントは、収容領域のうちの1つにおいて支持体の上面に配置されており、第1の端子コンタクトは、第1のコンタクト領域に配置されており、第2の端子コンタクトは、第2のコンタクト領域に配置されており、押圧装置を用いて各コンポーネントは下方に押し付けられており、第1の端子コンタクトは第1のコンタクト領域と電気的に接続されており、第2の端子コンタクトは第2のコンタクト領域と電気的に接続されている。
有利には、各コンタクト領域が導体路セクションを用いて評価回路に接続される、つまり電気的な作用接続が導体路セクションによって生じることを言及しておく。
電子コンポーネントはパッケージングされた形態で設けられていると解される。有利には、電子コンポーネントには、集積回路及び/又は受動的な電子コンポーネント、例えばセンサが含まれる。また、電子コンポーネントのパッケージは半導体パッケージと称される。更に、パッケージングされた電子コンポーネントには集積回路も含まれると解され、この際、集積回路は有利にはモノリシックに1つの半導体ボディに形成されており、また有利には、複数のセンサ、特にホールセンサも含んでいる。
コンタクト装置システムは、有利には、測定システムの一部として形成されており、評価回路は測定システム内に形成されていることを言及しておく。コンタクト装置システムと測定システムとの間に電気的な作用接続を生じさせるために、プラグ又はコンタクト条片を支持体に形成することができる。導電性領域は、金属又は金属製の接続部から形成されていると解される。
押圧装置は有利には、端子コンタクトに直接的に押し付けられることを言及しておく。端子コンタクトは、下方に押し付けられた後に、確実にコンタクト領域に接続されている。
本発明による装置の利点は、パッケージングされた電子コンポーネント、例えばICを簡単に、コストを掛けることなく確実に測定できることである。特に、電子コンポーネントは、収容領域に固定されている。押圧装置を用いることによって、電子コンポーネントの端子コンタクトをコンタクト領域に力結合によって載置させ、電圧及び/又は電流を印加することができる。これによって、簡単且つ確実に、電子コンポーネントの機能検査を実施することができる。
更なる利点は、押圧装置を用いて、コンポーネントのピンを、特にICのピンを、コンタクト部材のコンタクトセクションに直接的に押し付けることができる。つまり、ピンに沿った梃作用は生じない。換言すれば、長手方向に沿ったピンの非弾性の変形は回避される。
更なる利点は、接触接続及び測定の際に、はんだ付けプロセスとは異なり、又は、アダプタへの嵌め込みの場合とは異なり、電子コンポーネントには機械的に僅かな負荷しか掛けられないので、電子コンポーネントは変形しないということである。
有利には、収容領域がポケットとして形成されている。ポケットの大きさは、電子コンポーネントのパッケージが形状結合によってポケットに収容されるように設計されている。ポケットを、各角に孔が設けられている、矩形の凹部として表すことができる。多数のポケット、即ち、複数のポケットが相互に並んで配置されている場合、若しくは相互に連なっている場合には、その配置構成は、分離境界部によって複数のセクションに分割されている1つの長い溝に相当する。
更なる利点は、接触接続及び測定の際に、はんだ付けプロセスとは異なり、又は、アダプタへの嵌め込みの場合とは異なり、電子コンポーネントには機械的に僅かな負荷しか掛けられないということである。押圧装置及び支持体は、可逆的に容易に変形可能な、少なくとも2つの部品から成る装置である。
1つの実施形態においては、その端子コンタクトがパッケージに配置されているか、直接的にパッケージに配置されている電子コンポーネントを確実に接触接続させるために、コンタクト領域が収容領域内に形成されている。特に、SOICパッケージ乃至SMDパッケージの形態では、電子コンポーネントのコンタクトがパッケージに直接形成されている。基本的に、端子コンタクトの一部又は全ての端子コンタクトは、パッケージの外面に、有利には下面に直接形成されている。
1つの代替的な実施形態においては、電子コンポーネントを収容して、確実に接触接続させるために、コンタクト領域がパッケージの収容領域から距離を置いて形成されており、また端子コンタクトがリード状の端子ラグを形成している。
1つの発展形態においては、支持体が上面において溝状の凹部を有しており、収容領域の一部が凹部に形成されている、及び/又は、つまり付加的に又は択一的に、押圧装置が下面において溝状の凹部を有している。
1つの発展形態においては、支持体の下面は凹部の領域において閉じられており、有利には、1つの別の発展形態において、支持体が回路基板として形成されている。
表面の凹部が、複数の電子コンポーネントを収容するための長い溝として、又は溝状の凹部として形成されている場合には、簡単に、複数の電子コンポーネントを溝内に相互に並べて配置することができる。
1つの別の発展形態においては、支持体及び/又は押圧装置が、相互に距離を置いている、複数の長い溝状の凹部を有している。凹部が相互に連なっている複数のポケットを有している場合には非常に有利である。特に、溝状の凹部に等間隔で設けられている分離境界部が、凹部の底部領域から突出しており、また、直接的に隣り合っている2つの分離境界部間の中間空間が、測定すべきIC乃至電子コンポーネントのパッケージ寸法に対応している。分離境界部がプレート状又はロッド状に形成されている場合には特に有利である。
1つの別の実施形態においては、複数のコンタクト領域が収容領域に沿って配置されている。これによって溝内に並んで配置されている複数の電子コンポーネントの接触接続を同時に行うことができる。この場合、特に、押圧装置が帯状に形成されている場合には有利である。
1つの発展形態においては、押圧装置が回路基板として形成されており、且つ、帯状の弾性領域を有しており、この帯状の弾性領域の長さは、収容領域の長さに実質的に対応している。利点として、弾性材料の弾性特性を用いることによって、電子コンポーネントの種々のコンタクト間の高さ公差を補償調整できること、及び/又は、端子コンタクトがコンタクト領域に緩やかに押し付けられることが挙げられる。このために、弾性領域は、その弾性領域によって端子コンタクトがコンタクト領域に押し付けられるように配置されている。これによって確実な電気的な接触接続も、コンタクト領域の寿命の延長も達成できることが実験によって証明された。
1つの別の実施形態においては、押圧装置及び支持体がそれぞれ少なくとも2つの位置合わせ目印を有している。利点として、この位置合わせ目印に基づき、押圧装置及び支持体を相互に簡単に位置合わせできることが挙げられる。1つの別の実施形態においては、押圧装置及び支持体が固定手段、例えば、ねじ又はバヨネット式接続部と相互に結合されている。
1つの発展形態においては、凹部が2mmと40cmとの間の長さ、及び/又は、2mmと2cmとの間の幅を有している。有利には、凹部の深さは0.05mmと3mmとの間である。
有利には、支持体が複数の導体路平面を有しており、導体路を用いて複数のコンタクト領域の配線を実施することができる。更に有利には、導体路はコンタクト領域と結線されており、それによって信号が評価回路からコンタクト領域へと伝送される。有利には、導体路が複数の層で支持体上に配置されている。
1つの別の実施形態においては、押圧装置の上面に複数の収容領域が設けられている。有利には、その種の収容領域は、押圧装置の幅全体にわたって延在している。更に有利には、押圧装置が収容領域において、又はその収容領域から距離を置いて、同様にコンタクト領域ペアを含んでいるか、又は、付加的に導電性のコンタクト面を含んでおり、それによって、コンタクト面を用いて端子コンタクトとの電気的なコンタクトを確立することができる。
1つの発展形態においては、押圧装置が1つ又は複数の金属平面を含んでいる。これによって、配線を押し付け装置内でも実施することができる。個々の金属領域はバイア又はスルーコンタクトによって接続されていると解される。
1つの発展形態においては、支持体も押圧装置も、コンタクト領域乃至コンタクト面を有している。これによって、端子ラグとして形成されている端子コンタクトにおいても簡単に、いわゆるフォース−センス測定を実施することができる。
以下では、複数の図面を参照しながら本発明を詳細に説明する。図面において同種の部分には同一の参照番号を付している。図示されている実施形態は、非常に概略的に示されたものであって、従って、間隔並びに水平方向及び垂直方向における寸法は縮尺通りではないので、別個の記載がない限りは、導き出される相互の幾何学的な関係も有していない。
本発明の第1の実施形態の横断面図を示す。 図1aに示した実施形態の平面図を示す。 本発明の第2の実施形態の横断面図を示す。 本発明の第3の実施形態の横断面図を示す。 本発明の第4の実施形態の横断面図を示す。 第5の実施形態による支持体の平面図を示す。 本発明の第6の実施形態の横断面図を示す。
図1aは、第1の実施形態の図1bに示されている実施形態の切断線A−A’に沿った断面図を示し、そこには、プレート状の支持体20を有しているコンタクト装置システム10が示されている。支持体20は、下面22と、上面24と、この上面24に形成されている凹部26と、を有している。コンタクト装置システム10は、下面122及び上面124を有している押圧装置27を含んでいる。押圧装置27の下面122には、プラスチック層として形成されている弾性領域29が配置されている。この実施形態では、下面122がプラスチック層によって完全に覆われている。しかしながら、プラスチック層は、図示していない代替的な実施形態において、比較的小さく形成されていても良いと解される。ここでは押圧装置27が断面図で示されており、また、この実施形態において押圧装置27は帯状に形成されている。支持体20の上面24には、第1の導電性コンタクト領域30が形成されている。第2の導電性コンタクト領域32及び第3の導電性コンタクト領域34は図示していない。全てのコンタクト領域30,32及び34は相互に距離を置いて設けられており、且つ、相互に電気的に絶縁されている(図示せず)。第1のコンタクト領域30及び第2のコンタクト領域32及び第3のコンタクト領域34は、それぞれ、図示していな導体路セクションを用いて、図示していない評価回路に電気的に作用接続されている。
支持体20の上面24における凹部26は、電子コンポーネント40の第1の部分を収容する。パッケージングされたIC40は第1の端子コンタクト42を有している。凹部26の大きさは、ICパッケージ40の大きさに適合されている。第1の金属製端子コンタクト42は、支持体20の上面24に沿って配置されており、且つ、その一部が第1のコンタクト領域30に載置されている。第2の金属製端子コンタクト44及び第3の金属製端子コンタクト46は図示していない。第1の端子コンタクト42の載置される部分は、押圧装置27の領域29によって第1のコンタクト領域30に押し付けられ、それによって確実な電気的コンタクトが確立される。
図1bには、図1aに示した実施形態が平面図で示されている。以下では、図1aとの相異点のみ説明する。凹部26は、溝状に形成されており、且つ、相互に並んで配置されている4つの電子コンポーネント40の第1の部分を収容している。個々のIC40の3つの金属製端子コンタクト42,44及び46は、各コンタクト領域30,32及び34に配置されている。破線によって表されている帯状の押圧装置27は、コンタクト領域30,32及び34の上方に位置する、端子コンタクト42,44及び46の部分を覆っている。
図2には、本発明には属さない第2の第2の実施形態が横断面図で示されている。以下では、上記において説明した図との相異点のみを説明する。ここで支持体20には、第1のコンタクト領域30及び第2のコンタクト領域32が相互に平行に配置されている。この実施形態では、第1のコンタクト領域30と第2のコンタクト領域32との間の領域全体が、IC40を収容するための収容領域である。
支持体20は、上面24において、導体路110を備えている第1の導体路平面100と、導体路114を備えている第2の導体路平面112と、を有している。導体路114は導体路110に接続されており、またこの導体路110はスルーコンタクト115を介してコンタクト面30及び32に接続されている。複数の導体路平面によって、再配線を容易に実施することができる。
押圧装置27を用いて、IC40が支持体20に押し付けられ、その結果、第1の金属製端子コンタクト42が第1のコンタクト領域30に載置され、且つ、第2の金属製端子コンタクト44が第2のコンタクト領域32に載置され、これによって、確実な電気的コンタクトが確立される。
図3には、第3の実施形態が横断面図で示されている。以下では、上記において説明した図との相異点のみを説明する。押圧装置27は下面122において、第1の金属製端子コンタクト42を第1のコンタクト領域30に載置するために用いられる第1の成形部142と、第2の金属製端子コンタクト44を第2のコンタクト領域32に載置するために用いられる第2の成形部144と、を有している。換言すれば、この実施形態において押圧装置27はU字状の横断面を有しており、この形状において、2つの脚状の成形部142及び144を用いることによって、端子コンタクト42及び44がコンタクト領域30及び32に押し付けられる。
図4には、第4の実施形態が横断面図で示されている。以下では、上記において説明した図との相異点のみを説明する。ここでは支持体20が、相互に平行に配置されている2つの溝状の凹部26を含んでいる。2つの凹部26は、破線で示されているパッケージングされたIC40を収容するように構成されている。支持体20は、下面側において、導体路110を備えている第1の導体路平面100と、導体路114を備えている第2の導体路平面112と、を有している。導体路114は導体路110に接続されており、またこの導体路110はスルーコンタクト115を介してコンタクト面30,32及び34に接続されている。支持体は位置合わせ補助手段として形成されている孔117を有している。
押圧装置27は、プレート状に形成されており、且つ、溝状の2つの凹部26から成る領域全体を、電子コンポーネント40及び端子コンタクト30,32及び34と共に、覆っている。押圧装置27は、端子コンタクトとして形成されているリード状の端子ラグ42,44及び46を対応するコンタクト領域30,32及び34に確実に押し付けるために、電子コンポーネント40の第2の部分を収容するための2つの溝状の凹部127と、帯状に形成されている2つの弾性領域29と、を有している。利点として、端子ラグが押し付けの際に歪まないことが挙げられる。押圧装置27は、位置合わせ補助手段乃至位置合わせ目印としての複数の孔119を有している。
押圧装置27を支持体20に合わせてセンタリングするために、押圧装置27の孔119は支持体20の孔117に位置合わせされる。これによって、固定手段を用いて、押圧装置27を支持体20に接続することができる。特に、固定手段を用いることによって、両部分20,27をずれないようにすることができ、また信頼性を高めることができる。更に、確実なコンタクトを達成するために、押圧力を調整することができる。
ここでは固定手段として、孔117及び119を貫通する、ナット124付きねじ120が設けられている。ねじ120を用いることによって、押圧装置27と支持体20とが相互に押し付けられる。
図5には、支持体の第5の実施形態が平面図で示されている。以下では、上記において説明した図との相異点のみを説明する。支持体20は、2つの凹部26内に分離境界部130を有している。これらの分離境界部130は、溝の底部から突出している。溝状の凹部は、接合されている又は連なっている複数のポケットと解することができ、換言すれば、複数の区間に分割された溝と解することができる。有利には、分離境界部130は、プレートの形状を有している。分離境界部130が棒状であっても十分であることを言及しておく。左側の溝においては、直接的に隣り合っている2つの分離境界部130が距離DG1を有しており、それに対し右側の溝においては、直接的に隣り合っている2つの分離境界部130が比較的大きい距離DG2を有している。直接的に隣り合っている2つの分離境界部130間の距離は、電子コンポーネント40の外寸に対応している。それらの分離境界部130によって、IC40が各溝の長手方向においてずれないようにすることができる。
図6には、押圧装置27を有している支持体20の第6の実施形態が横断面図で示されている。以下では、上記において説明した図との相異点のみを説明する。押圧装置27は、上面側において、導体路310を備えている第1の導体路平面300と、導体路314を備えている第2の導体路平面312と、を有している。導体路314は導体路310に接続されており、またこの導体路310はスルーコンタクト315を介して、コンタクト面230及び図示していない別の2つのコンタクト面に接続されている。複数の導体路平面によって、再配線を容易に実施することができる。

Claims (18)

  1. プレート状の支持体(20)及び押圧装置(27)を備えている、コンタクト装置システム(10)であって、
    −前記支持体(20)は、下面(22)及び上面(24)を有しており、
    −前記押圧装置(27)は、下面(122)及び上面(124)を有しており、
    −前記押圧装置(27)の下面(122)には、少なくとも5個の収容領域が配置されており、
    −前記支持体(20)の上面(24)には、少なくとも5個の収容領域及び少なくとも5個のコンタクト領域ペアが配置されており、前記コンタクト領域ペアは、それぞれ、第1の導電性コンタクト領域(30)及び第2の導電性コンタクト領域(32)を含んでおり、
    −前記第1のコンタクト領域(30)はそれぞれ前記第2のコンタクト領域(32)から距離を置いており、且つ、前記第1のコンタクト領域(30)及び前記第2のコンタクト領域(32)は相互に電気的に絶縁されており、
    −前記第1のコンタクト領域(30)及び前記第2のコンタクト領域(32)は、それぞれ、導体路セクションを用いて、評価回路に電気的に作用接続されており、
    −複数の電子コンポーネント(40)は、少なくとも2つの端子コンタクト(42,44)を有しており、パッケージングされた前記電子コンポーネント(40)の収容後に、各コンポーネント(40)は、前記収容領域のうちの1つにおいて前記支持体(20)の上面(24)に配置されており、第1の端子コンタクト(42)は、前記第1のコンタクト領域(30)に配置されており、第2の端子コンタクト(44)は、前記第2のコンタクト領域(32)に配置されており、
    −前記押圧装置(27)を用いて各コンポーネント(40)の前記端子コンタクト(42,44)は下方に押し付けられており、前記第1の端子コンタクト(42)は前記第1のコンタクト領域(30)と電気的に接続されており、前記第2の端子コンタクト(44)は前記第2のコンタクト領域(32)と電気的に接続されている、コンタクト装置システム(10)において、
    前記端子コンタクト(42,44,46)が弾性領域(29)によって前記コンタクト領域(30,32,34)に押し付けられるように、前記弾性領域(29)は配置されていることを特徴とする、
    コンタクト装置システム(10)。
  2. 前記端子コンタクト(42,44)は、前記電子コンポーネントのパッケージに形成されており、前記コンタクト領域は前記収容領域に形成されているか、又は、前記端子コンタクトはリード状の端子ラグとして形成されており、且つ、前記コンタクト領域は、前記パッケージングの収容領域から距離を置いている、
    請求項1に記載のコンタクト装置システム(10)。
  3. 前記支持体(20)は、上面(24)において、溝状の凹部(26)を有しており、且つ、前記収容領域の一部は前記凹部(26)に配置されている、及び/又は、前記押圧装置(27)は、下面(122)において、溝状の凹部(127)を有している、
    請求項1又は2に記載のコンタクト装置システム(10)。
  4. 前記支持体(20)及び/又は前記押圧装置(27)は、相互に距離を置いている、複数の長い溝状の凹部(26,127)を有している、
    請求項3に記載のコンタクト装置システム(10)。
  5. 前記凹部(26,127)は、相互に連なる複数のポケットを有している、
    請求項3又は4に記載のコンタクト装置システム(10)。
  6. 前記溝状の凹部に等間隔で設けられている分離境界部(130)が、前記凹部の底部領域から突出しており、
    直接的に隣り合っている2つの分離境界部(130)間の中間空間が、測定すべき、パッケージングされた電子コンポーネント(40)のパッケージ外寸に対応している、
    請求項3乃至5のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  7. 前記支持体(20)及び/又は前記押圧装置(27)は、回路基板として形成されている、
    請求項1乃至6のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  8. 複数のコンタクト領域(30,32)は、前記収容領域に沿って配置されている、
    請求項5乃至7のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  9. 前記押圧装置(27)は、帯状に形成されている、
    請求項1乃至8のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  10. 前記押圧装置(27)は、帯状の弾性領域(29)を有しており、前記帯状の弾性領域(29)の長さは、前記収容領域の長さに実質的に対応している、
    請求項1乃至9のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  11. 前記押圧装置(27)は、下面(122)において、前記端子コンタクト(42,44)を前記コンタクト領域(32,34)に押し付けるために、2つの成形部(142,144)を有している、
    請求項10に記載のコンタクト装置システム(10)。
  12. 前記押圧装置(27)は、コンタクト領域ペア又は導電性のコンタクト面を含んでおり、
    前記コンタクト面は、前記端子コンタクト(42,44,46)が前記コンタクト面を用いて電気的なコンタクトを確立し、且つ、前記押圧装置(27)が複数の金属平面を含むように配置されている、
    請求項1乃至11のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  13. 前記押圧装置(27)及び前記支持体(20)は、それぞれ少なくとも2つの位置合わせ目印を有しており、前記位置合わせ目印に基づき、前記押圧装置(27)及び前記支持体(20)は、相互に位置合わせされる、
    請求項1乃至12のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  14. 前記凹部(26,127)は、2mmと40cmとの間の長さ、及び/又は、2mmと2cmとの間の幅を有している、
    請求項1乃至13のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  15. 前記凹部(26,127)の深さは、0.05mmと3mmとの間である、
    請求項1乃至14のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  16. 前記支持体(20)は、複数の導体路平面(100,114)を有しており、導体路(110,114)を用いて、前記支持体(20)における配線が実施されており、
    前記導体路平面(110,114)は、信号を前記コンタクト領域(30,32,34)に供給するために前記コンタクト領域(30,32,34)に接続されている、
    請求項1乃至15のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  17. 前記押圧装置(27)は、複数の導体路平面(300,312,320)を有しており、導体路(230,310,314)を用いて、前記押圧装置(27)における配線が実施されている、
    請求項1乃至16のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
  18. 前記押圧装置(27)及び前記支持体(20)は、固定手段によって相互に結合されている、
    請求項1乃至17のいずれか1項に記載のコンタクト装置システム(10)。
JP2016161358A 2015-08-20 2016-08-19 コンタクト装置システム Active JP6469620B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102015010776.3 2015-08-20
DE102015010776.3A DE102015010776B4 (de) 2015-08-20 2015-08-20 Kontaktiervorrichtungssystem

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017054806A true JP2017054806A (ja) 2017-03-16
JP6469620B2 JP6469620B2 (ja) 2019-02-13

Family

ID=57960942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016161358A Active JP6469620B2 (ja) 2015-08-20 2016-08-19 コンタクト装置システム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9780470B2 (ja)
JP (1) JP6469620B2 (ja)
DE (1) DE102015010776B4 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019190867A (ja) * 2018-04-19 2019-10-31 株式会社Soken 電子部品の特性検出装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5714987U (ja) * 1980-06-23 1982-01-26
US4878846A (en) * 1988-04-06 1989-11-07 Schroeder Jon M Electronic circuit chip connection assembly and method
JPH04162755A (ja) * 1990-10-26 1992-06-08 Fujitsu Ltd Icソケット
JPH04220574A (ja) * 1990-12-20 1992-08-11 Nikko Kyodo Co Ltd 半導体装置の測定用治具
US5175491A (en) * 1991-09-18 1992-12-29 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Integrated circuit testing fixture
JPH05218153A (ja) * 1992-02-03 1993-08-27 Fujitsu Ltd 半導体試験用キャリア及び半導体試験用キャリアへのチップの着脱方法
JPH0666030U (ja) * 1991-08-05 1994-09-16 日本アビオニクス株式会社 Icのバーンイン用治具
US6407566B1 (en) * 2000-04-06 2002-06-18 Micron Technology, Inc. Test module for multi-chip module simulation testing of integrated circuit packages

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5099393A (en) 1991-03-25 1992-03-24 International Business Machines Corporation Electronic package for high density applications
US5528466A (en) 1991-11-12 1996-06-18 Sunright Limited Assembly for mounting and cooling a plurality of integrated circuit chips using elastomeric connectors and a lid
JP2004085424A (ja) 2002-08-28 2004-03-18 Oki Electric Ind Co Ltd パッケージ用測定治具及びパッケージの測定方法
US20070020964A1 (en) * 2005-07-22 2007-01-25 Domintech Co., Ltd. Memory module with chip hold-down fixture
JP2009294187A (ja) 2008-06-09 2009-12-17 Fujitsu Microelectronics Ltd 電子部品の試験装置用部品及び試験方法
US8123529B2 (en) 2009-12-18 2012-02-28 International Business Machines Corporation Apparatus for connecting two area array devices using a printed circuit board with holes with conductors electrically connected to each other

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5714987U (ja) * 1980-06-23 1982-01-26
US4878846A (en) * 1988-04-06 1989-11-07 Schroeder Jon M Electronic circuit chip connection assembly and method
JPH04162755A (ja) * 1990-10-26 1992-06-08 Fujitsu Ltd Icソケット
JPH04220574A (ja) * 1990-12-20 1992-08-11 Nikko Kyodo Co Ltd 半導体装置の測定用治具
JPH0666030U (ja) * 1991-08-05 1994-09-16 日本アビオニクス株式会社 Icのバーンイン用治具
US5175491A (en) * 1991-09-18 1992-12-29 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Integrated circuit testing fixture
JPH05218153A (ja) * 1992-02-03 1993-08-27 Fujitsu Ltd 半導体試験用キャリア及び半導体試験用キャリアへのチップの着脱方法
US6407566B1 (en) * 2000-04-06 2002-06-18 Micron Technology, Inc. Test module for multi-chip module simulation testing of integrated circuit packages

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019190867A (ja) * 2018-04-19 2019-10-31 株式会社Soken 電子部品の特性検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE102015010776A1 (de) 2017-02-23
US20170054238A1 (en) 2017-02-23
US9780470B2 (en) 2017-10-03
DE102015010776B4 (de) 2018-05-30
JP6469620B2 (ja) 2019-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103219322B (zh) 具有电阻测量结构的三维集成电路及其使用方法
US9805891B2 (en) Multiplexing, switching and testing devices and methods using fluid pressure
KR20110090298A (ko) 피치변환가능 테스트 소켓
CN109477867B (zh) 电性连接装置及触头
US9869697B2 (en) Wiring substrate with filled vias to accommodate custom terminals
KR101085752B1 (ko) 회로 기판 및 상기 회로 기판에 장착된 성분의 테스트 방법
CN105074482A (zh) 被测试器件的检查系统及其操作方法
KR101534487B1 (ko) 반도체 소자 및 반도체 소자의 프로브 핀 정렬 검사 방법.
JP6469620B2 (ja) コンタクト装置システム
KR20130047933A (ko) 프로브, 프로브 어셈블리 및 이를 포함하는 프로브 카드
JP2015102378A (ja) プローブカード
KR101462968B1 (ko) 반도체 테스트 소켓
KR20170125230A (ko) 릴레이 소켓, 릴레이 소켓 모듈, 및 반도체 패키지 테스트 보드 어셈블리
KR101391799B1 (ko) 반도체 테스트용 도전성 콘택터
CN108029209B (zh) 紧凑型电子系统及包括这种系统的设备
US9535108B2 (en) Inspection apparatus and inspection method
CN107765041B (zh) 接触设备
KR20150047114A (ko) 테스트 소자 인서트 및 전자부품 테스트 장치
CN106601639B (zh) 不着检出测试方法及其所用的基板与压板
CN112327123A (zh) 一种测试装置
CN204649777U (zh) 插接座及半导体装置
US10436817B2 (en) Test matrix adapter device
KR100844486B1 (ko) 반도체 칩 테스트 소켓
KR20110026539A (ko) 테스트 장치용 커넥터
JP2013183104A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170904

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20171201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180720

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190107

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190116

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6469620

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250