JP2017051984A - Solder alloy and solder composition - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a solder alloy and a solder composition which can prevent blacking after solder while maintaining wettability and corrosion resistance.SOLUTION: The present invention provides a solder alloy comprising Sn, Bi, and at least one metal selected from the group consisting of Co and Ag, with a content of Bi of 10 mass% or more and 80 mass% or less, and a content of the metal of 0.005 mass% or more and 6.5 mass% or less.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、はんだ合金及びはんだ組成物に関する。   The present invention relates to a solder alloy and a solder composition.

基板に電子部品を実装するため等に用いられるはんだ合金としては、近年、鉛を含まないいわゆる鉛フリーはんだ合金が広く知られている。鉛フリーはんだ合金としては、一般的に、Sn−Agを主成分とする合金、Sn−Cuを主成分とする合金、Sn−Ag−Cuを主成分とする合金等が知られているが、これらの合金は融点が高いという問題がある。融点が比較的低い鉛フリーはんだ用の合金としては、Sn−Biを主成分とする合金(以下、Sn−Bi合金ともいう。)がある。   In recent years, so-called lead-free solder alloys that do not contain lead have been widely known as solder alloys used for mounting electronic components on a substrate. As a lead-free solder alloy, generally an alloy containing Sn-Ag as a main component, an alloy containing Sn-Cu as a main component, an alloy containing Sn-Ag-Cu as a main component, and the like are known. These alloys have a problem of high melting point. As an alloy for lead-free solder having a relatively low melting point, there is an alloy containing Sn-Bi as a main component (hereinafter also referred to as Sn-Bi alloy).

しかし、Sn−Bi合金は酸化しやすいため、かかるはんだ合金を用いたはんだ組成物を用いてはんだ付けすると、はんだ付け後の接合部に黒ずみが発生する場合がある。かかる黒ずみは、例えば、はんだ付け後の製品の外観検査等でエラーとして検出される場合があり、かかる場合には製品が不良品として判断されてしまうおそれがある。   However, since Sn—Bi alloys are easily oxidized, when soldering is performed using a solder composition using such a solder alloy, darkening may occur in a joint after soldering. Such darkening may be detected as an error in, for example, an appearance inspection of a product after soldering. In such a case, the product may be determined as a defective product.

Sn−Biを主成分とするはんだ合金において、黒ずみを抑制する方法としては、例えば、Alを少量添加したはんだ合金が特許文献1に記載されている。
しかし、特許文献1に記載のはんだ合金でも黒ずみを充分に抑制できないという問題があった。
As a method for suppressing darkening in a solder alloy mainly composed of Sn—Bi, for example, a solder alloy to which a small amount of Al is added is described in Patent Document 1.
However, even the solder alloy described in Patent Document 1 has a problem that blackening cannot be sufficiently suppressed.

特開2013−248664号公報JP 2013-248664 A

本発明は、上述の従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、はんだ付け後の黒ずみを充分に抑制できるはんだ合金及びはんだ組成物を提供することを課題とする。   This invention is made | formed in view of the problem of the above-mentioned prior art, and makes it a subject to provide the solder alloy and solder composition which can fully suppress the blackening after soldering.

本発明のはんだ合金は、Snと、Biと、Co及びAgからなる群から選択される少なくとも1以上の金属とからなるはんだ合金であって、
Biの含有量が10質量%以上80質量%以下、前記金属の含有量が0.005質量%以上6.5質量%以下である。
The solder alloy of the present invention is a solder alloy comprising Sn, Bi, and at least one metal selected from the group consisting of Co and Ag,
The Bi content is 10% by mass or more and 80% by mass or less, and the metal content is 0.005% by mass or more and 6.5% by mass or less.

かかるはんだ合金は、Snと、Biと、Co及びAgからなる群から選択される少なくとも1以上の金属とからなるはんだ合金であって、Bi及び前記金属の含有量が前記範囲であることで、はんだ合金としてはんだ組成物に使用した場合、はんだ付け後の黒ずみを充分に抑制することができる。   Such a solder alloy is a solder alloy composed of Sn, Bi, and at least one metal selected from the group consisting of Co and Ag, and the content of Bi and the metal is in the above range, When used in a solder composition as a solder alloy, darkening after soldering can be sufficiently suppressed.

本発明において、前記金属がCoであって、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下であってもよい。   In the present invention, the metal may be Co, and the Co content may be 0.005 mass% or more and 0.3 mass% or less.

前記金属がCoであって、Coの含有量が金属の含有量が前記範囲であることで、はんだ付け後の黒ずみをより充分に抑制することができる。   When the metal is Co and the content of Co is within the above range, darkening after soldering can be more sufficiently suppressed.

本発明において、前記金属がCo及びAgであって、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下、Agの含有量が0.1質量%以上4.0質量%以下であってもよい。   In the present invention, the metal is Co and Ag, and the Co content is 0.005 mass% to 0.3 mass%, and the Ag content is 0.1 mass% to 4.0 mass%. There may be.

本発明において、前記金属がCo及びAgであって、Agの含有量が前記範囲であることで、はんだ付け後の黒ずみをより充分に抑制することができる。   In the present invention, when the metal is Co and Ag and the content of Ag is within the above range, darkening after soldering can be more sufficiently suppressed.

本発明のはんだ合金は、Snと、Biと、Sbと、Co、Ag及びNiからなる群から選択される少なくとも1以上の金属とからなるはんだ合金であって、Biの含有量が10質量%以上80質量%以下、Sbの含有量及び前記金属の含有量の合計が0.1質量%以上6.5質量%以下である。   The solder alloy of the present invention is a solder alloy comprising Sn, Bi, Sb, and at least one metal selected from the group consisting of Co, Ag, and Ni, and the Bi content is 10% by mass. The total of the Sb content and the metal content is 0.1% by mass or more and 6.5% by mass or less.

かかるはんだ合金は、Snと、Biと、Sbと、Co、Ag及びNiからなる群から選択される少なくとも1以上の金属とからなるはんだ合金であって、Sb及び前記金属の含有量が前記範囲であることで、はんだ合金としてはんだ組成物に使用した場合、はんだ付け後の黒ずみを充分に抑制することができる。   The solder alloy is a solder alloy composed of Sn, Bi, Sb, and at least one metal selected from the group consisting of Co, Ag, and Ni, and the content of Sb and the metal is within the above range. Therefore, when used as a solder alloy in a solder composition, darkening after soldering can be sufficiently suppressed.

本発明において、Sbの含有量が0.5質量%以上6.3質量%以下であってもよい。   In this invention, 0.5 mass% or more and 6.3 mass% or less of Sb content may be sufficient.

Sbの含有量が前記範囲であることで、はんだ付け後の黒ずみをより充分に抑制することができる。   When the Sb content is within the above range, darkening after soldering can be more sufficiently suppressed.

本発明において、前記金属がCoであって、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下であってもよい。   In the present invention, the metal may be Co, and the Co content may be 0.005 mass% or more and 0.3 mass% or less.

前記金属がCoであって、Coの含有量が前記範囲であることで、はんだ付け後の黒ずみをより充分に抑制することができる。   When the metal is Co and the Co content is within the above range, darkening after soldering can be more sufficiently suppressed.

本発明において、前記金属がAgであって、Agの含有量が0.1質量%以上4.0質量%以下であってもよい。   In the present invention, the metal may be Ag, and the Ag content may be 0.1% by mass or more and 4.0% by mass or less.

前記金属がAgであって、Agの含有量が前記範囲であることで、はんだ付け後の黒ずみをより充分に抑制することができる。   When the metal is Ag and the content of Ag is within the above range, darkening after soldering can be more sufficiently suppressed.

本発明において、前記金属がCo及びNiであって、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下、Niの含有量が0.05質量%以上0.2質量%以下であってもよい。   In the present invention, the metal is Co and Ni, the Co content is 0.005 mass% to 0.3 mass%, and the Ni content is 0.05 mass% to 0.2 mass%. There may be.

前記金属がCo及びNiであって、Co及びNiの含有量が前記範囲であることで、はんだ付け後の黒ずみをより充分に抑制することができる。   When the metal is Co and Ni and the content of Co and Ni is in the above range, darkening after soldering can be more sufficiently suppressed.

本発明にかかるはんだ組成物は、前記いずれかのはんだ合金と、フラックスとを含む。   The solder composition according to the present invention includes any one of the above solder alloys and a flux.

本発明によれば、はんだ付け後の黒ずみを充分に抑制できるはんだ合金及びはんだ組成物を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the solder alloy and solder composition which can fully suppress the blackening after soldering can be provided.

実施例3の試験片の光学顕微鏡写真。4 is an optical micrograph of the test piece of Example 3. 比較例27の試験片の光学顕微鏡写真。The optical microscope photograph of the test piece of the comparative example 27.

以下に、本発明に係るはんだ合金、及びはんだ組成物について説明する。   Below, the solder alloy and solder composition concerning the present invention are explained.

本実施形態にかかるはんだ合金は、Snと、Biと、Co及びAgからなる群から選択される少なくとも1以上の金属とからなるはんだ合金である。   The solder alloy according to the present embodiment is a solder alloy composed of Sn, Bi, and at least one metal selected from the group consisting of Co and Ag.

本実施形態のはんだ合金は、Sn−Biを主成分とする鉛フリーはんだ合金である。
本実施形態において、鉛フリーはんだとは、JIS Z 3282に定める鉛フリーはんだをいう。
The solder alloy according to the present embodiment is a lead-free solder alloy containing Sn-Bi as a main component.
In the present embodiment, the lead-free solder is a lead-free solder defined in JIS Z 3282.

Biの含有量が10質量%以上80質量%以下、好ましくは、10質量%以上70質量%以下である。
Biの含有量が上記範囲である場合には、Sn−Biを主成分とする低融点のはんだ合金を得ることができる。
The Bi content is 10% by mass or more and 80% by mass or less, preferably 10% by mass or more and 70% by mass or less.
When the Bi content is in the above range, a low melting point solder alloy containing Sn-Bi as a main component can be obtained.

本実施形態のはんだ合金は、主成分であるSn及びBi以外に、Co及びAgからなる群から選択される少なくとも1以上の金属を含有する。
前記金属のはんだ合金中の含有量は総量として、0.005質量%以上6.5質量%以下、好ましくは0.01質量%以上6.3質量%以下である。
本実施形態のはんだ合金は、前記金属を上記含有量の範囲で含むことにより、はんだ付け後の黒ずみを抑制することができる。
The solder alloy of this embodiment contains at least one metal selected from the group consisting of Co and Ag, in addition to Sn and Bi as the main components.
The total content of the metal in the solder alloy is 0.005% by mass to 6.5% by mass, preferably 0.01% by mass to 6.3% by mass.
The solder alloy of this embodiment can suppress darkening after soldering by including the metal in the above-described content range.

前記金属は、Coであってもよい。かかる場合には、Coの含有量は、0.005質量%以上0.3質量%以下、好ましくは、0.01質量%以上0.1質量%以下、より好ましくは0.01質量%以上0.05質量%以下である。   The metal may be Co. In such a case, the Co content is 0.005 mass% or more and 0.3 mass% or less, preferably 0.01 mass% or more and 0.1 mass% or less, more preferably 0.01 mass% or more and 0 mass% or less. 0.05% by mass or less.

前記金属はCo及びAgであってもよい。
かかる場合の各金属の含有量としては、Coの含有量は0.005質量%以上0.3質量%以下、好ましくは、0.01質量%以上0.1質量%以下、より好ましくは0.01質量%以上0.05質量%以下であり、Agの含有量は0.1質量%以上4.0質量%以下、好ましくは、0.3質量%以上3.0質量%以下である。
The metal may be Co and Ag.
In this case, the content of each metal is 0.005 mass% or more and 0.3 mass% or less, preferably 0.01 mass% or more and 0.1 mass% or less, more preferably 0.005 mass% or less. It is 01 mass% or more and 0.05 mass% or less, and content of Ag is 0.1 mass% or more and 4.0 mass% or less, Preferably, it is 0.3 mass% or more and 3.0 mass% or less.

本実施形態のはんだ合金の残部はSnである。
尚、本実施形態のはんだ合金の残部には、本実施形態のはんだ合金の効果を阻害しない範囲でSnの他に不可避不純物が含まれていてもよい。
The balance of the solder alloy of this embodiment is Sn.
In addition, in the remainder of the solder alloy of this embodiment, inevitable impurities other than Sn may be included in the range which does not inhibit the effect of the solder alloy of this embodiment.

さらに、別の本実施形態のはんだ合金は、Snと、Biと、Sbと、Co、Ag及びNiからなる群から選択される少なくとも1以上の金属とからなるはんだ合金である。
この場合、Sbと前記金属の含有量の合計は0.1質量%以上6.5質量%以下、好ましくは0.5質量%以上6.3質量%以下である。
本実施形態のはんだ合金は、前記各金属を上記含有量の範囲で含むことにより、はんだ付け後の黒ずみを充分に抑制することができる。
Furthermore, another solder alloy of the present embodiment is a solder alloy composed of Sn, Bi, Sb, and at least one metal selected from the group consisting of Co, Ag, and Ni.
In this case, the total content of Sb and the metal is 0.1% by mass to 6.5% by mass, preferably 0.5% by mass to 6.3% by mass.
The solder alloy of the present embodiment can sufficiently suppress darkening after soldering by including each of the metals in the above-described content range.

この場合の前記金属はCoであってもよい。
かかる場合の各金属は、Coの含有量は0.005質量%以上0.3質量%以下、好ましくは、0.01質量%以上0.1質量%以下、より好ましくは0.01質量%以上0.05質量%以下である。
In this case, the metal may be Co.
In such a case, each metal has a Co content of 0.005 mass% or more and 0.3 mass% or less, preferably 0.01 mass% or more and 0.1 mass% or less, more preferably 0.01 mass% or more. It is 0.05 mass% or less.

また、この場合の前記金属がAgであってもよい。
かかる場合の各金属は、Agの含有量は0.1質量%以上4.0質量%以下、好ましくは、0.3質量%以上3.0質量%以下である。
In this case, the metal may be Ag.
Each metal in such a case has an Ag content of 0.1% by mass to 4.0% by mass, and preferably 0.3% by mass to 3.0% by mass.

さらに、この場合の前記金属がCo及びNiであってもよい。
かかる場合の各金属は、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下、好ましくは、0.01質量%以上0.1質量%以下、より好ましくは0.01質量%以上0.05質量%以下であり、Niの含有量が0.05質量%以上0.2質量%以下、好ましくは0.005質量%以上0.1質量%以下である。
Further, the metal in this case may be Co and Ni.
In such a case, each metal has a Co content of 0.005 mass% or more and 0.3 mass% or less, preferably 0.01 mass% or more and 0.1 mass% or less, more preferably 0.01 mass% or more. It is 0.05 mass% or less, and Ni content is 0.05 mass% or more and 0.2 mass% or less, Preferably it is 0.005 mass% or more and 0.1 mass% or less.

本実施形態のはんだ合金に含まれる各金属の含有量は、ICP発光分光分析法(JIS Z3910に記載の方法)によって測定される値である。   The content of each metal contained in the solder alloy of the present embodiment is a value measured by ICP emission spectroscopic analysis (method described in JIS Z3910).

本実施形態のはんだ合金の溶融温度は110℃以上200℃以下、好ましくは135℃以上180℃以下である。はんだ合金の溶融温度が前記温度の範囲である場合には、リフロー温度を適切な範囲に設定することが可能となる。尚、本実施形態でいうはんだ合金の溶融温度とは固相線温度を言う。   The melting temperature of the solder alloy of this embodiment is 110 ° C. or higher and 200 ° C. or lower, preferably 135 ° C. or higher and 180 ° C. or lower. When the melting temperature of the solder alloy is within the above temperature range, the reflow temperature can be set to an appropriate range. In addition, the melting temperature of the solder alloy as used in this embodiment means solidus temperature.

さらに、本実施形態のはんだ合金は、粉末状、棒状等の各種形状とすることができる。   Furthermore, the solder alloy of this embodiment can be in various shapes such as powder and rod.

次に、本発明のはんだ組成物の実施形態を説明する。
本実施形態のはんだ合金は、はんだ合金とフラックスとを含むはんだ組成物とすることができる。
Next, an embodiment of the solder composition of the present invention will be described.
The solder alloy of this embodiment can be a solder composition containing a solder alloy and a flux.

フラックスとしては、特に限定されるものではなく、ロジン系フラックス、合成樹脂系フラックス、水溶性フラックス等が挙げられる。廃棄物処理や製造工程における安全性の観点からハロゲンを含まないあるいは低ハロゲンのフラックスが好ましい。
尚、本実施形態でいう低ハロゲンフラックスとは、フラックス中のハロゲンの濃度が1500ppm以下、好ましくは900ppm以下のフラックスをいう。
The flux is not particularly limited, and examples thereof include rosin flux, synthetic resin flux, and water-soluble flux. From the viewpoint of safety in waste disposal and manufacturing processes, a halogen-free or low-halogen flux is preferred.
In addition, the low halogen flux as used in this embodiment means the flux whose halogen density | concentration in a flux is 1500 ppm or less, Preferably it is 900 ppm or less.

一般的な、Sn−Bi合金からなる鉛フリーはんだ合金は、低ハロゲンフラックスを用いてはんだ組成物を製造すると、Biの酸化を抑制しにくくなり、特にはんだ付け後の外観の黒ずみを抑制しにくいという問題がある。
しかし、本実施形態のはんだ合金は黒ずみを充分に抑制できるため、低ハロゲンフラックスを用いてはんだ組成物を製造した場合でも黒ずみを発生させにくい。
A general lead-free solder alloy made of a Sn-Bi alloy is difficult to suppress oxidation of Bi when a solder composition is manufactured using a low halogen flux, and in particular, it is difficult to suppress darkening of the appearance after soldering. There is a problem.
However, since the solder alloy of this embodiment can sufficiently suppress darkening, blackening is hardly generated even when a solder composition is manufactured using a low halogen flux.

本実施形態のはんだ組成物は、前記フラックス5質量%以上25質量%以下、好ましくは8質量%以上20質量%以下、前記はんだ合金粉末を75質量%以上95質量%以下、好ましくは80質量%以上92質量%以下混合して、ペースト状にしたソルダペーストであることが好ましい。   The solder composition of the present embodiment has a flux of 5% by mass to 25% by mass, preferably 8% by mass to 20% by mass, and the solder alloy powder of 75% by mass to 95% by mass, preferably 80% by mass. It is preferable that the paste is a solder paste mixed with 92% by mass or less.

本実施形態のはんだ組成物は、はんだ付け後に黒ずみなどが発生することを十分に抑制できる。   The solder composition of this embodiment can sufficiently suppress the occurrence of darkening after soldering.

また、本実施形態のはんだ組成物を用いて、電子部品を基板に実装する等した場合でも、はんだの濡れ性が低下することや、はんだ付けの耐食性が低下することはない。
よって、本実施形態のはんだ合金及びはんだ組成物は、はんだ特性を低下させることなく黒ずみを抑制することができる。
Further, even when an electronic component is mounted on a substrate using the solder composition of the present embodiment, solder wettability and soldering corrosion resistance do not decrease.
Therefore, the solder alloy and the solder composition of the present embodiment can suppress darkening without deteriorating the solder characteristics.

本実施形態にかかるはんだ合金及びはんだ組成物は以上のとおりであるが、今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は前記説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   Although the solder alloy and solder composition concerning this embodiment are as above, it should be thought that embodiment disclosed this time is an illustration and restrictive at no points. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

次に、本発明の実施例について比較例と併せて説明する。なお、本発明は下記の実施例に限定して解釈されるものではない。   Next, examples of the present invention will be described together with comparative examples. In addition, this invention is limited to a following example and is not interpreted.

(はんだ合金)
表1に示す各組成のはんだ合金を以下の方法によって準備した。
《はんだ合金の製造方法》
Sn以外の表1に示す各金属のうち、600℃のSnに溶融しにくい高融点金属Co、Niは表1の質量%になるように調整して、1000℃で溶融させたSnに添加して1hr以上そのまま保持し、インゴット鋳型にて鋳造する。
表1に記載の金属のうち、600℃のSnに溶融しやすい低融点金属Cu、Bi、Sb、Ge、Ag、Ga、Inについては、表1に記載の質量%になるように調整して、600℃に溶融したSnに添加して1hr以上そのまま保持後、インゴット鋳型に溶融する。
高融点金属元素および低融点金属が含まれる場合には、高融点金属を上述のように1000℃で溶融させたSnに添加してから、600℃に溶融したSnと低融点金属との溶融物に添加して1hr以上そのまま保持後、インゴット鋳型に溶融する。
(Solder alloy)
A solder alloy having each composition shown in Table 1 was prepared by the following method.
《Solder alloy manufacturing method》
Among the metals shown in Table 1 other than Sn, refractory metals Co and Ni that are difficult to melt into Sn at 600 ° C. are adjusted to the mass% of Table 1 and added to Sn melted at 1000 ° C. Hold for 1 hour or longer and cast with an ingot mold.
Among the metals listed in Table 1, the low melting point metals Cu, Bi, Sb, Ge, Ag, Ga, and In, which are easily melted into Sn at 600 ° C., are adjusted so that the mass% is listed in Table 1. , Added to Sn melted at 600 ° C., held as it is for 1 hour or longer, and then melted into an ingot mold.
When a high melting point metal element and a low melting point metal are included, the high melting point metal is added to Sn melted at 1000 ° C. as described above, and then the melt of Sn and low melting point metal melted at 600 ° C. Is added to, and kept as it is for 1 hour or more, and then melted into an ingot mold.

《黒ずみの測定方法》
上記方法によって得られた各はんだインゴットを粉砕して粉末化したものを、以下のような方法で観察し、黒ずみの有無を測定した。
各はんだ粉末と、低ハロゲンロジン系フラックスとを20wt%の比率で混合したソルダーペーストを、Cu板上に幅4mm、奥行き2mm、厚さ200μmになるようにスクリーン印刷したものを、大気中で200℃、30秒間加熱してはんだ合金を溶融させることでCu板にはんだ付けし、約4℃/秒で室温まで冷却した試験片として作製した。
該試験片を光学顕微鏡で観察し、目視で判別可能な黒ずみが発生している場合には「発生」とし、それらが見られない場合を「無し」とした。
尚、光学顕微鏡は、ハイロックス社製KH−8700を使用した。
結果を表1に示す。
<Measurement method of darkening>
Each solder ingot obtained by the above method was pulverized and pulverized, and observed by the following method to measure the presence or absence of darkening.
A solder paste obtained by mixing each solder powder and a low halogen rosin flux at a ratio of 20 wt% is screen-printed on a Cu plate so as to have a width of 4 mm, a depth of 2 mm, and a thickness of 200 μm. It was produced as a test piece that was soldered to a Cu plate by heating at 30 ° C. for 30 seconds to melt the solder alloy and cooled to room temperature at about 4 ° C./second.
The test specimen was observed with an optical microscope, and “black” was generated when darkening that could be visually identified was generated, and “none” when no blackening was observed.
As the optical microscope, KH-8700 manufactured by Hilox was used.
The results are shown in Table 1.

表1から明らかなように、各実施例のはんだ合金は黒ずみが観察されなかった。
一方、各比較例のはんだ合金では黒ずみが観察された。
As is apparent from Table 1, no darkening was observed in the solder alloys of the examples.
On the other hand, darkening was observed in the solder alloys of the comparative examples.

尚、実施例3の試験片を撮影した写真を図1として、比較例27の試験片を撮影した試験片を図2として示した。倍率は50倍で撮影した。
図1および図2から、実施例3の試験片では、比較例27の試験片で現れたはんだ周囲の黒いライン(黒ずみ)は全く現れていないことがわかる。
In addition, the photograph which image | photographed the test piece of Example 3 was shown in FIG. 1, and the test piece which image | photographed the test piece of the comparative example 27 was shown in FIG. The picture was taken at a magnification of 50 times.
1 and 2, it can be seen that in the test piece of Example 3, the black line (darkening) around the solder that appeared in the test piece of Comparative Example 27 did not appear at all.

《ぬれ性試験》
表2に示す各金属の配合になるように形成したはんだ合金粉末を、上記と同様にしてソルダーペーストとして調整した。
各ソルダーペーストを用いて、JIS Z 3197「ウェッティングバランス法」の試験方法において示されている図1の「A点(記録線が基準線と交差した点・試験片に加わる力がゼロになった点)」における時間を「ゼロクロス時間」として測定した。尚、ぬれ時間(ゼロクロス時間)が短時間であるほどぬれが早く、濡れ性が良好であることを示す。
結果を表2に示す。
《Wetting test》
Solder alloy powder formed so as to have a composition of each metal shown in Table 2 was prepared as a solder paste in the same manner as described above.
Using each solder paste, the point A (the point where the recording line intersects the reference line and the force applied to the test piece is zero) shown in the test method of JIS Z 3197 “Wetting Balance Method”. Time) was measured as “zero crossing time”. The shorter the wetting time (zero crossing time), the faster the wetting and the better the wettability.
The results are shown in Table 2.

表2から明らかなように、各実施例は、各比較例と比べてぬれ時間(ゼロクロス時間)が短時間あるいは同等であった。   As is clear from Table 2, each example had a short wetting time (zero crossing time) or equivalent compared to each comparative example.

Claims (9)

Snと、Biと、Co及びAgからなる群から選択される少なくとも1以上の金属とからなるはんだ合金であって、
Biの含有量が10質量%以上80質量%以下、前記金属の含有量が0.005質量%以上6.5質量%以下であるはんだ合金。
A solder alloy comprising Sn, Bi, and at least one metal selected from the group consisting of Co and Ag,
A solder alloy having a Bi content of 10% by mass to 80% by mass and a metal content of 0.005% by mass to 6.5% by mass.
前記金属がCoであって、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下である請求項1に記載のはんだ合金。   The solder alloy according to claim 1, wherein the metal is Co, and the Co content is 0.005 mass% or more and 0.3 mass% or less. 前記金属がCo及びAgであって、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下、Agの含有量が0.1質量%以上4.0質量%以下である請求項1に記載のはんだ合金。   The metal is Co and Ag, and the Co content is 0.005% by mass to 0.3% by mass, and the Ag content is 0.1% by mass to 4.0% by mass. Solder alloy described in 1. Snと、Biと、Sbと、Co、Ag及びNiからなる群から選択される少なくとも1以上の金属とからなるはんだ合金であって、
Biの含有量が10質量%以上80質量%以下、Sbの含有量及び前記金属の含有量の合計が0.1質量%以上6.5質量%以下であるはんだ合金。
A solder alloy comprising Sn, Bi, Sb, and at least one metal selected from the group consisting of Co, Ag and Ni,
The solder alloy whose Bi content is 10 mass% or more and 80 mass% or less, and the sum total of content of Sb and said metal content is 0.1 mass% or more and 6.5 mass% or less.
Sbの含有量が0.5質量%以上6.3質量%以下である請求項4に記載のはんだ合金。   The solder alloy according to claim 4, wherein the Sb content is 0.5 mass% or more and 6.3 mass% or less. 前記金属がCoであって、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下である請求項4又は5に記載のはんだ合金。   The solder alloy according to claim 4 or 5, wherein the metal is Co, and the Co content is 0.005 mass% or more and 0.3 mass% or less. 前記金属がAgであって、Agの含有量が0.1質量%以上4.0質量%以下である請求項4又は5に記載のはんだ合金。   The solder alloy according to claim 4 or 5, wherein the metal is Ag, and the Ag content is 0.1 mass% or more and 4.0 mass% or less. 前記金属がCo及びNiであって、Coの含有量が0.005質量%以上0.3質量%以下、Niの含有量が0.05質量%以上0.2質量%以下である請求項4又は5に記載のはんだ合金。   The metal is Co and Ni, and the Co content is 0.005 mass% to 0.3 mass%, and the Ni content is 0.05 mass% to 0.2 mass%. Or the solder alloy of 5. 請求項1乃至8のいずれか一項に記載のはんだ合金と、フラックスとを含むはんだ組成物。   A solder composition comprising the solder alloy according to claim 1 and a flux.
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