JP2017045899A - Board work system - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a board work system capable of suppressing increase in the workload of a user, even if recognition of the position recognition mark of a board is bad in a board work device in the upstream.SOLUTION: A board work system 100 includes a plurality of board work devices each including a printer 3, a component supply device 4, and an inspection device 6. When a fiducial mark F of a board P in an image captured by a board recognition camera 442 is recognized based on the user's teaching in the board work device on the upstream side, the fiducial mark F is recognized using the teaching information of the fiducial mark F of the board P recognized based on the user's teaching in the board work device on the upstream side, in the board work device on the downstream side.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、基板作業システムに関し、特に、複数の基板作業装置を備える基板作業システムに関する。   The present invention relates to a substrate working system, and more particularly to a substrate working system including a plurality of substrate working apparatuses.

従来、複数の基板作業装置を備える基板作業システムが知られている(たとえば、特許文献1参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, a substrate working system including a plurality of substrate working devices is known (for example, see Patent Document 1).

上記特許文献1には、スクリーン印刷機、接着剤塗布機、電子部品装着機、基板検査機を含む複数の基板作業装置が実装ライン上に設置された電子部品実装装置(基板作業システム)が開示されている。この特許文献1の電子部品実装装置では、実装ラインの下流の基板作業装置は、上流の基板作業装置による基板のマーク認識結果(たとえば、マークの位置情報)と、自設備の1枚目の基板のマーク認識結果(たとえば、マークの位置情報)との差分を用いて基板のマーク認識を行うように構成されている。   Patent Document 1 discloses an electronic component mounting apparatus (substrate working system) in which a plurality of board working devices including a screen printing machine, an adhesive application machine, an electronic component mounting machine, and a board inspection machine are installed on a mounting line. Has been. In the electronic component mounting apparatus disclosed in Patent Document 1, the board working apparatus downstream of the mounting line includes a board mark recognition result (for example, mark position information) by the upstream board working apparatus, and the first board of its own equipment. The substrate is recognized using a difference from the mark recognition result (for example, mark position information).

ここで、上記特許文献1には明記されていないものの、従来では、基板のマーク認識が不良になった場合、ユーザの教示に基づいて基板のマーク認識を行う方法が知られている。   Here, although not specified in the above-mentioned Patent Document 1, conventionally, there is known a method for recognizing a mark on a substrate based on a user's instruction when the mark recognition on the substrate becomes defective.

特開平10−303597号公報JP-A-10-303597

しかしながら、上記特許文献1の電子部品実装装置(基板作業システム)は、実装ラインの下流の基板作業装置は、上流の基板作業装置による基板のマーク(位置認識標識)の認識結果と、自設備の1枚目の基板のマーク認識結果との差分を用いて基板のマーク認識を行うように構成されているため、上流の基板作業装置において、基板のマーク認識が不良となった場合に、従来から知られているように、ユーザの教示に基づいて基板のマーク認識を行った場合には、下流の基板作業装置においても、基板のマーク認識不良となる可能性が高い。この場合、下流の基板作業装置においても、基板のマークを認識するために、ユーザが基板のマーク位置を教示する必要がある。このため、上流の基板作業装置において基板のマーク認識が不良であった場合、ユーザの作業負担が増大するという問題点がある。   However, in the electronic component mounting apparatus (board working system) of the above-mentioned Patent Document 1, the board working apparatus downstream of the mounting line is the result of the recognition of the board mark (position recognition sign) by the upstream board working apparatus and the own equipment. Since it is configured to perform the mark recognition of the substrate using the difference from the mark recognition result of the first substrate, in the upstream substrate working apparatus, when the mark recognition of the substrate becomes defective, from the past As is known, when the substrate mark recognition is performed based on the user's teaching, there is a high possibility of the substrate mark recognition failure even in the downstream substrate working apparatus. In this case, the user needs to teach the position of the mark on the substrate in order to recognize the mark on the substrate even in the downstream substrate working apparatus. For this reason, there is a problem in that the work burden on the user increases when the mark recognition on the substrate is poor in the upstream substrate working apparatus.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、上流の基板作業装置において基板の位置認識標識の認識が不良であった場合でも、ユーザの作業負担が増大するのを抑制することが可能な基板作業システムを提供することである。   The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and one object of the present invention is to provide a user even when the position recognition mark of the substrate is poor in the upstream substrate working apparatus. An object of the present invention is to provide a substrate working system capable of suppressing an increase in the work load.

上記目的を達成するために、この発明の一の局面における基板作業システムは、基板を搬送する搬送部と、搬送部により搬送され、所定の位置において固定された基板に所定の作業を行う作業部と、基板の位置を取得するための基板に付された位置認識標識を撮像するための撮像部とをそれぞれ含む複数の基板作業装置を備え、上流側の基板作業装置において、撮像部により撮像された画像中の基板の位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識した場合、下流側の基板作業装置において、上流側の基板作業装置におけるユーザの教示に基づいて認識された基板の位置認識標識の教示情報を用いて、位置認識標識を認識するように構成されている。   In order to achieve the above object, a substrate working system according to one aspect of the present invention includes a transport unit that transports a substrate, and a work unit that performs a predetermined operation on a substrate that is transported by the transport unit and fixed at a predetermined position. And a plurality of substrate working devices each including an image pickup unit for picking up an image of a position recognition mark attached to the substrate for acquiring the position of the substrate. When the position recognition sign of the substrate in the image is recognized based on the user's teaching, the position recognition sign of the substrate recognized based on the user's teaching in the upstream substrate working apparatus is detected in the downstream substrate working apparatus. The teaching information is used to recognize the position recognition sign.

この発明の一の局面による基板作業システムでは、上記のように、上流側の基板作業装置において、撮像部により撮像された画像中の基板の位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識した場合、下流側の基板作業装置において、上流側の基板作業装置におけるユーザの教示に基づいて認識された基板の位置認識標識の教示情報を用いて、位置認識標識を認識するように構成する。これにより、上流側の基板作業装置において、基板の位置認識標識の認識不良があった場合でも、ユーザが上流の基板作業装置についてのみ教示を行うことにより、下流側の基板作業装置においても基板の位置認識標識を認識することができるので、複数の基板作業装置の全てにおいて基板の位置認識標識をユーザが教示する必要がない。その結果、上流の基板作業装置において基板の位置認識標識の認識が不良であった場合でも、ユーザの作業負担が増大するのを抑制することができる。また、下流側の基板作業装置において、基板の位置認識標識の認識不良に起因して基板作業装置が停止することを抑制することができるので、基板に対する作業効率を向上させることができる。   In the substrate working system according to one aspect of the present invention, as described above, in the upstream substrate working apparatus, when the substrate position recognition mark in the image captured by the imaging unit is recognized based on the user's teaching, The downstream substrate working apparatus is configured to recognize the position recognition sign using the teaching information of the substrate position recognition sign recognized based on the user's teaching in the upstream substrate working apparatus. As a result, even when there is a recognition failure of the position recognition sign of the substrate in the upstream substrate working apparatus, the user teaches only the upstream substrate working device, so that the substrate in the downstream substrate working apparatus can be Since the position recognition mark can be recognized, it is not necessary for the user to teach the position recognition mark of the substrate in all of the plurality of substrate working apparatuses. As a result, it is possible to suppress an increase in the work burden on the user even when the upstream substrate working apparatus has poor recognition of the substrate position recognition sign. Further, in the downstream substrate working apparatus, it is possible to suppress the stop of the substrate working apparatus due to the recognition failure of the substrate position recognition sign, so that the working efficiency for the substrate can be improved.

上記一の局面による基板作業システムにおいて、好ましくは、基板作業装置において基板の位置認識標識を認識できない場合に、基板の位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識するように構成されている。このように構成すれば、基板の位置認識標識を基板作業装置により認識できない場合でも、ユーザの教示により、基板の位置認識標識を確実に認識することができる。   The substrate working system according to the above aspect is preferably configured to recognize the substrate position recognition mark based on the user's teaching when the substrate position recognition mark cannot be recognized by the substrate working apparatus. If comprised in this way, even if the board | substrate position recognition mark cannot be recognized with a board | substrate working apparatus, the board | substrate position recognition mark can be reliably recognized by a user's teaching.

上記一の局面による基板作業システムにおいて、好ましくは、上流側の基板作業装置において、撮像部により撮像された画像中の基板の位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識した場合、位置認識標識近辺の画像情報と、ユーザの教示に基づく位置認識標識の位置情報とを含む教示情報を、下流側の基板作業装置が利用可能なように送信するように構成されている。このように構成すれば、位置認識標識近辺の画像情報と、ユーザの教示に基づく位置認識標識の位置情報とを含む教示情報に基づいて、下流側の基板作業装置において、基板の位置認識標識を容易に認識することができる。   In the substrate working system according to the above aspect, preferably, in the upstream substrate working apparatus, when the position recognition sign of the substrate in the image captured by the imaging unit is recognized based on the user's teaching, the vicinity of the position recognition sign The teaching information including the image information and the position information of the position recognition mark based on the user's teaching is transmitted so that the downstream substrate working apparatus can be used. If comprised in this way, based on the teaching information including the image information around the position recognition sign and the position information of the position recognition sign based on the user's instruction, the substrate position recognition sign on the downstream side is processed. It can be easily recognized.

上記一の局面による基板作業システムにおいて、好ましくは、上流側の基板作業装置において、撮像部により撮像された画像中の基板の位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識した場合、位置認識標識を認識可能な認識アルゴリズム情報、および、位置認識標識を認識可能な認識パラメータのうち少なくとも1つを含む教示情報を、下流側の基板作業装置が利用可能なように送信するように構成されている。このように構成すれば、位置認識標識を認識可能な認識アルゴリズム情報、および、位置認識標識を認識可能な認識パラメータのうち少なくとも1つを含む教示情報に基づいて、下流側の基板作業装置において、基板の位置認識標識を容易に認識することができる。   In the substrate working system according to the above aspect, preferably, in the upstream substrate working apparatus, when the substrate position recognition sign in the image captured by the imaging unit is recognized based on the user's teaching, the position recognition sign is displayed. The teaching information including at least one of the recognizable recognition algorithm information and the recognition parameter capable of recognizing the position recognition mark is configured to be transmitted so as to be usable by the downstream substrate working apparatus. If comprised in this way, based on the teaching algorithm information which contains at least 1 of the recognition algorithm information which can recognize a position recognition mark, and the recognition parameter which can recognize a position recognition mark, in the substrate working device of the downstream, The position recognition mark of the substrate can be easily recognized.

上記一の局面による基板作業システムにおいて、好ましくは、教示情報は、基板の搬送とともに、上流側の基板作業装置から下流側の基板作業装置に送信されるように構成されている。このように構成すれば、基板の搬送とともに、教示情報を下流側の基板作業装置に移転させることができるので、下流側の基板作業装置において、基板の位置認識標識を確実に認識することができる。   In the substrate working system according to the aforementioned aspect, the teaching information is preferably configured to be transmitted from the upstream substrate working apparatus to the downstream substrate working apparatus along with the conveyance of the substrate. With this configuration, the teaching information can be transferred to the downstream substrate working apparatus as the substrate is transported, so that the substrate position recognition mark can be reliably recognized in the downstream substrate working device. .

上記一の局面による基板作業システムにおいて、好ましくは、教示情報が記憶される外部記憶装置をさらに備え、教示情報は、基板の個体識別情報とともに、外部記憶装置に送信されるとともに、下流側の基板作業装置において、外部記憶装置に記憶された教示情報と、基板の個体識別情報とを用いて、位置認識標識を認識するように構成されている。このように構成すれば、下流側の基板作業装置において、外部記憶装置に記憶された教示情報と、基板の個体識別情報とを用いて、基板の位置認識標識を確実に認識することができる。   The substrate working system according to the above aspect preferably further includes an external storage device in which teaching information is stored, and the teaching information is transmitted to the external storage device together with the individual identification information of the substrate, and the downstream substrate. The work device is configured to recognize the position recognition mark using the teaching information stored in the external storage device and the individual identification information of the substrate. If comprised in this way, in the board | substrate working apparatus of a downstream, the position recognition label | marker of a board | substrate can be reliably recognized using the teaching information memorize | stored in the external storage device, and the board | substrate individual identification information.

上記一の局面による基板作業システムにおいて、好ましくは、下流側の基板作業装置において、教示情報の有無を判定し、教示情報が無いと判定した基板について、教示情報を用いずに、位置認識標識を認識するように構成されている。このように構成すれば、基板作業装置において位置認識標識を認識可能であり、教示情報の無い基板については、教示情報を用いずに位置認識標識を認識することができるので、この場合の基板の位置認識標識の認識処理を簡易にすることができる。   In the substrate working system according to the above aspect, preferably, in the downstream substrate working apparatus, the presence / absence of the teaching information is determined, and the position-recognition mark is used for the substrate determined to have no teaching information without using the teaching information. Configured to recognize. If comprised in this way, a position recognition label | marker can be recognized in a board | substrate working apparatus, and about a board | substrate without teaching information, a position recognition label | marker can be recognized without using teaching information. The recognition process of the position recognition sign can be simplified.

本発明によれば、上記のように、上流の基板作業装置において基板の位置認識標識の認識が不良であった場合でも、ユーザの作業負担が増大するのを抑制することができる。   According to the present invention, as described above, it is possible to suppress an increase in the work burden on the user even when the recognition of the substrate position recognition mark is poor in the upstream substrate working apparatus.

本発明の一実施形態による基板作業システムの全体構成を概略的に示した図である。1 is a diagram schematically illustrating an overall configuration of a substrate working system according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態による基板作業システムの部品実装装置を概略的に示した図である。It is the figure which showed roughly the component mounting apparatus of the board | substrate work system by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による基板作業システムの第1動作例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the 1st operation example of the board | substrate work system by one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態による基板作業システムの第2動作例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the 2nd operation example of the substrate working system by one Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1を参照して、本発明の一実施形態による基板作業システム100の構成について説明する。   With reference to FIG. 1, the structure of the board | substrate working system 100 by one Embodiment of this invention is demonstrated.

(基板作業システムの構成)
本実施形態による基板作業システム100は、基板Pに部品Eを実装して、部品Eが実装された基板Pを製造するように構成されている。基板作業システム100は、図1に示すように、制御装置1と、基板供給装置2と、印刷機3と、部品実装装置4と、リフロー装置5と、検査装置6と、基板回収装置7とを備えている。部品実装装置4(4a、4b、4c)は、基板製造ラインに沿って印刷機3とリフロー装置5との間に複数設けられている。なお、制御装置1は、特許請求の範囲の「外部記憶装置」の一例であり、印刷機3、部品実装装置4(4a、4b、4c)および検査装置6は、それぞれ、特許請求の範囲の「基板作業装置」の一例である。
(Configuration of board work system)
The board working system 100 according to the present embodiment is configured to mount the component E on the board P and manufacture the board P on which the component E is mounted. As shown in FIG. 1, the substrate working system 100 includes a control device 1, a substrate supply device 2, a printing machine 3, a component mounting device 4, a reflow device 5, an inspection device 6, and a substrate recovery device 7. It has. A plurality of component mounting apparatuses 4 (4a, 4b, 4c) are provided between the printing machine 3 and the reflow apparatus 5 along the board production line. The control device 1 is an example of the “external storage device” in the claims, and the printing machine 3, the component mounting devices 4 (4a, 4b, 4c), and the inspection device 6 are respectively in the claims. It is an example of a “substrate working device”.

また、基板作業システム100では、基板製造ラインに沿って上流側(左側)から下流側(右側)に向かって基板Pが搬送されるように構成されている。また、基板作業システム100を構成する各装置(基板供給装置2、印刷機3、部品実装装置4、リフロー装置5、検査装置6および基板回収装置7)は、各々が制御部を有する自立型の装置であり、各装置の動作は、各々の制御部により個別に制御されている。また、制御装置1は、制御プログラム(生産プログラム)を実行して基板作業システム100全体を統括する役割を有している。つまり、制御装置1と各装置とが生産計画に関する情報を随時送受信することにより、基板作業システム100において部品Eが実装された基板Pの生産が行われるように構成されている。   The substrate working system 100 is configured such that the substrate P is transported from the upstream side (left side) to the downstream side (right side) along the substrate manufacturing line. In addition, each device (the substrate supply device 2, the printing machine 3, the component mounting device 4, the reflow device 5, the inspection device 6, and the substrate recovery device 7) constituting the substrate working system 100 is a self-supporting type each having a control unit. The operation of each device is individually controlled by each control unit. Further, the control device 1 has a role of executing the control program (production program) to control the entire substrate working system 100. That is, the control device 1 and each device are configured to perform production of the board P on which the component E is mounted in the board work system 100 by transmitting and receiving information on the production plan as needed.

次に、基板作業システム100を構成する各装置の構成について説明を行う。   Next, the configuration of each device constituting the substrate working system 100 will be described.

制御装置1は、基板作業システム100の各装置を制御するように構成されている。また、制御装置1は、記憶部11を備えている。たとえば、制御装置1は、基板作業システム100を管理する管理パソコンでもよい。   The control device 1 is configured to control each device of the substrate working system 100. In addition, the control device 1 includes a storage unit 11. For example, the control device 1 may be a management personal computer that manages the substrate working system 100.

基板供給装置2は、部品Eが実装される前の基板(配線基板)Pを保持するとともに基板製造ラインに搬入する役割を有する。なお、部品Eは、LSI、IC、トランジスタ、コンデンサおよび抵抗器などの小片状の電子部品を含む。   The board supply device 2 has a role of holding the board (wiring board) P before the component E is mounted and carrying it into the board production line. The component E includes small piece electronic components such as an LSI, an IC, a transistor, a capacitor, and a resistor.

印刷機3は、スクリーン印刷機であり、クリーム半田を基板Pの実装面上に塗布する機能を有する。また、印刷機3は、上流の基板供給装置2から基板Pを受け取り、印刷後下流の部品実装装置4(4a)に受け渡すように構成されている。具体的には、印刷機3は、基板Pを搬送する搬送部と、所定の位置において固定された基板Pにクリーム半田の印刷を行う作業部と、基板Pの位置を取得するための基板Pに付されたフィデューシャルマークFを撮像するための撮像部とを備えている。なお、フィデューシャルマークFは、特許請求の範囲の「位置認識標識」の一例である。   The printing machine 3 is a screen printing machine and has a function of applying cream solder onto the mounting surface of the substrate P. The printing machine 3 is configured to receive the board P from the upstream board supply apparatus 2 and deliver it to the downstream component mounting apparatus 4 (4a) after printing. Specifically, the printing machine 3 includes a transport unit that transports the substrate P, a working unit that prints cream solder on the substrate P fixed at a predetermined position, and a substrate P for acquiring the position of the substrate P. And an imaging unit for imaging the fiducial mark F attached to. The fiducial mark F is an example of the “position recognition mark” in the claims.

部品実装装置4は、クリーム半田が印刷された基板Pの所定の実装位置に部品を実装(搭載)する機能を有する。また、部品実装装置4(4a〜4c)は、基板Pの搬送方向に沿って複数配置されている。複数の部品実装装置4は、基板Pの搬送方向上流から、部品実装装置4a、部品実装装置4b、部品実装装置4cの順で配置されている。部品実装装置4a〜4cは、同様の構成を有している。また、部品実装装置4(4a〜4c)は、図2に示すように、基台41と、一対のコンベア42と、部品供給部43と、ヘッドユニット44と、支持部45と、一対のレール部46と、部品認識撮像部47とを備えている。なお、コンベア42は、特許請求の範囲の「搬送部」の一例であり、ヘッドユニット44は、特許請求の範囲の「作業部」の一例である。   The component mounting apparatus 4 has a function of mounting (mounting) a component at a predetermined mounting position of the substrate P on which cream solder is printed. A plurality of component mounting apparatuses 4 (4 a to 4 c) are arranged along the conveyance direction of the board P. The plurality of component mounting apparatuses 4 are arranged in the order of the component mounting apparatus 4a, the component mounting apparatus 4b, and the component mounting apparatus 4c from the upstream in the conveyance direction of the board P. The component mounting apparatuses 4a to 4c have the same configuration. As shown in FIG. 2, the component mounting apparatus 4 (4a to 4c) includes a base 41, a pair of conveyors 42, a component supply unit 43, a head unit 44, a support unit 45, and a pair of rails. Unit 46 and a component recognition imaging unit 47. The conveyor 42 is an example of the “conveying unit” in the claims, and the head unit 44 is an example of the “working unit” in the claims.

一対のコンベア42は、基台41上に設置され、基板PをX方向に搬送するように構成されている。また、一対のコンベア42は、搬送中の基板Pを実装作業位置で停止させた状態で保持するように構成されている。また、一対のコンベア42は、基板Pの寸法に合わせてY方向の間隔を調整可能に構成されている。   The pair of conveyors 42 is installed on the base 41 and configured to transport the substrate P in the X direction. The pair of conveyors 42 is configured to hold the substrate P being transported in a state where it is stopped at the mounting work position. The pair of conveyors 42 is configured to be able to adjust the interval in the Y direction according to the dimensions of the substrate P.

部品供給部43は、一対のコンベア42の外側(Y1側およびY2側)に配置されている。また、部品供給部43には、複数のテープフィーダ43aが配置されている。   The component supply unit 43 is disposed outside the pair of conveyors 42 (Y1 side and Y2 side). The component supply unit 43 is provided with a plurality of tape feeders 43a.

テープフィーダ43aは、複数の部品Eを所定の間隔を隔てて保持したテープが巻き付けられたリール(図示せず)を保持している。テープフィーダ43aは、リールを回転させて部品Eを保持するテープを送出することにより、テープフィーダ43aの先端から部品Eを供給するように構成されている。   The tape feeder 43a holds a reel (not shown) around which a tape holding a plurality of components E at a predetermined interval is wound. The tape feeder 43a is configured to supply the component E from the tip of the tape feeder 43a by sending a tape that holds the component E by rotating the reel.

ヘッドユニット44は、一対のコンベア42の上方と部品供給部43の上方との間を移動するように設けられており、ノズルが下端に取り付けられた複数(5つ)の実装ヘッド441と、基板認識カメラ442とを含んでいる。なお、基板認識カメラ442は、特許請求の範囲の「撮像部」の一例である。   The head unit 44 is provided so as to move between the pair of conveyors 42 and the component supply unit 43, and a plurality (five) of mounting heads 441 having nozzles attached to the lower end, a board, A recognition camera 442. The substrate recognition camera 442 is an example of the “imaging unit” in the claims.

実装ヘッド441は、昇降可能(Z方向に移動可能)に構成され、負圧発生機(図示せず)によりノズルの先端部に発生された負圧によって、テープフィーダ43aから供給される部品Eを吸着して保持し、基板Pにおける実装位置に部品Eを装着(実装)するように構成されている。   The mounting head 441 is configured to be movable up and down (movable in the Z direction), and the component E supplied from the tape feeder 43a by the negative pressure generated at the tip of the nozzle by a negative pressure generator (not shown). It is configured to adsorb and hold, and to mount (mount) the component E at the mounting position on the substrate P.

基板認識カメラ442は、基板Pの位置および姿勢を認識するために、基板PのフィデューシャルマークFを撮像するように構成されている。そして、フィデューシャルマークFの位置を撮像して認識することにより、基板Pにおける部品Eの実装位置を正確に取得することが可能である。   The substrate recognition camera 442 is configured to capture the fiducial mark F of the substrate P in order to recognize the position and orientation of the substrate P. Then, by imaging and recognizing the position of the fiducial mark F, it is possible to accurately acquire the mounting position of the component E on the board P.

支持部45は、モータ451を含んでいる。支持部45は、モータ451を駆動させることにより、支持部45に沿ってヘッドユニット44をX方向に移動させるように構成されている。支持部45は、両端部が一対のレール部46により支持されている。   The support part 45 includes a motor 451. The support unit 45 is configured to move the head unit 44 in the X direction along the support unit 45 by driving a motor 451. Both ends of the support portion 45 are supported by a pair of rail portions 46.

一対のレール部46は、基台41上に固定されている。X1側のレール部46は、モータ461を含んでいる。レール部46は、モータ461を駆動させることにより、支持部45を一対のレール部46に沿ってX方向と直交するY方向に移動させるように構成されている。ヘッドユニット44が支持部45に沿ってX方向に移動可能であるとともに、支持部45がレール部46に沿ってY方向に移動可能であることによって、ヘッドユニット44はXY方向に移動可能である。   The pair of rail portions 46 are fixed on the base 41. The rail portion 46 on the X1 side includes a motor 461. The rail portion 46 is configured to move the support portion 45 in the Y direction perpendicular to the X direction along the pair of rail portions 46 by driving the motor 461. The head unit 44 is movable in the X direction along the support portion 45, and the support portion 45 is movable in the Y direction along the rail portion 46, whereby the head unit 44 is movable in the XY direction. .

部品認識撮像部47は、基台41の上面上に固定されている。部品認識撮像部47は、一対のコンベア42の外側(Y1側およびY2側)に配置されている。部品認識撮像部47は、部品Eの実装に先立って部品Eの吸着状態(吸着姿勢)を認識するために、実装ヘッド441のノズルに吸着された部品Eを下側(Z2側)から撮像するように構成されている。これにより、実装ヘッド441のノズルに吸着された部品Eの吸着状態を取得することが可能である。   The component recognition imaging unit 47 is fixed on the upper surface of the base 41. The component recognition imaging unit 47 is disposed outside the pair of conveyors 42 (Y1 side and Y2 side). The component recognition imaging unit 47 images the component E sucked by the nozzle of the mounting head 441 from the lower side (Z2 side) in order to recognize the suction state (suction posture) of the component E prior to the mounting of the component E. It is configured as follows. Thereby, it is possible to acquire the suction state of the component E sucked by the nozzles of the mounting head 441.

リフロー装置5は、加熱処理を行うことにより半田を溶融させて部品Eを基板P上の電極部に接合する役割を有する。リフロー装置5は、レーン上の基板Pを搬送しながら、加熱処理を行うように構成されている。   The reflow device 5 has a role of melting the solder by performing a heat treatment and joining the component E to the electrode portion on the substrate P. The reflow apparatus 5 is configured to perform heat treatment while transporting the substrate P on the lane.

検査装置6は、可視光により基板Pの外観を検査する機能を有する。また、検査装置6は、上流のリフロー装置5から基板Pを受け取り、検査後下流の基板回収装置7に受け渡すように構成されている。具体的には、検査装置6は、基板Pを搬送する搬送部と、所定の位置において固定された基板Pの検査を行う作業部と、基板Pの位置を取得するための基板Pに付されたフィデューシャルマークFを撮像するための撮像部とを備えている。   The inspection device 6 has a function of inspecting the appearance of the substrate P with visible light. The inspection apparatus 6 is configured to receive the substrate P from the upstream reflow apparatus 5 and deliver it to the downstream substrate recovery apparatus 7 after the inspection. Specifically, the inspection apparatus 6 is attached to a transport unit that transports the substrate P, a working unit that inspects the substrate P fixed at a predetermined position, and the substrate P for acquiring the position of the substrate P. And an imaging unit for imaging the fiducial mark F.

基板回収装置7は、部品Eが実装された後の基板Pを基板製造ラインから排出する役割を有する。   The substrate collection device 7 has a role of discharging the substrate P after the component E is mounted from the substrate production line.

ここで、本実施形態では、上流側の基板作業装置(たとえば、印刷機3または部品実装装置4a)において、撮像部により撮像された画像中の基板PのフィデューシャルマークFをユーザの教示に基づいて認識した場合、下流側の基板作業装置(たとえば、部品実装装置4a〜4cおよび検査装置6)において、上流側の基板作業装置におけるユーザの教示に基づいて認識された基板PのフィデューシャルマークFの教示情報を用いて、フィデューシャルマークFが認識されるように構成されている。   Here, in the present embodiment, in the upstream substrate working device (for example, the printing machine 3 or the component mounting device 4a), the fiducial mark F of the substrate P in the image captured by the imaging unit is taught by the user. When the recognition is performed based on the instruction of the user in the upstream substrate working apparatus in the downstream substrate working apparatus (for example, the component mounting apparatuses 4a to 4c and the inspection apparatus 6), the fiducial of the substrate P recognized. The fiducial mark F is configured to be recognized using the teaching information of the mark F.

具体的には、基板作業装置(印刷機3、部品実装装置4、検査装置6)において基板PのフィデューシャルマークFを認識できない場合に、基板PのフィデューシャルマークFがユーザの教示に基づいて認識されるように構成されている。たとえば、図3に示すように、基板Pの左上のフィデューシャルマークFが鮮明ではなく、撮像部による撮像した画像では認識できない場合、ユーザにより画像中のフィデューシャルマークFの位置が教示される。たとえば、ユーザによりフィデューシャルマークFの中心位置が教示される。具体的には、フィデューシャルマークFの中心位置の教示は、基板作業装置(印刷機3、部品実装装置4、検査装置6)に設けられたモニタにフィデューシャルマークFの画像を表示し、ユーザが画像上のフィデューシャルマークFの中心位置を指定することにより行われる。これにより、基板作業装置は、基板PのフィデューシャルマークFの位置を認識する。   Specifically, if the fiducial mark F on the board P cannot be recognized by the board working device (printing machine 3, component mounting apparatus 4, inspection apparatus 6), the fiducial mark F on the board P is instructed by the user. It is comprised so that it may be recognized based on. For example, as shown in FIG. 3, when the fiducial mark F at the upper left of the substrate P is not clear and cannot be recognized by an image captured by the imaging unit, the position of the fiducial mark F in the image is taught by the user. The For example, the center position of the fiducial mark F is taught by the user. Specifically, the teaching of the center position of the fiducial mark F is performed by displaying an image of the fiducial mark F on a monitor provided in the board working apparatus (printing machine 3, component mounting apparatus 4, inspection apparatus 6). The user designates the center position of the fiducial mark F on the image. Accordingly, the substrate working apparatus recognizes the position of the fiducial mark F on the substrate P.

そして、上流側の基板作業装置(たとえば、印刷機3または部品実装装置4a)において、撮像部により撮像された画像中の基板PのフィデューシャルマークFがユーザの教示に基づいて認識された場合、フィデューシャルマークF近辺の画像情報と、ユーザの教示に基づくフィデューシャルマークFの位置情報とを含む教示情報が、下流側の基板作業装置(たとえば、部品実装装置4a〜4cおよび検査装置6)が利用可能なように送信されるように構成されている。たとえば、下流側の基板作業装置は、フィデューシャルマークF近辺の画像情報と、ユーザの教示に基づくフィデューシャルマークFの位置情報と、自身の撮像部により撮像した基板PのフィデューシャルマークFの画像とに基づいて、テンプレートマッチングを行い、基板PのフィデューシャルマークFの位置を認識するように構成されている。   Then, in the upstream substrate working device (for example, the printing machine 3 or the component mounting device 4a), when the fiducial mark F of the substrate P in the image captured by the imaging unit is recognized based on the teaching of the user. The teaching information including the image information in the vicinity of the fiducial mark F and the position information of the fiducial mark F based on the user's teaching is obtained from the downstream board working apparatus (for example, the component mounting apparatuses 4a to 4c and the inspection apparatus). 6) is configured to be transmitted so that it can be used. For example, the substrate working apparatus on the downstream side includes the image information in the vicinity of the fiducial mark F, the position information of the fiducial mark F based on the user's instruction, and the fiducial mark of the substrate P imaged by its own imaging unit. Based on the image of F, template matching is performed to recognize the position of the fiducial mark F on the substrate P.

また、上流側の基板作業装置(たとえば、印刷機3または部品実装装置4a)において、撮像部により撮像された画像中の基板PのフィデューシャルマークFがユーザの教示に基づいて認識された場合、フィデューシャルマークFを認識可能な認識アルゴリズム情報、および、フィデューシャルマークFを認識可能な認識パラメータのうち少なくとも1つを含む教示情報が、下流側の基板作業装置(たとえば、部品実装装置4a〜4cおよび検査装置6)が利用可能なように送信されるように構成されている。たとえば、上流側の基板作業装置に、認識エラーが発生した場合において、フィデューシャルマークFの位置をユーザにより教示された場合、教示位置付近を認識可能な認識アルゴリズムおよび認識パラメータが探索されて、認識可能な認識アルゴリズムおよび認識パラメータが教示情報として、下流側の基板作業装置が利用可能なように送信される。また、教示情報は、平滑化フィルタをかけてフィデューシャルマークFの認識を行う場合、平滑化フィルタの認識可能な認識アルゴリズムおよび認識パラメータを含む。   Further, when the fiducial mark F of the board P in the image picked up by the image pickup unit is recognized based on the instruction of the user in the upstream board working apparatus (for example, the printing machine 3 or the component mounting apparatus 4a). The teaching information including at least one of the recognition algorithm information capable of recognizing the fiducial mark F and the recognition parameter capable of recognizing the fiducial mark F is obtained from the downstream board working apparatus (for example, the component mounting apparatus). 4a-4c and inspection device 6) are configured to be transmitted in a usable manner. For example, when a recognition error has occurred in the upstream substrate working apparatus, when the position of the fiducial mark F is taught by the user, a recognition algorithm and a recognition parameter that can recognize the vicinity of the teaching position are searched, Recognizable recognition algorithms and recognition parameters are transmitted as teaching information so that the downstream substrate working apparatus can be used. The teaching information includes a recognition algorithm and a recognition parameter that can be recognized by the smoothing filter when the smoothing filter is applied to recognize the fiducial mark F.

また、教示情報は、基板Pの搬送とともに、上流側の基板作業装置から下流側の基板作業装置に送信されるように構成されている。つまり、基板Pを上流側の基板作業装置から下流側の基板作業装置に搬送するタイミングで、教示情報が上流側の基板作業装置から下流側の基板作業装置に転送されるように構成されている。   In addition, the teaching information is configured to be transmitted from the upstream substrate working apparatus to the downstream substrate working apparatus along with the transport of the substrate P. That is, the teaching information is transferred from the upstream substrate working apparatus to the downstream substrate working apparatus at the timing when the substrate P is transported from the upstream substrate working apparatus to the downstream substrate working apparatus. .

また、教示情報は、基板Pの個体識別情報とともに、外部の制御装置1に送信されるとともに、下流側の基板作業装置において、外部の制御装置1に記憶された教示情報と、基板Pの個体識別情報とを用いて、フィデューシャルマークFが認識されるように構成されている。なお、基板Pの個体識別情報(ID)は、撮像部による撮像などにより取得される。固体子識別情報は、文字、記号、2次元バーコード(QRコード(登録商標))、3次元バーコードなどとして基板Pに付されている。   Further, the teaching information is transmitted to the external control device 1 together with the individual identification information of the substrate P, and the teaching information stored in the external control device 1 and the individual of the substrate P in the downstream substrate working device. The fiducial mark F is configured to be recognized using the identification information. Note that the individual identification information (ID) of the substrate P is acquired by imaging by the imaging unit. The solid identification information is attached to the substrate P as characters, symbols, a two-dimensional barcode (QR code (registered trademark)), a three-dimensional barcode, and the like.

また、下流側の基板作業装置(たとえば、部品実装装置4a〜4cおよび検査装置6)において、教示情報の有無を判定し、教示情報が無いと判定した基板Pについて、教示情報を用いずに、フィデューシャルマークFを認識するように構成されている。つまり、下流側の基板作業装置では、教示情報の有無を確認して、教示情報が無ければ、通常のフィデューシャルマークFの認識処理が行われる。   Further, in the downstream board working apparatus (for example, the component mounting apparatuses 4a to 4c and the inspection apparatus 6), the presence / absence of teaching information is determined, and the teaching information is not used for the board P determined to have no teaching information. It is configured to recognize the fiducial mark F. That is, the downstream substrate working apparatus confirms the presence / absence of teaching information, and if there is no teaching information, a normal fiducial mark F recognition process is performed.

(部品実装動作例の説明)
次に、図3および図4を参照して、基板作業システム100の部品実装動作について説明する。
(Explanation of component mounting operation example)
Next, the component mounting operation of the board working system 100 will be described with reference to FIGS. 3 and 4.

図3に示す第1動作例は、教示情報が基板Pの搬送とともに、上流側の基板作業装置から下流側の基板作業装置に送信されるように構成されている。   The first operation example shown in FIG. 3 is configured such that teaching information is transmitted from the upstream substrate working apparatus to the downstream substrate working apparatus as the substrate P is transported.

上流側の基板作業装置(印刷機3)において、フィデューシャルマークFの認識エラーが発生すると、上流側の基板作業装置(印刷機3)に対して、フィデューシャルマークFの位置がユーザにより教示される。この際、ユーザの教示に基づくフィデューシャルマークFの位置と、フィデューシャルマークFの近辺の画像情報が教示情報として作成される。   When a recognition error of the fiducial mark F occurs in the upstream substrate working apparatus (printing machine 3), the position of the fiducial mark F is determined by the user with respect to the upstream substrate working apparatus (printing machine 3). Be taught. At this time, the position of the fiducial mark F based on the user's teaching and image information in the vicinity of the fiducial mark F are created as teaching information.

上流側の基板作業装置(印刷機3)から下流側の基板作業装置(部品実装装置4a)に基板Pが搬送されることに合わせて、教示情報が上流側の基板作業装置(印刷機3)から下流側の基板作業装置(部品実装装置4a)に送信される。下流側の基板作業装置(部品実装装置4a)では、教示情報の有無を確認後、教示情報がある場合、教示情報と、撮像部による撮像結果とに基づいて、基板PのフィデューシャルマークFの位置を認識する。その後、同様にして、基板Pの搬送に合わせて教示情報が送信される。また、送信後の教示情報は、各基板作業装置において削除される。   In accordance with the transfer of the board P from the upstream board working apparatus (printing machine 3) to the downstream board working apparatus (component mounting apparatus 4a), the teaching information is sent to the upstream board working apparatus (printing machine 3). To the downstream board working apparatus (component mounting apparatus 4a). In the downstream board working apparatus (component mounting apparatus 4a), after confirming the presence or absence of teaching information, if there is teaching information, the fiducial mark F on the board P is based on the teaching information and the imaging result by the imaging unit. Recognize the position of Thereafter, similarly, teaching information is transmitted in accordance with the conveyance of the substrate P. Moreover, the teaching information after transmission is deleted in each substrate working apparatus.

図4に示す第2動作例は、教示情報が基板Pの個体識別情報とともに、外部の制御装置1に送信されるように構成されている。   The second operation example shown in FIG. 4 is configured so that the teaching information is transmitted to the external control device 1 together with the individual identification information of the substrate P.

上流側の基板作業装置(印刷機3)において、フィデューシャルマークFの認識エラーが発生すると、上流側の基板作業装置(印刷機3)に対して、フィデューシャルマークFの位置がユーザにより教示される。この際、ユーザの教示に基づくフィデューシャルマークFの位置と、フィデューシャルマークFの近辺の画像情報が教示情報として作成される。そして、基板Pの個体識別情報(ID)と教示情報とが合わせて制御装置1に送信される。送信された基板Pの個体識別情報と教示情報とは、制御装置1の記憶部11に記憶される。   When a recognition error of the fiducial mark F occurs in the upstream substrate working apparatus (printing machine 3), the position of the fiducial mark F is determined by the user with respect to the upstream substrate working apparatus (printing machine 3). Be taught. At this time, the position of the fiducial mark F based on the user's teaching and image information in the vicinity of the fiducial mark F are created as teaching information. Then, the individual identification information (ID) of the board P and the teaching information are transmitted to the control device 1 together. The transmitted individual identification information and teaching information of the substrate P are stored in the storage unit 11 of the control device 1.

下流側の基板作業装置(部品実装装置4a)では、基板Pの個体識別情報に基づいて、制御装置1に教示情報が有るか否かを確認する。教示情報がある場合、下流側の基板作業装置(部品実装装置4a)では、教示情報と、撮像部による撮像結果とに基づいて、基板PのフィデューシャルマークFの位置を認識する。その後、同様にして、下流側の基板作業装置(部品実装装置4b、4cおよび検査装置6)においても、基板Pの個体識別情報に基づいて、教示情報が取得され、教示情報に基づいて、基板PのフィデューシャルマークFが認識される。そして、最下流の基板作業装置(検査装置6)において、フィデューシャルマークFの認識後、該当の基板Pの個体識別情報に対応する教示情報が制御装置1(記憶部11)から削除される。   In the downstream board working apparatus (component mounting apparatus 4a), based on the individual identification information of the board P, it is confirmed whether the control apparatus 1 has teaching information. When there is teaching information, the downstream board working apparatus (component mounting apparatus 4a) recognizes the position of the fiducial mark F on the board P based on the teaching information and the imaging result by the imaging unit. Thereafter, in the same manner, in the downstream board working apparatuses (component mounting apparatuses 4b and 4c and the inspection apparatus 6), the teaching information is acquired based on the individual identification information of the board P, and the board is determined based on the teaching information. P fiducial mark F is recognized. Then, in the most downstream substrate working device (inspection device 6), after the fiducial mark F is recognized, the teaching information corresponding to the individual identification information of the substrate P is deleted from the control device 1 (storage unit 11). .

(実施形態の効果)
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
(Effect of embodiment)
In the present embodiment, the following effects can be obtained.

本実施形態では、上記のように、上流側の基板作業装置において、撮像部により撮像された画像中の基板PのフィデューシャルマークFをユーザの教示に基づいて認識した場合、下流側の基板作業装置において、上流側の基板作業装置におけるユーザの教示に基づいて認識された基板PのフィデューシャルマークFの教示情報を用いて、フィデューシャルマークFを認識するように構成する。これにより、上流側の基板作業装置において、基板PのフィデューシャルマークFの認識不良があった場合でも、ユーザが上流の基板作業装置についてのみ教示を行うことにより、下流側の基板作業装置においても基板PのフィデューシャルマークFを認識することができるので、複数の基板作業装置の全てにおいて基板PのフィデューシャルマークFをユーザが教示する必要がない。その結果、上流の基板作業装置において基板PのフィデューシャルマークFの認識が不良であった場合でも、ユーザの作業負担が増大するのを抑制することができる。また、下流側の基板作業装置において、基板PのフィデューシャルマークFの認識不良に起因して基板作業装置が停止することを抑制することができるので、基板Pに対する作業効率を向上させることができる。   In the present embodiment, as described above, in the upstream substrate working apparatus, when the fiducial mark F of the substrate P in the image captured by the imaging unit is recognized based on the user's teaching, the downstream substrate The working device is configured to recognize the fiducial mark F using the teaching information of the fiducial mark F of the substrate P recognized based on the user's teaching in the upstream substrate working device. Thereby, even if there is a recognition failure of the fiducial mark F of the substrate P in the upstream substrate working apparatus, the user can teach only the upstream substrate working device, so that the downstream substrate working apparatus can Since the fiducial mark F on the substrate P can also be recognized, it is not necessary for the user to teach the fiducial mark F on the substrate P in all of the plurality of substrate working apparatuses. As a result, it is possible to suppress an increase in the work burden on the user even when the recognition of the fiducial mark F on the substrate P is poor in the upstream substrate working apparatus. Further, in the substrate working apparatus on the downstream side, it is possible to prevent the substrate working apparatus from being stopped due to the recognition failure of the fiducial mark F on the substrate P, so that the working efficiency for the substrate P can be improved. it can.

また、本実施形態では、基板作業装置において基板PのフィデューシャルマークFを認識できない場合に、基板PのフィデューシャルマークFをユーザの教示に基づいて認識するように構成する。これにより、基板PのフィデューシャルマークFを基板作業装置により認識できない場合でも、ユーザの教示により、基板PのフィデューシャルマークFを確実に認識することができる。   Moreover, in this embodiment, when the fiducial mark F of the board | substrate P cannot be recognized in a board | substrate working apparatus, it comprises so that the fiducial mark F of the board | substrate P may be recognized based on a user's teaching. Thereby, even when the fiducial mark F on the substrate P cannot be recognized by the substrate working apparatus, the fiducial mark F on the substrate P can be reliably recognized by the user's instruction.

また、本実施形態では、上流側の基板作業装置において、撮像部により撮像された画像中の基板PのフィデューシャルマークFをユーザの教示に基づいて認識した場合、フィデューシャルマークF近辺の画像情報と、ユーザの教示に基づくフィデューシャルマークFの位置情報とを含む教示情報を、下流側の基板作業装置が利用可能なように送信するように構成する。これにより、フィデューシャルマークF近辺の画像情報と、ユーザの教示に基づくフィデューシャルマークFの位置情報とを含む教示情報に基づいて、下流側の基板作業装置において、基板PのフィデューシャルマークFを容易に認識することができる。   In the present embodiment, when the upstream substrate working apparatus recognizes the fiducial mark F of the substrate P in the image captured by the imaging unit based on the user's teaching, the vicinity of the fiducial mark F is detected. The teaching information including the image information and the positional information of the fiducial mark F based on the user's teaching is configured to be transmitted so that the downstream substrate working apparatus can be used. Thereby, the fiducial of the substrate P is performed in the downstream substrate working apparatus based on the teaching information including the image information in the vicinity of the fiducial mark F and the position information of the fiducial mark F based on the user's teaching. The mark F can be easily recognized.

また、本実施形態では、上流側の基板作業装置において、撮像部により撮像された画像中の基板PのフィデューシャルマークFをユーザの教示に基づいて認識した場合、フィデューシャルマークFを認識可能な認識アルゴリズム情報、および、フィデューシャルマークFを認識可能な認識パラメータのうち少なくとも1つを含む教示情報を、下流側の基板作業装置が利用可能なように送信するように構成する。これにより、フィデューシャルマークFを認識可能な認識アルゴリズム情報、および、フィデューシャルマークFを認識可能な認識パラメータのうち少なくとも1つを含む教示情報に基づいて、下流側の基板作業装置において、基板PのフィデューシャルマークFを容易に認識することができる。   Further, in the present embodiment, when the fiducial mark F of the substrate P in the image captured by the imaging unit is recognized based on the user's teaching in the upstream substrate working apparatus, the fiducial mark F is recognized. The teaching information including at least one of the possible recognition algorithm information and the recognition parameter capable of recognizing the fiducial mark F is configured to be transmitted so that the downstream substrate working apparatus can be used. Thereby, based on the teaching algorithm information including at least one of the recognition algorithm information capable of recognizing the fiducial mark F and the recognition parameter capable of recognizing the fiducial mark F, in the downstream substrate working apparatus, The fiducial mark F on the substrate P can be easily recognized.

また、本実施形態では、教示情報は、基板Pの搬送とともに、上流側の基板作業装置から下流側の基板作業装置に送信されるように構成する。これにより、基板Pの搬送とともに、教示情報を下流側の基板作業装置に移転させることができるので、下流側の基板作業装置において、基板PのフィデューシャルマークFを確実に認識することができる。   Further, in the present embodiment, the teaching information is configured to be transmitted from the upstream substrate working apparatus to the downstream substrate working apparatus as the substrate P is transported. As a result, the teaching information can be transferred to the downstream substrate working apparatus along with the transport of the substrate P, so that the fiducial mark F of the substrate P can be reliably recognized in the downstream substrate working apparatus. .

また、本実施形態では、教示情報は、基板Pの個体識別情報とともに、外部の制御装置1に送信されるとともに、下流側の基板作業装置において、外部の制御装置1に記憶された教示情報と、基板Pの個体識別情報とを用いて、フィデューシャルマークFを認識するように構成する。これにより、下流側の基板作業装置において、外部の制御装置1に記憶された教示情報と、基板Pの個体識別情報とを用いて、基板PのフィデューシャルマークFを確実に認識することができる。   In the present embodiment, the teaching information is transmitted to the external control device 1 together with the individual identification information of the substrate P, and the teaching information stored in the external control device 1 in the downstream substrate working device The fiducial mark F is recognized using the individual identification information of the substrate P. Thus, the downstream substrate working apparatus can reliably recognize the fiducial mark F of the substrate P using the teaching information stored in the external control device 1 and the individual identification information of the substrate P. it can.

また、本実施形態では、下流側の基板作業装置において、教示情報の有無を判定し、教示情報が無いと判定した基板Pについて、教示情報を用いずに、フィデューシャルマークFを認識するように構成する。これにより、基板作業装置においてフィデューシャルマークFを認識可能であり、教示情報の無い基板Pについては、教示情報を用いずにフィデューシャルマークFを認識することができるので、この場合の基板PのフィデューシャルマークFの認識処理を簡易にすることができる。   In the present embodiment, the substrate working apparatus on the downstream side determines the presence or absence of teaching information, and recognizes the fiducial mark F without using the teaching information for the substrate P determined to have no teaching information. Configure. Accordingly, the fiducial mark F can be recognized in the substrate working apparatus, and the fiducial mark F can be recognized without using the teaching information for the substrate P without teaching information. The recognition process of the fiducial mark F of P can be simplified.

(変形例)
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
(Modification)
The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiment but by the scope of claims for patent, and further includes all modifications (modifications) within the meaning and scope equivalent to the scope of claims for patent.

たとえば、上記実施形態では、基板作業装置として、印刷機、部品実装装置および検査装置を用いる構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、基板作業装置として、印刷機、部品実装装置および検査装置以外の装置を用いてもよい。   For example, in the above-described embodiment, an example of a configuration using a printing machine, a component mounting apparatus, and an inspection apparatus as the board working apparatus has been shown, but the present invention is not limited to this. In the present invention, an apparatus other than a printing machine, a component mounting apparatus, and an inspection apparatus may be used as the board working apparatus.

また、上記実施形態では、基板の位置認識標識がフィデューシャルマークである構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、基板の位置認識標識が、基板上の丸或いは四角などの形状のマーク、または、導電パターンなどであってもよい。   In the above-described embodiment, an example in which the substrate position recognition mark is a fiducial mark is shown, but the present invention is not limited to this. In the present invention, the substrate position recognition mark may be a round or square mark on the substrate, a conductive pattern, or the like.

また、上記実施形態では、部品供給部が複数のテープフィーダを含む構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、部品供給部が、部品供給トレイを含んでいてもよい。   Moreover, although the component supply part showed the example of the structure containing a some tape feeder in the said embodiment, this invention is not limited to this. In the present invention, the component supply unit may include a component supply tray.

また、上記実施形態では、基板作業装置としての検査装置が、可視光により基板を検査する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、検査装置は、X線を照射して撮像した画像に基づいて基板を検査する構成であってもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the test | inspection apparatus as a board | substrate working apparatus showed the example of a structure which test | inspects a board | substrate by visible light, this invention is not limited to this. In this invention, the structure which test | inspects a board | substrate based on the image imaged by irradiating X-rays may be sufficient as an inspection apparatus.

また、上記実施形態では、基板作業システムに制御装置が設けられている構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、複数の基板作業装置のそれぞれの制御部により基板の作業処理が制御されてもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the example of the structure by which the control apparatus was provided in the board | substrate work system was shown, this invention is not limited to this. In the present invention, the substrate processing may be controlled by the respective control units of the plurality of substrate working apparatuses.

1 制御装置(外部記憶装置)
3 印刷機(基板作業装置)
4、4a、4b、4c 部品実装装置(基板作業装置)
6 検査装置(基板作業装置)
42 コンベア(搬送部)
44 ヘッドユニット(作業部)
100 基板作業システム
442 基板認識カメラ(撮像部)
F フィデューシャルマーク(位置認識標識)
P 基板
1 Control device (external storage device)
3 Printing machine (substrate working device)
4, 4a, 4b, 4c Component mounting equipment (board work equipment)
6 Inspection equipment (substrate work equipment)
42 Conveyor (conveyance section)
44 Head unit (working section)
100 substrate working system 442 substrate recognition camera (imaging unit)
F Fiducial mark (position recognition sign)
P substrate

Claims (7)

基板を搬送する搬送部と、前記搬送部により搬送され、所定の位置において固定された前記基板に所定の作業を行う作業部と、前記基板の位置を取得するための前記基板に付された位置認識標識を撮像するための撮像部とをそれぞれ含む複数の基板作業装置を備え、
上流側の前記基板作業装置において、前記撮像部により撮像された画像中の前記基板の前記位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識した場合、下流側の前記基板作業装置において、上流側の前記基板作業装置におけるユーザの教示に基づいて認識された前記基板の前記位置認識標識の教示情報を用いて、前記位置認識標識を認識するように構成されている、基板作業システム。
A transport unit that transports the substrate, a working unit that performs a predetermined operation on the substrate transported by the transport unit and fixed at a predetermined position, and a position attached to the substrate for acquiring the position of the substrate A plurality of substrate working devices each including an imaging unit for imaging a recognition sign,
In the upstream substrate working apparatus, when the position recognition mark of the substrate in the image captured by the imaging unit is recognized based on a user's teaching, in the downstream substrate working apparatus, the upstream upstream A substrate working system configured to recognize the position recognition sign using teaching information of the position recognition sign of the substrate recognized based on a user instruction in the substrate working apparatus.
前記基板作業装置において前記基板の前記位置認識標識を認識できない場合に、前記基板の前記位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識するように構成されている、請求項1に記載の基板作業システム。   2. The substrate working system according to claim 1, wherein the position recognition mark of the substrate is recognized based on a user's instruction when the position recognition mark of the substrate cannot be recognized in the substrate work device. . 上流側の前記基板作業装置において、前記撮像部により撮像された画像中の前記基板の前記位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識した場合、前記位置認識標識近辺の画像情報と、ユーザの教示に基づく前記位置認識標識の位置情報とを含む前記教示情報を、下流側の前記基板作業装置が利用可能なように送信するように構成されている、請求項1または2に記載の基板作業システム。   In the upstream substrate working apparatus, when the position recognition sign of the substrate in the image captured by the imaging unit is recognized based on the user's teaching, image information near the position recognition sign and the user's teaching 3. The substrate working system according to claim 1, wherein the teaching information including the position information of the position recognition mark based on the information is transmitted so that the substrate working apparatus on the downstream side can use the teaching information. . 上流側の前記基板作業装置において、前記撮像部により撮像された画像中の前記基板の前記位置認識標識をユーザの教示に基づいて認識した場合、前記位置認識標識を認識可能な認識アルゴリズム情報、および、前記位置認識標識を認識可能な認識パラメータのうち少なくとも1つを含む前記教示情報を、下流側の前記基板作業装置が利用可能なように送信するように構成されている、請求項1〜3のいずれか1項に記載の基板作業システム。   In the upstream substrate working apparatus, when the position recognition mark of the substrate in the image picked up by the image pickup unit is recognized based on a user's teaching, recognition algorithm information capable of recognizing the position recognition mark; and The teaching information including at least one of recognition parameters capable of recognizing the position recognition mark is configured to be transmitted so that the substrate working apparatus on the downstream side can use the teaching information. The substrate working system according to any one of the above. 前記教示情報は、前記基板の搬送とともに、上流側の前記基板作業装置から下流側の前記基板作業装置に送信されるように構成されている、請求項1〜4のいずれか1項に記載の基板作業システム。   The said teaching information is comprised so that it may be transmitted to the said board | substrate working apparatus of the downstream from the said board | substrate working apparatus of the upstream with the conveyance of the said board | substrate. Board work system. 前記教示情報が記憶される外部記憶装置をさらに備え、
前記教示情報は、前記基板の個体識別情報とともに、前記外部記憶装置に送信されるとともに、
下流側の前記基板作業装置において、前記外部記憶装置に記憶された前記教示情報と、前記基板の個体識別情報とを用いて、前記位置認識標識を認識するように構成されている、請求項1〜5のいずれか1項に記載の基板作業システム。
An external storage device for storing the teaching information;
The teaching information is transmitted to the external storage device together with the individual identification information of the substrate,
The downstream substrate work apparatus is configured to recognize the position recognition mark using the teaching information stored in the external storage device and the individual identification information of the board. The board | substrate work system of any one of -5.
下流側の前記基板作業装置において、前記教示情報の有無を判定し、前記教示情報が無いと判定した前記基板について、前記教示情報を用いずに、前記位置認識標識を認識するように構成されている、請求項1〜6のいずれか1項に記載の基板作業システム。   In the substrate working apparatus on the downstream side, it is configured to determine the presence / absence of the teaching information, and recognize the position recognition sign without using the teaching information for the substrate determined to have no teaching information. The substrate working system according to any one of claims 1 to 6.
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