JP2017044596A - 膜厚測定装置および膜厚測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】透明膜の複数の点の膜厚を一括して推定することが可能な膜厚測定装置を提供する。【解決手段】この膜厚測定装置100は、カラーカメラ40により撮像された干渉画像の観測点番号をi、単色光の波長の種類に対する番号をj、単色光の波長をλ(j)、複数層の透明膜60の層数をN、複数層の透明膜60のうちのk番目の層の透明膜の膜屈折率をnk、観測点において観測された輝度値をg(i,j)、白色光源10から入射される光の入射光量をI0(j)、複数の波長の単色光の平均輝度をa(j)、反射光の干渉変調度をbij(j)、複数層の透明膜60のうちのk番目の層の透明膜の膜厚をtk(i)とした場合、式(1)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する制御部50を備える。【選択図】図1
Description
この発明は、膜厚測定装置および膜厚測定方法に関する。
従来、膜厚測定装置および膜厚測定方法が知られている(たとえば、特許文献1参照)。
上記特許文献1では、1層の透明膜の複数の点の反射光の情報を用いて、複数の点の膜厚を一括して推定する膜厚測定装置および膜厚測定方法が開示されている。この膜厚測定装置および膜厚測定方法では、複数の波長の単色光を含む光が測定対象である1層の透明膜に照射される。そして、1層の透明膜の表面からの反射光と裏面からの反射光とにより生成される干渉画像から複数の観測点が選択され、選択された観測点の干渉画像の輝度信号と、所定の干渉縞モデル(透明膜についての干渉縞モデル)とに基づいて、複数の点の膜厚が一括して推定されるように構成されている。
しかしながら、上記特許文献1に記載の膜厚測定装置および膜厚測定方法では、1層の透明膜の複数の点の膜厚が一括して推定されるように構成されている一方、複数層の透明膜では、複数の点の膜厚を一括して推定することは困難である。このため、従来では、複数層の透明膜についても複数の点の膜厚を一括して推定することが望まれている。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、複数層の透明膜の複数の点の膜厚を一括して推定することが可能な膜厚測定装置および膜厚測定方法を提供することである。
上記目的を達成するために、この発明の第1の局面による膜厚測定装置は、測定対象である複数層の透明膜に複数の波長の単色光を含む光を照射する光源と、光源から照射され、複数層の透明膜の表面からの反射光と裏面からの反射光とにより生成される干渉画像を撮像する撮像部と、撮像部により撮像された干渉画像の観測点番号をi、単色光の波長の種類に対する番号をj、単色光の波長をλ(j)、複数層の透明膜の層数をN、複数層の透明膜のうちのk番目の層の透明膜の膜屈折率をnk、観測点において観測された輝度値をg(i,j)、光源から入射される光の入射光量をI0(j)、複数の波長の単色光の平均輝度をa(j)、反射光の干渉変調度をbij(j)、複数層の透明膜のうちのk番目の層の透明膜の膜厚をtk(i)とした場合、以下の式(1)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する制御部とを備える。
この第1の局面による膜厚測定装置では、上記の式(1)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する制御部を備えることによって、複数の観測点(i)に対するI0(j)と、複数層の透明膜の膜厚であるtk(i)が一括して推定される。すなわち、複数層の透明膜の複数の点の膜厚を一括して推定することができる。その結果、1点ごとに膜厚を推定する場合と比べて、高速に複数層の透明膜の複数の点の膜厚t(i)を推定することができる。
上記第1の局面による膜厚測定装置において、好ましくは、制御部は、上記の式(1)に基づいて求められたI0(j)と、以下の式(2)とに基づいて、I0(j)およびtk(i)を求める際に用いられた干渉画像の観測点以外の観測点の膜厚tkを未知変数として推定するように構成されている。
このように構成すれば、上記の式(2)においては、未知変数の数が膜厚tkのみであるので、上記の式(1)(未知変数がI0(j)およびtk(i))を用いる場合に比べて、より高速に膜厚tkを推定することができる。
上記第1の局面による膜厚測定装置において、好ましくは、制御部は、未知変数に初期値を設定するとともに、未知変数を含む関数から算出される値に基づいて、目的関数を最小化する非線形計画法により、未知変数を推定するように構成されている。このように構成すれば、未知変数を含む関数が解析的に解けない場合(非線形関数の場合)でも、未知変数を推定することができる。
上記第1の局面による膜厚測定装置において、好ましくは、複数の単色光の波長の数をm、干渉画像の観測点の数をPとした場合、以下の式(3)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を求めるための干渉画像の観測点の数Pを設定するように構成されている。
このように構成すれば、未知変数に対して最低限必要な干渉画像の観測点の数を、上記の式(3)に基づいて、容易に求めることができる。
上記第1の局面による膜厚測定装置において、好ましくは、複数の単色光は、青、緑および赤の3色の単色光を含む。このように構成すれば、3色の単色光の波長が各々異なるので、3色の単色光の干渉により生成される干渉色が膜厚によって変化する。これにより、観測点において観測された輝度値g(i,j)(または輝度値g(j))に基づいて、膜厚を推定することができる。
この発明の第2の局面による膜厚測定方法は、測定対象である複数層の透明膜に複数の波長の単色光を含む光を照射する工程と、複数層の透明膜の表面からの反射光と裏面からの反射光とにより生成される干渉画像を撮像する工程と、撮像部により撮像された干渉画像の観測点番号をi、単色光の波長の種類に対する番号をj、単色光の波長をλ(j)、複数層の透明膜の層数をN、複数層の透明膜のうちのk番目の層の透明膜の膜屈折率をnk、観測点において観測された輝度値をg(i,j)、光源から入射される光の入射光量をI0(j)、複数の波長の単色光の平均輝度をa(j)、反射光の干渉変調度をbij(j)、複数層の透明膜のうちのk番目の層の透明膜の膜厚をtk(i)とした場合、以下の式(4)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する工程とを備える。
この第2の局面による膜厚測定方法では、上記のように、上記の式(4)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する工程を備えることによって、複数の観測点(i)に対するI0(j)と、複数層の透明膜の膜厚であるtk(i)が一括して推定される。すなわち、複数層の透明膜の複数の点の膜厚を一括して推定することができる。その結果、1点ごとに膜厚を推定する場合と比べて、高速に複数層の透明膜の複数の点の膜厚t(i)を推定することが可能な膜厚測定方法を提供することができる。
本発明によれば、上記のように、複数層の透明膜の複数の点の膜厚を一括して推定することができる。
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
[本実施形態]
(膜厚測定装置の構成)
図1を参照して、本実施形態による膜厚測定装置100の構成について説明する。
(膜厚測定装置の構成)
図1を参照して、本実施形態による膜厚測定装置100の構成について説明する。
図1に示すように、膜厚測定装置100は、白色光源10と、3波長帯域フィルタ20と、顕微鏡30と、カラーカメラ40と、制御部50とを備えている。なお、白色光源10およびカラーカメラ40は、それぞれ、特許請求の範囲の「光源」および「撮像部」の一例である。
白色光源10は、測定対象である複数層の透明膜60に複数の波長の単色光を含む光を照射するように構成されている。具体的には、図2に示すように、複数層の透明膜60は、N層の透明膜601〜60Nからなる。また、複数層の透明膜60は、基板61上に載置されている。ここで、本実施形態では、複数の単色光は、青(B)、緑(G)および赤(R)の3色の単色光を含む。
3波長帯域フィルタ20は、白色光源10から照射された白色の光のうち、青(B)、緑(G)および赤(R)の3色の単色光を透過させるように構成されている。
顕微鏡30の内部には、ハーフミラー31が設けられている。そして、ハーフミラー31は、3波長帯域フィルタ20を透過した青(B)、緑(G)および赤(R)の3色の単色光を測定対象である複数層の透明膜60に照射するように構成されている。
カラーカメラ40は、白色光源10から照射され、複数層の透明膜60の表面からの反射光と裏面からの反射光とにより生成される干渉画像を撮像するように構成されている。また、カラーカメラ40は、たとえば、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサや、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサなどにより構成されている。
ここで、本実施形態では、制御部50は、カラーカメラ40により撮像された干渉画像の観測点番号をi、単色光の波長の種類に対する番号をj、単色光の波長をλ(j)、複数層の透明膜の層数をN、複数層の透明膜のうちのk番目の層の透明膜の膜屈折率をnk、観測点において観測された輝度値をg(i,j)、光源から入射される光の入射光量をI0(j)、複数の波長の単色光の平均輝度をa(j)、反射光の干渉変調度をbij(j)、複数層の透明膜のうちのk番目の層の透明膜の膜厚をtk(i)とした場合、後述する式(31)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する。具体的には、制御部50は、未知変数に初期値を設定するとともに、未知変数を含む関数から算出される値に基づいて、目的関数を最小化する非線形計画法により、未知変数を推定するように構成されている。以下、詳細に説明する。
(推定原理)
〈複数層の透明膜における干渉色と膜厚との関係〉
複数層の透明膜60における干渉色と膜厚との関係について説明する。
〈複数層の透明膜における干渉色と膜厚との関係〉
複数層の透明膜60における干渉色と膜厚との関係について説明する。
(層数Nの透明膜の干渉色と膜厚との関係)
まず、層数がNである一般化された複数層の透明膜60における干渉色と膜厚との関係について説明する。図2に示すように、複数層の透明膜60の各界面を、s1、s2、s3、・・・、sN+1(Nは透明膜の層数)とし、N層の透明膜601〜60Nの各々の膜厚を、t1、t2、・・・、tNとし、N層の透明膜601〜60N(および基板61)の各々の膜屈折率を、n1、n2・・・nN、nN+1(nB)とし、白色光源10から照射される光の波長をλとする。また、各界面s1、s2、s3、・・・、sN+1からの反射光の強度を、I1、I2、・・・、IN、IN+1とする。そして、複数層の透明膜60の表面からの反射光と、裏面からの反射光とによる干渉は、多重反射を無視すれば、反射光強度(反射光の和)は、下記の式(5)により表される。
まず、層数がNである一般化された複数層の透明膜60における干渉色と膜厚との関係について説明する。図2に示すように、複数層の透明膜60の各界面を、s1、s2、s3、・・・、sN+1(Nは透明膜の層数)とし、N層の透明膜601〜60Nの各々の膜厚を、t1、t2、・・・、tNとし、N層の透明膜601〜60N(および基板61)の各々の膜屈折率を、n1、n2・・・nN、nN+1(nB)とし、白色光源10から照射される光の波長をλとする。また、各界面s1、s2、s3、・・・、sN+1からの反射光の強度を、I1、I2、・・・、IN、IN+1とする。そして、複数層の透明膜60の表面からの反射光と、裏面からの反射光とによる干渉は、多重反射を無視すれば、反射光強度(反射光の和)は、下記の式(5)により表される。
上記の式(5)は、数列の和の記号「Σ」を用いると、下記の式(6)により表される。
ここで、上記の式(6)のcosの中の(φi‐φj)は、界面siおよび界面sjからの反射光の位相差を表しており、下記の式(7)により表される。
ここで、aは、複数の波長の単色光の平均輝度であり、bijは、反射光の干渉変調度である。また、上層の透明膜の膜屈折率(nupper)が、下層の透明膜(または基板61)の膜屈折率(nlower)よりも小さい場合(nupper<nlower)には、上記の式(10)において、右辺のbijの符号が正(+)になる。すなわち、+bijになる。一方、上層の透明膜の膜屈折率(nupper)が、下層の透明膜(または基板61)の膜屈折率(nlower)よりも大きい場合(nupper>nlower)には、右辺のbijの符号が負(−)になる。すなわち、−bijになる。
(2層の透明膜の干渉色と膜厚との関係)
次に、2層(N=2)の場合の透明膜60aにおける干渉色と膜厚との関係について説明する。
次に、2層(N=2)の場合の透明膜60aにおける干渉色と膜厚との関係について説明する。
また、上記の式(10)は、下記の式(13)になる。
なお、上記の式(11)〜(13)において、nupper<nlowerの場合には、cosの符号が正(+)になり、nupper>nlowerの場合には、cosの符号が負(−)になる。また、a、b1、b2、b3は、下記の式(14)〜式(17)により表される。
そして、上記の式(18)〜式(26)を用いると、上記の式(14)〜式(17)は、下記の式(27)〜式(30)により表される。
すなわち、各屈折率n1、n2およびnBが既知であるとすると、上記の式(13)の右辺の未知変数は、I0、t1およびt2の3個になる。
ここで、白色光源10から照射され、3波長帯域フィルタ20を透過する単色光である青(B)、緑(G)および赤(R)の各々の波長を、それぞれ、λB=470nm、λG=560nm、および、λR=600nm、とする。また、I0=500とする。また、膜屈折率の波長依存性はなく、膜屈折率n1=1.5、n2=2、および、nB=4とする。そして、図4(a)に示すような、膜厚を有する透明膜601aおよび602aを仮定する。すなわち、透明膜601aは、x座標が大きくなるにしたがって、直線的に膜厚t1が大きくなる。また、透明膜602aは、x座標が大きくなるにしたがって、直線的に膜厚t2が小さくなる。そして、反射光量と膜厚の関係を、上記の式(13)により算出することにより、3波長の単色光の干渉画像(図4(b)参照)、および、3波長の単色光の輝度値(光量)(図4(c)参照)が得られる。
図4(a)では、横軸はx座標を表し、縦軸は膜厚を表している。図4(c)では、横軸はx座標を表し、縦軸は3波長の単色光の輝度値を表している。図4(c)に示すように、波長(周期)は、青(B)、緑(G)および赤(R)の順で長くなる。
図4(b)は、図4(c)に示された3波長の単色光の輝度値を加算することにより得られた干渉画像が示されている。図4(b)は、干渉色のカラーチャーチ―トを表している。なお、図4(b)では、グレーの濃淡で示されているが、実際には、カラーの濃淡の干渉色である。
〈GMFT法〉
次に、未知変数I0およびtkを推定するアルゴリズムについて説明する。このアルゴリズムを、GMFT(Global Model Fitting for Thickness)法と呼ぶ。
次に、未知変数I0およびtkを推定するアルゴリズムについて説明する。このアルゴリズムを、GMFT(Global Model Fitting for Thickness)法と呼ぶ。
カラーカメラ40によって撮像された複数層(N層)の透明膜60の画像(干渉色の画像)内の観測点i(i=1,2,...,N)における、単色光の波長の種類に対する番号j(j=1,2,...,m)の干渉縞のモデル輝度値g(i,j)は、上記の式(9)を変形して、下記の式(31)により表される。
ここで、入射光量I0(j)が、観測点に依存せず、一定であると仮定している。なお、この仮定は、白色光源10から照射される光が均一であれば、一般的に成立する。
ここで、本実施形態では、上記の干渉縞のモデル輝度値g(i,j)と、複数点において観測された輝度値とに基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定するように構成されている。具体的には、下記の式(33)の誤差二乗和を最小にする非線形計画法(最小二乗法)により、未知変数(パラメータ)I0(j)およびtk(i)を推定する。
ここで、g(i,j)は、上記の式(31)のモデル輝度値を表し、gijは、観測輝度値を表す。
次に、上記の未知変数I0(j)およびtk(i)が求められる条件について説明する。単色光の波長の数をm個、観測点数をP個とすると、未知変数の数は、m+2P個になる。また、P個の観測点からmP個の輝度信号が得られる。そして、本実施形態では、下記の式(34)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を求めるための干渉画像の観測点の数Pを設定するように構成されている。
たとえば、本実施形態では、単色光の波長の数は、青、緑および赤の3(m=3)であるので、Pは、3以上になる。すなわち、少なくとも3個の観測点のデータがあれば、未知変数を推定することが可能になる。
単色光の波長の数が3(m=3)であり、観測点の数がP個の場合、推定(計測)アルゴリズムは、図5に示すように、模式的に表される。すなわち、3P個の観測輝度値(g(1,B)、g(1,G)、g(1,R),...,g(P,B)、g(P,G)、g(P,R))から、膜厚tk(i)(2層の場合には、2P個の膜厚)と、3個の入射光量I0(B)、I0(G)、I0(R)が推定される。
上記の式(31)(式(32))のモデル輝度値は、周期関数である余弦関数(cos関数)を含むため、本実施形態の推定アルゴリズムにおいて最小二乗法を用いた場合、局所的極小値(ローカルミニマム)が多数存在する。したがって、適切な初期値を設定する必要がある。
次に、観測輝度値から、入射光量I0(j)の概略値を推定する方法について説明する。
観測輝度値(観測点における輝度値)から、輝度値の中央値gcを、下記の式(35)により求める。
ここで、maxは、輝度値の最大値、minは、輝度値の最小値である。上記の式(31)(式(32))から、gc(j)=I0(j)a(j)と近似できるので、I0(j)の初期値は、下記の式(36)により表される。
〈輝度合致法〉
次に、未知変数tkを推定するアルゴリズムについて説明する。このアルゴリズムを輝度合致法と呼ぶ。輝度合致法では、GMFT法により推定された未知変数I0(j)を用いて、残りの未知変数tkが推定される。
次に、未知変数tkを推定するアルゴリズムについて説明する。このアルゴリズムを輝度合致法と呼ぶ。輝度合致法では、GMFT法により推定された未知変数I0(j)を用いて、残りの未知変数tkが推定される。
すなわち、本実施形態では、GMFT法(上記の式(31)または式(32))に基づいて求められたI0(j)と、上記の式(37)(または式(38))とに基づいて、I0(j)およびtk(i)を求める際に用いられた干渉画像の観測点以外の観測点の膜厚tkを未知変数として推定するように構成されている。具体的には、上記の干渉縞のモデル輝度値g(j)と、観測された輝度値とに基づいて、未知変数であるtkを推定するように構成されている。つまり、下記の式(39)の誤差二乗和を最小にする非線形計画法により、未知変数tkを推定する。
ここで、g(j)は、上記の式(37)(式(38))のモデル輝度値を表し、gjは、観測輝度値を表す。
上記の式(37)(式(38))のモデル輝度値g(j)は、周期関数を含んでいるため、非線形計画法を用いた場合、局所的極小値(ローカルミニマム)が多数存在する。したがって、一般的な非線形計画法の解法では、初期値近傍の局所解に収束してしまい、正しい解が得られない場合がある。そこで、本実施形態では、マルチスタート法を用いる。すなわち、予想される膜厚の範囲内で、予め設定された刻み間隔を有する複数の初期値からスタートして、非線形計画法を用いることにより、複数の解を求める。そして、求められた複数の解から、誤差二乗和が最小になるものを、大域解として採用する。
このように、上記の式(31)(式(32))、または、式(37)(式(38))を用いて、複数層の透明膜60の膜厚tkが推定されるので、分光器や偏光光学系などの比較的複雑な光学系を用いる必要がない分、膜厚測定装置100の構成を簡略化することが可能になる。また、撮像した画像(干渉色)から膜厚への変換テーブル(校正データ)などを用いることなく、膜厚tkを推定することが可能になる。また、観測点毎(つまり、干渉画像の画素毎)に膜厚tkを推定することができるので、比較的水平分解能の高い膜厚測定装置100を構成することが可能になる。
(膜厚測定方法)
次に、図6を参照して、本実施形態による膜厚測定方法について説明する。
次に、図6を参照して、本実施形態による膜厚測定方法について説明する。
図6に示すように、ステップS1において、白色光源10から3波長帯域フィルタ20およびハーフミラー31を介して、測定対象である複数層の透明膜60(または2層の透明膜60a)に複数の波長(青、緑、赤)の単色光を含む光が照射される。そして、複数層の透明膜60の表面からの反射光と裏面からの反射光とにより生成される干渉画像がカラーカメラ40により撮像されて、観測輝度値が取得される。
次に、ステップS2において、上記の式(34)に基づいて定められる数の観測点が選択される。
次に、ステップS3において、未知変数であるI0(j)およびtk(i)のそれぞれの初期値が設定される。
次に、ステップS4において、GMFT法(上記の式(31)、式(32))に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)が推定される。これにより、複数の観測点(i)に対するI0(j)およびtk(i)が一括して推定される。すなわち、複数層の透明膜60の複数の点の膜厚tk(i)が一括して推定される。
次に、ステップS5において、GMFT法により推定されたI0(j)を用いて、輝度合致法(上記の式(37)、式(38))に基づいて、所望の観測点(GMFT法において使用された観測点以外の観測点)における未知変数であるtkが推定される。なお、マルチスタート法(複数の初期値からスタートする)を用いることにより、複数の解が求められる。
最後に、ステップS6において、求められた複数の解から、誤差二乗和が最小になるもの(つまり大域解)が、膜厚として採用(推定)される。
(実験1)
次に、図3、図4、および、図7〜図10を参照して、GMFT法および輝度合致法の妥当性を確認するための実験1(シミュレーション実験)について説明する。なお、この実験1では、透明膜は、2層(N=2)の透明膜60a(図3参照)について膜厚を推定した。また、図4(a)に示すように、透明膜601aは、x座標が大きくなるにしたがって、直線的に膜厚t1が大きくなるとともに、透明膜602aは、x座標が大きくなるにしたがって、直線的に膜厚t2が小さくなるとした。
次に、図3、図4、および、図7〜図10を参照して、GMFT法および輝度合致法の妥当性を確認するための実験1(シミュレーション実験)について説明する。なお、この実験1では、透明膜は、2層(N=2)の透明膜60a(図3参照)について膜厚を推定した。また、図4(a)に示すように、透明膜601aは、x座標が大きくなるにしたがって、直線的に膜厚t1が大きくなるとともに、透明膜602aは、x座標が大きくなるにしたがって、直線的に膜厚t2が小さくなるとした。
この実験1では、図4(b)に示されるカラーチャートを実験対象の画像とした。すなわち、青(B)、緑(G)および赤(R)の各々の波長を、それぞれ、λB=470nm、λG=560nm、および、λR=600nm、とした。また、図4(b)のカラーチャートは、水平方向に200画素を有する。また、非線形計画法(具体的には、最小二乗法)として、マイクロソフト社製のExcel(登録商標)のSolver(登録商標)機能を使用した。
GMFT法についての実験では、カラーチャートの中の互いに等間隔の6点(x座標=21、41、・・・、121)を観測点として使用した。そして、6点の観測点の輝度値を用いて、GMFT法(上記の式(32))に基づいて、未知変数であるI0(j)、t1(i)およびt2(i)を推定した。また、未知変数であるI0(j)、t1(i)およびt2(i)の初期値を、各々の真値の110%とした。
また、輝度合致法についての実験では、GMFT法により推定された未知変数であるI0(j)を用いて、輝度合致法(上記の式(38))に基づいて、カラーチャートの水平方向の200個の観測点の膜厚t1およびt2を推定した。また、輝度合致法では、2層の透明膜60a(透明膜601a、602a)の初期値を、それぞれ、t1=225nm、t2=75nmとした。
〈GMFT法についての実験結果〉
図7に示すように、6個の観測点(点番号1〜6)の全てにおいて、青(B)、緑(G)および赤(R)の単色光の全てについて、観測された輝度値と、上記の式(32)により推定された輝度値とが、完全に一致した。
図7に示すように、6個の観測点(点番号1〜6)の全てにおいて、青(B)、緑(G)および赤(R)の単色光の全てについて、観測された輝度値と、上記の式(32)により推定された輝度値とが、完全に一致した。
また、図8および図9に示すように、未知変数I0(j)、t1(i)およびt2(i)の全てにおいて、推定値は、真値と一致した。すなわち、誤差は、0%であった。これにより、GMFT法が、未知変数I0(j)、t1(i)およびt2(i)の推定に有効であることが確認された。
〈輝度合致法についての実験結果〉
図10に示すように、水平方向に沿った200個の観測点(x座標1〜200)の全ておいて、推定された膜厚と真値とが、完全に一致した。これにより、輝度合致法が、未知変数t1およびt2の推定に有効であることが確認された。なお、推定された膜厚と真値とが完全に一致しているため、図10では、推定された膜厚の線と真値の線とが重なって表示されている。
図10に示すように、水平方向に沿った200個の観測点(x座標1〜200)の全ておいて、推定された膜厚と真値とが、完全に一致した。これにより、輝度合致法が、未知変数t1およびt2の推定に有効であることが確認された。なお、推定された膜厚と真値とが完全に一致しているため、図10では、推定された膜厚の線と真値の線とが重なって表示されている。
(実験2)
産業界のニーズにおいては、2層の透明膜のうちの一方の透明膜の膜厚が略一定とみなせる場合が多い。そこで、この実験2では、透明膜601aの膜厚t1は一定であるとともに、透明膜602aは、x座標が大きくなるにしたがって、直線的に膜厚t2が大きくなるとした。これにより、未知変数は、I0(j)、t1およびt2(i)となり、単色光の波長の数が3(m=3)の場合、未知変数の数は、P+4個となる。すなわち、少なくとも2個の観測点のデータがあれば、未知変数を推定することが可能になる。
産業界のニーズにおいては、2層の透明膜のうちの一方の透明膜の膜厚が略一定とみなせる場合が多い。そこで、この実験2では、透明膜601aの膜厚t1は一定であるとともに、透明膜602aは、x座標が大きくなるにしたがって、直線的に膜厚t2が大きくなるとした。これにより、未知変数は、I0(j)、t1およびt2(i)となり、単色光の波長の数が3(m=3)の場合、未知変数の数は、P+4個となる。すなわち、少なくとも2個の観測点のデータがあれば、未知変数を推定することが可能になる。
この実験では、図11(a)に示されるように、透明膜601aの膜厚t1が一定で、透明膜602aの膜厚t2が、x座標が大きくなるにしたがって大きくなる場合のカラーチャート(x方向に200画素)(図11(b)参照)を実験対象の画像とした。青(B)、緑(G)および赤(R)の各々の波長を、それぞれ、λB=470nm、λG=560nm、および、λR=600nmとした。また、入射光量は、各波長ともにI0=1000とした。また、屈折率n1=1.5、n2=2、nB=4とした。また、非線形計画法(具体的には、最小二乗法)として、マイクロソフト社製のExcel(登録商標)のSolver(登録商標)機能を使用した。
〈GMFT法についての実験結果〉
GMFT法についての実験では、カラーチャートの中の互いに等間隔の6点(x座標=21、41、・・・、121)を観測点として使用した。また、未知変数であるI0(j)、t1およびt2(i)の初期値を、各々の真値の110%とした。実験2の結果として、図12〜図14に示すように、6個の観測点(点番号1〜6)の全てにおいて、青(B)、緑(G)および赤(R)の単色光の全てについて、観測された輝度値と、上記の式(32)により推定された輝度値とが、完全に一致した。
GMFT法についての実験では、カラーチャートの中の互いに等間隔の6点(x座標=21、41、・・・、121)を観測点として使用した。また、未知変数であるI0(j)、t1およびt2(i)の初期値を、各々の真値の110%とした。実験2の結果として、図12〜図14に示すように、6個の観測点(点番号1〜6)の全てにおいて、青(B)、緑(G)および赤(R)の単色光の全てについて、観測された輝度値と、上記の式(32)により推定された輝度値とが、完全に一致した。
〈輝度合致法についての実験結果〉
輝度合致法についての実験では、透明膜602aの膜厚t2の範囲が約400nmであり、比較的大きい。そこで、透明膜602aの膜厚t2の初期値の範囲を0〜400nmとし、刻み間隔100nmのマルチスタート法を採用した。
図15に示すように、水平方向に沿った200個の観測点(x座標1〜200)の全ておいて、推定された膜厚t1およびt2と真値とが、完全に一致した。なお、推定された膜厚と真値とが完全に一致しているため、図15では、推定された膜厚の線と真値の線とが重なって表示されている。
(本実施形態の効果)
次に、本実施形態の効果について説明する。
次に、本実施形態の効果について説明する。
本実施形態では、上記のように、上記の式(31)(式(32))に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する制御部50を備えることによって、複数の観測点(i)に対するI0(j)と、複数層の透明膜60の膜厚であるtk(i)が一括して推定される。すなわち、複数層の透明膜60の複数の点の膜厚tk(i)を一括して推定することができる。その結果、1点ごとに膜厚を推定する場合と比べて、高速に複数層の透明膜60の複数の点の膜厚t(i)を推定することができる。
また、本実施形態では、上記のように、制御部50を、上記の式(31)(式(32))に基づいて求められたI0(j)と、上記の式(37)(式(38))とに基づいて、I0(j)およびtk(i)を求める際に用いられた干渉画像の観測点以外の観測点の膜厚tkを未知変数として推定するように構成する。これにより、上記の式(37)(式(38))においては、未知変数の数が膜厚tkのみであるので、上記の式(31)(式(32))(未知変数がI0(j)およびtk(i))を用いる場合に比べて、より高速に膜厚tkを推定することができる。
また、本実施形態では、上記のように、制御部50を、未知変数に初期値を設定するとともに、未知変数を含む関数から算出される値に基づいて、目的関数を最小化する非線形計画法により、未知変数を推定するように構成する。これにより、未知変数を含む関数が解析的に解けない場合(非線形関数の場合)でも、未知変数を推定することができる。
また、本実施形態では、上記のように、複数の単色光の波長の数をm、干渉画像の観測点の数をPとした場合、上記の式(34)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を求めるための干渉画像の観測点の数Pを設定する。これにより、未知変数に対して最低限必要な干渉画像の観測点の数を、上記の式(34)に基づいて、容易に求めることができる。
また、本実施形態では、上記のように、複数の単色光は、青、緑および赤の3色の単色光を含む。これにより、3色の単色光の波長が各々異なるので、3色の単色光の干渉により生成される干渉色が膜厚によって変化する。その結果、観測点において観測された輝度値g(i,j)(または輝度値g(j))に基づいて、膜厚を推定することができる。
[変形例]
なお、今回開示された実施形態および実施例は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態および実施例の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
なお、今回開示された実施形態および実施例は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態および実施例の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更(変形例)が含まれる。
たとえば、上記実施形態では、3波長帯域フィルタを介して、青、緑および赤の単色光が複数層の透明膜に照射される例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、青、緑および赤の単色光を照射する光源から、複数層の透明膜に光を照射してもよい。
また、上記実施形態では、青、緑および赤の3つの単色光が複数層の透明膜に照射される例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、2つの単色光が複数層の透明膜に照射されるようにしてもよい。
また、上記実施形態(実験1、実験2)では、GMFT法(上記の式(32))において、6個の観測点の輝度値が用いられる例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、上記の式(34)を満たせば、6個以外の数の観測点の輝度値を用いてもよい。
また、上記実施形態(実験2)では、膜厚の推定にマルチスタート法(複数の初期値からスタートすること)を用いる例を示したが、本発明はこれに限られない。膜厚の概略値(精度の良い初期値)が分かっている場合には、1つの初期値から膜厚を推定してもよい。
また、上記実験1および実験2では、2層の透明膜について実験を行った例を示したが、本発明はこれに限られない。上記の式(31)および式(37)を用いて、3層以上の透明膜について実験を行うことも可能である。
10 白色光源(光源)
40 カラーカメラ(撮像部)
50 制御部
60、60a (複数層の)透明膜
100 膜厚測定装置
40 カラーカメラ(撮像部)
50 制御部
60、60a (複数層の)透明膜
100 膜厚測定装置
Claims (6)
- 測定対象である複数層の透明膜に複数の波長の単色光を含む光を照射する光源と、
前記光源から照射され、前記複数層の透明膜の表面からの反射光と裏面からの反射光とにより生成される干渉画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像された前記干渉画像の観測点番号をi、前記単色光の波長の種類に対する番号をj、前記単色光の波長をλ(j)、前記複数層の透明膜の層数をN、前記複数層の透明膜のうちのk番目の層の前記透明膜の膜屈折率をnk、前記観測点において観測された輝度値をg(i,j)、前記光源から入射される光の入射光量をI0(j)、複数の波長の前記単色光の平均輝度をa(j)、反射光の干渉変調度をbij(j)、前記複数層の透明膜のうちのk番目の層の前記透明膜の膜厚をtk(i)とした場合、以下の式(1)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する制御部とを備える、膜厚測定装置。
- 前記制御部は、前記未知変数に初期値を設定するとともに、前記未知変数を含む関数から算出される値に基づいて、目的関数を最小化する非線形計画法により、前記未知変数を推定するように構成されている、請求項1または2に記載の膜厚測定装置。
- 前記複数の単色光は、青、緑および赤の3色の単色光を含む、請求項1〜4のいずれか1項に記載の膜厚測定装置。
- 測定対象である複数層の透明膜に複数の波長の単色光を含む光を照射する工程と、
前記複数層の透明膜の表面からの反射光と裏面からの反射光とにより生成される干渉画像を撮像する工程と、
前記撮像部により撮像された前記干渉画像の観測点番号をi、前記単色光の波長の種類に対する番号をj、前記単色光の波長をλ(j)、前記複数層の透明膜の層数をN、前記複数層の透明膜のうちのk番目の層の前記透明膜の膜屈折率をnk、前記観測点において観測された輝度値をg(i,j)、前記光源から入射される光の入射光量をI0(j)、複数の波長の前記単色光の平均輝度をa(j)、反射光の干渉変調度をbij(j)、前記複数層の透明膜のうちのk番目の層の前記透明膜の膜厚をtk(i)とした場合、以下の式(4)に基づいて、未知変数であるI0(j)およびtk(i)を推定する工程とを備える、膜厚測定方法。
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JP2019084392A (ja) * | 2017-03-14 | 2019-06-06 | 株式会社トプコン | 涙液層厚み測定装置及び方法 |
JP2019148584A (ja) * | 2018-01-26 | 2019-09-05 | 株式会社トプコン | 2次元多層厚測定 |
CN111829457A (zh) * | 2020-07-09 | 2020-10-27 | 中国科学院光电技术研究所 | 基于结构光照明显微系统的超薄膜器件三维形貌检测方法 |
JP2021009143A (ja) * | 2019-06-28 | 2021-01-28 | 株式会社トプコン | 2次元多層厚測定 |
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Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP6992020B2 (ja) | 2017-03-14 | 2022-01-13 | 株式会社トプコン | 涙液層厚み測定装置及び方法 |
JP7069072B2 (ja) | 2017-03-14 | 2022-05-17 | 株式会社トプコン | 涙液層厚み測定装置及び方法 |
JP2018149283A (ja) * | 2017-03-14 | 2018-09-27 | 株式会社トプコン | 涙液層厚み測定装置及び方法 |
JP2019084390A (ja) * | 2017-03-14 | 2019-06-06 | 株式会社トプコン | 涙液層厚み測定装置及び方法 |
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JP2019084392A (ja) * | 2017-03-14 | 2019-06-06 | 株式会社トプコン | 涙液層厚み測定装置及び方法 |
JP2019084393A (ja) * | 2017-03-14 | 2019-06-06 | 株式会社トプコン | 涙液層厚み測定装置及び方法 |
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JP2019084391A (ja) * | 2017-03-14 | 2019-06-06 | 株式会社トプコン | 涙液層厚み測定装置及び方法 |
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JP7068389B2 (ja) | 2019-06-28 | 2022-05-16 | 株式会社トプコン | 2次元多層厚測定 |
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