JP2017041989A - 電力変換装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】半導体スイッチ素子の還流ダイオード回路として、SiダイオードとSiCショットキーバリアダイオードとの並列回路を備えた電力変換装置において、両ダイオードの特徴を活かして、より低損失な電力変換装置を提供することを課題とする【解決手段】半導体スイッチ素子に還流ダイオードを逆並列接続して構成したスイッチ素子で構成した電力変換装置において、前記還流ダイオードを、シリコンダイオードとワイドバンドギャップを有するダイオードとを並列接続して構成し、かつ前記シリコンダイオードと直列にインダクタンス要素を挿入接続。【選択図】図1

Description

半導体素子を使用した電力変換装置に関する。
従来の技術
電力変換装置の一例として、よく知られている3相インバータを図11に示す。この図11において、Vsは交流電源、Drecは交流電源を直流に変換する整流回路、Cmは電圧を平滑するコンデンサ、INVは直流電力を3相の交流電力に変換するインバータ、Mはモータなどの負荷である。インバータINVはIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)やMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)などの半導体スイッチSu、Sv、Sw、Sx、Sy、Szで構成され、制御装置CNTの指令にしたがって運転される。
図12は、図11のインバータINVの構成部分の1相分を取り出して示した回路であり、半導体スイッチSu、Sxは、IGBTなどの半導体スイッチ素子Qu、Qxに、通常のSi(シリコン)で形成された還流ダイオードDu、Dxをそれぞれ逆並列接続して構成される。これは、半導体スイッチ素子Qu、Qxのスイッチング動作に伴い発生する、交流端子ACuに接続された誘導性負荷の蓄積エネルギーを還流させる働きをする。
図13は、図12に示した逆並列接続された還流ダイオードDu、Dxをワイドバンドギャップ半導体の代表例であるSiC(炭化珪素)で形成したショットキーバリアダイオードSBDu、SBDxで構成して例を示している。図12および図13に示した還流ダイオードDu、Dx、SBDu、SBDxは、各対向アームに位置する半導体スイッチ素子QuまたはQxがターンオンする際に、逆回復動作をする。
この逆回復動作を、図12に示した従来のSiダイオードDu、Dxを用いた例について、図14を用いて説明する。半導体スイッチ素子Quがオフして、負荷Loadに流れている電流Ioが、図14(a)に実線矢印で示すようにダイオードDuを通して流れているときに、対向アームの半導体スイッチ素子Qxがオンすると、負荷に流れている電流Ioは、図14(b)に実線矢印で示すように半導体スイッチ素子Qxに転流する。このとき、ダイオードDuにコンデンサCmから逆電圧が印加されることになるが、点線矢印で示すようにコンデンサCm、ダイオードDu、半導体スイッチ素子Qxの経路で逆回復電流Irgaが一瞬流れる。これを模式的に示したのが図15である。還流ダイオードをSiダイオードDuで構成した場合は、図15(a)のようになり、ダイオードDuに逆向きの大きなピーク電流Iphが流れることになる。この電流は半導体スイッチ素子Qxに流れる負荷電流Ioに重畳されるため、半導体スイッチ素子Qxのスイッチング損失(ターンオン損失)とダイオードDuの逆回復損失という形で損失が発生し、電力変換装置の効率を低下させる。
一方、ワイドギャップ半導体の代表例であるSiCショットキーバリアダイオードSBDu、SBDxを、図13に示すように還流ダイオードに適用すると、図15(b)に示すように逆回復電流のピーク電流IpはIplと小さくなり、発生損失も低減されるようになる。
しかし、SiCショットキーバリアダイオードは、その高速スイッチング特性のため、回路内部の寄生インダクタンスと容量によって、図15(b)に示すように高い周波数の寄生振動Aが発生する。この寄生振動は、ノイズとなって外部へ伝播される。
このようにSiCショットキーバリアダイオードを還流ダイオードとしたとき、この還流ダイオードの逆回復動作で発生する振動電流によるノイズを低減するための手段として、特許文献1には、図16に示すように、半導体スイッチ素子の還流ダイオードとして、SiダイオードDu,DxとSiCショットキーバリアダイオードSBDu、SBDxをそれぞれ並列接続して用いることが示されている。
図16に示すように、還流ダイオード回路FWDを、SiダイオードDとSiCショットキーバリアダイオードSBDを並列接続して構成すると、ノイズの低減が可能になる。しかし、SiCショットキーバリアダイオードSBDは、その特性から順方向のオン電圧VFがSiダイオードDより高く、導通損失が増加する問題がある。
図17(a)はSiダイオードDの電圧‐電流特性を示し、図17(b)はSiCショットキーバリアダイオードSBDの電圧‐電流特性を示す。図17(a)、(b)は、いずれも、横軸はダイオードの順方向電圧VDを示し、縦軸はダイオードに流れる順方向電流IDを示している。
何れのダイオードの電圧‐電流特性も温度依存性があり、それぞれの順方向電圧が温度によって変化するが、SiダイオードDは、図17(a)に示すように、温度が低温から高温に変化すると、順方向電圧はVF1aからVF2aにわずかに上昇するにとどまり、比較的温度依存性が小さい。これに対して、SiCショットキーバリアダイオードSBDは、正の温度特性が顕著であり、図17(b)に示すように、低温から高温に変化すると、順方向電圧がVF1bからVF3bに大幅に上昇し、特に大電流時にはSiダイオードDに比べて順方向電圧が大きくなるので、導通損失が著しく増加する。
特許文献1のように、SiダイオードDとSiCショットキーバリアダイオードSBDを並列接続した場合、還流電流がSiダイオードDとSiCショットキーバリアダイオードSBDの双方を流れるために、逆回復電流の流れる期間は、逆回復電流の小さいSiCショットキーバリアダイオードSBDに流し、寄生振動の発生する期間は、寄生振動の小さいSiダイオードに流すことにより、逆回復電流のピークを抑え、かつ寄生振動を小さくすることができる。また、導通開始時は、順方向電圧の小さいSiダイオードが先に導通することになるので、順方向電圧を低くすることができる。このため、特許文献1の還流ダイオードによれば、導通損失を低減することができるだけでなく、ノイズの発生を抑えることができる。
しかし、このように構成した半導体スイッチ素子で構成した電力変換装置を、スイッチング周波数の低い動作で駆動される装置に置き換えることを考えた場合には、スイッチング周波数の比較的高い運転領域で損失低減が見込めるが、スイッチング周波数の低い運転領域では損失の低減量が小さく、SiCショットキーバリアダイオードSBDの順方向電圧VFの高さが導通損失の増加を招き、大電流で使用する領域においては、結果として冷却装置が大きくなり、装置の大型化を引き起こしてしまう。一方で、SiダイオードのチップDへの電流配分を大きくすると、Siダイオードの逆回復損失が支配的となって損失が大きくなってしまい、SiCショットキーバリアダイオードの逆回復電流が小さく逆回復損失が小さいといったメリットを阻害される問題がある。
特許第5663075号
この発明は、半導体スイッチ素子の還流ダイオード回路として、SiダイオードとSiCショットキーバリアダイオードとの並列回路を備えた電力変換装置において、両ダイオードの特徴を活かして、より低損失な電力変換装置を提供することを課題とするものである。
前記の課題を解決するため、この発明は、半導体スイッチ素子に還流ダイオードを逆並列接続して構成した半導体スイッチで構成した電力変換装置において、前記還流ダイオードを、シリコンダイオードとワイドバンドギャップを有するダイオードとを並列接続して構成し、かつ前記シリコンダイオードと直列にインダクタンス要素を挿入接続したことを特徴とする。
この発明においては、インダクタンス要素は、前記半導体スイッチ素子と前記シリコンダイオードとを接続する配線自身によって形成するのがよい。
また、この発明において、前記インダクタンス要素は、前記シリコンダイオードと、前記半導体スイッチ素子とを接続する配線に磁性体を磁気的に結合して形成することができる。
さらに、この発明による電力変換装置は、鉄道車両を駆動する電力変換装置とすることができる。
この発明によれば、Siダイオードのオン電圧の低さによる損失低減効果、ワイドバンドギャップを有するダイオード(SiCショットキーバリアダイオード)の過渡動作による逆回復損失低減効果を最大限に活かすことができるので、例えば鉄道車両など比較的運転パターンが複雑かつ広範囲にわたる装置においても損失を低減することができる。
この発明の第1の実施例を示す回路構成図。 この発明の第1の実施例のモジュールを示すもので、(a)は、回路構成図、(b)は、モジュールの内部構成図。 この発明の第1の実施例の動作説明図。 この発明の第1の実施例の動作波形図。 この発明の第2の実施例を示すモジュールの内部構成図。 この発明の第3の実施例を示すモジュールの内部構成図。 この発明の第1の実施例の別の形態を示す回路構成図。 この発明を適用した電力変換装置の動作を説明する動作特性図。 この発明を適用した電力変換装置の動作を説明する別の動作特性図。 図8、図9における動作遷移図。 従来の電力変換装置としての3相インバータを示す回路構成図。 図11におけるSiダイオードを適用した1相分の構成を示す回路構成図。 図11におけるSiCダイオードを適用した1相分の構成を示す回路構成図。 図12に示す回路の過渡動作を説明する図。 図14の過渡動作波形図。 従来の電力変換装置の1相分の構成を示す回路構成図。 従来のSiダイオードおよびSiCダイオードの静特性を示す特性線図。
この発明の実施の形態を図に示す実施例について説明する。
この発明の第1の実施例を図1〜図4に示す。これらの図において、図12や図13に示す従来装置と同じ構成要素には、同じ符号を付している。
図1は、IGBTや、MOSFET等の半導体スイッチ素子Qu、Qxを直列接続して構成した電力変換装置の1相分の回路構成を示す。
半導体スイッチ素子Qu、Qxには、それぞれ、通常のシリコン(Si)で構成されたSiダイオードDu、Dxと、ワイドギャップ素材である炭化珪素(SiC)で構成されたSiCショットキーバリアダイオードSBDu、SBDxを並列接続して構成した還流ダイオード回路FWDが逆並列に接続される。さらに、SiダイオードDu、Dxにはそれぞれインダクタンス要素Lu,Lxが直列に挿入接続されている。このインダクタンス要素は、磁気飽和が生じないように構成する。
図2は、図1の上アームUの部分を取り出して示すものであり、(a)は回路構成を示し、(b)はモジュール内部の構成を示すものである。
図2(a)に示す回路の半導体スイッチ素子Qu、SiダイオードDu、SiCショットキーバリアダイオードSBDuは、図2(b)に示すように、共通の絶縁基板S上にコレクタ端子板Cを介して配置される。半導体スイッチ素子QuとSiダイオードDu、SiCショットキーバリアダイオードSBDuは2並列設けられており、相互に、ボンディングワイヤYで接続されている。半導体スイッチ素子Quのゲート電極は、基板S上に設けたゲート端子板GにボンディングワイヤYにより接続される。半導体スイッチ素子QuとSiダイオードDuとを接続するボンディングワイヤYは、インダクタンス要素として磁性材で構成したトロイダルコアTcに挿通される。これにより、トロイダルコアTcがボンディングワイヤYに磁気的に結合され、インダクタンス成分を付与する。
図3は、この発明の動作説明図である。
図3の回路において実線矢印の方向に電流が流れている状態から、上アームの半導体スイッチ素子Quをオフにしても、負荷Loadに蓄積されたエネルギーにより、図3(a)に実線矢印で示すようにSiダイオードDuとSiCショットキーダイオードSBDuの双方に還流電流Ioが継続して流れる。この状態で、対向する下アームの半導体スイッチ素子Qxをオンにすると、負荷Loadに流れている電流Ioは、図3(b)実線に示すように、半導体スイッチ素子Qxに転流する。このとき、SiダイオードDuおよびSiCショットキーダイオードSBDuにコンデンサCmから逆電圧が加わるが、SiCショットキーバリアダイオードSBDuは逆回復動作をほとんど行わないので、点線矢印で示すコンデンサCm、SiダイオードDu、半導体スイッチ素子Qxを通して一瞬逆回復電流が流れる。
このとき流れる逆回復電流I(Du)は、インダクタンス要素Luを設けない場合は、図4(a)に示すようにピーク値IpがIphと大きくなる。これに対して、この発明おいては、SiダイオードDuにインダクタンス要素Luが挿入接続されているので、このインダクタンス要素Luの作用により、SiダイオードDuに流れる逆回復電流I(Du)は、図4(b)に示すように,電流減少率(-di(D)/dt)が緩和されるとともに、逆回復電流I(Du)のピーク値IpがIplに低下する。この結果、SiダイオードDの逆回復責務は小さくなり、逆回復損失が低減されるとともに、半導体スイッチ素子Qのターンオン損失も軽減される。
図4(a)、(b)は、横軸に半導体スイッチ素子Qのターンオフ時の時間tを示し、縦軸に、これに対する半導体スイッチ素子Qのコレクタ-エミッタ電圧VCE(U)および還流電流I(Du)の変化を示す。
次に、図5にこの発明の第2の実施例を示す。この実施例では、図5に示すようにSiダイオードと半導体スイッチ素子Quを接続するボンディングワイヤYが、SiCショットキーバリアダイオードSBDuへのワイヤボンディングよりも長く構成することで、このボンディングワイヤYのインダクタンスを大きくしてインダクタンス要素を挿入するようにしている。本実施例では、ボンディングワイヤYを半円状に長くして、インダクタンス成分を増加させている。
図6にこの発明の第3の実施例を示す。この実施例では、図6に示すように、Siダイオードと半導体スイッチ素子Quを接続するボンディングワイヤYを、複数回ループ状に巻き回すことにより、このボンディングワイヤYのインダクタンスを大きくしてインダクタンス要素Luとしている。当然、さらにこのループのインダクタンスを強めたい場合は、鉄心などのコア材を挿入するようにしてもよい。
なお、この発明の第1の実施例〜第3の実施例は、SiダイオードDのアノード側にインダクタンス要素Luを挿入したが、図7のようにカソード側に挿入しても同様の効果が得られる。
次に、この発明の第4の実施例について、図8〜図10を用いて説明する。この実施例は、還流ダイオード回路FWDを、SiダイオードとSiCショットキーバリアダイオードを並列接続し、かつSiダイオードに直列にインダクタンス要素を挿入接続した回路とした半導体スイッチ素子により構成した電力変換装置(インバータ)を鉄道車両用モータを駆動する電力変換装置に適用したものである。
図8は、鉄道車両用のモータ駆動システムにおける、車両速度vに対するモータ電圧Vmとモータ電流Imの力行運転時の特性を示す図である。
車両速度vは、このモータを駆動するインバータ(電力変換装置)の出力周波数foに比例する。比較的出力周波数foを低くして低速運転しているときは、インバータのスイッチング周波数fcを、出力周波数foより十分高く(fc≫fo)して運転する。出力周波数foを高くして、車両速度vを高速にすると、インバータのスイッチング周波数fcは、出力周波数foと同期したn倍のパルス(nは整数)で運転され、さらに高速になると、スイッチング周波数fcは出力周波数foと同期した同じ周波数で駆動される。
また、図9は、制動運転時の特性を示す図である。モータ電圧Vmとモータ電流Imを示す特性線が図8に示した力行運転時の特性と異なるものの、スイッチング周波数fcはほぼ同様の運転方法をとる。特に、図9に示す制動運転時には、力率(cosφ)を負にして回生運転とする。図10は、力率の変化に対するIGBTまたはFWDの導通率を示している。図8に示した力行運転はIGBTの導通率が高く、一方、図9に示した制動運転はFWDの導通率が高くなる。
鉄道車両用モータ駆動用の電力変換装置を、この発明によるSiダイオードとSiCショットキーバリアダイオードを並列接続し、かつSiダイオードに直列にインダクタンス要素を挿入接続して構成した還流ダイオード回路FWDを、逆並列接続した半導体スイッチ素子で構成することで、図8や図9に示したスイッチング周波数fcが高い領域では逆回復損失が小さくなるためスイッチング損失(ターンオン損失、逆回復損失)の低減につながり、また、制動運転時の高速運転時においては、還流ダイオードFWDの導通率が支配的になり、スイッチング周波数fcが小さいため、導通損失をより小さく抑えることが可能となるので、電力変換装置の運転効率を高めることができる。還流ダイオードFWDの導通損失が高い場合は、Siダイオードに直列に接続するインダクタンス成分とSiダイオードのチップ数を適切に増やせば、還流ダイオードFWDの導通損失は抑えられる。さらにインダクタンス要素の効果により、出力周波数が低く、fc≫foとなる低速運転時も、Siダイオードは、ソフトリカバリするため逆回復損失は小さくなる。結果として、全運転領域で発生損失を低減させることができる。
記号の説明
Vs:交流電源、Drec:交流-直流変換回路、INV:直流-交流変換回路、Cm:コンデンサ、M:負荷、Su〜Sz:スイッチング素子、CTu〜CTw:出力電流検出器、CNT:制御装置、Qu,Qx:半導体スイッチ素子、Du,Dx:Siダイオード、SBDu,SBDx:SiCショットキーバリアダイオード、FWD:還流ダイオード回路、Lu,Lx:インダクタンス要素、Tc:トロイダルコア。

Claims (4)

  1. 半導体スイッチ素子に還流ダイオードを逆並列接続して構成したスイッチ素子で構成した電力変換装置において、前記還流ダイオードを、シリコンダイオードとワイドバンドギャップを有するダイオードとを並列接続して構成し、かつ前記シリコンダイオードと直列にインダクタンス要素を挿入接続したことを特徴とする電力変換装置。
  2. 前記インダクタンス要素は、前記半導体スイッチ素子と前記シリコンダイオードとを接続する配線自身によって形成することを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。
  3. 前記インダクタンス要素は、前記シリコンダイオードと、前記半導体スイッチ素子とを接続する配線に磁性体を磁気的に結合して形成することを特徴とする請求項1に記載の電力変換装置。
  4. 請求項1〜3に記載した電力変換装置により、鉄道車両用モータ駆動用の電力変換装置を構成することを特徴とする電力変換装置。
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