JP2017037047A - 電子部品の実装状態の評価方法及び電子部品の実装状態の評価用部材 - Google Patents
電子部品の実装状態の評価方法及び電子部品の実装状態の評価用部材 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017037047A JP2017037047A JP2015160103A JP2015160103A JP2017037047A JP 2017037047 A JP2017037047 A JP 2017037047A JP 2015160103 A JP2015160103 A JP 2015160103A JP 2015160103 A JP2015160103 A JP 2015160103A JP 2017037047 A JP2017037047 A JP 2017037047A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- mounting
- current
- voltage
- mounting state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
【課題】電子部品の実装状態の評価を行う。【解決手段】基板に実装された電子部品の実装状態を評価する方法であって、前記電子部品に電流を流すための電流端子部と、電位差を検出するために前記電流端子部から引き出された少なくとも2つの電圧端子部と、を有する電子部品の実装状態の評価用部材を準備するステップと、前記電流端子部に前記電子部品を実装するステップと、前記電流端子部から前記電子部品に通電した状態において、前記電圧端子部間における電圧を測定して抵抗値を求めるステップと、を有する電子部品の実装状態の評価方法。【選択図】図5
Description
本発明は、電子部品の実装状態の評価技術に関する。
例えば、チップ型の抵抗器、インダクタ、コンデンサなどの電子部品をプリント基板にはんだ実装する場合、実装条件によってはんだフィレットの形状や、はんだ組織の状態が異なることがある。また、熱衝撃が加わることで部材間に熱膨張差が生じ、はんだ接合部に応力が集中してクラックが入ることもある。
はんだフィレットの状態は、実装されている電子部品の耐久性や性能に影響するため、電子機器の生産時に、電子部品の実装状態を検査することがある。このような検査には、画像検査によってはんだフィレットの形状を確認したり、X線透過装置ではんだフィレットの状況を確認したりすることが、一般的である。
しかし、このような方法では、はんだフィレットの内部状況の判別ができず、また高価な設備を要する等の問題がある。はんだ接合部の断面写真による確認方法もあるが、破壊を伴い、経時的な挙動を検討することができない。
はんだ実装状態の良否判別する方法として、特許文献1、2がある。特許文献1には、導体部分21と導体部分22がショート状態になっているか否かを確認することにより、はんだ付け不良を検出することが開示されている。
特許文献2には、実装部品のパターンに対するリード接触、はんだ付け不良状態を検出する方法として、4端子測定法によって、リード28とパターン30の間の抵抗値を測定し、はんだ付け状態の良否を判定する方法が開示されている。
しかしながら、上記の特許文献はいずれも、実装時における実装パターンと実装部品との導通の確認または断線を検出するものであり、はんだ実装における接合状態、フィレット部分の状態の評価はできない。
本発明は、はんだ実装における接合状態、フィレット部分の状態の評価を行うことを目的とする。
本発明の一観点によれば、基板に実装された電子部品の実装状態を評価する方法であって、前記電子部品に電流を流すための電流端子部と、電位差を検出するために前記電流端子部から引き出された少なくとも2つの電圧端子部と、を有する電子部品の実装状態の評価用部材を準備するステップと、前記電流端子部に前記電子部品を実装するステップと、前記電流端子部から前記電子部品に通電した状態において、前記電圧端子部間における電圧を測定して抵抗値を求めるステップと、を有する電子部品の実装状態の評価方法が提供される。前記電圧端子部を3つ備えることを特徴とする。3つの電圧端子部のうちから2つを任意に選択して異なる接続領域の抵抗値を測定することで、電子部品の実装状態を電気的に評価することができる。
前記電子部品を実装するステップにおいて、前記電子部品の電極と前記電流端子部との当接部と、前記当接部の周囲に形成された接合剤のフィレットと、が形成され、前記当接部の側部と、前記フィレットの側部とにおける電位差を測定できるように、前記2つの電圧端子部がそれぞれ配置されていることが好ましい。電子部品の電極のサイズ等に合わせて電圧端子部を、予め設計しておくと良い。
前記電圧端子部は、前記電流端子部の電流の流れる方向において異なる複数の位置から引き出されており、選択された2つの前記電圧端子部において電圧を測定することが好ましい。
尚、前記電圧端子部を電流の流れる方向と交差する方向にも分岐させることで、より精密に実装状態を評価することも可能である。
本発明の他の観点によれば、基板と、前記基板に形成され、電子部品を実装するための電流端子部と、前記電流端子部から引き出され、電位差を検出するための少なくとも2つの電圧端子部と、を備えた電子部品の実装状態の評価用部材が提供される。
前記電圧端子部は、前記電流端子部の電流の流れる方向において異なる複数の位置から引き出されていることが好ましい。
本発明によれば、はんだ実装における接合状態、フィレット部分の状態の評価を行うことができる。
本明細書において、評価対象となる電子部品は、電極を備えた電子部品である、電子部品は、例えば、チップ型の抵抗器、インダクタ、コンデンサなどであり、プリント基板にはんだ実装するものである。
以下に、本発明の実施の形態による電子部品の実装状態の評価技術について図面を参照しながら詳細に説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、本発明の第1の実施の形態による電子部品の実装状態の評価用部品の一構成例を示す平面図である。図2は、実装する電子部品の一例として示すチップ型抵抗器の斜視図(a)、及びIa−Ib線に沿う断面図(b)である。
図1は、本発明の第1の実施の形態による電子部品の実装状態の評価用部品の一構成例を示す平面図である。図2は、実装する電子部品の一例として示すチップ型抵抗器の斜視図(a)、及びIa−Ib線に沿う断面図(b)である。
また、図3は、図1に示す評価用部品に図2に示すチップ型抵抗器をはんだ付けした状態を示す平面図であり、図4は、そのIc−Id線に沿う断面図である。
図1に示すように、電子部品の実装状態の評価用部品Aは、例えばガラスエポキシ基板などからなる検査用基板1と、その上に形成された例えば銅箔などの導電性パターンにより形成され、電流を流すためのコネクタ等を接続する部分と電子部品を実装する部分とを含む配線パターン11と、を有する。
配線パターン11は、検査用基板1上に、フォトリソグラフィー技術を利用し、銅箔をエッチングしてパターンを形成する。
配線パターン11は、電子部品を実装し電子部品に電流を流すための幅Wnの電流端子部15a、15bと、電位差を検出するための少なくとも2つの電圧端子部17、18と、を備えている。電圧端子部17、18は、電流端子部15a、15bのそれぞれに対して少なくとも3つ備える。電圧端子部を3つ備えることで、異なる領域の電圧を測定することができる。
図1の例では、4端子法により電位差を測定するための端子として、電流を流すための電流端子部15a、15bのそれぞれから分岐して、電圧端子部17a〜17c、18a〜18cが設けられている。電圧端子部17a〜17c、18a〜18cは、電流端子部15a、15bの異なる位置P1〜P3、P11〜P13から引出用配線21a〜21c、23a〜23cにより引き出されており、例えば、図1において、P1−P2間、P11−P12間がW1、P1−P3間、P11−P13間がW2、である。すなわち、電圧端子部17、18は、電流端子部15a、15bの電流の流れる方向における異なる位置P1、P2、P3、…、P11、P12、P13、…から複数(少なくとも3つ)分岐して設けられている。電圧端子部は、電流端子部のいずれか一方に形成するようにしてもよい。
尚、電圧端子部17a〜17c、18a〜18cと記載しているが、図1において、位置P1〜P3、P11〜P13から引出用配線21a〜21c、23a〜23cにより引き出されているため、実効的な電圧端子部は、位置P1〜P3、P11〜P13の位置となる。以下、電圧端子部17a〜17c、18a〜18cと記載した場合の、実効的な電圧端子部の位置は、位置P1〜P3、P11〜P13となる。尚、電圧端子部の位置は、幅Wnの任意の位置にW1,W2・・・Wiで示すような間隔を有し設けることができる。
図2(a)に示すチップ型抵抗器31は、セラミックス基板32と、その両側面と、上面及び下面の一部領域とに形成されている電極33a、33bと、を有する。電極33a、33b間に、酸化ルテニウム(RuO2)などによる低抵抗材により形成された抵抗体36が、例えば、セラミックス基板32の幅方向の中央領域に設けられている。抵抗体36は、例えば、エポキシ樹脂などの保護膜35により覆われている。
図5は、本実施の形態による電子部品の実装状態の評価方法の流れを示すフローチャート図である。
評価処理を開始すると(図5:Start: ステップS1)、図2に示すチップ型抵抗器31を準備し(図5: ステップS2)、図3、図4に示すように、評価用部品Aにはんだや導電性接着剤により固定する(図5: ステップS3)。
配線パターン11の電流端子部15a、15bの対向する端部に電子部品の電極33a、33bの下部表面が接するように、評価用部品であるチップ型抵抗器31を当接させ、介在するはんだにより接着し固定する。図4において、符号41a、41bで示すように、はんだによるフィレットが形成される。これにより、チップ型抵抗器31の実装状態と同じ状態となるため、その実装状態を正確に評価することができる。
実効的に位置P1〜P3、P11〜P13に設けられている電圧端子部17a〜17c、18a〜18cは、はんだにより接着される当接部38a、38bの外側の側部の位置と、フィレット41a、41bの外側の側部の位置とに形成する。
このような実装状態で、電流端子部15a、15bと電圧端子部17a〜17c、18a〜18cとを利用して、4端子測定法により配線パターン11に搭載される電子部品31の各部位(配線パターン11との接続領域)における抵抗値を測定する(図5: ステップS4)。この抵抗値に基づいて、後述するように電子部品の実装状態を評価することができる(図5: ステップS5: End)。
図6は、電流端子部15a、15b間に電流を流しながら電圧を測定する電圧端子部17、18のいずれかを選択に依存して、評価できる対象を説明するための図である。図6では、引出用配線21a〜21c、23a〜23cにより、どの電圧端子を選択するかを示している。
1)電圧端子(引出用配線)として、引出用配線21aと21bとを選択すると、符号41aで示す領域(図4の当接部38aに相当する。)の抵抗値を評価することができる。従って、領域AR1における実装状態を評価することができる。
2)電圧端子(引出用配線)として、23aと23bとを選択すると、符号43aに示す領域(図4の当接部38bに相当する。)の抵抗値を評価することができる。従って、領域AR2における実装状態を評価することができる。
3)電圧端子(引出用配線)として、21bと21cとを選択すると、符号41cに示す領域(図4のフィレット41aの底面に相当する。)の抵抗値を評価することができる。従って、領域AR3(領域AR1を除く)における実装状態を評価することができる。
4)電圧端子(引出用配線)として、23bと23cとを選択すると、符号43cに
示す領域(図4のフィレット41bの底面に相当する。)の抵抗値を評価することができる。従って、領域AR4(領域AR2を除く)における実装状態を評価することができる。
示す領域(図4のフィレット41bの底面に相当する。)の抵抗値を評価することができる。従って、領域AR4(領域AR2を除く)における実装状態を評価することができる。
5)電圧端子(引出用配線)として、引出用配線21aと21cとを選択すると、符号41bに示す領域(図4の当接部38aとフィレット41aの底面に相当する。)の抵抗値を評価することができる。従って、領域AR3における実装状態を評価することができる。
6)電圧端子(引出用配線)として、23aと23cとを選択すると、符号43bに示す領域(図4の当接部38bとフィレット41bの底面に相当する。)の抵抗値を評価することができる。従って、領域AR4における実装状態を評価することができる。
さらに、1)、3)、5)あるいは2)、4)、6)を総合的に評価することで、以下に示すように、実装状態をより詳細に評価することができる。
図7Aは、はんだによる電子部品と実装用のパターンとの接続が正常である実装状態を示す平面図である。図7AにおけるV1、V2、V3の抵抗値とTCRを測定した結果は以下の表1のようになった。
(表1)
抵抗値 TCR
V1:0.054 mΩ 3877×10-6/K
V2:0.011 mΩ 4404×10-6/K
V3:0.065 mΩ 3945×10-6/K
抵抗値 TCR
V1:0.054 mΩ 3877×10-6/K
V2:0.011 mΩ 4404×10-6/K
V3:0.065 mΩ 3945×10-6/K
表1より、抵抗値は、おおむねV1+V2=V3の関係にあることがわかる。すなわち、はんだによる電子部品と実装用のパターンとの接続が正常である場合には、単に、領域の面積にほぼ比例する抵抗値が得られることがわかる。
図7Bは、はんだによる電子部品と実装用のパターンとの接続において、はんだの付着領域に電流端子部15aの長さ方向の偏りが生じた場合の実装状態を示す平面図である。図7BにおけるV1、V2、V3の抵抗値とTCRを測定した結果は以下の表2のようになった。
(表2)
抵抗値 TCR
V1:0.055 mΩ 3768×10-6/K
V2:0.033 mΩ 4180×10-6/K
V3:0.080 mΩ 3920×10-6/K
抵抗値 TCR
V1:0.055 mΩ 3768×10-6/K
V2:0.033 mΩ 4180×10-6/K
V3:0.080 mΩ 3920×10-6/K
表2より、抵抗値は、V2が表1のV2に比べて高く、かつ、V1+V2>V3の関係にあることがわかる。すなわち、はんだの付着状態に偏りが生じた場合には、正常に実装された場合と比べて、傾向の異なる抵抗値が得られることがわかる。
図7Cは、はんだによる電子部品と実装用のパターンとの接続において、電子部品が電流端子部15aの長さ方向に対して斜めに実装された状態を示す平面図である。図7CにおけるV1、V2、V3の抵抗値とTCRを測定した結果は以下の表3のようになった。
(表3)
抵抗値 TCR
V1:0.042 mΩ 3782×10-6/K
V2:0.007 mΩ 4040×10-6/K
V3:0.035 mΩ 3842×10-6/K
抵抗値 TCR
V1:0.042 mΩ 3782×10-6/K
V2:0.007 mΩ 4040×10-6/K
V3:0.035 mΩ 3842×10-6/K
表3より、抵抗値は、V2が表1のV2に比べて低く、かつ、V1+V2>V3の関係にあることがわかる。すなわち、電子部品が電流端子部15aの長さ方向に対して斜めに実装された場合には、正常に実装された場合と比べて、傾向の異なる抵抗値が得られることがわかる。
以上のように、本実施の形態による電子部品の実装状態の評価技術を用いると、電子部品の実装状態を電気的に評価することができ、実際に電子部品を実装する際の問題点等を知ることができる。
(第2の実施の形態)
図8は、本発明の第2の実施の形態による電子部品の実装状態の評価用部品の一構成例を示す平面図である。本実施の形態による評価用部品Bにおける配線パターン部11は、4端子法により電位差を測定するための端子として、電流を流すための電流端子部15a、15bと、電流端子部15a、15bのそれぞれから分岐するように、電位差を検出するための電圧端子部が多数設けられている。多数の電圧端子部は、電流端子部15a、15bのそれぞれから、符号17x−1、17x−2に示すように、基板1表面により画定されるx−y平面のx方向において異なる位置から分岐する。
図8は、本発明の第2の実施の形態による電子部品の実装状態の評価用部品の一構成例を示す平面図である。本実施の形態による評価用部品Bにおける配線パターン部11は、4端子法により電位差を測定するための端子として、電流を流すための電流端子部15a、15bと、電流端子部15a、15bのそれぞれから分岐するように、電位差を検出するための電圧端子部が多数設けられている。多数の電圧端子部は、電流端子部15a、15bのそれぞれから、符号17x−1、17x−2に示すように、基板1表面により画定されるx−y平面のx方向において異なる位置から分岐する。
さらに、電圧端子部17x−1、17x−2は、電流端子部15a、15bのそれぞれから、x−y平面のy方向において異なる位置から分岐する。
このように構成することで、電子部品(チップ型抵抗器)31と電流端子部15a、15bとの間のはんだによる実装領域AR11、AR12のそれぞれの4辺の任意の位置を電圧端子部17x−1、17x−2の位置として選択して、抵抗を測定することができる。従って、電子部品の実装状態を、領域をより細分化して電気的に評価することができる。
尚、図8に示す電圧端子部17x−1、17x−2の分岐位置は、一例であり、目的に応じて任意の位置に設ければ良い。
(第3の実施の形態)
図9は、本発明の第3の実施の形態による電子部品の実装状態の評価用部品の一構成例を示す図である。本実施の形態による評価用部品Cは、4端子法により電位差を測定するための端子として、電流を流すための電流端子部15a、15bのそれぞれから分岐するように、電位差を検出するための電圧端子部が多数設けられている。端子部15a、15bのそれぞれから、x−y平面のx方向において異なる位置から分岐する多数の電圧端子部17y、17y・・・が設けられている。さらに、電子部品の電極33a、33bに、プローブ51a、51bをあてたり、ワイヤーボンディングを行ったりすることにより、これらの、プローブ51a、51b等を、電圧端子部17yのうちのいずれか1つと対を成す一方の電圧測定用端子(電圧端子部)の一方として利用することができる。従って、図8のような決められた位置に限らず、一方の電圧測定用端子の位置を任意の位置とすることができる。
このようにすることで、はんだフィレット41a、41bの部分の状態をより詳細に分析することもできる。
図9は、本発明の第3の実施の形態による電子部品の実装状態の評価用部品の一構成例を示す図である。本実施の形態による評価用部品Cは、4端子法により電位差を測定するための端子として、電流を流すための電流端子部15a、15bのそれぞれから分岐するように、電位差を検出するための電圧端子部が多数設けられている。端子部15a、15bのそれぞれから、x−y平面のx方向において異なる位置から分岐する多数の電圧端子部17y、17y・・・が設けられている。さらに、電子部品の電極33a、33bに、プローブ51a、51bをあてたり、ワイヤーボンディングを行ったりすることにより、これらの、プローブ51a、51b等を、電圧端子部17yのうちのいずれか1つと対を成す一方の電圧測定用端子(電圧端子部)の一方として利用することができる。従って、図8のような決められた位置に限らず、一方の電圧測定用端子の位置を任意の位置とすることができる。
このようにすることで、はんだフィレット41a、41bの部分の状態をより詳細に分析することもできる。
尚、図10(a)、図10(b)に示すように、本実施の形態による実装状態の評価方法は、チップ型抵抗器のみでなく、インダクタ、コンデンサなどの電子部品の実装状態の評価にも応用することができる。
例えば、図10(a)、図10(b)に示すように、素体52を電極33a、33bで挟んだチップ型積層コンデンサを図4と同様に評価用基板1に実装して、図10(b)に示すように、プローブ51a、51bをあてたり、ワイヤーボンディングすることで、コンデンサの実装状態を抵抗値により電気的に評価したりすることができる。また、プローブ51a、51bおよび電圧端子17yのいずれかと、これと導通する電流端子部との間で電流を流し(コンデンサ等の素体には電流が流れない状態で)、それ以外の電圧端子17yによって電圧を測定してもよい。
以上に説明したように、本発明の各実施の形態によれば、電子部品について、耐熱試験やヒートサイクル試験など、耐久試験を行う際に、電圧測定を随時モニターすることによって、はんだによる接合状態の経時変化を数値化することができる。最適な実装条件などの特定に大きく寄与する。
上記の例では、電子部品と評価用部材との接着剤としてはんだを用いた例を説明したが、その他、導電性接着剤による実装にも適用可能である。
上記の実施の形態において、添付図面に図示されている構成等については、これらに限定されるものではなく、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。
また、本発明の各構成要素は、任意に取捨選択することができ、取捨選択した構成を具備する発明も本発明に含まれるものである。
本発明は、電子部品の実装状態の評価方法として利用可能である。
A…電子部品の実装状態の評価用部品、1…評価用基板、11…配線パターン部、15a、15b…電流端子部、17、18…電圧端子部、21a〜21c、23a〜23c…引出用配線、31…チップ型抵抗器、32…セラミックス基板、33a、33b…電極、38a、38b…当接部、41a、41b…フィレット、51a、51b…プローブ。
Claims (6)
- 基板に実装された電子部品の実装状態を評価する方法であって、
前記電子部品に電流を流すための電流端子部と、電位差を検出するために前記電流端子部から引き出された少なくとも2つの電圧端子部と、を有する電子部品の実装状態の評価用部材を準備するステップと、
前記電流端子部に前記電子部品を実装するステップと、
前記電流端子部から前記電子部品に通電した状態において、前記電圧端子部間における電圧を測定して抵抗値を求めるステップと、を有する電子部品の実装状態の評価方法。 - 前記電圧端子部を3つ備えることを特徴とする請求項1に記載の電子部品の実装状態の評価方法。
- 前記電子部品を実装するステップにおいて、
前記電子部品の電極と前記電流端子部との当接部と、前記当接部の周囲に形成された接合剤のフィレットと、が形成され、
前記当接部の側部と、前記フィレットの側部とにおける電位差を測定できるように、前記少なくとも2つの電圧端子部がそれぞれ配置されている請求項1に記載の電子部品の実装状態の評価方法。 - 前記電圧端子部は、前記電流端子部の電流の流れる方向において異なる複数の位置から引き出されており、
選択された2つの前記電圧端子部において電圧を測定することを特徴とする請求項1から3までのいずれか1項に記載の電子部品の実装状態の評価方法。 - 基板と、
前記基板に形成され、電子部品を実装するための電流端子部と、
前記電流端子部から引き出され、電位差を検出するための少なくとも2つの電圧端子部と、を備えた電子部品の実装状態の評価用部材。 - 前記電圧端子部は、前記電流端子部の電流の流れる方向において異なる複数の位置から引き出されていることを特徴とする請求項5に記載の電子部品の実装状態の評価用部材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015160103A JP2017037047A (ja) | 2015-08-14 | 2015-08-14 | 電子部品の実装状態の評価方法及び電子部品の実装状態の評価用部材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015160103A JP2017037047A (ja) | 2015-08-14 | 2015-08-14 | 電子部品の実装状態の評価方法及び電子部品の実装状態の評価用部材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017037047A true JP2017037047A (ja) | 2017-02-16 |
Family
ID=58047561
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015160103A Pending JP2017037047A (ja) | 2015-08-14 | 2015-08-14 | 電子部品の実装状態の評価方法及び電子部品の実装状態の評価用部材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017037047A (ja) |
-
2015
- 2015-08-14 JP JP2015160103A patent/JP2017037047A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108225963B (zh) | 基于bga焊点可靠性测试的pcb设计方法 | |
JP6730106B2 (ja) | シャント抵抗器の実装構造および実装基板 | |
EP1758436A1 (en) | Electronic package and circuit board having segmented contact pads | |
KR20110123977A (ko) | 회로 기판 및 상기 회로 기판에 장착된 성분의 테스트 방법 | |
US6535005B1 (en) | Systems and methods for obtaining an electrical characteristics of a circuit board assembly process | |
CN110701986B (zh) | 电磁感应式位置传感器的传感器基板及其制造方法 | |
TWI526132B (zh) | Correction film structure | |
US10764994B2 (en) | Circuit boards and circuit board assemblies | |
JP2013077842A (ja) | 配線板、配線板の検査方法 | |
CN110506212B (zh) | 电连接装置 | |
JP2017037047A (ja) | 電子部品の実装状態の評価方法及び電子部品の実装状態の評価用部材 | |
JP2006165325A (ja) | Icパッケージを実装した基板の配線構造、及び電気接続不良検査方法 | |
JP5332247B2 (ja) | 配線板 | |
JP4757695B2 (ja) | 検査用チップ型電子部品及び実装状態検査方法 | |
KR100801899B1 (ko) | 인쇄회로기판 검사방법 | |
JP2008028213A (ja) | 回路基板及びその検査方法 | |
KR20200026078A (ko) | 배선기판 | |
JP2004221574A (ja) | バイパスコンデンサの実装・非実装検査方法および多層基板のスルーホール断線検出方法 | |
JP5626567B2 (ja) | 素子実装基板の組み立て方法 | |
JP2005164469A (ja) | 電流検出用抵抗装置およびその製造方法 | |
TWI486598B (zh) | 電性連接組件及其檢測方法 | |
JP2010080770A (ja) | 電子回路モジュールおよびその検査方法 | |
JP2002299805A (ja) | 回路基板と実装位置の検査方法 | |
JP2010093207A (ja) | プリント配線板のはんだ接合検査用配線構造 | |
JP4131137B2 (ja) | インターポーザ基板の導通検査方法 |