JP2017003478A - 環境試験装置 - Google Patents

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宏信 西畠
Hironobu Nishibatake
宏信 西畠
雅之 神田
Masayuki Kanda
雅之 神田
充隼 島塚
Mitsuhaya Shimazuka
充隼 島塚
裕介 辻口
Yusuke Tsujiguchi
裕介 辻口
昌隆 小嶋
Masataka Kojima
昌隆 小嶋
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Abstract

【課題】試験環境ガスを露点以上に保って結露の発生を防止し、異物の混入を防止して適正な雰囲気下で環境試験を行うことができる環境試験装置を提供する。【解決手段】被試験物を納める環境チャンバー5と、環境チャンバー5に試験環境ガスを供給するガス供給装置4を備え、ガス供給装置4は、ガス給気路51を通して清浄な試験環境ガスを環境チャンバー5に供給するガス供給源6と、試験環境ガスに含まれる水蒸気量を制御する湿度コントローラ9を備え、湿度コントローラ9は、ガス給気路51に介装した膜式加湿器62と、膜式加湿器62に清浄な加湿用水を供給する加湿用水供給源64を有する。【選択図】図5

Description

本発明は、精密機器等の環境に対する耐久性を試験する環境試験装置に関し、環境試験装置で使用する雰囲気ガスの調製、供給の技術に係るものである。
従来、一般的な環境試験装置は、試験対象機器を覆うチャンバーと、チャンバー内の雰囲気を形成する試験環境ガスを調製するガス発生装置を備えている。
例えば特許文献1に記載するものでは、調湿空気発生手段が乾燥空気及び加湿空気の流出量を調整混合して所定流量の調湿空気を発生させ、希釈ガス発生手段が乾燥空気の流出量を調整して所定流量の希釈乾燥空気を発生させるか、もしくは希釈ガス発生手段が腐食性ガス及び乾燥空気の流出量を調整混合して所定流量の一次腐食性希釈ガスを発生させるものであり、混合手段が調湿空気及び希釈乾燥空気を混合して湿度環境空気として試験槽に供給し、又は、混合手段が調湿空気及び一次腐食性希釈ガスを混合して湿度ガス環境空気として試験槽に供給するものである。
また、特許文献2は、試料を収納し、かつ温度を一定に保つことができる機能を有する恒温槽と、温湿度を調製するためのガス調製槽を備えており、ガス調製槽と恒温槽との間を遮断弁を有するガス導入配管で接続して、所定の温度及び湿度に調製した雰囲気を恒温槽内に導入する。
特開平7−204524 特開2003−65943
ところで、チャンバーは試験対象機器を周囲の大気から隔離し、雰囲気として試験環境ガスを封入するためのカバー部を備えており、試験中に試験対象機器を観察するためにカバー部を透明材で形成するか、あるいはカバー部に透明材からなる観察窓が設けられている。
カバー部は外表面が外気に接触して外気温の影響を受ける。このため、ガス供給装置からチャンバーに供給するガス給気路において試験環境ガスの温度が露点以下もしくは露点近傍であると、チャンバー内の試験環境ガスがカバー部の内壁面に接触して露点以下となって結露する場合があり、カバー部や観察窓が表面結露で曇って視認性が悪化することがある。
また、チャンバーに供給する試験環境ガスが塵埃や細菌等の異物を含んでいると、試験環境を阻害する要因となり、加湿時における異物の混入を防止する必要がある。
本発明は上記した課題を解決するものであり、試験環境ガスの温度を内壁面近傍を含めて露点以上に保って結露の発生を防止し、異物の混入を防止して適正な雰囲気下で環境試験を行うことができる環境試験装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の環境試験装置は、被試験物を納めるチャンバーと、チャンバーに試験環境ガスを供給するガス供給装置を備え、ガス供給装置は、ガス給気路を通して清浄な試験環境ガスをチャンバーに供給するガス供給源と、試験環境ガスに含まれる水蒸気量を制御する湿度コントローラを備え、湿度コントローラは、ガス給気路に介装した膜式加湿器と、膜式加湿器に清浄な加湿用水を供給する加湿用水供給源を有することを特徴とする。
本発明の環境試験装置において、ガス給気路は、非加湿の試験環境ガスが流れる非加湿用管路と、膜式加湿器を介装した加湿用管路を備え、加湿用管路の上流側と下流側に非加湿用管路との接続を制御する弁装置を有することを特徴とする。
本発明の環境試験装置において、ガス給気路は、試験環境ガスを所定温度に加熱するガス加熱装置を有し、ガス加熱装置は、膜式加湿器に近いほどに試験環境ガスに与える単位時間当たりの熱量を多くして、チャンバーに近いほどに試験環境ガスに与える単位時間当たりの熱量を少なくして、試験環境ガスを加熱することを特徴とする。
本発明の環境試験装置において、ガス加熱装置は、ガス給気路の外周面に巻回した加熱用コイルを有し、加熱用コイルは、膜式加湿器に近いほどにコイル巻数が多くて密に存在し、チャンバーに近いほどにコイル巻数が少なくて疎に存在することを特徴とする。
以上のように本発明によれば、精密ろ過膜や限外濾過膜からなる中空糸膜や平膜を使用した膜式加湿器を使用することにより、加湿工程において試験環境ガス中に異物が混入することを防止でき、高湿で清浄な試験環境ガスを安定的に供給できる。
また、ガス給気路に非加湿用管路と加湿用管路を備え、加湿しない空気を非加湿用管路からチャンバーに供給する際に、加湿用管路をガス給気路から分離することで、非加湿用管路を通してチャンバーに供給する非加湿の試験環境ガスが加湿用管路の膜式加湿器に残留している水分によって加湿されることを防止できる。
また、ガス供給系において試験環境ガスを加熱する場合に、試験環境ガスに上流側で与えた熱に下流側で与える熱が加算的に蓄熱され、チャンバーに供給する時点で試験環境ガスの温度が目標温度より高温となる現象が起こり易いが、ガス供給系で試験環境ガスに与える熱量を上流側で多く下流側で少なくすることで試験環境ガスの温度制御を容易に行うことができる。
本発明の実施の形態における環境試験装置を示す模式図 同環境試験装置のヒートシンクを示す平面図 同環境試験装置のヒートシンクを示す断面図 同環境試験装置の構成を示すブロック図 同環境試験装置の湿度コントローラの構成を示すブロック図 同環境試験装置の膜式加湿器を示す模式図 同環境試験装置の加熱装置を示す模式図
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図4に示すように、本発明におけるチャンバーの一例であるテスター1は電子機器等の作動試験を行うものであり、テスター1をテスターコントローラ2で操作しつつ監視装置3で試験状況を監視する。本実施の形態では、試験対象の電子機器を装着したテスター1を被試験物として説明する。
図4において、試験環境ガスを供給するガス供給装置はガス供給系4で構成されており、ここでは本発明におけるチャンバーの一例である環境チャンバー5の内部にテスター1を配置し、環境チャンバー5とテスター1の双方にガス供給系4が接続した状態を便宜的に示しているが、実際の運用においてはテスター1と環境チャンバー5の何れかに接続するものである。しかし、双方に連通させて運用することも可能である。
ガス供給系4は、異物を除去した清浄な試験環境ガスを供給するガス供給源6と、メインコントローラ7に設けられて試験環境ガスの供給流量を制御する流量コントローラ8と、試験環境ガスに含まれる水蒸気量を制御する湿度コントローラ9を備えている。本実施の形態において、試験環境ガスは相対湿度5−90%の高湿気体に調製するものであり、飽和空気を使用することも可能である。
また、テスター1およびカバー部22にはガス排気系10が接続しており、ガス排気系10は、吸引ポンプ11とメインコントローラ7に設けられた調圧弁12を備えている。
さらに、環境チャンバー5には冷却系13が接続しており、冷却系13は冷媒を供給する冷却コントローラ14を備えている。
図5に示すように、湿度コントローラ9は、ガス供給系4のガス給気路51の一部をなす主管路52を備え、主管路52に上流側から下流側に向けて順次に三方弁53、複数の分岐路に配置した空気式開閉弁A56、空気式開閉弁B57を介装している。ここでは、二つの空気式開閉弁A56、空気式開閉弁B57を開示したが、分岐路の数には限定がない。各空気式開閉弁A56、空気式開閉弁B57には制御用空気供給源58が三方弁59を介して接続している。
主管路52は三方弁53において非加湿用管路60と加湿用管路61とに分岐し、加湿用管路61に上流側から下流側へ順次に膜式加湿器62、ラインヒータ54、ウォータセバレータ55、開閉弁63を介装し、開閉弁63の下流側で加湿用管路61が非加湿用管路60に合流しており、加湿用管路61の上流側と下流側に位置する弁装置の三方弁53と開閉弁63によって非加湿用管路60と加湿用管路61の接続を制御する。膜式加湿器62には清浄な加湿用水を供給する給水系64が接続している。三方弁53に代えて非加湿用管路60と加湿用管路61のそれぞれに開閉弁を設けることも可能である。
加水用水供給源をなす給水系64は、加湿用水として純水を供給する純水供給源65を有し、純水供給源65から膜式加湿器62に至る給水管路66には上流側から下流側へ順次に開閉弁C67、水槽68、給水ポンプ69を介装している。水槽68は内部にヒータ70と温度計71を有し、膜式加湿器62の加湿器リターン管72と、開閉弁D73を有する水槽ドレーン管74が接続している。また、水槽ドレーン管74にはウォータセパレータ55のセパレータドレーン管75が接続している。
図6に膜式加湿器62の構造の一例を示す。膜式加湿器62は、加湿用管路60に接続するガス入口621とガス出口622の間に試験環境ガスの通路となる複数の中空糸膜623を有し、中空糸膜623の周囲に形成した加湿用水空間624に給水管路66と加湿器リターン管72が接続している。本実施の形態では中空糸膜623を例示したが、膜の形態としては平膜やセラミック膜の使用も可能であり、膜性能としては精密ろ過膜や限外濾過膜の使用が可能である。
図7に示すように、湿度コントローラ9から環境チャンバー5に至るガス供給系4は外周にガス加熱装置76を有しており、ガス加熱装置76はガス給気路51の外周面に巻回した加熱用コイル77からなり、加熱用コイル77が電源装置(図示省略)に接続している。加熱用コイル77は、膜式加湿器62に近いほどにコイル巻数が多くて密に存在し、環境チャンバー5に近いほどにコイル巻数が少なくて疎に存在しており、膜式加湿器62に近いほどに試験環境ガスに与える単位時間当たりの熱量を多くして、チャンバーに近いほどに試験環境ガスに与える単位時間当たりの熱量を少なくして、試験環境ガスを加熱する。
図7に示す加熱用コイル77の巻き方は、一定の範囲でコイルを同密度に巻回し、次の範囲で先の範囲のコイルの密度より疎に巻回し、段階的にコイル巻回数が低下する形態を示している。また、加熱用コイル77はコイル巻回数が漸次に密から疎へ減少する形態に配置することもでき、さらに、部分的に加熱用コイル77を密に巻いたコイル部分を複数個所に設け、コイル部分の相互間を次第に大きく設定することで疎密状態を形成することも可能である。また、加熱用コイル77の通電を複数区間に分けて行い、各区間における電流を調整することによっても熱量を調整することも可能である。
図1から図3において、被試験物のテスター1を納める環境チャンバー5は、本体部21とカバー部22を開閉自在にヒンジ23で連結しており、カバー部22はヒンジ23に対向する一側に取っ手24を設けている。カバー部22は上下に昇降自在に配置することも可能である。
カバー部22は、テスター1を覆って本体部21の上に配置するもので、テスター1の周囲に試験環境ガスを満たす試験環境空間25を形成しており、本実施の形態では全体が樹脂の透明体からなるが、観察窓等のように少なくとも一部がカバー部22の内部を視認可能な透明体からなれば良い。また、テスター1に観察窓を設けることも可能である。カバー部22は、内部の熱が外気へ放熱されることを防止するために二重構造にして空気層を有する断熱構造を形成している。この二重構造によりカバー部22は重くなるが、ヒンジ23による結合構造を有することで、容易に開閉操作を行える。
本体部21は、筺体26の内部空間27と試験環境空間25とが樹脂製ベース28で隔てられており、樹脂製ベース28がヒートシンク29を筺体26に対して非接触状態に支持している。このため、ヒートシンク29の熱が筺体26に直接的に伝わらず、筺体26の過熱、過冷却を防止できる。
ヒートシンク29の上方は、ヒートシンクカバー30が覆っており、ファン装置31が送風口32をヒートシンクカバー30の内側に向けて配置されている。ファン装置31は
試験環境空間25の中に試験環境ガスのガス流を発生させて試験環境空間25の雰囲気の均質化を行うものであり、ファン装置31の送風口32の下流側位置には、ガス供給系4に連通するガス流入口33が樹脂製ベース28に開口している。
ヒートシンク29はガス流入口33の下流側位置に位置しており、ヒートシンクカバー30はガス流入口33およびヒートシンク29を覆って、テスター1を置く盤面を形成している。ヒートシンク29は底面にクーラープレート34とヒータープレート35を有しており、クーラープレート34は試験環境ガス流の流れ方向において上流側に位置し、冷却コントローラ14に連通している。
図2および図3に示すように、ヒートシンク29はヒートシンクカバー30に対向する上面側に、試験環境ガス流に沿って上流端側から下流端側まで直線状に延びる複数のフィン36を有している。ヒートシンクカバー30はヒートシンク36に近接して配置し、ファン装置31の送風口32、ガス流入口33、ヒートシンク29を含むガス通気路37を形成している。
ヒートシンクカバー30の下流側端部はヒートシンク29の下流側端部よりも上流側に位置し、ガス通気路37の排気口38がカバー部22の壁面に向けて斜め上方に開口している。
以下、上記構成の作用を説明する。ここでは、環境チャンバー5のカバー部22が形成する試験環境空間25にガス供給系4を通して湿度コントローラ9で湿度を調整した試験環境ガスを供給する場合を説明する。
ガス供給系4は、ガス供給源6から異物を除去した清浄で乾燥した試験環境ガスを供給し、流量コントローラ8で試験環境ガスの供給流量を制御しつつ湿度コントローラ9を通して環境チャンバー5あるいはテスター1に試験環境ガスを供給する。ガス排気系10は調圧弁12で圧力を調整しつつ吸引ポンプ11で試験環境ガスを吸引して排気する。 湿度コントローラ9は、試験環境ガスの加湿時に三方弁53を加湿用管路61の側に切り替え、開閉弁63を開栓してガス供給源6から供給する試験環境ガスを加湿用管路61に通気する。
また、環境チャンバー5あるいはテスター1に乾燥した試験環境ガスを供給する場合は、三方弁53を非加湿用管路60の側に切り替え、開閉弁63を閉栓してガス供給源6から供給する試験環境ガスを非加湿用管路60に通気する。
尚、三方弁53に代えて非加湿用管路60と加湿用管路61のそれぞれに開閉弁を設ける場合には、加湿時に、非加湿用管路60に設けた開閉弁を閉栓し、加湿用管路61に設けた開閉弁を開栓し、加湿用管路61の下流側に設けた開閉弁63を開栓する。そして、非加湿時に、非加湿用管路60に設けた開閉弁を開栓し、加湿用管路61に設けた開閉弁を閉栓し、加湿用管路61の下流側の開閉弁63を閉栓する。
さらに、必要であれば非加湿用管路60と加湿用管路61を併用することも可能である。併用する場合は、湿度をコントロールするために、非加湿用管路60および加湿用管路61に流量コントローラを設けることが望ましく、非加湿用管路60と加湿用管路61の合流部分での結露を防止するために、非加湿用管路60にラインヒータを設けて加湿用管路61と同等の温度に加温することが望ましい。
膜式加湿器62では、加湿用水空間624に水槽から純水が給水ポンプ69で給水され、純水は加湿器リターン管72を通して水槽68に戻る。中空糸膜623を通る試験環境ガスは膜を通して加湿用水で加湿され、ラインヒータ54で所定温度に加温され、ウォータセパレータ55で余分な水分を除去した後に、環境チャンバー5に供給される。
水槽68では純水供給源65から開閉弁C67を通して純水が補給され、ヒータ70で所定温度に加温される。
湿度コントローラ9から環境チャンバー5に至るガス給気路51では、ガス加熱装置76が試験環境ガスを加熱する。このとき、ガス加熱装置76は膜式加湿器62に近いほどに試験環境ガスに与える単位時間当たりの熱量を多くして、チャンバーに近いほどに試験環境ガスに与える単位時間当たりの熱量を少なくして、試験環境ガスを加熱する。
環境チャンバー5では、ファン装置31が試験環境空間25の試験環境ガスを吸い込んで、下方の送風口32から吹き出し、試験環境空間25に循環気流を形成し、カバー部22の試験環境空間内における雰囲気の温度、湿度の均質化を促進する。
ガス供給系4から供給する試験環境ガスは、ガス流入口33からヒートシンクカバー30のガス通気路37の内部に流入し、試験環境ガスはファン装置31の送風口32から噴き出す気流に乗ってヒートシンク29の上を移動する。
ヒートシンク29はクーラープレート34による冷却作用、もしくはヒータープレート35による加熱作用を受けており、試験環境ガスがファン装置31の送風力でヒートシンクカバー30の内部を強制的に流れてヒートシンク29のフィン36と接触することで、試験環境ガスは加熱もしくは冷却されて所定温度および所定相対湿度の試験環境ガスとなる。
また、試験環境ガスは、ヒートシンク29とヒートシンクカバー30を近接して配置することで、隣接するフィン36の相互間に形成された直線状の通路を流れて整流作用を受け、排気口38からカバー部22の試験環境空間に露点以上の温度で吹き出す。
この露点以上に温度管理、湿度管理された試験環境ガスが試験環境空間に供給されることでテスター1の周囲の雰囲気が所定の試験環境に維持される。また、温度管理、湿度管理された試験環境ガスが整流された気流でカバー部22の内壁面に沿って、かつ内壁面を全体的に流れるので、カバー部22の内壁面の全体において結露を防止でき、カバー部22の透明体の視認性を確保できる。
また、中空糸膜の膜式加湿器62を使用することにより、加湿時に試験環境ガス中に異物が混入することを防止でき、高湿で清浄な試験環境ガスを安定的に供給できる。
さらに、湿度コントローラ9は、乾燥した試験環境ガスを供給する場合に、三方弁53を非加湿用管路60の側に切り替え、開閉弁63を閉栓して、ガス供給源6から供給する非加湿の試験環境ガスを非加湿用管路60に通気する。この時、加湿用管路61はガス給気路51に対して三方弁53および開閉弁63により遮断されるので、環境チャンバー5内の試験環境ガスを吸引して排気する作業を行っても、環境チャンバー5に供給する試験環境ガスが膜式加湿器62に残留している水分によって加湿されることを防止できる。
さらに、ガス供給系4において試験環境ガスを加熱する場合に、試験環境ガスに上流側で与えた熱に下流側で与える熱が加算的に蓄熱され、環境チャンバー5に供給する時点で試験環境ガスの温度が目標温度より高温となる現象が起こり易いが、ガス供給系4で試験環境ガスに与える熱量を上流側で多く下流側で少なくすることで試験環境ガスの温度制御を容易に行うことができる。
Figure 2017003478
表1はラインヒータ54における加熱温度と環境チャンバー5に流入する試験環境ガスの温度との相関を示しており、異なる状態の試験環境ガスを用いてテストした実験結果を示している。
加熱用コイル77の巻き状態は、本実施の形態における「疎密巻き」と、加熱用コイル77を均等に巻いた「均等巻き」である。
試験環境ガスの状態は、ガスの流れのない「ガスフロー無し」、20℃のドライな試験環境ガスを毎分5Lで5分通気した後の「20度ドライ、5l/m(5分後)」、20℃のドライな試験環境ガスを毎分10Lで5分通気した後の「20度ドライ、10l/m(5分後)」、ガスの流れのない状態が5分経過した「ガスフロー無し(5分後)」、45℃の加湿した試験環境ガスを毎分5Lで5分通気した後の「45度加湿、5l/m(5分後)」、45℃の加湿した試験環境ガスを毎分10Lで5分通気した後の「45度加湿、10l/m(5分後)」である。
ラインヒータ54の加熱温度は、「粗密巻き」では49℃、68℃、77℃であり、「均等巻き」では50℃、48℃、49℃、68℃である。
表1から明らかなように、「均等巻き」では「ガスフロー無し」および「ガスフロー無し(5分後)」においてラインヒータ54の温度とガス温度のかい離が小さいが、それ以外のガスの流れがある場合にはラインヒータ54の温度とガス温度のかい離が大きくなる。一方、「粗密巻き」では「ガスフロー無し」および「ガスフロー無し(5分後)」においてラインヒータ54の温度とガス温度のかい離が大きくなる。しかし、ガスの流れがある場合には、何れもラインヒータ54の温度とガス温度のかい離が小さくなる。
したがって、ガス供給系4における均等な加熱では熱が累積的に蓄熱されてラインヒータ54による加熱温度に比べて環境チャンバー5への試験環境ガスの供給温度が高くなり過ぎ、試験環境ガスが結露しない加熱温度にすると試験環境ガスを目標温度に制御することが困難である。
しかし、本発明によれば、ガス供給系4で試験環境ガスに与える熱量を上流側で多く下流側で少なくすることで、試験環境ガスの温度を結露しない温度に維持しつつ目標温度に容易に制御することができる。
1 テスター
2 テスターコントローラ
3 監視装置
4 ガス供給系
5 環境チャンバー
6 ガス供給源
7 メインコントローラ
8 流量コントローラ
9 湿度コントローラ
10 ガス排気系
11 吸引ポンプ
12 調圧弁
13 冷却系
14 冷却コントローラ
21 本体部
22 カバー部
23 ヒンジ
24 取っ手
25 試験環境空間
26 筺体
27 内部空間
28 樹脂製ベース
29 ヒートシンク
30 ヒートシンクカバー
31 ファン装置
32 送風口
33 ガス流入口
34 クーラープレート
35 ヒータープレート
36 フィン
37 ガス通気路
38 排気口
51 ガス給気路
52 主管路
53 開閉弁A
54 ラインヒータ
55 ウォータセパレータ
56 空気式開閉弁A
57 空気式開閉弁B
58 制御用空気供給源
59 三方弁
60 非加湿用管路
61 加湿用管路
62 膜式加湿器
63 開閉弁B
64 給水系
65 純水供給源
66 給水管路
67 開閉弁C
68 水槽
69 給水ポンプ
70 ヒータ
71 温度計
72 加湿器リターン管
73 開閉弁D
74 水槽ドレーン管
75 セパレータドレーン管
76 ガス加熱装置
77 加熱用コイル
621 ガス入口
622 ガス出口
623 中空糸膜
624 加湿用水空間

Claims (4)

  1. 被試験物を納めるチャンバーと、チャンバーに試験環境ガスを供給するガス供給装置を備え、
    ガス供給装置は、ガス給気路を通して清浄な試験環境ガスをチャンバーに供給するガス供給源と、試験環境ガスに含まれる水蒸気量を制御する湿度コントローラを備え、
    湿度コントローラは、ガス給気路に介装した膜式加湿器と、膜式加湿器に清浄な加湿用水を供給する加湿用水供給源を有することを特徴とする環境試験装置。
  2. ガス給気路は、非加湿の試験環境ガスが流れる非加湿用管路と、膜式加湿器を介装した加湿用管路を備え、加湿用管路の上流側と下流側に非加湿用管路との接続を制御する弁装置を有することを特徴とする請求項1に記載の環境試験装置。
  3. ガス給気路は、試験環境ガスを所定温度に加熱するガス加熱装置を有し、ガス加熱装置は、膜式加湿器に近いほどに試験環境ガスに与える単位時間当たりの熱量を多くして、チャンバーに近いほどに試験環境ガスに与える単位時間当たりの熱量を少なくして、試験環境ガスを加熱することを特徴とする請求項1または2に記載の環境試験装置。
  4. ガス加熱装置は、ガス給気路の外周面に巻回した加熱用コイルを有し、加熱用コイルは、膜式加湿器に近いほどにコイル巻数が多くて密に存在し、チャンバーに近いほどにコイル巻数が少なくて疎に存在することを特徴とする請求項3に記載の環境試験装置。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113899509A (zh) * 2021-09-17 2022-01-07 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 检测封装器件抗水汽影响的方法及系统
CN114486543A (zh) * 2022-01-04 2022-05-13 浙江大学 一种微量气体杂质对材料高压氢脆影响的测试系统及方法
CN114646586A (zh) * 2022-03-15 2022-06-21 中国电子科技集团公司第十研究所 一种机载天线温度-湿度-高度环境试验装置
CN114486543B (zh) * 2022-01-04 2024-06-07 浙江大学 一种微量气体杂质对材料高压氢脆影响的测试系统及方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113899509A (zh) * 2021-09-17 2022-01-07 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 检测封装器件抗水汽影响的方法及系统
CN113899509B (zh) * 2021-09-17 2024-03-26 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 检测封装器件抗水汽影响的方法及系统
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