JP2017003316A - 導通検査方法及び導通検査装置 - Google Patents

導通検査方法及び導通検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2017003316A
JP2017003316A JP2015114961A JP2015114961A JP2017003316A JP 2017003316 A JP2017003316 A JP 2017003316A JP 2015114961 A JP2015114961 A JP 2015114961A JP 2015114961 A JP2015114961 A JP 2015114961A JP 2017003316 A JP2017003316 A JP 2017003316A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
continuity
terminal
network analyzer
pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015114961A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6864979B2 (ja
Inventor
良介 井伊
Ryosuke Ii
良介 井伊
淳仁 齋藤
Atsuhito Saito
淳仁 齋藤
橋本 秀紀
Hidenori Hashimoto
秀紀 橋本
壮亮 中村
Sosuke Nakamura
壮亮 中村
志門 鯵坂
Shimon Ajisaka
志門 鯵坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chuo University
Yazaki Corp
Original Assignee
Chuo University
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chuo University, Yazaki Corp filed Critical Chuo University
Priority to JP2015114961A priority Critical patent/JP6864979B2/ja
Publication of JP2017003316A publication Critical patent/JP2017003316A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6864979B2 publication Critical patent/JP6864979B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

【課題】端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査装置及び導通検査方法を提供する。
【解決手段】導通検査治具20を用いて、ワイヤハーネス101のコネクタ104に収容された端子金具104aにネットワークアナライザ10に接続された検査ピン24を非接触の状態で近づけた後、ネットワークアナライザ10により端子金具104aが端末に設けられた電線102のインピーダンスの周波数特性を測定する。導通可否判定装置30が、ネットワークアナライザ10により測定した電線102のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線102の導通を検査する。
【選択図】図1

Description

本発明は、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法及び当該導通検査方法に用いられる導通検査装置に関するものである。
車両内に配索されて各種電子機器等の接続に用いられるワイヤハーネスは、コネクタハウジングに収容される端子金具が端末に設けられた複数の電線を有している。そして、このようなワイヤハーネスに対して、電線の断線や端子の接続不良等を検出するための導通検査が行われる。
導通検査は、例えば、電線の両端末に設けられた端子金具に対をなす検査プローブを接触させて、これら検査プローブ間の導通を確認することにより行うものであるところ、この検査プローブを接触させることにより端子金具の変形や損傷が生じるおそれがあった。そして、このような端子金具の変形や損傷を抑制できる検査プローブの一例が、特許文献1に開示されている。
特許文献1に開示されている検査プローブは、検査器本体に取り付けられる管体と、この管体に突没自在に支持された可動ピンと、管体内に配置されかつ可動ピンを管体から突出させる方向に向けて押圧するコイルバネと、を有している。この検査プローブによれば、端子金具が可動ピンに押し付けられると、当該押し付けられる力に応じて可動ピンが管体内に押し込まれるので、端子金具の変形や損傷を抑制することができる。
特開平9−43298号公報
しかしながら、特許文献1に開示されているような可動ピンをコイルバネで押圧する構成の検査プローブは、繰り返し使用した場合においても可動ピンと端子金具とを確実に接触させるために、コイルバネによる可動ピンを押圧する力を、当該コイルバネの劣化(バネ力の低下等)などを考慮して、可動ピンと端子金具との間の導通を確保するために最低限必要な力より大きく設定することが求められ、そのため、端子金具の変形や損傷を抑制する点で改善の余地があった。
発明本は、かかる問題を解決することを目的としている。即ち、本発明は、端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査装置及び導通検査方法を提供することを目的としている。
上記課題を解決するためになされた請求項1記載の発明は、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法であって、前記端子金具にネットワークアナライザに接続された検査ピンを非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、前記ネットワークアナライザにより測定した前記電線のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線の導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法に存する。
請求項2記載の発明は、端子金具が端末に設けられた複数の電線を束ねたワイヤハーネスの導通検査方法であって、前記複数の電線の端末にそれぞれ設けられた端子金具に、ネットワークアナライザに接続された複数の検査ピンをそれぞれ非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記複数の電線それぞれのインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、前記ネットワークアナライザにより測定した前記複数の電線それぞれのインピーダンスの周波数特性に基づいて前記複数の電線それぞれの導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法に存する。
請求項3記載の発明は、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査装置であって、前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定するためのネットワークアナライザと、前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持するコネクタ保持部、前記ネットワークアナライザに接続される検査ピン、及び、前記検査ピンを前記端子金具に接近可能に保持するピン保持部を有する導通検査治具と、を備え、前記ピン保持部は、前記検査ピンが前記端子金具に最接近する検査位置で当該端子金具と接触しないように設けられていることを特徴とする導通検査装置に存する。
請求項4記載の発明は、端子金具が端末に設けられた複数の電線を束ねたワイヤハーネスの導通検査装置であって、前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定するためのネットワークアナライザと、複数の前記端子金具又は複数の前記端子金具を収容したコネクタハウジングを保持するコネクタ保持部、前記ネットワークアナライザに接続される複数の検査ピン、及び、前記複数の検査ピンを前記複数の端子金具それぞれに接近可能に保持するピン保持部を有する導通検査治具と、を備え、前記ピン保持部は、前記検査ピンが前記端子金具に最接近する検査位置で当該端子金具と接触しないように設けられていることを特徴とする導通検査装置に存する。
以上説明したように請求項1〜4記載の発明によれば、検査ピンと端子金具とを接触しなくても導通検査を行うことができる。これにより、端子金具の変形や損傷を効果的に抑制することができる。
本発明の一実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。 図1の導通検査装置が備える導通検査治具の斜視図である。 図1の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図である。 正常時のインピーダンスの実数、虚数の周波数特性の一例を示すグラフである。 異常時のインピーダンスの実数、虚数の周波数特性の一例を示すグラフである。
以下、本発明の一実施形態に係る導通検査装置について、図1〜図5を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。図2は、図1の導通検査装置が備える導通検査治具の斜視図である。図3は、図1の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図である。図4は、正常時のインピーダンスの実数、虚数の周波数特性の一例を示すグラフである。図5は、異常時のインピーダンスの実数、虚数の周波数特性の一例を示すグラフである。
本実施形態の導通検査装置1は、例えば、各図に示すように、検査台K上に配索された車両用のワイヤハーネス101の導通検査に用いられる。このワイヤハーネス101は、複数の電線102を束ねたワイヤハーネス本体103と、ワイヤハーネス本体103の端末に設けられたコネクタ104と、を有している。ワイヤハーネス本体103は、幹線103aとこの幹線103aから分岐した分岐線103bとを有している。
コネクタ104は、図3に示すように、ワイヤハーネス本体103を構成する複数の電線102それぞれの端末に設けられた複数の端子金具104aと、これら複数の端子金具104aを収容するコネクタハウジング104bと、を有している。コネクタ104は、車両に搭載された電子機器等に接続される。
図1に示すように、導通検査装置1は、ネットワークアナライザ10と、導通検査治具20と、導通可否判定装置30と、を備えている。
ネットワークアナライザ10は、電線102のインピーダンスの周波数特性を測定する装置である。このネットワークアナライザ10は、後述する検査ピン24によって電線102に交流の入力電力を入力し、例えば検査ピン24に入力される反射電力に基づいて入力電力の周波数に対する電線102のインピーダンスを測定する周知のネットワークアナライザである。
導通検査治具20は、複数の電線102の端末にそれぞれ設けられた端子金具104aと、ネットワークアナライザ10に接続された検査ピン24と、を非接触の状態で近づけるための治具である。導通検査治具20は、ワイヤハーネス101のコネクタ104と同数、端子台Kに搭載されている。
導通検査治具20は、図2に示すように、端子台K上に搭載される基部21と、操作レバー22と、一対のコネクタ保持部23と、複数の検査ピン24と、ピン保持部25と、を備えている。基部21は、互いに平行な一対の側壁21aなどを備えている。操作レバー22と、コネクタ保持部23と、ピン保持部25と、は、前記一対の側壁21a間に設けられている。
操作レバー22は、前記側壁21aに回転自在に支持されている。コネクタ保持部23は、前記側壁21a間に固定されている。一対のコネクタ保持部23は、コネクタハウジング104bの相手側端子金具の挿入口が後述するピン保持部25に相対する状態で、前記コネクタハウジング104bを保持している。コネクタ保持部23は、検査台Kと直交する方向に沿ってコネクタハウジング104bが出し入れ自在となっている。
検査ピン24は、上述したネットワークアナライザ10に接続され、交流の入力電力を出力する。検査ピン24は、コネクタ保持部23に保持されるコネクタハウジング104bに収容される複数の端子金具104aと同数設けられる。また、検査ピン24は、図3に示すように、一端に設けられた棒状の先端部24aと、他端に設けられた配線L1(図1)を接続するための電線接続部(図示せず)と、が設けられている。この検査ピン24の他端に接続された配線L1がネットワークアナライザ10に接続される。
ピン保持部25は、上述した先端部24aをコネクタ保持部23側に突出させ、コネクタ保持部23とは反対側から配線L1を引き出すように、検査ピン24を保持する。ピン保持部25は、図2に示すように、リンク26によって、操作レバー22に連結される。これにより、ピン保持部25は、操作レバー22の回転操作によってコネクタ保持部23に最接近する検査位置(図3)と、最も離れる着脱位置との間でスライドするように一対の側壁21a間に配されている。即ち、ピン保持部25は、検査ピン24を端子金具104aに対して接近可能に保持している。
上記検査位置では、図3に示すように、検査ピン24は雌型で筒状の端子金具104a内に挿入されている。この検査位置において検査ピン24の先端部24aは、端子金具104aの挿入口付近の内径が大きい位置までしか挿入されないため、検査ピン24と端子金具104aとが接触することがなく、非接触の状態で近づけることができる。
上記着脱位置では、検査ピン24は、筒状の端子金具104a外に位置する。この着脱位置で、コネクタ保持部23にコネクタハウジング104bを着脱することができる。
導通可否判定装置30は、例えばPCなどから構成されている。導通可否判定装置30にはネットワークアナライザ10により計測された各電線102のインピーダンスの周波数特性が入力される。導通可否判定装置30は、各電線102のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線102それぞれの導通の有無を検査する。
次に、上述した導通検査装置1の導通検査の動作の一例について以下に説明する。
まず、検査台Kに搭載された各導通検査治具20の操作レバー22を操作してピン保持部25を着脱位置にする。次に、導通検査対象となるワイヤハーネス101を検査台Kに配索し、ワイヤハーネス101の端末に設けられたコネクタ104を、それぞれに対応する導通検査治具20のコネクタ保持部23に保持させる。
次に、操作レバー22を回転操作して、ピン保持部25を検査位置にスライドさせて、図3に示すように、端子金具104aにネットワークアナライザ10に接続された検査ピン24を非接触の状態で近づける。その後、ネットワークアナライザ10によりコネクタハウジング104bに収容される複数の電線102それぞれについてインピーダンスの周波数を測定させる。ネットワークアナライザ10は、各検査ピン24から例えば0〜500MHzの範囲で変化する交流の入力電力を出力し、検査ピン24に入力される反射電力に基づいて入力電力の周波数に対する電線102のインピーダンスを求めて、導通可否判定装置30に送信する。
導通可否判定装置30は、例えば、図4に示すような正常時の電線102のインピーダンスの周波数特性を記録している。電線102に断線や短絡、導通不良などの異常が発生すると電線102のインピーダンスの周波数特性が例えば図5に示すように変化する。このことに着目し、導通可否判定装置30は、予め記憶された正常時の電線102のインピーダンスの周波数特性と、ネットワークアナライザ10が測定した電線102のインピーダンスの周波数特性とを比較して、各電線102の導通を検査する。導通可否判定装置30は、ワイヤハーネス101の複数の電線102の全てについて導通を検査する。
全ての導通検査が終了すると、作業員が、操作レバー22を操作して、ピン保持部25を再び着脱位置に戻して、コネクタ保持部23からコネクタハウジング104bを外して、次に検査すべきワイヤハーネス101のコネクタハウジング104bを保持させる。
上述した実施形態では、端子金具104aにネットワークアナライザ10に接続された検査ピン24を非接触の状態で近づけた後、ネットワークアナライザ10により電線102のインピーダンスの周波数特性を測定し、ネットワークアナライザ10により測定した電線102のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線の導通を検査する。これにより、検査ピン24と端子金具104aとを接触しなくても導通検査を行うことができ、端子金具104aの変形や損傷を効果的に抑制することができる。
なお、上述した実施形態によれば、端子金具104aは雌型であったがこれに限ったものではない。雄型の端子金具104aであってもよい。
また、上述した実施形態によれば、ワイヤハーネス101を構成する電線102の導通検査を行っていたが、これに限ったものではない。例えば、ワイヤハーネス101にする前の電線102の1本、1本の導通検査を行うようにしてもよい。
また、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
1 導通検査装置
10 ネットワークアナライザ
20 導通検査治具
23 コネクタ保持部
24 検査ピン
25 ピン保持部
101 ワイヤハーネス
102 電線
104a 端子金具
104b コネクタハウジング

Claims (4)

  1. 端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法であって、
    前記端子金具にネットワークアナライザに接続された検査ピンを非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、
    前記ネットワークアナライザにより測定した前記電線のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線の導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法。
  2. 端子金具が端末に設けられた複数の電線を束ねたワイヤハーネスの導通検査方法であって、
    前記複数の電線の端末にそれぞれ設けられた端子金具に、ネットワークアナライザに接続された複数の検査ピンをそれぞれ非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記複数の電線それぞれのインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、
    前記ネットワークアナライザにより測定した前記複数の電線それぞれのインピーダンスの周波数特性に基づいて前記複数の電線それぞれの導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法。
  3. 端子金具が端末に設けられた電線の導通検査装置であって、
    前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定するためのネットワークアナライザと、
    前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持するコネクタ保持部、前記ネットワークアナライザに接続される検査ピン、及び、前記検査ピンを前記端子金具に接近可能に保持するピン保持部を有する導通検査治具と、を備え、
    前記ピン保持部は、前記検査ピンが前記端子金具に最接近する検査位置で当該端子金具と接触しないように設けられている
    ことを特徴とする導通検査装置。
  4. 端子金具が端末に設けられた複数の電線を束ねたワイヤハーネスの導通検査装置であって、
    前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定するためのネットワークアナライザと、
    複数の前記端子金具又は複数の前記端子金具を収容したコネクタハウジングを保持するコネクタ保持部、前記ネットワークアナライザに接続される複数の検査ピン、及び、前記複数の検査ピンを前記複数の端子金具それぞれに接近可能に保持するピン保持部を有する導通検査治具と、を備え、
    前記ピン保持部は、前記検査ピンが前記端子金具に最接近する検査位置で当該端子金具と接触しないように設けられている
    ことを特徴とする導通検査装置。
JP2015114961A 2015-06-05 2015-06-05 導通検査方法及び導通検査装置 Active JP6864979B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015114961A JP6864979B2 (ja) 2015-06-05 2015-06-05 導通検査方法及び導通検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015114961A JP6864979B2 (ja) 2015-06-05 2015-06-05 導通検査方法及び導通検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017003316A true JP2017003316A (ja) 2017-01-05
JP6864979B2 JP6864979B2 (ja) 2021-04-28

Family

ID=57752639

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015114961A Active JP6864979B2 (ja) 2015-06-05 2015-06-05 導通検査方法及び導通検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6864979B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020003293A (ja) * 2018-06-27 2020-01-09 矢崎総業株式会社 電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法
WO2020184679A1 (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 三菱電機株式会社 導通検査装置及び導通検査方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5230982U (ja) * 1975-08-27 1977-03-04
JPH11352162A (ja) * 1998-06-05 1999-12-24 Murata Mfg Co Ltd 周波数特性測定装置
JP2000155149A (ja) * 1998-11-19 2000-06-06 Okano Hightech Kk 回路基板の導通検査装置、導通検査方法、導通検査用治具および記録媒体
JP2001051005A (ja) * 1999-08-09 2001-02-23 Kyocera Corp 半導体素子収納用パッケージの配線の検査方法および検査装置
JP2003255013A (ja) * 2002-02-28 2003-09-10 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタの導通検査ユニット
JP2008046038A (ja) * 2006-08-18 2008-02-28 Agilent Technol Inc 同軸ケーブルアセンブリの断線試験方法
JP2009162589A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Yazaki Corp コネクタ導通検査治具
JP2012052992A (ja) * 2010-09-03 2012-03-15 Yazaki Corp ケーブル検査用アダプタ
US20130015870A1 (en) * 2011-07-14 2013-01-17 Nickel Joshua G Test system with contact test probes
JP2014098612A (ja) * 2012-11-14 2014-05-29 Yazaki Corp 導通検査装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5230982U (ja) * 1975-08-27 1977-03-04
JPH11352162A (ja) * 1998-06-05 1999-12-24 Murata Mfg Co Ltd 周波数特性測定装置
JP2000155149A (ja) * 1998-11-19 2000-06-06 Okano Hightech Kk 回路基板の導通検査装置、導通検査方法、導通検査用治具および記録媒体
JP2001051005A (ja) * 1999-08-09 2001-02-23 Kyocera Corp 半導体素子収納用パッケージの配線の検査方法および検査装置
JP2003255013A (ja) * 2002-02-28 2003-09-10 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタの導通検査ユニット
JP2008046038A (ja) * 2006-08-18 2008-02-28 Agilent Technol Inc 同軸ケーブルアセンブリの断線試験方法
JP2009162589A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Yazaki Corp コネクタ導通検査治具
JP2012052992A (ja) * 2010-09-03 2012-03-15 Yazaki Corp ケーブル検査用アダプタ
US20130015870A1 (en) * 2011-07-14 2013-01-17 Nickel Joshua G Test system with contact test probes
JP2014098612A (ja) * 2012-11-14 2014-05-29 Yazaki Corp 導通検査装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020003293A (ja) * 2018-06-27 2020-01-09 矢崎総業株式会社 電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法
WO2020184679A1 (ja) * 2019-03-13 2020-09-17 三菱電機株式会社 導通検査装置及び導通検査方法
JPWO2020184679A1 (ja) * 2019-03-13 2021-10-14 三菱電機株式会社 導通検査装置及び導通検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6864979B2 (ja) 2021-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1152001A (ja) コネクタ検査装置の検査部
CN109417253B (zh) 电导体连接元件
JP6864979B2 (ja) 導通検査方法及び導通検査装置
US20100283478A1 (en) Connector conduction check apparatus
JP6317917B2 (ja) 導通検査ユニット
JP6587905B2 (ja) 導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法
KR101237292B1 (ko) 전자기기용 하네스 케이블의 검사방법 및 그 장치
CN114113704B (zh) 基于去嵌入技术的飞机线束成品件性能测量装置及方法
JP2014228301A5 (ja)
CN114616472A (zh) 电缆检测装置
JP2012052992A (ja) ケーブル検査用アダプタ
KR101357668B1 (ko) 하네스 어셈블리 케이블의 검사방법 및 그 장치
JP5886587B2 (ja) 鉄道信号機器電圧測定用電線用補助具および測定方法
CN219871487U (zh) 一种用于检测电缆连接器组件的连接治具
JP2021021689A (ja) テストターミナル
KR101518430B1 (ko) 하네스 자동 통전검사장치
JP2973821B2 (ja) 導通検査用コンタクトプローブおよびこれを含む導通検査器
TW201350875A (zh) 電路測試震動裝置
CN115267262A (zh) 一种用于对电缆组件进行测试的测试设备和方法
CN219777750U (zh) 一种用于辅助被测电连接器接触电阻检测的母座治具
CN211503904U (zh) 一种线束测试工装
JP2002207049A (ja) 四探針測定用コンタクトピンと、コンタクト機器と、被測定物側装置と、測定回路側装置
JP2019086491A (ja) 導通検査用治具
JP2017003317A (ja) 導通検査治具、導通検査装置、電線の導通検査方法及びワイヤハーネスの導通検査方法
KR102044185B1 (ko) 회로기판 또는 프로그램 검사 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150929

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20180129

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180517

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20180816

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190312

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190422

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190903

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191002

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20200317

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200430

C60 Trial request (containing other claim documents, opposition documents)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60

Effective date: 20200430

C11 Written invitation by the commissioner to file amendments

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C11

Effective date: 20200526

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20200630

C21 Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21

Effective date: 20200714

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20200911

C211 Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211

Effective date: 20200915

C22 Notice of designation (change) of administrative judge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22

Effective date: 20201020

C23 Notice of termination of proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23

Effective date: 20210202

C03 Trial/appeal decision taken

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03

Effective date: 20210316

C30A Notification sent

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012

Effective date: 20210316

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210405

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6864979

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250