JP2016530710A - エピタキシャル反応器 - Google Patents

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Abstract

実施例は、反応室、前記反応室内に位置し、ウエハを載置させるサセプタ、及び前記反応室内に流入するガスの流動を制御するガス流動制御部を含み、前記ガス流動制御部は、ガスの流れを分離する複数の流出口を有するインジェクトキャップ、前記複数の流出口のそれぞれに対応する第1貫通孔を含み、前記第1貫通孔は前記複数の流出口から排出されるガスを通過させる、インジェクトバッファ、及び前記第1貫通孔のそれぞれに対応する第2貫通孔を含み、前記第2貫通孔は前記第1貫通孔を通過したガスを通過させる、バッフル(baffle)を含み、前記第1貫通孔のそれぞれの面積は、前記第2貫通孔のそれぞれの面積よりも大きく、前記流出口のそれぞれの面積よりは小さい。【選択図】図1

Description

実施例は、エピタキシャル反応器に関する。
エピタキシャル反応器は、バッチ式(batch type)及び枚葉式があり、直径が200mm以上のエピタキシャルウエハの製造においては枚葉式が主に使用されている。
枚葉式エピタキシャル反応器は、反応容器内のサセプタに1枚のウエハを載置した後、反応容器の一側から他側に原料ガスを水平方向に流れるようにしてウエハ表面に原料ガスを供給し、ウエハ表面にエピ層を成長させる。
枚葉式エピタキシャル反応器において、ウエハ上に成長する膜の厚さの均一化と関連する重要な因子は、反応容器内での原料ガスの流量又は流量分布であり得る。
エピタキシャル反応器は、反応容器内へ原料ガスを提供するガス供給部を含むことができ、ガス供給部によって供給される原料ガスの流量及び流量分布によって、反応容器内での原料ガスの流量又は流量分布が左右され得る。
一般に、ガス供給部は、ウエハの表面を原料ガスが均一に流れ得るように原料ガスを反応容器に供給するために、多数の孔が形成されたバッフル(baffle)を含むことができる。
実施例は、反応室内に流入する原料ガスの損失及び渦流の発生を抑制し、成長するエピ層の厚さの均一度を向上させることができるエピタキシャル反応器を提供する。
実施例に係るエピタキシャル反応器は、反応室;前記反応室内に位置し、ウエハを載置させるサセプタ;及び前記反応室内に流入するガスの流動を制御するガス流動制御部を含み、前記ガス流動制御部は、ガスの流れを分離する複数の流出口を有する、インジェクトキャップ(inject cap);前記複数の流出口のそれぞれに対応する第1貫通孔を含み、前記第1貫通孔は前記複数の流出口から排出されるガスを通過させる、インジェクトバッファ(inject buffer);及び前記第1貫通孔のそれぞれに対応する第2貫通孔を含み、前記第2貫通孔は前記第1貫通孔を通過したガスを通過させる、バッフル(baffle)を含み、前記第1貫通孔のそれぞれの面積は、前記第2貫通孔のそれぞれの面積よりも大きく、前記流出口のそれぞれの面積よりは小さい。
前記エピタキシャル反応器は、隔壁によって互いに隔離され、前記第2貫通孔を通過したガスを通過させる複数の区画を含むインサート(insert)をさらに含み、前記第1貫通孔のそれぞれは、前記複数の区画のうち対応するいずれか1つに整列することができる。
前記エピタキシャル反応器は、前記複数の区画を通過したガスを前記反応室に誘導する段差部を有するライナー(liner)をさらに含むことができる。
前記複数の区画のそれぞれの開口面積は、前記第1貫通孔の開口面積及び前記第2貫通孔の開口面積よりは大きく、前記複数の流出口のそれぞれの開口面積よりは小さくてもよい。
前記インジェクトキャップは、互いに隔離される少なくとも2つ以上の部分を含み、前記複数の流出口のいずれか1つは、前記少なくとも2つ以上の部分のうち対応するいずれか1つに設けられてもよい。
前記インジェクトキャップは、一面に側壁及び底部からなるキャビティ(cavity)を備えることができ、前記インジェクトキャップの他面と前記キャビティの底部との間の空間は前記第1〜第3部分に区分され、前記キャビティの底部には前記複数の流出口が設けられ、前記第1貫通孔及び前記第2貫通孔が前記キャビティの底部に対向するように、前記インジェクトバッファ及び前記バッフルは前記キャビティに順次挿入されてもよい。
前記バッフルの一面は、前記インジェクトバッファと接触し、前記バッフルの他面は、前記インジェクトキャップの一面と同一平面に位置することができる。
前記第2貫通孔と前記第1貫通孔との比率は1:5〜1:20であってもよい。
前記複数の区画のそれぞれに対応する前記第2貫通孔の数は、前記複数の区画のそれぞれに対応する前記第1貫通孔の数よりも多くてもよい。
前記インジェクトキャップは、互いに隔離される2つ以上の部分に区分され、前記複数のガス流出口のいずれか1つは、前記2つ以上の部分のうち対応するいずれか1つに設けられてもよい。
前記複数の区画のそれぞれは、前記第1貫通孔に対応する第2貫通孔に整列することができる。
前記複数の区画のそれぞれに対応する第2貫通孔の数は、前記複数の区画のそれぞれに対応する第1貫通孔の数よりも多くてもよい。
前記第1貫通孔は、前記インジェクトバッファの長手方向に離隔して配列されてもよい。
前記第2貫通孔は、前記バッフルの長手方向に離隔して配列されてもよい。
前記第1貫通孔のそれぞれの開口面積は100mm2〜200mm2であってもよい。
前記第2貫通孔のそれぞれの開口面積は10mm2〜20mm2であってもよい。
挿入された前記インジェクトバッファの外周面及び前記バッフルの外周面は、前記キャビティの内面に密着してもよい。
前記キャビティの深さは、前記インジェクトバッファの厚さと前記バッフルの厚さとの和と同一であってもよい。
実施例は、反応室内に流入する原料ガスの損失及び渦流の発生を抑制し、成長するエピ層の厚さの均一度を向上させることができる。
実施例に係るエピタキシャル反応器の断面図である。 図1に示されたガス供給部の平面図である。 図1に示されたガス供給部の斜視図である。 図1に示された第1貫通孔及び第2貫通孔の配置を説明するための図である。 図1に示された第1貫通孔の大きさを示す図である。 図1に示されたインジェクトキャップ、インジェクトバッファ、及びバッフルの分離斜視図である。 図6Aに示されたインジェクトキャップ、インジェクトバッファ、及びバッフルの結合斜視図である。 図6Bに示された結合斜視図のA−B方向の断面図である。 一般的にインジェクトキャップ及びバッフルを備える場合の原料ガスの流れを示す図である。 インジェクトキャップ、インジェクトバッファ、及びバッフルを備える場合の原料ガスの流れを示す図である。
以下、各実施例は、添付の図面及び各実施例についての説明を通じて明白になる。実施例の説明において、各層(膜)、領域、パターン又は構造物が基板、各層(膜)、領域、パッド又はパターンの「上/上部(on)」に又は「下/下部(under)」に形成されると記載される場合において、「上/上部(on)」と「下/下部(under)」は、「直接(directly)」又は「別の層を介在して(indirectly)」形成されることを全て含む。また、各層の上/上部又は下/下部に対する基準は、図面を基準にして説明する。
図面において、大きさは、説明の便宜及び明確性のために誇張されたり、省略されたり、又は概略的に示されている。また、各構成要素の大きさは実際の大きさを全的に反映するものではない。また、同一の参照番号は図面の説明を通じて同一の要素を示す。以下、添付の図面を参照して、実施例に係るエピタキシャル反応器を説明する。
図1は、実施例に係るエピタキシャル反応器100の断面図を示す。
図1を参照すると、エピタキシャル反応器100は、半導体ウエハを1枚ずつ処理する枚葉式(single wafer processing type)であり得、下部ドーム(lower dome)103及び上部ドーム(upper dome)104からなる反応室105、サセプタ120、サセプタ支持部125、下部リング130、上部リング135、ライナー(Liner)140、予熱リング(pre−heating ring)150、ガス供給部160、及びガス排出部170を含むことができる。
下部ドーム103と上部ドーム104は、上下方向に互いに対向して位置することができ、石英ガラスのように透明な材質からなることができる。下部ドーム103と上部ドーム104との間の空間は、エピタキシャル反応が起こる反応室105を形成することができ、反応室105は、一側に、原料ガスが流入するガス導入口106を有することができ、他側に、流入した原料ガスが排出されるガス流出口107を有することができる。
サセプタ120は、平坦な円板状の支持板形状であり得、反応室105の内部に配置することができ、その上部面にウエハWを載置させることができる。サセプタ120は、カーボングラファイト(carbon graphite)、またはカーボングラファイトに炭化ケイ素がコーティングされた形態からなることができる。
サセプタ支持部125は、サセプタ120の下に配置することができ、サセプタ120を支持することができ、反応室105内でサセプタ120を上下に移動させることができる。サセプタ支持部125は、サセプタ120の下面を支持する三脚形状のシャフトを含むことができる。
ライナー140は、サセプタ120を取り囲むように配置することができ、外周面の上端一側には、反応室105にガスが流入する第1段差部142を形成することができ、外周面の上端他側には、反応室105のガスが流出する第2段差部144を形成することができる。ライナー140の外周面の上部面は、サセプタ120の上面またはウエハWの上面と同一平面に位置してもよい。
下部リング130は、ライナー140を取り囲むように配置することができ、リング状であってもよい。下部ドーム103の外周部の一端11は、下部リング130に密着して固定され得る。
上部リング135は、下部リング130の上部に位置することができ、リング状であってもよい。上部ドーム104の外周部の一端12は、上部リング135に密着して固定され得る。下部リング130及び上部リング135は、石英(SiO2)または炭化ケイ素(SiC)からなってもよい。
予熱リング150は、サセプタ120の上面またはウエハの上面と同一平面に位置するように、サセプタ120に隣接するライナー140の内周面に沿って配置されてもよい。
ガス供給部160は、外部から反応室105内に原料ガスを供給する。
図2は、図1に示されたガス供給部160の平面図を示し、図3は、図1に示されたガス供給部160の分離斜視図を示す。
図2及び図3を参照すると、ガス供給部160は、ガス発生部310、複数のガス管(例えば、320a,320b,320c)、ガス量調節部330a,330b、ガス流動制御部205を含むことができる。
ガス流動制御部205(図2参照)は、インジェクトキャップ(inject cap)210、インジェクトバッファ(inject buffer)220、バッフル(baffle)230、及びインサート(insert)240を含む。
ガス発生部310は原料ガスを発生することができる。例えば、原料ガスは、SiHCl3、SiCl4、SiH2Cl2、SiH4、Si26などのようなシリコン化合物ガス、B26、PH3などのようなドーパントガス、またはH2、N2、Arなどのようなキャリアガスなどを含むことができる。
ガス発生部310から発生する原料ガスは、複数のガス管(例えば、320a,320b,320c)を介してインジェクトキャップ210に供給されてもよい。
ガス量調節部330a,330bは、複数のガス管(例えば、320a,320b,320c)のうちの少なくとも1つに供給されたり、流れたりするガスの量を調節することができ、ウエハWの中央領域S1及び縁部領域S2,S3のそれぞれに供給される原料ガスの流れを独立して制御することができる。ガス量調節部330a,330bは、例えば、質量流量計(Mass Flow Controller)で具現することができる。
複数のガス管(例えば、320a,320b,320c)は、ガス発生部310によって発生する原料ガスをインジェクトキャップ210の複数の部分に個別に供給することができる。このとき、複数のガス管の数及び複数の部分の数は、図2に限定されるものではなく、2つ以上であってもよい。
複数のガス管(例えば、320a,320b,320c)のうちの少なくとも1つ(例えば、320a,320b)は2以上のガス管に分岐することができ、分岐したガス管及び分岐していないガス管は、原料ガスをインジェクトキャップ210に供給することができる。
例えば、第1ガス管320aは、ウエハの中央領域S1及び縁部領域S2,S3のそれぞれに原料ガス(または反応ガス)を個別に供給するために、第2ガス管320bと第3ガス管320cとに分岐してもよい。また、第2ガス管320bは、ウエハの両側の縁部領域S2,S3のそれぞれに原料ガスを個別に供給するために、2つのガス管に分岐してインジェクトキャップへ原料ガスを供給することができる。
複数のガス管(例えば、320−1,320−2,320c)とライナー140との間にインジェクトキャップ210、インジェクトバッファ220、バッフル230、及びインサート240を順次配置することができる。ガス管(例えば、320−1,320−2,320c)から供給される原料ガスは、インジェクトキャップ210、インジェクトバッファ220、バッフル230、及びインサート240を順次通過して流れることができる。
インジェクトキャップ210は、ガス管(例えば、320−1,320−2,320c)から原料ガスが流入する複数のガス流入口(例えば、340a,340b,340c)、及び流入した原料ガスを流出させる複数のガス流出口(例えば、350a,350b,350c)を含むことができる。
インジェクトキャップ210は、互いに隔離される少なくとも2つ以上の部分(例えば、210−1,210−2,210−3)に区分されてもよく、複数のガス流出口(例えば、350a,350b,350c)のいずれか1つは、少なくとも2つ以上の部分(例えば、210−1,210−2,210−3)のうち対応するいずれか1つに設けられてもよい。図1及び図2では、インジェクトキャップ210が3つの部分210−1,210−2,210−3に区分されるが、実施例がこれに限定されるものではない。
例えば、第1部分210−1は、ウエハWの中央領域S1に対応又は整列されるように中央に位置することができ、ガス流入口340b及びガス流出口350aは第1部分に形成され得る。
例えば、第2部分210−2は、ウエハWの中央領域S1の一側に位置する第1縁部領域S2に対応又は整列されるように第1部分210−1の一側に位置することができ、ガス流入口340a及びガス流出口350bは第2部分210−2に形成され得る。
例えば、第3部分210−3は、ウエハWの中央領域S1の他側に位置する第2縁部領域S3に対応又は整列されるように第1部分210−1の他側に位置することができ、ガス流入口340c及びガス流出口350cは第3部分210−3に形成され得る。
インジェクトキャップ210は、隣接する部分の間に互いを区分するための仕切りを備えることができる。例えば、インジェクトキャップ210は、第1部分210−1と第2部分210−2とを区分する第1仕切り211、及び第1部分210−1と第3部分210−3とを区分する第2仕切り212を備えることができる。仕切り(例えば、211,212)によって、原料ガスは部分(例えば、210−1,210−2,210−3)のそれぞれの内部を独立して流れることができる。
インジェクトバッファ220は、インジェクトキャップ210の一端に隣接して配置され、第1〜第3ガス流出口350a,350b,350cのそれぞれに対応又は整列される複数の第1貫通孔222を含むことができる。
複数の第1貫通孔222は、第1〜第3ガス流出口350a,350b,350cと対向し得、第1〜第3ガス流出口350a,350b,350cから流出する原料ガスを通過させることができる。
バッフル230は、インジェクトバッファ220の一端に隣接して配置され、第1貫通孔222のそれぞれに対応又は整列する複数の第2貫通孔232を含むことができる。
第2貫通孔232は、第1貫通孔222と対向し得、第1貫通孔222から流出する原料ガスを通過させることができる。
インサート240は、下部リング130と上部リング135との間に挿入されるように配置することができ、ガスを通過させることができる複数の区画(sections)k1〜kn(n>1である自然数)を含むことができる。
隣接する2つの区画の間には隔壁242が位置することができ、隔壁242によって区画k1〜kn(n>1である自然数)のそれぞれは独立しており、互いに隔離され得る。
複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)のそれぞれは、対応する第1貫通孔に対応する第2貫通孔232に対応又は整列され得、第2貫通孔232から流出する原料ガスを通過させることができる。
複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)のそれぞれに対応又は整列される第2貫通孔232の数は、複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)のそれぞれに対応又は整列される第1貫通孔222の数よりも多くてもよい。
ライナー140の第1段差部142には、複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)を区分する隔壁242に対応する隔壁149が設けられてもよい。複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)を通過した原料ガスは、隔壁149によって分離又は区分されるライナー140の第1段差部142の表面に沿って流れることができ、第1段差部142の表面を通過して反応室105内に流入する原料ガスは、ウエハWの表面に沿って流れる。ウエハWの表面を通過した原料ガスは、ライナー140の第2段差部144を通過してガス排出部170に流れる。
図4は、図1に示された第1貫通孔220−1〜220−n、及び第2貫通孔h1〜hmの配置を説明するための図である。
図4を参照すると、第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)は、インジェクトバッファ220の長手方向102に離隔して配列され得る。
第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)のそれぞれは、インサート240の複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)のうち対応するいずれか1つに第1方向101に整列され得る。第1方向101は、インジェクトバッファ220からインサート240に向かう方向、またはインジェクトバッファ220の幅方向であり得る。
例えば、複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)のそれぞれに対応又は整列される第1貫通孔の数は1つであってもよい。
第2貫通孔h1〜hm(m>1である自然数)は、第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)のうち対応するいずれか1つに第1方向101に整列され得る。
第1貫通孔に整列される第2貫通孔(例えば、h1〜hm、m>1である自然数)は、バッフル230の長手方向に離隔して配列され得る。
例えば、1つの第1貫通孔(例えば、220−1)に対応又は整列される第2貫通孔h1〜hm(例えば、m=3)の数は2つ以上であってもよい。
図5は、図1に示された第1貫通孔の大きさを示す。
図5を参照すると、第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)のそれぞれは、多角形または円形であってもよいが、これに限定されず、様々な形状で具現することができる。
インジェクトキャップ210の第1〜第3ガス流出口350a,350b,350cのそれぞれの開口面積は、第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)のそれぞれの開口面積よりも大きくてもよい。
第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)のそれぞれの面積は、第2貫通孔h1〜hm(m>1である自然数)のそれぞれの面積よりも大きくてもよい。
インサート240の複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)のそれぞれの開口面積は、第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)のそれぞれの開口面積及び第2貫通孔h1〜hm(m>1である自然数)の開口面積よりは大きく、第1〜第3ガス流出口350a,350b,350cのそれぞれの開口面積よりは小さくてもよい。
例えば、複数の区画k1〜kn(n>1である自然数)のそれぞれの開口面積は400mm2〜500mm2であってもよく、好ましくは421mm2〜484mm2であり得る。
第2貫通孔(例えば、h1)と第1貫通孔220−1との比率は1:5〜20であってもよく、好ましくは1:10であり得る。
第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)のそれぞれの開口面積は100mm2〜200mm2であってもよく、第2貫通孔h1〜hm(m>1である自然数)のそれぞれの開口面積は10mm2〜20mm2であってもよい。
隣接する2つの第1貫通孔間の離隔距離dは10mm〜15mmであってもよい。
隣接する2つの第1貫通孔間の部分221(図5参照)は、インサート240の隔壁242に対応又は整列され得る。
図6Aは、図1に示されたインジェクトキャップ210、インジェクトバッファ220、及びバッフル230の分離斜視図を示し、図6Bは、図6Aに示されたインジェクトキャップ210、インジェクトバッファ220、及びバッフル230の結合斜視図を示す。
図6A及び図6Bを参照すると、インジェクトキャップ210は、一面410にキャビティ(cavity)401を備えることができる。キャビティ401は、インジェクトキャップ210の一面410から陥没した構造であってもよく、側壁(sidewall)402及び底部(bottom)403を含むことができる。
インジェクトキャップ210の他面420とキャビティ401の底部403との間には、ガス管320−1,320−2,320cから提供される原料ガスを収容する空間が設けられ、上述した仕切り211,212によって分離された複数の部分210−1,210−2,210−3に区分され得る。
キャビティ401の底部403にはガス流出口350a,350b,350cを設けることができる。例えば、ガス流出口350a,350b,350cは、インジェクトキャップ210の長手方向に互いに離隔して底部403に形成され得る。
第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)及び第2貫通孔h1〜hm(m>1である自然数)がキャビティ401の底部403に対向するように、インジェクトバッファ220及びバッフル230をキャビティ401に順次挿入することができる。
インジェクトバッファ220及びバッフル230の形状は、キャビティ401に挿入できる形状であり得、挿入されたインジェクトバッファ220の外周面及びバッフル230の外周面はキャビティ401の内面に密着し得る。
実施例は、インジェクトバッファ220及びバッフル230がインジェクトキャップ210に挿入される構造であるので、インジェクトバッファ220及びバッフル230が安定的にインジェクトキャップ210に固定され得る。また、実施例は、挿入されたインジェクトバッファ220の外周面及びバッフル230の外周面がキャビティ401の内面に密着するので、インジェクトキャップ210、インジェクトバッファ220及びバッフル230を原料ガスが順次通過するとき、渦流の発生を抑制することができる。
第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)がキャビティ401の底部403に対向するように、インジェクトバッファ220はキャビティ401に挿入され得る。挿入されたインジェクトバッファ220はキャビティ401の底部403と接触し得る。
第2貫通孔h1〜hm(m>1である自然数)がキャビティ401の底部403に対向するように、バッフル230はキャビティ401に挿入され得る。挿入されたバッフル230はインジェクトバッファ220と接触し得る。
キャビティ401の深さは、インジェクトバッファ220の厚さとバッフル230の厚さとの和と同一であってもよいが、これに限定されるものではない。
図7は、図6Bに示された結合斜視図のA−B方向の断面図を示す。
図7を参照すると、キャビティ401に挿入されたバッフル230の一面はインジェクトバッファ220と接触し、キャビティ401から露出するバッフル230の他面231はインジェクトキャップ210の一面410と同一平面に位置することができるが、これに限定されるものではない。
一般に、ガス管から提供される原料ガスは、インジェクトキャップ、バッフル、インサート、及びライナーを順次通過して反応室に流入することができる。
ところが、インジェクトバッファ220無しにバッフルのみを備える場合には、インジェクトキャップのガス流出口の面積に比べてバッフルの第2貫通孔の面積が非常に小さいため、原料ガスがインジェクトキャップとバッフルを通過するとき、多くの渦流及び原料ガスの損失が発生することがある。
このような多くの渦流及び原料ガスの損失により、ウエハの中央領域及び縁部領域に提供される原料ガスの流速が一定でなくなり、これは、ウエハに成長させるエピ層の厚さのプロファイルの制御を難しくすることがある。
実施例は、インジェクトキャップのガス流出口350a,350b,350cよりは小さく、第2貫通孔よりは大きい面積を有する第1貫通孔220−1〜220−n(n>1である自然数)を備えるインジェクトバッファ220を、インジェクトキャップ210とバッフル230との間に配置させることによって、渦流の発生を抑制し、原料ガスの損失を低減することができる。
図8は、一般的にインジェクトキャップ及びバッフルを備える場合の原料ガスの流れを示し、図9は、インジェクトキャップ、インジェクトバッファ、及びバッフルを備える場合の原料ガスの流れを示す。図8及び図9は、ガス供給部及び反応室を通過する原料ガスの流れを示すことができる。
図8の場合、渦流の発生が頻繁であり、原料ガスの流れが集中していることがわかり、図9の場合、渦流の発生がほとんどなく、原料ガスが均一に分散して流れることがわかる。
したがって、実施例は、原料ガスを反応室105内のウエハWの中央領域S1及び縁部領域S2,S3に均一に噴射して供給することによって、成長するエピ層の厚さの均一度を向上させることができる。
以上で各実施例に説明された特徴、構造、効果などは、本発明の少なくとも一つの実施例に含まれ、必ずしも一つの実施例のみに限定されるものではない。さらに、各実施例で例示された特徴、構造、効果などは、実施例の属する分野における通常の知識を有する者によって、他の実施例に対しても組み合わせ又は変形して実施可能である。したがって、このような組み合わせ及び変形に関する内容は、本発明の範囲に含まれるものと解釈しなければならない。
実施例は、ウエハの製造工程に用いることができる。

Claims (18)

  1. 反応室と、
    前記反応室内に位置し、ウエハを載置させるサセプタと、
    前記反応室内に流入するガスの流動を制御するガス流動制御部とを含み、
    前記ガス流動制御部は、
    ガスの流れを分離する複数の流出口を有するインジェクトキャップ(inject cap)と、
    前記複数の流出口のそれぞれに対応する第1貫通孔を含み、前記第1貫通孔は前記複数の流出口から排出されるガスを通過させる、インジェクトバッファ(inject buffer)と、
    前記第1貫通孔のそれぞれに対応する第2貫通孔を含み、前記第2貫通孔は前記第1貫通孔を通過したガスを通過させる、バッフル(baffle)とを含み、
    前記第1貫通孔のそれぞれの面積は、前記第2貫通孔のそれぞれの面積よりも大きく、前記流出口のそれぞれの面積よりは小さい、エピタキシャル反応器。
  2. 隔壁によって互いに隔離され、前記第2貫通孔を通過したガスを通過させる複数の区画を含むインサート(insert)をさらに含み、
    前記第1貫通孔のそれぞれは、前記複数の区画のうち対応するいずれか1つに整列する、請求項1に記載のエピタキシャル反応器。
  3. 前記複数の区画を通過したガスを前記反応室に誘導する段差部を有するライナー(liner)をさらに含む、請求項2に記載のエピタキシャル反応器。
  4. 前記複数の区画のそれぞれの開口面積は、前記第1貫通孔の開口面積及び前記第2貫通孔の開口面積よりは大きく、前記複数の流出口のそれぞれの開口面積よりは小さい、請求項2に記載のエピタキシャル反応器。
  5. 前記インジェクトキャップは、互いに隔離される少なくとも2つ以上の部分を含み、
    前記複数の流出口のいずれか1つは、少なくとも2つ以上の部分のうち対応するいずれか1つに設けられる、請求項1に記載のエピタキシャル反応器。
  6. 前記インジェクトキャップは、一面に側壁及び底部からなるキャビティ(cavity)を備え、
    前記インジェクトキャップの他面と前記キャビティの底部との間の空間は前記第1〜第3部分に区分され、前記キャビティの底部には前記複数の流出口が設けられ、前記第1貫通孔及び前記第2貫通孔が前記キャビティの底部に対向するように、前記インジェクトバッファと前記バッフルは前記キャビティに順次挿入される、請求項5に記載のエピタキシャル反応器。
  7. 前記バッフルの一面は前記インジェクトバッファと接触し、前記バッフルの他面は前記インジェクトキャップの一面と同一平面に位置する、請求項6に記載のエピタキシャル反応器。
  8. 前記第2貫通孔と前記第1貫通孔との比率は1:5〜1:20である、請求項1に記載のエピタキシャル反応器。
  9. 前記複数の区画のそれぞれに対応する前記第2貫通孔の数は、前記複数の区画のそれぞれに対応する前記第1貫通孔の数よりも多い、請求項2に記載のエピタキシャル反応器。
  10. 前記インジェクトキャップは、
    互いに隔離される2つ以上の部分に区分され、前記複数のガス流出口のいずれか1つは、前記2つ以上の部分のうち対応するいずれか1つに設けられる、請求項1に記載のエピタキシャル反応器。
  11. 前記複数の区画のそれぞれは、
    前記第1貫通孔に対応する第2貫通孔に整列する、請求項2に記載のエピタキシャル反応器。
  12. 前記複数の区画のそれぞれに対応する第2貫通孔の数は、前記複数の区画のそれぞれに対応する第1貫通孔の数よりも多い、請求項2に記載のエピタキシャル反応器。
  13. 前記第1貫通孔は、前記インジェクトバッファの長手方向に離隔して配列される、請求項2に記載のエピタキシャル反応器。
  14. 前記第2貫通孔は、前記バッフルの長手方向に離隔して配列される、請求項2に記載のエピタキシャル反応器。
  15. 前記第1貫通孔のそれぞれの開口面積は100mm2〜200mm2である、請求項1に記載のエピタキシャル反応器。
  16. 前記第2貫通孔のそれぞれの開口面積は10mm2〜20mm2である、請求項1に記載のエピタキシャル反応器。
  17. 挿入された前記インジェクトバッファの外周面及び前記バッフルの外周面は、前記キャビティの内面に密着する、請求項6に記載のエピタキシャル反応器。
  18. 前記キャビティの深さは、前記インジェクトバッファの厚さと前記バッフルの厚さとの和と同一である、請求項6に記載のエピタキシャル反応器。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102127715B1 (ko) * 2013-08-09 2020-06-29 에스케이실트론 주식회사 에피텍셜 반응기
CN107306473B (zh) * 2016-04-25 2019-04-30 中微半导体设备(上海)股份有限公司 一种半导体处理装置及处理基片的方法
WO2018042876A1 (ja) * 2016-09-05 2018-03-08 信越半導体株式会社 気相成長装置及びエピタキシャルウェーハの製造方法
TWI754765B (zh) * 2017-08-25 2022-02-11 美商應用材料股份有限公司 用於磊晶沉積製程之注入組件
CN114457321B (zh) * 2022-01-21 2023-03-28 深圳市纳设智能装备有限公司 一种进气装置及cvd设备

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000269147A (ja) * 1999-03-18 2000-09-29 Shin Etsu Handotai Co Ltd 気相成長装置、気相成長方法及びシリコンエピタキシャルウェーハ
JP2003086524A (ja) * 2001-06-29 2003-03-20 Shin Etsu Handotai Co Ltd 気相成長装置及びエピタキシャルウェーハの製造方法
JP2005353775A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Sumco Corp エピタキシャル装置
JP2006073713A (ja) * 2004-09-01 2006-03-16 Toyota Motor Corp Cvd装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61263118A (ja) 1985-05-15 1986-11-21 Sharp Corp プラズマcvd装置
US5551982A (en) 1994-03-31 1996-09-03 Applied Materials, Inc. Semiconductor wafer process chamber with susceptor back coating
JP2005183511A (ja) 2003-12-17 2005-07-07 Shin Etsu Handotai Co Ltd 気相成長装置およびエピタキシャルウェーハの製造方法
DE102005035247B9 (de) 2005-07-25 2012-01-12 Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh Fluidverteiler mit binärer Struktur
JP4978554B2 (ja) 2008-05-12 2012-07-18 信越半導体株式会社 薄膜の気相成長方法および気相成長装置
JP5131094B2 (ja) 2008-08-29 2013-01-30 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置及び熱処理方法並びに記憶媒体
US8298629B2 (en) * 2009-02-25 2012-10-30 Crystal Solar Incorporated High throughput multi-wafer epitaxial reactor
JP5413305B2 (ja) 2010-05-25 2014-02-12 信越半導体株式会社 エピタキシャル成長装置
KR20130051013A (ko) * 2010-06-09 2013-05-16 솔렉셀, 인크. 고생산성 박막 증착 방법 및 시스템
TWI496918B (zh) 2013-02-05 2015-08-21 Adpv Technology Ltd Intetrust Gas release device for coating process

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000269147A (ja) * 1999-03-18 2000-09-29 Shin Etsu Handotai Co Ltd 気相成長装置、気相成長方法及びシリコンエピタキシャルウェーハ
JP2003086524A (ja) * 2001-06-29 2003-03-20 Shin Etsu Handotai Co Ltd 気相成長装置及びエピタキシャルウェーハの製造方法
JP2005353775A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Sumco Corp エピタキシャル装置
JP2006073713A (ja) * 2004-09-01 2006-03-16 Toyota Motor Corp Cvd装置

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