JP2016530546A - 光吸収モニタシステム - Google Patents

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Abstract

吸収モニタシステムは、光源と光検出器の間に吸収検出光路を画成するように配置される光源及び光検出器と、光源の動作を制御するように構成されるコントローラとを備え、光源は、UV域の光を発光できる発光ダイオード(UV−LED)を備え、吸収モニタシステムは、対照光検出器を備えず、コントローラは、UV−LEDからの光出力強度の変動を補償するように構成される。【選択図】図2

Description

本開示は、光吸収モニタシステム、具体的には、フローセル吸収モニタシステムに関する。
多くの物質は、その化学成分に起因して紫外線又は可視光線を吸収する。物質による光の吸収は、長年にわたってこのような物質の存在の検出及びその濃度の測定のための基礎として使用されてきた。物質の濃度は、ランベルト・ベールの法則の使用によって求められ得る。
A=Ebc
但し、Aは、吸光度であり、
Eは、mol-1cm-1という単位を有するモル吸光係数であり、
bは、cmで規定される、試料の経路長であり、
cは、溶液中の化合物の濃度(mol-1で表される)である。
Emaxは、所定の波長における物質の最大吸光を示す。
吸収モニタシステムは、一般的に、1種類以上の波長の光を流体試料に供給するための光源及び光と試料との相互作用を検出するための光検出システムを備える。流体試料は、光吸収度測定用の窓を備える適切な容器内の固定試料の場合もあれば、以下により詳細に開示されるようにフローセル内の流体の流れとして提供される場合もある。またさらに、モニタシステムは、浸漬タイプの場合があり、その場合、システムの複数の光学部品は、流体試料中に浸漬され、それらの間に光検出経路を画成するように配置される。
吸収モニタシステムの一例は、フローセルUV吸収モニタシステムであり、フローセルUV吸収モニタシステムは、分離される分子がカラムから溶出されるときにクロマトグラフィーシステムで様々な波長の光の異なる吸光度を測定するために利用される。しかしながら、フローセルUV吸収モニタシステムは、クロマトグラフィーシステム以外の広範囲の用途(生産流体処理(production fluid process)システム、研究室システム、分析システムなど)で試料を選択的に検出するために使用される場合もある。このタイプのモニタシステムは、光源、フローセル、及び光検出器を通常含む。理想的には、モニタシステムの構成要素は、最小のドリフト及び屈折率の感度を伴う信号対雑音比を確保するように選択及び設計される。光源は、一般的に、水銀ランプ、重水素ランプ、又はキセノンフラッシュランプから構成される。しかしながら、近年、光源としてUV−LED(UV域の光を発光できる発光ダイオード)を使用するモニタシステムが開発されている。UV−LEDベースのモニタシステムの一例は、米国特許第8068227号明細書に開示されている。
上記に係る最小のドリフト及び屈折率の感度を伴う信号対雑音比を得るために、このタイプのモニタシステムは、通常は、光源からの光強度出力の変動及び/又はドリフトを記録するための対照光検出器を備える。対照光検出器からの出力は、モニタシステムからの出力の正規化などによってこのような変動などの影響を低減するために使用される。
米国特許第8068227号明細書に開示されているように、UV−LEDベースのモニタシステムは、他の光源に基づくモニタシステムに比べて小型でより複雑でないものであり得る。したがって、UV−LEDベースのモニタシステムの製造は、一般に、より費用が掛からないものである。しかしながら、依然として、より費用が掛からずより複雑でないモニタシステムが必要とされている。
国際公開第2013/064973号
本発明の目的は、従来技術の1つ以上の欠点を克服する新しい吸収モニタシステムを提供することである。このことは、独立請求項に規定されている吸収モニタシステムによって達成される。
この吸収モニタシステムに関する1つの利点は、これが、現行システムに比べて複雑でなく、したがって、より費用が掛からないものでありながらも、最小のドリフト及び屈折率の感度を伴う信号対雑音比を実現することである。
別の利点は、この吸収モニタシステムが、UV−LEDのライフサイクルにわたって最適点でUV−LEDにバイアスをかけることを可能にするように構成され、これにより、LEDの寿命が向上することである。UV−LEDは、モニタシステムの総コストのかなりの部分を示すため、その寿命を大幅に延ばすことは、モニタシステムの総生涯コストに大きく影響する。また、コントローラは、バイアス点を承知し、したがって、光検出器における正しい電圧範囲を予測することができる。このことは、フローセル内の物質の存在によるところの吸光度に起因する、対照の誤差の除去に役立つ。
一態様において、吸収モニタシステムであって、光源と光検出器の間に吸収検出光路を画成するように配置される光源及び光検出器と、光源の動作を制御するように構成されるコントローラとを備え、光源が、UV域の光を発光できる発光ダイオード(UV−LED)を備え、吸収モニタシステムが、対照光検出器を備えず、コントローラが、UV−LEDからの光出力強度の変動を補償するように構成される吸収モニタシステムが提供される。
一態様において、吸収モニタシステムは、UV−LEDの温度を記録するための温度センサを備え、コントローラは、温度変化に起因するUV−LEDからの光出力強度の変動を補償するために、記録された温度に応じてUV−LEDからの光出力強度を制御するように構成される。
一態様において、吸収モニタシステムでは、コントローラが、使用時間に起因するUV−LEDからの光出力強度の変動を補償するために、UV−LEDが動作した総時間(LED使用時間)を記録し、記録されたLED使用時間に応じてUV−LEDからの光出力強度を制御するように構成される。
一態様において、吸収モニタシステムでは、コントローラが、知られている吸収能力を有する試料に関する対照吸収信号を記録及び記憶し、対照吸収信号を用いて、光検出器によって記録された吸収信号に対照補正を加えるように構成される。
一態様において、吸収モニタシステムでは、コントローラが、対照吸収信号が所定の閾値を超えたときに警告信号を供給するように構成される。
一態様において、吸収モニタシステムは、流体流路及び2つの対向する窓を有するフローセルを備え、流体流路及び2つの対向する窓は、2つの対向する窓の間に吸収検出光路を提供し、一方の窓は、UV−LEDからの光を受光するように配置され、他方の窓は、吸収検出光路からの光を光検出器へ出力するように配置される。
本発明のより完全な理解並びにそのさらなる特徴及び利点は、以下の詳細な説明及び図面への対照によって得られる。しかしながら、詳細な説明及び特定の例は、本発明の好ましい実施形態を示しているが、例証として与えられているに過ぎないことが理解されるべきである。本発明の精神及び範囲内の様々な変更例及び修正例は、以下の詳細な説明から当業者には明らかとなる。
従来技術の吸収モニタシステムの概略ブロック図である。 本発明に係る吸収モニタシステムの概略ブロック図である。 従来のUV−LEDに関してある温度範囲にわたる光強度の例を示している。 補償されない対照なしのモニタシステムを用いて記録された実験データを示しており、ここでは、UV−LEDの温度が、時間とともに段階的に変更されている。 典型的なUV−LEDに関して出力強度の低下の例を示している。 本発明のモニタシステムを用いて同じ試料配列に関して異なる温度のUV−LEDで記録された重ね合わされた4つのUV吸収曲線を概略的に示している。 本発明に係る吸収モニタシステムを備える液体クロマトグラフィーシステムの概略ブロック図である。
上で言及したように、本発明の吸収モニタシステムは、フローセル吸収モニタシステムとして示されるが、このシステムは、固定タイプ又は浸漬タイプなどのものであってもよいことに留意すべきである。主な特徴は、分析される試料の典型的な体積部を通る検出光のための光路が存在することである。
図1は、UV−LEDベースのフローセル吸収モニタシステム10の形態の従来技術の吸収モニタシステムの概略図である。モニタシステム10は、一般に、UV−LED20の形態の光源と、フローセル30と、吸収光検出器40と、対照光検出器42と、コントローラ50とを備える。UV−LED20は、本質的に、所望のUVスペクトルの光を発光できる任意のタイプのUV−LEDであってもよい。開示されている実施形態では、バンドパス干渉フィルタ22が、UV−LED20と、フローセル30の入射窓36との間に設けられている。バンドパスフィルタ22は、所定の狭い波長範囲の光が透過することを可能にする一方で他の波長の光が透過することを阻止する光学フィルタである。一実施形態によれば、フィルタの帯域幅は、良好な線形性及び大きなダイナミックレンジを提供するために10nm未満又は以下であることが好ましい。代替的な実施形態によれば、バンドパスフィルタ22は、所望の波長の十分に狭い発光スペクトルを有するUV−LED20を選択することによって省略されてもよい。或いは、光源20は、2つ以上のUV−LEDであって、それぞれが異なる波長の光を提供する2つ以上のUV−LEDから構成されてもよく、これにより、多波長モニタシステム10が得られてもよい。
試料に照射するために用いられるUV光の波長は、特定波長のUV光を発する適切なLED(例えば、UVTOP(登録商標)の260nmもしくは280nmのLED)の使用によって、又は深UV(deep UV)のより広い発光スペクトルを有する発光ダイオードを用いることによって選択されてもよい。UVTOP(登録商標)のLEDは、Sensor Electronic Technology Inc.(SC,USA)から入手可能である(例えば、「TO−39」パッケージは、250〜365nmの範囲で発光する多数のUV−発光ダイオードを含む)。
次に、光は、ビームスプリッタ24を透過し、ビームスプリッタ24は、光の一部を対照光検出器42にそらす一方で、残りは、窓36を介してフローセル30内の溶液に向けられる。ビームスプリッタ24及び対照光検出器42は、発光ダイオード20の強度変化に追随するために、したがって、出力データの安定したベースラインを提供するために使用される。入口32及び出口34を有するフローセル30は、窓36及び38を有し、窓36及び38は、UV透過性材料(サファイア、石英、又は合成溶融シリカなど)から作られ、既知の経路長を有する。それは、UV感受性フォトマルチプライヤ又はUV感受性フォトダイオードのいずれかであってもよい。
試料(例えば、タンパク質又は核酸)の流体の流れを含む溶液は、単一矢印によって示されているように、入口32及び出口34を通ってフローセル30を通過する。UV発光ダイオード20は、フローセル30内の溶液に照射するために使用され、光は、ブロック矢印によって示されているように、UV透過窓36を通ってフローセル30に入射する。溶液及び窓38を透過した光(ブロック矢印によって示されている)は、次に、光検出器40によって検出される。
次に、必要に応じて、溶液中の物質の濃度が、物質のモル吸光係数(E)が既知である場合、ランベルト・ベールの法則の使用によって求められてもよい。或いは、物質の濃度は、目的の物質に関して所定の波長(例えば、280nm)で以前に作成された用量反応曲線の使用によって求められてもよい。
コントローラ50は、所望のバイアス電流を設定することによってUV−LED20からのUV光出力を制御するように構成される。図1において、コントローラは、直流給電回路であってもよい通信線52によってUV−LEDに接続されているが、代替的に、別個のUV−LEDドライバ(図示せず)が存在してもよく、この場合、別個のUV−LEDドライバは、当業者によって認識されているようにコントローラ50などによって制御される。同様に、光検出器40及び対照検出器42は、それぞれ通信線56及び54によってコントローラ50に接続されており、通信線は、各ユニットからの記録された光強度の伝送を可能にする任意の適切な方法で実施されてもよい。コントローラ50は、フローセル内の試料流体の吸光度を反映した対照補償出力(reference−compensated output)を提供するように構成され、この出力は、UV−LED20からの光出力の変動に関して補償されたものである。一実施形態では、コントローラ50は、デジタルマイクロコントローラ回路70を備え、デジタルマイクロコントローラ回路70は、UV−LED20の動作を制御するために配置された1以上のデジタル・アナログ出力及び2以上のアナログ・デジタル入力であって、それぞれが光検出器40及び42のそれぞれに接続される2以上のアナログ・デジタル入力を備える。コントローラ50は、モニタシステム10が組み込まれる流体システムの主コントローラと相互作用するための通信インターフェース(図示せず)をさらに備えるか、或いは、モニタシステム10がスタンドアロンユニットとして動作される場合はさらにユーザインターフェースを直接備える。
多くの用途において、このタイプのモニタシステム10の全体のコストを低減することは非常に望ましく、コストの低減を達成する1つの方法は、高価な構成要素を取り除くことである。図2は、本発明の一実施形態に係るUV−LEDベースのフローセル吸収モニタシステム10の概略図である。図2では、図1と同様の対応する特徴を示すために、同じ対照符号が使用されている。図2の実施形態では、対照検出器42及び関連するビームスプリッタ24が、モニタシステム10のコスト及び複雑度を低減するために取り除かれている。
しかしながら、対照検出器42を取り除いたことによって、モニタシステム10からの出力は、UV−LED20からの光出力の変動に関してもはや能動的に補償され得ない。このような対照なしのモニタシステム10を実現可能にするために、本発明は、UV−LED20からの安定した出力を確立するための手段を提供する。
UV−LEDの1つの周知の特性は、出力光強度に関する著しい温度依存性である。図3は、従来のUV−LEDに関してある温度範囲にわたる光強度の例を示している。図3から分かるように、出力強度は、本質的に、温度に応じて逆線形である。すなわち、出力強度は、温度が上昇するにつれて線形的に低下する。図4は、補償されない対照なしのモニタシステム10を用いて記録された実験データを示しており、そこでは、UV−LEDの温度が、時間とともに段階的に変化されている。この図から、モニタシステム10から関連出力を得るために温度依存性を緩和する必要があることは明らかである。したがって、UV−LED20の温度依存性を補償するために、モニタシステム10は、UV−LED20の温度を記録するために配置された温度センサ62を備える。温度センサ62は、任意の適切なセンサ(サーモレジスタ(thermo resistor)など)であってもよく、適切な通信線64を介してコントローラ50に接続される。一実施形態によれば、コントローラ50は、略一定の出力強度がUV−LED20から得られるように、温度センサ62によって記録された温度に応じてUV−LED20の出力強度を制御する(例えば、所定の温度依存性曲線に応じて、UV−LED20に供給されるバイアス電流を制御することによって)ように構成される。或いは、UV−LED20からの出力強度は、温度とともに変化することを許されてもよく、コントローラ50は、所定の温度依存性曲線に基づいて、光検出器40によって記録された吸収信号に温度補償を加えるように構成される。一実施形態によれば、UV−LED20の温度は、設定温度に能動的に制御されてもよい(例えば、UV−LED20の温度を所望の設定点に維持するためにUV−LED20を加熱及び/又は冷却するための、ペルチェ素子などの熱伝達ユニットを備える温度制御機構(図示せず)によって)。また一方で、モニタシステム10は、周囲温度が比較的広範囲にわたって変化し得る環境で使用される場合があるため、温度制御機構は、所定の温度依存性曲線を用いる温度補償と適切に組み合わされる。
さらに、市販のUV−LEDに関する、一定のバイアス電流における出力強度は、多くの場合、UV−LEDの寿命にわたって低下することが分かっている。図5は、典型的なUV−LEDに関して出力強度の低下の例を示している。図5から分かるように、この特定のUV−LEDに関する出力強度は、4000時間の期間に約50%低下する。さらに、低下の速度は、直線的ではなく、時間とともに可変であることが結論され得る。このモニタシステム10では、コントローラ50は、UV−LED20の出力強度の減少を自動的に補償するように構成されている。一実施形態によれば、コントローラ50は、使用時間補正(age correction)曲線を記憶するためのメモリ72を備え、コントローラは、UV−LED20が動作した総時間(LED使用時間(LED−age))を記録及び記憶し、使用時間補正曲線に従って、記録されたLED使用時間における使用時間補正を加えるようにさらに構成される。温度補正と同様に、使用時間補正は、一実施形態では、UV−LED20から略一定の出力強度がその寿命にわたって得られるように所定の使用時間補正曲線に従って、UV−LED20に供給されるバイアス電流を制御するようにコントローラ50を構成することによって実施されてもよい。或いは、UV−LED20からの出力強度は、UV−LEDの寿命にわたって変化することを許されてもよく、コントローラ50は、所定の使用時間補正曲線に基づいて、光検出器40によって記録された吸収信号に使用時間補正を加えるように構成される。図5によって示されているように、UV−LEDの使用時間補正曲線は、実験を通して適切に求められる。また、異なるモデルのUV−LEDは、異なる経年劣化挙動を示すと予想され得るため、モニタシステム10に使用され得るモデルのそれぞれに関して、個々の使用時間補正曲線が必要とされ得る。図1の実施形態のように、コントローラ50は、UV−LED20の動作を制御するために配置された1以上のデジタル・アナログ出力及び光検出器40のための1以上のアナログ・デジタル入力を備えるデジタルマイクロコントローラ回路を備えてもよい。一実施形態によれば、マイクロコントローラ回路は、UV−LED20と直列に接続された電流検出抵抗(図示せず)における電圧降下を記録することによってUV−LED20を駆動するバイアス電流を記録するために配置される第2のアナログ・デジタル入力を備える。
一実施形態では、UV−LED20のバイアス電流は、検知され、UV−LEDの使用のある時間数の後に消費される電流に関して所定のバイアス閾値と比較される。電流が、所定の閾値内にない場合、電流は、光検出器側で記録される強度を所定のレベルに設定するようにコントローラ50によって変更される(一実施形態では、3V〜4V)。このバイアス電流調整は、前の実行中のUV−LED20のドリフトを補償する。記録されたバイアス電流が、電流が所定のレベルよりも高いことを示す場合、コントローラ50は、不測の障害などに関してフローセルを調べるようユーザに要求する警告を出すように構成されてもよい。正常なバイアス電流レベルを検出したら、バイアス電流は、この実行に関して記憶される。また、UV−LEDがこの実行に使用される時間数を計数する計数器が、この時点で始動される。この計数器は、UV−LEDがこの実行中にオンされる時間数を記録するために実行の間にわたって更新される。光検出器側の電圧は、機器によってサポートされるクロマトグラフィー法のタイプに基づいて機器のために構成されてもよい。また、モニタシステムは、UV−LEDが新しいUV−LEDの取り付け以後に使用された総時間数の記録を有する。さらに、所定のサイクルの較正期間が、必要に応じてユーザ要求の通りにUV測定値を微調整する目的で自動較正を更新する(over−ride)ために設けられてもよい。
このように、UV−LED20を通るバイアス電流は、コントローラ50によって制御される可変要素であり、コントローラ50は、電流フィードバックを記録するように構成される。また、光検出器40によって記録された強度は、コントローラ50に供給される。これと共に、UV−LED20の使用の時間数及び前の実行中に記録されたUV−LED20の強度が、UV−LED20のライフサイクル中の最適点でUV−LEDのバイアス電流を制御するインテリジェンスを構築するためにコントローラのメモリ72に記憶される。さらに、UV−LEDに、所定の範囲内でバイアスがかけられない場合、UV−LEDの寿命は悪影響を受け得る。したがって、UV−LEDの寿命にわたるバイアスレベルの上記の制御は、出力強度の変動を補償するだけでなく、UV−LEDの寿命を大幅に延ばし得る。また、これらのデータと共に、クロマトグラフィー法も、UV−LED20の寿命にわたってこの最適なバイアス点における実行に関して対照値を取得する際の誤差を回避するために自己較正中に使用される。UV−LEDのための可変バイアス電流は、UV−LED20のライフサイクルにわたって最適点でUV−LED20にバイアスをかけることを可能にし、これにより、UV−LEDの寿命が向上する。また、コントローラ50は、バイアス点を承知し、したがって、検出器における正しい電圧範囲を予測することができる。このことは、フローセル内の物質の存在によるところの吸光度に起因する、対照の誤差の除去に役立つ。対照信号を取得し、検証する際のインテリジェンスは、UV測定値の誤差を低減する。
一実施形態によれば、コントローラ50は、検出サイクルの一部として対照吸収信号を記録するように構成され、この場合、対照吸収信号は、モニタシステム10の検出帯域では本質的に吸収を行わない対照試料に関して記録される。或いは、対照試料は、検出帯域の光を吸収する所定の濃度の試料を含んでもよい。対照吸収信号は、例えば、検出サイクルの初期設定ステップとして記録されてもよく、その場合、バッファ用の又は別の対照試料が、フローセル内に供給されるが、これは、検出サイクル中の他の時点で記録されてもよい。モニタシステム10が、手動の液体処理システムの一部の場合、ユーザは、手動で対照試料をフローセル内に供給しなければならないが、自動化されたシステムでは、対照吸収信号の記録は、部分的に又は完全に自動化されてもよい。このとき、コントローラ50は、対照吸収信号を用いて、光検出器40によって記録された吸収信号に対照補正を加えるように構成される。一実施形態では、対照吸収信号が、吸収を行わない対照試料に関して記録されるとき、対照吸収信号は、フローセル30内の他の要素又は例えば堆積物などによる吸収に起因する「バックグラウンド信号」であると考えられてもよく、対照吸収信号は、対照した出力信号を提供するために、記録された信号から差し引かれてもよい。
一実施形態によれば、コントローラ50は、UV−LED20のためのバイアス点を検出及び調整するために、UV−LED20を通るバイアス電流と組合せて又はこれの代わりに、UV−LED20のバイアス電流を調整するために光検出器40からの信号レベルを使用するように構成されてもよい。
図6は、本発明のモニタシステムを用いて同じ試料配列に関して異なる温度のUV−LEDで記録された重ね合わされた4つのUV吸収曲線を概略的に示している。開示されている図において、吸収曲線は、3℃、6℃、25℃、及び37℃のそれぞれに関して記録されている。図4の、温度補償を行わないシステムに関する不満足な結果と比較すると、現在の解決策が、大きく改善された安定した出力を提供することは明らかである。
図7に概略的に開示されている一実施形態によれば、モニタシステム10は、液体クロマトグラフィーシステム190の一部の構成要素として含まれてもよく、液体クロマトグラフィーシステム190は、例えば、
流体源A1、A2、B1、B2から入力流体を選択するために配置された2つの三方入力弁160及び161と、
2つのシステムポンプ150及び151と、
システムポンプの後の流路内のシステム圧力を記録するための圧力センサ200と、
ポンプによって供給された流体の適切な混合を確保するミキサ210と、
流体通路に試料を注入するための注入弁220と、
カラム240と流体通路とを選択的に接続/切断するためのカラム接続弁230と、
カラム前圧力センサ235及びカラム後圧力センサ236と、
カラムからの出力を検出するための、本発明に係るモニタシステム10と、
導電率モニタ260と、
pHモニタ265と、
2つ以上の出力位置(例えば、フラクションコレクタ280又は廃棄物容器などと接続された)を有する出力選択弁270と、
システムを通る液体の流れを制御するためにポンプ及び弁に接続され、かつ流れをモニタリングするためにセンサ及びモニタに接続されたシステムコントローラ100(接続は、点線310によって示されている)と
を備える。図7の実施形態では、モニタシステムのコントローラ50は、モニタシステムの専用コントローラであってもよいし、或いは、その機能が、システムコントローラ100に組み込まれてもよい。
図7のクロマトグラフィーシステムは、クロマトグラフィーシステムが設計され得る方法の一般的な例を示しており、他の実施形態は、一部の構成要素を2つ以上を備え、場合によっては構成要素の一部を欠いた異なる設計であってもよい。一実施形態によれば、クロマトグラフィーシステムは、液体クロマトグラフィーシステムである。

Claims (6)

  1. 光源と光検出器の間に吸収検出光路を画成するように配置された光源及び光検出器と、光源の動作を制御するように構成されたコントローラとを備える吸収モニタシステムであって、光源が、UV域の光を発光できる発光ダイオード(UV−LED)を備え、吸収モニタシステムが、対照光検出器を備えておらず、コントローラが、UV−LEDからの光出力強度の変動を補償するように構成されている、吸収モニタシステム。
  2. UV−LEDの温度を記録するための温度センサを備え、コントローラが、温度変化に起因するUV−LEDからの光出力強度の変動を補償するために、記録された温度に応じてUV−LEDからの光出力強度を制御するように構成されている、請求項1に記載の吸収モニタシステム。
  3. コントローラが、使用時間に起因するUV−LEDからの光出力強度の変動を補償するために、UV−LEDが動作した総時間(LED使用時間)を記録し、記録されたLED使用時間に応じてUV−LEDからの光出力強度を制御するように構成されている、請求項1又は2に記載の吸収モニタシステム。
  4. コントローラが、知られている吸収能力を有する試料に関する対照吸収信号を記録及び記憶し、対照吸収信号を用いて、光検出器によって記録された吸収信号に対照補正を加えるように構成されている、請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の吸収モニタシステム。
  5. コントローラが、対照吸収信号が所定の閾値を超えたときに警告信号を供給するように構成されている、請求項4に記載の吸収モニタシステム。
  6. 流体流路及び2つの対向する窓を有するフローセルを備え、流体流路及び2つの対向する窓が、2つの対向する窓の間に吸収検出光路を提供しており、一方の窓が、UV−LEDからの光を受光するように配置され、他方の窓が、吸収検出光路からの光を光検出器へ出力するように配置されている、請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の吸収モニタシステム。
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