JP2016527503A - 単一磁気抵抗器tmr磁場センサチップおよび磁気貨幣検出器ヘッド - Google Patents

単一磁気抵抗器tmr磁場センサチップおよび磁気貨幣検出器ヘッド Download PDF

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Abstract

単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ(101)および磁気貨幣検出器ヘッドであり、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ(101)は、磁気励起素子より上に取り付けられ、チップの感知方向は、チップの表面に平行であり、磁気励起素子によってチップに生成された磁気励起場の方向は、チップの表面に垂直であり、チップは、基板(102)と、基板(102)に堆積された磁気バイアス構造体と、磁気抵抗素子(108)と、入力/出力端子とを備え、磁気抵抗素子(108)は、MTJで構成され、磁気抵抗素子(108)およびMTJの感知方向は、チップの感知方向と同じであり、磁気バイアス構造体によってチップに生成されたバイアス磁場の方向は、チップの感知方向に垂直である。チップは、高感度、高信号対雑音比、小さなサイズ、高い温度安定性および高信頼性を特徴とする。【選択図】図1

Description

本発明は、磁場センサの分野、詳しくは、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップと、このチップに基づいて製造された磁気貨幣検出器ヘッドとに関する。
日常生活の中で、磁気貨幣検出器ヘッドは、非常に幅広い範囲に応用され、たとえば、磁気貨幣検出器ヘッドは、自動販売機および現金計数機のような機器において必要とされる。現代の主流の磁気貨幣検出器ヘッド技術では、感光材料としてアンチモン化インジウムを利用する磁気ヘッドが使用され、磁力線は、検出表面に垂直であり、紙幣が磁気ヘッドを通過するとき、磁場が変化し、紙幣の真正性の識別は、磁場の変化を検出することにより実現される。しかしながら、このような磁気ヘッドは、低感度、低信号対雑音比、大きいサイズ、低下した温度安定性、および、低下した信頼性をもつ。
本発明の目的は、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップおよび磁気貨幣検出器ヘッドを提供すること、感度、信号対雑音比、温度安定性、および信頼性を高めること、および磁気ヘッドのサイズを低減することである。
本発明が提供する単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、
磁気励起素子より上に取り付けられ、チップの感知方向がチップの表面に平行であり、磁気励起素子によってチップ上に生成された磁気励起場の方向がチップの表面に平行である単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップを含み、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、
基板と、基板に堆積された磁気バイアス構造体と、磁気抵抗素子と、入力および出力端子とを含み、
磁気抵抗素子は、少なくとも1つのMTJユニットで構成され、
MTJユニットは、少なくとも1つのMTJストリングで構成され、
MTJストリングは、少なくとも1つのMTJで構成され、
磁気抵抗素子およびMTJの感知方向は、チップの感知方向と同じであり、
磁気励起素子によってチップに生成されたバイアス磁場の方向は、チップの感知方向に垂直である。
好ましくは、
磁気抵抗素子は、並列接続もしくは直列接続された少なくとも2つのMTJユニットで構成され、MTJユニットは、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの感知方向に垂直もしくは平行である方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJユニットの間の中心距離は、200μm〜800μmであり、
および/または、
MTJユニットは、並列接続もしくは直列接続された少なくとも2つのMTJストリングで構成され、MTJストリングは、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの感知方向に垂直もしくは水平である方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJストリングの間の中心距離は、20μm〜100μmであり、
および/または、
MTJストリングは、並列接続もしくは直列接続された少なくとも2つのMTJで構成され、MTJは、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの感知方向に垂直もしくは水平である方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJの間の中心距離は、1μm〜20μmである。
好ましくは、上から見たMTJの形状は、楕円であり、このMTJの長軸の長さと短軸の長さとの比は、3より大きく、MTJの短軸は、チップの感知方向に平行である。
好ましくは、外部磁場が存在しない場合、MTJの中の自由層の磁化方向は、磁気バイアス構造体の作用の下で、MTJの長軸の方向に平行である。
好ましくは、磁気バイアス構造体は、塊状または層状であり、Cr、Co、Pt、Pd、NiまたはFeで構成される合金で作られる。
好ましくは、磁気バイアス構造体は、2つの隣接するMTJストリングの間にある永久磁石で構成され、永久磁石の磁化方向に沿って、MTJの両側に永久磁石が設けられ、磁気励起素子によって永久磁石に生成された磁場は、永久磁石の保磁力の半分未満であり、0.1T未満である。
好ましくは、磁気バイアス構造体は、MTJに堆積された磁性膜で構成され、磁気励起素子によって磁性膜に生成された磁場は、磁性膜の保磁力の半分未満であり、0.1T未満である。
好ましくは、磁気バイアス構造体は、MTJに堆積された交換相互作用層で構成され、交換相互作用層は、反強磁性層、および、反強磁性層と弱く結合した強磁性層を含む。
好ましくは、入力端子および出力端子は、両方共に、2つのワイヤボンディングパッドを少なくとも含み、各ワイヤボンディングパッドは、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの両端に位置している。
好ましくは、複数の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、ワイヤボンディングパッドを介して互いに電気接続されてセンサチップ結合体を形成し、センサチップ結合体の感知ゾーン面積は、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップのうち1つのチップの感知ゾーン面積より大きい。
好ましくは、ワイヤボンディングパッドは、長さが15μm〜2000μmであり、幅が15μm〜1000μmである。
好ましくは、基板は、電気接続を実現する電気接続導体が上に設けられ、電気接続導体の幅は、10μm以上である。
好ましくは、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、長さが500μm〜3000μmであり、幅が20μm〜1500μmである。
本発明は、さらに対応して磁気貨幣検出器ヘッドを提供し、磁気ヘッドは:
上記のうちいずれか1つによる単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップのうち少なくとも1つと、信号処理回路と、磁気励起素子と、出力ピンと、回路板とを含み、
磁気励起素子は、被測定空間内でチップの感知方向に外部磁場を生成するために、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップより下に取り付けられ、磁気励起場を提供するため使用され、
単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、外部磁場を感知し、外部磁場を電気信号に変換し、
信号処理回路は、回路板を通して出力ピンに転送される電気信号を変換する。
本発明において提供された具体的な実施形態によれば、本発明は、以下の技術的効果を開示する:
本発明は、感知方向がチップの表面に平行であり、磁気励起素子によってチップに生成された磁気励起場の方向がチップの表面に垂直であり、チップの磁気抵抗素子がMTJで構成され、磁気抵抗素子およびMTJの感知方向がチップの感知方向と同じであり、磁気励起素子によってチップに生成されたバイアス磁場がチップの感知方向に垂直である、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップを提供する。本発明のチップは、高感度、高信号対雑音比、小さなサイズ、高い温度安定性、および高信頼性を有する。
本発明もしくは従来技術の実施形態における技術的解決手段をより明瞭に説明するために、実施形態を記載するため使用される添付図面を以下で簡単に紹介する。当然ながら、以下の説明における添付図面は、本発明の単なるある種の実施形態であり、当業者は、創造的な努力なしでこれらの添付図面に従って他の図面を得ることができる。
単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの概略図。 2つ以上の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの間の接続モードの概略図。 MTJの概略構成図。 抵抗値と外部磁場との間の関係曲線を示す図。 単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの応用の1つの概略図。 図4(a)に対応するセンサチップの出力電圧と外部磁場との間の関係曲線を示す図。 単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの応用の別の概略図。 図5(a)に対応するセンサチップの出力電圧と外部磁場との間の関係曲線を示す図。 第1の磁気バイアス方法において形成されたMTJユニットの概略図。 第1の磁気バイアス方法におけるMTJとこのMTJに隣接する永久磁石の位置関係を示す図。 第1の磁気バイアス方法におけるMTJの概略構成図。 第2の磁気バイアス方法において形成されたMTJユニットの概略図。 第2の磁気バイアス方法におけるMTJの概略構成図。 第3の磁気バイアス方法におけるMTJの概略構成図。 複数のMTJの間の接続モードの概略図。
本発明の実施形態における技術的解決手段は、本発明の実施形態において添付図面を参照して以下で明瞭かつ完全に説明される。説明される実施形態が本発明の実施形態の全部ではなく単に一部であることは、明白である。創造的な努力なしで本発明の実施形態に基づいて当業者によって導き出された他の実施形態全ては、本発明の保護範囲に属する。
本発明の実施形態は、単一磁気抵抗器TMR(トンネル磁気抵抗)磁場センサチップを提供する。図1は、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の概略図である。実際の応用では、チップの長さは、500μm〜3000μmであることがあり、幅は、20μm〜1500μmであることがあり、上記サイズに限定されるものではない。チップの中の全てのコンポーネントは、基板102に位置し、基板102は、集積回路を作り上げることができるシリコン、セラミックおよび樹脂のような材料から構成されることがある。シリコン基板が本発明において使用される。磁気抵抗素子108は、MTJ(磁気トンネル接合)ユニット109で構成され、または、直列接続もしくは並列接続された少なくとも2つのMTJユニット109で構成される。図1に表された磁気抵抗素子108は、並列接続された5つのMTJユニット109で構成される。1つのMTJユニット109は、1つのMTJストリングで構成され、または、並列接続もしくは直列接続された2つ以上のMTJストリングで構成される。各MTJストリングは、1つのMTJで構成され、または、並列接続もしくは直列接続された2つ以上のMTJで構成される。単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、従来型の抵抗器と同様に、それぞれの端子が入力端子および出力端子であり、各端子が少なくとも2つのワイヤボンディングパッドをもつ2つの端子を有する。ワイヤボンディングパッドは、複数の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの間で電気接続のため使用されることもあり、チップは、センサチップ結合体を形成し、センサチップ結合体の感知ゾーン面積は、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの1つのチップの感知ゾーン面積より大きい。
図1における104および105は、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの一方の端子の2つのワイヤボンディングパッドであり、106および107は、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップのもう一方の端子の2つのワイヤボンディングパッドである。好ましくは、ワイヤボンディングパッド104〜107は、長さが15μm〜2000μmであり、幅が15μm〜1000μmである。パッド同士、および、パッドと磁気抵抗素子とは、電気接続導体103を介して互いに接続され、電気接続導体103は、幅が10μm以上である高導電率材料で作られている。
上記チップは、磁気励起素子より上に取り付けられ、磁気励起素子によってチップに生成された磁気励起場の方向は、チップの表面に垂直である。チップは、基板に堆積された磁気バイアス構造体(図示せず)をさらに含む。磁気バイアス構造体は、塊状または層状でもよく、使用される材料は、Cr、Co、Pt、Pd、NiもしくはFeで構成された合金でもよい。
磁気励起素子によってチップに生成されたバイアス磁場の方向は、磁気抵抗素子を線形ゾーンにおいて動作させ、MTJのヒステリシスを低減するためにチップの感知方向に垂直である。本発明では、チップの感知方向は、チップの表面に平行であり、磁気抵抗素子およびMTJの感知方向は、チップの感知方向と同じである。
本発明は、感知素子として、高感度、小さなサイズ、低コストおよび低消費電力という利点を有するMTJを使用する。MTJの具体的な構造体が図3(a)に表され、トンネル層303は、強磁性自由層302と磁気ピン止め層304との間にあり、磁気ピン止め層304の磁化方向305は、磁気バイアス構造体の中に設けられたバイアス磁場の方向に垂直である。バイアス磁場の作用の下で、外部磁場が存在しない場合、強磁性自由層302の磁化方向は、バイアス磁場の方向と同じである。外部磁場が存在する場合、強磁性自由層302の磁化方向は、外部磁場と一緒に変化するものである。MTJの2つの端子のA端部およびB端部は、マクロレベルでの抵抗の特性を表し、抵抗値は、強磁性自由層302の磁化方向の変化と共に変化するものであり、強磁性自由層302の磁化方向が矢印307によって示されるように磁気ピン止め層304の磁化方向305に平行であり、ならびに、強磁性自由層302が飽和まで磁化されているとき、A端部とB端部との間の抵抗は、Rminとして表示された最小値であり、この点で、外部磁場は、Hsat−として表示され、強磁性自由層302の磁化方向が矢印306によって示されるように磁気ピン止め層304の磁化方向305に逆平行であり、ならびに、強磁性自由層302が飽和まで磁化されているとき、A端部とB端部との間の抵抗は、Rmaxとして表示された最大値であり、この点で、外部磁場は、Hsat+として表示され、図3(b)に表されているとおりである。MTJの抵抗値は、外部磁場と共にRminとRmaxとの間で直線的に変化する。その結果、MTJの抵抗値の変化を通じて外部磁場に関する測定を達成することが実現可能である。
図4(a)および図4(b)は、それぞれ、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の応用、および出力電圧と外部磁場との間の関係曲線の概略図である。単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の2つの端子は、図4(a)に示されたC端部およびD端部であり、電流源402と単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101とは、ループを作る。外部磁場が図4(b)に示されたようにHsat+に達するとき、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の抵抗は、最小値であり、この点で、TMR磁場センサチップのC端部とD端部との電位差は、Vmaxとして表示された最大値であり、外部磁場が図4(b)に示されたようにHsat−に達するとき、TMR磁場センサチップ101の抵抗は、最小値であり、この点で、TMR磁場センサチップのC端部とD端部との電位差は、Vminとして表示された最小値である。
図5(a)および図5(b)は、それぞれ、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の応用および出力電圧と外部磁場との間の関係曲線の別の概略図である。単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の2つの端子は、図5(a)に示されたE端部およびF端部であり、電流源503、従来型の抵抗器502、および単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101は、直列のループを作る。外部磁場が図5(b)に示されたようにHsat+に達するとき、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の抵抗は、最大値であり、この点で、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップのE端部とF端部との電位差は、Vmax1として表示された最大値であり、外部磁場が図5(b)に示されたようにHsat−に達するとき、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の抵抗は、最小値であり、この点で、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップのE端部とF端部との電位差は、Vmin1として表示された最小値である。
本発明における磁気バイアス構造体は、複数の形式を有する。
図6を参照すると、第1の形式では、磁気バイアス構造体は、2つの隣接するMTJストリングの間にあり、チップに一体化された永久磁石で構成される。12個のMTJ 601は、1つのMTJストリング602を作り、MTJ 601は、磁場センサチップ101の感知方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJ 601の間の中心距離は、1μm〜20μmであり、本実施形態では、6μmである。7個のMTJストリング602が直列接続されて1つのMTJユニットを作り上げ、MTJストリング602は、磁場センサチップ101の感知方向に垂直である方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJストリングの間の中心距離605は、20μm〜100μmであり、本実施形態では、54μmである。5個のMTJユニット109が並列接続されて1つの磁気抵抗素子108を作り上げ、2つの隣接するMTJユニット109の間の中心距離は、200μm〜800μmであり、本実施形態では、429μmである。MTJユニット109は、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の感知方向に垂直である方向に沿って配置される。2つの隣接するMTJストリング602の間で、永久磁石603がチップに一体化され、導電性材料から作られた電気接続導体604は、2つの隣接するMTJストリング602の間で電気接続を実現する。
図7は、第1の形式における永久磁石603の位置とMTJ 601の位置との関係を示す。永久磁石603の磁化方向703は、磁場センサチップの感知方向に垂直であり、MTJ 601の長軸の方向、すなわち、磁化容易軸に平行であり、このようにして、MTJ 601のヒステリシスを低減することができる。永久磁石603の磁化方向703に沿って、MTJ 601の両側は、両方共に永久磁石603が設けられている。MTJ 601は、楕円の形状をなし、このMTJの長軸の長さと短軸の長さとの比は、3より大きい。長軸701は、MTJ 601の磁化容易軸であり、短軸702は、MTJ 601の磁化困難軸である。磁気励起素子によって磁化された永久磁石603に故障を引き起こさないように、磁気励起素子によって永久磁石603に生成された磁場は、永久磁石603の保磁力の半分未満であるべきであり、0.1T未満となるであろう。
図8は、図7におけるMTJ 601の概略構造図であり、このMTJ 601は、磁性自由層801と、トンネルバリア層802と、ピン止め層803と、反強磁性層804とで構成される。MTJ 601の長軸805のサイズおよび短軸806のサイズは、それぞれ、10μmおよび1.5μmである。トンネルバリア層802は、おおよそMgOもしくはAlから構成され、MTJ 601の抵抗の大半を作り上げる。反強磁性層804とピン止め層803との間の交換結合効果は、ピン止め層803の磁化方向を決定する。本実施形態では、ピン止め層803の磁化方向は、短軸806の方向に平行である。磁性自由層801の磁化方向は、外部磁場による影響を受け、外部磁場が存在しない場合、磁性自由層801の磁化方向は、永久磁石603の磁化方向703に平行である。チップに接近する紙幣が存在するとき、紙幣と磁気貨幣検出器ヘッドの中に設けられた磁石との作用の下で、磁性自由層801の磁化方向は、変化するものであり、トンネル効果に従って、MTJ 601の抵抗もこれに応じて変化し、その結果、紙幣の検出が信号変換を通じて達成され得る。
図9を参照すると、第2の形式では、磁気バイアス構造体は、MTJに堆積された磁性膜で構成され、12個のMTJ 901は、直列接続されて1つのMTJストリング902を作り上げ、MTJ 901は、磁場センサチップの感知方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJ 901の間の中心距離は、1μm〜20μmであり、本実施形態では、6μmである。7個のMTJストリング902は、直列接続されて1つのMTJユニット109を作り上げ、MTJストリング902は、磁場センサチップの感知方向に垂直である方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJストリング902の間の中心距離904は、20μm〜100μmであり、本実施形態では、54μmである。5個のMTJユニット109は、並列接続されて1つの磁気抵抗素子108を作り上げ、MTJユニット109は、磁場センサチップの感知方向に垂直である方向に沿って配置されている。導電性材料から構成された電気接続導体903は、2つの隣接するMTJストリング902の間に電気接続を実現する。
図10は、図9におけるMTJ 901の概略構成図であり、MTJ 901は、磁気バイアス構造体を形成する磁性膜1001と、磁性自由層1002と、トンネルバリア層1003と、ピン止め層1004と、反強磁性層1005とで構成される。MTJ 901の長軸の長さと短軸の長さとの比は、3より大きく、長軸および短軸のサイズは、それぞれ、30μmおよび1.5μmである。磁性膜1001の磁化方向は、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの感知方向に垂直であり、かつ、MTJ 901の長軸の方向に平行であり、MTJのヒステリシスを低減するため使用される。形状異方性に従って、MTJ 901の長軸は、MTJの磁化容易軸の方向である。トンネルバリア層1003は、概してMgOもしくはAlから構成され、MTJ 901の抵抗の大半を作り上げる。反強磁性層1005とピン止め層1004との間の交換結合効果は、ピン止め層1004の磁化方向を決定する。磁気励起素子によって磁化された磁性膜1001に故障を引き起こさないように、磁気励起素子によって磁性膜1001に生成された磁場は、磁性膜1001の保磁力の半分未満であるべきであり、0.1T未満となるであろう。
本実施形態では、ピン止め層1004の磁化方向は、短軸1008の方向に平行である。磁性自由層1002の磁化方向は、外部磁場による影響を受け、外部磁場が存在しない場合、磁性自由層1002の磁化方向は、磁性膜1001の磁化方向1006に平行であり、紙幣がチップに接近しているとき、紙幣と磁気貨幣検出器内に設けられた磁石との相互作用の下で、磁性自由層1002の磁化方向は、変化するものであり、トンネル効果に従って、MTJ 901の抵抗もこれに応じて変化する。従って、紙幣の検出は、信号変換を通して実現され得る。
第3の形式は、以下のとおりである:図10における磁性膜1001は、交換相互作用層で置換されてもよく、このようにして形成されたMTJは、図11に示されたとおりであり、この方法を用いて形成された磁気抵抗素子ユニットの構造は、図9における磁気抵抗ユニット109の構造と同じである。MTJ 1110は、交換相互作用層1100と、磁性自由層1103と、トンネルバリア層1104と、ピン止め層1105と、反強磁性層1106とで構成され、交換相互作用層1100は、反強磁性層1101、および、反強磁性層1101と弱く結合された強磁性層1102とで構成され、強磁性層1102は、磁性自由層1103と反強磁性層1101との間に位置している。MTJは、楕円の形状をなし、MTJ 1110の長軸の長さと短軸の長さとの比は、3より大きく、本実施形態では、長軸1107の長さおよび短軸1108の長さは、それぞれ、30μmおよび1.5μmである。反強磁性層1101との交換結合効果の下で、強磁性層1102の磁化方向は、TMR磁場センサチップの感知方向に垂直であり、かつ、MTJ 1110の長軸の方向に平行であり、ヒステリシスを低減する。磁性自由層1103の磁化方向は、外部磁場による影響を受け、外部磁場が存在しない場合、磁性自由層1103の磁化方向は、強磁性層1102の磁化方向1109に平行であり、紙幣がチップに接近しているとき、紙幣と磁気貨幣検出器内に設けられた磁石との相互作用の下で、磁性自由層1103の磁化方向は、変化するものであり、トンネル効果に従って、MTJ 1110の抵抗もこれに応じて変化し、従って、紙幣の検出は、信号変換を通して実現され得る。
図12は、磁気抵抗ストリングの断面図であり、MTJ間の接続モードを示す。下部電極1202は、基板1204より上に位置し、MTJ 1201の下部と電気接続され、上部電極1203は、MTJ 1201の上部と電気接続されている。上部電極および下部電極は、磁場センサチップの感知方向の向きに沿って交互に配置され、このようにして、MTJストリングの中のMTJ 1201の間に電気相互接続を形成し、2つの隣接するMTJ 1201の間の距離は、1205である。
本発明は、上記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップを使用して製造された磁気貨幣検出器ヘッドをさらに提供し、磁気ヘッドは、具体的には:
信号処理回路と、磁気励起素子と、出力ピンと、回路板と、上記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップのうち少なくとも1つとを含む。
磁気励起素子は、被測定空間内のチップの感知方向に外部磁場を生成するために、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップより下に取り付けられ、磁気励起場を設けるため使用され、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、外部磁場を感知し、外部磁場を電気信号に変換し、信号処理回路は、電気信号を変換し、これが回路板を通って出力ピンに転送される。
感知ゾーンの面積を増大するために、複数の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップを一体として接続して、センサチップ結合体を形成することを実現可能である。図2は、2つ以上の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101の接続方法の概略図である。各入力もしくは出力端子は、2つのボンディングパッドを有するので、複数の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ101は、ワイヤボンディングを用いて電気相互接続を実現でき、図2における201、202および203は、ワイヤボンディングのための相互接続ラインである。
上記センサチップ結合体は、磁気貨幣検出器ヘッドに応用されることがあり、感知ゾーンの面積は、貨幣検出の範囲を増大し、かつ、貨幣検出の効率を改善するように、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップのうち1つのセンサチップの感知面積より大きい。
以上、本発明に従って実施される単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップと、このチップに基づいて製造された磁気貨幣検出器ヘッドとを詳細に紹介し、本発明の原理および実施態様は、具体的な例を通して本明細書に記載され、上記実施形態に関する説明は、本発明の方法および核となるアイデアを理解しやすいように設けられているに過ぎず、同時に、当業者は、本発明のアイデアに従う具体的な実施態様および応用範囲の観点で本発明を変形することができる。結論として、明細書の内容は、本発明の制限と解釈されるべきではない。

Claims (14)

  1. 磁気励起素子より上に取り付けられ、チップの方向が前記チップの表面に平行であり、前記磁気励起素子によって前記チップに生成された磁気励起場の方向が前記チップの前記表面に垂直である、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップであって、
    前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、
    基板と、前記基板に堆積された磁気バイアス構造体と、磁気抵抗素子と、入力端子および出力端子と、を備え、
    前記磁気抵抗素子は、少なくとも1つのMTJユニットで構成され、
    前記MTJユニットは、少なくとも1つのMTJストリングで構成され、
    前記MTJストリングは、少なくとも1つのMTJで構成され、
    前記磁気抵抗素子および前記少なくとも1つのMTJの感知方向が前記チップの感知方向と同じであり、
    前記磁気励起素子によって前記チップに生成されたバイアス磁場の方向が前記チップの前記感知方向に垂直である、単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  2. 前記磁気抵抗素子は、並列接続もしくは直列接続された少なくとも2つのMTJユニットで構成され、前記MTJユニットは、前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの前記感知方向に垂直もしくは平行である方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJユニットの間の中心距離は、200μm〜800μmであり、および/または、
    前記MTJユニットは、並列接続もしくは直列接続された少なくとも2つのMTJストリングで構成され、前記MTJストリングは、前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの前記感知方向に垂直もしくは水平である方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJストリングの間の中心距離は、20μm〜100μmであり、および/または、
    前記MTJストリングは、並列接続もしくは直列接続された少なくとも2つのMTJで構成され、前記MTJは、前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの前記感知方向に垂直もしくは水平である方向に沿って配置され、2つの隣接するMTJの間の中心距離は、1μm〜20μmである、請求項1に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  3. 上から見た前記MTJの形状は、楕円であり、前記MTJの長軸の長さと短軸の長さとの比は、3より大きく、前記MTJの短軸は、前記チップの前記感知方向に平行である、請求項1に記載のTMR磁場センサチップ。
  4. 外部磁場が存在しない場合、前記MTJの中の自由層の磁化方向は、前記磁気バイアス構造体の作用の下で、前記MTJの前記長軸の方向に平行である、請求項3に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  5. 前記磁気バイアス構造体は、塊状または層状であり、Cr、Co、Pt、Pd、NiまたはFeで構成される合金で作られている、請求項1に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  6. 前記磁気バイアス構造体は、2つの隣接するMTJストリングの間にある永久磁石で構成され、
    前記永久磁石の磁化方向に沿って、前記MTJの両側に前記永久磁石が設けられ、
    前記磁気励起素子によって前記永久磁石に生成された磁場は、前記永久磁石の保磁力の半分未満であり、0.1T未満である、請求項1に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  7. 前記磁気バイアス構造体は、前記MTJに堆積された磁性膜で構成され、前記磁気励起素子によって前記磁性膜に生成された磁場は、前記磁性膜の保磁力の半分未満であり、0.1T未満である、請求項1に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  8. 前記磁気バイアス構造体は、前記MTJに堆積された交換相互作用層で構成され、前記交換相互作用層は、反強磁性層、および、前記反強磁性層と弱く結合した強磁性層を備える、請求項1に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  9. 前記入力端子および前記出力端子は、両方共に、2つのワイヤボンディングパッドを少なくとも備え、各ワイヤボンディングパッドは、前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップの両端に位置している、請求項1に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  10. 複数の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップが前記ワイヤボンディングパッドを介して互いに電気接続されてセンサチップ結合体を形成し、前記センサチップ結合体の感知ゾーン面積は、前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップのうち1つのチップの感知ゾーン面積より大きい、請求項9に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  11. 前記ワイヤボンディングパッドは、長さが15μm〜2000μmであり、幅が15μm〜1000μmである、請求項9に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  12. 前記基板は、電気接続を実現する電気接続導体が上に設けられ、前記電気接続導体の幅は、10μm以上である、請求項1に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  13. 前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、長さが500μm〜3000μmであり、幅が20μm〜1500μmである、請求項1に記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップ。
  14. 請求項1〜13のいずれかに記載の単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップと、信号処理回路と、磁気励起素子と、出力ピンと、回路板と、を備え、
    前記磁気励起素子は、被測定空間内で前記チップの感知方向に外部磁場を生成するために、前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップより下に取り付けられ、磁気励起場を提供するため使用され、
    前記単一磁気抵抗器TMR磁場センサチップは、前記外部磁場を感知し、前記外部磁場を電気信号に変換し、
    前記信号処理回路は、前記回路板を通して前記出力ピンに転送される前記電気信号を変換する、磁気貨幣検出器ヘッド。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020520088A (ja) * 2017-05-04 2020-07-02 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司Multidimension Technology Co., Ltd. 単一チップ高感度磁気抵抗リニア・センサ

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN203551758U (zh) * 2013-07-26 2014-04-16 江苏多维科技有限公司 一种单磁阻tmr磁场传感器芯片及验钞机磁头
JP6202282B2 (ja) 2015-02-17 2017-09-27 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2016176911A (ja) * 2015-03-23 2016-10-06 Tdk株式会社 磁気センサ
US10809320B2 (en) 2015-04-29 2020-10-20 Everspin Technologies, Inc. Magnetic field sensor with increased SNR
JP2019087688A (ja) * 2017-11-09 2019-06-06 Tdk株式会社 磁気センサ
CN108229639B (zh) * 2017-12-11 2023-07-25 浙江维融电子科技股份有限公司 一种带有残币识别功能的点验钞机及其残币识别方法
JP6605570B2 (ja) * 2017-12-27 2019-11-13 Tdk株式会社 磁気センサ
US11131727B2 (en) * 2019-03-11 2021-09-28 Tdk Corporation Magnetic sensor device
US11372029B2 (en) * 2019-12-11 2022-06-28 Tdk Corporation Magnetic field detection apparatus and current detection apparatus
CN112014778B (zh) * 2020-08-24 2023-11-07 歌尔微电子有限公司 微机电系统磁阻传感器、传感器单体及电子设备
CN111915793B (zh) * 2020-09-01 2022-01-11 全南群英达电子有限公司 一种点钞机磁头的点触式加磁装置及其实施方法
CN114370888B (zh) * 2020-10-15 2023-09-19 江苏多维科技有限公司 一种磁编码器芯片
CN116338537B (zh) * 2023-04-14 2023-09-01 珠海多创科技有限公司 磁阻传感器及其制备方法、磁传感装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08279633A (ja) * 1995-04-07 1996-10-22 Hitachi Cable Ltd ホールセンサ
JPH08320362A (ja) * 1995-03-17 1996-12-03 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 積層型磁界検出装置
JP2005257440A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Hitachi Omron Terminal Solutions Corp 紙葉類識別装置
CN102621504A (zh) * 2011-04-21 2012-08-01 江苏多维科技有限公司 单片参考全桥磁场传感器

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6893734B2 (en) * 2000-12-22 2005-05-17 Alps Electric Co., Ltd. Magnetic sensing element with improved sensitivity and method for making the same
US7199984B2 (en) 2004-03-16 2007-04-03 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Current-perpendicular-to-plane magnetoresistive sensor with free layer stabilized by in-stack orthogonal magnetic coupling
CN100363752C (zh) 2004-09-03 2008-01-23 清华大学 水平式隧穿磁强计
JP2008135432A (ja) * 2006-11-27 2008-06-12 Tdk Corp トンネル磁気抵抗効果素子及びその製造方法
CN202433514U (zh) 2011-01-17 2012-09-12 江苏多维科技有限公司 独立封装的桥式磁场传感器
CN202210144U (zh) * 2011-04-21 2012-05-02 江苏多维科技有限公司 单片参考全桥磁场传感器
JP5867235B2 (ja) 2011-05-16 2016-02-24 三菱電機株式会社 磁気センサ装置
CN202494772U (zh) 2012-02-20 2012-10-17 江苏多维科技有限公司 用于测量磁场的磁电阻传感器
CN102722932A (zh) 2012-06-19 2012-10-10 兰州大学 一种验钞机磁头
CN203038357U (zh) 2012-10-31 2013-07-03 江苏多维科技有限公司 一种被磁偏置的敏感方向平行于检测面的验钞磁头
CN102968845B (zh) * 2012-10-31 2015-11-25 江苏多维科技有限公司 一种被磁偏置的敏感方向平行于检测面的验钞磁头
CN203551758U (zh) 2013-07-26 2014-04-16 江苏多维科技有限公司 一种单磁阻tmr磁场传感器芯片及验钞机磁头

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08320362A (ja) * 1995-03-17 1996-12-03 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 積層型磁界検出装置
JPH08279633A (ja) * 1995-04-07 1996-10-22 Hitachi Cable Ltd ホールセンサ
JP2005257440A (ja) * 2004-03-11 2005-09-22 Hitachi Omron Terminal Solutions Corp 紙葉類識別装置
CN102621504A (zh) * 2011-04-21 2012-08-01 江苏多维科技有限公司 单片参考全桥磁场传感器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020520088A (ja) * 2017-05-04 2020-07-02 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司Multidimension Technology Co., Ltd. 単一チップ高感度磁気抵抗リニア・センサ
JP7217975B2 (ja) 2017-05-04 2023-02-06 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司 単一チップ高感度磁気抵抗リニア・センサ

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