JP2016513242A - 機械加工軸線を決定するための方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
Description
測定装置の台座に基準加工物を収容するステップと、
測定装置で決定されたアンバランス基準軸線に対する、基準加工物の機械加工されない表面領域の複数の点の位置を、測定装置によって測定するステップと、
基準加工物の機械加工されない表面領域の複数の点の測定位置データをコンピュータのデータメモリに基準部分表面として記憶するステップと、
測定装置から基準加工物を取り外すステップと、
測定装置の台座に加工素材を収容するステップと、
加工素材の機械加工されない表面領域の複数の点の位置を、測定装置で測定するステップと、
加工素材の機械加工されない表面領域の複数の点の測定位置データを、コンピュータのデータメモリに素材部分表面として記憶するステップと、
アンバランス基準軸線に対する、素材部分表面と基準部分表面との間の偏差に起因するアンバランス作用を、記憶した位置データから計算するステップと、
アンバランス作用を、公称質量分布を有する仮定加工物の主慣性軸線の位置によって表すステップと、
主慣性軸線の位置にオフセットを加えることによって機械加工軸線を計算するステップと、
を含む。
12、14 ベアリングハウジング
20、22 保持固定具
26 モーター
32 スライド
36 検出装置
37 測定レンジ
40 コンピュータ
41 データメモリ
50 基準加工物
52 ベアリングジャーナル
53 クランクピン
54 クランクウェブ
56 ベアリング表面
Claims (19)
- 金属材料の除去によって機械加工される加工物領域と機械加工されない領域とを含み、公称質量分布が既知である回転加工素材の機械加工軸線を、加工物表面の点の空間位置を測定できる測定装置(10)で決定するための方法であって、
前記測定装置(10)の台座に基準加工物(50、60)を収容するステップと、
前記測定装置(10)で決定されたアンバランス基準軸線に対する、前記基準加工物(50、60)の機械加工されない表面領域の複数の点の位置を、前記測定装置(10)によって測定するステップと、
前記基準加工物(50、60)の機械加工されない表面領域の複数の点の測定位置データを、コンピュータ(40)のデータメモリ(41)に基準部分表面として記憶するステップと、
前記測定装置(10)から前記基準加工物(50、60)を取り外すステップと、
前記測定装置(10)の台座に加工素材を収容するステップと、
前記加工素材の機械加工されない表面領域の複数の点の位置を、前記測定装置(10)で測定するステップと、
前記加工素材の機械加工されない前記表面領域の複数の点の測定位置データを、前記コンピュータ(40)の前記データメモリ(41)に素材部分表面として記憶するステップと、
前記アンバランス基準軸線に対する、素材部分表面と基準部分表面との間の偏差に起因するアンバランス作用を、前記記憶した位置データから計算するステップと、
前記アンバランス作用を、公称質量分布を有する仮定加工物の主慣性軸線の位置によって表すステップと、
前記主慣性軸線の位置にオフセットを加えることによって前記機械加工軸線を計算するステップと、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記機械加工軸線の位置を、前記アンバランス基準軸線と直交するように整列された加工素材の端部平面を通る前記機械加工軸線の貫通点として計算される芯出し点の位置によって表す、請求項1に記載の方法。
- 前記オフセットを、前記方法によって決定された機械加工軸線で製造された複数の加工物の、前記機械加工された加工物の軸線に対して測定したアンバランスを参照して実験的に決定し、前記コンピュータに記憶する、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記基準部分表面の別個の基準点を選択し、前記素材部分表面と前記基準点との間の偏差に基づいて前記別個の基準点の各々に関する部分アンバランス作用を決定し、全ての基準点の前記部分アンバランス作用を加算することで、結果として得られるアンバランス作用を決定する、請求項1から3のいずれかに記載の方法。
- 前記別個の基準点の各々に関して、前記素材部分表面と前記基準点との間の仮定した小さい公称偏差を用いて公称部分アンバランス作用を決定し、前記基準点の影響係数として記憶し、前記基準点の影響係数に前記素材部分表面と前記基準点との間の前記測定した偏差を乗算することによって、前記別個の基準点の各々に関する真の部分アンバランス作用を決定する、請求項4に記載の方法。
- 前記別個の基準点の各々に関する前記公称部分アンバランス作用を、公称質量分布を有する仮定加工物の前記主慣性軸線の位置偏差として表す、請求項5に記載の方法。
- 前記基準加工物(50、60)を、初期アンバランスが非常に小さい加工素材を機械加工することによって製造する、請求項1から6のいずれかに記載の方法。
- 前記基準加工物(50、60)の機械加工されない前記加工物表面の形状は、製造ステップにより生ずる形状誤差の間の中間である、請求項1から7のいずれかに記載の方法。
- 前記基準加工物(50)のベアリング表面(56)の位置を前記測定装置(10)で測定することによって、前記測定装置(10)の前記アンバランス基準軸線を検出する、請求項1から8のいずれかに記載の方法。
- 金属材料の除去によって機械加工される加工物領域及び機械加工されない領域を含み、公称質量分布が既知の回転加工素材の機械加工軸線を決定するための装置であって、
基準加工物(50、60)と、
前記基準加工物(50、60)又は加工素材を収容するための台座を有し、前記基準加工物(50、60)及び前記加工素材の機械加工されない表面領域の複数の点の位置を測定するための検出装置を備え、該検出装置に配置されたアンバランス基準軸線を備えた測定装置(10)と、
前記機械加工されない表面領域の前記複数の点の測定位置データを、前記基準加工物(50、60)の基準部分表面及び前記加工素材の素材部分表面として記憶するためのデータメモリ(41)を有するコンピュータ(40)と、
を備え、
前記コンピュータ(40)は、前記記憶した位置データから、前記アンバランス基準軸線に対する、素材部分表面と基準部分表面との間の偏差に起因するアンバランス作用を計算するように構成されており、
前記アンバランス作用を、公称質量分布を有する仮定加工物の主慣性軸線の位置によって表し、
前記主慣性軸線の位置にオフセットを加えることによって前記機械加工軸線を計算する、
ようになっている装置。 - 前記コンピュータは、芯出し点を、前記アンバランス基準軸線と直交するように整列された加工素材の端部平面を通る前記機械加工軸線の貫通点として計算するように構成されている、請求項10に記載の装置。
- 前記測定装置(10)は、三次元形状を非接触で光学的に検出する検出装置(36)を含む、請求項10又は11に記載の装置。
- 前記台座は回転スピンドル上に配置され、前記測定装置(10)の前記検出装置は、前記スピンドルの回転軸線の方向に移動可能である、請求項10から12のいずれかに記載の装置。
- 前記スピンドルは、前記検出装置の検出レンジに位置する同軸的なリング表面を含む、請求項10から13のいずれかに記載の装置。
- 前記検出装置は、前記スピンドルの回転軸線に対して傾斜した軸線(35)の周りを枢動する、請求項10から14のいずれかに記載の装置。
- 前記検出装置は、前記アンバランス基準軸線と平行な案内レール(30)上を移動するように取り付けられたスライド(32)上に配置される、請求項10から15のいずれかに記載の装置。
- 前記検出装置は、前記スライド(32)上に取り付けられ、前記加工物を2つの対向する側からカバーするように配置された少なくとも2つの検出手段を含む、請求項16に記載の装置。
- 前記基準加工物(60)は、耐摩耗表面を備えたベアリング表面(64)を含む、請求項10から17のいずれかに記載の装置。
- 前記基準加工物(60)は、端面にアンバランス基準軸線を決定するための同心測定面(65)を含む、請求項10から18のいずれかに記載の装置。
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