JP2016502110A - 温度データまたは他の信号を処理するためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
[0097]上記のように、アナログ−デジタル変換器(ADC)232は、合成信号226aを合成デジタル信号232aに変換することができる。DSPは、分離回路、すなわち成分信号を合成信号232aから分離または隔離するように構成された回路として働くことができる。合成デジタル信号232aがDSP234によって受け取られた後で、DSP234は、合成信号に対して操作を実施し、成分信号を合成信号232aから分離または隔離することができる。図5A、図5B、および図5Bは、これらの操作の一例を提供する。
Claims (31)
- 温度を感知する方法であって、
ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するステップであって、前記磁界信号が磁界に応答するものである、ステップと、
温度信号を生成するステップと、
前記温度信号を、第1の変調信号をもたらす前記磁界信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数に変調するステップと、
合成信号を生成するように前記磁界信号を前記第1の変調信号と合成するステップと
を含む方法。 - 前記温度信号を表すデータを前記デジタル信号から抽出するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記データを抽出する前に前記合成信号をデジタル信号に変換するステップをさらに含む、請求項2に記載の方法。
- 前記抽出するステップが、
前記合成信号を変調し、前記温度信号を表す前記データをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすステップと、
フィルタを前記第2の変調信号に適用し、前記温度信号を表す前記データを前記第2の変調信号から分離するステップと
を含む、請求項2に記載の方法。 - 前記磁界信号が、目標物体の速度または位置を検出するための信号であり、前記周波数スペクトルの幅が、前記目標物体の前記速度によって規定される、請求項1に記載の方法。
- 前記目標物体が、歯を有するホイールであり、前記磁界信号上のピークが、磁界感知要素に対する歯の近接性を表す、請求項5に記載の方法。
- 前記温度信号を生成するステップが、PN接合を通過する電流を監視するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記PN接合が、ダイオードまたはBJTトランジスタの一部である、請求項7に記載の方法。
- 前記ダイオードまたはBJTトランジスタが、温度を測定するために特に設計されたものでない回路の一部である、請求項8に記載の方法。
- 前記温度信号を変調するステップが、前記磁界信号の最大周波数の約2倍である周波数で変調するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記磁界信号を前記第1の変調信号と合成するステップが、前記合成信号を生成するように前記磁界信号と前記第1の変調信号を合計するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記合成信号を前記デジタル信号に変換するステップが、前記合成信号を処理するために十分大きな帯域幅を備えるアナログ−デジタル変換器で前記デジタル信号を生成するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するように構成された回路であって、前記磁界信号が、装置の外部の磁界に応答するものである、回路と、
温度信号を生成するように構成された温度感知回路と、
前記温度信号を、第1の変調信号をもたらす前記磁界信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数に変調するように構成された第1の変調回路と、
合成信号を生成するように前記磁界信号を前記第1の変調温度信号と合成するように構成された合成回路と
を備える装置。 - 前記温度信号を表すデータを前記デジタル信号から分離し温度読取り値を生成するように構成された分離回路をさらに備える、請求項13に記載の装置。
- 前記分離回路が、
前記温度信号を表す前記データをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすように構成された第2の変調回路、および、
前記第2の変調信号を受け取るように結合され、前記温度信号を表す前記データを前記第2の変調信号から分離するように構成されたフィルタのうちの1つまたは複数を備える、請求項14に記載の装置。 - 前記磁界信号を生成するように構成された前記回路が、目標物体の速度または位置を検出するための回路であり、前記周波数スペクトルの幅が、前記目標物体の前記速度によって規定される、請求項13に記載の装置。
- 磁界感知要素をさらに備え、前記目標物体が、歯を有するホイールであり、前記ホイールの前記歯が前記磁界感知要素を通過したとき前記磁界信号上のピークが生成される、請求項16に記載の装置。
- 前記温度感知回路がPN接合を含む、請求項13に記載の装置。
- 前記PN接合が、ダイオードまたはBJTトランジスタの一部である、請求項18に記載の装置。
- 前記ダイオードまたはBJTトランジスタが、温度を測定するために特に設計されたものでない回路の一部である、請求項19に記載の装置。
- 前記温度感知回路が、前記温度信号を前記磁界信号の最大周波数の約2倍である周波数で変調するように構成される、請求項13に記載の装置。
- 前記合成回路が、前記合成信号を生成するように前記磁界信号と前記変調温度信号を合計するように構成された合計回路を備える、請求項13に記載の装置。
- 前記アナログ−デジタル変換器が、前記合成アナログ信号を処理するために十分大きな帯域幅を備える、請求項13に記載の装置。
- 磁界を生成するように構成されたバックバイアス磁石と、
ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するように構成された回路であって、前記磁界信号が周囲の磁界の強度を表す、回路と、
前記磁界信号を較正するために温度信号を生成するように構成された温度感知回路と、
前記温度信号を、第1の変調信号をもたらす前記磁界信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数に変調するように構成された第1の変調回路と、
合成信号を生成するように前記磁界信号を前記第1の変調温度信号と合成するように構成された合成回路と、
前記合成信号をデジタル処理回路に提供するように動作する出力と
を備える磁界センサ。 - 前記バックバイアス磁石が、成形磁石を含む、請求項24に記載の磁界センサ。
- 前記温度信号を表すデータを前記デジタル信号から分離し温度読取り値を生成するように構成された分離回路をさらに備える、請求項24に記載のセンサ。
- 前記分離回路が、
前記温度信号を表す前記データをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすように構成された第2の変調回路、および、
前記第2の変調信号を受け取るように結合され、前記温度信号を表す前記データを前記第2の変調信号から分離するように構成されたフィルタのうちの1つまたは複数を備える、請求項26に記載のセンサ。 - 前記磁界信号を生成するように構成された前記回路が、目標物体の速度または位置を検出するための回路であり、前記周波数スペクトルの幅が、前記目標物体の前記速度によって規定される、請求項26に記載のセンサ。
- 磁界感知要素をさらに備え、前記目標物体が、歯を有するホイールであり、前記ホイールの前記歯が前記磁界感知要素を通過したとき前記磁界信号上のピークが生成される、請求項28に記載の装置。
- 温度を感知する方法であって、
ある周波数スペクトルを有する第1の信号を生成するステップであって、前記第1の信号が磁界に応答するものである、ステップと、
第2の信号を生成するステップと、
前記第2の信号を、第1の変調信号をもたらす前記第1の信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数に変調するステップと、
合成信号を生成するように前記第1の信号を前記第1の変調信号と合成するステップと、
前記第2の信号を前記合成信号から抽出するステップと
を含む方法。 - 前記第2の信号が、温度信号、応力信号、磁界信号、測定信号、またはそれらの組合せである、請求項30に記載の方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200015503A (ko) * | 2017-05-26 | 2020-02-12 | 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 | 감도 검출을 구비하는 코일 구동 센서 |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9817078B2 (en) | 2012-05-10 | 2017-11-14 | Allegro Microsystems Llc | Methods and apparatus for magnetic sensor having integrated coil |
US9354123B2 (en) * | 2012-12-26 | 2016-05-31 | Allegro Microsystems, Llc | Systems and methods for processing temperature data or other signals |
US9664494B2 (en) | 2013-05-10 | 2017-05-30 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic field sensor with immunity to external magnetic influences |
US10145908B2 (en) | 2013-07-19 | 2018-12-04 | Allegro Microsystems, Llc | Method and apparatus for magnetic sensor producing a changing magnetic field |
US20160007101A1 (en) * | 2014-07-01 | 2016-01-07 | Infineon Technologies Ag | Sensor Device |
DE102015109009A1 (de) * | 2015-06-08 | 2016-12-08 | Infineon Technologies Ag | Stromsensorchip mit Magnetfeldsensor |
FR3038053B1 (fr) * | 2015-06-26 | 2019-04-05 | Continental Automotive France | Dispositif de mesure de temperature |
US11402440B2 (en) | 2015-07-17 | 2022-08-02 | Allegro Microsystems, Llc | Methods and apparatus for trimming a magnetic field sensor |
US10481220B2 (en) * | 2016-02-01 | 2019-11-19 | Allegro Microsystems, Llc | Circular vertical hall (CVH) sensing element with signal processing and arctangent function |
US9910087B2 (en) | 2016-03-14 | 2018-03-06 | Allegro Microsystems, Llc | Integrated circuit and method for detecting a stress condition in the integrated circuit |
US10161908B2 (en) * | 2016-03-24 | 2018-12-25 | Infineon Technologies Ag | Apparatus for determining a characteristic of a fluid having a device configured to measure a hydrodynamic pressure of the fluid |
US10641842B2 (en) | 2017-05-26 | 2020-05-05 | Allegro Microsystems, Llc | Targets for coil actuated position sensors |
US10310028B2 (en) | 2017-05-26 | 2019-06-04 | Allegro Microsystems, Llc | Coil actuated pressure sensor |
US10996289B2 (en) | 2017-05-26 | 2021-05-04 | Allegro Microsystems, Llc | Coil actuated position sensor with reflected magnetic field |
US10837943B2 (en) | 2017-05-26 | 2020-11-17 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic field sensor with error calculation |
US10324141B2 (en) | 2017-05-26 | 2019-06-18 | Allegro Microsystems, Llc | Packages for coil actuated position sensors |
US10866289B2 (en) * | 2018-03-27 | 2020-12-15 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic field sensor and associated methods including differential chopping |
US11002806B2 (en) * | 2018-03-29 | 2021-05-11 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Magnetic field detection device |
US11061084B2 (en) | 2019-03-07 | 2021-07-13 | Allegro Microsystems, Llc | Coil actuated pressure sensor and deflectable substrate |
US10955306B2 (en) | 2019-04-22 | 2021-03-23 | Allegro Microsystems, Llc | Coil actuated pressure sensor and deformable substrate |
US11262422B2 (en) | 2020-05-08 | 2022-03-01 | Allegro Microsystems, Llc | Stray-field-immune coil-activated position sensor |
US11163019B1 (en) | 2020-08-05 | 2021-11-02 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic field sensors having stray field rejection |
US11493361B2 (en) | 2021-02-26 | 2022-11-08 | Allegro Microsystems, Llc | Stray field immune coil-activated sensor |
US11578997B1 (en) | 2021-08-24 | 2023-02-14 | Allegro Microsystems, Llc | Angle sensor using eddy currents |
KR102438314B1 (ko) * | 2022-02-04 | 2022-09-01 | 동광전자 주식회사 | 건물에 설치된 스피커 라인을 활용하는 화재발생감지시스템 |
CN115173009B (zh) * | 2022-07-15 | 2024-03-22 | 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所) | 一种旋磁滤波器组件温度补偿方法 |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61144520A (ja) * | 1984-12-18 | 1986-07-02 | Nec Corp | 多地点温度の遠隔観測装置 |
JPH03289220A (ja) * | 1990-04-04 | 1991-12-19 | Alpine Electron Inc | ラジオ受信機 |
JPH07277103A (ja) * | 1994-04-12 | 1995-10-24 | Toyota Motor Corp | 車両用信号送信装置 |
JPH08128854A (ja) * | 1994-11-01 | 1996-05-21 | Fujitsu Ten Ltd | 車輪速計測装置 |
JPH08248107A (ja) * | 1995-03-08 | 1996-09-27 | Oki Electric Ind Co Ltd | 干渉型光ファイバセンサ |
JPH09229778A (ja) * | 1996-02-26 | 1997-09-05 | Hitachi Ltd | Ic化温度センサ |
JP2001133329A (ja) * | 1999-11-05 | 2001-05-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光ファイバセンサ |
JP2002150460A (ja) * | 2000-11-14 | 2002-05-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 多重化装置、多重化方法、制御状態計測システム、及び制御状態計測方法 |
JP2003137081A (ja) * | 2001-11-01 | 2003-05-14 | Hitachi Ltd | ブレーキ装置 |
US20050258821A1 (en) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Wang Shan X | Magnetic sensor array having an analog frequency-division multiplexed output |
JP2009124700A (ja) * | 2007-10-24 | 2009-06-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光直交周波数分割多重伝送用回路 |
JP2010213364A (ja) * | 2010-07-02 | 2010-09-24 | Kyocera Corp | 受信装置、受信信号処理方法及び通信システム |
WO2011011479A1 (en) * | 2009-07-22 | 2011-01-27 | Allegro Microsystems, Inc. | Circuits and methods for generating a diagnostic mode of operation in a magnetic field sensor |
US20110158331A1 (en) * | 2009-12-31 | 2011-06-30 | Sensys Networks. Inc | Emulating Increased Sample Frequency in a Wireless Sensor Node and/or a Wireless Sensor Network |
JP2011169712A (ja) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Panasonic Corp | 回転数センサ |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1268212A (en) * | 1986-12-29 | 1990-04-24 | Martin Lord | Method and apparatus for measuring magnetic losses in ferromagnetic materials |
US5963028A (en) | 1997-08-19 | 1999-10-05 | Allegro Microsystems, Inc. | Package for a magnetic field sensing device |
US6278269B1 (en) | 1999-03-08 | 2001-08-21 | Allegro Microsystems, Inc. | Magnet structure |
US6270463B1 (en) * | 1999-11-23 | 2001-08-07 | Medrad, Inc. | System and method for measuring temperature in a strong electromagnetic field |
US7281846B2 (en) | 2004-08-23 | 2007-10-16 | Standard Microsystems Corporation | Integrated resistance cancellation in temperature measurement systems |
EP1637898A1 (en) | 2004-09-16 | 2006-03-22 | Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. | Continuously calibrated magnetic field sensor |
US8350563B2 (en) | 2010-10-12 | 2013-01-08 | Allegro Microsystems, Inc. | Magnetic field sensor and method used in a magnetic field sensor that adjusts a sensitivity and/or an offset over temperature |
EP2485012B1 (de) | 2011-02-04 | 2015-05-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Messverfahren |
US9354123B2 (en) * | 2012-12-26 | 2016-05-31 | Allegro Microsystems, Llc | Systems and methods for processing temperature data or other signals |
-
2012
- 2012-12-26 US US13/727,114 patent/US9354123B2/en active Active
-
2013
- 2013-11-21 WO PCT/US2013/071183 patent/WO2014105302A1/en active Application Filing
- 2013-11-21 JP JP2015550391A patent/JP6368320B2/ja active Active
- 2013-11-21 EP EP13811281.8A patent/EP2936180B1/en active Active
- 2013-11-21 KR KR1020157020163A patent/KR101991290B1/ko active IP Right Grant
-
2016
- 2016-04-26 US US15/138,559 patent/US9442170B2/en active Active
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61144520A (ja) * | 1984-12-18 | 1986-07-02 | Nec Corp | 多地点温度の遠隔観測装置 |
JPH03289220A (ja) * | 1990-04-04 | 1991-12-19 | Alpine Electron Inc | ラジオ受信機 |
JPH07277103A (ja) * | 1994-04-12 | 1995-10-24 | Toyota Motor Corp | 車両用信号送信装置 |
JPH08128854A (ja) * | 1994-11-01 | 1996-05-21 | Fujitsu Ten Ltd | 車輪速計測装置 |
JPH08248107A (ja) * | 1995-03-08 | 1996-09-27 | Oki Electric Ind Co Ltd | 干渉型光ファイバセンサ |
JPH09229778A (ja) * | 1996-02-26 | 1997-09-05 | Hitachi Ltd | Ic化温度センサ |
JP2001133329A (ja) * | 1999-11-05 | 2001-05-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光ファイバセンサ |
JP2002150460A (ja) * | 2000-11-14 | 2002-05-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 多重化装置、多重化方法、制御状態計測システム、及び制御状態計測方法 |
JP2003137081A (ja) * | 2001-11-01 | 2003-05-14 | Hitachi Ltd | ブレーキ装置 |
US20050258821A1 (en) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Wang Shan X | Magnetic sensor array having an analog frequency-division multiplexed output |
JP2009124700A (ja) * | 2007-10-24 | 2009-06-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光直交周波数分割多重伝送用回路 |
WO2011011479A1 (en) * | 2009-07-22 | 2011-01-27 | Allegro Microsystems, Inc. | Circuits and methods for generating a diagnostic mode of operation in a magnetic field sensor |
US20110158331A1 (en) * | 2009-12-31 | 2011-06-30 | Sensys Networks. Inc | Emulating Increased Sample Frequency in a Wireless Sensor Node and/or a Wireless Sensor Network |
JP2011169712A (ja) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Panasonic Corp | 回転数センサ |
JP2010213364A (ja) * | 2010-07-02 | 2010-09-24 | Kyocera Corp | 受信装置、受信信号処理方法及び通信システム |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200015503A (ko) * | 2017-05-26 | 2020-02-12 | 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 | 감도 검출을 구비하는 코일 구동 센서 |
JP2020521964A (ja) * | 2017-05-26 | 2020-07-27 | アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー | 感度検出によるコイル作動型センサ |
JP7194699B2 (ja) | 2017-05-26 | 2022-12-22 | アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー | 感度検出によるコイル作動型センサ |
KR102595370B1 (ko) | 2017-05-26 | 2023-10-27 | 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 | 감도 검출을 구비하는 코일 구동 센서 |
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