JP2016502110A - 温度データまたは他の信号を処理するためのシステムおよび方法 - Google Patents

温度データまたは他の信号を処理するためのシステムおよび方法 Download PDF

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Abstract

一実施形態では、回路が、周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するように構成される。この回路は、温度信号をも生成する。変調回路が、温度信号を磁界信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数で変調することができる。変調信号と磁界信号が合成され、合成信号を生成する。分離回路が、成分信号を合成信号から分離するように構成され得る。分離回路は、合成信号に適用されたときフィルタリングされた信号を生成する第1のフィルタと、温度信号を表すデータをベースバンド周波数にシフトするように構成された変調回路と、温度信号を表すデータを合成信号から分離するように構成された第2のフィルタとを含むことができる。

Description

[0001]本明細書に開示されている主題は、一般に集積回路に関し、より詳細には、温度信号を処理するための技法および回路に関する。
[0002]集積回路(IC)の動作は、しばしば温度による影響を受ける。集積回路、特にアナログ回路は、高温および低温にかけられたとき異なるように機能することがある。たとえば、自動車内に設置された磁界センサ(magnetic field sensor)は、車が最初に厳冬の日に始動されたとき、およびモータやトランスミッション(transmission)がICを加熱するほど自動車が十分長く走行したとき、異なるように動作することがある。
[0003]多くのICは、温度を測定することができる温度センサを組み込む。この温度測定を使用し、IC回路を調整することも、ICによって生成される信号内の温度によって引き起こされる影響を補償することもできる。しかし、温度を測定するための回路をIC内に組み込むことは、追加のアナログ構成要素およびデジタル構成要素をIC内に設計することを必要とする可能性がある。これは不都合かつコストがかかる可能性があり、ICのダイ上の空間を消費する可能性がある。
本発明はこのような課題を解決するものである。
[0004]一態様では、温度を感知する方法が、ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するステップであって、磁界信号が磁界に応答するものである、ステップを含む。この方法は、温度信号を生成するステップをも含む。この方法は、温度信号を、第1の変調信号をもたらす磁界信号の周波数スペクトルの外側の周波数に変調するステップをも含む。この方法は、合成信号を生成するように磁界信号を第1の変調信号と合成する(combine)ステップをも含む。
[0005]いくつかの実施形態では、上記の方法は、以下の態様の1つまたは複数を任意の組合せで含むことができる。
[0006]いくつかの実施形態では、上記の方法は、温度信号を表すデータをデジタル信号から抽出するステップをさらに含む。
[0007]いくつかの実施形態では、上記の方法は、データを抽出する前に合成信号をデジタル信号に変換するステップをさらに含む。
[0008]上記の方法のいくつかの実施形態では、抽出するステップが、合成信号を変調し、温度信号を表すデータをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすステップと、フィルタを第2の変調信号に適用し、温度信号を表すデータを第2の変調信号から分離するステップとを含む。
[0009]上記の方法のいくつかの実施形態では、磁界信号が、目標物体(target object)の速度または位置を検出するための信号であり、周波数スペクトルの幅が、目標物体の速度によって規定される。
[0010]上記の方法のいくつかの実施形態では、目標物体が、歯を有するホイールであり、磁界信号上のピークが、磁界感知要素に対する歯の近接性を表す。
[0011]上記の方法のいくつかの実施形態では、温度信号を生成するステップが、PN接合を通過する電流を監視するステップを含む。
[0012]上記の方法のいくつかの実施形態では、PN接合が、ダイオードまたはBJTトランジスタの一部である。
[0013]上記の方法のいくつかの実施形態では、ダイオードまたはBJTトランジスタが、温度を測定するために特に設計されたものでない回路の一部である。
[0014]上記の方法のいくつかの実施形態では、温度信号を変調するステップが、磁界信号の最大周波数の約2倍である周波数で変調するステップを含む。
[0015]上記の方法のいくつかの実施形態では、磁界信号を第1の変調信号と合成するステップが、合成信号を生成するように磁界信号と第1の変調信号を合計するステップを含む。
[0016]上記の方法のいくつかの実施形態では、合成信号をデジタル信号に変換するステップが、合成信号を処理するために十分大きな帯域幅を備えるアナログ−デジタル変換器でデジタル信号を生成するステップを含む。
[0017]他の態様では、装置が、ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するように構成された回路であって、磁界信号が、装置の外部の磁界に応答するものである、回路を含む。この装置は、温度信号を生成するように構成された温度感知回路をも含む。この装置は、温度信号を、第1の変調信号をもたらす磁界信号の周波数スペクトルの外側の周波数に変調するように構成された第1の変調回路をも含む。この装置は、合成信号を生成するように磁界信号を第1の変調温度信号と合成するように構成された合成回路をも含む。
[0018]いくつかの実施形態では、上記の装置は、以下の態様の1つまたは複数を任意の組合せで含むことができる。
[0019]いくつかの実施形態では、上記の装置は、温度信号を表すデータをデジタル信号から分離し温度読取り値を生成するように構成された分離回路をさらに含む。
[0020]上記の装置のいくつかの実施形態では、分離回路が、温度信号を表すデータをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすように構成された第2の変調回路、および、第2の変調信号を受け取るように結合され、温度信号を表すデータを第2の変調信号から分離するように構成されたフィルタのうちの1つまたは複数を備える。
[0021]上記の装置のいくつかの実施形態では、磁界信号を生成するように構成された回路が、目標物体の速度または位置を検出するための回路であり、周波数スペクトルの幅が、目標物体の速度によって規定される。
[0022]いくつかの実施形態では、上記の装置が磁界感知要素をさらに備え、目標物体が、歯を有するホイールであり、ホイールの歯が磁界感知要素を通過したとき磁界信号上のピークが生成される。
[0023]上記の装置のいくつかの実施形態では、温度感知回路がPN接合を含む。
[0024]上記の装置のいくつかの実施形態では、PN接合が、ダイオードまたはBJTトランジスタの一部である。
[0025]上記の装置のいくつかの実施形態では、ダイオードまたはBJTトランジスタが、温度を測定するために特に設計されたものでない回路の一部である。
[0026]上記の装置のいくつかの実施形態では、温度感知回路が、温度信号を磁界信号の最大周波数の約2倍である周波数で変調するように構成される。
[0027]上記の装置のいくつかの実施形態では、合成回路が、合成信号を生成するように磁界信号と変調温度信号を合計するように構成された合計回路を備える。
[0028]上記の装置のいくつかの実施形態では、アナログ−デジタル変換器が、合成アナログ信号を処理するために十分大きな帯域幅を備える。
[0029]他の態様では、磁界センサが、磁界を生成するように構成されたバックバイアス磁石を含む。磁界センサは、ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するように構成された回路であって、磁界信号が周囲の磁界の強度を表す、回路をも含む。磁界センサは、磁界信号を較正するために温度信号を生成するように構成された温度感知回路をも含む。磁界センサは、温度信号を、第1の変調信号をもたらす磁界信号の周波数スペクトルの外側の周波数に変調するように構成された第1の変調回路をも含む。磁界センサは、合成信号を生成するように磁界信号を第1の変調温度信号と合成するように構成された合成回路をも含む。磁界センサは、合成信号をデジタル処理回路に提供するように動作する出力をも含む。
[0030]いくつかの実施形態では、上記の磁界センサは、以下の態様の1つまたは複数を任意の組合せで含むことができる。
[0031]上記の磁界センサのいくつかの実施形態では、バックバイアス磁石が、成形磁石を含む。
[0032]いくつかの実施形態では、上記の磁界センサは、温度信号を表すデータをデジタル信号から分離し温度読取り値を生成するように構成された分離回路をさらに含む。
[0033]上記の磁界センサのいくつかの実施形態では、分離回路が、温度信号を表すデータをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすように構成された第2の変調回路、および、第2の変調信号を受け取るように結合され、温度信号を表すデータを第2の変調信号から分離するように構成されたフィルタのうちの1つまたは複数を備える。
[0034]上記の磁界センサのいくつかの実施形態では、磁界信号を生成するように構成された回路が、目標物体の速度または位置を検出するための回路であり、周波数スペクトルの幅が、目標物体の速度によって規定される。
[0035]いくつかの実施形態では、上記の磁界センサは、磁界感知要素をさらに備え、目標物体が、歯を有するホイールであり、ホイールの歯が磁界感知要素を通過したとき磁界信号上のピークが生成される。
[0036]他の態様では、温度を感知する方法が、ある周波数スペクトルを有する第1の信号を生成するステップであって、第1の信号が磁界に応答するものである、ステップを含む。この方法は、第2の信号を生成するステップをも含む。この方法は、第2の信号を、第1の変調信号をもたらす第1の信号の周波数スペクトルの外側の周波数に変調するステップをも含む。この方法は、合成信号を生成するように第1の信号を第1の変調信号と合成するステップをも含む。この方法は、第2の信号を合成信号から抽出するステップをも含む。
[0037]上記の方法のいくつかの実施形態では、第2の信号が、温度信号、応力信号、磁界信号、測定信号、またはそれらの組合せである。
[0038]前述の特徴は、図面の以下の説明からより十分に理解され得る。
[0039]従来技術の従来の出力ドライバ回路を示すブロック図である。 [0040]信号を合成および抽出するための電子回路のブロック図である。 [0041]図3Aは、合成信号の周波数スペクトルのグラフである。[0042]図3Bは、合成信号の周波数スペクトルのグラフである。 [0043]電子回路および周波数スペクトルの図である。 [0044]図5Aは、合成信号に対して実施される操作を示す合成信号の周波数スペクトルの図である。 図5Bは、合成信号に対して実施される操作を示す合成信号の周波数スペクトルの図である。 図5Cは、合成信号に対して実施される操作を示す合成信号の周波数スペクトルの図である。 [0045]合成信号に対して実施される操作を示す一連のグラフである。 [0046]信号を合成から抽出するためのプロセスの流れ図である。 [0047]集積回路パッケージの図である。
[0048]特段示されていない限り、図面内の同様の符号は同様の要素を表すことができる。
[0049]本明細書では、「磁界感知要素」という用語は、磁界を感知することができる様々な電子要素について述べるために使用される。磁界感知要素は、それだけには限らないが、ホール効果要素、磁気抵抗要素、または磁気トランジスタとすることができる。知られているように、異なるタイプのホール効果要素、たとえば、プレーナホール要素、垂直ホール要素、および円形垂直ホール(Circular Vertical Hall/CVH)要素がある。知られているように、異なるタイプの磁気抵抗要素、たとえば、アンチモン化インジウム(InSb)、巨大磁気抵抗(GMR)要素、異方性磁気抵抗要素(AMR)、トンネル磁気抵抗(tunneling magnetoresistance/TMR)要素、および磁気トンネル接合(MTJ)など半導体磁気抵抗要素がある。磁界感知要素は、単一の要素であっても、あるいは様々な構成、たとえばハーフブリッジまたはフル(ホイートストン)ブリッジで配置された2つ以上の磁界感知要素を含んでもよい。デバイスタイプおよび他の応用要件に応じて、磁界感知要素は、ケイ素(Si)もしくはゲルマニウム(Ge)などIV族半導体材料、またはガリウムヒ素(GaAs)もしくはインジウム化合物、たとえばアンチモン化インジウム(InSb)のようなIII−V族半導体製のデバイスであってよい。
[0050]知られているように、上述の磁界感知要素には、磁界感知要素を支持する基板に対して平行な最大感度軸を有する傾向があるものがあり、上述の磁界感知要素には、磁界感知要素を支持する基板に対して直交する最大感度軸を有する傾向があるものもある。具体的には、プレーナホール要素は、基板に対して直交する感度軸を有する傾向があり、一方、金属ベースの、または金属性の磁気抵抗要素(たとえば、GMR、TMR、AMR)と垂直ホール要素は、基板に対して平行な感度軸を有する傾向がある。
[0051]本明細書では、「磁界センサ」という用語は、磁界感知要素を、概して他の回路との組合せで使用する回路について述べるために使用される。磁界センサは、それだけには限らないが、磁界の方向の角度を感知する角度センサ、電流担持導体によって搬送される電流によって生成される磁界を感知する電流センサ、強磁性物体の近接性を感知する磁気スイッチ、通過する強磁性物品、たとえば輪形磁石の磁気領域を感知する回転検出器、および磁界の磁界密度を感知する磁界センサを含めて、様々な応用例で使用される。
[0052]磁界センサは、しばしば磁界センサの出力信号を駆動することができるドライバ回路を含む。これらのドライバ回路は、しばしば、磁界センサが磁気目標物を感知したとき高信号レベルと低信号レベルの間で交番するデジタル出力信号またはアナログ出力信号を生成する。場合によっては、磁界センサが設置される場所に応じて、ドライバ回路は、長いワイヤまたはケーブルハーネスにわたって出力信号を駆動しなければならないことがある。たとえば、磁界センサが車両のトランスミッション内(たとえば、カムシャフト上)に設置される場合、磁界センサから中央プロセッサに延びるワイヤハーネスは、長さが数フィートまたは数メートルになることがある。
[0053]図1は、従来技術の電子回路10のブロック図である。電子回路10は、信号12aを生成する信号回路12を含むことができる。信号12aは、増幅器14によって受け取られ、増幅器14は、増幅信号14aを生成することができる。増幅信号14aはアナログ−デジタル変換器(ADC)16によって受け取られ、ADC16は、デジタル信号16aを生成することができる。デジタル信号プロセッサ18が、後続の処理のためにデジタル信号16aを受け取る。
[0054]また、電子回路10は、温度信号20aを生成する温度回路20を含むことができる。温度信号20aは、温度回路20によって作られる温度読取り値を表すことができる。増幅器22が温度信号20aを受け取り、増幅温度信号22aを生成することができる。ADC24が、増幅温度信号22aを受け取り、それをデジタル温度信号24aに変換するように結合されてもよい。デジタル温度信号24aは、後続の処理のためにDSP18によって受け取られ得る。
[0055]図のように、電子回路10は、信号経路26および温度信号経路28を含み、それぞれが冗長ハードウェアを有する。たとえば、各信号経路26、28は、増幅器およびADCを含む。動作時には、信号経路26内に含まれるハードウェアは、最終的に、DSP18によって受け取られるデジタル信号16aを生成し、温度信号経路28内に含まれるハードウェアは、やはりDSP18によって受け取られるデジタル温度信号24aを生成する。デジタル温度信号24aは、電子回路10によって、較正、冷却もしくは加熱アルゴリズム、または任意の他の目的に使用され得る。
[0056]図示されていないが、電子回路は、信号経路26または温度信号経路28と同様の他の信号経路をも含むことができる。これらの他の信号経路は、増幅器またはADC回路をも含むことができ、DSP18によって受け取ることができるデジタル信号を生成することもできる。
[0057]図2は、信号を処理するための電子回路200のブロック図である。電子回路200は、集積回路(IC)201の一部として含まれてもよい。IC201は、一実施形態では、外部磁界を検出するための磁界センサであってもよい。そのようなIC201は、たとえばカムシャフトまたは車両のトランスミッションの別の部分の速度、方向、および位置を検出するために車両内に設置されることがある。
[0058]当技術分野で知られているように、車両内に設置される回路は、大きな温度変動を受けることがある。寒い気候は、電子回路を氷点下温度に冷却することがあり、車両のエンジンおよびトランスミッションの動作は、電子回路を121℃(華氏250度)より高い温度に加熱することが可能である。そのような幅広い温度変動は、電子回路200の動作に影響を及ぼす可能性がある。たとえば、IC201が、温度依存性を有する回路を含む磁界センサである場合、その回路は、低温環境では、高温環境の場合とは異なるように機能することがある。たとえば、IC201がホール効果感知要素またはGMR感知要素などの構成要素を含む場合、温度のそのような大きな変動は、これらの構成要素の出力に影響を及ぼすおそれがあり、これは、磁界検出の正確さに影響を及ぼす可能性がある。
[0059]そのような温度の作用を補償するために、電子回路200は、温度を測定するための回路を含むことができる。それらの温度測定値を使用し、電子回路200を較正すること、または電子回路によって生成される信号における温度の作用を補償することができる。電子回路200は、湿度、場所、応力、およびひずみなど、信号を測定するための他の回路を含んでもよい。
[0060]電子回路200は、ベースバンド信号202aを生成する磁界感知回路202を含むことができる。一実施形態では、磁界感知回路202は、磁界感知要素(図示せず)を含むことができ、ベースバンド信号202aは、磁界感知要素によって感知される磁気目標物の存在を表すことができる。上述のように、磁気目標物は、ギヤまたは歯車の歯など、磁気要素であってよい。
[0061]ベースバンド信号202aは、磁界感知回路202の設計に基づいて、アナログ信号(ACまたはDC)であっても、切替り信号(switched signal)(たとえば、バイナリ信号であってもよい。アナログ信号は、感知された磁界の強度に対応する振幅を有することができ、切替り信号は、磁気目標物が磁界感知回路202によって感知されたとき論理高レベルと論理低レベルの間で遷移することができる。また、ベースバンド信号202aは、磁気目標物の周波数、たとえば回転する目標物の回転速度に基づいてある周波数を有することができる。したがって、磁界感知回路202によって生成されるベースバンド信号202aは、感知される磁気目標物に応答する周波数スペクトルを有することができる。
[0062]磁界感知回路202は、磁界感知要素(図示せず)を含む。磁界感知回路202がホール効果要素を含む実施形態の場合、磁界感知回路202は、チョッピング回路(図示せず)をも含むことができる。チョッピングは、ホール効果要素が複数のいわゆる位相で駆動される、知られている技法である。各位相において、駆動電圧または駆動電流がホール効果要素の特定のノードに結合され、このノード結合が各位相で変化する。各位相において、ホール効果要素の他の特定のノードから出力信号が受け取られ、このノード結合もまた各位相で変化する。
[0063]チョッピングは、たとえば2010年7月10日に出願された「Magnetic Field Sensor with Improved Differentiation Between a Sensed Magnetic Field and a Noise Signal(感知された磁界とノイズ信号との弁別が改善された磁界センサ)という名称の米国特許出願第12/845,115号に記載されており、この出願は、本発明の譲受人に譲渡されており、参照によりその全体を本明細書に組み込む。
[0064]チョッピングは、ほとんどの場合、ホール効果要素信号、たとえばベースバンド信号202aからDCオフセット信号を除去するために使用される。本明細書ではオフセット変調とも呼ばれるチョッピングの1つの形態では、感知された磁界を表すホール効果要素によって生成される信号の一部がベースバンドにあるままであり、オフセット信号部分が、チョッピング周波数に従ってより高い周波数にシフトされる。本明細書では信号変調とも呼ばれるチョッピングの別の形態では、ホール効果要素によって生成される信号のオフセット信号部がベースバンドにあるままであり、感知された磁界を表す信号部分が、チョッピング周波数に従ってより高い周波数にシフトされる。
[0065]チョッピングは、提供されるとき、オフセット変調チョッピングであり、感知された磁界を表す信号は、ベースバンドにあるままであると仮定することができる。しかし、本明細書に記載の回路を信号変調チョッピングと共に使用されるようにいかに修正することができるか理解されたい。
[0066]磁界感知要素がホール効果要素でない、たとえば磁気抵抗要素である実施形態の場合、チョッピング回路は、磁界感知回路から省くことができる。
[0067]電子回路200は、ベースバンド信号202aを受け取り、それを増幅し、増幅信号206aを生成する増幅器206をも含むことができる。
[0068]磁界感知回路202、チョッピング回路(図示せず)、および増幅器206は、磁界感知信号経路208を含むことができる。一実施形態では、磁界感知信号経路208は、磁界を感知し、増幅信号206aを出力として生成する。代替の実施形態では、チョッピング回路204および増幅器206は、磁界感知信号経路208が感知された磁界を表す出力を生成することができる限り、任意選択で磁界感知信号経路208から省かれてもよい。
[0069]電子回路200は、温度信号経路210、および信号経路212など、1つまたは複数の追加の信号経路をも含むことができる。温度感知信号経路210は、温度信号214aを生成する温度感知回路214を含むことができる。温度信号回路214は、感温ダイオードまたはトランジスタ、PN接合、BJTトランジスタの接合、デジタル温度計など、温度を測定するための回路を含むことができる。温度信号214aは、温度信号回路214によってとられた温度測定値を表すアナログ信号またはデジタル信号であってよい。
[0070]一実施形態では、温度信号回路214は、温度を測定するために特に設計されたものでない回路の一部であってもよい。たとえば、IC201が、PN接合(たとえば、ダイオードまたはBJTトランジスタ内の接合)を有する増幅器回路(または任意の他のタイプの回路)を含むと仮定してみる。電子回路200は、PN接合を通る電流を駆動および測定するための他の回路を含むことができ、一方、増幅器は、温度を測定するために動作しない。これは、温度を測定するだけの専用の追加の回路に対する必要を低減することができる。
[0071]温度信号経路210は、温度信号214aを受け取り、変調温度信号216aを生成する変調器回路216をも含むことができる。変調器回路216は、温度信号214aを変調することができ、これは、温度信号214aの周波数を、別の周波数、たとえば下記で論じられているように周波数f2で変調する、すなわちシフトすることができる。
[0072]温度信号経路210は、変調温度信号216aを受け取り、増幅温度信号218aを生成するように結合された増幅器218をも含むことができる。一実施形態では、設計要件に応じて、増幅器218は、温度信号回路214と変調器216の間に結合されても、温度信号経路210から省かれてもよい。
[0073]電子回路200は、信号経路212など他の信号経路をも含むことができる。信号経路212は、信号220aを生成する信号回路220を含むことができる。信号経路212は、信号220aを受け取るように結合された変調回路222をも含むことができる。変調回路222は、信号220aの周波数を、下記で論じられているように異なる周波数に変調する、すなわちシフトすることができる。
[0074]信号経路212は、変調磁界信号222aを変調回路222から受け取るように結合された増幅器224をも含むことができる。増幅器224は、変調磁界信号222aを増幅し、増幅磁界信号224aを生成することができる。一実施形態では、設計要件に応じて、増幅器224は、信号回路220と変調器222の間に結合されても、信号経路212から省かれてもよい。
[0075]一実施形態では、信号回路220は、やはり磁界を検出し、磁界のパラメータを表す信号を生成するように構成された第2の磁気センサ回路であってもよい。たとえば、IC201が磁気センサICである場合、磁界感知回路202は、第1の方向で磁界を検出することができ、信号回路220は、第2の直交方向で磁界を検出することができる。直交磁界を検出することにより、IC220は、磁界を2つ以上の次元で測定することが可能となり得る。
[0076]省略記号227によって示されているように、電子回路200は、追加の信号経路を含むことができる。そのような信号経路は、IC201の基板の一部に対する応力またはひずみを測定し、湿度を測定し、油圧を測定し、トランスミッションエラー条件を測定し、または所望の周波数で変調することができる任意の他のタイプの信号を生成するように構成されてもよい。一実施形態では、追加の信号経路のそれぞれが、測定された信号を、所望の、または所定の周波数に変調してもよい。
[0077]実施形態では、ベースバンド信号202aは、複数の周波数帯で情報を含むことができる。そのような場合、変調器216、212は、ベースバンド信号202aの周波数帯に入る周波数で信号214aおよび信号22aをそれぞれ変調することができる。
[0078]電子回路200は、1つまたは複数の加算器回路226、228、230をも含む。加算器回路226、228、230は、出力信号を信号経路208、210、212から受け取り、それらを合成信号226aに合成するように構成される。加算器回路226、228、230は、電圧加算器、電流加算器、または信号を共に合成し合成信号を生み出すことができる任意の他のタイプの回路であってよい。電子回路200は、省略記号226によって示されているように、追加の信号経路のための追加の加算器回路を含んでもよい。
[0079]図2に示されているように、加算器回路226、228、230は、アナログ信号を加算または合成し合成アナログ信号226aを生成するアナログ回路であってもよい。他の実施形態では、信号経路208、210、212は、デジタル出力信号を生成することができ、加算器回路は、信号経路208、210、212からのデジタル出力信号を含むデジタル出力信号226aを生成するデジタル加算器回路であってよい。
[0080]一実施形態では、一連の加算器回路226、228、230の代わりに、電子回路は、信号経路からの出力すべてに対処するために十分な数の入力を有する単一の加算器回路を含んでもよい。そのような実施形態では、信号加算器回路は、電子回路200内の信号経路の出力信号の合計または合成したものを含む合成信号226aを依然として生成することができる。
[0081]一実施形態では、電子回路200は、合成信号226aを受け取り、それをデジタル信号プロセッサ234による後続の処理のためにデジタル信号232aに変換するADC232をも含むことができる。他の実施形態では、合成信号226aがデジタル信号である場合、ADC232は省くことができる。
[0082]デジタル信号232aは、デジタル信号プロセッサ(DSP)234によって受け取られ得る。DSP234は、図のように外部DSPであってもよい。たとえば、IC201が車両内に設置された磁界センサである場合、DSP234は、車両の中央プロセッサの一部として含まれてもよい。他の実施形態では、DSP234は、IC201(図示せず)内に含まれてもよい。そのような実施形態では、DSP234は、集積回路201の一部であっても、IC201と同じパッケージ内の別個の集積回路、すなわち別個の基板上であってもよい。DSP234は、下記で論じられている合成デジタル信号232aに対する操作を実施するように構成またはプログラムされてもよい。
[0083]他の実施形態では、DSP234は、省かれても、合成信号を処理するためのアナログ回路によって置き換えられてもよい。当然ながら、そのような実施形態では、処理回路によって受け取られる信号がアナログ信号であるように、ADC232は省かれてもよい。
[0084]上述のように、磁界感知回路202は、磁界の(強度など)パラメータを測定する磁界感知要素を含むことができ、ベースバンド信号202aは、それらのパラメータを表すことができる。増幅信号206aは、磁界のパラメータを表す、すなわち磁界に応答するベースバンド信号を含むことができる。
[0085]温度感知回路214は、温度測定値をとり、温度信号214aを生成することができる。温度信号214は、温度測定値が比較的安定している、または変化していない場合、DC信号であっても、非常に低い周波数を有してもよい。この場合、温度信号214aもまた、ベースバンド信号になる。温度信号214aとベースバンド信号202aが共にベースバンド信号であり、合成される場合には、信号の周波数が重なり合う場合、信号内に含まれるデータが失われる可能性がある。したがって、変調回路216は、異なる周波数帯を有する変調信号216aを生成するために温度信号214aを変調することができる。一実施形態では、変調信号216aは、信号206aの予想される周波数の2倍である周波数帯を有することができ、その結果、合成されたとき、変調温度信号216aの周波数帯は、信号206aの周波数と重なり合わない。
[0086]同様に、信号回路220は、測定値をとり、信号220aを生成することができる。信号220aもまた、ベースバンド信号であり得る。したがって、変調回路222は、変調信号222aが周波数の点で変調信号216aともベースバンド信号202aとも重なり合わないように、ある周波数で信号220aを変調することができる。
[0087]図3Aは、合成信号226aの一例の周波数スペクトルである。図3Aでは、横軸は周波数を表し、縦軸は電圧を表す。矢印302は、周波数がゼロであるスペクトル上の点を表す。
[0088]図では、合成信号226aは、ベースバンドブロックを含む。このブロックは、ベースバンド信号202aの周波数帯を表すことができる。上記で論じられているように、IC201が磁界センサである場合、ベースバンド信号202aは、感知された磁界のパラメータを表す信号であり得る。したがって、ブロック202aは、磁界信号の周波数帯を表すことができる。
[0089]合成信号226aは、変調温度信号216aをも含むことができる。図では、変調温度信号216aは、ベースバンド信号202aの周波数帯の外側にあり、それと重なり合わない周波数(たとえば、周波数f2)に変調され得る。変調温度信号216aはスペクトル上の単一の周波数として示されているが、変調温度信号216aは、より広い周波数帯域幅を有することができ、したがって側波帯を含むことができることを、当業者なら理解するであろう。温度信号216aは図3Aに示されているものより広い周波数帯を有することができるが、変調回路216は、変調温度信号216aの周波数帯がベースバンド信号202aの周波数帯と重なり合わないように構成されてもよい。
[0090]図3Bは、合成信号226aの別の例の周波数スペクトルである。図3Bでは、横軸は周波数を表し、縦軸は電圧を表す。矢印302は、ゼロの周波数を表す。
[0091]図3Bに示されている合成信号226aは、上述のように、ベースバンド信号202aの周波数帯を表すブロックと、変調温度信号216aを表す矢印とを含む。しかし、図3Bでは、合成信号226aは、信号回路220によって生成され、変調器222によって変調された変調磁界信号222aをも含むことができる。変調器222は、信号220aをベースバンド信号202aまたは温度信号216aの周波数帯と重なり合わない周波数帯に変調するように構成され得る。図では、信号222aは、変調磁界信号222aの側波帯(すなわち、比較的広い形状)によって示されているように、比較的広い帯域幅を有することができる。しかし、一実施形態では、信号222aは、狭帯域スペクトル線(たとえば、DC信号)とすることができる。
[0092]図3Bに示されているように、ベースバンド信号202aは、主に周波数帯FB1内に入る。同様に、温度信号216aは、温度信号216aの周波数スペクトルが主に周波数帯FB2内に入るように変調され、信号222aは、周波数帯FB3内に入るように変調され得る。
[0093]信号304は、電子回路200内の追加の信号経路によって生成および変調された測定信号であってよい。他の実施形態では、信号304は、ベースバンド信号202aのアーチファクトであり得る。たとえば、磁界回路202がオフセット変調チョッピングを提供する上述の実施形態の場合、信号304は、チョッピング操作によってより高い周波数f3にシフトされたベースバンド信号202aのDCオフセットを示すものであり得る。図示されていないが、合成信号226aもまた、追加の重なり合わない周波数帯に変調され得る追加の信号を含むことができる。これらの追加の信号は、たとえば、電子回路200内の追加の信号経路によって生成されてよい。各信号についての変調された周波数の値は、周波数帯が好ましくは重なり合わない限り、望むように配置し直すことができる(たとえば、周波数スペクトルグラフ上に示されている信号の順序を配置し直すことができる)。
[0094]一実施形態では、電子回路200は、重なり合わない周波数スペクトルを有する信号同士を合成することによって合成信号226aを生成するように構成されてもよい。たとえば、回路経路208は、周波数帯FB1内に入るベースバンド周波数スペクトルを有する1つまたは複数の信号を生成するように構成されてもよく、変調器回路216は、周波数帯FB2内に入る周波数スペクトルを有する信号を生成するように構成されてもよく、変調器回路222は、周波数帯FB3内に入る信号を生成するように構成されてもよく、これらの周波数帯は重なり合わない。
[0095]たとえば、図4は、電子回路200のブロック図、および合成信号226aを示す周波数グラフを含む。矢印400によって示されているように、ベースバンド信号202aは、磁界感知回路202によって生成され得る。同様に、矢印402は、変調回路216が温度信号214aを変調し、変調温度信号216aを生成し、変調温度信号216aは、周波数帯FB2内に入るように周波数f2に変調され得ることを示す。
[0096]矢印404は、加算器回路226によって生成された合成信号226aがベースバンド信号202aと温度信号216aを共に含むことを示す。追加の信号が電子回路200によって生成される場合、合成信号226aは、それらの追加の信号をも含むことができる。(たとえば、図3Bに示されている合成信号226aを参照されたい。)
[0097]上記のように、アナログ−デジタル変換器(ADC)232は、合成信号226aを合成デジタル信号232aに変換することができる。DSPは、分離回路、すなわち成分信号を合成信号232aから分離または隔離するように構成された回路として働くことができる。合成デジタル信号232aがDSP234によって受け取られた後で、DSP234は、合成信号に対して操作を実施し、成分信号を合成信号232aから分離または隔離することができる。図5A、図5B、および図5Bは、これらの操作の一例を提供する。
[0098]図5A、図5B、および図5Cは、それぞれ、横軸が周波数を表し、縦軸が表される信号またはデータの振幅を表す周波数スペクトルグラフである。一実施形態では、縦軸は、信号の電圧レベルを表すことができる。また、矢印302は、周波数がゼロであるグラフ上の点を表す。
[0099]図5Aは、DSP234によって実施され得るフィルタリング操作を示す。温度信号216aをベースバンド信号202aから隔離するために、DSP234は、最初に、信号504など任意の望ましくない信号またはデータを除去するローパスフィルタを適用することができる。ローパスフィルタ伝達関数が曲線502によって示されており、これはローパス周波数レンジを定義する。曲線の外側に入る信号504などの信号は、フィルタリング操作によって除去または減衰され得る。信号504は、信号経路212(図2参照)などの信号経路によって生成される測定信号であってよい。信号504は狭い周波数帯で示されているが、信号504は、望ましくないノイズ信号など広い周波数帯を有する信号であることもある。また、信号504など複数の信号が伝達関数502の外側に入ることがあり、フィルタリング操作によって減衰されることがある。
[00100]一実施形態では、DSP234は、デジタルローパスフィルタ、たとえば有限インパルス応答(FIR)フィルタをデジタル信号232aに適用し、望ましくない信号およびノイズを除去することができる。また、DSP234は、他のタイプのローパスフィルタを信号232aに適用してもよい。一実施形態では、信号232aがアナログ信号である場合、アナログローパスフィルタを使用し、信号232aをフィルタリングすることができる。
[00101]図5Bは、DSP234によって合成信号232aに対して実施され得る変調操作を示す。この変調操作は、温度信号216aを周波数帯FB2からベースバンド周波数帯FB6にシフトすることができる。また、この変調操作は、ベースバンド信号202aをベースバンド周波数FB6から別の周波数帯FB7にシフトすることができる。一実施形態では、周波数帯FB7の中心周波数f4は、周波数帯FB2の中心周波数f2と同じまたは同様であってもよい。しかし、これは要件ではない−中心周波数f4は、信号204aを変調するために使用される任意の他の周波数であってよい。一実施形態では、中心周波数f4は、周波数f2の調波であってもよい。
[00102]図5Bによって示されている変調操作は、温度信号216aがベースバンドにあるように、ベースバンド信号202aの周波数帯と温度信号216aの周波数帯を交換するように働くことができる。これは、下記のローパスフィルタを介して温度信号216aが隔離されることを可能にすることによって温度信号216aを合成信号232aから抽出するのを容易にすることができる。
[00103]図5Cは、温度信号216aを合成デジタル信号232aから隔離または抽出するためにDSP234によって実施され得るローパスフィルタリング操作の一例を示す。DSP234は、曲線506によって示されている伝達関数を有するローパスフィルタを適用することができる。フィルタは、周波数帯FB8の外側に入る信号を減衰または除去するローパスフィルタであってよい。ローパスフィルタを適用することによって、DSP234は、点線508によって示されているように、ベースバンド信号202aを合成信号232aから除去することができる。これらのフィルタリングおよび変調操作は、温度信号216aを合成信号232aから抽出または分離するように働くことができる。なぜなら、これらのフィルタリングおよび変調操作後、残る唯一の成分信号は、ベースバンド周波数にシフトされた温度信号216aとなり得るからである。
[00104]上記の説明は、デジタル信号232aに対して操作を実施するDSP234について論じているが、アナログ信号をも使用することができる。たとえば、合成信号がアナログ信号である場合、DSP234の代わりにアナログフィルタおよび変調器を使用し、温度信号216aをアナログ合成信号から抽出することができる。
[00105]さらに、上記の例はローパスフィルタを使用しているが、温度信号216aを抽出するための操作は、他のタイプのフィルタを使用して実施することができる。たとえば、図5Aを参照して、周波数帯FB2を隔離するバンドパスフィルタを最初に合成信号232aに適用することができる。これは、温度信号216aを合成信号232a内の他の信号から隔離することができる。次いで、温度信号216aが周波数帯FB2からベースバンドにシフトまたは変調されてもよい。
[00106]フィルタリングおよび変調操作が温度信号216aを合成信号232aから隔離することとして述べられているが、他の実施形態では、フィルタリングおよび変調操作は、図2における信号経路212によって生成される信号など、他の信号を抽出するために使用されてもよい。さらに、フィルタリングおよび変調操作は、繰り返されても、合成信号232aが複数の信号を含む場合、追加のフィルタリングおよび変調操作が追加されてもよい。たとえば、合成信号232aがベースバンド信号202a、温度信号216a、および磁界信号224aを含む場合には、追加のフィルタリングおよび変調操作を使用し、温度信号216a、信号224a、および/またはベースバンド信号202aを合成信号232aから抽出してもよい。
[00107]実施形態では、ベースバンド信号202aは、複数の周波数帯における情報を有することができる。変調信号216aの周波数f2は、ベースバンド信号202aのどの周波数帯とも重なり合わないように選択され得る。周波数f2は、ベースバンド信号202aの周波数間に入っても、ベースバンド信号202aの周波数帯すべての外側に入ってもよい。そのような実施形態では、異なる、または追加のフィルタリング操作を有する異なるフィルタリング方式が、信号216aを合成信号226aから抽出するために使用され得る。場合によっては、信号216aは、ベースバンド信号202aの帯域のうちの1つと少なくとも一部、重なり合うことがある。そのような場合、代替/追加のフィルタリング操作を使用し、信号216aを合成信号226aから抽出してもよい。
[00108]次に図6に転じると、図6は、温度信号216aを合成信号232aから抽出するプロセスを示す一連の波形である。この例では、温度は、約−30度から約60度に上昇された。したがって、温度信号216aは、合成信号232aから抽出された後で、上り傾斜(increasing ramp)となるはずである。
[00109]図6では、左側の列602内の波形は、時間を表す横軸を有する時間ベースの波形であり、右側の列604内の波形は、周波数を表す横軸を有する、対応する周波数スペクトル波形である。右側の列604内の周波数波形は、左側の列602内の波形を周波数ベースで表したものである。
[00110]波形606aおよび周波数スペクトル606bは、合成信号232aの一例である。周波数スペクトル606bに示されているように、合成信号232aは、ベースバンド信号202aを表すベースバンドに、またはその近くにピークを有する。合成信号232aは、温度信号216aを表すより高い周波数にもピークを有する。波形606bにおける他のピーク(たとえば、ピーク614、616、618)は、ノイズ、調波、または合成信号232a内の他の外乱であり得る。
[00111]波形608aおよび周波数スペクトル608bは、フィルタリング操作が信号232aに適用された後の合成信号232aを示す。図では、ピーク616、618が合成信号232aから除去されている。したがって、適用されたフィルタは、ピーク614、618の周波数にノッチを有するバンドストップフィルタ、および/またはピーク618を除去するためのハイパスフィルタとなり得る。
[00112]波形610aおよび周波数スペクトル610bは、図5Bの変調操作が信号232aに適用された後の合成信号232aを示す。波形610bに示されているように、変調操作は、温度信号216aをベースバンドにシフトし、ベースバンド信号202aをより高い周波数にシフトすることができる。場合によっては、変調操作は、ピーク620、622によって示されている調波を導入することもある。
[00113]波形612aおよび周波数スペクトル612bは、温度信号216aを抽出または隔離するために図5Cの後続のフィルタリング操作が適用された後の合成信号232aを示す。周波数スペクトル612bに示されているように、ベースバンド信号202aおよびピーク622は除去されており、もはや周波数スペクトル612b内に現れない。残るものは、ベースバンドでの温度信号216a、および減衰されたピーク620’だけである。波形612aによって示されているように、抽出された温度信号216aは、約−30度から約60度までの温度傾斜である。
[00114]図7は、温度測定値を隔離するためのプロセス700を示す流れ図である。プロセス700は、図2に示されている電子回路200など、電子回路によって実装され得る。ボックス702では、第1の信号が生成される。一実施形態では、第1の信号は、磁界の測定値を示すものであってよい。ボックス704では、温度信号など第2の信号が生成される。ボックス705では、第2の信号が、第1の信号の周波数帯と重なり合わない周波数に変調され得る。ボックス706では、第1の信号と第2の信号が合成され、合成信号を生み出す。上述のように任意選択のステップであってもよいボックス708では、第1の信号および第2の信号がアナログか、それともデジタルかに応じて、合成信号がアナログ信号からデジタル信号に、またはその逆。ボックス710では、第2の信号が合成信号から抽出される。図7ではアナログ信号およびデジタル信号として述べられているが、上述のように、どの信号がアナログであってもデジタルであってもよい。
[00115]磁界センサ集積回路200は、磁界を生成するために集積回路パッケージの一部としてバックバイアス磁石を含むことができ、磁界の強度は、磁界信号によって表される。バックバイアス磁石を有する磁界センサを提供するために様々な構成および作製技法が知られている。たとえば、成形バックバイアス磁石が米国特許第6,692,676号に記載されており、他のタイプのバックバイアス磁石およびパッケージ構成が米国特許第6,265,865号に記載されており、そのような米国特許は共に、本出願の譲受人に譲渡されており、参照により本明細書に組み込む。
[00116]成形バックバイアス磁石830を含む1つの例示的なパッケージされた磁界センサ集積回路810が図8に示されており、半導体ダイ814上に形成された磁界感知要素822を含み、このダイは、リードフレーム18のダイ取付け部分818aに取り付けられる。リードフレーム818は、図のようにワイヤボンド826a、826b、826cを用いてなど、ダイに結合され得る複数のリード824a、824b、824cを含む。ダイ814、およびリードフレーム818の少なくとも一部分は、非導電性のモールド材料820によって封入されてもよい。第2の強磁性のモールド材料が、バーブ818bの形態にある固定機構を用いてなど、第1のモールド材料の一部分に結合され、バックバイアス磁石を形成することができる。このために、強磁性のモールド材料830は、硬質強磁性材料を含んでもよい。第1のモールド材料820および/または第2のモールド材料830の一方または両方を、トランスファ成形もしくは射出成形、またはポッティングなど、様々な技法によって作製することができる。
[00117]いくつかの実施形態では、第2のモールド材料830は、磁界センサ202から離れて成形される。他の実施形態では、第2のモールド材料830は、磁界センサ202上に直接成形される。一実施形態では、磁気モールド材料は、一定の断面を有することを必要とされない。換言すれば、磁気モールド材料は、設計に応じて、カットアウト、穴、または切欠きを有してもよい。
[00118]目標物832が磁気モールド材料によって生み出された磁界の内外に移動するとき、磁界センサ集積回路810は、磁界の摂動を感知することができる。これらの感知された摂動は、目標物832の近接性、速度、または位置を表す信号を生み出すために使用され得る。
[00119]一実施形態では、記載の装置およびプロセスは、信号を測定するために必要とされる回路およびハードウェアを削減するために使用され得る。図1を再び参照すると、従来技術のシステムは、各信号経路内に、冗長ADC16およびADC24など、冗長構成要素を必要とする。信号を合成信号に合成し、後で信号を合成信号から抽出することによって、冗長構成要素は必要とされない可能性がある。たとえば、図2に示されているように、1つのADC232が複数の信号経路208、210、212に必要とされるにすぎない。
[00120]本発明の実施形態は、回路、ハードウェア、ソフトウェア、またはそれらの組合せによって実装され得る。一実施形態では、ソフトウェア命令は、RAM、ROM、EEPROM、ハードドライブ、DVDディスク、CDディスク、フューズドROM(fused ROM)、または任意の他のタイプの揮発性もしくは不揮発性メモリなど、メモリ内に記憶されてもよい。ソフトウェア命令は、プロセッサによって実行されたとき、プロセッサに上述の操作の全部または一部を実施させることができる。たとえば、一実施形態では、DSP234(図2参照)は、DSP234に上述のフィルタリングおよび変調操作を実施させるソフトウェア命令をメモリから受け取るデジタル信号プロセッサであってもよい。
[00121]上述の実施形態は、デジタルおよびアナログの信号および構成要素を含む。これらの信号は、例として提供されているにすぎない。上記でアナログとして述べられている信号は、望むなら等価のデジタル信号によって置き換えられてもよく、逆もまた同様である。同様に、上記でアナログとして述べられている構成要素および回路は、等価のデジタル回路および構成要素によって置き換えられてもよく、逆もまた同様である。
[00122]図は、様々な実施形態の例として提供されており、本開示の範囲を限定するものではない。たとえば、ブロック図および概略図内の構成要素および接続は、望むように配置し直し、置き換え、追加し、除去し、または等価もしくは類似の構成要素および接続と置き換えることができ、依然として本開示の範囲内に入る。同様に、流れ図内のブロックおよび接続は、配置し直し、置き換え、追加し、除去し、または等価もしくは類似のブロックおよび接続と置き換えることができ、依然として本開示の範囲内にある。さらに、流れ図は、操作の何らかの特定の順序を必要とせず、流れ図内の流れの順序は、本開示の範囲内で変えることができる。
[00123]本発明の例示的な実施形態について述べたが、次に当業者には、それらの概念を組み込む他の実施形態もまた使用され得ることが明らかになろう。本明細書に含まれる実施形態は、開示されている実施形態に限定されるべきでなく、添付の特許請求の範囲の精神および範囲によってのみ限定されるべきである。本明細書に引用されている出版物および参考文献は、参照によりそれらの全体が本明細書に明示的に組み込まれる。

Claims (31)

  1. 温度を感知する方法であって、
    ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するステップであって、前記磁界信号が磁界に応答するものである、ステップと、
    温度信号を生成するステップと、
    前記温度信号を、第1の変調信号をもたらす前記磁界信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数に変調するステップと、
    合成信号を生成するように前記磁界信号を前記第1の変調信号と合成するステップと
    を含む方法。
  2. 前記温度信号を表すデータを前記デジタル信号から抽出するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記データを抽出する前に前記合成信号をデジタル信号に変換するステップをさらに含む、請求項2に記載の方法。
  4. 前記抽出するステップが、
    前記合成信号を変調し、前記温度信号を表す前記データをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすステップと、
    フィルタを前記第2の変調信号に適用し、前記温度信号を表す前記データを前記第2の変調信号から分離するステップと
    を含む、請求項2に記載の方法。
  5. 前記磁界信号が、目標物体の速度または位置を検出するための信号であり、前記周波数スペクトルの幅が、前記目標物体の前記速度によって規定される、請求項1に記載の方法。
  6. 前記目標物体が、歯を有するホイールであり、前記磁界信号上のピークが、磁界感知要素に対する歯の近接性を表す、請求項5に記載の方法。
  7. 前記温度信号を生成するステップが、PN接合を通過する電流を監視するステップを含む、請求項1に記載の方法。
  8. 前記PN接合が、ダイオードまたはBJTトランジスタの一部である、請求項7に記載の方法。
  9. 前記ダイオードまたはBJTトランジスタが、温度を測定するために特に設計されたものでない回路の一部である、請求項8に記載の方法。
  10. 前記温度信号を変調するステップが、前記磁界信号の最大周波数の約2倍である周波数で変調するステップを含む、請求項1に記載の方法。
  11. 前記磁界信号を前記第1の変調信号と合成するステップが、前記合成信号を生成するように前記磁界信号と前記第1の変調信号を合計するステップを含む、請求項1に記載の方法。
  12. 前記合成信号を前記デジタル信号に変換するステップが、前記合成信号を処理するために十分大きな帯域幅を備えるアナログ−デジタル変換器で前記デジタル信号を生成するステップを含む、請求項1に記載の方法。
  13. ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するように構成された回路であって、前記磁界信号が、装置の外部の磁界に応答するものである、回路と、
    温度信号を生成するように構成された温度感知回路と、
    前記温度信号を、第1の変調信号をもたらす前記磁界信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数に変調するように構成された第1の変調回路と、
    合成信号を生成するように前記磁界信号を前記第1の変調温度信号と合成するように構成された合成回路と
    を備える装置。
  14. 前記温度信号を表すデータを前記デジタル信号から分離し温度読取り値を生成するように構成された分離回路をさらに備える、請求項13に記載の装置。
  15. 前記分離回路が、
    前記温度信号を表す前記データをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすように構成された第2の変調回路、および、
    前記第2の変調信号を受け取るように結合され、前記温度信号を表す前記データを前記第2の変調信号から分離するように構成されたフィルタのうちの1つまたは複数を備える、請求項14に記載の装置。
  16. 前記磁界信号を生成するように構成された前記回路が、目標物体の速度または位置を検出するための回路であり、前記周波数スペクトルの幅が、前記目標物体の前記速度によって規定される、請求項13に記載の装置。
  17. 磁界感知要素をさらに備え、前記目標物体が、歯を有するホイールであり、前記ホイールの前記歯が前記磁界感知要素を通過したとき前記磁界信号上のピークが生成される、請求項16に記載の装置。
  18. 前記温度感知回路がPN接合を含む、請求項13に記載の装置。
  19. 前記PN接合が、ダイオードまたはBJTトランジスタの一部である、請求項18に記載の装置。
  20. 前記ダイオードまたはBJTトランジスタが、温度を測定するために特に設計されたものでない回路の一部である、請求項19に記載の装置。
  21. 前記温度感知回路が、前記温度信号を前記磁界信号の最大周波数の約2倍である周波数で変調するように構成される、請求項13に記載の装置。
  22. 前記合成回路が、前記合成信号を生成するように前記磁界信号と前記変調温度信号を合計するように構成された合計回路を備える、請求項13に記載の装置。
  23. 前記アナログ−デジタル変換器が、前記合成アナログ信号を処理するために十分大きな帯域幅を備える、請求項13に記載の装置。
  24. 磁界を生成するように構成されたバックバイアス磁石と、
    ある周波数スペクトルを有する磁界信号を生成するように構成された回路であって、前記磁界信号が周囲の磁界の強度を表す、回路と、
    前記磁界信号を較正するために温度信号を生成するように構成された温度感知回路と、
    前記温度信号を、第1の変調信号をもたらす前記磁界信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数に変調するように構成された第1の変調回路と、
    合成信号を生成するように前記磁界信号を前記第1の変調温度信号と合成するように構成された合成回路と、
    前記合成信号をデジタル処理回路に提供するように動作する出力と
    を備える磁界センサ。
  25. 前記バックバイアス磁石が、成形磁石を含む、請求項24に記載の磁界センサ。
  26. 前記温度信号を表すデータを前記デジタル信号から分離し温度読取り値を生成するように構成された分離回路をさらに備える、請求項24に記載のセンサ。
  27. 前記分離回路が、
    前記温度信号を表す前記データをベースバンド周波数にシフトし第2の変調信号をもたらすように構成された第2の変調回路、および、
    前記第2の変調信号を受け取るように結合され、前記温度信号を表す前記データを前記第2の変調信号から分離するように構成されたフィルタのうちの1つまたは複数を備える、請求項26に記載のセンサ。
  28. 前記磁界信号を生成するように構成された前記回路が、目標物体の速度または位置を検出するための回路であり、前記周波数スペクトルの幅が、前記目標物体の前記速度によって規定される、請求項26に記載のセンサ。
  29. 磁界感知要素をさらに備え、前記目標物体が、歯を有するホイールであり、前記ホイールの前記歯が前記磁界感知要素を通過したとき前記磁界信号上のピークが生成される、請求項28に記載の装置。
  30. 温度を感知する方法であって、
    ある周波数スペクトルを有する第1の信号を生成するステップであって、前記第1の信号が磁界に応答するものである、ステップと、
    第2の信号を生成するステップと、
    前記第2の信号を、第1の変調信号をもたらす前記第1の信号の前記周波数スペクトルの外側の周波数に変調するステップと、
    合成信号を生成するように前記第1の信号を前記第1の変調信号と合成するステップと、
    前記第2の信号を前記合成信号から抽出するステップと
    を含む方法。
  31. 前記第2の信号が、温度信号、応力信号、磁界信号、測定信号、またはそれらの組合せである、請求項30に記載の方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200015503A (ko) * 2017-05-26 2020-02-12 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 감도 검출을 구비하는 코일 구동 센서

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9817078B2 (en) 2012-05-10 2017-11-14 Allegro Microsystems Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having integrated coil
US9354123B2 (en) * 2012-12-26 2016-05-31 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods for processing temperature data or other signals
US9664494B2 (en) 2013-05-10 2017-05-30 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with immunity to external magnetic influences
US10145908B2 (en) 2013-07-19 2018-12-04 Allegro Microsystems, Llc Method and apparatus for magnetic sensor producing a changing magnetic field
US20160007101A1 (en) * 2014-07-01 2016-01-07 Infineon Technologies Ag Sensor Device
DE102015109009A1 (de) * 2015-06-08 2016-12-08 Infineon Technologies Ag Stromsensorchip mit Magnetfeldsensor
FR3038053B1 (fr) * 2015-06-26 2019-04-05 Continental Automotive France Dispositif de mesure de temperature
US11402440B2 (en) 2015-07-17 2022-08-02 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for trimming a magnetic field sensor
US10481220B2 (en) * 2016-02-01 2019-11-19 Allegro Microsystems, Llc Circular vertical hall (CVH) sensing element with signal processing and arctangent function
US9910087B2 (en) 2016-03-14 2018-03-06 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit and method for detecting a stress condition in the integrated circuit
US10161908B2 (en) * 2016-03-24 2018-12-25 Infineon Technologies Ag Apparatus for determining a characteristic of a fluid having a device configured to measure a hydrodynamic pressure of the fluid
US10641842B2 (en) 2017-05-26 2020-05-05 Allegro Microsystems, Llc Targets for coil actuated position sensors
US10310028B2 (en) 2017-05-26 2019-06-04 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor
US10996289B2 (en) 2017-05-26 2021-05-04 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated position sensor with reflected magnetic field
US10837943B2 (en) 2017-05-26 2020-11-17 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with error calculation
US10324141B2 (en) 2017-05-26 2019-06-18 Allegro Microsystems, Llc Packages for coil actuated position sensors
US10866289B2 (en) * 2018-03-27 2020-12-15 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and associated methods including differential chopping
US11002806B2 (en) * 2018-03-29 2021-05-11 Asahi Kasei Microdevices Corporation Magnetic field detection device
US11061084B2 (en) 2019-03-07 2021-07-13 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor and deflectable substrate
US10955306B2 (en) 2019-04-22 2021-03-23 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor and deformable substrate
US11262422B2 (en) 2020-05-08 2022-03-01 Allegro Microsystems, Llc Stray-field-immune coil-activated position sensor
US11163019B1 (en) 2020-08-05 2021-11-02 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors having stray field rejection
US11493361B2 (en) 2021-02-26 2022-11-08 Allegro Microsystems, Llc Stray field immune coil-activated sensor
US11578997B1 (en) 2021-08-24 2023-02-14 Allegro Microsystems, Llc Angle sensor using eddy currents
KR102438314B1 (ko) * 2022-02-04 2022-09-01 동광전자 주식회사 건물에 설치된 스피커 라인을 활용하는 화재발생감지시스템
CN115173009B (zh) * 2022-07-15 2024-03-22 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所) 一种旋磁滤波器组件温度补偿方法

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61144520A (ja) * 1984-12-18 1986-07-02 Nec Corp 多地点温度の遠隔観測装置
JPH03289220A (ja) * 1990-04-04 1991-12-19 Alpine Electron Inc ラジオ受信機
JPH07277103A (ja) * 1994-04-12 1995-10-24 Toyota Motor Corp 車両用信号送信装置
JPH08128854A (ja) * 1994-11-01 1996-05-21 Fujitsu Ten Ltd 車輪速計測装置
JPH08248107A (ja) * 1995-03-08 1996-09-27 Oki Electric Ind Co Ltd 干渉型光ファイバセンサ
JPH09229778A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Hitachi Ltd Ic化温度センサ
JP2001133329A (ja) * 1999-11-05 2001-05-18 Oki Electric Ind Co Ltd 光ファイバセンサ
JP2002150460A (ja) * 2000-11-14 2002-05-24 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 多重化装置、多重化方法、制御状態計測システム、及び制御状態計測方法
JP2003137081A (ja) * 2001-11-01 2003-05-14 Hitachi Ltd ブレーキ装置
US20050258821A1 (en) * 2004-05-12 2005-11-24 Wang Shan X Magnetic sensor array having an analog frequency-division multiplexed output
JP2009124700A (ja) * 2007-10-24 2009-06-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光直交周波数分割多重伝送用回路
JP2010213364A (ja) * 2010-07-02 2010-09-24 Kyocera Corp 受信装置、受信信号処理方法及び通信システム
WO2011011479A1 (en) * 2009-07-22 2011-01-27 Allegro Microsystems, Inc. Circuits and methods for generating a diagnostic mode of operation in a magnetic field sensor
US20110158331A1 (en) * 2009-12-31 2011-06-30 Sensys Networks. Inc Emulating Increased Sample Frequency in a Wireless Sensor Node and/or a Wireless Sensor Network
JP2011169712A (ja) * 2010-02-18 2011-09-01 Panasonic Corp 回転数センサ

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1268212A (en) * 1986-12-29 1990-04-24 Martin Lord Method and apparatus for measuring magnetic losses in ferromagnetic materials
US5963028A (en) 1997-08-19 1999-10-05 Allegro Microsystems, Inc. Package for a magnetic field sensing device
US6278269B1 (en) 1999-03-08 2001-08-21 Allegro Microsystems, Inc. Magnet structure
US6270463B1 (en) * 1999-11-23 2001-08-07 Medrad, Inc. System and method for measuring temperature in a strong electromagnetic field
US7281846B2 (en) 2004-08-23 2007-10-16 Standard Microsystems Corporation Integrated resistance cancellation in temperature measurement systems
EP1637898A1 (en) 2004-09-16 2006-03-22 Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. Continuously calibrated magnetic field sensor
US8350563B2 (en) 2010-10-12 2013-01-08 Allegro Microsystems, Inc. Magnetic field sensor and method used in a magnetic field sensor that adjusts a sensitivity and/or an offset over temperature
EP2485012B1 (de) 2011-02-04 2015-05-20 Siemens Aktiengesellschaft Messverfahren
US9354123B2 (en) * 2012-12-26 2016-05-31 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods for processing temperature data or other signals

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61144520A (ja) * 1984-12-18 1986-07-02 Nec Corp 多地点温度の遠隔観測装置
JPH03289220A (ja) * 1990-04-04 1991-12-19 Alpine Electron Inc ラジオ受信機
JPH07277103A (ja) * 1994-04-12 1995-10-24 Toyota Motor Corp 車両用信号送信装置
JPH08128854A (ja) * 1994-11-01 1996-05-21 Fujitsu Ten Ltd 車輪速計測装置
JPH08248107A (ja) * 1995-03-08 1996-09-27 Oki Electric Ind Co Ltd 干渉型光ファイバセンサ
JPH09229778A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Hitachi Ltd Ic化温度センサ
JP2001133329A (ja) * 1999-11-05 2001-05-18 Oki Electric Ind Co Ltd 光ファイバセンサ
JP2002150460A (ja) * 2000-11-14 2002-05-24 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 多重化装置、多重化方法、制御状態計測システム、及び制御状態計測方法
JP2003137081A (ja) * 2001-11-01 2003-05-14 Hitachi Ltd ブレーキ装置
US20050258821A1 (en) * 2004-05-12 2005-11-24 Wang Shan X Magnetic sensor array having an analog frequency-division multiplexed output
JP2009124700A (ja) * 2007-10-24 2009-06-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光直交周波数分割多重伝送用回路
WO2011011479A1 (en) * 2009-07-22 2011-01-27 Allegro Microsystems, Inc. Circuits and methods for generating a diagnostic mode of operation in a magnetic field sensor
US20110158331A1 (en) * 2009-12-31 2011-06-30 Sensys Networks. Inc Emulating Increased Sample Frequency in a Wireless Sensor Node and/or a Wireless Sensor Network
JP2011169712A (ja) * 2010-02-18 2011-09-01 Panasonic Corp 回転数センサ
JP2010213364A (ja) * 2010-07-02 2010-09-24 Kyocera Corp 受信装置、受信信号処理方法及び通信システム

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200015503A (ko) * 2017-05-26 2020-02-12 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 감도 검출을 구비하는 코일 구동 센서
JP2020521964A (ja) * 2017-05-26 2020-07-27 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー 感度検出によるコイル作動型センサ
JP7194699B2 (ja) 2017-05-26 2022-12-22 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー 感度検出によるコイル作動型センサ
KR102595370B1 (ko) 2017-05-26 2023-10-27 알레그로 마이크로시스템스, 엘엘씨 감도 검출을 구비하는 코일 구동 센서

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