JP2016225050A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016225050A5 JP2016225050A5 JP2015108071A JP2015108071A JP2016225050A5 JP 2016225050 A5 JP2016225050 A5 JP 2016225050A5 JP 2015108071 A JP2015108071 A JP 2015108071A JP 2015108071 A JP2015108071 A JP 2015108071A JP 2016225050 A5 JP2016225050 A5 JP 2016225050A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plasma processing
- processing apparatus
- dielectric window
- ring
- shaped member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 210000002381 Plasma Anatomy 0.000 claims description 3
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 claims 1
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 claims 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
Description
本発明は、試料がプラズマ処理される金属製の処理室と、前記処理室の上部を気密に封止する誘電体製の誘電体窓と、円板状の前記誘電体窓の上方に配置され、誘導磁場を生じさせる誘導アンテナと、前記誘導アンテナに高周波電力を供給する高周波電源とを備えるプラズマ処理装置において、前記誘導体窓の外側に配置され、前記誘電体窓に圧着された金属製のリング状部材をさらに備え、前記リング状部材の線膨張率は、前記誘電体窓の線膨張率より大きいことを特徴とする。
Claims (7)
- 試料がプラズマ処理される金属製の処理室と、前記処理室の上部を気密に封止する誘電体製の誘電体窓と、円板状の前記誘電体窓の上方に配置され、誘導磁場を生じさせる誘導アンテナと、前記誘導アンテナに高周波電力を供給する高周波電源とを備えるプラズマ処理装置において、
前記誘導体窓の外側に配置され、前記誘電体窓に圧着された金属製のリング状部材をさらに備え、
前記リング状部材の線膨張率は、前記誘電体窓の線膨張率より大きいことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1に記載のプラズマ処理装置において、
前記誘電体窓の温度が所定の温度範囲内の場合、前記リング状部材の内径は、前記誘電体窓の直径より小さいとともに前記プラズマ処理時の前記誘電体窓の温度分布による引張り応力に基づいて規定されていることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項2に記載のプラズマ処理装置において、
前記誘電体窓の温度が前記所定の温度範囲の上限値より高い場合、前記リング状部材の内径は、前記誘電体窓の直径以上の値であることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載のプラズマ処理装置において、
前記リング状部材は、温度を調整するための冷媒の流路が形成されていることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載のプラズマ処理装置において、
前記誘電体窓の外周がメタライズ処理されていることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載のプラズマ処理装置において、
モニタされた前記リング状部材の温度またはモニタされた前記リング状部材の応力に基づいて前記高周波電源を停止させる監視装置をさらに備えることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 請求項4または請求項5に記載のプラズマ処理装置において、
モニタされた前記リング状部材の応力に基づいて前記高周波電源を停止させる監視装置をさらに備えることを特徴とするプラズマ処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015108071A JP6594664B2 (ja) | 2015-05-28 | 2015-05-28 | プラズマ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015108071A JP6594664B2 (ja) | 2015-05-28 | 2015-05-28 | プラズマ処理装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016225050A JP2016225050A (ja) | 2016-12-28 |
JP2016225050A5 true JP2016225050A5 (ja) | 2018-02-01 |
JP6594664B2 JP6594664B2 (ja) | 2019-10-23 |
Family
ID=57746602
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015108071A Active JP6594664B2 (ja) | 2015-05-28 | 2015-05-28 | プラズマ処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6594664B2 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2522661B2 (ja) * | 1987-05-22 | 1996-08-07 | 日本電信電話株式会社 | マイクロ波イオン源 |
JPH1131599A (ja) * | 1997-07-08 | 1999-02-02 | Sumitomo Metal Ind Ltd | プラズマ処理装置における予熱方法及びプラズマ処理装置 |
JP3846127B2 (ja) * | 1999-10-12 | 2006-11-15 | 富士電機システムズ株式会社 | 固体廃棄物減容処理装置およびその運転方法 |
JP2007173512A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プラズマ処理装置 |
JP2013222910A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-28 | Hitachi High-Technologies Corp | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 |
JP6182375B2 (ja) * | 2013-07-18 | 2017-08-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | プラズマ処理装置 |
-
2015
- 2015-05-28 JP JP2015108071A patent/JP6594664B2/ja active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
PL3698395T3 (pl) | Niedopasowane źródło plazmy do wytwarzania płytek półprzewodnikowych i sposób zapewniania mocy o częstotliwości radiowej do elektrody komory plazmowej | |
IL276337B (en) | Partially insulated high-temperature superconducting coils, manufacturing method and devices using said coils | |
JP2017143186A5 (ja) | ||
SG10201907458SA (en) | Semiconductor device and method of manufacturing the same | |
EP3430499A4 (en) | METHODS OF MANUFACTURING AND PRODUCING A SELF-CONTAINED POWER SUPPLY SOURCE | |
EP3466884A4 (en) | SILICON-COATED METAL PARTICLES, METALLIC PARTICLES COATED WITH SILICON COMPOUND, AND PROCESSES FOR PRODUCING SAME | |
SG11202112225QA (en) | Process chamber and semiconductor processing device | |
WO2017106183A3 (en) | A microwave furnace and a method of sintering | |
MX2018008924A (es) | Metodo para sintonizar el torque y la junta de rotula. | |
EP3780014A4 (en) | Insulated electric wire material, method for manufacturing insulated electric wire material, coil, and electric/electronic device | |
EP3712703A4 (en) | COOLING DEVICE, SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING PROCESS | |
EP3904825A4 (en) | SEMICONDUCTOR WAFER EVALUATION METHOD AND SEMICONDUCTOR WAFER PRODUCTION METHOD | |
EP3412954A4 (en) | HEAT-STORED BODY, VACUUM HEAT INSULATION MATERIAL AND METHOD FOR PRODUCING VACUUM HEAT INSULATION MATERIAL | |
EP3433554A4 (en) | VACUUM INSULATION, MANUFACTURING METHOD THEREOF AND REFRIGERATOR COMPRISING THE SAME | |
JP2015022855A5 (ja) | ||
JP2016225050A5 (ja) | ||
PL3617169T3 (pl) | Szyba izolacyjna i sposób jej wytwarzania oraz materiał uszczelniający do szyby izolacyjnej | |
GB2599813B (en) | Method for manufacturing vacuum heat insulator and vacuum heat insulator | |
MX2019004918A (es) | Un dispositivo inductivo y un metodo de fabricacion. | |
EP3465694A4 (en) | INTERFERENCE-FREE MEASUREMENTS OF A LOW AND ZERO MAGNET FIELD AT HIGH TEMPERATURE PLASMS | |
SG11202104119PA (en) | Liner assembly, reaction chamber and semiconductor processing apparatus | |
KR102212421B9 (ko) | 전하-플라즈마 효과가 적용된 반도체 소자 및 이의 제조 방법 | |
JP2016018918A5 (ja) | ||
EP3823757A4 (en) | STRUCTURE OF AN ELECTROMAGNETIC COIL ASSEMBLY FOR PROCESSING FLUIDS AND METHOD OF MANUFACTURE THEREOF | |
TW201612944A (en) | Plasma processing apparatus |