JP2016212040A - コンタクト - Google Patents
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Abstract
【課題】被接触対象に対して接触端子を確実に接触できる電気接続用のコンタクトを提供する。【解決手段】筒状部と、前記筒状部の一端に、前記筒状部に対しいて移動可能とされた一方端部と、前記筒状部の他端に形成された他方端部と、前記筒状部の内部内に配設され、前記一方端部を前記他方端部に対して離間させる方向に弾性力を付勢するばね部とを有し、前記一方向端部、前記他方端部、前記ばね部、及び前記筒状部が、一枚の板金から一体的に形成されたコンタクトであって、前記他方端部は、被接触対象に接触する端子部と、前記端子部と前記筒状部との間に配設された可撓部とを有し、前記端子部が被接触対象面に押圧された際、前記可撓部が撓むことにより前記端子部が前記被接触対象面上でワイピングを行う構成とする。【選択図】 図10
Description
本発明は、コンタクトに関する。
半導体集積回路等を製造する際、ウエハに形成されている半導体集積回路の電気的な特性を測定する測定機器が用いられることがある。このような測定機器では、ウエハに形成されている電極バッド又は電極端子にコンタクトを接触させて測定を行っている。
測定機器に用いるコンタクトとしては、コイルスプリングプローブと称されるコンタクトがある。コイルスプリングプローブは筒体内にコイルバネを内蔵しており、コイルバネの一方の端部に設けられている接触端子がウエハ等の基板に形成されている電極パッド又は電極端子と接触するものである。また、コイルスプリングプローブの他方の端部は、計測機器に電気的に接続する。コイルスプリングプローブでは、筒体内に設けられたコイルバネにより、コンタクトの接触端子が伸縮可能な構成とされている。
図12は、コイルスプリングプローブ200を模式的に示す図である。コイルスプリングプローブ200は、筒部201上部の上部接触端子202が上部基板の電極端子210と接触し、筒部201に対して伸縮可能な下部接触端子203が下部基板の電極端子211と接触する。
この際、電極端子211に塵埃220が付着していると、下部接触端子203が電極端子211に適正に接触せず、導通不良が発生してしまうおそれがあった。
本発明のある態様の例示的な目的のひとつは、被接触対象に対する接触端子の接続信頼性を高めることができるコンタクトを提供することにある。
本発明のある態様によると、
筒状部と、
前記筒状部の一端に、前記筒状部に対しいて移動可能とされた一方端部と、
前記筒状部の他端に形成された他方端部と、
前記筒状部の内部に配設され、前記一方端部を前記他方端部に対して離間させる方向に弾性力を付勢するばね部とを有し、
前記一方端部、前記他方端部、前記ばね部、及び前記筒状部が、一枚の板金から一体的に形成されたコンタクトであって、
前記他方端部は、被接触対象に接触する端子部と、前記端子部と前記筒状部との間に配設された可撓部とを有し、
前記端子部が被接触対象面に押圧された際、前記可撓部が可撓することにより前記端子部が前記被接触対象面の面上でワイピングを行う構成とする。
筒状部と、
前記筒状部の一端に、前記筒状部に対しいて移動可能とされた一方端部と、
前記筒状部の他端に形成された他方端部と、
前記筒状部の内部に配設され、前記一方端部を前記他方端部に対して離間させる方向に弾性力を付勢するばね部とを有し、
前記一方端部、前記他方端部、前記ばね部、及び前記筒状部が、一枚の板金から一体的に形成されたコンタクトであって、
前記他方端部は、被接触対象に接触する端子部と、前記端子部と前記筒状部との間に配設された可撓部とを有し、
前記端子部が被接触対象面に押圧された際、前記可撓部が可撓することにより前記端子部が前記被接触対象面の面上でワイピングを行う構成とする。
本発明のある態様によると、被接触対象とコンタクトの接続信頼性を高めることができる。
次に、添付の図面を参照しながら、本発明の限定的でない例示の実施形態について説明する。
尚、添付の全図面の記載で、同一又は対応する部材又は部品には、同一又は対応する参照符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面は、特に指定しない限り、部材もしくは部品間の相対比を示すことを目的としない。従って、具体的な寸法は、以下の限定的でない実施形態に照らし、当業者により決定することができる。
また、以下説明する実施形態は、発明を限定するものではなく例示であって、実施形態に記述される全ての特徴やその組み合わせは、必ずしも発明の本質的なものであるとは限らない。
図1〜図4は、コンタクトの一実施形態を説明する図である。
図1は一実施形態によるコンタクト1の平面を示し、図2はコンタクト1の左側面、正面、右側面を示し、図3はコンタクト1の底面を示し、図4は図1におけるA−A線に沿う断面を示している。
コンタクト1は、一例としては電子部品や電気回路等の検査を行うために用いられ、電子部品や電気回路に形成された電極パッド又はBGA(Ball Grid Alley)等の電極端子と検査装置とを電気的に接続する機能を有する。
コンタクト1は、一方端部2、他方端部3、ばね部4、筒状部5を有している。
一方端部2は、筒状部5の一方の端部(図中、X2側の端部)に位置している。一方端部2は円筒形状に形成され、その端部に2つの一方接点21,22が、側面に一対の切り起こし部23が形成されている。
一方接点21,22は、図1に示すように互いに対向するよう配置されている。また一方接点21,22は、互いに近接するよう内側に向けて折り曲げられている。
他方端部3は、筒状部5の一方端部2とは反対側の端部に、筒状部5と一体的に形成されている。他方端部3は、互いに対向配置された2つの他方接点31と他方接点32とを有している。
ばね部4は、筒状部5の内部に配設されている。図4に図示するように、ばね部4のX1側の端部は筒状部5と一体的に接続した構成で、連結部6で180°折り曲げられている。
ばね部4のX2側端部には、一方端部2が一体的に接続している。よって一方端部2と筒状部5はばね部4を介して接続され、連結部6と一方端部2との間にばね部4が設けられた構成となっている。
ばね部4は、筒状部5内にコンパクトに収納されるよう、蛇行形状部4aの両側部分が内側に向けて折り曲げられた構成とされている。
他方端部3は、筒状部5のX1側端部に直接形成される。これに対して一方端部2は、筒状部5内に装着されたばね部4のX2側端部に設けられている。よって一方端部2は、ばね部4が弾性変形することにより、他方端部3及び筒状部5に対して長手方向に移動可能な構成となっている。ばね部4は他方端部3に対して離間させる方向に一方端部2を付勢する。
次に、コンタクト1の製造について説明する。
図5〜図7は、コンタクト1の製造手順の一例を示している。コンタクト1を製造するには、銅又は銅を含む合金からなる金属板をプレス加工又はエッチング加工するにより、図5に示す金属板101を形成する。
金属板101は、一方端部2に対応する接点部分102、ばね部4に対応するばね部分104、他方端部3に対応する端子部分103、筒状部5に対応する筒状部105が一体的に形成されている。
接点部分102には、金属板101の形成時に一方接点21,22及び切り起こし部23が形成される。またばね部分104には、蛇行形状に形成された蛇行形状部4aが形成される。
端子部分103には、他方接点31、他方接点32、及びばね部分104と筒状部105を連絡する連結部6が形成される。筒状部105は、矩形の板形状に形成されている。
金属板101にはメッキ処理が行われる。メッキ処理は、例えば、Ni、Pd、Auをこの順でメッキしても、或いはNi、Auをこの順番でメッキしてもよい。メッキする材料は上記のものに限定されない。
続いて図6に示すように、その断面が円筒形となるよう接点部分102を曲げると共に、一方接点21,22を内側に向け近接するよう折り曲げることにより、一方端部2が形成される。また、ばね部分104の蛇行形状部4aの両側部が互いに対向するよう、両側部を略直角に折り曲げることにより、ばね部4が形成される。
続いて図6に示すように、その断面が円筒形となるよう接点部分102を曲げると共に、一方接点21,22を内側に向け近接するよう折り曲げることにより、一方端部2が形成される。また、ばね部分104の蛇行形状部4aの両側部が互いに対向するよう、両側部を略直角に折り曲げることにより、ばね部4が形成される。
次に、図7に示すように、ばね部4が筒状部105の上部に位置するよう、連結部6を180°折り曲げる。
連結部6を180°折り曲げることにより、一方端部2は筒状部105の端子部分103とは反対側の端部に位置し、端子部分103は筒状部105のX1側端部に位置した状態となる。
次に、ばね部4が内部に巻き込まれるように筒状部105を曲げ成形して、筒状部5を形成する。筒状部5が形成されると、ばね部4は筒状部5の内部に収納される。
また、一方端部2の一部は筒状部5の内部に入った状態となり、一方端部2は、筒状部5に対してスライドする構成となっている。また、一方端部2が筒状部5に対してスライドする際、ばね部4はコンタクトの長手方向に弾性変形する。
次に、端子部分103の他方接点31,32を成形する。
図8は、コンタクト1の使用態様の一例を示している。
図8では、コンタクト1をコネクタ40に適用した例を示している。コネクタ40は、上部基板50と下部基板60とを電気的に接続する。コネクタ40は、メモリテスタ、液晶パネルの検査、基板検査等に用いられ、コンタクト1はポゴピンとも称されるコンタクトピンの代替として使用される。
コネクタ40のハウジング42内には複数のコンタクト1が装着される。ハウジング42は絶縁材よりなり、複数の孔44を有している。コンタクト1は、孔44内に装着される。コンタクトが孔に装着されている状態では、一方端部2に形成された切り起こし部23は孔44の内壁に圧接する。
上部基板50と下部基板60がコネクタ40により接続された際、コンタクト1の一方端部2は上部基板50の電極パッドに圧接され、他方端部3は下部基板60の電極パッド62に圧接される。
次に、コンタクト1の他方端部3について説明する。
他方端部3は、図9に拡大して示すように、他方接点31,32を有している。尚、図9(A)は他方端部3を上に向けた状態のコンタクト1の斜視図であり、図9(B)は図9(A)に矢印Aで示す破線で囲った部分を拡大して示す図である。
他方接点31,32は、それぞれ可撓部31a,32aと接触部31b,32bを有している。また他方接点32は、ロック部32dを有している。
尚、本実施形態では2個の他方接点31,32が設けられた例を示しているが、他方接点の数は単数でもよく、また3個以上としてもよい。他方接点の配設数を増やすことにより、ひとつの他方接点が電極パッドと接続不良を起こしても、他の他方接点が電極パッドと接続するため、コンタクト1と電極パッド62との電気的接続の信頼性を高めることができる。
可撓部31a,32aは、そのX2側端部が筒状部5に接続されている。また可撓部31a,32aは、図5に示すようにコンタクト1を展開した状態において蛇行した形状とされている。
可撓部31a,32aは、展開した状態において蛇行形状を有している(図5参照)。また可撓部31a,32aは、筒状部5を円筒形状に成形する際に、同時に円筒状に成形される。円筒形状に成形された状態において、可撓部31a,32aにはそれぞれスリット31c,32cが形成される。
接触部31b,32bは、他方接点32の可撓部31a,32aが形成された端部に対し反対側の端部に形成されている。可撓部31a,32aから接触部31b,32bに至る部分は、内側に向け曲げられており、接触部31b,32bは互いに近接した状態となっている。
接触部31b,32bは湾曲している。よって接触部31b,32bは電極パッド62上で移動しやすくなっている。
図2(A),図9,図11に示されるように、接触部31bと接触部32bは撓んだ際に交差することが可能なようにずらして配設されている。
ロック部32dは、他方接点32の可撓部32aと接触部32bとの間に形成されている。ロック部32dは、他方接点32の側部から側方に向けて突出するよう形成されている。またロック部32dは、他方接点31と対向するよう形成されている。
次に図10を用いて、コンタクト1が電極パッド62に押圧された時の他方端部3の動作について説明する。尚、図10は他方端部3と電極パッド62との接続位置を拡大して示す底面図である。
図10(A)は、他方端部3が電極パッド62に接した直後の状態を示している。即ち、図10(A)は他方接点31,32に押圧力が印加されてない状態を示している。以下、図10(A)の状態を押圧前状態という。押圧前状態においては、他方接点31,32の接触部31b,32bは、接触部31b,32bの面方向に隣り合うように並設された状態となっている。
可撓部31a,32aは、スリット31cが形成されていることにより、他方端部の他の部位に比べて変形し易い。よって、電極パッドに接触したコンタクト1が電極パッド62に向け押圧されると、他方接点31は筒状部5に対して内側方向(図9及び図10(A)矢印B方向)に向けて変形し、他方接点32も筒状部5に対して内側方向(図9及び図10(A)矢印C方向)に変形する。
図10(A)の状態からコンタクト1が更に電極パッド62に押圧され、他方接点31がB方向に変形すると、電極パッド62と接している接触部31bは、図10(B)に示すように電極パッド62の表面を矢印Dで示す方向に移動する。また、他方接点32がC方向に変形すると、電極パッド62と接している接触部32bは、図10(B)に示すように電極パッド62の表面を矢印Eで示す方向に移動する。
このように、電極パッド62に圧接される接触部31b,32bが電極パッド62の表面をD,E方向に移動するため、電極パッド62に塵埃が付着していたとしても、塵埃は接触部31b,32bにより除去される。よって、電極パッド62に付着した塵埃によりコンタクト1と電極パッド62との間に接触不良が発生することを防止でき、コンタクト1と電極パッド62との接続信頼性を高めることができる。
また本実施形態では、接触部31bと接触部32bが、各接触部31b,32bの面方向にずれているため、電極パッド62の面上で接触部31bと接触部32bが移動した際、図10(B)に示すように接触部31bと接触部32bは互いに交差した状態となる。
よって、接触部31bと接触部32bが互いに干渉するようなことはなく、接触部31b,32bの移動が確保されるため、確実にワイピングを行うことができる。
しかしながら、接触部31bがD方向に、また接触部32bがE方向に移動しすぎると、各接触部31b,32bの間隔が開き過ぎてしまうため、接触部31b,32bが電極パッド62から離脱してしまい、コンタクト1と電極パッド62との接触不良が発生するおそれがある。
他方接点32に形成されたロック部32dは、他方接点31と対向するよう形成されており、図10(C)示すように、接触部31b及び接触部32bが電極パッド62の端部まで移動した際、他方接点31がロック部32dに係合する。図11に示すように、他方端部3がロック部32dと係合することにより、他方接点31のB方向への変形、及び他方接点32のC方向への変形が規制される。よって、ロック部32dを設けることにより、接触部31b,32bが電極パッド62から離脱することを防止でき、コンタクト1と電極パッド62との接続信頼性を高めることができる。
以上、本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は上記した特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能なものである。
1 コンタクト
2 一方端部
3 他方端部
4 ばね部
5 筒状部
6 連結部
21,22 一方接点
23 切り起こし部
31,32 他方接点
31a,32a 可撓部
31b,32b 接触部
31c,32c スリット
32d ロック部
40 コネクタ
42 ハウジング
44 孔
50 上部基板
60 下部基板
62 電極パッド
2 一方端部
3 他方端部
4 ばね部
5 筒状部
6 連結部
21,22 一方接点
23 切り起こし部
31,32 他方接点
31a,32a 可撓部
31b,32b 接触部
31c,32c スリット
32d ロック部
40 コネクタ
42 ハウジング
44 孔
50 上部基板
60 下部基板
62 電極パッド
Claims (5)
- 筒状部と、
前記筒状部の一端に、前記筒状部に対して移動可能とされた一方端部と、
前記筒状部の他端に形成された他方端部と、
前記筒状部の内部に配設され、前記一方端部を前記他方端部に対して離間させる方向に付勢するばね部とを有し、
前記一方端部、前記他方端部、前記ばね部、及び前記筒状部が、一枚の板金から一体的に形成されたコンタクトであって、
前記他方端部は、被接触対象に接触する端子部と、前記端子部と前記筒状部との間に配設された可撓部とを有し、
前記端子部が被接触対象面に押圧された際、前記可撓部が撓むことにより前記端子部が前記被接触対象面の面上を移動することを特徴とするコンタクト。 - 前記可撓部は、蛇行形状を有することを特徴とする請求項1記載のコンタクト。
- 前記端子部を複数有することを特徴とする請求項1又は2記載のコンタクト。
- 前記端子部を2個設けると共に、2個の前記端子部が互いに交差するよう配置されていることを特徴とする請求項3記載のコンタクト。
- 前記端子部が、前記被接触対象面から離脱する位置まで撓むのを規制するロック部を設けたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のコンタクト。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015098114A JP2016212040A (ja) | 2015-05-13 | 2015-05-13 | コンタクト |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015098114A JP2016212040A (ja) | 2015-05-13 | 2015-05-13 | コンタクト |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2016212040A true JP2016212040A (ja) | 2016-12-15 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2015098114A Pending JP2016212040A (ja) | 2015-05-13 | 2015-05-13 | コンタクト |
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JP (1) | JP2016212040A (ja) |
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- 2015-05-13 JP JP2015098114A patent/JP2016212040A/ja active Pending
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2016
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