JP2016207727A - リード端子付き積層セラミック電子部品 - Google Patents
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Abstract
【課題】高温環境下の使用における外観上の樹脂の変色を抑制することができ、且つヒートサイクルや実装時のリード加工時における樹脂クラックやマタ裂きクラックを抑制することのできるリード端子付き積層セラミック電子部品を提供する。【解決手段】複数の積層されたセラミック層24からなり、セラミック素体14と、セラミック素体14の第1および第2の端面の表面に形成される第1および第2の外部電極16a,16bと、を有するリード端子付き積層セラミック電子部品10であって、セラミック素体14の全体、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの一部、並びに第1および第2の端子接合用はんだ18a,18bを被覆するエポキシ樹脂を含む第1の外装樹脂層42と、第1の外装樹脂層42を被覆するシリコーン樹脂を含む第2の外装樹脂層44と、を有する。【選択図】図1
Description
この発明は、リード端子付き積層セラミック電子部品に関し、たとえば、積層セラミックコンデンサ等の電子部品本体と、電子部品本体を被覆する外装樹脂とを備えた、リード端子付き積層セラミック電子部品に関する。
従来から、抵抗、コンデンサ、圧電部品、半導体装置などの電子部品において、特許文献1や特許文献2のように、電子部品素子(電子部品本体)を熱硬化型の外装樹脂により被覆し、電気絶縁性を確保するとともに、電子部品素子を応力、湿度、熱などの外部環境から保護することが行われている。
特許文献1に記載のリード端子付き積層セラミック電子部品は、内部電極端面を露出した2つの端面に外部電極を被着形成したうえ、外部電極上にリード端子を固着接続し全体を絶縁性樹脂(たとえば、エポキシ樹脂)で被覆してなる。
また、特許文献2に記載のリード端子付き積層セラミック電子部品は、内部電極層を有する少なくとも一つのセラミック製の素子本体と、素子本体の両端面にそれぞれ取り付けられるリード端子と、素子本体とリード端子の一部を一体的に覆う外装樹脂(たとえば、エポキシ樹脂)とを有する。
しかしながら、近年、車載市場を中心に、より高温環境下で電子部品本体を外装樹脂で被覆した電子部品が使用されるようになってきている。このような、より高温になる温度環境下で、特許文献1や特許文献2のように、外装樹脂としてエポキシ樹脂により電子部品本体を被覆したリード端子付き積層セラミック電子部品を使用した場合、樹脂の変色が発生したり、樹脂の酸化による劣化が進み、靭性を失い、ヒートサイクルによる樹脂クラックが発生するといった問題が生じることがあった。
そこで、エポキシ樹脂よりも耐熱性の優れるシリコーン樹脂で電子部品本体を被覆することも考えられるが、シリコーン樹脂層では、高温領域での変色は抑制できるものの、樹脂自体の強靭性に乏しいため、実装時にリード線を加工する際等に、マタ裂きクラックおよび製品破断が発生するという問題があった。
それゆえに、この発明の主たる目的は、高温環境下の使用における外観上の樹脂の変色を抑制することができ、且つヒートサイクルや実装時のリード加工時における樹脂クラックやマタ裂きクラックを抑制することのできるリード端子付き積層セラミック電子部品を提供することである。
この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品は、複数の積層されたセラミック層からなり、互いに対向する第1の主面および第2の主面と、互いに対向する第1の側面および第2の側面と、互いに対向する第1の端面および第2の端面とを有するセラミック素体と、第1の端面の表面に形成される第1の外部電極、および第2の端面の表面に形成される第2の外部電極と、を有する電子部品本体と、第1の外部電極に電気的に接続される第1のリード端子、および第2の外部電極に電気的に接続される第2のリード端子と、第1の外部電極と第1のリード端子とを接合するための第1の端子接合用はんだ、および第2の外部電極と第2のリード端子とを接合するための第2の端子接合用はんだと、を有するリード端子付き積層セラミック電子部品であって、電子部品本体の全体、第1のリード端子および第2のリード端子のそれぞれの一部、並びに第1の端子接合用はんだおよび第2の端子接合用はんだを被覆するエポキシ樹脂を含む第1の外装樹脂層と、第1の外装樹脂層を被覆するシリコーン樹脂を含む第2の外装樹脂層と、を有することを特徴とする、リード端子付き積層セラミック電子部品である。
また、この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品は、第1の外装樹脂層が、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含む、リード端子付き積層セラミック電子部品であることが好ましい。
さらに、この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品は、第2の外装樹脂層が、シリコーン樹脂主剤を5%以上20%以下、フィラーを80%以上95%以下含む、リード端子付き積層セラミック電子部品であることが好ましい。
また、この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品は、第1の外装樹脂層が、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含む、リード端子付き積層セラミック電子部品であることが好ましい。
さらに、この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品は、第2の外装樹脂層が、シリコーン樹脂主剤を5%以上20%以下、フィラーを80%以上95%以下含む、リード端子付き積層セラミック電子部品であることが好ましい。
この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品によれば、外装樹脂層を2層で形成し、1層目に高強度のエポキシ樹脂層を形成することで、アキシャル方向への引っ張り強度を確保することができ、2層目にエポキシ樹脂よりも耐熱性の優れるシリコーン樹脂層を形成することで、優れた耐熱性を確保できるため、高温環境下での外観上の樹脂の変色などを抑制することができるリード端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。
また、この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品において、第1の外装樹脂層が、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含むと、外装樹脂としてよりアキシャル方向への引っ張り強度を確保しうるリード端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。
さらに、この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品において、第2の外装樹脂層が、シリコーン樹脂主剤を5%以上20%以下、フィラーを80%以上95%以下含むと、高温環境下での外観上の樹脂の変色をより抑制し、耐熱性に優れたリード端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。また、樹脂へのクラックを効果的に抑制することができる。
また、この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品において、第1の外装樹脂層が、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含むと、外装樹脂としてよりアキシャル方向への引っ張り強度を確保しうるリード端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。
さらに、この発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品において、第2の外装樹脂層が、シリコーン樹脂主剤を5%以上20%以下、フィラーを80%以上95%以下含むと、高温環境下での外観上の樹脂の変色をより抑制し、耐熱性に優れたリード端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。また、樹脂へのクラックを効果的に抑制することができる。
この発明によれば、高温環境下の使用における外観上の樹脂の変色を抑制することができ、且つヒートサイクルや実装時のリード加工時における樹脂クラックやマタ裂きクラックを抑制することのできるリード端子付き積層セラミック電子部品を提供し得る。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点は、図面を参照して行う以下の発明を実施するための形態の説明から一層明らかとなろう。
1.リード端子付き積層セラミック電子部品
この発明の一実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品について説明する。図1は、この実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品を示す断面図である。また、図2は、この実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品が備える積層セラミックコンデンサである電子部品本体を示す断面図である。また、図3は、この実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品を示す外観図である。
この発明の一実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品について説明する。図1は、この実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品を示す断面図である。また、図2は、この実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品が備える積層セラミックコンデンサである電子部品本体を示す断面図である。また、図3は、この実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品を示す外観図である。
この実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品10は、積層セラミック電子部品である電子部品本体12を備える。電子部品本体12は、セラミック素体14と、第1および第2の外部電極16a,16bとにより構成される。また、リード端子付きセラミック電子部品10は、電子部品本体12の第1および第2の外部電極16a、16bのそれぞれに、第1および第2の端子接合用はんだ18a,18bのそれぞれによって接合される、第1および第2のリード端子20a,20bを備える。リード端子付き積層セラミック電子部品10は、電子部品本体12の全体、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの一部、並びに第1および第2の端子接合用はんだ18a,18bを一体的に被覆する外装樹脂22をさらに含む。外装樹脂22は、第1の外装樹脂層42と、第1の外装樹脂層42の表面を被覆する第2の外装樹脂層44とを備える。
2.セラミック素体
セラミック素体14は、複数の積層されたセラミック層14から構成され、互いに対向する第1の主面および第2の主面と、互いに対向する第1の側面および第2の側面と、互いに対向する第1の端面および第2の端面とを有する。第1の主面および第2の主面は、それぞれ、長さ方向Lおよび幅方向Wに沿って延在する。第1の側面および第2の側面は、それぞれ、長さ方向Lおよび厚み方向Tに沿って延在する。第1の端面および第2の端面は、それぞれ、幅W方向および厚み方向Tに沿って延在する。したがって、長さ方向Lとは、一対の端面同士を結んだ方向であり、幅方向Wとは、一対の側面同士を結んだ方向であり、厚み方向Tとは、一対の主面同士を結んだ方向である。
セラミック素体14は、複数の積層されたセラミック層14から構成され、互いに対向する第1の主面および第2の主面と、互いに対向する第1の側面および第2の側面と、互いに対向する第1の端面および第2の端面とを有する。第1の主面および第2の主面は、それぞれ、長さ方向Lおよび幅方向Wに沿って延在する。第1の側面および第2の側面は、それぞれ、長さ方向Lおよび厚み方向Tに沿って延在する。第1の端面および第2の端面は、それぞれ、幅W方向および厚み方向Tに沿って延在する。したがって、長さ方向Lとは、一対の端面同士を結んだ方向であり、幅方向Wとは、一対の側面同士を結んだ方向であり、厚み方向Tとは、一対の主面同士を結んだ方向である。
この実施の形態にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品10は、セラミック素体14が、直方体状に形成される。しかしながら、セラミック素体14の形状は特に限定されない。また、セラミック素体14は、コーナー部および稜線部に丸みがつけられていることが好ましい。
また、セラミック素体14は、複数のセラミック層24に挟まれるように形成される第1および第2の内部電極26a,26bを有する。
セラミック素体14は、リード端子付き積層セラミック電子部品10の機能に応じた適宜のセラミック材料からなる。セラミック素体14は、例えば、誘電体セラミック材料により形成することができる。誘電体セラミック材料としては、例えば、BaTiO3,CaTiO3,SrTiO3,CaZrO3などが主成分として挙げられる。なお、セラミック素体14が、上記の誘電体セラミック材料を主成分として含む場合、所望する電子部品本体12の特性に応じて、例えば、Mn化合物,Mg化合物,Si化合物,Fe化合物,Cr化合物,Co化合物,Ni化合物,希土類化合物などの副成分を適宜添加してもよい。その他、PZT系セラミックなどの圧電体セラミック、スピネル系セラミックなどの半導体セラミックなどを用いることもできる。
なお、この実施の形態にかかるセラミック素体14は、誘電体セラミックからなる。したがって、電子部品本体12は、コンデンサとして機能する。
一方、セラミック素体14に、圧電体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、セラミック圧電素子として機能する。圧電セラミック材料の具体例としては、例えば、PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)系セラミック材料などが挙げられる。
また、セラミック素体14に、半導体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、サーミスタ素子として機能する。半導体セラミック材料の具体例としては、例えば、スピネル系セラミック材料などが挙げられる。
また、セラミック素体14に、磁性体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、インダクタ素子として機能する。また、インダクタ素子として機能する場合は、内部電極26は、コイル状の導体となる。磁性体セラミック材料の具体例としては、例えば、フェライトセラミック材料などが挙げられる。
一方、セラミック素体14に、圧電体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、セラミック圧電素子として機能する。圧電セラミック材料の具体例としては、例えば、PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)系セラミック材料などが挙げられる。
また、セラミック素体14に、半導体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、サーミスタ素子として機能する。半導体セラミック材料の具体例としては、例えば、スピネル系セラミック材料などが挙げられる。
また、セラミック素体14に、磁性体セラミックを用いた場合、電子部品本体12は、インダクタ素子として機能する。また、インダクタ素子として機能する場合は、内部電極26は、コイル状の導体となる。磁性体セラミック材料の具体例としては、例えば、フェライトセラミック材料などが挙げられる。
セラミック素体14の寸法は、その長さ寸法をDL、その幅寸法をDW、その厚み寸法をDTとしたとき、DL=0.4mm以上5.7mm以下、DW=0.2mm以上5.0mm以下、DT=0.2mm以上2.7mm以下であることが好ましい。しかしながら、セラミック素体14の寸法は、特に限定されない。また、焼成後のセラミック層24の厚みは、0.5μm以上10μm以下であることが好ましい。
3.内部電極
セラミック素体14の内部には、図2に示すように、第1および第2の内部電極26a,26bが配置される。第1の内部電極26aは、セラミック素体14の第1の端面に露出している。しかしながら、第1の内部電極26aは、第2の端面、第1の側面および第2の側面には露出していない。第1の内部電極26aは、セラミック層24の内部を長さ方向Lに沿ってのびるように配置される第1の対向部28aと、セラミック素体14の第1の端面に露出するように引き出される第1の引出部30aとを有する。また、第2の内部電極26bは、セラミック素体14の第2の端面に露出している。しかしながら、第2の内部電極26bは、第1の端面、第1の側面および第2の側面には露出していない。第2の内部電極26bは、セラミック層24の内部を長さ方向Lに沿ってのびるように配置される第2の対向部28bと、セラミック素体14の第2の端面に露出するように引き出される第2の引出部30bとを有する。
セラミック素体14の内部には、図2に示すように、第1および第2の内部電極26a,26bが配置される。第1の内部電極26aは、セラミック素体14の第1の端面に露出している。しかしながら、第1の内部電極26aは、第2の端面、第1の側面および第2の側面には露出していない。第1の内部電極26aは、セラミック層24の内部を長さ方向Lに沿ってのびるように配置される第1の対向部28aと、セラミック素体14の第1の端面に露出するように引き出される第1の引出部30aとを有する。また、第2の内部電極26bは、セラミック素体14の第2の端面に露出している。しかしながら、第2の内部電極26bは、第1の端面、第1の側面および第2の側面には露出していない。第2の内部電極26bは、セラミック層24の内部を長さ方向Lに沿ってのびるように配置される第2の対向部28bと、セラミック素体14の第2の端面に露出するように引き出される第2の引出部30bとを有する。
第1の内部電極26aと、第2の内部電極26bとは、セラミック層24を介して交互に積層される。第1の内部電極26aの第1の対向部28aと、第2の内部電極26bの第2の対向部28bとが、セラミック層24を介して互いに対向するように配置され、この対向部分により電気特性(例えば、静電容量など)が発生する。第1および第2の内部電極26a,26bそれぞれの厚みは、0.2μm以上2μm以下であることが好ましい。第1および第2の内部電極26a,26bは、適宜の導電材料により構成することができる。第1および第2の内部電極26a,26bは、例えば、Ni,Cu,Ag,Pd,Auなどの金属や、これらの金属の一種を含む例えばAg−Pd合金などの合金により構成することができる。
4.外部電極
セラミック素体14の外部には、図1に示すように、第1および第2の外部電極16a,16bが配置される。第1の外部電極16aは、セラミック素体14の第1の端面において、第1の内部電極26aに電気的に接続される。また、第1の外部電極16aは、セラミック素体14の第1の端面から、第1の主面および第2の主面のそれぞれの一部、並びに第1の側面および第2の側面のそれぞれの一部に至るように形成される。一方、第2の外部電極16bは、セラミック素体14の第2の端面において、第2の内部電極26bに電気的に接続される。また、第2の外部電極16bは、セラミック素体14の第2の端面から、第1の主面および第2の主面のそれぞれの一部、並びに第1の側面および第2の側面のそれぞれの一部に至るように形成される。
セラミック素体14の外部には、図1に示すように、第1および第2の外部電極16a,16bが配置される。第1の外部電極16aは、セラミック素体14の第1の端面において、第1の内部電極26aに電気的に接続される。また、第1の外部電極16aは、セラミック素体14の第1の端面から、第1の主面および第2の主面のそれぞれの一部、並びに第1の側面および第2の側面のそれぞれの一部に至るように形成される。一方、第2の外部電極16bは、セラミック素体14の第2の端面において、第2の内部電極26bに電気的に接続される。また、第2の外部電極16bは、セラミック素体14の第2の端面から、第1の主面および第2の主面のそれぞれの一部、並びに第1の側面および第2の側面のそれぞれの一部に至るように形成される。
第1の外部電極16aは、第1の下地電極層と、第1の下地電極層の表面を覆うように形成される第1のめっき層とにより構成されることが好ましい。同様に、第2の外部電極層16bは、第2の下地電極層と、第2の下地電極層の表面を覆うように形成される第2のめっき層とにより構成されることが好ましい。
第1および第2の下地電極層は、金属粉およびガラス粉などにより形成されることが好ましい。第1および第2の下地電極層の金属粉は、適宜の金属により構成することができる。第1および第2の下地電極層は、例えば、Cu,Ni,Sn,Ag,Pd,Au,Ag−Pd合金などの金属により構成することができる。第1および第2の下地電極層は、第1および第2の内部電極26a,26bと同時焼成したコファイアにより形成されてもよいし、導電性ペーストを塗布して焼き付けたポストファイアにより形成されてもよい。また、直接めっきにより形成されていてもよいし、熱硬化性樹脂を含む導電性樹脂を硬化させることにより形成されてもよい。第1および第2の下地電極層の厚みは、1μm以上20μm以下であることが好ましい。
第1および第2のめっき層は、例えば、Cu,Ni,Ag,Pd,Ag−Pd合金、Auなどを用いることが好ましい。また、第1および第2のめっき層は、複数層により構成されてもよい。例えば、第1および第2の内部電極26a,26bとしてNiを用いた場合、第1および第2のめっき層の下地めっき膜には、Niと接合性のよいCuを用いることが好ましい。また、下地めっき膜の表面に形成される上層めっき膜第1層には、はんだバリア性能を有するNiを用いることが好ましい。また、上層めっき膜第1層の表面に形成される上層めっき膜第2層には、はんだ濡れ性のよいSnやAuを用いることが好ましい。なお、第1および第2のめっき層は、下地めっき膜のみ、すなわち、一層のみから構成されてもよい。第1および第2のめっき層の厚みは、1μm以上10μm以下であることが好ましい。
5.端子接合用はんだ
第1の端子接合用はんだ18aは、セラミック素体14の第1の端面に形成された第1の外部電極16aと、第1のリード端子20aとを互いに接合するために形成される。また、第2の端子接合用はんだ18bは、セラミック素体14の第2の端面に形成された第2の外部電極16bと、第2のリード端子20bとを互いに接合するために形成される。第1および第2の端子接合用はんだ18a,18bには、Sn−Sb系,Sn−Ag−Cu系,Sn−Cu系,Sn−Bi系などの鉛フリーはんだを用いることが好ましい。
第1の端子接合用はんだ18aは、セラミック素体14の第1の端面に形成された第1の外部電極16aと、第1のリード端子20aとを互いに接合するために形成される。また、第2の端子接合用はんだ18bは、セラミック素体14の第2の端面に形成された第2の外部電極16bと、第2のリード端子20bとを互いに接合するために形成される。第1および第2の端子接合用はんだ18a,18bには、Sn−Sb系,Sn−Ag−Cu系,Sn−Cu系,Sn−Bi系などの鉛フリーはんだを用いることが好ましい。
6.リード端子
第1のリード端子20aは、第1の端子接合用はんだ18aによって、セラミック素体14の第1の端面に形成された第1の外部電極16aに接合される。また、第2のリード端子20bは、第2の端子接合用はんだ18bによって、セラミック素体14の第2の端面に形成された第2の外部電極16bに接合される。
第1のリード端子20aは、第1の端子接合用はんだ18aによって、セラミック素体14の第1の端面に形成された第1の外部電極16aに接合される。また、第2のリード端子20bは、第2の端子接合用はんだ18bによって、セラミック素体14の第2の端面に形成された第2の外部電極16bに接合される。
第1および第2のリード端子20a,20bは、リード線からなる。第1および第2のリード端子20a,20bの形状は特に限定されないが、断面円形状であることが好ましい。第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれが断面円形状である場合、各々の直径は、0.4mm以上0.8mm以下であることが好ましい。第1および第2のリード端子20a,20bは、各々の直径が0.4mm以下である場合、製品加工時や実装時および実負荷時に破断する可能性がある。また、第1および第2のリード端子20a,20bは、各々の直径が0.8mm以上である場合、スルーホール基板実装や溶接実装に対する適合性に乏しくなる可能性がある。
第1および第2のリード端子20a,20bは、リード本体と、リード本体の表面に形成されためっき膜とを有する。リード本体は、Ni,Fe,Cu,Ag,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金によって形成される。好ましくは、リード本体は、Ni,Fe,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金によって形成される。Ni,Fe,Crは、融点が高い。したがって、リード本体を、Ni,Fe,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金によって形成することにより、第1および第2の外部電極16a,16bの耐熱性を向上させることができる。具体的には、リード本体の母材は、例えば、Fe−42Ni合金やFe−18Cr合金とすることができる。
第1および第2のリード端子20a,20bのめっき膜は、リード本体の表面に形成され、リード本体の母材部分を覆う。第1および第2のリード端子20a,20bのめっき膜は、下層めっき膜と、上層めっき膜とを有する。下層めっき膜は、リード本体の表面に形成される。下層めっき膜は、Ni,Fe,Cu,Ag,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金によって形成される。好ましくは、下層めっき膜は、Ni,Fe,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金によって形成される。Ni,Fe,Crは、融点が高い。したがって、下層めっき膜を、Ni,Fe,Crまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金によって形成することにより、第1および第2の外部電極16a,16bの耐熱性を向上させることができる。下層めっき膜の厚みは、1.0μm以上5.0μm以下程度であることが好ましい。なお、下層めっき膜は、複数のめっき膜により構成されてもよい。
上層めっき膜は、下層めっき膜の表面に形成される。上層めっき膜は、Sn,Cu,Ag,Auまたはこれらの金属のうちの一種以上の金属を主成分として含む合金によって形成される。好ましくは、上層めっき膜は、SnまたはSnを主成分として含む合金によって形成される。上層めっき膜を、SnまたはSnを主成分として含む合金によって形成することにより、リード端子20と外部電極16のはんだ付き性を向上させることができる。上層めっき膜の厚みは、1.0μm以上5.0μm以下程度であることが好ましい。なお、上層めっき膜は、複数のめっき膜により構成されてもよい。
第1および第2のリード端子20a,20bは、その長手方向に対して折り曲げられた(すなわち、長手方向に対して直線状ではない)曲折部を有してもよい。このような曲折部を有することにより、実装基板の形状に適したリード形状を確保することができ、且つ第1のリード端子20aと、第2のリード端子20bとの間の距離を確保することができる。なお、第1のリード端子20aと、第2のリード端子20bとの間の距離を確保することにより、特に、高電圧がかかる場合において、第1のリード端子20aと、第2のリード端子20bとの間での放電を回避することが可能となる。
7.外装樹脂
外装樹脂22は、第1の外装樹脂層42と、第1の外装樹脂層42の表面を被覆する第2の外装樹脂層44とを備える。第1の外装樹脂層42は、エポキシ樹脂を含む。第1の外装樹脂層42は、電子部品本体12の全体、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの一部、並びに第1および第2の端子接合用はんだ18a,18bを一体的に被覆する。すなわち、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの第1の外装樹脂層42に被覆されない残りの部分が、第1の外装樹脂層42から飛び出した態様となる。第1の外装樹脂層42は、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含むのが好ましい。第1の外装樹脂層42が、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含むと、外装樹脂としてよりアキシャル方向への引っ張り強度を確保しうるリード端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。さらに、第1の外装樹脂層42のエポキシ樹脂には、顔料成分などが微量添加される。なお、第1の外装樹脂層42のフィラーとしては、例えば、シリカなどを用いることが好ましい。
外装樹脂22は、第1の外装樹脂層42と、第1の外装樹脂層42の表面を被覆する第2の外装樹脂層44とを備える。第1の外装樹脂層42は、エポキシ樹脂を含む。第1の外装樹脂層42は、電子部品本体12の全体、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの一部、並びに第1および第2の端子接合用はんだ18a,18bを一体的に被覆する。すなわち、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの第1の外装樹脂層42に被覆されない残りの部分が、第1の外装樹脂層42から飛び出した態様となる。第1の外装樹脂層42は、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含むのが好ましい。第1の外装樹脂層42が、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含むと、外装樹脂としてよりアキシャル方向への引っ張り強度を確保しうるリード端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。さらに、第1の外装樹脂層42のエポキシ樹脂には、顔料成分などが微量添加される。なお、第1の外装樹脂層42のフィラーとしては、例えば、シリカなどを用いることが好ましい。
第2の外装樹脂層44は、シリコーン樹脂を含む。第2の外装樹脂層44は、第1の外装樹脂層42の全体、並びに第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの一部を、一体的に被覆する。すなわち、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの第2の外装樹脂層44に被覆されない残りの部分が、第2の外装樹脂層44から飛び出した態様となる。そして、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの第2の外装樹脂層44に被覆されない残りの部分が、例えば、プリント基板やフレキシブル基板などに接続される。第2の外装樹脂層44は、シリコーン樹脂主剤を5%以上20%以下、フィラーを80%以上95%以下含むのが好ましい。第2の外装樹脂層44が、シリコーン樹脂主剤を5%以上20%以下、フィラーを80%以上95%以下含むと、高温環境下での外観上の樹脂の変色をより抑制し、耐熱性に優れたリード端子付き積層セラミック電子部品を得ることができる。また、樹脂へのクラックを効果的に抑制することができる。さらに、第2の外装樹脂層44には、希釈溶剤が微量添加されることが好ましい。なお、第2の外装樹脂層44のフィラーとしては、例えば、シリカなどを用いることが好ましい。
8.電子部品本体の製造方法
続いて、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品が備える電子部品本体の製造方法の一実施の形態について説明する。なお、この一実施の形態では、電子部品本体が、積層セラミックコンデンサである場合について説明する。
まず、セラミックグリーンシート、内部電極用導電性ペーストおよび外部電極用導電性ペーストを準備する。セラミックグリーンシートおよび各種の導電性ペーストには、バインダおよび溶剤が含まれるが、公知の有機バインダや有機溶剤を用いることができる。
次に、セラミックグリーンシートの表面に、例えば、スクリーン印刷などにより所定のパターンで導電性ペーストを印刷し、内部電極パターンを形成する。
次に、内部電極パターンが印刷されていない外層用セラミックグリーンシートを所定枚数積層する。その表面に内部電極パターンが印刷されたセラミックグリーンシートを順次積層する。その表面に外層用セラミックグリーンシートを所定枚数積層する。このようにして、マザー積層体を作製する。
次に、マザー積層体を静水圧プレスなどの手段により積層方向にプレスする。
次に、マザー積層体を所定のサイズにカットし、生のセラミック積層体を切り出す。このとき、バレル研磨などにより積層体のコーナー部や稜部に丸みをつけてもよい。
次に、生のセラミック積層体を焼成する。焼成温度は、セラミックや内部電極の材料にもよるが、900℃以上1300℃以下であることが好ましい。なお、生のセラミック積層体の焼成は、例えば、大気中、N2雰囲気中、水蒸気+N2雰囲気中などにおいて行われる。
次に、焼成後のセラミック積層体の両端面に導電性ペーストを塗布し、焼き付け、外部電極の下地電極層を形成する。焼き付け温度は、700℃以上900℃以下であることが好ましい。なお、外部電極用導電性ペーストの焼成は、上記した生のセラミック積層体の焼成と同様に、例えば、大気中、N2雰囲気中、水蒸気+N2雰囲気中などにおいて行われる。
最後に、必要に応じて、下地電極層の表面にめっき膜を形成する。
以上のようにして、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品が備える電子部品本体である積層セラミックコンデンサを得る。
続いて、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品が備える電子部品本体の製造方法の一実施の形態について説明する。なお、この一実施の形態では、電子部品本体が、積層セラミックコンデンサである場合について説明する。
まず、セラミックグリーンシート、内部電極用導電性ペーストおよび外部電極用導電性ペーストを準備する。セラミックグリーンシートおよび各種の導電性ペーストには、バインダおよび溶剤が含まれるが、公知の有機バインダや有機溶剤を用いることができる。
次に、セラミックグリーンシートの表面に、例えば、スクリーン印刷などにより所定のパターンで導電性ペーストを印刷し、内部電極パターンを形成する。
次に、内部電極パターンが印刷されていない外層用セラミックグリーンシートを所定枚数積層する。その表面に内部電極パターンが印刷されたセラミックグリーンシートを順次積層する。その表面に外層用セラミックグリーンシートを所定枚数積層する。このようにして、マザー積層体を作製する。
次に、マザー積層体を静水圧プレスなどの手段により積層方向にプレスする。
次に、マザー積層体を所定のサイズにカットし、生のセラミック積層体を切り出す。このとき、バレル研磨などにより積層体のコーナー部や稜部に丸みをつけてもよい。
次に、生のセラミック積層体を焼成する。焼成温度は、セラミックや内部電極の材料にもよるが、900℃以上1300℃以下であることが好ましい。なお、生のセラミック積層体の焼成は、例えば、大気中、N2雰囲気中、水蒸気+N2雰囲気中などにおいて行われる。
次に、焼成後のセラミック積層体の両端面に導電性ペーストを塗布し、焼き付け、外部電極の下地電極層を形成する。焼き付け温度は、700℃以上900℃以下であることが好ましい。なお、外部電極用導電性ペーストの焼成は、上記した生のセラミック積層体の焼成と同様に、例えば、大気中、N2雰囲気中、水蒸気+N2雰囲気中などにおいて行われる。
最後に、必要に応じて、下地電極層の表面にめっき膜を形成する。
以上のようにして、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品が備える電子部品本体である積層セラミックコンデンサを得る。
9.リード端子付き積層セラミック電子部品の製造方法
続いて、上記のように製造した、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品が備える電子部品本体である積層セラミックコンデンサに、リード端子を取り付けるプロセスを説明することにより、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品の製造方法の一実施の形態について説明する。
まず、リード端子を準備する。
次に、電子部品本体である積層セラミックコンデンサの外部電極に、端子接合用はんだによってリード端子を取り付ける。
その後、浸漬塗装方法により、液状エポキシ樹脂または粉体エポキシ樹脂を、リード端子が取り付けられた電子部品本体に塗装し、樹脂硬化を行う。硬化温度は、エポキシ樹脂の材料にもよるが、150℃以上200℃以下であることが好ましい。
最後に、第1の外装樹脂層の表面に、浸漬塗装方法により、液状シリコーン樹脂を塗装し、気中乾燥による溶剤揮発、および樹脂硬化を行う。硬化温度は、シリコーン樹脂の材料にもよるが、150℃以上200℃以下であることが好ましい。
上記のようにして、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品を得る。
続いて、上記のように製造した、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品が備える電子部品本体である積層セラミックコンデンサに、リード端子を取り付けるプロセスを説明することにより、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品の製造方法の一実施の形態について説明する。
まず、リード端子を準備する。
次に、電子部品本体である積層セラミックコンデンサの外部電極に、端子接合用はんだによってリード端子を取り付ける。
その後、浸漬塗装方法により、液状エポキシ樹脂または粉体エポキシ樹脂を、リード端子が取り付けられた電子部品本体に塗装し、樹脂硬化を行う。硬化温度は、エポキシ樹脂の材料にもよるが、150℃以上200℃以下であることが好ましい。
最後に、第1の外装樹脂層の表面に、浸漬塗装方法により、液状シリコーン樹脂を塗装し、気中乾燥による溶剤揮発、および樹脂硬化を行う。硬化温度は、シリコーン樹脂の材料にもよるが、150℃以上200℃以下であることが好ましい。
上記のようにして、本発明にかかるリード端子付き積層セラミック電子部品を得る。
上記したように、この実施の形態に係るリード端子付き積層セラミック電子部品10は、電子部品本体12の全体、第1および第2のリード端子20a,20bのそれぞれの一部、並びに第1および第2の端子接合用はんだ18a,18bを被覆する1層目としての第1の外装樹脂層42と、1層目としての第1の外装樹脂層42の全体を被覆する2層目としての第2の外装樹脂層44とを含む外装樹脂22を備える。
そして、1層目としての第1の外装樹脂層42が、高強度のエポキシ樹脂層で形成されることにより、アキシャル方向への引っ張り強度を確保することができる。さらに、2層目としての第2の外装樹脂層44が、エポキシ樹脂よりも耐熱性に優れたシリコーン樹脂層で形成されることにより、優れた耐熱性を確保でき、高温環境下での外観上の樹脂の変色などを抑制することができる。したがって、高温環境下の使用における外観上の樹脂変色、および実装時のリード加工時におけるマタ裂きクラックやヒートサイクルによる樹脂クラックなどを抑制することができるリード端子付き積層セラミック電子部品10を得ることができる。
そして、1層目としての第1の外装樹脂層42が、高強度のエポキシ樹脂層で形成されることにより、アキシャル方向への引っ張り強度を確保することができる。さらに、2層目としての第2の外装樹脂層44が、エポキシ樹脂よりも耐熱性に優れたシリコーン樹脂層で形成されることにより、優れた耐熱性を確保でき、高温環境下での外観上の樹脂の変色などを抑制することができる。したがって、高温環境下の使用における外観上の樹脂変色、および実装時のリード加工時におけるマタ裂きクラックやヒートサイクルによる樹脂クラックなどを抑制することができるリード端子付き積層セラミック電子部品10を得ることができる。
なお、この発明は、前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変形される。
10 リード端子付き積層セラミック電子部品
12 電子部品本体
14 セラミック素体
16a 第1の外部電極
16b 第2の外部電極
18a 第1の端子接合用はんだ
18b 第2の端子接合用はんだ
20a 第1のリード端子
20b 第2のリード端子
22 外装樹脂
24 セラミック層
26a 第1の内部電極
26b 第2の内部電極
28a 第1の対向部
28b 第2の対向部
30a 第1の引出し部
30b 第2の引出し部
42 第1の外装樹脂層
44 第2の外装樹脂層
12 電子部品本体
14 セラミック素体
16a 第1の外部電極
16b 第2の外部電極
18a 第1の端子接合用はんだ
18b 第2の端子接合用はんだ
20a 第1のリード端子
20b 第2のリード端子
22 外装樹脂
24 セラミック層
26a 第1の内部電極
26b 第2の内部電極
28a 第1の対向部
28b 第2の対向部
30a 第1の引出し部
30b 第2の引出し部
42 第1の外装樹脂層
44 第2の外装樹脂層
Claims (3)
- 複数の積層されたセラミック層からなり、互いに対向する第1の主面および第2の主面と、互いに対向する第1の側面および第2の側面と、互いに対向する第1の端面および第2の端面とを有するセラミック素体と、前記第1の端面の表面に形成される第1の外部電極、および前記第2の端面の表面に形成される第2の外部電極と、を有する電子部品本体と、
前記第1の外部電極に電気的に接続される第1のリード端子、および前記第2の外部電極に電気的に接続される第2のリード端子と、
前記第1の外部電極と前記第1のリード端子とを接合するための第1の端子接合用はんだ、および前記第2の外部電極と前記第2のリード端子とを接合するための第2の端子接合用はんだと、
を有するリード端子付き積層セラミック電子部品であって、
前記電子部品本体の全体、前記第1のリード端子および前記第2のリード端子のそれぞれの一部、並びに前記第1の端子接合用はんだおよび前記第2の端子接合用はんだを被覆するエポキシ樹脂を含む第1の外装樹脂層と、
前記第1の外装樹脂層を被覆するシリコーン樹脂を含む第2の外装樹脂層と、
を有することを特徴とする、リード端子付き積層セラミック電子部品。 - 前記第1の外装樹脂層は、エポキシ主剤を20%以上30%以下、フィラーを50%以上60%以下、リン系難燃剤を5%以上10%以下含む、請求項1に記載のリード端子付き積層セラミック電子部品。
- 前記第2の外装樹脂層は、シリコーン樹脂主剤を5%以上20%以下、フィラーを80%以上95%以下含む、請求項1に記載のリード端子付き積層セラミック電子部品。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015084673A JP2016207727A (ja) | 2015-04-17 | 2015-04-17 | リード端子付き積層セラミック電子部品 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021190592A (ja) * | 2020-06-01 | 2021-12-13 | 株式会社村田製作所 | インダクタ部品、及びインダクタ部品の製造方法 |
-
2015
- 2015-04-17 JP JP2015084673A patent/JP2016207727A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2021190592A (ja) * | 2020-06-01 | 2021-12-13 | 株式会社村田製作所 | インダクタ部品、及びインダクタ部品の製造方法 |
JP7298549B2 (ja) | 2020-06-01 | 2023-06-27 | 株式会社村田製作所 | インダクタ部品、及びインダクタ部品の製造方法 |
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