JP2016195028A - 隔壁構造体、隔壁構造体の製造方法、電気光学装置、及び電子デバイス - Google Patents
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Abstract
【課題】液滴吐出法による成膜ムラを抑制できる、隔壁構造体、隔壁構造体の製造方法、電気光学装置、及び電子デバイスを提供する。
【解決手段】本発明の隔壁構造体は、基体と、基体の主面に設けられる隔壁と、隔壁により側壁が形成されてなる区画領域と、を備え、隔壁は、撥液性を有するとともに前記基体と反対側の面に設けられる第1の撥液部と、第1の撥液部と基体との間に配置された、少なくともアモルファスシリコンからなる第1の隔壁部と、を備えることを特徴とする。
【選択図】図4
【解決手段】本発明の隔壁構造体は、基体と、基体の主面に設けられる隔壁と、隔壁により側壁が形成されてなる区画領域と、を備え、隔壁は、撥液性を有するとともに前記基体と反対側の面に設けられる第1の撥液部と、第1の撥液部と基体との間に配置された、少なくともアモルファスシリコンからなる第1の隔壁部と、を備えることを特徴とする。
【選択図】図4
Description
本発明は、隔壁構造体、隔壁構造体の製造方法、電気光学装置、及び電子デバイスに関するものである。
近年、有機エレクトロルミネッセンス(EL:Electro Luminecent)素子や発光ポリマー素子などの有機発光ダイオード(OLED:Organic Light Emitting Diode)と呼ばれる発光素子を用いた電気光学装置の開発が進められている。
有機EL素子を形成する場合において、材料の無駄がなく微細且つ容易にパターニングできる液滴吐出法が用いた技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。
有機EL素子を形成する場合において、材料の無駄がなく微細且つ容易にパターニングできる液滴吐出法が用いた技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。
液滴吐出法を用いる場合、隔壁により区画された画素領域に吐出したインクを乾燥させることで有機EL素子を形成する。隔壁は、アクリルやポリイミド等の有機樹脂をフォトリソでパターニングすることで形成され、プラズマ処理によって撥液性が付与されている。
しかしながら、有機樹脂におけるプラズマ処理による撥液化は基板サイズが大きくなった場合、基板の面内でムラが発生しやすく、撥液性が時間経過に伴って低下するといった問題があった。そのため、各画素領域に吐出されるインク量にバラツキが生じ、結果的に、有機EL素子の表示品位を低下させてしまう。
一方、撥液成分を含有しつつフォトリソを可能とする感光性有機材料を用いて隔壁を形成することも考えられるが、コストが高くなってしまう。
一方、撥液成分を含有しつつフォトリソを可能とする感光性有機材料を用いて隔壁を形成することも考えられるが、コストが高くなってしまう。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、液滴吐出法による成膜ムラを抑制できる、隔壁構造体、隔壁構造体の製造方法、電気光学装置、及び電子デバイスを提供することを目的とする。
本発明の第1態様に従えば、基体と、前記基体の主面に設けられる隔壁と、前記隔壁により側壁が形成されてなる区画領域と、を備え、前記隔壁は、撥液性を有するとともに前記基体と反対側の面に設けられる第1の撥液部と、前記第1の撥液部と前記基体との間に配置された、少なくともアモルファスシリコンからなる第1の隔壁部と、を備えることを特徴とする隔壁構造体が提供される。
第1態様に係る隔壁構造体によれば、少なくともアモルファスシリコンからなる第1の隔壁部と第1の撥液部とを有した隔壁を備えるので、有機樹脂を用いて隔壁を形成した場合のように、撥液性が時間経過に伴って変化することが抑制されたものとなる。よって、例えば、液滴吐出法を用いた場合、隔壁による区画領域に成膜ムラが抑制された機能層を形成することができる。従来、半導体製造プロセスで使用されるアモルファスシリコンを用いて隔壁を形成できるので、撥液成分を含有した感光性有機材料等といった特定の材料を用いて隔壁を形成した場合に比べ、製造コストを抑えることができる。
上記隔壁構造体においては、前記隔壁は、前記第1の撥液部と同じ材料からなる、撥液性を有する第2の撥液部を有し、前記第2の撥液部は、前記区画領域の前記側壁において、前記第1の隔壁部に設けられているのが好ましい。
この構成によれば、区画領域の側壁にも撥液性が付与された隔壁を実現することができる。
この構成によれば、区画領域の側壁にも撥液性が付与された隔壁を実現することができる。
上記隔壁構造体においては、前記隔壁は、親液性を有する第2の隔壁部を有し、前記第2の隔壁部は、前記第1の隔壁部と前記基体との間に配置されているのが好ましい。
この場合において、前記区画領域において、前記第1の隔壁部により区画される第1の領域は、前記第2の隔壁部により区画される第2の領域よりも大きいのが望ましい。
このようにすれば、親液性を有する第2の隔壁部を有するので、隔壁による区画領域の開口周辺部における機能液の濡れ拡がりを安定させることができる。よって、膜厚ムラが抑制された機能層を備えたものとなる。
この場合において、前記区画領域において、前記第1の隔壁部により区画される第1の領域は、前記第2の隔壁部により区画される第2の領域よりも大きいのが望ましい。
このようにすれば、親液性を有する第2の隔壁部を有するので、隔壁による区画領域の開口周辺部における機能液の濡れ拡がりを安定させることができる。よって、膜厚ムラが抑制された機能層を備えたものとなる。
上記隔壁構造体においては、前記区画領域において液滴吐出法により形成される機能層を備えるのが好ましい。
この構成によれば、液滴吐出法によって形成され、膜厚ムラが抑制された機能層を備えた信頼性の高い隔壁構造体が提供される。
この構成によれば、液滴吐出法によって形成され、膜厚ムラが抑制された機能層を備えた信頼性の高い隔壁構造体が提供される。
本発明の第2態様に従えば、前記基体の主面にアモルファスシリコン層を積層し、前記アモルファスシリコン層をパターニングして第1の隔壁部を形成する第1の隔壁部形成工程を備え、前記第1の隔壁部形成工程において、前記アモルファスシリコン層の、少なくとも前記基体と反対側の面に撥液部を形成する隔壁構造体の製造方法が提供される。
第2態様に係る隔壁構造体の製造方法によれば、少なくともアモルファスシリコンからなる第1の隔壁部と第1の撥液部とを有した隔壁を形成するので、有機樹脂を用いて隔壁を形成した場合のように、撥液性が時間経過に伴って変化することが防止される。よって、例えば、液滴吐出法を用いた場合、隔壁による区画領域に成膜ムラが抑制された機能層を形成することができる。従来、半導体製造プロセスで使用されるアモルファスシリコンを用いて隔壁を形成できるので、撥液成分を含有した感光性有機材料等といった特定の材料を用いて隔壁を形成した場合に比べ、製造コストを抑えることができる。
本発明の第3態様に従えば、前記基体の主面に、親液性を有する材料からなる親液層を積層し、前記親液層をパターニングすることで第2の隔壁部を形成する第2の隔壁部形成工程と、前記基体の主面及び前記第2の隔壁部にアモルファスシリコン層を積層し、前記アモルファスシリコン層をパターニングして第1の隔壁部を形成する第1の隔壁部形成工程と、を備え、前記第1の隔壁部形成工程において、前記アモルファスシリコン層の、少なくとも前記基体と反対側の面に撥液部を形成する隔壁構造体の製造方法が提供される。
第3態様に係る隔壁構造体の製造方法によれば、少なくともアモルファスシリコンからなる第1の隔壁部と第1の撥液部とを有した隔壁を備えるので、有機樹脂を用いて隔壁を形成した場合のように、撥液性が時間経過に伴って変化することが抑制されたものとなる。よって、例えば、液滴吐出法を用いた場合、隔壁による区画領域に成膜ムラが抑制された機能層を形成することができる。また、親液性を有する第2の隔壁部を有するので、隔壁による区画領域の開口周辺部における機能液の濡れ拡がりを安定させることができる。
したがって、例えば、液滴吐出法を用いた場合、隔壁による区画領域に成膜ムラが抑制された機能層を形成することができる。従来、半導体製造プロセスで使用されるアモルファスシリコンを用いて隔壁を形成できるので、撥液成分を含有した感光性有機材料等といった特定の材料を用いて隔壁を形成した場合に比べ、製造コストを抑えることができる。
したがって、例えば、液滴吐出法を用いた場合、隔壁による区画領域に成膜ムラが抑制された機能層を形成することができる。従来、半導体製造プロセスで使用されるアモルファスシリコンを用いて隔壁を形成できるので、撥液成分を含有した感光性有機材料等といった特定の材料を用いて隔壁を形成した場合に比べ、製造コストを抑えることができる。
上記第2又は第3態様に係る隔壁構造体の製造方法においては、前記第1の隔壁部形成工程において、前記アモルファスシリコン層をパターニングした後に、前記撥液部を形成するのが好ましい。
この構成によれば、アモルファスシリコン層の少なくとも基体の反対側の面に撥液部を良好に形成することができる。
この構成によれば、アモルファスシリコン層の少なくとも基体の反対側の面に撥液部を良好に形成することができる。
上記隔壁構造体の製造方法においては、前記第1の隔壁部の側面に撥液部を形成するのが好ましい。
この構成によれば、区画領域の側壁にも撥液性が付与された隔壁を実現することができる。
この構成によれば、区画領域の側壁にも撥液性が付与された隔壁を実現することができる。
上記隔壁構造体の製造方法においては、プラズマ処理により前記撥液部を形成するのが好ましい。
この構成によれば、撥液部を簡便且つ確実に形成することができる。
この構成によれば、撥液部を簡便且つ確実に形成することができる。
上記隔壁構造体の製造方法においては、ウエットエッチング処理により前記撥液部を形成するのが好ましい。
この構成によれば、撥液部を簡便且つ確実に形成することができる。
この構成によれば、撥液部を簡便且つ確実に形成することができる。
上記隔壁構造体の製造方法においては、前記無機アモルファスシリコンのパターニングを行うとともに前記撥液部を形成するのが好ましい。
この構成によれば、撥液部を簡便且つ確実に形成することができる。
この構成によれば、撥液部を簡便且つ確実に形成することができる。
本発明の第3態様に従えば、上記第1態様に係る隔壁構造体を備える電気光学装置が提供される。
第3態様に係る電子光学装置によれば、上記第1態様に係る隔壁構造体により成膜ムラが低減された機能層を有するので、本電気光学装置は表示品質に優れた信頼性の高いものとなる。
上記電気光学装置においては、前記隔壁に区画される底面に画素電極が設けられているのが好ましい。
この構成によれば、画素電極が形成され、隔壁により区画される各画素領域に膜厚均一性が高い機能層を備えた電気光学装置を提供できる。
この構成によれば、画素電極が形成され、隔壁により区画される各画素領域に膜厚均一性が高い機能層を備えた電気光学装置を提供できる。
本発明の第4態様に従えば、上記第1態様に係る隔壁構造体を備える電子デバイスが提供される。
第4態様に係る電子デバイスによれば、上記第1態様に係る隔壁構造体により成膜ムラが低減された機能層を有するので、本電子デバイスは信頼性に優れたものとなる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
なお、以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために、便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などが実際と同じであるとは限らない。また、以下の説明において例示される材料、寸法等は一例であって、本発明はそれらに必ずしも限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することが可能である。
なお、以下の説明で用いる図面は、特徴をわかりやすくするために、便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などが実際と同じであるとは限らない。また、以下の説明において例示される材料、寸法等は一例であって、本発明はそれらに必ずしも限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することが可能である。
(電気光学装置)
先ず、本発明の一実施形態として図1に示す電気光学装置1の回路構成について説明する。なお、図1は、電気光学装置1の回路構成を示す模式図である。本実施形態の電気光学装置は、本発明の隔壁構造体を有している。隔壁構造体は、後述する本発明の製造方法により製造されたものである。
先ず、本発明の一実施形態として図1に示す電気光学装置1の回路構成について説明する。なお、図1は、電気光学装置1の回路構成を示す模式図である。本実施形態の電気光学装置は、本発明の隔壁構造体を有している。隔壁構造体は、後述する本発明の製造方法により製造されたものである。
電気光学装置1は、図1に示すように、基板100の面上に、所定の間隔で並ぶ複数の走査線101と、複数の走査線101に対して空間を隔ててほぼ直角に交差する方向に所定の間隔で並ぶ複数の信号線102と、複数の信号線102に対して空間を隔ててほぼ平行な方向に所定の間隔で並ぶ複数の電源線103とを含む配線を備えている。また、複数の走査線101と複数の信号線102の各交点付近において、複数の画素領域Aがマトリックス状に配列した状態で設けられている。
各信号線102には、シフトレジスター、レベルシフタ、ビデオライン及びアナログスイッチを備える信号側駆動回路104が接続されている。また、各走査線101には、シフトレジスター及びレベルシフタを備える走査側駆動回路105が接続されている。
各画素領域Aには、走査線101を介して走査信号が供給されるスイッチング用TFT106と、このスイッチング用TFT106を介して信号線102から供給される画素信号を保持する保持容量107と、この保持容量107によって保持された画素信号が供給される駆動用TFT108と、この駆動用TFT108を介して電源線103に電気的に接続したときに電源線103から駆動電流が流れ込む画素電極109と、この画素電極109と対向する対向電極(陰極)110と、画素電極109と対向電極110との間に挟み込まれた機能層10とが設けられている。
以上のような構成を有する電気光学装置1では、走査線101が駆動されてスイッチング用TFT106がオンになると、そのときの信号線102の電位が保持容量107に保持される。また、この保持容量107の状態に応じて、駆動用TFT108のオン・オフの状態が決まる。
そして、駆動用TFT108のチャネルを介して、電源線103から画素電極109に電流が流れ、さらに機能層10を介して対向電極(陰極)110に電流が流れる。機能層10は、この流れる電流量に応じて発光する。このような画素領域Aでの発光を制御することで所望の画像を表示することができる。
そして、駆動用TFT108のチャネルを介して、電源線103から画素電極109に電流が流れ、さらに機能層10を介して対向電極(陰極)110に電流が流れる。機能層10は、この流れる電流量に応じて発光する。このような画素領域Aでの発光を制御することで所望の画像を表示することができる。
なお、電気光学装置1には、基板100側から光を取り出すボトムエミッション構造と、基板100とは反対側から光を取り出すトップエミッション構造とがある。本実施形態の電気光学装置1は、何れの構造も採用可能である。ボトムエミッション構造を採用した場合、基板100には、各種のガラス材料や透明樹脂材料などの光透過性を有する基板(透明基板)を用いることができる。一方、トップエミッション構造を採用した場合、基板100には、上述した透明基板の他にも、セラミックス材料や金属材料などからなる基板を用いることができる。
次に、上記電気光学装置1の画素領域Aにおける構造について図2及び図3を参照して説明する。なお、図2は、画素領域Aの平面構造を示す透視平面図である。図3は、画素領域Aの断面形状において、代表的な断面構造を模式的に一つの図で表した断面図であり、画素領域A内において生じる、各断面構造間の高さの違いを表現したものである。なお、図3においては、封止基板の図示を省略している。
本実施形態の電気光学装置1は、トップエミッション構造を採用した例であり、基板100としてガラス基板を用いている。具体的に、この電気光学装置1は、図2及び図3に示すように、上述した基板100の面上に、駆動素子部11と、機能素子部12とを順次積層した構造を有している。
駆動素子部11は、上述した各種の配線101〜103や、スイッチング用TFT106、保持容量107、駆動用TFT108等を基板100の面上に形成することによって構成されている。
駆動用TFT108は、基板100の面上に形成されたゲート電極13とソース電極14とドレイン電極15とを有している。ゲート電極13は、スイッチング用TFT106のドレイン電極(図示せず。)と電気的に接続されている。ゲート電極13の上には、ゲート絶縁膜16を介して半導体層17が設けられている。半導体層17の上には、第1の層間絶縁膜18が設けられている。
ゲート絶縁膜16は、例えばSiO2やTiO2などの無機絶縁材料から構成される。第1の層間絶縁膜18は、例えば、アクリル樹脂やポリイミド樹脂等の耐熱性及び絶縁性を有する有機材料から構成されている。
ソース電極14とドレイン電極15とは、第1の層間絶縁膜18に形成されたコンタクトプラグ19a,19bを介して半導体層17のソース領域とドレイン領域とに電気的に接続されている。また、基板100の上には、この駆動素子部11が形成された面上を平坦化する平坦化層20が設けられている。
機能素子部12は、本発明の隔壁構造体12Aを含み、平坦化層20の面上に、上記画素電極109と、機能層10と、対向電極110とを順次積層することによって、有機EL素子部を構成している。
画素電極109は、アノード電極として、例えばITO(Indium Tin Oxide)などの透明電極材料を用いて矩形状に形成されている。画素電極109は、平坦化層20に形成されたコンタクトプラグ21を介してドレイン電極15と電気的に接続されている。
対向電極110は、カソード電極として、例えばMgAg合金などの導電性金属材料を用いて画素電極109に対向して設けられている。
なお、トップエミッション構造の場合、ITOなどの透明電極材料からなる画素電極109の下には、例えばAl等の金属材料からなる光反射膜(図示せず。)が設けられている。一方、画素電極109が光反射特性を有する金属材料からなる場合は、光反射膜を省略することが可能である。
機能層10は、少なくとも発光層9を含む複数の薄膜を積層することによって構成されている。具体的に、本実施形態の機能層10は、正孔注入層(HIL)7、正孔輸送層(HTL)8、発光層(EML)9を含む複数の薄膜を積層することによって形成されている。
正孔注入層7、正孔輸送層8は、例えば、3,4−ポリエチレンジオキシチオフェン−ポリスチレンスルフォン酸(PEDOT/PSS)の分散液、すなわち、ポリスチレンスルフォン酸を分散媒として、3,4−ポリエチレンジオキシチオフェンを分散させ、さらにこれを水に分散させた分散液等の液状材料を乾燥、焼成することによって形成されている。
発光層9は、蛍光あるいは燐光を発光することが可能な公知の発光材料により形成されている。ここで、発光層9の形成材料としては、例えば、(ポリ)フルオレン誘導体(PF)、(ポリ)パラフェニレンビニレン誘導体(PPV)、ポリフェニレン誘導体(PP)、ポリパラフェニレン誘導体(PPP)、ポリビニルカルバゾール(PVK)、ポリチオフェン誘導体、ポリメチルフェニルシラン(PMPS)などのポリシラン系などが好適に用いられる。また、これらの高分子材料に、ペリレン系色素、クマリン系色素、ローダミン系色素などの高分子系材料や、ルブレン、ペリレン、9,10−ジフェニルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリドン等の低分子材料をドープして用いることもできる。さらに、Ir(ppy)3などの燐光材料を用いることもできる。
なお、発光層9については、カラー表示を行う場合、画素領域A毎に赤(R)、緑(G)、青(B)の各色光に対応した有機材料を含む薄膜を形成することによって、それぞれの発色を異ならせることが可能である。また、基板100の上には、この機能素子部12が形成された面上を覆うシール層23a及び封止基板23bが設けられている。
隔壁構造体12Aは、基板100上に設けられた平坦化層(基体)20と、機能層10と、該機能層10が形成される領域を区画する隔壁24とを有している。
ここで、隔壁24の周辺構成を拡大した断面図を図4に示す。
図4に示すように、隔壁24は、画素電極109を画素領域(区画領域)Aごとに区画し、かつ画素電極109の上面を露出させる開口部(画素開口部)40を形成する。隔壁24は、画素電極109の端部を覆った状態で形成されている。
機能層10は、この隔壁24によって形成された開口部40の内側に、薄膜毎に種類の異なる機能材料を含む機能液を塗布し乾燥、焼成することによって形成される。
図4に示すように、隔壁24は、画素電極109を画素領域(区画領域)Aごとに区画し、かつ画素電極109の上面を露出させる開口部(画素開口部)40を形成する。隔壁24は、画素電極109の端部を覆った状態で形成されている。
機能層10は、この隔壁24によって形成された開口部40の内側に、薄膜毎に種類の異なる機能材料を含む機能液を塗布し乾燥、焼成することによって形成される。
本実施形態において、隔壁24は、アモルファスシリコン層を後述のようにフォトリソグラフィ技術によりパターニングすることで形成されている。
そのため、隔壁24は、有機材料からなる隔壁に比べ、非常にパターン精度が高く、微細な画素領域Aであっても精度良く区画することが可能である。
また、アモルファスシリコンから構成される隔壁24は遮光性を有するため、画素領域Aを区画するブラックマトリクスとして利用可能である。よって、隔壁24に遮光層を設ける必要がない。
また、アモルファスシリコンから構成される隔壁24は遮光性を有するため、画素領域Aを区画するブラックマトリクスとして利用可能である。よって、隔壁24に遮光層を設ける必要がない。
隔壁24の上面24aには、アモルファスシリコンに撥液化処理を施すことで形成される撥液処理層(撥液部)25が設けられている。撥液処理層25は、機能層10を形成するための材料(機能液)に対して撥液性を有している。
隔壁24は、例えば、膜厚が2μm程度に設定される。
撥液処理層25は、例えば、隔壁24を構成する材料であるアモルファスシリコンに対して、CF4プラズマ処理を施すことで形成される。
撥液処理層25は、例えば、隔壁24を構成する材料であるアモルファスシリコンに対して、CF4プラズマ処理を施すことで形成される。
本実施形態の電気光学装置1は、上記撥液処理層25が設けられた隔壁24を備えることで、この隔壁24により区画された画素領域Aに膜厚均一性の高い機能層10が形成されたものとなっている。
続いて、上記電気光学装置1の製造方法について図面を参照しながら説明する。なお、以下の説明では、上記電気光学装置1と同等の部位については、説明を省略すると共に、図面において同じ符号を付すものとする。
本実施形態による電気光学装置1の製造方法では、先ず、図5(a)に示すように、機能層10を含む隔壁構造体12Aを形成するための電気光学装置用基体(基体)100Aを準備する。この電気光学装置用基体100Aは、基板100の上に、駆動素子部11と、画素電極109とが予め形成されたものからなる。なお、図5(a)に示す電気光学装置用基体100Aにおいては、駆動素子部11の図示を省略している。
そして、この電気光学装置用基体100Aを用いて隔壁構造体12Aの形成工程を行う。具体的に、本実施形態による隔壁構造体12Aの製造方法では、電気光学装置用基体100Aの主面100A1上に隔壁24を形成する隔壁形成工程と、隔壁24により区画される画素領域Aに機能層10を形成するための機能液を吐出する液滴吐出工程と、を含む。
本実施形態において、機能層10は、液滴吐出法により、液状の機能液を隔壁24の開口部40内に吐出(塗布)し、乾燥、焼成することによって形成する。液滴吐出法としては、例えば、インクジェット装置を用いたインクジェット法等が例示できる。
図6(a)は、液滴吐出法で液滴を吐出する装置(液滴吐出装置)に備えられた液滴吐出ヘッド51の断面図である。この液滴吐出ヘッド51には、液状体を収容する液体室52に隣接して、ピエゾ素子53が設けられている。液体室52には、液状体を収容する材料タンクを含む液状体供給系55を介して、液状体が供給されるようになっている。ピエゾ素子53は、駆動回路54に接続されており、この駆動回路54を介してピエゾ素子53に電圧を印加し、ピエゾ素子53を変形させる。これにより、液体室52を変形して内圧を高め、ノズル56から液状体の液滴を吐出する。すなわち、印加電圧の値を変化させることにより、ピエゾ素子53の歪み量を制御し、液状体の吐出量を制御するようになっている。
また、この液滴吐出ヘッド51は、図6(b)に示すようにその下面に多数のノズル56を、一定間隔で一列(あるいは複数列)に配置した、マルチノズルタイプのものである。これらノズル56からは、それぞれ独立して、機能層10の形成材料となる機能液(液状体)の液滴が吐出されるようになっている。
隔壁24の形成工程ではフォトリソグラフィ法を用いる。具体的に、電気光学装置用基体100A上に、例えば、プラズマCVD法によりアモルファスシリコンからなる隔壁形成材料を例えば、2μmの厚さで形成する。その後、隔壁形成材料を隔壁24に対応した形状に、例えば、不図示のマスクを用いてプラズマエッチングを行うことによってパターニングし、隔壁24の前駆体(第1の隔壁部)24Aを形成する。
ところで、隔壁24は各画素領域Aに配置された画素電極109間の短絡を防止すべく、絶縁性を有する必要がある。本実施形態では、隔壁24の前駆体24A(アモルファスシリコン)に対し、不純物のドープを行わずに非導電性となるようにした。
続いて、図5(c)に示すように、隔壁24の前駆体24Aに対して撥水処理を施す。本実施形態では、CF4プラズマ処理を施すことで、上面24aに撥液処理層25が形成された隔壁24を得ることができる。
ところで、従来のように有機材料からなる隔壁を用いた場合、例えば、プラズマ処理により撥液化したとしても、撥液化直後から時間が経過するにつれて撥水性が低下するおそれがあった。そのため、インクジェット法によるプロセスで機能層を形成した場合、機能層の膜厚にバラツキが生じるおそれがあった。
また、撥液性を有する有機樹脂材料を用いて隔壁を構成することも考えられる。しかしながら、このような有機樹脂材料は非常にコストが嵩むため、現実的ではない。
これに対し、本実施形態では、アモルファスシリコンを用いて隔壁24の前駆体24Aを形成し、該前駆体24Aに撥液化処理を施すことで撥液処理層25を形成している。
そのため、上述の有機材料からなる隔壁に対して撥水処理を行った場合のように、撥液処理直後から撥水性が低下してしまうといったことがなく、インクジェット法による機能層10の形成プロセスを安定して行うことができる。
したがって、後述のように膜厚均一性の高い機能層10を形成することが可能である。
そのため、上述の有機材料からなる隔壁に対して撥水処理を行った場合のように、撥液処理直後から撥水性が低下してしまうといったことがなく、インクジェット法による機能層10の形成プロセスを安定して行うことができる。
したがって、後述のように膜厚均一性の高い機能層10を形成することが可能である。
また、従来の半導体装置の製造プロセスで使用されていたアモルファスシリコンを用いて隔壁24を形成すればよいため、既存の製造装置(材料あるいは成膜装置)を変える必要がなく、製造コストの上昇を抑制できる。
続いて、隔壁24に区画される各画素領域A(開口部40)に、薄膜毎に種類の異なる機能材料と溶媒とを含む機能液を塗布した後に、乾燥させることによって、画素領域A内に機能層10を形成する。
具体的に、上記液滴吐出ヘッド51を用いた液滴吐出法により、正孔注入層7及び正孔輸送層8の形成材料であるPEDOT/PSSの分散液を、開口部40内に所定量吐出する。
その後、乾燥処理、次いで、焼成処理を例えば200℃で10分間程度行うことにより、機能層10の一部の薄膜を構成する正孔注入層7及び正孔輸送層8を、例えば、厚さ20nm〜100nm程度に形成する。
本実施形態によれば、図5(d)に示すように、上面24aに撥液処理層25が設けられた隔壁24で区画された画素領域A(開口部40)にPEDOT/PSSの分散液Bを液滴吐出ヘッド51から吐出した際、隔壁24の上面24aへの分散液の乗り上げが抑制される。よって、各画素領域Aの開口部40内に所定量の分散液が配置されるので、膜厚均一性が高い正孔注入層7及び正孔輸送層8を形成できる。
次いで、この正孔注入層7及び正孔輸送層8上に、発光層9を形成する。この発光層9の形成工程においても、上記の正孔注入層7及び正孔輸送層8の形成工程と同様に、液滴吐出法で行う。
その後、例えば、窒素雰囲気中にて130℃で30分間程度熱処理を行い、隔壁24に形成された開口部40内、すなわち画素領域A上に、機能層10を構成する機能膜となる発光層9を、厚さ50nm〜200nm程度に形成する。なお、発光層9の形成材料中に用いる溶媒としては、正孔注入層7及び正孔輸送層8を再溶解させないもの、例えば、キシレンあるいはシクロヘキシルベンゼンなどが好適に用いられる。
本実施形態によれば、上述のように、撥液処理層25が設けられた隔壁24で区画された画素領域A(開口部40)に発光層9を形成するための機能液を吐出した際、隔壁24の上面24aへの分散液の乗り上げが抑制される。これにより、各画素領域Aの開口部40内に所定量の分散液が配置されるので、正孔注入層7及び正孔輸送層8上に膜厚均一性が高い発光層9を形成することができる。
以上のようにして、隔壁24と、該隔壁24により区画された画素領域Aに設けられた機能層10とを含む隔壁構造体12Aを製造することができる(図4参照)。
本実施形態の隔壁構造体12Aによれば、液滴吐出法により形成される機能層10の膜厚ムラが低減される。
本実施形態の隔壁構造体12Aによれば、液滴吐出法により形成される機能層10の膜厚ムラが低減される。
また、本実施形態では、隔壁24としてアモルファスシリコンを用いるため、有機材料からなる隔壁に比べ、非常にパターン精度が高く、微細な画素領域Aを精度良く形成することができる。また、アモルファスシリコンからなる隔壁は遮光性を有するため、画素領域Aを区画するブラックマトリクスとして利用可能であるため、隔壁24上に遮光層を別途形成する必要がなくなり、製造工程を簡略化できる。
次いで、発光層9及び隔壁24を覆って透明導電材料を成膜し、対向電極110を形成する(図3参照)。この対向電極110の形成では、正孔注入層7及び正孔輸送層8や発光層9の形成とは異なり、真空蒸着法等で行うことにより、画素領域Aにのみ選択的に形成するのでなく、基板100のほぼ全面に対向電極110を形成する。
その後、対向電極110上に接着剤を用いてシール層23a(図3参照)を形成し、さらにこのシール層23aによって封止基板23bを接着し、封止を行う。これにより、本実施形態の電気光学装置1が得られる。
(第2実施形態)
続いて、本発明の第2実施形態について説明する。図7は本実施形態の画素領域の周辺構成を拡大した断面図である。本実施形態と上記実施形態との違いは、隔壁の構造であり、それ以外は共通である。そのため、以下では、上記実施形態と共通の部材および構成については同じ符号を付し、その詳細な説明については省略する。
続いて、本発明の第2実施形態について説明する。図7は本実施形態の画素領域の周辺構成を拡大した断面図である。本実施形態と上記実施形態との違いは、隔壁の構造であり、それ以外は共通である。そのため、以下では、上記実施形態と共通の部材および構成については同じ符号を付し、その詳細な説明については省略する。
本実施形態の隔壁構造体112Aは、機能層10と、該機能層10が形成される領域を区画する隔壁124とを有している。
隔壁124は、図7に示すように、第2の隔壁部124aと、第1の隔壁部124bとが順に積層された構造を有している。
隔壁124は、図7に示すように、第2の隔壁部124aと、第1の隔壁部124bとが順に積層された構造を有している。
第2の隔壁部124aは、SiO2やSiN等の絶縁性の無機材料によって形成されたもので、その表面に親液化処理が施され、濡れ性が向上させられたことにより、親液性を有したものとなっている。第2の隔壁部124aの厚さは、例えば、50nm〜100nmに設定される。
本実施形態において、第2の隔壁部124aは、一端が開口部40内に入り込むように形成されており、画素電極109の端部を覆った状態で形成されている。そのため、第2の隔壁部124aにより区画される領域(第2の領域)は、第1の隔壁部124bにより区画される領域(第1の領域)よりも小さくなっている。
なお、第2の隔壁部124aは、画素電極109上に、例えば、CVD法、コート法、スパッタ法等の膜形成法を用いて形成されている。
なお、第2の隔壁部124aは、画素電極109上に、例えば、CVD法、コート法、スパッタ法等の膜形成法を用いて形成されている。
第2の隔壁部124aには、画素電極109の一部を露出させる画素開口124a1が形成されている。画素開口124a1は、画素電極109および対向電極110間に印加された電圧により発光層9を発光させる有効画素を規定する。なお、第2の隔壁部124aのうち開口部40内に入り込んだ部分には遮光層が設けられていてもよい。
第1の隔壁部124bは、第1実施形態の隔壁24と同様、アモルファスシリコン層をパターニングすることで構成される。第1の隔壁部124bは、第2の隔壁部124aを覆って形成されたもので、開口部40の開口形状を構成するものである。
なお、第1の隔壁部124bは、例えば、その高さが2μmとなっており、第2の隔壁部124aは上述のように第1の隔壁部124bに比べて十分に薄く形成されている。したがって、隔壁124の高さとしては、第1の隔壁部124bの高さによってほぼ決定されることになる。
本実施形態において、第1の隔壁部124bは、撥液処理層(撥液部)125が形成されている。具体的に、第1の隔壁部124bは、上面124b1から側面124b2へと至るように撥液処理層125が形成されている。本実施形態において、撥液処理層125のうち上面124b1に形成された部分は、特許請求の範囲の「第1の撥液部」に相当し、撥液処理層125のうち側面124b2に形成された部分は、特許請求の範囲の「第2の撥液部」に相当する。
隔壁124の形成工程では、基板100の上に、駆動素子部11と、画素電極109と、第2の隔壁部124aが予め形成された電気光学装置用基体100A(図5(a)参照)上に隔壁124の前駆体を形成した後、撥液化処理を行うことで上記隔壁124を形成すれば良い。
本実施形態によれば、親液性を有する第1の隔壁部124b上に、上記撥液処理層125が設けられた第2の隔壁部124aを積層した隔壁124を備えるので、画素領域A内に機能液を吐出した際、隔壁124による開口部40の周辺部における機能液の濡れ拡がりを安定させつつ、隔壁124の上部における機能液の乗り上げが防止される。これにより、各画素領域Aに所定量の分散液が配置されるので、膜厚均一性に優れた機能層10を形成することができる。
したがって、本実施形態の隔壁構造体112Aにおいても、液滴吐出法により形成される機能層10の膜厚ムラを低減させることができる。
本実施形態では、隔壁124として、下層に形成される第2の隔壁部124aの膜厚よりも、上層に形成される第1の隔壁部124bの膜厚を大きく形成する場合を例に挙げたが、第2の隔壁部124aの膜厚を第1の隔壁部124bの膜厚よりも厚く形成しても良い。このようにすれば、アモルファスシリコンからなる第1の隔壁部124bの膜厚を抑えることができる。
この場合においては、例えば、SiO2やSiN等の絶縁性の無機材料からなる第2の隔壁部124aの膜厚を2μmに設定し、アモルファスシリコンからなる第1の隔壁部124bの膜厚を50〜100nmに設定すればよい。
(電子デバイス)
次に、上記電気光学装置1を備えることで本発明の隔壁構造体12Aを含んだ電子デバイスの具体例について、図8、図9及び図10を参照して説明する。
次に、上記電気光学装置1を備えることで本発明の隔壁構造体12Aを含んだ電子デバイスの具体例について、図8、図9及び図10を参照して説明する。
図8は、携帯電話200の一例を示す斜視図である。携帯電話200は、図9に示すように、携帯電話本体201を備え、この携帯電話本体201に設けられた表示部202に上記電気光学装置1を用いた例である。
図9は、腕時計300の一例を示す斜視図である。腕時計300は、図10に示すように、時計本体301を備え、この時計本体301に設けられた表示部302に上記電気光学装置1を用いた例である。
図10は、パーソナルコンピューターなどの携帯型情報処理装置400の一例を示す斜視図である。携帯型情報処理装置400は、図10に示すように、装置本体401を備え、この装置本体401に設けられた表示部402に上記電気光学装置1を用いた例である。
また、上記電気光学装置1を備えた電子デバイスとしては、それ以外にも、例えば、デジタルスチルカメラ、車載用モニタ、デジタルビデオカメラ、ビューファインダー型またはモニタ直視型のビデオテープレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳、電卓、ワークステーション、テレビ電話機、POS端末機などの表示部を備えた電子デバイスを挙げることができる。
なお、本発明は、上記実施形態のものに必ずしも限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記実施形態では、撥液処理層25の形成方法としてCF4プラズマ処理を用いる場合を例に挙げたが、本発明はこれに限定されない。例えば、フッ化水素(HF)を用いたウエットエッチングを行うことで撥液処理層25を形成しても良い。この場合、フッ化水素によるウエットエッチングは、隔壁24の前駆体をパターニングするような強いエッチングではなく、隔壁24を構成する前駆体の表面に所定の撥液性を発現させる程度の弱いエッチング(ライトエッチング)、例えば、表面を数十Å程度だけ削るようにエッチング条件を調整すればよい。
また、上記第1実施形態では、パターニングにより隔壁24の前駆体24Aを形成した後、該前駆体24Aに対して撥液処理層25を形成する場合を例に挙げたが、本発明はこれに限定されない。例えば、隔壁24の前駆体24Aのパターニング工程と撥液処理層25の形成工程とを同時進行させるようにしても良い。
例えば、アモルファスシリコンからなる隔壁形成材料を形成した後、SF6等のエッチングガスを用いてドライエッチングを行いつつ、C4F6等を用いてプラズマ重合膜による保護層(撥液処理層)を形成する処理を行うことで、隔壁24のパターニング処理(アモルファスシリコンのパターニング)と撥液化処理(撥液処理層25の形成)とを同時に進行させることができる。
また、上記実施形態では、隔壁構造体12A,112Aを含む電気光学装置の一例として、有機EL素子を有する電気光学装置(有機EL表示装置)を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、電気的な作用により光学特性が変化する電気光学装置に対して幅広く適用することが可能である。例えば、隔壁で区画された領域に電気泳動素子を有した電気泳動表示装置にも適用可能である。
また、上記実施形態では、アクティブマトリックス型の電気光学装置としてTFTを駆動素子やスイッチング素子として用いた場合を説明したが、駆動素子やスイッチング素子としてTFD(薄膜ダイオード)を用いることもできる。また、アクティブマトリックス型の電気光学装置ではなく、パッシブマトリックス型の電気光学装置にも同様に適用することが可能である。
また、上記実施形態では、本発明の隔壁構造体を備えた電子デバイスとして、携帯電話200、腕時計300あるいは携帯型情報処理装置400等の電子機器を例示したが、本発明はこれに限定されない。本発明の隔壁構造体を備えた電子デバイスは、例えば、有機トランジスタであってもよい。
図11は、有機トランジスタの概略構成を示す断面図である。
図11に示すように、有機トランジスタ70は、基体71の主面71A上に、ゲート電極72、ゲート絶縁膜73、一対のソース電極74及びドレイン電極75が順に積層されている。さらに、有機半導体層76の形成領域に開口部を有するように隔壁部77が形成されている。
図11に示すように、有機トランジスタ70は、基体71の主面71A上に、ゲート電極72、ゲート絶縁膜73、一対のソース電極74及びドレイン電極75が順に積層されている。さらに、有機半導体層76の形成領域に開口部を有するように隔壁部77が形成されている。
隔壁部77で囲まれる内側領域に液状材料を塗布することによって有機半導体層76が形成されている。なお、図11では、一例としてボトムコンタクト型の有機トランジスタを示しているが、これに限定されることはなく、トップコンタクト型やトップゲート型などの有機トランジスタであってもよい。
基体71は、素子の用途に応じて、例えば平板状やフィルム状の基板を用いることができる。材料についても、素子の用途に応じて適宜選択することができ、例えばガラス基板やプラスチック基板を選択することができる。ゲート電極72、ソース電極74及びドレイン電極75は、導電性を有する材料から形成されている。
ゲート絶縁膜63は、例えば、SiO2等の絶縁性を有する材料で形成されている。
隔壁部77は、第1実施形態と同様、アモルファスシリコンを、例えばフォトリソグラフィ法によってパターニングすることで形成され、少なくとも上面77aに撥液処理層78が形成されている。なお、隔壁部77を構成するアモルファスシリコンは、不純物のドープを行わずに非導電性とされている。
隔壁部77は、第1実施形態と同様、アモルファスシリコンを、例えばフォトリソグラフィ法によってパターニングすることで形成され、少なくとも上面77aに撥液処理層78が形成されている。なお、隔壁部77を構成するアモルファスシリコンは、不純物のドープを行わずに非導電性とされている。
A…画素領域(区画領域)、1…電気光学装置、10…機能層、12A,112A…隔壁構造体、20…平坦化層(基体)、24,124…隔壁、24a…上面、25,125…撥液処理層(撥液部)、124a…第2の隔壁部、124b…第1の隔壁部、124b1…上面、124b2…側面(第1の隔壁部の側面)、70…有機トランジスタ(電子デバイス)、1OOA…電気光学装置用基体(基体)、100A1…主面、200…携帯電話(電子デバイス)、300…腕時計(電子デバイス)、400…携帯型情報処理装置(電子デバイス)。
Claims (14)
- 基体と、
前記基体の主面に設けられる隔壁と、
前記隔壁により側壁が形成されてなる区画領域と、を備え、
前記隔壁は、撥液性を有するとともに前記基体と反対側の面に設けられる第1の撥液部と、
前記第1の撥液部と前記基体との間に配置された、少なくともアモルファスシリコンからなる第1の隔壁部と、を備えることを特徴とする隔壁構造体。 - 前記隔壁は、前記第1の撥液部と同じ材料からなる、撥液性を有する第2の撥液部を有し、
前記第2の撥液部は、
前記区画領域の前記側壁において、前記第1の隔壁部に設けられていることを特徴とする請求項1に記載の隔壁構造体。 - 前記隔壁は、親液性を有する第2の隔壁部を有し、
前記第2の隔壁部は、前記第1の隔壁部と前記基体との間に配置されていることを特徴とする請求項1又は2のいずれか一項に記載の隔壁構造体。 - 前記区画領域において、
前記第1の隔壁部により区画される第1の領域は、前記第2の隔壁部により区画される第2の領域よりも大きい
ことを特徴とする請求項3に記載の隔壁構造体。 - 前記区画領域において液滴吐出法により形成される機能層を備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の隔壁構造体。
- 前記基体の主面にアモルファスシリコン層を積層し、前記アモルファスシリコン層をパターニングして第1の隔壁部を形成する第1の隔壁部形成工程を備え、
前記第1の隔壁部形成工程において、
前記アモルファスシリコン層の、少なくとも前記基体と反対側の面に撥液部を形成することを特徴とする隔壁構造体の製造方法。 - 前記基体の主面に、親液性を有する材料からなる親液層を積層し、前記親液層をパターニングすることで第2の隔壁部を形成する第2の隔壁部形成工程と、
前記基体の主面及び前記第2の隔壁部にアモルファスシリコン層を積層し、前記アモルファスシリコン層をパターニングして第1の隔壁部を形成する第1の隔壁部形成工程と、を備え、
前記第1の隔壁部形成工程において、
前記アモルファスシリコン層の、少なくとも前記基体と反対側の面に撥液部を形成することを特徴とする隔壁構造体の製造方法。 - 前記第1の隔壁部形成工程において、
前記アモルファスシリコン層をパターニングした後に、前記撥液部を形成することを特徴とする請求項6又は7に記載の隔壁構造体の製造方法。 - 前記第1の隔壁部の側面に撥液部を形成することを特徴とする請求項6〜8のいずれか1項に記載の隔壁構造体の製造方法。
- プラズマ処理により前記撥液部を形成することを特徴とする請求項6〜9のいずれか一項に記載の隔壁構造体の製造方法。
- ウエットエッチング処理により前記撥液部を形成することを特徴とする請求項6〜9のいずれか一項に記載の隔壁構造体の製造方法。
- 前記アモルファスシリコンのパターニングを行うとともに前記撥液部を形成することを特徴とする請求項6又は7のいずれか一項に記載の隔壁構造体の製造方法。
- 請求項1〜5のいずれか一項に記載の隔壁構造体を備えることを特徴とする電気光学装置。
- 請求項1〜5のいずれか一項に記載の隔壁構造体を備えることを特徴とする電子デバイス。
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JP2015074126A JP2016195028A (ja) | 2015-03-31 | 2015-03-31 | 隔壁構造体、隔壁構造体の製造方法、電気光学装置、及び電子デバイス |
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Cited By (1)
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JP2018110109A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-12 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 電界発光表示装置及びその製造方法 |
-
2015
- 2015-03-31 JP JP2015074126A patent/JP2016195028A/ja active Pending
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