JP2016178189A - マーキング装置、マーキング方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】打点漏れ及び基板のダメージを回避した簡素な構成を有するマーキング装置とそのマーキング装置を用いたマーキング方法を提供する。【解決手段】ステージ12と、インクを格納するインカー20と、インカー20の位置、及びインカー20によるインクの吐出しを制御する制御部26と、インカー20の位置を検知する位置検知部30と、を備え、制御部26は、位置検知部30から得た情報に基づき、ステージ12からインカー20までの距離を予め定められた距離とし、インカー20のインク吐出し方向は、ステージ12に対して垂直にする。【選択図】図1

Description

本発明は、例えば検査で不良と判定された半導体装置に対してマーキングを行うマーキング装置とそのマーキング装置を用いたマーキング方法に関する。
基板に形成された複数の半導体装置の電気的特性を検査し、不良と判断された半導体装置に対してマーキングを行うことがある。マーキングは良品と不良品を識別するために行われる。代表的なマーキングの方法としては、インカーを利用して半導体装置にインクを塗布し、そのインクを硬化させるものがある。特許文献1、2には、インカーを備えたマーキング装置が開示されている。
特開平10−242223号公報 特開2000−269274号公報
マーキングではインカーと基板の距離を適正に保つことが重要である。そのため、インカーの高さ調整(位置決め)が必要になる。高さ調整は目視で行うことが多く、インカーの先端を目視しやすいよう一般的にインカーはステージ表面に対して斜めに設置されている。
インカーを斜め設置した場合、インカーから出されたインクの鉛直方向長さが短くなり、インクの下端から基板までの距離が長くなる場合がある。そのため、インクが予定通りに塗布されない「打点漏れ」が生じやすい。打点漏れ回避のため、インカー下端から基板までの距離を短くすると、インカーと基板が接触し、基板に傷又は割れなどのダメージを及ぼす問題もある。
特許文献1に開示されるマーキング装置は、インカーの吐出し方向を基板に対して垂直としたので、インカー下端から基板までの距離を大きくとりやすい。しかし、特許文献1に開示のマーキング装置は、「インク着け用芯の先端部を、ウエハー面に垂直に立てて使用でき、かつインク壷と駆動部が、視野を妨げることのない構造」を採用するので、インカーそのものの基本構造の大幅な改造が必要である。具体的には、インクを押し出す芯をインク壺に通す構造から、通さない構造へ変更する必要がある。よって、特許文献1に開示のマーキング装置はコスト高であり、かつ汎用性が低い。
特許文献2に開示されるマーキング装置は、インク打点時のインカー先端と基板の接触圧を検知して一定の圧力でマーキングを行うものである。このマーキング装置は、ステージに圧力センサ等を追加する必要があるので、製造コストが大幅にアップする問題があった。
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、打点漏れ及び基板のダメージを回避した簡素な構成を有するマーキング装置とそのマーキング装置を用いたマーキング方法を提供することを目的とする。
本願の発明に係るマーキング装置は、ステージと、インクを格納するインカーと、該インカーの位置、及び該インカーによるインクの吐出しを制御する制御部と、該インカーの位置を検知する位置検知部と、を備え、該制御部は、該位置検知部から得た情報に基づき、該ステージから該インカーまでの距離を予め定められた距離とし、該インカーのインク吐出し方向は、該ステージに対して垂直であることを特徴とする。
本願の発明に係るマーキング方法は、制御部によってインカーの位置、及び該インカーによるインクの吐出しを制御し、ステージの上の基板の予め定められた場所にマーキングを行う工程を備え、該予め定められた場所にマーキングできなかった場合、又は該インカーが該基板に接した場合に、該制御部は、該ステージの側面に取り付けられ該インカーの位置を検知する複数の位置検知部のうち該インカーからの距離が最も近い位置検知部を、該インカーの直下に位置させ、該ステージと該インカーの距離を予め定められた距離にすることを特徴とする。
本発明によれば、位置検知部でインカーの位置を検知しステージとインカーの距離を予め定められた距離にするので、インカーをステージ表面に対して垂直に配置し、打点漏れ及び基板のダメージを回避したマーキングが可能となる。
実施の形態1に係るマーキング装置を示す図である。 インカーの側面図である。 インカーの先端部分の断面図である。 インカーをステージに対して垂直に設けた場合と、インカーをステージに対して斜めに設けた場合を比較する図である。 制御部のハードウエア構成を示す図である。 実施の形態2に係るインク壷先端部等を示す図である。 実施の形態3に係るインク壷先端部を示す図である。 実施の形態4に係るマーキング装置のインク壷等を示す図である。 実施の形態5に係るマーキング装置のインク壷等を示す図である。 実施の形態6に係るマーキング装置を示す図である。 実施の形態6に係るマーキング方法のフローチャートである。
本発明の実施の形態に係るマーキング装置とマーキング方法について図面を参照して説明する。同じ又は対応する構成要素には同じ符号を付し、説明の繰り返しを省略する場合がある。
実施の形態1.
図1は、実施の形態1に係るマーキング装置10を示す図である。マーキング装置10はステージ12を備えている。ステージ12は、基板14に接触してこれを固定する台座である。ステージ12の表面には吸着溝が設けられ、この吸着溝の一部の底面に設けられた吸着孔から吸気することで、基板14を真空吸着する。基板14を固定できるものであれば、真空吸着するタイプとは別のタイプのステージを採用してもよい。
このステージ12の下部には移動機構16が設けられている。移動機構16は、ステージ12をXY平面の任意の場所に移動させる。ステージ12から離れた場所にインカー20が設けられている。インカー20にはインクが格納されている。インカー20は基板14の予め定められた場所にインクを塗布(マーキング)するものである。インカー20のインク吐出し方向は、ステージ12に対して垂直である。つまり、インカー20はz負方向にインクを出す。
インカー20は位置調整機構22に固定されている。位置調整機構22はインカー20のz方向位置を調整するものである。位置調整機構22はインカー20を移動させるアクチュエータを備える。位置調整機構22はアーム28に固定されている。
位置調整機構22は、信号線24により制御部26に接続されている。位置調整機構22は、制御部26からの指示に基づきインカー20のz方向位置を調整する。位置調整機構22は、100μm程度の精度でインカー20のz方向位置を調整できるものであれば、自動機構でもよいし、手動の機構でもよい。手動の機構としては例えばネジ式の機構がある。
ステージ12の側面にはインカー20の位置を検知する位置検知部30が設けられている。実施の形態1における位置検知部30はインカーの先端を撮影するカメラである。位置検知部30はインカー20の高さを測定するセンサの役割を果たす。位置検知部30で取得した情報は、信号線32を介して制御部26に送られる。
制御部26は、インカー20の位置、及びインカー20によるインクの吐出しを制御する部分である。制御部26は、位置検知部30で取得したデータを受け取る入力部26aと、インカー20の高さを設定する高さ制御部26bと、高さ制御部26bで設定されたインカー20の高さを位置調整機構22に出力する出力部26cを備えている。制御部26は、位置検知部30から得た情報に基づき、例えば、ステージ12の表面からインカー20の先端までの距離を予め定められた距離とする。
図2は、インカー20の側面図である。図1では簡略化したインカー20を示したが、図2ではインカー20の構成が比較的詳細に示されている。インカー20は、インク壷先端部20a、インク壷20b、インカーコイル20c、中芯20d、及びストローク調整機構20eを備えている。インク壷先端部20aはインク壷20bにつながる筒状の形状を有している。インク壷20bはインクを溜めておく取り外し可能な容器である。磁力を発生するインカーコイル20cにより中芯20dが上下動するようになっている。ストローク調整機構20eは、中芯20dの上下移動の幅を調整するネジである。
インクの吐出しについて図3を参照して説明する。図3は、インカーの先端部分の断面図である。インカーコイルにより生じる力で中芯20dを動かし、中芯20dがインク壷20bに溜められたインク21をインク壷先端部20aを介して外部へ押し出す。インク壷20bを先細の形状にし、かつインカー20を鉛直方向に立てて設置する。これにより、インク壷20bにあるインクが自重によりインク壷先端部20aに溜まりやすくなるので、打点漏れを低減できる。
インカー20のインク吐出し方向をステージ12(基板14)に対して垂直とすることの効果を図4を参照して説明する。図4には、インカーのインク吐出し方向がステージ表面に対して垂直な場合(左側)と、インカーの吐出し方向がステージ表面に対して斜めになっている場合(右側)が示されている。マーキングの際には中芯20dが外部に突出する。インカーが垂直な場合もインカーが斜めな場合も中芯20dからステージ12の距離は同じである。そうすると、インカーが垂直な場合のインク先端は基板14に接するが、インカーが斜めな場合のインク先端は基板14に接しない。
打点漏れを防ぐためには、インク先端と基板14の距離を小さくしなければならない。しかし、図4の右側の例(インカーが斜めな場合)のインク先端と基板14との間の距離Bを小さくするために、インカーと基板14の距離を小さくすると、中芯が基板14に接触するおそれがある。中芯20dが基板に接触すると基板がダメージを受ける。
そこで、図4の左側に示すように、インカーを基板14に対して垂直とすることで、インカー(中芯)から基板14までの距離を十分確保でき、しかもインク先端と基板14の距離を小さくすることができる。したがって、打点漏れ及び基板のダメージを回避できる。
次に、実施の形態1に係るマーキング装置10の動作について説明する。マーキングを開始する前に、複数の半導体装置が作り込まれた基板14を検査し、不良品を特定する。そして不良とされた半導体装置の座標を制御部26に記憶させておく。マーキング処理は、基板14をステージ12の上に設置することから開始する。その後、ステージ12で基板14を真空吸着する。
次いで、ストローク調整機構20eを調整して中芯20dの上下移動の幅を調整する。次いで、インカー20の高さ(鉛直方向の位置)調整を行う。インカー20の高さ調整は以下の手順で行う。まず、制御部26が移動機構16を駆使してステージ12を移動させ、インカー20の直下に位置検知部30を位置させる。そして、位置検知部30(カメラ)がインカー20の真下からインク壷先端部20aの先端を撮影し、そこにピントを合わせる。そして、制御部26は、ステージ12からインカー20(インク壷先端部20a)までの距離の情報を、位置検知部30から取得する。
次いで、制御部26は、位置検知部30から得た情報に基づき、位置調整機構22に固定されたインカー20の高さを調整し、ステージ12からインカー20までの距離を予め定められた距離とする。ここで、「予め定められた距離」は、インク先端が基板14に接する程度とすることが好ましい。
インカーの高さ調整後、検査で不良と判定された半導体装置にインクを塗布する。具体的には、制御部26が、移動機構16を駆使して不良と判定された半導体装置をインカーの直下に位置させる。そして、制御部26はインカー20にインクを吐出させて、不良と判定された半導体装置にインクを塗布する。全ての不良品に対するマーキングを終えると、基板14をステージ12から取り外し、マーキングを終了する。
インカーの高さ調整は、マーキング装置の立ち上げ直後に実施してもよいし、ロット処理後、ウエハ処理後などに実施してもよい。インクの大きさのバラツキ又は打点漏れが発生した場合には、その都度インカーの高さ調整を行うことが望ましい。
図5は、制御部26のハードウエア構成を示す図である。入力部は受信装置26Aであり、出力部は送信装置26Dである。高さ制御部は、メモリ26Cに記憶されたプログラムをプロセッサ26Bで実行することにより実現される。制御部26では、CPU又はシステムLSIを用いてもよいし、複数の処理回路が連携して上記機能を実現してもよい。
実施の形態1に係るマーキング装置は、インカー20をステージ12表面に対して垂直に設け、ステージ12側面に位置検知部30を取り付けた点以外は、装置構成に関しては、従来のマーキング装置と同じである。よって、既存のマーキング装置である、インクを押し出す中芯をインク壺に通す構造を利用して、本発明の実施の形態1に係るマーキング装置を構成することができる。
実施の形態1に係るマーキング装置は、位置検知部30で検知したインカー20の位置(高さ)に基づき、ステージ12(基板14)とインカー20の距離を調整し、ステージ表面に対して垂直に設けられたインカー20でマーキングを行うものである。この特徴を失わない範囲で様々な変形をなし得る。例えば、移動機構でインカー20をXY方向に移動させ、ステージ12は固定してもよい。位置検知部30からの出力に応じて、手動でインカー20の高さを調整してもよい。その場合、ねじ等を回すことでインカーの高さ調整ができるようにしておく。手動でインカー20の高さ調整を行う場合は、位置調整機構22のアクチュエータを省略できる。位置調整機構を移動機構16に設け、ステージ12をZ方向に動かすことで、インカー20の高さを調整しても良い。
これらの変形は以下の実施の形態に係るマーキング装置及びマーキング方法に適宜応用できる。なお、以下の実施の形態に係るマーキング装置及びマーキング方法は実施の形態1との共通点が多いので、実施の形態1との相違点を中心に説明する。
実施の形態2.
図6は、実施の形態2に係るインク壷先端部20a等を示す図である。インカー20(インク壷先端部20a)の先端部20fは、ステージ12の表面に対し斜めカットされている。すなわち、インク壷先端部20aは下に凸となる凸部を有している。例えば、インカーに切削加工を施すことで、インカーの先端部を斜めカットすることができる。
ステージ表面に平行な先端を有するインク壷先端部の場合、筒状に形成されたインク壷先端部の先端のエッジ部分にカメラのピントを合わせることになる。当該エッジ部分は、カメラによって特定しづらく、インカーの高さ調整が不十分となる場合があった。
本発明の実施の形態2に係るマーキング装置では、インカー20の先端部20fをステージ12の表面に対し斜めカットすることで、ピント合わせの位置が一点に特定される。先端部20f(インカーの先端の尖った部分)にピントを合わせることで、インカーの高さ調整の精度を向上させることができる。
実施の形態3.
図7は、実施の形態3に係るインク壷先端部20aを示す図である。インカーの先端部には、複数の凸部20gが設けられている。インク壷先端部20aに1つの凸部を設けた場合、インクの種類又は周囲温度によりインクの粘度が増加し、インクが当該凸部に残留することがある。インクの残留があると、その後のマーキングにおいてインク吐出量がばらつき、マーキングサイズ及びマーキング位置が変動してしまう。そこで、インカーの先端部(インク壷先端部)に複数の凸部20gを設けることで、ピント合わせの位置を当該凸部に限定でき、しかもインクの残留を抑制できる。
実施の形態4.
実施の形態4に係る位置検知部は光学式の距離センサである。距離センサは発光部と受光部を有する。図8は、実施の形態4に係るマーキング装置のインク壷20b等を示す図である。このインカーは、距離センサの光源からの光を反射する反射部50を備えている。反射部50は、平面視で環状に形成されている。
インカーの高さ調整は、距離センサを反射部50の真下に移動させた上で行う。インカーを位置調整機構22に取り付ける際にインカーが回転しインカーの設置位置にずれが生じても、反射部50を環状に設けたため距離センサの光が反射部50から外れることを回避できる。なお、インカーの位置検知精度の誤差を10μm程度以内とするためには、反射部の面積として少なくとも数mm程度を確保することが望ましい。
実施の形態5.
図9は、実施の形態5に係るマーキング装置のインク壷20b等を示す図である。インカーの側面の一部に、反射部52が設けられている。そして実施の形態4と同様、距離測定の精度を安定させるために、反射部52のステージ12に対向する部分の面積は数mm程度を確保することが望ましい。
実施の形態4の反射部50はインカーの外周に沿って環状に設けられるので、インク壷20bをある程度小さくせざるを得ない。しかし、実施の形態5では反射部52をインカーの側面の一部に設けたので、インク壷の大きさを著しく小さくする必要はない。この場合、インカーを位置調整機構に取り付ける際に取り付け位置がずれないように注意すべきである。
実施の形態6.
図10は、実施の形態6に係るマーキング装置を示す図である。ステージ12の側面には2つの位置検知部30、31が設けられている。
図11は、実施の形態6に係るマーキング方法のフローチャートである。このフローチャートに沿って、実施の形態6に係るマーキング方法を説明する。まず、基板14をステージ12に吸着固定する(ステップS1)。次いで、インカー20の高さ調整を行う(ステップS2)。この工程では、位置検知部30、31のいずれかを用いて、ステージ12からインカー20までの距離を測定し、制御部26によってインカー20の位置(高さ)を調整する。
次いで、制御部26は、インカー20によるインクの吐出しを制御しステージ12の上の基板14の予め定められた場所にマーキングを行う(ステップS3)。次いで、打点漏れ(マーキング漏れ)、又はインカー20と基板14の接触などの不具合が無いか確認する(ステップS4)。いずれかの不具合があった場合は、インカーの高さが妥当でなかったと考えられるので、インカーの高さを再調整する(ステップS5)。このとき、制御部26は、インカー20から最短の位置にある位置検知部をインカーの直下に移動させて、インカー高さを再調整する。インカー高さの再調整後、再びマーキングを行う(ステップS3)。
他方、ステップS4で不具合が無かった場合、予定されていた全てのマーキングを終了したか判定する(ステップS6)。全てのマーキングが終了していれば処理を終了し、全てのマーキングが終了していなければマーキングを再開する。
本発明の実施の形態6に係るマーキング方法は、予め定められた場所にマーキングできなかった場合、又はインカーが基板に接した場合に、制御部は、複数の位置検知部のうちインカーからの距離が最も近い位置検知部を、インカー直下に移動させ、ステージとインカーの距離を予め定められた距離にするものである。
マーキング中に打点漏れ等の不具合が生じた場合、位置検知部が1つだけであると、その位置検知部とインカーの距離が大きく離れていたとしても、その位置検知部を用いなければならない。つまり、位置検知部又はインカーは長い距離を移動しなければならないので、時間がかかってしまう。
しかし、本発明の実施の形態6では位置検知部を複数設けたので、インカーの高さを再調整する際に、複数の位置検知部のうち最もインカーに近い位置検知部を利用することができる。つまり、位置検知部又はインカーが移動する距離を小さくできるので、時間を節約できる。
位置検知部の数は複数であればよく、2つに限定されない。なお、ここまでで説明した各実施の形態の特徴は適宜に組み合わせて用いてもよい。
10 マーキング装置、 12 ステージ、 14 基板、 16 移動機構、 20 インカー、 20a インク壷先端部、 20b インク壷、 20d 中芯、 20e ストローク調整機構、 20f 先端部、 20g 凸部、 21 インク、 22 位置調整機構、 26 制御部、 30 位置検知部、 50,52 反射部

Claims (9)

  1. ステージと、
    インクを格納するインカーと、
    前記インカーの位置、及び前記インカーによるインクの吐出しを制御する制御部と、
    前記インカーの位置を検知する位置検知部と、を備え、
    前記制御部は、前記位置検知部から得た情報に基づき、前記ステージから前記インカーまでの距離を予め定められた距離とし、
    前記インカーのインク吐出し方向は、前記ステージに対して垂直であることを特徴とするマーキング装置。
  2. 前記位置検知部は前記インカーの先端を撮影するカメラであることを特徴とする請求項1に記載のマーキング装置。
  3. 前記インカーの先端部は、前記ステージの表面に対し斜めカットされたことを特徴とする請求項2に記載のマーキング装置。
  4. 前記インカーの先端部には、複数の凸部が設けられたことを特徴とする請求項2に記載のマーキング装置。
  5. 前記位置検知部は光学式の距離センサであり、
    前記インカーは、前記距離センサの光源からの光を反射する反射部を備えたことを特徴とする請求項1に記載のマーキング装置。
  6. 前記反射部は、環状に形成されたことを特徴とする請求項5に記載のマーキング装置。
  7. 前記反射部は、インカーの側面の一部に設けられたことを特徴とする請求項5に記載のマーキング装置。
  8. 前記位置検知部は、前記ステージの側面に複数取り付けられたことを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載のマーキング装置。
  9. 制御部によってインカーの位置、及び前記インカーによるインクの吐出しを制御し、ステージの上の基板の予め定められた場所にマーキングを行う工程を備え、
    前記予め定められた場所にマーキングできなかった場合、又は前記インカーが前記基板に接した場合に、前記制御部は、前記ステージの側面に取り付けられ前記インカーの位置を検知する複数の位置検知部のうち前記インカーからの距離が最も近い位置検知部を、前記インカーの直下に位置させ、前記ステージと前記インカーの距離を予め定められた距離にすることを特徴とするマーキング方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109003922A (zh) * 2018-08-03 2018-12-14 加达利汽车电子(广州)有限公司 一种标记集成电路板接线标识的打点治具

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54183284U (ja) * 1978-06-14 1979-12-26
JPS63299352A (ja) * 1987-05-29 1988-12-06 Tokyo Electron Ltd プロ−ブ装置
JPH08321529A (ja) * 1995-03-20 1996-12-03 Tokyo Electron Ltd プローブ装置及びその方法
JP2005268486A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Olympus Corp マーキング方法及びマーキング装置並びに検査装置
JP2010048599A (ja) * 2008-08-20 2010-03-04 Tokyo Electron Ltd 微小構造体の検査装置および微小構造体の検査方法
JP2012186354A (ja) * 2011-03-07 2012-09-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54183284U (ja) * 1978-06-14 1979-12-26
JPS63299352A (ja) * 1987-05-29 1988-12-06 Tokyo Electron Ltd プロ−ブ装置
JPH08321529A (ja) * 1995-03-20 1996-12-03 Tokyo Electron Ltd プローブ装置及びその方法
JP2005268486A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Olympus Corp マーキング方法及びマーキング装置並びに検査装置
JP2010048599A (ja) * 2008-08-20 2010-03-04 Tokyo Electron Ltd 微小構造体の検査装置および微小構造体の検査方法
JP2012186354A (ja) * 2011-03-07 2012-09-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109003922A (zh) * 2018-08-03 2018-12-14 加达利汽车电子(广州)有限公司 一种标记集成电路板接线标识的打点治具
CN109003922B (zh) * 2018-08-03 2024-03-26 加达利汽车电子(广州)有限公司 一种标记集成电路板接线标识的打点治具

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