JP2016161384A - 熱分析装置 - Google Patents

熱分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2016161384A
JP2016161384A JP2015040102A JP2015040102A JP2016161384A JP 2016161384 A JP2016161384 A JP 2016161384A JP 2015040102 A JP2015040102 A JP 2015040102A JP 2015040102 A JP2015040102 A JP 2015040102A JP 2016161384 A JP2016161384 A JP 2016161384A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
opening
light
pair
heating furnace
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015040102A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6548912B2 (ja
Inventor
晋哉 西村
Shinya Nishimura
晋哉 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Science Corp
Original Assignee
Hitachi High Tech Science Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Tech Science Corp filed Critical Hitachi High Tech Science Corp
Priority to JP2015040102A priority Critical patent/JP6548912B2/ja
Publication of JP2016161384A publication Critical patent/JP2016161384A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6548912B2 publication Critical patent/JP6548912B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】光触媒等の光反応を伴う試料の熱重量測定が行える熱分析装置を提供する。
【解決手段】透明材料により筒状に形成されたファーナスチューブ9と、ファーナスチューブの内部に配置され、測定試料S及び参照試料Sをそれぞれ収容する一対の試料容器51、52をそれぞれ保持する一対の試料ホルダ41、42と、ファーナスチューブを外側から取り囲む筒状の加熱炉3と、ファーナスチューブの軸方向の後端部に気密に接続される測定室30と、試料の物性変化を測定する測定手段32と、を備える熱分析装置100であって、加熱炉は、一対の試料容器のそれぞれ少なくとも一部を視認可能な開口部Wを有し、さらに、加熱炉に取り付けられ、開口部から一対の試料容器にそれぞれ紫外光〜可視光の波長領域の光を照射する光照射部70を有し、光を照射した状態での測定試料の重量変化を検出可能である。
【選択図】図1

Description

本発明は、試料を加熱し、温度変化に伴う試料の物理的変化を測定する熱分析装置に関する。
光触媒は、光が照射されることで光触媒上に活性酸素が発生する原理により、光触媒近傍の汚染物質等を構成する有機物を分解するものであり、特に紫外−可視の波長領域の光に応答するものが知られている。これらの光触媒は、生活環境の防汚、空気清浄、消臭等を行うべく、例えば建材等へ応用されている。そして、光触媒の性能を容易に評価して性能向上を図ることが望まれている。
光触媒の性能評価法としては、光触媒反応により生成するヒドロキシラジカルを測定するスピントラップ法を利用した方法や(特許文献1)、分光用セル内に光触媒試験片と色素溶液とを一緒に内包して光照射下における溶液の濃度変化を吸光分析で測定する方法(特許文献2)等がある。
特開2007−333688号公報 特開2002−228589号公報
ところで、上記した光触媒の性能評価法は、いずれも光触媒毎の汚染物質等の分解性能について代用特性の評価であり、相対的な比較は行えるものの、特定の物質をどの程度分解するのかを定量的に把握することが困難である。また、上述の方法は、光触媒反応後の汚染物質等の代用特性を評価していることから、温度変化に伴う光触媒反応の反応速度論的解析が困難であるという問題もある。
そこで、本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、光触媒等の光反応を伴う試料の熱重量測定(TG)が可能な熱分析装置の提供を目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明の熱分析装置は、透明材料により筒状に形成され、軸方向の先端部に排気口を有するファーナスチューブと、前記ファーナスチューブの内部に配置され、測定試料及び参照試料をそれぞれ収容する一対の試料容器を、自身の載置面にそれぞれ保持する一対の試料ホルダと、前記一対の試料容器を少なくとも含む前記ファーナスチューブを、外側から取り囲む筒状の加熱炉と、前記ファーナスチューブの軸方向の後端部に気密に接続される測定室と、前記測定室内に配置され、前記試料の物性変化を測定する測定手段と、を備える熱分析装置であって、前記加熱炉は、前記一対の試料容器のそれぞれ少なくとも一部を視認可能な開口部を有し、さらに、前記加熱炉に取り付けられ、前記開口部から前記一対の試料容器にそれぞれ紫外光〜可視光の波長領域の光を照射する光照射部を有し、前記光を照射した状態での前記測定試料の重量変化を検出可能である。
この熱分析装置によれば、光照射部から開口部を介して各試料容器上の測定試料及び参照試料に光を照射し、光反応を伴う試料の熱重量測定を行うことができる。このため、光触媒等の光反応を伴う試料の変化を直接、かつ定量的に把握することができると共に、加熱炉により温度変化させた状態での光反応の熱重量測定を行えば、反応速度論的解析を行うこともできる。特に、従来は直接、かつ定量的な測定が行えなかった光触媒による汚染物質等の分解特性を精度よく測定できる。
さらに撮像手段を備え、前記光照射部は着脱可能であり、前記光照射部を取り外した前記開口部を介して前記測定試料を直接観察可能な位置に、前記撮像手段が配置されていてもよい。
この熱分析装置によれば、撮像手段により、光反応後の測定試料を直接観察可能である。なお、「測定試料を直接観察可能」な位置とは、撮像手段から測定試料を直接視認可能であることをいう。
さらに撮像手段と、光学系とを備え、前記光照射部は着脱可能であり、前記光照射部を取り外した前記開口部を介して前記測定試料を直接観察可能な位置に前記光学系が配置され、前記撮像手段が前記光学系を介して前記測定試料を観察可能な位置に配置されていてもよい。
この熱分析装置によれば、光反応後の測定試料を直接観察可能な位置には撮像手段が配置されないので、撮像手段が開口部からの熱あるいは発生するガス等に直接晒されて損傷したり、レンズが曇る等で撮像ができなくなることを回避することができる。
前記光照射部は光ファイバを有し、前記光ファイバの一端から前記一対の試料容器に前記光を照射すると共に、前記光ファイバの他端が前記光を発生する光源に取り付けられていてもよい。
前記開口部は、前記軸方向に垂直でかつ前記載置面に垂直な方向から見たとき、前記載置面同士の重心を結ぶ線分に沿う方向に該線分を中心にして7mm以上、前記線分に垂直な方向に該線分を中心にして3mm以上で、かつ少なくとも前記線分に重なるように構成されていてもよい。
この熱分析装置によれば、開口部を測定試料及び参照試料を収容する一対の試料容器に対して対称に形成しているので、各試料がファーナスチューブ9内で同一の条件で加熱され、熱分析の測定精度が低下することを防止する。
さらに、試料の近傍の加熱炉に開口部を設けることで、加熱炉からファーナスチューブ内の試料に直接放射される輻射熱を低減して熱分析の測定精度を向上させることができる。
前記開口部は、前記軸方向に沿って前記加熱炉の内面の長さの1/2以下の大きさで、かつ前記軸方向に垂直な方向に沿って前記加熱炉の前記内面の直径以下の大きさであるとよい。
この熱分析装置によれば、開口部を大きくし過ぎた場合に、高温(例えば500℃以上)で試料を熱分析する際、試料の保温や加熱の制御が十分行えずに熱分析の精度が低下することを防止する。
前記ファーナスチューブは、石英ガラス、サファイアガラス又はYAGセラミックスのいずれかからなるとよい。
この熱分析装置によれば、透明性及び耐熱性が高いファーナスチューブが得られる。
本発明によれば、光触媒等の光反応を伴う試料の熱重量測定(TG)が行える。
本発明の実施形態に係る熱分析装置の構成を示す斜視図である。 図1のA−A線に沿う断面図である。 熱分析装置にて、試料のセットや交換を行う態様を示す図である。 試料ホルダの載置面に試料容器を載置する態様を示す図である。 加熱炉の開口部の最小寸法を規定する方法を示す図である。 加熱炉に開口部を設けない場合の輻射熱の放射を示す図である。 加熱炉に開口部を設けた場合の輻射熱の放射を示す図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、軸方向Oに沿ってファーナスチューブ9の先端部9a側を「先端(側)」とし、その反対側を「後端(側)」とする。
図1は本発明の実施形態に係る熱分析装置100の構成を示す斜視図であり、図2は図1のA−A線に沿う断面図である。
熱分析装置100は熱重量測定(TG)装置を構成し、筒状のファーナスチューブ9と、ファーナスチューブ9を外側から取り囲む筒状の加熱炉3と、ファーナスチューブ9の内部に配置される一対の試料ホルダ41,42と、支持台20と、ファーナスチューブ9の軸方向Oの後端部9dに接続される測定室30と、測定室30内に配置されて試料S、Sの重量変化を測定する重量検出器32(特許請求の範囲の「測定手段」に相当)と、測定室30を自身の上面に載置する基台10と、を備えている。ここで、測定試料(サンプル)S、参照試料Sは一対の試料容器(図2参照)51、52にそれぞれ収容され、各試料容器51、52が一対の試料ホルダ41,42上にそれぞれ載置されている。又、参照試料Sは、測定試料に対する基準物質(リファレンス)である。
又、加熱炉3の軸方向両端近傍の下端から下方へ、それぞれ2つの支柱18が延び、各支柱18は支持台20の上面に接続されている。又、ファーナスチューブ9の後端部9dの外側にフランジ部7が固定され、フランジ部7の下端から下方へ1つの支柱16が延びている。支柱16は支持台20の上面に接続されている。なお、支柱16は支持台20の後端よりも後端側に配置され、支持台20と干渉しないようになっている。なお、ファーナスチューブ9は加熱炉3に固定されてもよく、その場合、支柱16を構造上省略することができる。
さらに、基台10の軸方向Oに沿って溝が形成され、この溝にはリニア(線形)アクチュエータ22が配置されている。リニアアクチュエータ22の後端側は支持台20に接続され、先端側(のサーボモータ)は基台10に接続されている。そして、支持台20はリニアアクチュエータ22により、上記溝に沿って軸方向Oに進退可能になっている。
リニアアクチュエータ22は、例えばボールねじとサーボモータ等から構成されるが、軸方向Oに直線的に駆動するあらゆる公知のアクチュエータを用いることができる。
加熱炉3は、加熱炉3の内面を形成する円筒状の炉心管3cと、炉心管3cに外嵌されたヒータ3bと、両端に側壁を有する円筒状の外筒3aとを有する(図2参照)。外筒3aの両側壁の中心には、炉心管3cを挿通するための中心孔が設けられている。外筒3aはヒータ3bを取り囲んで加熱炉3を保温するとともに、外筒3aに適宜調整孔(図示せず)を設けて加熱炉3の温度調整を行うこともできる。なお、炉心管3cの内径はファーナスチューブ9の外径より大きく、加熱炉3はファーナスチューブ9(及びその内部の試料S、S)を非接触で加熱するようになっている。
さらに、加熱炉3の上面には、外筒3aから炉心管3cへ向かって貫通する略矩形の開口部Wが形成されている。開口部Wについては後述する。
ファーナスチューブ9は先端部9aに向かってテーパ状に縮径し、先端部9aは細長いキャピラリ状に形成されてその先端に排気口9bが開口している。そして、ファーナスチューブ9には適宜パージガスが後端側から導入され、このパージガスや、加熱による試料の分解生成物等が排気口9bを通じて外部に排気される。一方、ファーナスチューブ9の後端部9dの外側には、シール部材71を介してリング状のフランジ部7が取り付けられている(図2参照)。
又、ファーナスチューブ9は透明材料により形成され、試料S、Sをファーナスチューブ9の外側から観察可能である。ここで、透明材料とは、可視光を所定の光透過率で透過する材料であり、半透明材料も含む。又、透明材料としては石英ガラス、サファイアガラス、又はYAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット)セラミックスを好適に用いることができる。
試料ホルダ41、42には、軸方向O後端側に延びる天秤アーム43、44がそれぞれ接続され、天秤アーム43、44は互いに水平方向に並んでいる。又、試料ホルダ41、42の直下には熱電対が設置され、試料温度を計測可能になっている。天秤アーム43、44、試料ホルダ41、42は、例えば白金で形成されている。
測定室30はファーナスチューブ9の後端に配置され、測定室30の先端部には、ファーナスチューブ9に向かって軸方向O先端側に延びる管状のベローズ34がシール部材73を介して取り付けられている。ベローズ34の先端側はフランジ部36を形成し、フランジ部36はフランジ部7にシール部材72を介して気密に接続されている。このようにして、測定室30とファーナスチューブ9の内部が連通し、各天秤アーム43、44の後端はファーナスチューブ9を通って測定室30内部まで延びている。なお、シール部材71〜73としては、例えばOリング、ガスケット等を用いることができる。
図2に示すように、測定室30内に配置された重量検出器32は、コイル32aと、磁石32bと、位置検出部32cとを備えている。位置検出部32cは例えばフォトセンサーからなり、各天秤アーム43、44の後端側に配置されて天秤アーム43、44が水平な状態であるか否かを検出する。一方、コイル32aは各天秤アーム43、44の軸方向中心(支点)に取り付けられ、コイル32aの両側に磁石32bが配置されている。そして、天秤アーム43、44が水平になるようにコイル32aに電流を流し、その電流を測定することにより、天秤アーム43、44先端の各試料S、Sの重量を測定するようになっている。なお、重量検出器32は、各天秤アーム43、44のそれぞれに設けられている。
又、図2に示すように、リニアアクチュエータ22、ヒータ3b及び重量検出器32はコンピュータ等からなる制御部80によって制御される。具体的には、制御部80はヒータ3bを通電制御し、所定の加熱パターンによるファーナスチューブ9の加熱を通して試料容器51及び52にセットした試料S及びSを加熱する。そのときの当該試料S、Sの示差熱及び試料温度を試料ホルダ41,42の直下にそれぞれ配置された熱電対により取得し、試料の重量変化を重量検出器32から取得する。又、制御部80はリニアアクチュエータ22の動作を制御して、後述する測定位置及び試料セット位置に加熱炉3及びファーナスチューブ9を移動させる。
なお、フランジ部36とフランジ部7とが気密に接続され、加熱炉3がファーナスチューブ9の各試料ホルダ41、42(つまり、試料S、S)を覆う位置を、「測定位置」と称する。
図3は、各試料ホルダ41、42上の試料容器51,52に、それぞれ試料S、Sをセット又は交換する場合の加熱炉3及びファーナスチューブ9の位置を示す。試料S、Sをセット(配置)又は交換する場合には、支持台20をリニアアクチュエータ22によってファーナスチューブ9の先端側(図3の左側)に前進させると、支持台20にそれぞれ固定されたファーナスチューブ9及び加熱炉3が上記測定位置よりも先端側へ前進し、各試料ホルダ41、42がファーナスチューブ9及び加熱炉3より後端側に露出するので、試料S、Sのセットや交換が行える。
ここで、図3に示すように、フランジ部36とフランジ部7とが軸方向Oに離間し、各試料ホルダ41、42(つまり、試料S、S)がファーナスチューブ9及び加熱炉3よりも後端側に露出する位置を、「試料セット位置」と称する。
次に開口部Wについて説明する。図4に示すように、各試料ホルダ41,42は円形の皿状に形成され、その底面がそれぞれ試料容器51,52を載置する載置面41s、42sとなっている。又、試料ホルダ41,42は軸方向Oに垂直な方向に並んでいる。さらに、試料ホルダ41,42は、軸方向O及び軸方向Oに垂直な方向Pを中心に互いに線対称となる位置に配置され、試料ホルダ41,42上に試料容器を介して保持された各試料S、Sがファーナスチューブ9内で同一の条件で加熱されるようになっている。なお、載置面41s、42sのそれぞれの重心G1、G2に、試料容器51,52の重心(図示せず)を合わせるようにして載置される。
ここで、測定試料Sを保持する試料容器51は、測定試料Sを観察できるよう、上面が開口するオープン型の有底円筒の容器になっている。一方、参照試料Sを保持する試料容器52は観察できなくてもよいので、オープン型の有底容器でなく密閉型の容器を用いてもよい。但し、各試料S、Sがファーナスチューブ9内で同一の条件で確実に加熱されるためには、試料容器52は試料容器51と同一形状であることが好ましい。
そして、試料容器51、52の上面に対向し、加熱炉3の上面側に矩形の開口部Wが形成されている。開口部Wは、各試料容器51,52のそれぞれ少なくとも一部を視認可能な大きさであればよく、各試料容器51,52毎に1つずつ開口部Wを設けてもよいが、本実施形態では、後述する図5に示すように、各試料容器51,52の上面のすべてを視認可能な大きさの1つの開口部Wを設けている。
ところで、試料容器51の内径は最小で3mm程度である。従って、試料容器51の内部に重なるように開口部Wを形成すれば、開口部Wを介して測定試料Sを観察可能となる。一方、各試料S、Sがファーナスチューブ9内で同一の条件で加熱されるためには、試料容器52側にも試料容器51側と同様な開口部Wを形成する必要がある。
又、試料ホルダ41、42の大きさを規定しても、上述のように試料容器の容器部の内径によって測定試料Sの観察視野も変わってくる。
以上のことから、図5に示すように、開口部W1の最小寸法として、軸方向Oに垂直でかつ載置面41s、42sに垂直な方向(図1の場合、加熱炉3の上面側に相当)から見たとき、開口部W1から内径3mmの容器部51及び容器部52(容器部52は容器部51と同一)の内側の全部又は大部分を視認できる寸法を規定するとよい。又、このとき、試料容器の容器部の形状や内径が変わっても、試料ホルダ41、42の載置面41s、42s同士の重心G1、G2は不変であることから、G1、G2を基準とした。
つまり、開口部W1を、上記方向から見たとき、重心G1、G2を結ぶ線分Mに沿う方向Pに線分Mを中心にして7mm以上、線分Mに垂直な方向(軸方向O)に線分を中心にして3mm以上で、かつ少なくとも線分Mに重なるように形成する。ここで、線分Mに沿う方向Pに7mmとは、方向Pの開口部W1の「最大長さ」が7mmという意味であり、軸方向Oに3mmとは、軸方向Oの開口部W1の「最大長さ」が3mmという意味である。従って、開口部W1の隅部Wcは直角である必要はなく、図5に示すように曲線で構成されていてもよい。但し、隅部Wcの円弧は、少なくとも容器部51及び容器部52の内側に沿うよう、半径3mmの円周の1/4円である必要がある。
なお、線分Mに沿う方向Pに7mmと定めた理由は、容器部51、52の内径をそれぞれ最小3mmとし、方向Pに沿って試料容器51,52同士に熱影響の無い最小間隔が約1mmであることによる(この場合、試料ホルダ41、42も直径約3mmの円盤状を仮定する)。従って、開口部W1として最も小さいものは、重心G1,G2を中心とする半径3mmの円と、各円の間を切り抜いた領域とからなる長円である。
一方、開口部Wを大きくし過ぎると、高温(例えば500℃以上)で熱分析中の試料を観察する際に、ファーナスチューブ内の試料S,Sの保温や加熱の制御が十分行えず、熱分析が精度よく行えない可能性がある。
このため、高温でも加熱状態をより確実に保った状態で試料を観察するため、開口部W2の最大寸法を、軸方向Oに沿って加熱炉の内面3cの長さLの1/2以下の大きさで、かつ軸方向に垂直なP方向に沿って加熱炉の内面3cの直径ID以下の大きさとすることが好ましい。なお、開口部W2は、上記した最小寸法の開口部W1を包含する位置に形成されることはいうまでもない。
次に、図1、図2に戻り、光照射部70について説明する。光照射部70は、一対の光ファイバ72と、光源74と、蓋部76と、透明部材(石英ガラス板)78とを備えている。
蓋部76は、中央部に上方に突出する突出部76sを有する略矩形板状をなし、突出部76sには一対の貫通孔76hが幅方向に並んで、かつ軸方向Oに垂直に延びるように形成されている。この蓋部76は、開口部Wを閉塞するように、加熱炉3の上面にネジ止め等によって取付けられている。
一対の光ファイバ72の一端にはライトガイド72aがそれぞれ取り付けられ、各光ファイバ72の他端は光源74に取り付けられている。そして、光源74で発生した光が各光ファイバ72を通って各ライトガイド72aの先端面から照射されるようになっている。
各ライトガイド72aはそれぞれ貫通孔76hに挿通され、軸方向Oに垂直になるように蓋部76に固定され、各試料容器51,52の上面に各ライトガイド72aの先端面が対向している。又、蓋部76と開口部Wとの間には、ファーナスチューブ内の試料S,Sの加熱状態を保つため、透明部材78が挟持されている。
光源74は、紫外光〜可視光の波長領域の光を発生させるものであり、例えばキセノンランプ、水銀ランプ(高圧水銀・低圧水銀)、LED等を用いた200nm〜400nm程度の波長範囲の光を発生する紫外線光源が挙げられる。光源74から発生する光の照度特性は、照度計を利用して光源75への電圧を制御することで調整できる。光源74から発生する光の波長特性は、所望の波長に応じたフィルタを用いて不要な波長域をカットするようにして段階的に調整を行えばよい。また、当該フィルタの切り替えは、マニュアル/オートのいずれでも対応できる。
光ファイバ72を各試料容器51,52毎に2つに分離して設けると、必要以外の部分への光照射が低減され、光による試料S,Sの余分な加熱等の影響を抑制できる。光ファイバ72の出射端面には、ライトガイド72aの他、各種レンズ、フェルール等の光を効率よく導く各種導光体を取り付けることができる。
又、蓋部76は、各試料容器51,52への光の出射端をなす光ファイバ72(ライトガイド72a)を加熱炉3に固定し、光が試料S,Sに対して安定に照射できるものであれば足りる。
以上のようにして、各ライトガイド72aの先端面から軸方向Oに垂直に出射された光は、透明部材78を介して各試料容器51,52の上面に照射され、光反応を伴う試料の熱重量測定を行えるようになっている。
このため、光触媒等の光反応を伴う試料の変化を直接、かつ定量的に把握することができると共に、加熱炉3により温度変化させた状態での光反応の熱重量測定を行えば、反応速度論的解析を行うこともできる。
特に、従来は直接、かつ定量的な測定が行えなかった光触媒による汚染物質等の分解特性を精度よく測定できる。
本発明において、光照射部70を取り外した開口部Wを介して測定試料S(試料容器51)を直接観察可能な位置に、撮像手段(例えば、カメラ、デジタルカメラ、ビデオカメラ、光学顕微鏡等)90を配置してもよい。撮像手段90は、加熱炉3に取り付けた所定のホルダに固定してもよく、熱分析装置100と離間した別部材(三脚等)に固定してもよい。
以上のようにして、開口部Wを介して、ファーナスチューブ9内で光反応後の試料S、Sの変化を観察することができる。例えば、図1の例では、開口部Wの上方に撮像手段(例えば、カメラ、デジタルカメラ、ビデオカメラ、光学顕微鏡等)90を配置し、光反応後でかつ熱分析中の試料S、Sを観察している。特に、高温(例えば500℃以上)で熱分析する際には、ファーナスチューブの保温や加熱が十分となり、熱分析を精度よく行いながら試料を観察できる。
さらに、開口部Wを設けると次のような効果が生じる。つまり、図6に示すように、ファーナスチューブ9を用いて熱重量測定(TG)を行う場合、ファーナスチューブ9の全体が加熱炉3に囲まれると共に、重量増減を測定するため、測定試料Sの試料容器51がオープン型でその開口部が加熱炉3に向いている。この場合、加熱炉3からの輻射熱RHは、試料容器51等に吸収される他、試料容器51内の測定試料Sにも直接放射される。
ここで、熱重量測定(TG)と示差熱分析(DTA)を同時に行う場合、DTAでは測定試料Sの融解、分解等に伴う示差熱信号を取得する。ところが、加熱によって測定試料Sが溶け始めて形状が変化したり、試料の色が変化すると、測定試料Sが吸収する輻射熱RHの量も変化し、この輻射熱の変化も示差熱信号に含まれてしまい、測定精度が低下する。
そこで、図7に示すように、加熱炉3に開口部Wを設けると、開口部Wの直下では加熱炉3から輻射熱RHは放射されず、試料容器51内の測定試料Sに直接放射される輻射熱RHが大幅に減少するので、加熱によって測定試料Sの形状や色が変化しても、測定試料Sが吸収する輻射熱RHの量は変化し難く、示差熱信号の測定精度の低下を抑制することができる。
なお、測定試料S以外の試料容器51等は加熱によって形状や色が変化しないので、これら試料容器51等に輻射熱RHが吸収されても、示差熱信号の測定精度には影響しない。
本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の思想と範囲に含まれる様々な変形及び均等物に及ぶことはいうまでもない。
例えば、ファーナスチューブ、加熱炉の構成、配置状態等は上記した例に限定されない。又、開口部の形状等も上記した例に限定されない。
又、試料を観察するに当たり、開口部Wを介して測定試料Sを直接観察可能な位置(図1の例では開口部Wの上方)に撮像手段90を配置してもよいが、測定試料Sを直接観察可能な位置にミラー等を配置することで、測定試料Sを直接観察可能な位置(開口部Wの上方)への撮像手段90の配置を避けてもよい。後者の場合、撮像手段90が開口部Wからの熱あるいは発生するガス等に直接晒されて損傷したり、レンズが曇る等で撮像ができなくなることを回避する効果がある。なお、撮像手段90を開口部Wに対して所定の位置に配置するためには、本発明の熱分析装置に所定の取付器具(例えば、片持ち式のステー、ブラケット等)を取付け、取付器具の先端に設けた撮像手段90の固定部(例えば、デジタルカメラに三脚等を取り付けるために設けたネジ孔に合う雄ネジ部)に撮像手段90を取り付ければよい。又、本発明の熱分析装置に所定の取付器具(例えば、片持ち式のステー、ブラケット等)を取付け、この取付器具に上記ミラー等を取付るようにしてもよい。
又、図1に示すように、撮像手段90を冷却装置92の開口内に装着し、撮像手段90の熱による損傷を抑制すると好ましい。なお、冷却装置92は、加熱炉3の開口部Wに取り付けられる筐体の内部に冷却ファンを備えており、冷却装置92内部の撮像手段90を冷却風により空冷するようになっている。つまり、冷却装置92は撮像手段90を固定するホルダを兼用している。なお、耐熱ジャケット内にCCDカメラを内包した耐熱カメラを撮像手段90として利用する場合は、冷却装置92が不要となることがある。
100 熱分析装置
3 加熱炉
3c 加熱炉の内面
9 ファーナスチューブ
9b 排気口
30 測定室
32 測定手段
41、42 試料ホルダ
41s、42s 試料ホルダの載置面
51、52 試料容器
70 光照射部
72 光ファイバ
74 光源
90 撮像手段
O 軸方向
測定試料
参照試料
G1、G2 載置面の重心
L 軸方向に沿った加熱炉の内面の長さ
ID 加熱炉の内面の直径
M 重心を結ぶ線分
W、W1、W2 開口部

Claims (7)

  1. 透明材料により筒状に形成され、軸方向の先端部に排気口を有するファーナスチューブと、
    前記ファーナスチューブの内部に配置され、測定試料及び参照試料をそれぞれ収容する一対の試料容器を、自身の載置面にそれぞれ保持する一対の試料ホルダと、
    前記一対の試料容器を少なくとも含む前記ファーナスチューブを、外側から取り囲む筒状の加熱炉と、
    前記ファーナスチューブの軸方向の後端部に気密に接続される測定室と、
    前記測定室内に配置され、前記試料の物性変化を測定する測定手段と、
    を備える熱分析装置であって、
    前記加熱炉は、前記一対の試料容器のそれぞれ少なくとも一部を視認可能な開口部を有し、
    さらに、前記加熱炉に取り付けられ、前記開口部から前記一対の試料容器にそれぞれ紫外光〜可視光の波長領域の光を照射する光照射部を有し、
    前記光を照射した状態での前記測定試料の重量変化を検出可能である熱分析装置。
  2. さらに撮像手段を備え、
    前記光照射部は着脱可能であり、
    前記光照射部を取り外した前記開口部を介して前記測定試料を直接観察可能な位置に、前記撮像手段が配置された請求項1に記載の熱分析装置。
  3. さらに撮像手段と、光学系とを備え、
    前記光照射部は着脱可能であり、
    前記光照射部を取り外した前記開口部を介して前記測定試料を直接観察可能な位置に前記光学系が配置され、
    前記撮像手段が前記光学系を介して前記測定試料を観察可能な位置に配置された請求項1に記載の熱分析装置。
  4. 前記光照射部は光ファイバを有し、
    前記光ファイバの一端から前記一対の試料容器に前記光を照射すると共に、前記光ファイバの他端が前記光を発生する光源に取り付けられている請求項1〜3のいずれかに記載の熱分析装置。
  5. 前記開口部は、前記軸方向に垂直でかつ前記載置面に垂直な方向から見たとき、前記載置面同士の重心を結ぶ線分に沿う方向に該線分を中心にして7mm以上、前記線分に垂直な方向に該線分を中心にして3mm以上で、かつ少なくとも前記線分に重なるように構成されている請求項1〜4のいずれかに記載の熱分析装置。
  6. 前記開口部は、前記軸方向に沿って前記加熱炉の内面の長さの1/2以下の大きさで、かつ前記軸方向に垂直な方向に沿って前記加熱炉の前記内面の直径以下の大きさである請求項5記載の熱分析装置。
  7. 前記ファーナスチューブは、石英ガラス、サファイアガラス又はYAGセラミックスのいずれかからなる請求項1〜6のいずれかに記載の熱分析装置。
JP2015040102A 2015-03-02 2015-03-02 熱分析装置 Active JP6548912B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015040102A JP6548912B2 (ja) 2015-03-02 2015-03-02 熱分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015040102A JP6548912B2 (ja) 2015-03-02 2015-03-02 熱分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016161384A true JP2016161384A (ja) 2016-09-05
JP6548912B2 JP6548912B2 (ja) 2019-07-24

Family

ID=56845050

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015040102A Active JP6548912B2 (ja) 2015-03-02 2015-03-02 熱分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6548912B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112782213A (zh) * 2019-11-01 2021-05-11 株式会社岛津制作所 热分析装置
CN115824874A (zh) * 2022-09-26 2023-03-21 南京航空航天大学 直接光热重高精度分析仪及其工作方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59142696U (ja) * 1983-03-11 1984-09-22 真空理工株式会社 加熱炉用補助光源装置
JPH01312451A (ja) * 1988-06-10 1989-12-18 Seiko Instr Inc 光化学反応測定装置
US5601364A (en) * 1994-06-14 1997-02-11 Georgia Tech Research Corporation Method and apparatus for measuring thermal warpage
JP2002228589A (ja) * 2001-02-01 2002-08-14 Japan Atom Energy Res Inst 光触媒の酸化分解活性を評価する方法と装置
JP2007333688A (ja) * 2006-06-19 2007-12-27 Toshiba Lighting & Technology Corp 光触媒膜の性能評価用器具および光触媒膜の性能評価方法
JP2011053077A (ja) * 2009-09-01 2011-03-17 Sii Nanotechnology Inc 熱分析装置
JP2013185834A (ja) * 2012-03-06 2013-09-19 Hitachi High-Tech Science Corp 熱分析装置
JP2015108540A (ja) * 2013-12-04 2015-06-11 株式会社日立ハイテクサイエンス 熱分析装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59142696U (ja) * 1983-03-11 1984-09-22 真空理工株式会社 加熱炉用補助光源装置
JPH01312451A (ja) * 1988-06-10 1989-12-18 Seiko Instr Inc 光化学反応測定装置
US5601364A (en) * 1994-06-14 1997-02-11 Georgia Tech Research Corporation Method and apparatus for measuring thermal warpage
JP2002228589A (ja) * 2001-02-01 2002-08-14 Japan Atom Energy Res Inst 光触媒の酸化分解活性を評価する方法と装置
JP2007333688A (ja) * 2006-06-19 2007-12-27 Toshiba Lighting & Technology Corp 光触媒膜の性能評価用器具および光触媒膜の性能評価方法
JP2011053077A (ja) * 2009-09-01 2011-03-17 Sii Nanotechnology Inc 熱分析装置
JP2013185834A (ja) * 2012-03-06 2013-09-19 Hitachi High-Tech Science Corp 熱分析装置
JP2015108540A (ja) * 2013-12-04 2015-06-11 株式会社日立ハイテクサイエンス 熱分析装置
JP6061836B2 (ja) * 2013-12-04 2017-01-18 株式会社日立ハイテクサイエンス 熱重量測定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112782213A (zh) * 2019-11-01 2021-05-11 株式会社岛津制作所 热分析装置
CN115824874A (zh) * 2022-09-26 2023-03-21 南京航空航天大学 直接光热重高精度分析仪及其工作方法
CN115824874B (zh) * 2022-09-26 2023-09-29 南京航空航天大学 直接光热重高精度分析仪及其工作方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6548912B2 (ja) 2019-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI592656B (zh) Thermogravimetric device
US9885645B2 (en) Thermal analyzer
WO2000043751A1 (fr) Adaptateur de pipette, pipette de mesure par absorbance, pointe, et procede et appareil de mesure par absorbance
WO2012127523A1 (ja) 顕微鏡観察用培養装置およびその使用方法
JP6096418B2 (ja) X線検出装置
JPS6022649A (ja) 物質の特性を螢光により測定する光学的装置およびその使用方法
JPWO2006009212A1 (ja) 温度調節機構を有する観察装置
JP2013185834A (ja) 熱分析装置
US9753509B2 (en) Imaging apparatus for thermal analyzer and thermal analyzer including the same
JP6548912B2 (ja) 熱分析装置
JP2014190791A (ja) 蛍光x線分析装置
JP4820534B2 (ja) 低温時の基板を試験するプローバ
CN107228807B (zh) 试样容器以及热分析装置
JPS5831543B2 (ja) 液体の熱伝導率測定装置
JP5090134B2 (ja) 紫外・可視・近赤外吸収スペクトル測定用試料ホルダー
JP2010286323A (ja) X線回析計測用の試料ホルダ及びx線回析計測方法
JP5894049B2 (ja) 光センシングデバイスユニットおよび光センシング装置
JP2010066080A (ja) ラマン分光装置
TW201730544A (zh) 光測量裝置
RU2616854C2 (ru) Сканирующий зондовый микроскоп для оптической спектрометрии
US20230296497A1 (en) Apparatus for acquiring polarized images
JP7464827B2 (ja) X線ct装置用の加熱装置および試験体
WO2023053630A1 (ja) 劣化促進試験装置
JP5517086B2 (ja) 固体nmr用masプローブ装置
JP2009236631A (ja) 温度測定装置、これを有する載置台構造及び熱処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180213

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180913

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181009

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181203

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190606

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190626

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6548912

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250