JP2016123466A - 眼底撮影装置 - Google Patents

Abstract

【課題】画質のばらつきを良好に抑制できる眼底撮影装置を提供すること。【解決手段】眼底撮影装置１は、光源１１からの光を被検眼の眼底に投光するための投光光学系１００ａと、光を反射させるミラー部２５ａ，および，ミラー部２５ａを往復回転させる駆動部２５ｂ，を有し、投光光学系１００ａから投光される光を被検眼に対して走査線毎に往復振動させるための走査部２５と、眼底によって反射される光の少なくとも一部を受光する受光素子５６を有する撮影光学系１００ｂと、を筐体内に備える。また、筐体内であって、かつ、走査部２５によって走査可能な位置に、テストチャート６０が配置される。そのうえで、眼底撮影装置１の制御部８００は、テストチャート６０に対する走査を介してミラー部２５ａの回転位置を示す位置信号を取得し、位置信号に基づくキャリブレーションデータを基準として、受光素子５６からの受光信号に基づく眼底の正面画像を生成する。【選択図】図２

Description

本開示は、眼底撮影装置に関する。

従来、光スキャナーを用いて被検眼の眼底で光を走査し、その反射光を受光して、被検眼の眼底を撮影することができる撮影装置が知られている（特許文献１）。

特開２０１４−１１０８２５号公報

この種の装置では、光スキャナーにおけるミラー部の振れ角の誤差、走査速度等が、必ずしも一定とはならない場合があり、眼底画像の画質にばらつきが生じてしまうおそれがあった。

本開示は、従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、画質のばらつきを良好に抑制できる眼底撮影装置を提供することを技術課題とする。

本開示の第一態様に係る眼底撮影装置によれば、光源からの光を被検眼の眼底に投光するための投光光学系と、前記光を反射させるミラー部，および，前記ミラー部を往復回転させる駆動部，を有し、前記投光光学系から投光される光を前記被検眼に対して走査線毎に往復振動させるための光スキャナーと、前記眼底によって反射される光の少なくとも一部を受光する受光素子を有する撮影光学系と、を筐体内に備える眼底撮影装置であって、前記筐体内であって、かつ、前記光スキャナーによって走査可能な位置に配置される光学素子と、 前記光学素子に対する走査を介して前記ミラー部の回転位置を示す位置信号を取得し、前記位置信号に基づくキャリブレーションデータを基準として、前記受光素子からの受光信号に基づく前記眼底の正面画像を生成する画像生成手段と、を備える眼底撮影装置。

本開示の眼底撮影装置によれば、画質のばらつきを良好に抑制できる。

第１実施形態における撮影装置１の外観図を示した図である。 第１実施形態における撮影装置１の光学系を示した模式図である。 第１実施形態における撮影装置１の制御系を示したブロック図である。 テストチャートの一例を示した図である。 メイン処理における撮影装置１の動作を示したフローチャートである。 キャリブレーションデータ取得処理における撮影装置１の動作を示したフローチャートである。 第２実施形態における撮影装置１の光学系を示した模式図である。 第２実施形態におけるテストチャートの一例を示した図である。 光学系の一変容例を示した図である。

以下、図面を参照して、本開示における典型的な実施形態を説明する。各実施形態における撮影装置１は、被検眼の波面収差を補正した状態で被検眼の眼底像を取得する波面収差補償付眼底撮影装置（ＡＯ-ＳＬＯ）である。初めに、図１から図６を参照して、本開示の第１実施形態を説明する。

図１を参照して撮影装置１の概略構成を説明する。撮影装置１は、基台５１０と、顔支持ユニット６００と、撮影部５００と、を備える。顔支持ユニット６００は、基台５１０に取り付けられている。撮影部５００には（つまり、撮影装置１の筐体には）、後述する光学系が収納されており、基台５１０の上に設けられている。顔支持ユニット６００には、顎台６１０が設けられている。顎台６１０は、図示無き顎台駆動手段の操作により、顔指示ユニット６００の基部に対して左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向）および前後方向（Ｚ方向）に移動される。

図２を参照して、第１実施形態における撮影装置１の光学系について説明する。第１実施形態の撮影装置１は、眼底撮像光学系１００と、波面収差検出光学系（以下、収差検出光学系と記載する。）１１０と、収差補償ユニット２０，７２と、第２撮影ユニット２００と、トラッキング用ユニット３００と、前眼部観察ユニット７００と、を備える。

眼底撮像光学系１００は、被検眼Ｅにレーザー光（照明光）を投光すると共に、眼底によるレーザー光の反射光を受光して被検眼Ｅの眼底像を撮影する。被検眼Ｅの眼底は、眼底撮像光学系１００によって、高解像度（高分解能）・高倍率で撮影される。以下のように、眼底撮像光学系１００は、例えば、共焦点光学系を用いた走査型レーザー検眼鏡の構成を有してもよい。眼底撮像光学系１００は、第１投光光学系１００ａと、第１撮影光学系（受光光学系）１００ｂと、を備える。また、本実施形態において、収差補償ユニット２０，７２は、収差補償ユニット２０，７２は、被検眼の収差を補正するために眼底撮像光学系１００に配置される。なお、収差補償ユニットとしては、被検眼の低次収差（視度：例えば、球面度数）を補正するための視度補正部２０と、被検眼の高次収差を補正するための高次収差補償部（波面補償デバイス）７２と、に大別される。

第１投光光学系１００ａは、被検眼Ｅにレーザー光を照射すると共にレーザー光を眼底上で走査することによって、眼底を２次元的に照明する。第１投光光学系１００ａは、光源１１（第１光源）から眼底に到るまでの光路において、光源１１、レンズ１２、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１４、ビームスプリッタ（ＢＳ）７１、凹面ミラー１６、凹面ミラー１７、平面ミラー１８、収差補償ユニット７２（波面補償デバイス７２）、ビームスプリッタ（ＢＳ）７５、凹面ミラー２１、凹面ミラー２２、走査部２５、凹面ミラー２６、凹面ミラー２７、平面ミラー３１、レンズ３２、平面ミラー３３、収差補償ユニット２０（視度補正部２０）、平面ミラー３５、凹面ミラー３６、偏向部４００、ダイクロイックミラー９０、凹面ミラー４１、平面ミラー４２、平面ミラー４３、および、凹面ミラー４５、を有する。

光源１１は、レーザー光を出射する。本実施形態において、レーザー光は、被検眼に視認されにくい近赤外域の波長を持つ。例えば、本実施形態において、光源１１は、波長８４０ｎｍのＳＬＤ（Super Luminescent Diode）が使用される。なお、光源１１は、収束性の高い特性を持つスポット光を出射するものであればよく、例えば、半導体レーザー等であってもよい。

光源１１から出射されたレーザー光は、レンズ１２により平行光とされた後、ＰＢＳ１４、ＢＳ７１、凹面ミラー１６，１７、平面ミラー１８を介して、波面補償デバイス７２に入射する。本実施形態において、レーザー光は、ＰＢＳ１４を通過することによって、Ｓ偏光成分のみの光束とされる。波面補償デバイス７２は、入射光の波面を制御することによって、被検眼の高次収差を補正する。波面補償デバイス７２の詳細構成については後述する。本実施形態において、レーザー光は、波面補償デバイス７２からＢＳ７５に導かれた後、凹面ミラー２１、凹面ミラー２２で反射され、走査部２５に向かう。

本実施形態において、走査部２５は、レーザー光を眼底上で２次元的に走査するために偏光部４００と共に使用される光スキャナーである。走査部２５は、レーザー光の主走査に使用される。本実施形態において走査部２５は、投光項光学系１００ａから投光される光（例えば、レーザー光）を、被検眼に対して走査線毎に往復振動させるために使用される。また、走査部２５は、レーザー光を反射させるミラー部，および，ミラー部を往復するように回転させる駆動部，を備える。走査部２５としては、共振型スキャナーの一例であるレゾナントスキャナーが使用されてもよい。この場合、走査部２５は、所定の共振周波数で高速にミラー部を振動させる。その結果として、眼底上でレーザー光がライン状に走査される。なお、本実施形態では、走査部２５の駆動によって、レーザー光はＸ方向に走査されるものとする。

走査部２５を経た光は、凹面ミラー２６，２７、平面ミラー３１、レンズ３２、平面ミラー３３を介して、視度補正部２０へ入射される。

視度補正部２０は、視度補正を行うためのユニットである。視度補正部２０は、駆動部２０ａのほかに、レンズおよび平面ミラーを１対ずつ有する。視度補正部２０の平面ミラーおよびレンズが駆動部２０ａによって所定方向に移動されることで、光路長が調節される。その結果として、被検眼Ｅの視度の誤差が矯正される。視度補正部２０から平面ミラー３５へ導かれた照明光は、凹面ミラー３６によって反射され、偏向部４００に向かう。

偏向部４００は、走査部２５の駆動に伴ってレーザー光が往復振動される領域（光往復領域）の位置を変位させる。これによって、眼底上でレーザー光が走査される走査線の位置が移動する。偏向部４００は、レーザー光の副走査を行う光スキャナーを有する。本実施形態では、偏向部４００によって、眼底上で垂直方向（Ｙ方向）にレーザー光が走査される。よって、走査部２５と偏向部４００とを組み合わせて動作させることによって、レーザー光が２次元的に走査される。なお動作の安定性を考慮すると、レーザー光の副走査は等速直線運動で動作制御されることが好ましい。

また、偏向部４００は、レーザー光の走査範囲を移動させるためにも使用される（詳細は後述する）。偏向部４００は、例えば、レーザー光を偏向する方向が異なる２つの光スキャナーを有していてもよい。例えば、第１実施形態において、偏向部４００は、Ｙ方向にレーザー光を偏向させるＹガルバノミラーと、Ｘ方向にレーザー光を偏向させるＸガルバノミラーとを有する。Ｘガルバノミラーの角度と、Ｙガルバノミラーにおいてミラーが回動する範囲と、が変更されることによって、第１眼底画像の撮影範囲（つまり、レーザー光の走査範囲）が移動される。なお、レーザー光のＹ方向への副走査は、Ｙガルバノミラーによって行われる。

偏向部４００を経た光は、ダイクロイックミラー９０、凹面ミラー４１、平面ミラー４２，４３、および凹面ミラー４５を経て、被検眼Ｅの瞳孔内に導かれる。その結果、レーザー光は、被検眼Ｅの眼底面に照射される。

また、ダイクロイックミラー９０は、後述する第２撮影ユニット２００、およびトラッキング用ユニット３００、からの光束を透過させ、光源１１および後述する光源７６からの光束を反射させる特性を持つ。なお、光源１１および光源７６の出射端と被検眼Ｅの眼底とは共役とされている。このようにして、第１投光光学系１００ａが形成される。

次に、第１撮影光学系１００ｂを説明する。第１撮影光学系１００ｂは、眼底に照射されたレーザー光の反射光を受光素子５６によって受光する。撮影装置１は、第１眼底画像（本実施形態では、ＡＯ−ＳＬＯ画像）を、受光素子５６からの信号に基づいて生成する。第１撮影光学系１００ｂは、被検眼ＥからＢＳ７１までの光路を、第１投光光学系１００ａと共用する。また、第１撮影光学系１００ｂは、ＢＳ７１の反射側光路に配置された要素、即ち、平面ミラー５１、ＰＢＳ５２、レンズ５３、ピンホール板５４、レンズ５５、および、受光素子５６を有している。なお、本実施形態では、受光素子５６はＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）が用いられている。また、ピンホール板５４は、眼底と共役な位置に置かれる。

光源１１からのレーザー光の眼底反射光は、前述した第１投光光学系１００ａを逆に辿り、ＢＳ７１、平面ミラー５１のそれぞれで反射され、ＰＢＳ５２にてＳ偏光の光だけ透過される。この透過光は、レンズ５３を介してピンホール板５４のピンホールに焦点を結ぶ。ピンホールにて焦点を結んだ反射光は、レンズ５５を経て受光素子５６に受光される。なお、照明光の一部は角膜上で反射されるが、ピンホール板５４により大部分が除去される。よって、受光素子５６は、角膜反射の影響を抑えて、眼底からの反射光を受光できる。

受光素子５６の受光信号を画像処理部（例えば、制御部８００、図３参照）が処理することによって、第１眼底画像が生成される。本実施形態において、１フレームの眼底画像は、走査部２５の主走査と、偏向部４００に設けられたＹ走査用のガルバノミラーの副走査によって形成される。なお、第１眼底画像の画角が所定の角度となるように走査部２５および偏向部４００におけるミラーの振れ角（揺動角度）を定める（なお、レーザー光の振れ角は、ミラーの振れ角の２倍）。ここでは、眼底の所定の範囲を高倍率で観察、撮影する（ここでは、細胞レベルでの観察等をする）ために、画角を１度から５度程度とする。

ここで、第１実施形態では、筐体内（実施形態では、撮影部５００の内部）であって、かつ、走査部２５によって走査可能な位置に、テストチャート６０（光学素子の一例）が配置される。例えば、テストチャート６０は、投光光学系１００における走査部２５と被検眼Ｅとの間の眼底共役面に配置されてもよい。なお、眼底共役面は、例えば、収差補償ユニット２０，７２よる収差補正量が予め定められた値である場合に、模型眼の眼底と共役関係となる面であってもよい。一例として、テストチャート６０は、ダイクロイックミラー９０と凹面ミラー４１との間の眼底共役面に配置されているものとする（図２参照）。この場合において、テストチャート６０は、投光光学系１００ａの光軸Ｌ１から離れて配置されている。より詳細には、テストチャート６０は、１枚の眼底画像を撮影する場合におけるレーザー光の通過領域（以下、「眼底撮影用領域」と称す）よりも外側に配置される。つまり、テストチャート６０は、少なくとも、眼底画像の撮影画角に対応するレーザー光の通過領域よりも外側に配置される。テストチャート６０は、Ｙガルバノミラーの走査方向に関して眼底撮影用領域よりも外側に配置されてもよいし、Ｘガルバノミラーの走査方向に関して眼底撮影用領域よりも外側に配置されてもよい。なお、第１実施形態におけるテストチャート６０は、Ｙガルバノミラーの走査方向に関して眼底撮影用領域よりも外側に配置されているものとする。制御部８００によって、Ｙガルバノミラー（つまり、主走査用の光スキャナーである走査部２５とは別体の光スキャナー）によってレーザー光を眼底撮影用領域よりも外側に偏向させることで、テストチャート６０を走査する。

走査部２５によって走査されるレーザー光がテストチャート６０に照射されたとき、その反射光は受光素子５６によって受光される。テストチャート６０には、所定のテストパターン（「基準パターン」ともいう）が形成されている。受光素子５６からの出力信号に基づいてテストパターンの変化を取得することによって、結果として、ミラー部２５ｂの回転位置を示す位置情報が取得される。なお、テストパターンは、走査位置に応じて異なる光反射率を備えるパターンであってもよいし、走査位置に応じて異なる光透過率を備える基準パターンであってもよい。

例えば、本実施形態では、テストチャート６０として、図４に示すようなチャート（テストターゲット）が利用され得る。図４に例示するテストチャート６０は、一定の間隔で、走査部２５によるレーザー光の走査方向（つまり、主走査方向）に交互に複数並べられた反射部６０ａと遮光部６０ｂとを有するスケールチャートである。反射部６０ａは、光を反射する部分であり、遮光部６０ｂは、反射部６０ａと比べて光を吸収する部分である。例えば、テストチャート６０は、白黒の縞模様のチャートであって、白色部分が反射部６０ａ、黒色部分が遮光部６０ｂとして利用されてもよい。このようなテストチャート６０が光往復領域へ配置された場合には、テストチャート６０におけるレーザー光の照射位置に応じて（つまり、ミラー部２５ａの回転位置に応じて）テストチャートからの反射光の強度が異なる。よって、走査に伴い受光素子５６から出力される信号に基づいて、ミラー部の回転位置を示す位置情報が取得される。なお、テストチャートに形成されるテストパターンは、図４に示す縞模様のパターンに限定されるものではない（詳細は後述する）。

第１実施形態では、偏向部４００の駆動制御によって、投光光学系１００ａモードが、第１モード，および，第２モード，の２種類に切り替えられる。第１モードは、テストチャート６０上を走査するモードである。また、第２モードは、眼底上をレーザー光が走査するモードである。第１実施形態では、偏向部４００によって、レーザー光の通過領域が移動されることによって、第１モードと、第２モードとが切換わる（詳細は後述する）。

第２撮影ユニット２００は、第１撮影ユニット１００の画角よりも広画角の眼底画像（第２眼底画像）を撮影するためのユニットである。第２眼底画像は、例えば、第１眼底画像を得るための位置指定、および位置確認用の画像として用いられる。本実施形態の第２撮影ユニット２００は、被検眼Ｅの眼底画像を広画角（例えば２０度から６０度程度）でリアルタイムに取得および観察できる構成であることが好ましい。例えば、第２撮影ユニット２００として、既存の眼底カメラの観察・撮影光学系、および走査型レーザー検眼鏡（Scanning Laser Ophthalmoscope：ＳＬＯ）の光学系および制御系が利用されてもよい。

トラッキング用ユニット３００は、被検眼Ｅの固視微動等による位置ずれの経時変化を検出し、移動位置情報を得る。トラッキング用ユニット３００では、トラッキング開始時に得られた受光結果を基準情報として制御部８００（図３参照）に送っておき、その後、１走査毎に得られる受光結果（受光情報）を逐次、制御部８００に送信する。制御部８００は基準情報に対してその後に得られた受光情報を比較し、基準情報と同じ受光情報が得られるように、移動位置情報を演算により求める。制御部８００は求めた移動位置情報に基づいて偏向部４００を駆動させる。このようなトラッキングを行うことにより、被検眼Ｅが微動してもその動きが相殺されるように偏向部４００の駆動が行われるため、モニタ８５０に表示される眼底画像の動きは抑制されることとなる。また、ダイクロイックミラー９１は、第２撮影ユニット２００からの光束を透過させ、トラッキング用ユニット３００からの光束を反射させる特性を持つ。

前眼部観察ユニット７００は、被検眼Ｅの前眼部を可視光にて照明し、前眼部正面像を撮像するユニットである。前眼部観察ユニット７００で撮像された画像は、モニタ８５０に出力される。前眼部観察ユニット７００によって取得される前眼部画像は、撮影部５００と被検眼Ｅとのアライメントに利用される。なお、ダイクロイックミラー９５は、第２撮影ユニット２００およびトラッキング用ユニット３００からの光束を透過させ、前眼部観察ユニット７００からの光束を反射させる特性を持つ。

次に、収差検出光学系１１０について説明する。収差検出光学系１１０は、波面センサ７３を有する。また、収差検出光学系１１０は、被検眼Ｅの眼底に測定光を投光し、測定光の眼底反射光を、指標パターン像として波面センサ７３で受光（検出）する。収差検出光学系１１０は、一部の光学素子を第１投光光学系１００ａおよび第１撮影光学系１００ｂの光路上（本実施形態では、共通光路上）に持ち、光学系１００ａ，１００ｂと光路を一部共用している。つまり、本実施形態の収差検出光学系１１０は、光学系１００ａ，１００ｂの光路上に配置されたＢＳ７１から凹面ミラー４５までを、光学系１００ａ，１００ｂと共用する。更に、収差検出光学系１１０は、光源７６、レンズ７７、ＰＢＳ７８、ＢＳ７５、ＢＳ７１、ダイクロイックミラー８６、ＰＢＳ８５、レンズ８４、平面ミラー８３、レンズ８２、を有する。

光源７６は、被検眼Ｅの収差検出に使用される。本実施形態において、光源７６は、光源１１と異なる波長の光を発する。一例として、本実施形態では、測定光として、波長７８０ｎｍのレーザー光を出射するレーザーダイオードが光源７６として使用される。光源７６から出射した測定光は、レンズ７７によって平行光束とされた後、ＰＢＳ７８に入射される。

ＰＢＳ７８は、波面補償部に備えられた第１偏光手段の一例である。ＰＢＳ７８は、光源７６から出射された光を所定の方向に偏光する。より詳細には、ＰＢＳ７８は、ＰＢＳ１４の偏向方向（つまり、Ｓ偏光）とは、直交する方向（即ち、Ｐ偏光）に偏光する。ＰＢＳ７８を経た光は、ＢＳ７５によって反射されることによって、第１投光光学系１００ａの光路に導かれる。つまり、本実施形態において、ＢＳ７５は、投光光学系１００ａに置かれ、且つ、撮影光である光源１１からの光の投光光路と、測定光の投光光路とを同軸にして投光光学系の光路に導く光路合成部として機能する。ここで、ＢＳ７５は、例えば、ハーフミラー等であってもよい。ＢＳ７５によって反射された測定光は、第１投光光学系１００ａの光路を経て被検眼Ｅの眼底に集光される。

測定光は、眼底の集光位置（例えば、網膜表面）で反射される。測定光の眼底反射光は、第１投光光学系１００ａの光路（つまり、第１撮影光学系１００ｂの光路）を、投光時とは逆に辿る。途中、測定光は、波面補償デバイス７２によって反射される。その後、測定光は、ＢＳ７１によって反射されることによって、第１投光光学系１００ａの光路を外れる。更にその後、測定光は、ダイクロイックミラー８６によって反射され、ＰＢＳ８５、レンズ８４、平面ミラー８３、レンズ８２を経て、波面センサ７３へと導かれる。

ＰＢＳ８５は、波面補償部に備えられた第２偏光手段である。ＰＢＳ８５は、光源７６から被検眼Ｅに照射された光のうち、一方向に偏波した光（ここでは、Ｓ偏光光）を透過することによって、波面センサ７３へと導光するために利用される。また、ＰＢＳ８５は、透過した成分とは直交する方向に偏波された成分（Ｐ偏光光）を遮断する。なお、ダイクロイックミラー８６は、光源１１の波長の光（８４０ｎｍ）を透過し、収差検出用の光源７６の波長の光（７８０ｎｍ）を反射する特性とされる。従って、波面センサ７３では、測定光の眼底反射光のうちＳ偏光成分を持つ光が検出される。このようにして、角膜や光学素子で反射される光が波面センサ７３に検出されることを抑制している。

波面センサ７３は、被検眼Ｅの波面収差を検出するために、収差測定用の測定光の眼底反射光を受光する。波面センサ７３としては、低次収差および高次収差を含む波面収差を検出できる素子（より詳細には、ハルトマンシャック検出器、および、光強度の変化を検出する波面曲率センサ等）等が利用されてもよい。本実施形態において、波面センサ７３は、例えば、多数のマイクロレンズからなるマイクロレンズアレイと、マイクロレンズアレイを透過した光束を受光させるための二次元撮像素子７３ａ（又は、二次元受光素子）と、を有する。波面センサ７３のマイクロレンズアレイは、被検眼Ｅの瞳と略共役な位置に配置される。また、二次元撮像素子７３ａの撮像面（受光面）は、被検眼Ｅの眼底と略共役な位置に配置される。

二次元撮像素子７３ａの撮像面には、マイクロレンズアレイを透過した光束によって、指標パターン像６１（本実施形態では、ハルトマン像）が形成される（図示を省略する）。よって、眼底反射光は、マイクロレンズアレイを通過して二次元撮像素子７３ａに受光されることによって、ハルトマン像（ドットパターン像）として撮像される。本実施形態では、ハルトマン像から被検眼の収差情報が取得され、収差情報に基づいて波面補償デバイス７２が制御される。なお、ハルトマン像の詳細については、後述する。

波面補償デバイス７２は、眼底撮像光学系１００の光路中に配置され、入射光の波面を制御することによって、被検眼Ｅの波面収差を補償する。本実施形態において、波面補償デバイス７２には、液晶空間光変調器が使用されてもよい。一例として、以下では、反射型のＬＣＯＳ（Liquid Crystal On Silicon）等が使用されるものとして説明する。この
場合、波面補償デバイス７２は、光源１１からのレーザー光（Ｓ偏光光）、該レーザー光の眼底反射光（Ｓ偏光光）、波面収差検出用光の反射光（Ｓ偏光成分）等の所定の直線偏光（Ｓ偏光）に対して収差を補正することが可能な向きに配置される。その結果、波面補償デバイス７２は、入射する光のＳ偏光成分を変調できる。また、本実施形態において、波面補償デバイス７２の反射面は、被検眼の瞳と略共役となる位置に配置される。

本実施形態の波面補償デバイス７２において、液晶層内の液晶分子の配列方向は、入射する反射光の偏光面と略平行である。また、液晶分子が液晶層への印加電圧の変化に応じて回転する所定の面は、波面補償デバイス７２に対する眼底反射光の入射光軸および反射光軸と、波面補償デバイス７２が持つミラー層の法線と、を含む平面に対して略平行に配置されている。

なお、本実施例において、波面補償デバイス７２は液晶変調素子とし、特に、反射型のＬＣＯＳ等を用いるものとしているが、これに限るものではない。他の反射型の波面補償デバイスであってもよい。例えば、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）の１形態であるデフォーマブルミラーが使用されてもよい。また、反射型の波面補償デバイスではなく、透過型の波面補償デバイスが使用されてもよい。透過型のデバイスでは、眼底からの反射光を透過させて波面収差が補償される。

なお、以上の説明では、収差検出用光源として、第１光源とは異なる波長の照明光を出射する光源を用いたが、第１光源が収差検出用光源を兼用していてもよい。

なお、以上説明した本実施形態では、波面センサおよび波面補償デバイスを被検眼の瞳共役としたが、被検眼の前眼部の所定部位と略共役な位置であればよく、例えば、角膜共役であってもよい。

次に、図３を参照して、本実施形態における撮影装置１の制御系を説明する。撮影装置１は、制御部８００を有している。制御部８００は、撮影装置１の装置全体の制御を行うプロセッサ（例えば、ＣＰＵ）である。本実施形態において、制御部８００は、各ユニットの受光素子（例えば、受光素子５６）からの信号（つまり、受光信号）に基づいて画像を形成する画像処理部を兼用する。そして、形成された第１眼底画像を、制御部８００は、モニタ８５０に表示させる。なお、画像処理部は、制御部８００が兼用する構成に限られるものではない。例えば、制御部８００とは別体の画像処理回路を用いて、画像の生成などの各種画像処理が行われてもよい。

本実施形態において、制御部８００には、記憶部８０１、操作入力部８０２、モニタ８５０、が電気的に接続される。また、制御部８００には、光源１、駆動部１０ａ、走査部１５、受光素子５６、波面補償デバイス７２、波面センサ７３、光源７６、第２撮影ユニット２００、トラッキング用ユニット３００、偏向部４００、が電気的に接続される。

記憶部８０１は、各種の制御プログラムおよび固定データを格納する。また、記憶部８０１には、撮影装置１によって取得された画像、一時データ等が記憶されてもよい。

制御部８００は、操作部８０２から出力される操作信号に基づいて、第１撮影ユニット１００等の上記の各部材を制御する。操作入力部８０２は、検者によって操作される操作部材を備える。操作部材としては、キーボードおよびマウス等が用いられてもよい。

モニタ８５０は、撮影装置１に搭載された表示モニタであってもよいし、撮影装置１とは別体の汎用の表示モニタであってもよい。また、これらが併用された構成であってもよい。モニタ８５０は、撮影装置１で撮影される眼底画像（第１眼底画像、および第２眼底画像）を、動画および静止画のそれぞれで表示できる。

次に、第１実施形態における撮影装置１の動作を説明する。撮影装置１は、電源がオンされた後、記憶部８０１に記憶されたメイン処理のプログラムに従って動作する。即ち、第１実施形態において、撮影装置１は、走査部２５を制御してテストチャート６０をレーザー光により走査し、この走査を介してミラー部２５ａの回転位置を示す位置信号を取得する。また、位置信号に基づくキャリブレーションデータを基準として、受光素子５６からの受光信号に基づく第１正面画像を生成する。例えば、キャリブレーションデータは、画像生成処理において制御部８００が受光素子５６からの信号を読み取るタイミング（つまり、サンプリングタイミング）の基準を得るために利用される。そして、撮影装置１は、サンプリングタイミング毎に得られる輝度情報から第１眼底画像を構築することによって、良好な画質の第１眼底画像が得られる。

図５は、第１実施形態に係る装置の動作の具体例について説明するための図である。図５に示すように、まず、制御部８００は、光源１１，７６からの光を出射させると共に、走査部２５および偏向部４００による光走査を開始させる（Ｓ１）。

次に、制御部８００は、テストチャート６０を用いて、走査部２５によるレーザー光の走査についてのキャリブレーションデータを検出する（Ｓ２）。ここでいうキャリブレーションデータは、走査部２５の触れ角、および画像のリニアリティ（線形性）のうち少なくともいずれかのキャリブレーションに関する。なお、リニアリティは、眼底共役面において、画像の画素と対応する位置の均等さを示し得る。

ここで、図６のフローチャートを参照して、Ｓ２の処理を、より詳細に説明する。第１実施形態のキャリブレーションデータ検出処理（Ｓ２）では、まず、制御部８００は、投光光学系１００ａの状態を、第１モードに設定する（Ｓ２１）。第１モードに設定された場合において、制御部８００は、走査部２５を制御することによってレーザー光を偏向させ、レーザー光によってテストチャートを走査する。第１モードは、テストチャート６０上でレーザー光の主走査（走査部２５による走査）が行える状態であればよく、偏向部４００によるレーザー光の副走査は必ずしも行われなくてもよい。つまり、第１モードでは、テストチャート６０上でレーザー光の主走査が行われるように、Ｙガルバノミラー、および、Ｘガルバノミラーの角度が、予め定められた値に設定されてもよい。

制御部８００は、収差補正部２０，７２による収差補正量が、予め定められた値で一定に保たれるように、収差補正部２０，７２を制御する（Ｓ２２）。第１実施形態では、テストチャート６０の位置でレーザー光が集光するような収差補正量に制御されることが好ましい。なお、Ｓ２の処理において設定される収差補正量は、例えば、キャリブレーションやシミュレーション等の手法を用いて求められた値であってもよい。

次に、制御部８００は、第１モードに設定された場合において、走査部２５の駆動方向に関する第１眼底画像のキャリブレーションデータを、受光素子５６からの受光信号に基づいて取得する（Ｓ２３）。このとき、制御部８００は、ミラー部２５の回転位置を示す位置信号としてテストチャート６０を介した光を受光する受光素子５６からの受光信号を取得する。このように得た受光信号から、キャリブレーションデータが取得される。

ここで、受光素子５６からの受光信号を制御部８００がサンプリングすることで、少なくとも１つの走査線におけるテストチャート６０の画像情報が得られる。この画像情報において、テストチャート６０の反射部６０ａに応じた画素が連続する高輝度の領域と、遮光部６０ｂに対応する画素が連続する低輝度の領域とは、画像上で交互に配置される。ここで、本第１実施形態では、便宜上、画像情報を構成する各画素が、例えば、受光素子２５を用いてテストチャート６０を介した光を一定周期で読み取り（サンプリングし）、読み取り毎に生成される場合について検討する。この場合、画像上における高輝度の領域と低輝度の領域との配置間隔は、テストチャート６０上におけるレーザー光の走査速度の変化に応じて、不均一になる。走査速度には、例えば、走査部２５の動作特性等の要因が影響する。例えば、レゾナントスキャナー等の共振型スキャナーのミラー部は、振り子のように正弦波状に振動し、ミラー部の回転量毎に回転速度が変わる特性を持つ。その結果、走査線の両端では走査速度が比較的遅くなる。一方で、走査線の中盤では走査速度が比較的速くなる。

また、テストチャート６０上における走査線の長さ（即ち、走査部２５における振れ角）が、所期する値からずれてしまう場合がある。この場合、上記の画像情報では、例えば、高輝度の領域と低輝度の領域とがなす縞の数、およびそれぞれの領域の幅等が、所期する値から異なってしまう。

第１実施形態の制御部８００は、例えば、上記の画像情報を、解析することによって、キャリブレーションデータ８００を得ることができる。第１実施形態におけるキャリブレーションデータは、例えば、走査の各周期において、受光素子５６から輝度信号を読み取るタイミング（つまり、サンプリングタイミング）に関するデータであってもよい。例えば、第１実施形態において走査部２５として使用するレゾナントスキャナーは、そのミラー部２５ａの振動周期は一定である。この振動周期が既知（例えば、メモリに予め記憶されている）であれば、この振動周期と，上記画像情報における高輝度の領域の間隔と，から（又は、低輝度の領域の間隔）、例えば、走査の各タイミングにおけるミラー部２５ａの速度を得ることができ、また、眼底共役面上を等間隔にサンプリングするためのサンプリングタイミングを把握することができる。この場合において、それぞれのサンプリングタイミングの間隔は、ミラー部２５ａの速度が相対的に速いときほど広く、ミラー部２５ａの速度が相対的に遅いときほど狭くなるように設定される。このようにして、サンプリングタイミングを規定する情報を、キャリブレーションデータとして取得してもよい。

第１実施形態では、走査部２３のキャリブレーションデータを得た後、第１眼底画像の取得に進む。そこで、Ｓ２３の処理の後は、制御部８００によって、投光光学系１００ａの状態が、第２モードに設定される（Ｓ２４）。この場合において、制御部８００は、走査部２５を制御することによってレーザー光を偏向させ、レーザー光によって眼底を走査する。

図５に戻って説明を続ける。制御部８００は、被検眼Ｅの収差に応じた収差補正制御を開始する（Ｓ３）。即ち、波面センサ７３によって検出される被検眼Ｅの波面収差が取り除かれるように、収差補正部１０，７２が制御される。

次に、第１実施形態における制御部８００は、第１モードにて予め取得されたキャリブレーションデータを基準として、受光素子５６からの受光信号に基づく眼底の正面画像を生成する（Ｓ４）。例えば、キャリブレーションデータが、眼底において所期する走査範囲を等間隔にサンプリングするためのサンプリングタイミングを規定するデータである場合、サンプリングの周期が、キャリブレーションデータを基準に変調される。その結果、所期する走査範囲が等間隔にサンプリングされた第１眼底画像が得られる。つまり、主走査方向の画角の精度，および，リニアリティが良好な第１眼底画像が得られる。

また、キャリブレーションデータを得るためのテストチャート６０の走査において、収差補償状態は、波面収差の検出結果に関わらず、一定である。つまり、キャリブレーションでの各サンプリングポイントにおけるレーザー光の集光状態は一定なので、キャリブレーションデータを、精度よく得ることができる。その結果として、第１眼底画像の画質が改善されやすくなる。

また、本実施形態では、偏向部４００の駆動制御によって、キャリブレーションデータの取得が行われる第１モードと、第１眼底画像の生成が行われる第２モードと、に投光光学系１００の状態が切り替わる。つまり、投光光学系１００ａモードを切り替えるユニットを、眼底における第１眼底画像の撮影位置を設定するユニットと兼用することにより、上記のキャリブレーション情報を検出するために必要となる部品の増加が抑制されている。

また、第１実施形態では、キャリブレーションデータを得るために使用される光学素子として、装置備え付けのテストチャート６０が利用されるので、テストチャート６０のセット等に要する検者の負担を抑制して、キャリブレーションを行うことができる。

＜第２実施形態＞
次に、図７を参照し、本開示における第２実施形態を説明する。

第１実施形態の撮影装置１は、走査部材であるテストチャート６０の走査と、眼底画像の撮影とが、異なる期間において行われる場合について説明した。これに対し、第２実施形態の撮影装置１は、テストチャート６０の走査と、眼底画像を撮影とを、並行して行う。第２実施形態では、テストチャートを用いてサンプリングパルスを生じさせる。また、制御部８００は、受光素子５６からの受光信号を、サンプリングパルスと同期して読み取り、読み取ったデータから第１眼底画像を生成する。第２実施形態の撮影装置１における光学系および制御系の構成の多くは、第１実施形態と同様である。そこで、同一の構成には、同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。

以下、第２実施形態に係る撮影装置１の詳細構成を説明する。第２実施形態では、投光光学系１００ａの投光光路が、走査部２５と被検眼Ｅとの間で分岐されている。即ち、走査部２５と被検眼Ｅとの間の投光光路中に挿入されているＢＳ１２１（例えば、ハーフミラー等）によって、第１眼底画像撮影用の光路から、サンプリングパルス取得用の光路（以下、「分岐光路」と称する。）Ｌ２が分岐される。一例として、第２実施形態では、凹面ミラー２６と、凹面ミラー２７との間にＢＳ１２１が置かれることによって、分岐光路Ｌ２が形成されているものとする（図７参照）。そして、第２実施形態では、一例として、波面情報の取得に使用する測定光（即ち、図７の例では、光源７６からの光）を用いて、サンプリングパルスが取得される。つまり、ＢＳ１２１は、測定光を分岐光路Ｌ２に分岐させる。

第２実施形態において、分岐光路Ｌ２には、テストチャート１２２（光学素子の一例）が配置されている（図７参照）。また、分岐光路Ｌ２には、テストチャート１２２のほかに、受光素子１２４（光検出器）が配置される。図７において、分岐光路Ｌ２には、ＢＳ１２１と、受光素子１２４との間に、テストチャート１２２と、集光レンズ１２３とが順に配置される。テストチャート１２２は、例えば、第１実施形態と同様に、眼底共役面に配置されていてもよい。ＢＳ１２１によって、分岐光路Ｌ２へ分岐された測定光は、テストチャート１２２に導かれる。

また、図７に示すテストチャート１２２は、透過型のチャートである。例えば、受光素子１２４に向かう光を透過する透過部１２２ａと、遮光する遮光部１２２ｂと、が主走査方向に交互に並んで形成されていても良い。ここで、透過部１２２ａは、所期する画角の第１眼底画像と対応する範囲で、均等に形成されていてもよい（図８参照）。また、例えば、テストチャート１２２は、複数のスリットが形成されたスリットマスクであっても良い。この場合は、スリット穴によって透過部１２２ａが形成され、隣り合うスリット穴の間に遮光部１２２ｂが形成される。よって、測定光は、テストチャート１２２によって、眼底共役面にて予め定められた位置（第２実施形態では、透過部１２２ａの位置）に測定光が照射される場合にのみ、受光素子１２４へ導かれる。結果、走査部２５におけるミラー部２５ａの回転位置が、テストチャート１２２の透過部１２２ａの位置にて定められる回転位置となるタイミング毎に、受光素子１２４にて測定光が検出され、受光素子１２４からパルス信号が発せられる。即ち、受光素子１２４は、テストチャート１２２からの光を受光し、テストチャート１２２における光の受光位置に対応した電気信号（本実施形態では、パルス信号）を出力する。

パルス信号は、制御部８００が受光素子５６からの信号を読み取るタイミングを得るためのサンプリングパルスとして、制御部８００（図３参照）に入力される。そして、制御部８００は、受光素子１２４からの電気信号に同期して受光素子５６からの受光信号を読み取り、読み取った受光信号に基づいて正面画像を生成する。

ここで、第１眼底撮影用のレーザー光は、測定光と同じ光軸で眼底に照射される。よって、眼底共役面にてレーザー光の照射位置が透過部１２２ａに対応する位置となる度に、第１眼底画像を構築するためのサンプリングが、制御部８００によって行われる。前述したように、第２実施形態において、それぞれの透過部１２２ａは、眼底共役面上にて均等に配置されている。結果、制御部８００は、眼底共役面を均等にサンプリングして、第１眼底画像を形成できる。故に、リニアリティの良好な第１眼底画像を得ることができる。また、透過部１２２ａは、第１眼底画像として所期する画角と対応する範囲に形成されている。故に、例えば、テストチャート１２２における透過部１２２ａの数と、第１眼底画像における走査線毎のサンプリング数とが一定の対応関係で画像が形成されることによって、所期する画角の第１眼底画像を精度よく得ることが容易である。

また、第２実施形態では、第１眼底画像の撮影と並行して生成されるパルス信号を利用して、サンプリングタイミングが把握されるので、走査部２５の走査速度や触れ角が時間的に変位しても画質が維持されやすい。

また、図７の例の投光光学系１００ａにおいて、眼底撮影に使用される光源１１と、ＢＳ７５との間における光源１１からのレーザー光の光路上に、波面補償デバイス７２は配置されている。ここで、ＢＳ７５は、図７に示すように、光源１１からの撮影光の投光光路と、光源７６からの測定光（本実施形態における基準光）の投光光路とを、同軸にして投光光学系１００ａの光路に導く。よって、分岐光路Ｌ２へ導かれる測定光は、波面補償デバイス７２を経由しないため、収差の状態が一定である。つまり、波面補償デバイス７２を用いた波面補償制御が行われても、テストチャート１２２に照射される測定光の収差は変化しない。結果、波面補償制御にかかわらず、受光素子１２４からサンプリングパルスを安定して発生させることができる。

また、図７に示すように、テストチャート１２２は、光軸Ｌ２に対して斜めに傾けて配置されている。これにより、テストチャート１２２からの反射光が投光光学系１００ａを遡って、受光素子１２４以外の検出器（例えば、波面センサ７３等）にノイズとして受光されることが抑制される。結果として、テストチャート１２２からの反射光による第１眼底画像の画質劣化が抑制される。

以上、実施形態に基づいて説明を行ったが、本開示は、様々な変形が可能である。

第１実施形態では、投光光学系１００ａの状態を、第１モードと第２モードとに切り替えるために、投光光学系１００ａにおけるレーザー光の通過範囲が、偏向部４００によって変位される場合について説明した。しかし、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、テストチャートを、投光光学系１００ａの投光光路（例えば、眼底撮影用領域）に対して挿脱させる挿脱ユニットを撮影装置１に設けると共に、制御部８００が挿脱ユニットを制御してテストチャートの位置を切換えることによって、投光光学系１００ａの状態を第１モードと第の２モードとに切換えるように、撮影装置１は構成されてもよい。

また、上記各実施形態では、光学素子として、テストチャートが使用される場合について説明した。即ち、上記各実施形態では、光学素子を介した光を、光学素子とは別体の受光素子（光検出器）を用いて受光し、ミラー部の回転位置を示す位置情報が取得された。しかし、光学素子は、テストチャートに限定されるものではない。例えば、光学素子は、光検出器を兼用する構造であってもよい。具体例として、走査部２５を経た光の少なくとも一部を受光することによって受光位置と対応する電気信号を出力する光検出器が、光学素子として用いられてもよい。例えば、第１実施形態では、走査部２５による光の走査方向にて光を検出するセンサ（例えば、ラインセンサ、一列に並べられた複数個のセンサ等）が、光学素子として利用されてもよい。この場合、センサから逐次出力される信号を制御部８００が処理することによって、キャリブレーション情報が取得される。また、例えば、第２実施形態では、走査部２５による光の走査方向に並べられた複数個のフォトダイオード１２５が、光学素子として設けられていてもよい（図９参照）。この場合、第２実施形態におけるレンズ１２３および受光素子１２４は不要となる。光学素子から各々出力される信号を、サンプリングパルスとして使用することで、上記２実施形態と同様の動作が実現される。

また、第１実施形態において、投光光学系１００ａが第１モードである場合には、Ｙ方向の走査が行われないものとして説明したが、Ｙ方向の走査が行われてもよい。例えば、走査部２５と偏向部４００とを用いた２次元的なレーザー光の走査の結果としてテストチャート６０の輝度情報（例えば、画像情報でもよい）を解析することによって、キャリブレーションデータを取得してもよい。

また、上記第１実施形態では、キャリブレーションデータは、サンプリングタイミングのキャリブレーションに利用されたが、これに限定されるものではない。キャリブレーションデータは、走査部２５の走査に関するキャリブレーションに使用されるデータであればよく、例えば、画像における輝度情報の位置補正に用いられるデータであってもよい。主走査方向に関する輝度情報の位置座標を、キャリブレーションデータに基づいて補正することにより、眼底共役面上のサンプリング間隔が一定でない状態で撮影が行われる場合であっても、良好な画像を得ることができる。

上記第２実施形態では、測定光をテストチャートに照射することによって、サンプリングパルスを取得する場合について説明したが、テストチャートに照射される光は、測定光に限られるものではなく、例えば、レーザー光であってもよい。光路分岐部１２１までのレーザー光の投光光路上に、波面補償デバイス７２が配置されないように、光学系の設計が図７の例から適宜変更されてもよい。この場合において、波面補償デバイス７２は、例えば、光路分岐部１２１よりも被検眼側に配置されてもよい。特に、走査部２５および偏向部４００が駆動した際に、光の通過位置が一定である箇所に波面補償デバイス７２は配置されることが望ましい。なお、勿論、測定光等の撮影光以外の光を用いてサンプリングパルスを得る場合においても、光路分岐部１２１よりも被検眼側に波面補償デバイス７２が配置されていて構わない。

上記のとおり、光学素子（例えば、テストチャートおよび光検出器等）の走査は、眼底撮影用の光源からの光であって、光スキャナーによって走査された光であってもよいし、波面収差検出用の光源からの光であって、光スキャナーによって走査された光であってもよい。また、その他、眼底撮影用の光源とは別体の光源からの光であって、光スキャナーによって走査された光であってもよい。

なお、上記実施形態において、ミラー系で構成された箇所は、レンズ系で構成されてもよい。例えば、撮影光学系１００における凹面ミラー４１，４５等を含む対物光学系が、ミラー系で構成されてもよい。

上記実施形態において、テストチャートに形成されるテストパターンは、縞模様である場合について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、第１実施形態のようにキャリブレーションデータを求める場合においては、テストパターンには、上記実施形態のような幾何学的な図形のパターン（例えば、格子パターン、グリッドパターン等）以外にも、その他図形、文字、記号等によるパターンを用いることができる。いずれの場合においても、パターンにおける各部の位置情報および寸法情報等の参照データが予め記憶されたメモリが設けられていてもよい。参照データと、テストパターンに対する実際の走査結果との比較に基づいて、眼底共役面上を等間隔にサンプリングするためのサンプリングタイミング等のキャリブレーションデータを得ることができる。

なお、上記実施形態では、被検眼Ｅの波面収差を測定するために、眼底撮影装置１の光学系に波面センサ７３が設けられた場合について説明したが、必ずしもこれに限られるものではなく、被検眼の波面収差を眼底からの反射光に基づいて測定する構成を備えていればよい。例えば、ＰｈａｓｅＤｉｖｅｒｓｉｔｙ法を用いた波面収差の測定手法が提案されており、これを用いてもよい。勿論、他の手法で測定されてもよい。

１ 撮影装置
１１，７６ 光源
１００ａ 投光光学系
１００ｂ 撮影光学系
２５ 走査部
２５ａ ミラー部
２５ｂ 駆動部
５６ 受光素子
６０，１２２ テストチャート
７３ 波面センサ
７２ 波面補償デバイス
７５ ビームスプリッタ―
１２１ 光路分岐部
１２４ 受光素子
１２５ フォトダイオード
４００ 偏向部
５００ 撮影部（筐体）
８００ 制御部
Ｌ２ 分岐光路

Claims (15)

1. 光源からの光を被検眼の眼底に投光するための投光光学系と、
   前記光を反射させるミラー部，および，前記ミラー部を往復回転させる駆動部，を有し、前記投光光学系から投光される光を前記被検眼に対して走査線毎に往復振動させるための光スキャナーと、
   前記眼底によって反射される光の少なくとも一部を受光する受光素子を有する撮影光学系と、を筐体内に備える眼底撮影装置であって、
   前記筐体内であって、かつ、前記光スキャナーによって走査可能な位置に配置される光学素子と、
   前記光学素子に対する走査を介して前記ミラー部の回転位置を示す位置信号を取得し、前記位置信号に基づくキャリブレーションデータを基準として、前記受光素子からの受光信号に基づく前記眼底の正面画像を生成する画像生成手段と、を備える眼底撮影装置。
2. 前記光学素子を走査する第１モードと、前記眼底上を走査する第２モードとを切換えド切換手段と、
   前記第１モードに設定された場合、前記画像生成手段は、前記光スキャナーの駆動方向に関する前記正面画像のキャリブレーションデータを前記受光素子からの受光信号に基づいて取得し、
   前記第２モードに設定された場合、前記画像生成手段は、前記第１モードで予め取得された前記キャリブレーションデータを基準として、前記受光素子からの受光信号に基づく前記眼底の正面画像を生成する請求項１記載の眼底撮影装置。
3. 前記光学素子は、前記眼底の正面画像を撮影する際の撮影画角に対応する領域よりも外側に配置されており、
   前記第１モードに設定された場合、前記画像生成手段は、前記光スキャナーを制御することによって前記光源からの光を偏向させ、前記光源からの光によって前記光学素子を走査し、
   前記第２モードに設定された場合、前記画像生成手段は、前記光スキャナーを制御することによって前記光源からの光を偏向させ、前記光源からの光によって前記眼底を走査することを特徴とする請求項２記載の眼底撮影装置。
4. 前記投光光学系の投光光路に対して前記光学素子を挿脱させる挿脱ユニットを有し、
   前記モード切換手段は、前記挿脱ユニットを制御して前記光学素子の位置を切換えることによって、前記第１モードと前記第２モードとを切換える請求項２記載の眼底撮影装置。
5. 前記光学素子は、基準パターンが形成されたテストチャートであって、
   前記受光素子は、前記第１モードが設定される場合において、前記テストチャートへの走査によって取得される前記テストチャートからの光を受光し、
   前記画像形成手段は、前記ミラー部の位置信号として、前記テストチャートからの光による前記受光素子からの受光信号を取得する請求項２から４のいずれかに記載の眼底撮影装置。
6. 前記光学素子は、光検出器であって、前記光スキャナーを経た光の少なくとも一部を受光することによって受光位置と対応する電気信号を出力し、
   前記画像形成手段は、前記ミラー部の位置信号として、前記光検出器からの電気信号を取得する請求項２から４のいずれかに記載の眼底撮影装置。
7. 前記眼底からの反射光に基づいて前記被検眼の波面収差を検出するための波面検出手段，および，前記投光光学系の投光光路に置かれ，前記波面検出手段の検出結果に基づき波面収差を補償する波面補償デバイス，を備え、
   前記第１モードが設定される場合において、前記波面補償デバイスによる収差補正量を一定とし、且つ、前記第２モードが設定される場合において、前記波面補償デバイスによる収差補正量を前記波面検出手段の検出結果に基づいて設定する収差補正制御手段を備える請求項１から７のいずれかに記載の眼底撮影装置。
8. 前記投光光学系には、前記光スキャナーから被検眼側までの投光光路の間に前記投光光路を分岐させる光路分岐部が配置されると共に、前記光路分岐部によって前記投光光路から分岐される分岐光路が形成されており、
   前記光学素子は、前記分岐光路に配置される請求項１記載の眼底撮影装置。
9. 前記分岐光路には、前記光学素子における光の受光位置に対応する電気信号を出力する光検出器が配置されており、
   前記画像生成手段は、前記光検出器からの電気信号に同期して前記受光素子からの受光信号を読み取り、読み取った受光信号に基づいて前記正面画像を生成する請求項８記載の眼底撮影装置。
10. 前記光学素子は、基準パターンが形成されたテストチャートであって、
    前記検出器は、前記テストチャートからの光を受光し、受光位置に応じた前記電気信号を出力する請求項９記載の眼底撮影装置。
11. 前記光学素子は、前記光検出器と兼用される構造である請求項９記載の眼底撮影装置。
12. 前記光源は、撮影光を出射する撮影用光源と、前記撮影用光源とは別体であり，基準光を出射する基準用光源とを有し、
    前記投光光学系は、前記撮影光の投光光路と前記基準光の投光光路とを同軸にして前記投光光学系の光路に導く光路合成部を有し、
    前記撮影光学系は、前記撮影光の眼底反射光を前記受光素子で受光し、
    前記光路分岐部は、前記基準光を前記分岐光路へ分岐させて前記光学素子に導き、
    前記撮影用光源と前記光路合成部との間における前記撮影光の光路上に前記波面補償デバイスが配置される請求項８から１１のいずれかに記載の眼底撮影装置。
13. 前記基準用光源は、被検眼の波面収差を測定するための測定光源を兼用し、
    前記測定光源による眼底反射光を受光することによって前記被検眼の波面収差を検出するための波面センサと、
    前記波面センサの検出結果に基づき波面収差を補償する波面補償デバイスと、
    を備えることを特徴とする請求項１２の眼底撮影装置。
14. 前記眼底からの反射光を用いて前記被検眼の波面収差を検出するための波面センサ，および，前記投光光学系の投光光路に置かれ，前記波面検出手段の検出結果に基づき波面収差を補償する波面補償デバイス，を有し、
    前記波面補償デバイスは、前記投光光学系において前記光路分岐部よりも被検眼側に配置されている請求項８から１１のいずれかに記載の眼底撮影装置。
15. 前記光学素子は、眼底共役位置に配置されている請求項１から１４のいずれかに記載の眼底撮影装置。