JP2016105582A - 増幅回路用バイアス回路とその制御方法、並びに信号増幅装置 - Google Patents
増幅回路用バイアス回路とその制御方法、並びに信号増幅装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016105582A JP2016105582A JP2015204810A JP2015204810A JP2016105582A JP 2016105582 A JP2016105582 A JP 2016105582A JP 2015204810 A JP2015204810 A JP 2015204810A JP 2015204810 A JP2015204810 A JP 2015204810A JP 2016105582 A JP2016105582 A JP 2016105582A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- transistor
- bias
- amplifier circuit
- bias voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 53
- 241000432812 Pseudobias Species 0.000 claims abstract description 35
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/189—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers
- H03F3/19—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/193—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only with field-effect devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/02—Modifications of amplifiers to raise the efficiency, e.g. gliding Class A stages, use of an auxiliary oscillation
- H03F1/0205—Modifications of amplifiers to raise the efficiency, e.g. gliding Class A stages, use of an auxiliary oscillation in transistor amplifiers
- H03F1/0261—Modifications of amplifiers to raise the efficiency, e.g. gliding Class A stages, use of an auxiliary oscillation in transistor amplifiers with control of the polarisation voltage or current, e.g. gliding Class A
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/20—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers
- H03F3/24—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers of transmitter output stages
- H03F3/245—Power amplifiers, e.g. Class B amplifiers, Class C amplifiers of transmitter output stages with semiconductor devices only
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/30—Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters
- H03F1/301—Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters in MOSFET amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/18—Indexing scheme relating to amplifiers the bias of the gate of a FET being controlled by a control signal
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/27—A biasing circuit node being switched in an amplifier circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/451—Indexing scheme relating to amplifiers the amplifier being a radio frequency amplifier
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/453—Controlling being realised by adding a replica circuit or by using one among multiple identical circuits as a replica circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/541—Transformer coupled at the output of an amplifier
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/555—A voltage generating circuit being realised for biasing different circuit elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
【課題】増幅回路の動作を高速でオン/オフすることができる増幅回路用バイアス回路を提供する。【解決手段】増幅回路用バイアス回路2は、第1の抵抗R1及びデカップリングキャパシタC1と、第1のトランジスタN1を含む。第1のレプリカ回路3は、スイッチSW11、SW12と、第2の抵抗R11及びキャパシタC11と、第2のトランジスタN11とを含む。第2のレプリカ回路4は、第3のトランジスタN11を含む。比較器5は、擬似バイアス電圧VDUMを基準電圧VREFと比較する。回路コントローラ10とスイッチ制御信号発生器11は、比較結果に基づいてスイッチSW1、SW2を制御して第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる。【選択図】図1
Description
本開示は、増幅回路のためのバイアス回路とその制御方法、並びに上記バイアス回路を備えた信号増幅装置に関する。
79GHz帯レーダとして、現在主流であるFM−CW方式では、常時FM変調された信号を送信する。そのため、消費電力で不利である。一方、今後採用が期待されるパルスレーダ方式は、変調パルスを用い、距離分解能を向上させる(例えば、非特許文献1参照)。この方式では、一定時間毎にパルス送信を繰り返すので間欠送信でき、低消費電力化できる。
M. Kanemaru, et al., "79 GHz CMOS circuits for phase/amplitude calibration in high resolution beamforming radar systems,", Proceedings of Rader Conference (EuRAD), 2013 European, IEEE, pp.303-306, October 2013.
本開示の一実施形態は、増幅回路の動作を高速でオン/オフすることができる増幅回路用バイアス回路を提供する。
本開示の一実施形態に係る増幅回路用バイアス回路は、第1の回路と、バイアス電圧発生回路と、1又は複数のスイッチと、第1のレプリカ回路と、第2のレプリカ回路と、比較器と、制御回路とを備える。第1の回路は、第1の抵抗及びデカップリングキャパシタを含み、増幅回路にバイアス電圧を供給する。バイアス電圧発生回路は、上記第1の回路に接続されて上記バイアス電圧を発生する第1のトランジスタを含み、上記第1の抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電する。1又は複数のスイッチは、上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を変化させる。第1のレプリカ回路は、第2の抵抗及びキャパシタを含む第2の回路と、上記第2の回路に接続されて擬似バイアス電圧を発生する第2のトランジスタとを含む。第2のレプリカ回路は、基準電圧を発生する第3のトランジスタを含む。比較器は、上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較し、当該比較結果を示す比較結果信号を出力する。制御回路は、上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧に到達し又は上記基準電圧を超えたときに上記1又は複数のスイッチを制御して上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる。
本開示の一実施形態に係るバイアス回路によれば、増幅回路の動作を高速でオン/オフすることができる。
(本開示の基礎となった知見)
パルスレーダ方式は、一定時間毎にパルス送信を繰り返すので間欠送信でき、低消費電力化できる。しかし、パルスレーダ方式でも、送信していない期間もパワーアンプ(PA)他のバイアス電流が流れる。必要な送信デューティ比(約10%)に合せて、バイアス電流をオン/オフさせても、回路起動時間(約20%)程度が必要で、効果的な低消費電流化の妨げとなっていた。そこで、高速な回路起動方法が必要である。具体的には、100ns未満の起動時間が望まれる。更に、10nsから数十nsの起動時間が望まれる。
パルスレーダ方式は、一定時間毎にパルス送信を繰り返すので間欠送信でき、低消費電力化できる。しかし、パルスレーダ方式でも、送信していない期間もパワーアンプ(PA)他のバイアス電流が流れる。必要な送信デューティ比(約10%)に合せて、バイアス電流をオン/オフさせても、回路起動時間(約20%)程度が必要で、効果的な低消費電流化の妨げとなっていた。そこで、高速な回路起動方法が必要である。具体的には、100ns未満の起動時間が望まれる。更に、10nsから数十nsの起動時間が望まれる。
例えば特許文献1では、低雑音で100ナノ秒以下の起動及び停止による高速な間欠動作を可能とするために、入力端子からトランジスタのゲートに容量を介して信号、第1の抵抗を介してバイアス電圧を入力し、ドレインから増幅した信号を出力する第1の増幅器と、第1の増幅器の出力信号を容量を介して差動接続された一方のトランジスタのゲートに、第2の抵抗を介して差動接続された他方のトランジスタのゲートに入力し、各ドレインから増幅した差動信号を出力する第2の増幅器と、第1及び第2の増幅器と電源との間の接続状態を第1の制御信号に応じてオン/オフし、第1及び第2の増幅器の動作状態及び休止状態を制御する間欠動作制御手段とを備えた低雑音増幅器(LNA)において、動作状態から休止状態へ遷移するとき、または休止状態から動作状態に遷移するときに、第1及び第2の抵抗の抵抗値を所定時間だけ下げた状態に設定して遷移させる状態遷移制御手段を備える。
すなわち、特許文献1では、バイアス抵抗である第1の抵抗と並列にスイッチを設け、起動時にこのスイッチを閉じることで迅速にバイアス電圧を所定電圧に設定する。しかしながら、ミリ波などの高周波増幅回路のバイアスラインにスイッチ素子を設けると、高周波増幅回路の電気的特性が変化して所望の特性を得ることができず、例えば、相互変調歪みなどの原因となるという問題点があった。
そこで本発明者らは、例えばミリ波などの高周波増幅回路のためのバイアス回路において、高周波増幅回路の電気的特性を変化させずに、高周波増幅回路の動作を高速でオン/オフすることができる高周波増幅回路用バイアス回路を提供すべく、鋭意研究した。本開示の一実施形態に係るバイアス回路によれば、デカップリングキャパシタを高速充電させることができ、しかも高周波増幅器のバイアス部分にスイッチ(MOSトランジスタなど)が無いことで、高周波増幅器の電気的特性を変化させずに高周波増幅回路の動作をオン/オフすることができる。これにより、例えば高周波増幅回路を用いて間欠送信させたときに余分な起動時間を低減でき、低消費電力化できる。
以下、本開示に係る実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の各実施形態において、同様の構成要素については同一の符号を付している。
実施形態1.
図1は実施形態1に係る高周波増幅回路1及びバイアス回路2とその周辺回路の構成を示す回路図である。実施形態1に係る回路は、図1に示すように、例えばミリ波信号などの高周波信号を増幅する高周波増幅回路1と、バイアス回路2と、バイアス回路2のレプリカ回路3,4と、比較器5と、回路コントローラ10と、スイッチ制御信号発生器11とを備えて構成される。高周波信号は、30GHz以上の信号であってもよい。
図1は実施形態1に係る高周波増幅回路1及びバイアス回路2とその周辺回路の構成を示す回路図である。実施形態1に係る回路は、図1に示すように、例えばミリ波信号などの高周波信号を増幅する高周波増幅回路1と、バイアス回路2と、バイアス回路2のレプリカ回路3,4と、比較器5と、回路コントローラ10と、スイッチ制御信号発生器11とを備えて構成される。高周波信号は、30GHz以上の信号であってもよい。
図1において、例えばミリ波などの高周波信号を高周波増幅するNチャンネルMOSトランジスタN10と、端子T1〜T3と、変成器TR1と、高周波阻止用インダクタL1とを備える。バイアス回路2からのバイアス電圧VGが端子T3及びインダクタL1を介してNチャンネルMOSトランジスタN10のゲートに印加され、電源電圧VDDが変成器TR1の1次側を介してNチャンネルMOSトランジスタN10のドレインに接続される。また、変成器TR1の2次側の一方の端子は端子T2に接続され、他方の端子は接地される。端子T1に入力される高周波信号はNチャンネルMOSトランジスタN10のゲートに入力されて増幅された後、変成器TR1を介して端子T2から出力される。
バイアス回路2は、PチャンネルMOSトランジスタP1,P2と、NチャンネルMOSトランジスタN1と、定電流Irefを有する電流源21と、抵抗R1と、デカップリングキャパシタC1と、スイッチSW1,SW2と、端子T11とを備える。バイアス回路2において、電源電圧VDDと接地との間に、互いに短絡されたゲート及びドレインを有するPチャンネルMOSトランジスタP2と、電流源21とが接続される。PチャンネルMOSトランジスタP2と並列に、スイッチ制御信号SWOFFにより制御されるスイッチSW2が接続される。電流源21と並列に、スイッチ制御信号SWCによりオン/オフが制御されるスイッチSW1が接続される。また、電源電圧VDDと接地との間に、PチャンネルMOSトランジスタP1と、互いに短絡されたゲート及びドレインを有するNチャンネルMOSトランジスタN1が接続される。NチャンネルMOSトランジスタN1のゲートは抵抗R1を介して端子T11に接続されるとともに、デカップリングキャパシタC1を介して接地される。
なお、バイアス回路2において、端子T11、抵抗R1、デカップリングキャパシタC1、スイッチSW1及びスイッチSW2以外の回路(即ち、チャンネルMOSトランジスタP1,P2と、NチャンネルMOSトランジスタN1と、電流源21とを備えた回路)をバイアス電圧発生回路20という。
以上の様に構成されたバイアス回路2において、スイッチSW2をオンしているときは、PチャンネルMOSトランジスタP2には電流が流れず、バイアス回路2はバイアス電圧VGを発生しない。バイアス回路2において、PチャンネルMOSトランジスタP1,P2はカレントミラー回路を構成しており、スイッチSW2をオフしたとき、PチャンネルMOSトランジスタP2に流れる電流に対応する電流がPチャンネルMOSトランジスタP1及びNチャンネルMOSトランジスタN1に流れる。
ここで、スイッチSW2をオフしてスイッチSW1をオンしたとき、PチャンネルMOSトランジスタP2に流れる比較的大きな電流に対応する電流がPチャンネルMOSトランジスタP1及びNチャンネルMOSトランジスタN1に流れる。そのときのNチャンネルMOSトランジスタN1のドレイン電圧VDを、抵抗R1を介してデカップリングキャパシタC1に印加することでデカップリングキャパシタC1を急速充電してバイアス電圧VGを上昇させる。これにより、デカップリングキャパシタC1の充電は100ns未満で完了する。さらに、スイッチSW1をオフしたとき、PチャンネルMOSトランジスタP2に流れる所定の電流に対応する電流がPチャンネルMOSトランジスタP1及びNチャンネルMOSトランジスタN1に流れる。そのときのNチャンネルMOSトランジスタN1のドレイン電圧を抵抗R1及び端子T11を介してバイアス電圧VGとして高周波増幅回路1に出力する。
レプリカ回路3は、バイアス回路2のレプリカ回路であって、PチャンネルMOSトランジスタP11,P12と、NチャンネルMOSトランジスタN11と、定電流Iref/Mを有する電流源21aと、抵抗R11と、キャパシタC11と、スイッチSW11,SW12とを備えて、以下の点を除いてバイアス回路2と同様に構成される。ここで、Mは1以上の数である。Mは、自然数であってもよい。Mを自然数にすることにより、歩留まりを向上させることができる。
(1)PチャンネルMOSトランジスタP11のトランジスタサイズはPチャンネルMOSトランジスタP1のトランジスタサイズの1/Mである。
(2)PチャンネルMOSトランジスタP12のトランジスタサイズはPチャンネルMOSトランジスタP2のトランジスタサイズの1/Mである。
(3)NチャンネルMOSトランジスタN11のトランジスタサイズはNチャンネルMOSトランジスタN1のトランジスタサイズの1/Mである。
(4)電流源21aの電流は定電流Iref/Mを流す。
(5)抵抗R11は抵抗R1の抵抗値の1/Mである。
なお、キャパシタC11はデカップリングキャパシタC1と同一容量を有する。また、レプリカ回路3において、抵抗R11、キャパシタC11、スイッチSW11及びSW12以外の回路(即ち、チャンネルMOSトランジスタP11,P12と、NチャンネルMOSトランジスタN11と、電流源21aとを備えた回路)をバイアス電圧発生回路20Aという。
(1)PチャンネルMOSトランジスタP11のトランジスタサイズはPチャンネルMOSトランジスタP1のトランジスタサイズの1/Mである。
(2)PチャンネルMOSトランジスタP12のトランジスタサイズはPチャンネルMOSトランジスタP2のトランジスタサイズの1/Mである。
(3)NチャンネルMOSトランジスタN11のトランジスタサイズはNチャンネルMOSトランジスタN1のトランジスタサイズの1/Mである。
(4)電流源21aの電流は定電流Iref/Mを流す。
(5)抵抗R11は抵抗R1の抵抗値の1/Mである。
なお、キャパシタC11はデカップリングキャパシタC1と同一容量を有する。また、レプリカ回路3において、抵抗R11、キャパシタC11、スイッチSW11及びSW12以外の回路(即ち、チャンネルMOSトランジスタP11,P12と、NチャンネルMOSトランジスタN11と、電流源21aとを備えた回路)をバイアス電圧発生回路20Aという。
以上のように構成されたレプリカ回路3は、トランジスタサイズ等が異なることを除いてバイアス回路2と同様に、バイアス回路2と同様のバイアス電圧波形を有するバイアス電圧を発生し、当該バイアス電圧を擬似バイアス電圧VDUMとして比較器5の非反転入力端子に出力する。
レプリカ回路4は、バイアス回路2の別のレプリカ回路であって、PチャンネルMOSトランジスタP11,P12と、NチャンネルMOSトランジスタN11と、定電流Iref/Mを有する電流源21aとを備えるバイアス電圧発生回路20Aを含む。レプリカ回路4は、以下の点を除いてバイアス回路2と同様に構成される。ここで、Mは1以上の数である。Mは、自然数であってもよい。
(1)PチャンネルMOSトランジスタP11のトランジスタサイズはPチャンネルMOSトランジスタP1のトランジスタサイズの1/Mである。
(2)PチャンネルMOSトランジスタP12のトランジスタサイズはPチャンネルMOSトランジスタP2のトランジスタサイズの1/Mである。
(3)NチャンネルMOSトランジスタN11のトランジスタサイズはNチャンネルMOSトランジスタN1のトランジスタサイズの1/Mである。
(4)電流源21aの電流は定電流Iref/Mを流す。
(5)抵抗R1及びキャパシタC1を設けない。
(6)スイッチSW1及びSW2を設けない。
レプリカ回路3,4において、トランジスタサイズ、抵抗値及び定電流値を1/Mにしているのは、レプリカ回路3,4での消費電力を抑えつつ同様の動作をさせるためである。
(1)PチャンネルMOSトランジスタP11のトランジスタサイズはPチャンネルMOSトランジスタP1のトランジスタサイズの1/Mである。
(2)PチャンネルMOSトランジスタP12のトランジスタサイズはPチャンネルMOSトランジスタP2のトランジスタサイズの1/Mである。
(3)NチャンネルMOSトランジスタN11のトランジスタサイズはNチャンネルMOSトランジスタN1のトランジスタサイズの1/Mである。
(4)電流源21aの電流は定電流Iref/Mを流す。
(5)抵抗R1及びキャパシタC1を設けない。
(6)スイッチSW1及びSW2を設けない。
レプリカ回路3,4において、トランジスタサイズ、抵抗値及び定電流値を1/Mにしているのは、レプリカ回路3,4での消費電力を抑えつつ同様の動作をさせるためである。
なお、レプリカ回路4は、レプリカ回路3と同様の回路構成を有する。
以上のように構成されたレプリカ回路4において、PチャンネルMOSトランジスタP11,P12はカレントミラー回路を構成している。よって、PチャンネルMOSトランジスタP12に流れる電流に対応する電流がPチャンネルMOSトランジスタP11及びNチャンネルMOSトランジスタN11に流れる。そのとき、NチャンネルMOSトランジスタN11のドレイン電圧VDが発生する。NチャンネルMOSトランジスタN11は、当該ドレイン電圧VDを基準電圧VREFとして比較器5の反転入力端子に出力する。
比較器5は擬似バイアス電圧VDUMを基準電圧VREFと比較して、比較結果を示す比較結果信号COMPを発生してスイッチ制御信号発生器11に出力する。回路コントローラ10は、高周波増幅回路1の出力信号の送信期間を示す送信期間信号SIS及びリセット信号SRを含む所定の制御信号、及びスイッチSW2のオン/オフを制御するスイッチ制御信号SWOFFを発生する。回路コントローラ10は、リセット信号SRをスイッチ制御信号発生器11に出力する。スイッチ制御信号発生器11は比較結果信号COMP及び制御信号に基づいて、スイッチSW1のスイッチ制御信号SWCを発生して出力する。
図2は図1の回路動作を示す各信号のタイミングチャートである。初期状態において、スイッチSW2,SW12はともにオンとされ、バイアス回路2及びレプリカ回路3の動作は停止している。時刻t1において、回路コントローラ10は、リセット信号SRをオン状態にするとともに、スイッチ制御信号SWOFFを用いてスイッチSW2及びSW12をオフにする。次いで、回路コントローラ10は、時刻t2において、リセット信号SRをオフ状態にする。スイッチ制御信号発生器11は、時刻t2においてスイッチ制御信号SWCをオフからオンの状態にし、スイッチSW1及びSW11をオフからオンにする。これにより、PチャンネルMOSトランジスタP2に流れる電流は増大して、それに対応しPチャンネルMOSトランジスタP1に流れる電流も増大するので、NチャンネルMOSトランジスタN1のドレイン電圧VDも増大してデカップリングキャパシタC1を急速に充電することができる。これにより、バイアス電圧VGが上昇する。
また、レプリカ回路3のPチャンネルMOSトランジスタP12に流れる電流も増大して、それに対応しPチャンネルMOSトランジスタP11に流れる電流も増大するので、NチャンネルMOSトランジスタN11のドレイン電圧VDも増大してキャパシタC11を急速に充電する。よって、擬似バイアス電圧VDUMも上昇し、擬似バイアス電圧VDUMが基準電圧VREFに到達又は基準電圧VREFを超えると(時刻t3)、比較結果信号COMPはローレベルからハイレベルになる。これに基づいて、スイッチ制御信号発生回路11は、スイッチ制御信号SWCをオフ状態にすることで、スイッチSW1及びSW11をオフにする。これにより、MOSトランジスタP1、P11に流れる電流が減少する。よって、バイアス電圧VGが上がりすぎることを防ぐことができる。その後、回路コントローラ10は、予め定められた時刻t4で送信期間信号SISを発生して、ベースバンド部などの送信信号を発生させる回路に送信する。
また、スイッチSW1及びSW11がオフすることにより、擬似バイアス電圧VDUM及びVGは、暫く緩やかに上昇した後、トランジスタN1,N11の放電により、緩やかに低下する。回路コントローラ10は、予め定められた時刻t5で送信期間信号SISをオフとし、スイッチ制御信号SWOFFをオンにする。これにより、スイッチSW2,SW12はオンされて、バイアス回路2及びレプリカ回路3の動作が停止される。また、デカップリングキャパシタC1及びキャパシタC11が抵抗R1、R11及びトランジスタN1、N11を通じて放電され、バイアス電圧VG及び擬似バイアス電圧VDUMが0に戻る。
以上のように構成された実施形態1においては、スイッチをバイアス抵抗と並列に設けるのではなく、スイッチSW1を電流源21と並列に設ける。よって、スイッチSW2をオンしてバイアス回路2をオフ状態にしたときの電気的特性の劣化などの悪影響を無くすことができる。しかし、この方法では、スイッチSW1がオンのときPチャンネルMOSトランジスタP1のドレイン電圧VDが電源電圧VDDなので、スイッチSW1をオフにするタイミングを正確に制御しないと、バイアス電圧VGが上がりすぎる可能性がある。この対策として、バイアス回路2と同様の回路構成を有するレプリカ回路3及び所望の基準電圧VREFを出力するレプリカ回路4を設ける。これらの回路の出力を比較し、この比較結果に基づいてスイッチSW1を制御することで、バイアス電圧VGが所望の電圧VREFに達した際に正確にスイッチSW1をオフさせることができる。これにより、R1C1の時定数よりも高周波増幅回路1の動作の立ち上げを高速化できかつ高周波増幅回路1に対して電気的特性の影響を与えず、消費電流を低下させることができる。
以上の実施形態1において、高周波増幅回路1を開示しているが、これは一例を図示しているのにすぎず、バイアス電圧VGを用いる高周波増幅回路であればよい。
実施形態2.
図3は実施形態2に係る高周波増幅回路1のためのバイアス回路2Aとその周辺回路の構成を示す回路図である。実施形態2の回路は、実施形態1の回路に比較して以下の点が異なる。他の部分は実施形態1の回路と同じである。
(1)バイアス回路2に代えて、バイアス回路2Aを備える。
(2)スイッチ制御信号発生器11に代えて、遅延型フリップフロップ11Aを備える。
(3)実施形態1のレプリカ回路3に代えて、バイアス回路2Aと同様の回路構成を有するレプリカ回路3を備える。
以下、相違点について詳述する。
図3は実施形態2に係る高周波増幅回路1のためのバイアス回路2Aとその周辺回路の構成を示す回路図である。実施形態2の回路は、実施形態1の回路に比較して以下の点が異なる。他の部分は実施形態1の回路と同じである。
(1)バイアス回路2に代えて、バイアス回路2Aを備える。
(2)スイッチ制御信号発生器11に代えて、遅延型フリップフロップ11Aを備える。
(3)実施形態1のレプリカ回路3に代えて、バイアス回路2Aと同様の回路構成を有するレプリカ回路3を備える。
以下、相違点について詳述する。
バイアス回路2Aは、実施形態1に係るバイアス回路2において、実施形態1に係るスイッチSW1,SW2に代えて、スイッチSW3,SW4を備える。ここで、電源電圧VDDはスイッチSW3及び接続点31を介してNチャンネルMOSトランジスタN1のドレインに接続され、PチャンネルMOSトランジスタP1のドレインは接続点31に接続され、かつスイッチSW4を介して接地される。実施形態2に係るレプリカ回路3は、当然、実施形態1に係るレプリカ回路3において、スイッチの配置をバイアス回路2Aと同じ位置に変更したものである。すなわち、スイッチSW11及びSW12に代えて2つのスイッチを設ける。これら2つのスイッチの一方は、NチャンネルMOSトランジスタN11とPチャンネルMOSトランジスタP11との接続点と電源電圧VDDとの間に配置される。他方のスイッチは、該接続点と接地との間に配置される。
遅延型フリップフロップ11Aの入力端子(D)にはハイレベルの電源電圧VDDが印加され、比較器5からの比較結果信号COMPがクロック入力端子(CK)に入力される。回路コントローラ10からのリセット信号SRは遅延型フリップフロップ11Aのリセット入力端子に入力される。また、回路コントローラ10はスイッチSW4のオン/オフを制御するスイッチ制御信号SWOFFを発生してスイッチSW4に出力する。遅延型フリップフロップ11Aはリセット信号SRに基づいてリセットされた後、クロック入力端子(CK)に入力される比較結果信号COMPに基づいて入力端子(D)に入力される信号を一時的に保持し、反転出力端子(NQ)からスイッチ制御信号SWCとして出力するとともに、非反転出力端子(Q)からスイッチ制御信号SWCBを出力する。
以上のように構成されたバイアス回路2Aでは、実施形態1のバイアス回路2のように、PチャンネルMOSトランジスタP1,P2で構成されるカレントミラー回路をオン/オフするのではなく、バイアス電圧発生用NチャンネルMOSトランジスタN1の動作を直接にスイッチSW4を用いてオン/オフする。また、バイアス回路2Aでは、カレントミラー回路の電流を制御しない。すなわち、カレントミラー回路の電流を増減するのではなく、バイアス電圧発生用NチャンネルMOSトランジスタN1の電流を直接にスイッチSW3を用いて増減する。その他の実施形態2の動作は、図2を用いて説明した実施形態1の動作と同様である。これにより、実施形態1と同様に、R1C1の時定数よりも高周波増幅回路1の動作の立ち上げを高速化できかつ高周波増幅回路1に対して電気的特性の影響を与えず、消費電流を低下させることができる。
実施形態3.
図4は実施形態3に係る高周波増幅回路1のためのバイアス回路2Bの構成を示す回路図である。実施形態3の回路は、実施形態2の回路に比較して、以下の点が異なる。他の部分は実施形態2の回路と同じである。
(1)バイアス回路2Aに代えて、バイアス回路2Bを備える。
(2)実施形態2のレプリカ回路3に代えて、バイアス回路2Bと同様の回路構成を有するレプリカ回路3を備える。
なお、回路コントローラ10及び遅延型フリップフロップ11Aは、図3に図示された実施形態2に係るものを用いる。
図4は実施形態3に係る高周波増幅回路1のためのバイアス回路2Bの構成を示す回路図である。実施形態3の回路は、実施形態2の回路に比較して、以下の点が異なる。他の部分は実施形態2の回路と同じである。
(1)バイアス回路2Aに代えて、バイアス回路2Bを備える。
(2)実施形態2のレプリカ回路3に代えて、バイアス回路2Bと同様の回路構成を有するレプリカ回路3を備える。
なお、回路コントローラ10及び遅延型フリップフロップ11Aは、図3に図示された実施形態2に係るものを用いる。
バイアス回路2Bは実施形態2のバイアス回路2Aに比較して以下の点が異なる。他の部分は実施形態2のバイアス回路2Aと同一である。
(1)スイッチSW3に代えて、スイッチ制御信号SWCによりオン/オフが制御されるスイッチSW5と、スイッチ制御信号SWCの反転信号であるスイッチ制御信号SWCBによりオン/オフが制御されるSW6とを備える。また、スイッチSW4に代えて、実施形態1と同様にスイッチSW2を備える。
(2)PチャンネルMOSトランジスタP1,P2のトランジスタサイズのK倍(K>1)のトランジスタサイズを有するPチャンネルMOSトランジスタP3をさらに備える。
(1)スイッチSW3に代えて、スイッチ制御信号SWCによりオン/オフが制御されるスイッチSW5と、スイッチ制御信号SWCの反転信号であるスイッチ制御信号SWCBによりオン/オフが制御されるSW6とを備える。また、スイッチSW4に代えて、実施形態1と同様にスイッチSW2を備える。
(2)PチャンネルMOSトランジスタP1,P2のトランジスタサイズのK倍(K>1)のトランジスタサイズを有するPチャンネルMOSトランジスタP3をさらに備える。
図4のバイアス回路2Bにおいて、PチャンネルMOSトランジスタP1,P2の各ゲートは接続点32及びスイッチSW5を介してPチャンネルMOSトランジスタP3のゲートに接続され、当該PチャンネルMOSトランジスタP3のゲートはスイッチSW6を介して電源電圧VDDに接続される。電源電圧VDDはPチャンネルMOSトランジスタP3を介してNチャンネルMOSトランジスタN1のドレインに接続される。実施形態3に係るレプリカ回路3は、当然、実施形態1に係るレプリカ回路3において、スイッチの配置をバイアス回路2Bと同じ位置に変更し、且つ、PチャンネルMOSトランジスタP3の1/Mのサイズのトランジスタを追加したものである。すなわち、追加したトランジスタは、NチャンネルMOSトランジスタN11とPチャンネルMOSトランジスタP11との接続点(第1の接続点)と電源電圧VDDとの間に配置される。また、スイッチSW11に代えて2つのスイッチを設ける。これら2つのスイッチの一方は、電流源21aとPチャンネルMOSトランジスタP12との接続点(第2の接続点)と追加したトランジスタのゲートとの間に配置される。他方のスイッチは、電源電圧VDDと追加したトランジスタのゲートとの間に配置される。
以上のように構成されたバイアス回路2Bでは、実施形態1のバイアス回路2のように、PチャンネルMOSトランジスタP1,P2で構成されるカレントミラー回路をスイッチSW2を用いてオン/オフする。しかし、バイアス回路2Bでは、カレントミラー回路の電流を制御しない。すなわち、カレントミラー回路の電流を増減するのではなく、バイアス回路2BのトランジスタN1に接続されるカレントミラー制御用PチャンネルMOSトランジスタP3の動作を直接にスイッチSW5,SW6を用いてオン/オフする。ここで、スイッチSW5,SW6は互いに反転するスイッチ制御信号SWC,SWCBで制御される。その他の実施形態3の動作は、図2を用いて説明した実施形態1の動作と同様である。スイッチSW5がオンでかつスイッチSW6がオフである期間においては、PチャンネルMOSトランジスタP3により、実施形態1,2に比較してK倍の電流がNチャンネルMOSトランジスタN3に流れる。その結果、充電キャパシタC1への充電を早くすることができる。
本実施形態3によれば、実施形態1,2と同様に、R1C1の時定数よりも高周波増幅回路1の動作の立ち上げを高速化できかつ高周波増幅回路1に対して電気的特性の影響を与えず、消費電流を低下させることができる。
なお、カレントミラー回路を構成するPチャンネルMOSトランジスタP1,P2は、高周波増幅回路1のバイアス回路2のための電流源用NチャンネルMOSトランジスタN1の動作点を決めるので、このカレントミラー回路自体をオン/オフすることでスイッチング速度を速めることはできない。
上述した実施形態1〜3では、MOSトランジスタを用いた。しかし、MOSトランジスタ以外を用いてもよい。例えば、MOSトランジスタに代えてバイポーラトランジスタを用いてもよい。また、実施形態1〜3において、Pチャンネルのトランジスタに代えてNチャンネルのトランジスタを用い、Nチャンネルのトランジスタに代えてPチャンネルのトランジスタを用いてもよい。さらに、上述した実施形態1〜3では、カレントミラー回路を用いた。しかし、カレントミラー回路以外を用いてバイアス電圧、擬似バイアス電圧及び基準電圧を発生させてもよい。例えば、ダイオードを用いた回路によって、バイアス電圧、擬似バイアス電圧及び基準電圧を発生させてもよい。また、実施形態1〜3の構成を組み合わせてもよい。例えば、実施形態1において、スイッチ制御信号発生器11に代えて、遅延型フリップフロップ11Aを用いてもよい。また、実施形態2又は3において、遅延型フリップフロップ11Aに代えて、スイッチ制御信号発生器11を用いてもよい。
図1及び3に示した回路コントローラ10、スイッチ制御信号発生器11及び遅延型フリップフロップ11Aは、半導体装置、半導体集積回路(IC)、又はLSI(large scale integration)を含む一つ又は複数の電子回路によって実現されてもよい。LSI又はICは、一つのチップに集積されてもよいし、複数のチップを組み合わせて構成されてもよい。例えば、記憶素子以外の機能ブロックは、一つのチップに集積されてもよい。ここでは、LSIやICと呼んでいるが、集積の度合いによって呼び方が変わり、システムLSI、VLSI(very large scale integration)、若しくはULSI(ultra large scale integration)と呼ばれるかもしれない。LSIの製造後にプログラムされる、Field Programmable Gate Array(FPGA)、又はLSI内部の接合関係の再構成又はLSI内部の回路区画のセットアップができるreconfigurable logic deviceも同じ目的で使うことができる。
さらに、回路コントローラ10及びスイッチ制御信号発生器11の、全部又は一部の機能又は処理は、ソフトウエアによって実行することが可能である。この場合、ソフトウエアは一つ又は複数のROM、光ディスク、ハードディスクドライブ、などの非一時的記録媒体に記録され、ソフトウエアが、処理装置(processor)によって実行された場合に、ソフトウエアは、ソフトウエア内の特定の機能を、処理装置(processor)と周辺のデバイスに実行させる。システム又は装置は、ソフトウエアが記録されている一つ又は複数の非一時的記録媒体、処理装置(processor)、及び必要とされるハードウエアデバイス、例えばインターフェース、を備えていても良い。
実施形態のまとめ.
第1の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路は、所定のバイアス電圧発生回路により所定のバイアス電圧を発生して抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電して高周波増幅回路に供給する、高周波増幅回路用バイアス回路であって、
上記バイアス回路は、
上記デカップリングキャパシタに急速に充電する急速充電回路と、
上記バイアス電圧発生回路と同様の回路と、上記抵抗と同様の抵抗と、上記デカップリングキャパシタと同様のキャパシタとを含み、上記バイアス回路と同様の擬似バイアス電圧を発生する第1のレプリカ回路と、
上記バイアス電圧発生回路と同様に回路構成を含み、所定の基準電圧を発生する第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較して比較結果信号を発生して出力する比較手段と、
上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記急速充電回路の動作を停止させる制御手段とを備える。
第1の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路は、所定のバイアス電圧発生回路により所定のバイアス電圧を発生して抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電して高周波増幅回路に供給する、高周波増幅回路用バイアス回路であって、
上記バイアス回路は、
上記デカップリングキャパシタに急速に充電する急速充電回路と、
上記バイアス電圧発生回路と同様の回路と、上記抵抗と同様の抵抗と、上記デカップリングキャパシタと同様のキャパシタとを含み、上記バイアス回路と同様の擬似バイアス電圧を発生する第1のレプリカ回路と、
上記バイアス電圧発生回路と同様に回路構成を含み、所定の基準電圧を発生する第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較して比較結果信号を発生して出力する比較手段と、
上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記急速充電回路の動作を停止させる制御手段とを備える。
第2の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路は、上記第1の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、上記バイアス電圧発生回路は、
電源電圧と接地との間に接続された、第1のPチャンネルMOSトランジスタ及び電流源と、
上記電源電圧と接地との間に接続された、第2のPチャンネルMOSトランジスタ及びバイアス電圧発生用NチャンネルMOSトランジスタと、
上記電流源と並列に接続されたスイッチとを備え、
上記第1のPチャンネルMOSトランジスタと上記第2のPチャンネルMOSトランジスタとはカレントミラー回路を構成し、
上記制御手段は、上記スイッチをオンすることにより上記急速充電回路を動作させた後、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記スイッチをオフすることにより上記急速充電回路の動作を停止させる。
電源電圧と接地との間に接続された、第1のPチャンネルMOSトランジスタ及び電流源と、
上記電源電圧と接地との間に接続された、第2のPチャンネルMOSトランジスタ及びバイアス電圧発生用NチャンネルMOSトランジスタと、
上記電流源と並列に接続されたスイッチとを備え、
上記第1のPチャンネルMOSトランジスタと上記第2のPチャンネルMOSトランジスタとはカレントミラー回路を構成し、
上記制御手段は、上記スイッチをオンすることにより上記急速充電回路を動作させた後、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記スイッチをオフすることにより上記急速充電回路の動作を停止させる。
第3の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路は、上記第1の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、上記バイアス電圧発生回路は、
電源電圧と接地との間に接続された、第1のPチャンネルMOSトランジスタ及び電流源と、
上記電源電圧と接地との間に接続点を介して接続された、第2のPチャンネルMOSトランジスタ及びバイアス電圧発生用NチャンネルMOSトランジスタと、
上記電源電圧と上記接続点との間に接続されたスイッチとを備え、
上記第1のPチャンネルMOSトランジスタと上記第2のPチャンネルMOSトランジスタとはカレントミラー回路を構成し、
上記制御手段は、上記スイッチをオンすることにより上記急速充電回路を動作させた後、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記スイッチをオフすることにより上記急速充電回路の動作を停止させる。
電源電圧と接地との間に接続された、第1のPチャンネルMOSトランジスタ及び電流源と、
上記電源電圧と接地との間に接続点を介して接続された、第2のPチャンネルMOSトランジスタ及びバイアス電圧発生用NチャンネルMOSトランジスタと、
上記電源電圧と上記接続点との間に接続されたスイッチとを備え、
上記第1のPチャンネルMOSトランジスタと上記第2のPチャンネルMOSトランジスタとはカレントミラー回路を構成し、
上記制御手段は、上記スイッチをオンすることにより上記急速充電回路を動作させた後、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記スイッチをオフすることにより上記急速充電回路の動作を停止させる。
第4の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路は、上記第1の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、上記バイアス電圧発生回路は、
電源電圧と接地との間に接続点を介して接続された、第1のPチャンネルMOSトランジスタ及び電流源と、
上記電源電圧と接地との間に接続された、第2のPチャンネルMOSトランジスタ及びバイアス電圧発生用NチャンネルMOSトランジスタと、
上記第1及び第2のPチャンネルMOSトランジスタよりも大きなトランジスタサイズを有する第3のPチャンネルMOSトランジスタと、
上記接続点と上記第3のPチャンネルMOSトランジスタのゲートとの間に接続されたスイッチとを備え、
上記第1のPチャンネルMOSトランジスタと上記第2のPチャンネルMOSトランジスタとはカレントミラー回路を構成し、
上記制御手段は、上記スイッチをオンすることにより上記急速充電回路を動作させた後、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記スイッチをオフすることにより上記急速充電回路の動作を停止させる。
電源電圧と接地との間に接続点を介して接続された、第1のPチャンネルMOSトランジスタ及び電流源と、
上記電源電圧と接地との間に接続された、第2のPチャンネルMOSトランジスタ及びバイアス電圧発生用NチャンネルMOSトランジスタと、
上記第1及び第2のPチャンネルMOSトランジスタよりも大きなトランジスタサイズを有する第3のPチャンネルMOSトランジスタと、
上記接続点と上記第3のPチャンネルMOSトランジスタのゲートとの間に接続されたスイッチとを備え、
上記第1のPチャンネルMOSトランジスタと上記第2のPチャンネルMOSトランジスタとはカレントミラー回路を構成し、
上記制御手段は、上記スイッチをオンすることにより上記急速充電回路を動作させた後、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記スイッチをオフすることにより上記急速充電回路の動作を停止させる。
第5の態様に係る高周波増幅回路は、高周波信号を増幅する高周波増幅回路であって、
第1〜第4の態様のうちのいずれか1つに記載のバイアス回路を備えた。
第1〜第4の態様のうちのいずれか1つに記載のバイアス回路を備えた。
第6の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路の制御方法は、所定のバイアス電圧発生回路により所定のバイアス電圧を発生して抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電して高周波増幅回路に供給する、高周波増幅回路用バイアス回路の制御方法であって、
上記バイアス回路は、
上記デカップリングキャパシタに急速に充電する急速充電回路と、
上記バイアス電圧発生回路と同様の回路と、上記抵抗と同様の抵抗と、上記充電キャパシタと同様の充電キャパシタとを含み、上記バイアス回路と同様の擬似バイアス電圧を発生する第1のレプリカ回路と、
上記バイアス電圧発生回路と同様の回路構成を含み、所定の基準電圧を発生する第2のレプリカ回路とを備え、
上記制御方法は、
比較手段が、上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較して比較結果信号を発生して出力することと、
制御手段が、上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記急速充電回路の動作を停止させることとを含む。
上記バイアス回路は、
上記デカップリングキャパシタに急速に充電する急速充電回路と、
上記バイアス電圧発生回路と同様の回路と、上記抵抗と同様の抵抗と、上記充電キャパシタと同様の充電キャパシタとを含み、上記バイアス回路と同様の擬似バイアス電圧を発生する第1のレプリカ回路と、
上記バイアス電圧発生回路と同様の回路構成を含み、所定の基準電圧を発生する第2のレプリカ回路とを備え、
上記制御方法は、
比較手段が、上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較して比較結果信号を発生して出力することと、
制御手段が、上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧を超えたときに上記急速充電回路の動作を停止させることとを含む。
以上の実施形態においては、ミリ波などの高周波信号を増幅する高周波増幅回路について開示しているが、本開示はこれに限らず、マイクロ波、準ミリ波、ミリ波などの高周波信号を増幅する高周波増幅回路に適用することができる。
第7の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、
第1の抵抗及びデカップリングキャパシタを含み、増幅回路にバイアス電圧を供給する第1の回路と、
上記第1の回路に接続されて上記バイアス電圧を発生する第1のトランジスタを含み、上記第1の抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電するバイアス電圧発生回路と、
上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を変化させる1又は複数のスイッチと、
第2の抵抗及びキャパシタを含む第2の回路と、上記第2の回路に接続されて擬似バイアス電圧を発生する第2のトランジスタとを含む第1のレプリカ回路と、
基準電圧を発生する第3のトランジスタを含む第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較し、当該比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、
上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧に到達し又は上記基準電圧を超えたときに上記1又は複数のスイッチを制御して上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる制御回路とを備える。
第1の抵抗及びデカップリングキャパシタを含み、増幅回路にバイアス電圧を供給する第1の回路と、
上記第1の回路に接続されて上記バイアス電圧を発生する第1のトランジスタを含み、上記第1の抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電するバイアス電圧発生回路と、
上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を変化させる1又は複数のスイッチと、
第2の抵抗及びキャパシタを含む第2の回路と、上記第2の回路に接続されて擬似バイアス電圧を発生する第2のトランジスタとを含む第1のレプリカ回路と、
基準電圧を発生する第3のトランジスタを含む第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較し、当該比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、
上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧に到達し又は上記基準電圧を超えたときに上記1又は複数のスイッチを制御して上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる制御回路とを備える。
第8の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第7の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記バイアス電圧発生回路は、上記第1のトランジスタに接続された第1のカレントミラー回路を更に含み、
上記第1のレプリカ回路は、上記第2のトランジスタに接続された第2のカレントミラー回路を更に含み、
上記第2のレプリカ回路は、上記第3のトランジスタに接続された第3のカレントミラー回路を更に含む。
上記バイアス電圧発生回路は、上記第1のトランジスタに接続された第1のカレントミラー回路を更に含み、
上記第1のレプリカ回路は、上記第2のトランジスタに接続された第2のカレントミラー回路を更に含み、
上記第2のレプリカ回路は、上記第3のトランジスタに接続された第3のカレントミラー回路を更に含む。
第9の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第8の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記1又は複数のスイッチは、上記第1のカレントミラー回路に接続され、上記第1のカレントミラー回路を流れる電流を変化させることにより、上記第1のトランジスタを流れる電流を変化させる。
上記1又は複数のスイッチは、上記第1のカレントミラー回路に接続され、上記第1のカレントミラー回路を流れる電流を変化させることにより、上記第1のトランジスタを流れる電流を変化させる。
第10の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第9の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記バイアス電圧発生回路は、接地に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記電流源との間に接続された第4のランジスタと、上記電源電圧と上記第1のトランジスタとの間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記1又は複数のスイッチは、上記電流源と並列に接続される。
上記バイアス電圧発生回路は、接地に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記電流源との間に接続された第4のランジスタと、上記電源電圧と上記第1のトランジスタとの間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記1又は複数のスイッチは、上記電流源と並列に接続される。
第11の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第10の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4及び第5のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである。
上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4及び第5のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである。
第12の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第8の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、上記1又は複数のスイッチは上記第1のトランジスタに接続される。
第13の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第12の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記バイアス電圧発生回路は、接地に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地と第1の接続点との間に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記電流源との間に接続された第4のトランジスタと、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記1又は複数のスイッチは、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続される。
上記バイアス電圧発生回路は、接地に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地と第1の接続点との間に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記電流源との間に接続された第4のトランジスタと、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記1又は複数のスイッチは、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続される。
第14の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第13の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4及び第5のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである。
上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4及び第5のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである。
第15の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第8の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記バイアス電圧発生回路は、上記第1のトランジスタに接続され、上記第1のカレントミラー回路よりも大きな電流を流す第6のトランジスタを更に含み、
上記1又は複数のスイッチは、上記第6のトランジスタをオフする。
上記バイアス電圧発生回路は、上記第1のトランジスタに接続され、上記第1のカレントミラー回路よりも大きな電流を流す第6のトランジスタを更に含み、
上記1又は複数のスイッチは、上記第6のトランジスタをオフする。
第16の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第15の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記バイアス電圧発生回路は、接地と第2の接続点との間に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地と第1の接続点との間に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記第2の接続点との間に接続された第4のトランジスタと、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記第6のトランジスタは、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続され、
上記1又は複数のスイッチは、上記第2の接続点と上記第6のトランジスタのゲートとの間に接続された第1のスイッチと、上記電源電圧と上記第6のトランジスタのゲートとの間に接続された第2のスイッチとを含む。
上記バイアス電圧発生回路は、接地と第2の接続点との間に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地と第1の接続点との間に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記第2の接続点との間に接続された第4のトランジスタと、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記第6のトランジスタは、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続され、
上記1又は複数のスイッチは、上記第2の接続点と上記第6のトランジスタのゲートとの間に接続された第1のスイッチと、上記電源電圧と上記第6のトランジスタのゲートとの間に接続された第2のスイッチとを含む。
第17の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第16の態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4、第5及び第6のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである。
上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4、第5及び第6のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである。
第18の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第8〜17のうちいずれか1つの態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記第2及び第3のカレントミラー回路は、それぞれ、上記第1のカレントミラー回路の1/M倍の電流を流し、
上記第2の回路は、上記第1の回路の1/Mの時定数を有し、
Mは自然数である。
上記第2及び第3のカレントミラー回路は、それぞれ、上記第1のカレントミラー回路の1/M倍の電流を流し、
上記第2の回路は、上記第1の回路の1/Mの時定数を有し、
Mは自然数である。
第19の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第8〜17のうちいずれか1つの態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記第2及び第3のカレントミラー回路は、それぞれ、上記第1のカレントミラー回路の1/M倍の電流を流し、
上記第2の回路は、上記第1の回路の1/Mの時定数を有し、
Mは1又は1を超える数である
上記第2及び第3のカレントミラー回路は、それぞれ、上記第1のカレントミラー回路の1/M倍の電流を流し、
上記第2の回路は、上記第1の回路の1/Mの時定数を有し、
Mは1又は1を超える数である
第20の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第7〜19のうちいずれか1つの態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記増幅回路は、高周波用増幅回路である。
上記増幅回路は、高周波用増幅回路である。
第21の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第7〜19のうちいずれか1つの態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記増幅回路は、30GHz以上の高周波信号を増幅する。
上記増幅回路は、30GHz以上の高周波信号を増幅する。
第22の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第7〜19のうちいずれか1つの態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記増幅回路は、ミリ波信号を増幅する。
上記増幅回路は、ミリ波信号を増幅する。
第23の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第7〜22のうちいずれか1つの態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記第1のトランジスタの電流量を減少させる前において、上記バイアス電圧発生回路は、上記デカップリングキャパシタを急速充電する。
上記第1のトランジスタの電流量を減少させる前において、上記バイアス電圧発生回路は、上記デカップリングキャパシタを急速充電する。
第24の態様に係る増幅回路用バイアス回路は、上記第7〜22のうちいずれか1つの態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路において、
上記第1のトランジスタの電流量を減少させる前において、上記バイアス電圧発生回路は、上記デカップリングキャパシタの充電を100ns未満で完了する。
上記第1のトランジスタの電流量を減少させる前において、上記バイアス電圧発生回路は、上記デカップリングキャパシタの充電を100ns未満で完了する。
第25の態様に係る信号増幅装置は、信号を増幅する増幅回路と、上記第7〜24のうちいずれか1つの態様に係る高周波増幅回路用バイアス回路とを備える。
第26の態様に係る増幅回路用バイアス回路の制御方法は、
第1の抵抗及びデカップリングキャパシタを含み、増幅回路にバイアス電圧を供給する第1の回路と、
上記第1の回路に接続されて上記バイアス電圧を発生する第1のトランジスタを含み、上記第1の抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電するバイアス電圧発生回路と、
上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を変化させる1又は複数のスイッチと、
第2の抵抗及びキャパシタを含む第2の回路と、上記第2の回路に接続されて擬似バイアス電圧を発生する第2のトランジスタとを含む第1のレプリカ回路と、
基準電圧を発生する第3のトランジスタを含む第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較し、当該比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、を備えた増幅回路用バイアス回路の制御方法であって、
上記制御方法は、上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧に到達し又は上記基準電圧を超えたときに上記1又は複数のスイッチを制御して上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる。
第1の抵抗及びデカップリングキャパシタを含み、増幅回路にバイアス電圧を供給する第1の回路と、
上記第1の回路に接続されて上記バイアス電圧を発生する第1のトランジスタを含み、上記第1の抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電するバイアス電圧発生回路と、
上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を変化させる1又は複数のスイッチと、
第2の抵抗及びキャパシタを含む第2の回路と、上記第2の回路に接続されて擬似バイアス電圧を発生する第2のトランジスタとを含む第1のレプリカ回路と、
基準電圧を発生する第3のトランジスタを含む第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較し、当該比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、を備えた増幅回路用バイアス回路の制御方法であって、
上記制御方法は、上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧に到達し又は上記基準電圧を超えたときに上記1又は複数のスイッチを制御して上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる。
以上詳述したように、本開示の一実施形態に係るバイアス回路によれば、高周波増幅器のバイアスにあるデカップリング容量を高速充電させることができ、しかも電気的特性を変化させずに高周波増幅回路の動作をオン/オフすることができる。これにより、例えば高周波増幅回路を用いて間欠送信させたときに余分な起動時間を削減でき低消費電力化できる。
1…高周波増幅回路、
2…バイアス回路、
3,4…バイアス回路のレプリカ回路、
5…比較器、
10…回路コントローラ、
11…スイッチ制御信号発生器、
11A…遅延型フリップフロップ、
20,20A…バイアス電圧発生回路、
21,21a…電流源、
31,32…接続点、
N1,N10,N11…NチャンネルMOSトランジスタ、
P1,P2,P3,P11〜P12…PチャンネルMOSトランジスタ、
R1,R11…抵抗、
C1,C11…キャパシタ、
L1…高周波阻止用インダクタ、
SW1〜SW6…スイッチ、
T1〜T3,T11…端子、
TR1…変成器。
2…バイアス回路、
3,4…バイアス回路のレプリカ回路、
5…比較器、
10…回路コントローラ、
11…スイッチ制御信号発生器、
11A…遅延型フリップフロップ、
20,20A…バイアス電圧発生回路、
21,21a…電流源、
31,32…接続点、
N1,N10,N11…NチャンネルMOSトランジスタ、
P1,P2,P3,P11〜P12…PチャンネルMOSトランジスタ、
R1,R11…抵抗、
C1,C11…キャパシタ、
L1…高周波阻止用インダクタ、
SW1〜SW6…スイッチ、
T1〜T3,T11…端子、
TR1…変成器。
Claims (20)
- 第1の抵抗及びデカップリングキャパシタを含み、増幅回路にバイアス電圧を供給する第1の回路と、
上記第1の回路に接続されて上記バイアス電圧を発生する第1のトランジスタを含み、上記第1の抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電するバイアス電圧発生回路と、
上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を変化させる1又は複数のスイッチと、
第2の抵抗及びキャパシタを含む第2の回路と、上記第2の回路に接続されて擬似バイアス電圧を発生する第2のトランジスタとを含む第1のレプリカ回路と、
基準電圧を発生する第3のトランジスタを含む第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較し、当該比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、
上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧に到達し又は上記基準電圧を超えたときに上記1又は複数のスイッチを制御して上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる制御回路とを備えた増幅回路用バイアス回路。 - 上記バイアス電圧発生回路は、上記第1のトランジスタに接続された第1のカレントミラー回路を更に含み、
上記第1のレプリカ回路は、上記第2のトランジスタに接続された第2のカレントミラー回路を更に含み、
上記第2のレプリカ回路は、上記第3のトランジスタに接続された第3のカレントミラー回路を更に含む請求項1記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記1又は複数のスイッチは、上記第1のカレントミラー回路に接続され、上記第1のカレントミラー回路を流れる電流を変化させることにより、上記第1のトランジスタを流れる電流を変化させる請求項2記載の増幅回路用バイアス回路。
- 上記バイアス電圧発生回路は、接地に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記電流源との間に接続された第4のランジスタと、上記電源電圧と上記第1のトランジスタとの間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記1又は複数のスイッチは、上記電流源と並列に接続される請求項3記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4及び第5のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである、請求項4記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記1又は複数のスイッチは、上記第1のトランジスタに接続される請求項2記載の増幅回路用バイアス回路。
- 上記バイアス電圧発生回路は、接地に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地と第1の接続点との間に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記電流源との間に接続された第4のトランジスタと、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記1又は複数のスイッチは、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続される請求項6記載の高周波増幅回路用バイアス回路。 - 上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4及び第5のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである、請求項7記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記バイアス電圧発生回路は、上記第1のトランジスタに接続され、上記第1のカレントミラー回路よりも大きな電流を流す第6のトランジスタを更に含み、
上記1又は複数のスイッチは、上記第6のトランジスタをオフする請求項2記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記バイアス電圧発生回路は、接地と第2の接続点との間に接続された電流源を更に備え、
上記第1のトランジスタは接地と第1の接続点との間に接続され、
上記第1のカレントミラー回路は、電源電圧と上記第2の接続点との間に接続された第4のトランジスタと、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続された第5のトランジスタとを備え、
上記第6のトランジスタは、上記電源電圧と上記第1の接続点との間に接続され、
上記1又は複数のスイッチは、上記第2の接続点と上記第6のトランジスタのゲートとの間に接続された第1のスイッチと、上記電源電圧と上記第6のトランジスタのゲートとの間に接続された第2のスイッチとを含む請求項9記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記第1、第2及び第3のトランジスタは、それぞれ、NチャンネルMOSトランジスタであり、
上記第4、第5及び第6のトランジスタは、それぞれ、PチャンネルMOSトランジスタである、請求項10記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記第2及び第3のカレントミラー回路は、それぞれ、上記第1のカレントミラー回路の1/M倍の電流を流し、
上記第2の回路は、上記第1の回路の1/Mの時定数を有し、
Mは自然数である請求項2から11のいずれか1項に記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記第2及び第3のカレントミラー回路は、それぞれ、上記第1のカレントミラー回路の1/M倍の電流を流し、
上記第2の回路は、上記第1の回路の1/Mの時定数を有し、
Mは1又は1を超える数である請求項2から11のいずれか1項に記載の増幅回路用バイアス回路。 - 上記増幅回路は、高周波用増幅回路である請求項1から13のいずれか1項に記載の増幅回路用バイアス回路。
- 上記増幅回路は、30GHz以上の高周波信号を増幅する請求項1から13のいずれか1項に記載の増幅回路用バイアス回路。
- 上記増幅回路は、ミリ波信号を増幅する請求項1から13のいずれか1項に記載の増幅回路用バイアス回路。
- 上記第1のトランジスタの電流量を減少させる前において、上記バイアス電圧発生回路は、上記デカップリングキャパシタを急速充電する請求項1から16のいずれか1項に記載の増幅回路用バイアス回路。
- 上記第1のトランジスタの電流量を減少させる前において、上記バイアス電圧発生回路は、上記デカップリングキャパシタの充電を100ns未満で完了する請求項1から16のいずれか1項に記載の増幅回路用バイアス回路。
- 信号を増幅する増幅回路と、上記増幅回路用のバイアス回路とを備えた信号増幅装置であって、
上記バイアス回路は、
第1の抵抗及びデカップリングキャパシタを含み、増幅回路にバイアス電圧を供給する第1の回路と、
上記第1の回路に接続されて上記バイアス電圧を発生する第1のトランジスタを含み、上記第1の抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電するバイアス電圧発生回路と、
上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を変化させる1又は複数のスイッチと、
第2の抵抗及びキャパシタを含む第2の回路と、上記第2の回路に接続されて擬似バイアス電圧を発生する第2のトランジスタとを含む第1のレプリカ回路と、
基準電圧を発生する第3のトランジスタを含む第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較し、当該比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、
上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧に到達し又は上記基準電圧を超えたときに上記1又は複数のスイッチを制御して上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる制御回路とを備えた信号増幅装置。 - 第1の抵抗及びデカップリングキャパシタを含み、増幅回路にバイアス電圧を供給する第1の回路と、
上記第1の回路に接続されて上記バイアス電圧を発生する第1のトランジスタを含み、上記第1の抵抗を介してデカップリングキャパシタに充電するバイアス電圧発生回路と、
上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を変化させる1又は複数のスイッチと、
第2の抵抗及びキャパシタを含む第2の回路と、上記第2の回路に接続されて擬似バイアス電圧を発生する第2のトランジスタとを含む第1のレプリカ回路と、
基準電圧を発生する第3のトランジスタを含む第2のレプリカ回路と、
上記擬似バイアス電圧を上記基準電圧と比較し、当該比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、を備えた増幅回路用バイアス回路の制御方法であって、
上記制御方法は、上記比較結果信号に基づいて、上記擬似バイアス電圧が上記基準電圧に到達し又は上記基準電圧を超えたときに上記1又は複数のスイッチを制御して上記第1のトランジスタを流れる電流の電流量を減少させる
増幅回路用バイアス回路の制御方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014234823 | 2014-11-19 | ||
JP2014234823 | 2014-11-19 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016105582A true JP2016105582A (ja) | 2016-06-09 |
Family
ID=55962615
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015204810A Pending JP2016105582A (ja) | 2014-11-19 | 2015-10-16 | 増幅回路用バイアス回路とその制御方法、並びに信号増幅装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9654063B2 (ja) |
JP (1) | JP2016105582A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021059756A1 (ja) * | 2019-09-23 | 2021-04-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光源装置 |
US11043919B2 (en) | 2018-07-26 | 2021-06-22 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Power amplifier |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108897366B (zh) * | 2018-07-13 | 2020-04-28 | 上海东软载波微电子有限公司 | 偏置启动电路、集成高压电路及集成低压电路 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010114736A (ja) | 2008-11-07 | 2010-05-20 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 低雑音増幅回路 |
US9166533B2 (en) * | 2009-07-30 | 2015-10-20 | Qualcomm Incorporated | Bias current monitor and control mechanism for amplifiers |
JP5404473B2 (ja) * | 2010-02-26 | 2014-01-29 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 高周波電力増幅器およびその動作方法 |
JP5833370B2 (ja) * | 2011-08-05 | 2015-12-16 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 高周波回路 |
-
2015
- 2015-10-16 US US14/885,671 patent/US9654063B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2015-10-16 JP JP2015204810A patent/JP2016105582A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11043919B2 (en) | 2018-07-26 | 2021-06-22 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Power amplifier |
WO2021059756A1 (ja) * | 2019-09-23 | 2021-04-01 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光源装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9654063B2 (en) | 2017-05-16 |
US20160142014A1 (en) | 2016-05-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4916699B2 (ja) | Zqキャリブレーション回路及びこれを備えた半導体装置 | |
US9632126B2 (en) | Circuit of measuring leakage current in a semiconductor integrated circuit | |
US7199623B2 (en) | Method and apparatus for providing a power-on reset signal | |
US7498847B2 (en) | Output driver that operates both in a differential mode and in a single mode | |
US9467094B2 (en) | Phase-dependent operational amplifiers employing phase-based frequency compensation, and related systems and methods | |
JP5008367B2 (ja) | 電圧発生装置 | |
US8274331B2 (en) | Differential receiver | |
JP2006174483A (ja) | 増幅器出力の温度及び工程の変動を補償する方法及び装置 | |
US20060119422A1 (en) | Semiconductor device including current control circuit of reference current source | |
JP2016105582A (ja) | 増幅回路用バイアス回路とその制御方法、並びに信号増幅装置 | |
KR102450299B1 (ko) | 증폭기, 이를 이용하는 수신 회로, 반도체 장치 및 시스템 | |
KR20180028887A (ko) | 출력 전력단의 에지율 제어를 위한 저전력 슬루율 검출기 | |
US20070052452A1 (en) | Sample/hold circuit module | |
JP2008205901A (ja) | 三角波生成回路 | |
US8035427B2 (en) | Signal generating apparatus capable of measuring trip point of power-up signal and method of measuring trip point of power-up signal using the same | |
US20190086355A1 (en) | Semiconductor apparatus including a capacitance measuring circuit | |
US8089305B2 (en) | Power supply voltage reset circuit and reset signal generating method | |
US9444458B2 (en) | Semiconductor device including inverter gate circuit with connection configuration switch circuit switching real values of gate width and gate length | |
US7432773B2 (en) | Method, system and apparatus for reducing oscillator frequency spiking during oscillator frequency adjustment | |
US10481246B2 (en) | Photo-diode emulator circuit for transimpedance amplifier testing | |
US10416693B1 (en) | Internal voltage generation circuits | |
US10193507B1 (en) | Current switching circuit | |
JP2006067497A (ja) | 信号制御回路及びそれを搭載した装置 | |
KR20140085237A (ko) | 파워-온-리셋 회로 | |
US11451131B2 (en) | Pulse train conditioning circuits and related methods |