JP2016096284A - 液処理装置の運用方法、記憶媒体及び液処理装置 - Google Patents

液処理装置の運用方法、記憶媒体及び液処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2016096284A
JP2016096284A JP2014232427A JP2014232427A JP2016096284A JP 2016096284 A JP2016096284 A JP 2016096284A JP 2014232427 A JP2014232427 A JP 2014232427A JP 2014232427 A JP2014232427 A JP 2014232427A JP 2016096284 A JP2016096284 A JP 2016096284A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
chemical
nozzle
jig
concentration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014232427A
Other languages
English (en)
Inventor
和久 長谷部
Kazuhisa Hasebe
和久 長谷部
洋 千村
Hiroshi Chimura
洋 千村
崇 大園
Takashi Ozono
崇 大園
悠一郎 松岡
Yuichiro Matsuoka
悠一郎 松岡
翔太 金子
Shota Kaneko
翔太 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP2014232427A priority Critical patent/JP2016096284A/ja
Publication of JP2016096284A publication Critical patent/JP2016096284A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】薬液ノズルの薬液の吐出量が設定量になるように吐出機構を調整するにあたり、作業に要する手間と時間を削減すること。
【解決手段】レジスト液をポンプ部75により薬液ノズル41を介してウエハに設定量吐出して液処理を行う液処理装置において、レジスト液R及び溶剤Sが供給された治具2をスピンチャック11により回転させて、レジストR及び溶剤Sの混合液Mを得る。次いでこの治具2上の混合液Mを吸引ノズル6にて吸引して、濃度測定部8の測定領域に送液し、混合液M中のレジスト濃度を測定し、レジスト濃度の測定値と、レジスト液Rのレジスト濃度と、溶剤Sの吐出量と、に基づいて、薬液ノズル41から治具2に吐出されたレジスト液Rの吐出量を算出する。そしてこの算出された吐出量に基づいて、薬液ノズル41のレジスト液の吐出量が設定量となるようにポンプ部75を調整する。
【選択図】図5

Description

本発明は、薬液を、吐出機構により薬液ノズルを介して基板に設定量吐出して液処理を行う液処理装置に関する。
半導体製造工程に用いられる枚葉式の液処理装置は、例えばスピンチャックに保持されている基板の表面にノズルから薬液を吐出するように構成されている。液処理としては、レジストパターンを形成するためにレジスト液を基板に塗布する処理、露光後の基板に現像液を供給する処理、あるいはシリコン酸化膜の前駆物質を含む薬液を基板に塗布する処理などが挙げられる。ノズルは、途中にバルブ、フィルタ、ポンプなどの機器を設けた配管を介して、薬液の貯留タンクに接続され、ポンプを駆動させることにより、薬液がノズルから基板に向けて吐出されるようになっている。
ノズルから吐出される薬液の量はポンプの吐出圧に対応し、液処理装置の立ち上げ時やメンテナンス時などには、ノズルから薬液を設定量吐出するように、ポンプの吐出圧の調整が行われている。従来では、例えばスピンチャックに置かれたシャーレ内にノズルから薬液を吐出して、電子天秤にてシャーレの質量を測定することにより薬液の吐出量(質量)を求め、これに基づいてポンプの吐出圧の調整を行っている。この作業はノズル毎に3〜4回繰り返して行われ、シャーレ内の薬液は測定の都度、作業者が拭き取ってシャーレを再使用している。
スピンチャックへのシャーレの設置や、質量測定、ポンプの吐出圧調整及びシャーレ内のレジストの拭き取り作業は全て作業者が行っているが、液処理装置は多数のノズルを備える場合が多く、全てのノズルに対して吐出量の調整を行おうとすると、非常に手間と時間がかかってしまう。また測定作業を作業者が行うために、測定に個人差が現れるといった精度への懸念や、シャーレ内のレジスト液を拭き取ることによる、安全性への不安もある。
特許文献1には、複数の成分液を混合させて処理液を構成するにあたり、処理液中に含まれる複数の成分の濃度を夫々測定して、これら成分濃度に基づいて成分液の供給量を求めることにより、処理液の成分濃度を補正する手法が記載されている。特許文献2には、比重が異なる複数の液体を混合して混合液を得るにあたり、混合液の比重を検出して正しい混合比率で混合されているか否かを判定する手法が記載されている。特許文献3には、一定量の添加物質を液に投入して添加物質の濃度変化を測定し、これに基づいて添加物質が設定量になるように不足分の添加物質の量を求めることにより、液の濃度を調整する手法が記載されている。しかしながらこれらの特許文献1〜3においては、薬液ノズルから設定量の薬液を吐出させる技術については考慮されていないので、本発明の課題を解決できるものではない。
特開2010−232520号公報 特開2005−152723号公報 特開平1−300315号公報
本発明は、このような事情においてなされたものであり、その目的は、薬液ノズルの薬液の吐出量が設定量になるように吐出機構を調整するにあたり、作業に要する手間と時間を削減することができる技術を提供することにある。
このため本発明は、回転機構により回転自在に構成された基板保持部に基板を保持し、目的とする液処理の有効成分を含む薬液を、吐出機構により薬液ノズルを介して基板に設定量吐出して液処理を行う液処理装置を運用する方法において、
前記基板保持部に治具を保持する工程と、
次いで前記薬液ノズルから治具に薬液を吐出する工程と、
希釈液ノズルから、事前に吐出量が把握されている希釈液を治具に吐出する工程と、
前記薬液及び希釈液が供給された治具を基板保持部により回転させて薬液及び希釈液を混合する工程と、
この工程で薬液及び希釈液が混合された混合液中の前記有効成分の濃度を測定する工程と、
前記混合液中の前記有効成分の濃度の測定値と、前記薬液の有効成分の濃度と、希釈液の吐出量と、に基づいて、薬液ノズルから治具に吐出された薬液の吐出量を算出する工程と、
この工程で算出された薬液の吐出量に基づいて、前記薬液ノズルの薬液の吐出量が設定量となるように前記吐出機構を調整する工程と、を含むことを特徴とする。
また本発明の他の発明は、回転機構により回転自在に構成された基板保持部に基板を保持し、目的とする液処理の有効成分を含む薬液を、吐出機構により薬液ノズルを介して基板に設定量吐出して液処理を行う液処理装置に用いられるコンピュータプログラムを記憶した記憶媒体であって、
前記コンピュータプログラムは、先に記載された液処理装置の運用方法を実行するようにステップ群が組まれていることを特徴とする。
さらに本発明の他の発明は、回転機構により回転自在に構成された基板保持部に基板を保持し、目的とする液処理の有効成分を含む薬液を、吐出機構により薬液ノズルを介して基板に設定量吐出して液処理を行う液処理装置において、
前記薬液ノズルから治具に吐出された薬液を希釈するための希釈液を吐出する希釈液ノズルと、
前記治具上における薬液と希釈液との混合液を吸引するための吸引部と、
前記吸引部により吸引した混合液中の前記有効成分の濃度を測定する濃度測定部と、
前記基板保持部に治具を保持するステップと、次いで前記薬液ノズルから治具に薬液を吐出するステップと、希釈液ノズルから、事前に吐出量が把握されている希釈液を治具に吐出するステップと、前記薬液及び希釈液が供給された治具を基板保持部により回転させて薬液及び希釈液を混合するステップと、このステップで薬液及び希釈液が混合された混合液を吸引部にて吸引し、混合液中の前記有効成分の濃度を測定するステップと、前記有効成分の濃度の測定値と、前記薬液の有効成分の濃度と、希釈液の吐出量と、に基づいて、薬液ノズルから治具に吐出された薬液の吐出量を算出するステップと、このステップで算出された薬液の吐出量に基づいて、前記薬液ノズルの薬液の吐出量が設定量となるように前記吐出機構を調整するステップと、を実行するための制御部と、を備えたことを特徴とする。
本発明によれば、治具上にて薬液及び希釈液を混合させて混合液を得て、この混合液中の有効成分の濃度を測定する。そしてこの濃度の測定値に基づいて薬液ノズルから治具に吐出された薬液の吐出量を算出し、算出された吐出量に基づいて薬液ノズルの薬液の吐出量が設定量になるように吐出機構を調整している。従って薬液ノズルの薬液の吐出量を、作業者が質量を測定することにより求める手法に比べて、作業の負担が格段に軽減されると共に、作業時間を大幅に短縮することができる。
本発明の第1の実施形態に係る液処理装置を示す縦断面図である。 第1の実施形態に係る液処理装置を示す平面図である。 第1の実施形態に係る液処理装置の薬液供給系を示す構成図である。 第1の実施形態に係る液処理装置の濃度測定部を示す構成図である。 第1の実施形態に係る液処理装置の作用を説明するための工程図である。 第1の実施形態に係る液処理装置の作用を説明するためのフローチャートである。 本発明の第2の実施形態に係る液処理装置を示す縦断面図である。 第2の実施形態に係る液処理装置を示す平面図である。 第2の実施形態に係る液処理装置の濃度測定部を示す縦断面図である。 第2の実施形態に係る液処理装置の濃度測定部を示す斜視図である。 第2の実施形態に係る液処理装置の作用を説明するための工程図である。 液処理装置に用いられる治具の他の例を示す縦断面図である。
(第1の実施形態)
図1及び図2は、本発明における第1の実施形態に係る液処理装置1を示したものである。この液処理装置1は、目的とする液処理の有効成分を含む薬液を基板に吐出して液処理を行うものであり、以降では薬液がレジスト液である場合を例にして説明する。レジスト液では、目的とする液処理の有効成分は、固形成分であるレジストである。
この液処理装置1は、基板例えば半導体ウエハ(以下「ウエハ」という)の裏面中央部を吸着して水平に保持する基板保持部であるスピンチャック11を備えており、このスピンチャック11は、回転機構12を介して鉛直軸回りに回転自在に構成されている。またスピンチャック11は、治具2を保持して、鉛直軸回りに回転できるようになっている。この例の治具2は、後述する吐出量調整の際に用いられる専用の円形基板である。治具2としては、処理用のウエハと同じものを用いてもよいし、処理用のウエハとは直径や厚さ、材質が異なるものを用いてもよい。
スピンチャック11の周囲には、スピンチャック11上のウエハ(又は治具2)を囲むようにして上方側に開口部31を備えたカップ3が設けられており、カップ3の底部側には例えば凹部状をなす液受け部32が設けられている。液受け部32は、隔壁33により全周に亘って外側領域と内側領域とに区画され、内側領域には貯留したレジスト液などを排出するための排液路34、外側領域には処理雰囲気を排気するための排気路35が夫々接続されている。
図中36は、昇降機構37により昇降自在に構成された受け渡しピンであり、例えば図示しない外部の搬送機構とスピンチャック11との間でウエハ及び治具2の受け渡しを行うことができるように構成されている。
液処理装置1には、薬液を吐出する複数の薬液ノズルを備えたノズルユニット4と、希釈液ノズル5と、治具2上の液体を吸引する吸引ノズル6と、が設けられている。
ノズルユニット4は、例えば濃度や成分の異なる複数種類例えば10種類のレジストを夫々供給する10本の薬液ノズル41と、ウエハ上でレジスト液を広がり易くするための溶剤例えばシンナー液を供給するシンナーノズル42と、を備えている。これら薬液ノズル41及びシンナーノズル42は、共通のノズルヘッド43に取り付けられ、このノズルヘッド43は例えば図2に示すようにアーム44に支持されて、駆動機構46により、横方向(図2中Y方向)に伸びるガイド45に沿って移動自在及び昇降自在に構成されている。
続いて薬液ノズル41に薬液であるレジスト液を供給するための薬液供給系7について、図3を参照して説明する。薬液供給系7は薬液ノズル41毎に用意されており、この例では10本の薬液ノズル41を備えているので、10系統の薬液供給系7が設けられる。
図3中70は、レジスト液を貯留する薬液タンクであり、この薬液タンク70には薬液流路71の上流端が突入して設けられている。薬液タンク70は、バルブV1を備えたガス供給路721を介して不活性ガス例えば窒素(N)ガスの供給源72に接続されており、窒素ガスにより薬液タンク70内の液面を加圧して薬液タンク70から下流側に向けてレジスト液を送液するように構成されている。
薬液流路71の下流端にはノズルユニット4の薬液ノズル41が設けられており、薬液流路71には、上流側から順にバルブV2、中間タンク73、バルブV3、フィルタ部74、吐出機構をなすポンプ部75、液吐出用バルブV4が設けられている。中間タンク73には、バルブV5を備えた排気路731が接続されている。
フィルタ部74は、レジスト液中の異物(パーティクル)を除去するためのものであり、ポンプ部75は例えばダイヤフロムポンプよりなり、レジスト液を薬液ノズル41に吐出するものである。予めポンプ部75内に薬液を吸い込んでおき、液吐出用バルブV4を開いて、ポンプ部75を駆動させることにより、レジスト液が薬液ノズル41から吐出されるようになっている。従って後述する吐出量調整は、薬液ノズル41からの吐出量が設定量となるように、ポンプ部75の吐出圧を調整することにより行われる。ポンプ部75の薬液の吸い込み量や吐出圧は制御部100からの制御信号に基づいて制御される。
希釈液ノズル5は、吐出量調整の際に、事前に吐出量が把握されている希釈液を治具2に向けて吐出するノズルであり、希釈液としてはレジスト液の溶剤例えば有機溶剤であるシンナー液などが用いられる。この例の希釈ノズル5は、薬液の液膜がウエハの表面に形成された後、ウエハの周縁部の液膜を除去するために溶剤例えばシンナー液を吐出するエッジ・ビード・リムーバ(Edge Bead Remover:EBR)ノズルを兼用するものである。この希釈液ノズル5は、バルブV51、ポンプ部52を備えた溶剤供給路51を介して溶剤供給源53に接続されており、バルブV51を開き、ポンプ部52を駆動させることにより、希釈液ノズル5から溶剤が吐出されるように構成されている。
吐出量調整のときに、希釈液ノズル5から吐出される溶剤(希釈液)の吐出量は、予め希釈液ノズル5から吐出された溶剤を計量器を用いて測定することにより事前に把握されている。例えば希釈液ノズル5から吐出させたときの溶剤の質量を計量器である例えば電子天秤にて秤量して、この溶剤の吐出量(質量)と、このときのポンプ部52の吐出圧とを把握する。そして以降はこの把握された吐出圧でポンプ部52を駆動させれば、希釈液ノズル5からは常に一定量の溶剤、つまり事前に吐出量が把握されている溶剤が治具2に対して吐出されることになる。
吸引ノズル6の先端は治具2上の液体を吸引する吸引口をなしており、吸引ノズル6は吸引路61を介してポンプ部62に接続されている。吸引路61とポンプ部62とは吸引機構をなし、吸引ノズル6と吸引路61とポンプ部62とにより吸引部が構成されている。吸引路61におけるポンプ部62の上流側には濃度測定部8が設けられている。図中621はポンプ部62の排液路である。
希釈液ノズル5と吸引ノズル6とは、例えば共通の支持部材54に支持されて、駆動機構56により横方向に伸びるガイド55に沿って移動自在及び昇降自在に構成されている。ノズルユニット4と、希釈液ノズル5と、吸引ノズル6とは、互いに干渉しないように、スピンチャック11に保持された治具2に対する位置と待機位置との間で移動できるようになっている。
続いて濃度測定部8について図4を参照して説明するが、この濃度測定部8は、例えば光学的に薬液中の有効成分であるレジストの濃度を求めるように構成されている。この例の濃度測定部8は分光光度計を利用したものであり、図4にはその概略を示している。図中81は光源であり、82はフィルタやレンズなどを備え、必要な波長の光を分光するための分光ユニット、83は測定対象であるレジスト液が供給される試料セル、84はレンズ、85は受光素子を備えた検出器である。
光源81からは例えば600nm〜900nmの波長が試料セル83に向けて照射されるようになっている。試料セル83は例えば溶融石英やガラスなどの光透過性の部材によりなり、測定領域を構成するものである。この試料セル83は吸引路61に接続されており、試料セル83と吸引ノズル6との間、及び試料セル83とポンプ部62との間には夫々バルブV6、V7が介設されている。
検出器85の受光素子は試料セル83を透過した透過光を電気量に変換するものであり、検出器85は試料(レジスト液と溶剤との混合液)を透過した光の透過率から吸光度を求めるように構成されている。さらに検出器85には、例えば予め作成された吸光度とレジスト濃度との対応関係を示す検量線が格納されており、前記吸光度に基づいて検量線を用いてレジスト濃度が取得され、得られたレジスト濃度が後述する制御部100に出力されるように構成されている。
この例では濃度測定部8を分光光度計を利用して構成したが、吸光度計を利用して構成してもよい。吸光度計を利用する場合には、光源からの光が試料セルを介して受光部に受光されるように構成され、受光部にて吸光度が測定される。そしてこの吸光度に基づいて、レジスト濃度と吸光度の対応関係を示す検量線からレジスト濃度が取得される。
液処理装置1にはコンピュータからなる制御部100が設けられ、この制御部100はプログラム格納部を有している。プログラム格納部には、後述の作用で説明する吐出量調整及び液処理装置1における液処理が行われるように命令が組まれた、例えばソフトウェアからなるプログラムが格納される。このプログラムが制御部100に読み出されることで、制御部100は液処理装置1の各部に制御信号を出力する。それによって、バルブの開閉やポンプ部の駆動、ノズルの移動、スピンチャックの駆動等の各動作が制御されて、吐出量調整及び液処理装置1における液処理が行われるようになっている。吐出量調整とは、薬液ノズル41のレジスト液の吐出量が設定量になるようにポンプ部75を調整するものでああり、液処理とは、塗布膜を形成するためにレジスト液をウエハの表面に塗布する処理である。このプログラムは、例えばハードディスク、コンパクトディスク、マグネットオプティカルディスクまたはメモリーカードなどの記憶媒体に収納された状態でプログラム格納部に格納される。
続いて本実施形態の作用、つまり薬液ノズル41のレジスト液の吐出量調整について、図5及び図6を参照して説明する。吐出量調整のタイミングは、例えば液処理装置1の立ち上げ時やメンテナンス時である。薬液供給系7は薬液ノズル41毎に用意されているので、例えば10本全ての薬液ノズル41の夫々について、吐出量調整が行われる。
先ず薬液供給系7における薬液の流れについて説明すると、薬液は薬液タンク70から薬液流路71を介して中間タンク73へ送液され、中間タンク73からフィルタ部74、ポンプ部75を介して薬液ノズル41から吐出される。薬液タンク70から中間タンク73への薬液の供給は、バルブV1、V2、V5を開き、それ以外のバルブを閉じて、窒素ガスを薬液タンク70内に供給して加圧することによって行われる。例えば中間タンク73内の薬液の液面は図示しない液面センサにより監視され、液面が上限レベルに達すると、バルブV1、V2、V5を閉じて薬液の供給が停止されるようになっている。
また中間タンク73からポンプ部75への薬液の供給は、バルブV3を開き、それ以外のバルブを閉じて、ポンプ部75を駆動させて中間タンク73内の薬液をポンプ部75内に吸い込むことによって行われる。さらにポンプ部75から薬液ノズル41への薬液の供給は、液吐出用バルブV4を開き、ポンプ部75を駆動させて下流側の薬液流路71へ向けて薬液を吐出することにより行われる。
そして、吐出量の調整の際には、治具2を例えば図示しない搬送機構によりスピンチャック11に受け渡し、保持させる。次いで、図5(a)に示すように、薬液ノズル41を例えば治具2に供給する位置に移動し、ポンプ部75を駆動させて、レジスト液R(薬液)を治具2の回転中心上に吐出する(ステップS1)。このときのポンプ部75の吐出圧は、例えばポンプ部75の仕様上、薬液ノズル41を介してウエハに設定量の薬液を吐出するときの吐出圧とされているものである。レジスト液をウエハに供給して塗布膜であるレジスト膜を形成する液処理などでは、レジスト液(薬液)の吐出量に高い精度が要求されるため、吐出量が設定量となるようにポンプ部75の調整が必要となる。
続いて図5(b)に示すように、希釈液ノズル5を例えば治具2に供給する位置に移動して、事前に吐出量が把握されている溶剤S(希釈液)を治具2の回転中心上に供給し(ステップS2)、図5(c)に示すように、スピンチャック11を回転させる。この回転の遠心力により、治具2上のレジスト液Rと溶剤Sとは中央側から外方側へと拡散していき、この移動の間に両者が混合される。こうして溶剤Sに対するレジスト液Rの濃度が治具2の面内において均一になるまでスピンチャック11の回転を例えば数秒間続ける(ステップS3)。なおスピンチャック11の回転数及び回転時間は、溶剤Sの揮発を抑えるように設定される。
次にスピンチャック11を停止させ、吸引ノズル6を、その先端の吸引口が治具2上のレジスト液Rと溶剤Sとの混合液Mと接触するか直ぐ上方側にある位置まで移動させて、バルブV6、V7を開き、ポンプ部62を駆動させて治具2上の混合液Mを吸引ノズル6により吸引する(図5(d)、ステップS4)。これにより混合液Mは吸引路61内をポンプ部62側に移動して試料セル83内に供給される。こうして試料セル83内が混合液Mにより満たされると、バルブV6、V7を閉じ、ポンプ部62の駆動を停止する。図4では、図示の便宜上、吸引ノズル6と試料セル83との距離を大きく描いているが、実際には治具2上の混合液Mの一部を吸引すれば、試料セル83内が混合液Mにより満たされるように、吸引路61、試料セル83の大きさ、試料セル83の設置位置などが設定されている。
次いで試料セル83に光を透過させて光学的に有効成分であるレジストの濃度を測定する。具体的には光源81より所定の波長例えば例えば600nm〜900nmの光を照射して検出器85にて受光し、吸光度を求める。そして予め作成されたレジスト濃度と吸光度との関係を示す検量線に基づいて、前記吸光度に応じたレジスト濃度を取得し、こうして得られた混合液中のレジスト濃度の測定値を制御部100に出力する(ステップS5)。
制御部100では、混合液M中のレジスト濃度の測定値と、レジスト液Rのレジスト濃度と、溶剤Sの吐出量とに基づいて、薬液ノズル41から治具2に吐出されたレジスト液Rの吐出量を算出する(ステップS6)。
吐出量は次のようにして求められる。薬液ノズル41から吐出されたレジスト液Rの吐出量をXg、溶剤Sの吐出量をYg、レジスト液Rのレジスト濃度をA(重量%)、混合液M中のレジストの度の測定値をB(重量%)とする。レジスト液Rのレジスト濃度Aとは、予め把握されている濃度である。
薬液ノズル41から吐出されたレジスト液Rの吐出量中のレジストの量R1は、(1)式にて求められる。また混合液M中のレジストの量R2は(2)式により求められる。
R1=(A/100)×X ・・・(1)
R2=(B/100)×(X+Y) ・・・(2)
R1とR2は同じであるので、(1)式と(2)式とから(3)式が求められ、薬液ノズル41から治具2に吐出されたレジスト液Rの吐出量Xが算出される。
X=BY/(A−B) ・・・ (3)
一方、例えば混合液Mの濃度測定が終わると、ノズルユニット4、希釈液ノズル5及び吸引ノズル6をスピンチャック11の側方の待機位置に夫々退避させて、図5(e)に示すように、スピンチャック11を高速回転させる。こうして治具2上の混合液Mを回転の遠心力により外方に飛散させて振り切って除去し、治具2を乾燥させる(ステップS7)。またバルブV6、V7を開き、ポンプ部62を吸引するように駆動させて、吸引ノズル6、吸引路61及び試料セル83の内部の混合液Mを吸引して除去する。こうして、次に治具2にレジストR及び溶剤Sの混合液Mが液盛りされる前に、その前のレジストの濃度測定に用いられた混合液Mは治具2、吸引ノズル63、吸引路61及び試料セル63内から除去する。
そして算出されたレジスト液Rの吐出量Xが設定量であるか否かを判定し(ステップS8)、設定量であれば当該薬液ノズル41の吐出量調整を終了する。ここで吐出量Xが設定量であるとは、吐出量Xが設定量±0.5%である場合も含まれる。一方、吐出量Xが設定量から外れているときには、ステップS9に進んで、ポンプ部75の調整を行う。
このポンプ部75の調整は、制御部100により例えば取得された吐出量Xと設定量との差分を求め、この差分に相当する吐出圧の補正量を吐出圧に加算または減算することにより行われる。例えば制御部100には、吐出量Xと設定量との差分と、この差分に相当する吐出圧の補正量とを対応付けたテーブルが格納されており、このテーブルに基づいて補正量が決定される。こうして薬液ノズル41からの吐出量が設定量よりも多い場合には、ポンプ部75の吐出圧を小さくし、吐出量が設定量よりも少ない場合には、ポンプ部75の吐出圧を大きくするようにポンプ部75が調整される。
次いで、調整された吐出圧によりポンプ部75を駆動させて、ステップS1〜S8の工程を実施し、吐出量Xが設定量であれば当該薬液ノズル41の吐出量調整を終了し、治具2をスピンチャック11に保持したまま、次の薬液ノズル41について吐出量調整を開始する。一方吐出量Xが設定量から外れていれば、再びステップS9のポンプ部75の吐出圧を再調整し、再度ステップS1に戻ってステップS1〜S8の工程を続行する。こうして全ての薬液ノズル41について吐出量調整を行う。
上述の実施形態によれば、治具2上にレジスト液Rと溶剤Sとを吐出して、治具2を回転させることによりレジスト液Rと溶剤Sを混合させて混合液Mを得て、この混合液M中のレジスト濃度を測定し、これに基づいて薬液ノズル41から治具2に吐出されたレジスト液Rの吐出量を算出している。従って外部の計測器にて質量を作業者が測定することにより吐出量を求める場合に比べて、作業の負担が格段に軽減されると共に、作業時間を大幅に短縮することができる。
また治具2上の混合液Mを吸引ノズル6により吸引して、吸引路61の途中に設けた濃度測定部8にて混合液M中のレジスト濃度を測定しているので、混合液Mを作製してから吐出量を求めるまでの工程を自動的に行うことができ、作業の負担及び作業時間をさらに削減することができる。
また溶剤Sの吐出量については計測器にて測定することにより事前に把握しているが、溶剤Sの吐出量は決められた量に調整する必要はなく、1回測定すればよいため、レジスト液の吐出量を設定量に揃える場合のように、何回も測定する必要がなく、作業の負担にはならない。また本実施形態のように、1つの液処理装置1において複数本の薬液ノズル41の吐出量調整を行う場合には、溶剤Sの吐出量を1回測定してポンプ部52の吐出圧を把握しておけば、以降はポンプ部52をその吐出圧で駆動させることにより、一定量の溶剤Sを治具2に吐出できるので、より作業の負担が軽減される。
さらに混合液Mが自動的に濃度測定部8に運ばれ、治具2を回転させることにより、治具2上の混合液は吹き飛ばされて除去されるので、作業者が濃度測定部8まで試料を運ぶ時間や、治具2に残った混合液Mを除去する時間が不要となるため、作業時間も短縮される。
さらにまたレジスト液の吐出量は、混合液の吸光度を求めることにより取得された混合液M中のレジスト濃度の測定値に基づいて算出しているので、吐出量の精度が高く、吐出量調整を高い精度で行うことができる。さらにレジスト液を作業者が拭き取る作業がないため、安全性も向上する。
(第2の実施形態)
続いて本発明の液処理装置の第2の実施形態について、図7〜図11を参照して説明する。この実施形態が第1の実施形態と異なる点は、吸引ノズル63に、吸引口から吸引された混合液Mを囲む光透過性の部材を設けると共に、濃度測定部9を液処理装置1の内部に設けたことである。また希釈液ノズル5と吸引ノズル63とは例えば別個の移動機構により移動自在に構成されている。例えば希釈液ノズル5は、アーム57に支持されて駆動機構58により、カップ3の側方の待機位置とスピンチャック11に保持された治具2上に溶剤を供給する位置との間で、横方向(図8中Y方向)に伸びるガイド59に沿って移動自在及び昇降自在に構成されている。
また吸引ノズル63は、アーム64に支持されて駆動機構65により、カップ3の側方の待機位置とスピンチャック11に保持された治具2上の液体を吸引する位置との間で、横方向に伸びるガイド66に沿って移動自在及び昇降自在に構成されている。ノズルユニット4と、希釈液ノズル5と、吸引ノズル63とは、互いに干渉しないように、スピンチャック11に保持された治具2に対する位置と待機位置との間で移動できるようになっている。吸引ノズル63のノズル部60は、測定対象の混合液Mを保持するための試料セルを兼用するものであり、例えば溶融石英やガラスなどの光を透過性の部材により形成されると共に、測定に際して十分な量の液体を保持できる長さに設定されている。また吸引ノズル63は、バルブV8を備えた吸引路67を介してポンプ部69に接続されている。691はポンプ部69の排液路である。
吸引ノズル63の待機位置には濃度測定部9が設けられている。この濃度測定部9は、例えば図9に示すように、待機位置にあるノズル部60を介して互いに対向するように設けられた発光ユニット91と、受光ユニット92とを備えている。発光ユニット91は、光源911と、フィルタやレンズなどを備え、必要な波長の光を分光するための分光ユニット912と、を備え、受光ユニット92は、レンズ921と、受光素子を備えた検出器922と、を備えている。光源911、分光ユニット912、レンズ921、検出器922の作用は、例えば第1の実施形態にて用いられるものと同様である。
例えば発光ユニット91と受光ユニット92とは、図10に示すように、平面視コ字状に形成された本体93に設けられており、この本体93には、光を透過させるための開口部941、942が形成されている。さらに濃度測定部9の下方側には、吸引ノズル63から液を吐出するための排液部95が設けられている。その他の構成は第1の実施形態と同様であり、同じ構成部材については同符号を付し、説明を省略する。
続いてこの実施形態の作用について、図11を参照して説明する。吐出量調整のタイミング、薬液供給系7における薬液の流れについては、第1の実施形態と同様である。
先ずスピンチャック11上に治具2を保持させ、図11(a)に示すように、薬液ノズル41からレジスト液Rを治具2の回転中心上に吐出する。次いで図11(b)に示すように、希釈液ノズル5から事前に吐出量が把握されている溶剤Sを治具2の回転中心上に吐出し、続いて図11(c)に示すように、スピンチャック11を数秒回転させて、レジスト液Rと溶剤Sとを均一に混合させる。
しかる後図11(d)に示すように、スピンチャック11を停止させ、吸引ノズル63を、ノズル部60の先端が治具2上の混合液Mと接触するか直ぐ上方側の位置に移動させて、バルブV8を開き、ポンプ部69を駆動させることにより治具2上の混合液Mを吸引する。こうしてノズル部60内が混合液Mにより満たされると、バルブV8を閉じ、ノズル部60内を負圧にして混合液Mをノズル部60内に保持させる。そしてノズル部60内に混合液Mを保持した状態で、吸引ノズル63を、ノズル部60が発光ユニット91と受光ユニット92との間に位置するように移動させる。
続いて図11(e)に示すように、ノズル部60に光源911より所定の波長例えば例えば600nm〜900nmの光を照射して、検出器922にて受光し、吸光度を求める。そしてこの吸光度に応じたレジスト濃度を取得し、得られた混合液M中のレジスト濃度の測定値を制御部100に出力する。制御部100では、取得されたレジスト濃度の測定値と、レジスト液Rのレジスト濃度と、溶剤Sの吐出量とに基づいて、既述の手法にてレジスト液Rの吐出量を算出する。
そして取得された吐出量が設定量(基準量)であるか否かを判定し、設定量であれば当該薬液ノズル41の吐出量調整を終了して、次の薬液ノズル41の吐出量調整を開始する。一方、吐出量が設定量から外れているときには、既述の手法にてポンプ部75の吐出圧の再調整を行なう。こうして全ての薬液ノズル41について吐出量の調整を行う。
一方、例えば混合液M中のレジスト濃度の測定が終わると、バルブV8を開き、ポンプ部69を吐出するように駆動させて、吸引ノズル63及び吸引路61内の混合液Mを排液部95に吐出して除去する(図11(f))。またノズルユニット4、希釈液ノズル5及び吸引ノズル63を待機位置に夫々退避させて、スピンチャック1を高速回転させて、治具2上の混合液を振り切って除去し、治具2を乾燥させる(図11(g))。こうして、次に治具2にレジストR及び溶剤Sの混合液Mが液盛りされる前に、その前のレジストの濃度測定に用いられた混合液Mは治具2、吸引ノズル63及び吸引路61内から除去する。
上述の実施形態によれば、治具2上にてレジスト液Rと溶剤Sを混合させて混合液Mを得て、この混合液M中のレジスト濃度を測定し、これに基づいて薬液ノズル41から治具2に吐出されたレジスト液Rの吐出量Xを算出している。従って外部の計測器にて質量を作業者が測定することにより吐出量を求める場合に比べて、作業の負担が格段に軽減されると共に、作業時間を大幅に短縮することができる。
また治具2上の混合液Mを吸引ノズル63により吸引し、ノズル60を試料セルとして機能させて、濃度測定部9にて混合液M中のレジスト濃度を測定している。従って、混合液Mの作製から吐出量Xを求めるまでの工程を自動的に行うことができるので、作業者の負担及び作業時間が格段に軽減される。さらに薬液ノズル41から吐出されたレジスト液Rの吐出量を、レジスト濃度を測定することにより求めているので、吐出量の精度が高く、吐出量調整を高い精度で行うことができる。さらにまたレジスト液を作業者が拭き取る作業がないため、安全性も向上する。
この第2の実施形態においては、例えば一旦混合液Mをポンプ部69に吸い込み、吸引ノズル63を濃度測定部9に移動させた後、吸引ノズル63から排液部95に液を吐出しながら、吸光度を検出して濃度測定を行ってもよい。
また例えば吸引ノズル63を治具調2上の混合液を吸引する位置に配置しておき、濃度測定部側を移動させて、混合液M中のレジスト濃度の測定を行ってもよい。この場合、混合液Mを吸い込みながら濃度測定を行ってもよい。
以上において、上述の実施形態では、治具上に希釈液を吐出した後、薬液を治具上に吐出するようにしてもよいし、希釈液と薬液とを同時に治具上に吐出するようにしてもよい。
またノズルユニットに薬液ノズルと希釈液ノズルとを設けてもよく、この場合には、シンナーノズルと希釈液ノズルとを兼用してもよい。さらにノズルユニットに薬液ノズルと希釈液ノズルと吸引ノズルを設けてもよい。また吸引部は必ずしもノズル状に構成する必要はなく、例えば吸引路により治具上の混合液Mを直接吸引するものであってもよい。さらにまた液処理装置1に設けられる薬液ノズルは1本であってもよい。
さらに治具は、図12に示すように、例えば円形基板よりなる治具21の表面に混合液の外方への拡散を抑え、混合液の貯留領域を形成するための環状の壁部22を設ける構成であってもよい。この場合、治具21上の混合液の除去は、吸引部により混合液を吸引することにより行われる。また濃度測定部は、光学的に有効成分の濃度を取得する構成に限らず、比重を測定して濃度を取得する構成などを用いることができる。
W ウエハ
1 液処理装置
11 スピンチャック
2 治具
3 カップ
41 薬液ノズル
5 希釈液ノズル
6 吸引ノズル
75 ポンプ部
8、9 濃度測定部

Claims (14)

  1. 回転機構により回転自在に構成された基板保持部に基板を保持し、目的とする液処理の有効成分を含む薬液を、吐出機構により薬液ノズルを介して基板に設定量吐出して液処理を行う液処理装置を運用する方法において、
    前記基板保持部に治具を保持する工程と、
    次いで前記薬液ノズルから治具に薬液を吐出する工程と、
    希釈液ノズルから、事前に吐出量が把握されている希釈液を治具に吐出する工程と、
    前記薬液及び希釈液が供給された治具を基板保持部により回転させて薬液及び希釈液を混合する工程と、
    この工程で薬液及び希釈液が混合された混合液中の前記有効成分の濃度を測定する工程と、
    前記混合液中の前記有効成分の濃度の測定値と、前記薬液の有効成分の濃度と、希釈液の吐出量と、に基づいて、薬液ノズルから治具に吐出された薬液の吐出量を算出する工程と、
    この工程で算出された薬液の吐出量に基づいて、前記薬液ノズルの薬液の吐出量が設定量となるように前記吐出機構を調整する工程と、を含むことを特徴とする液処理装置の運用方法。
  2. 前記吐出機構を調整する工程の後、前記治具を基板保持部に保持したまま、同様の工程を繰り返して、前記薬液の吐出量を算出する工程を行い、
    前記治具に薬液及び希釈液の混合液が液盛りされる前に、その前の有効成分の濃度測定に用いられた混合液が除去される工程を行うことを特徴とする請求項1記載の液処理装置の運用方法。
  3. 前記工程により算出された薬液の吐出量が設定量から外れているときには、前記吐出機構を再度調整する工程を行うことを特徴とする請求項2記載の液処理装置の運用方法。
  4. 前記混合液が除去される工程は、基板保持部により基板を回転させて混合液を振り切る工程であることを特徴とする請求項2または3記載の液処理装置の運用方法。
  5. 前記希釈液の吐出量は、希釈液ノズルから吐出された希釈液を計量器を用いて測定することにより事前に把握されていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一項に記載の液処理装置の運用方法。
  6. 前記薬液及び希釈液が混合された混合液中の前記有効成分の濃度を測定する工程は、前記治具上の混合液を吸引部により吸引して前記有効成分の濃度測定部による測定領域まで搬送した後、行われることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一項に記載の液処理装置の運用方法。
  7. 前記吸引部は、吸引口から混合液を吸引する吸引機構と、前記吸引口から吸引された前記混合液を囲む光透過性の部材と、を備え、
    前記濃度測定部は、前記光透過性の部材に光を透過させて光学的に有効成分の濃度を求めるものであることを特徴とする請求項6記載の液処理装置の運用方法。
  8. 前記有効成分は固形成分であり、前記希釈液は溶剤であり、前記液処理は塗布膜を形成するために薬液を基板の表面に塗布する処理であることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか一項に記載の液処理装置の運用方法。
  9. 前記希釈液ノズルとして、薬液の液膜が基板の表面に形成された後、基板の周縁部の液膜を除去するために溶剤を吐出するノズルが用いられることを特徴とする請求項8に記載の液処理装置の運用方法。
  10. 回転機構により回転自在に構成された基板保持部に基板を保持し、目的とする液処理の有効成分を含む薬液を、吐出機構により薬液ノズルを介して基板に設定量吐出して液処理を行う液処理装置に用いられるコンピュータプログラムを記憶した記憶媒体であって、
    前記コンピュータプログラムは、請求項1ないし9のいずれか一項に記載された液処理装置の運用方法を実行するようにステップ群が組まれていることを特徴とする記憶媒体。
  11. 回転機構により回転自在に構成された基板保持部に基板を保持し、目的とする液処理の有効成分を含む薬液を、吐出機構により薬液ノズルを介して基板に設定量吐出して液処理を行う液処理装置において、
    前記薬液ノズルから治具に吐出された薬液を希釈するための希釈液を吐出する希釈液ノズルと、
    前記治具上における薬液と希釈液との混合液を吸引するための吸引部と、
    前記吸引部により吸引した混合液中の前記有効成分の濃度を測定する濃度測定部と、
    前記基板保持部に治具を保持するステップと、次いで前記薬液ノズルから治具に薬液を吐出するステップと、希釈液ノズルから、事前に吐出量が把握されている希釈液を治具に吐出するステップと、前記薬液及び希釈液が供給された治具を基板保持部により回転させて薬液及び希釈液を混合するステップと、このステップで薬液及び希釈液が混合された混合液を吸引部にて吸引し、混合液中の前記有効成分の濃度を測定するステップと、前記有効成分の濃度の測定値と、前記薬液の有効成分の濃度と、希釈液の吐出量と、に基づいて、薬液ノズルから治具に吐出された薬液の吐出量を算出するステップと、このステップで算出された薬液の吐出量に基づいて、前記薬液ノズルの薬液の吐出量が設定量となるように前記吐出機構を調整するステップと、を実行するための制御部と、を備えたことを特徴とする液処理装置。
  12. 前記制御部は、前記吐出機構を調整するステップの後、前記治具を基板保持部に保持したまま、同様のステップを繰り返して、前記薬液の吐出量を算出するステップを行い、前記治具に薬液及び希釈液の混合液が液盛りされる前に、その前の有効成分の濃度測定に用いられた混合液が除去されるステップを行うように構成されていることを特徴とする請求項11記載の液処理装置。
  13. 前記制御部は、前記ステップにより算出された薬液の吐出量が設定量から外れているときには、前記吐出機構を再度調整するステップを行うように構成されていることを特徴とする請求項12記載の液処理装置。
  14. 前記吸引部は、吸引口から混合液を吸引する吸引機構と、前記吸引口から吸引された前記混合液を囲む光透過性の部材と、を備え、
    前記濃度測定部は、前記光透過性の部材に光を透過させて光学的に有効成分の濃度を求めるものであることを特徴とする請求項11ないし13のいずれか一項に記載の液処理装置。
JP2014232427A 2014-11-17 2014-11-17 液処理装置の運用方法、記憶媒体及び液処理装置 Pending JP2016096284A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014232427A JP2016096284A (ja) 2014-11-17 2014-11-17 液処理装置の運用方法、記憶媒体及び液処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014232427A JP2016096284A (ja) 2014-11-17 2014-11-17 液処理装置の運用方法、記憶媒体及び液処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2016096284A true JP2016096284A (ja) 2016-05-26

Family

ID=56071905

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014232427A Pending JP2016096284A (ja) 2014-11-17 2014-11-17 液処理装置の運用方法、記憶媒体及び液処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2016096284A (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003288839A (ja) * 2002-03-28 2003-10-10 Canon Inc 液体塗布装置及び液体塗布方法、描画装置及び描画方法
JP2006324677A (ja) * 2006-05-29 2006-11-30 Tokyo Electron Ltd 液処理装置の自動設定装置
JP2008066520A (ja) * 2006-09-07 2008-03-21 Mitsubishi Chemical Engineering Corp フォトレジスト供給装置およびフォトレジスト供給方法
JP2008166478A (ja) * 2006-12-28 2008-07-17 Tokyo Electron Ltd レジスト液供給装置及び基板処理システム
JP2014199881A (ja) * 2013-03-29 2014-10-23 東京エレクトロン株式会社 液処理装置、液処理方法、測定用冶具

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003288839A (ja) * 2002-03-28 2003-10-10 Canon Inc 液体塗布装置及び液体塗布方法、描画装置及び描画方法
JP2006324677A (ja) * 2006-05-29 2006-11-30 Tokyo Electron Ltd 液処理装置の自動設定装置
JP2008066520A (ja) * 2006-09-07 2008-03-21 Mitsubishi Chemical Engineering Corp フォトレジスト供給装置およびフォトレジスト供給方法
JP2008166478A (ja) * 2006-12-28 2008-07-17 Tokyo Electron Ltd レジスト液供給装置及び基板処理システム
JP2014199881A (ja) * 2013-03-29 2014-10-23 東京エレクトロン株式会社 液処理装置、液処理方法、測定用冶具

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8846145B2 (en) Liquid processing method
KR102086170B1 (ko) 기판 주연부의 도포막 제거 방법, 기판 처리 장치 및 기억 매체
US11244838B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method of controlling discharge angle and discharge position of processing liquid supplied to peripheral portion of substrate
TW201201266A (en) Semiconductor device manufacturing apparatus and semiconductor device manufacturing method
KR20160065757A (ko) 현상 처리 방법, 컴퓨터 기억 매체 및 현상 처리 장치
US10670966B2 (en) Substrate processing apparatus, method of adjusting parameters of coating module, and storage medium
JP2016096284A (ja) 液処理装置の運用方法、記憶媒体及び液処理装置
JP2016058712A (ja) 現像方法、現像装置及び記憶媒体
KR101842720B1 (ko) 유기 현상 처리 방법 및 유기 현상 처리 장치
JP2006032905A (ja) 薬液塗布装置及び薬液塗布方法
KR101922272B1 (ko) 액처리 장치, 액처리 방법, 측정용 지그
JP6763290B2 (ja) 液処理装置における処理液の吐出量の測定方法、測定方法に用いる容器及び測定方法に用いる冶具
JPH11251289A (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JP5283714B2 (ja) 塗布膜除去方法及びその装置
JP2003266006A (ja) 薬液塗布装置及びその薬液管理方法
JP2007329165A (ja) 液供給装置及びその液吐出量検査方法
KR102339249B1 (ko) 액 처리 방법, 액 처리 장치 및 기억 매체
TWI833360B (zh) 基板處理裝置及基板處理方法
JP5899099B2 (ja) 薬液吐出量計測用治具、薬液吐出量計測機構及び薬液吐出量計測方法
KR20160113988A (ko) 네거티브 현상 처리 방법 및 네거티브 현상 처리 장치
KR20230101664A (ko) 기판 처리 장치 및 방법
JP2021136263A (ja) 液処理装置及び液処理方法
WO2015080081A1 (ja) 薬液供給機構及び小型製造装置
KR20040102560A (ko) 감광액 공급 장치
JP2003309154A (ja) 気相分解装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160829

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170529

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170627

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180109