JP2016091590A - ホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】光学記録媒体の厚さを高精度で測定可能な光学式厚さセンサを有し、記録再生性能を向上可能なホログラム光記録再生装置を実現する。
【解決手段】センサ光源220からの光線303は光ディスク207の面に対して、斜め方向ではなく略垂直方向に光ディスク207に入射する。これにより、温度が変化し、記録媒体208にそり等の変形が生じても記録媒体208とガラス基板209との界面と、記録媒体208とガラス基板210との界面とは平行移動するに過ぎず、厚さ測定の誤差の発生が抑制される。さらに、温度センサ225により、ホログラム光記録装置110内の温度を測定し、温度上昇か温度下降かを判断し、検出した干渉光強度から記録媒体208の厚さを判断しているので、正確な厚さを検出することができる。
【選択図】図1
【解決手段】センサ光源220からの光線303は光ディスク207の面に対して、斜め方向ではなく略垂直方向に光ディスク207に入射する。これにより、温度が変化し、記録媒体208にそり等の変形が生じても記録媒体208とガラス基板209との界面と、記録媒体208とガラス基板210との界面とは平行移動するに過ぎず、厚さ測定の誤差の発生が抑制される。さらに、温度センサ225により、ホログラム光記録装置110内の温度を測定し、温度上昇か温度下降かを判断し、検出した干渉光強度から記録媒体208の厚さを判断しているので、正確な厚さを検出することができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、ホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法に関する。
二光束干渉法を用いたホログラム光記録装置は、レーザから出射された光束を光路途中で二分岐し、それぞれを記録媒体中に照射し、記録媒体中に干渉縞を形成・定着し、記録をする。そして、再生時には記録媒体中に形成した干渉縞にレーザから二分岐された光束の一方である参照光の光束を照射し、干渉縞からの回折光を再生信号として受光素子で受光する。
叙述したホログラム光記録装置において、ホログラム光記録装置内の温度変化等により記録媒体の温度も変化する。記録媒体の温度が変化すると、記録媒体中に定着された干渉縞の縞形状は変形し、干渉縞から回折される再生信号が劣化する。
このため、非特許文献1に示されているように、記録媒体の温度変化に対応して、参照光の波長や干渉縞への入射角度を検出し、調整する必要がある。
しかし、参照光の最適な波長や干渉縞への最適な入射角度の検出には、それぞれ複数の波長や入射角度の再生信号の品質をカメラで撮影した画像で比較評価する計算処理が必要であった。計算処理には時間を要するため、再生速度が低下してしまっていた。
記録媒体の温度を直接測定することができれば、その温度に基づいて記録媒体の変形量を高速に推定することは可能である。しかし、記録媒体は上下をガラス基板で挟まれた構造であるため、直接記録媒体の温度を測ることはできない。
また、ホログラム光記録装置内の温度が変化した時にガラスと記録媒体の温度変化に時間的なずれが生じるため、ガラス温度を記録媒体の温度として扱うことは出来ない。このため、記録媒体の変形量を直接測定することが求められていた。
記録媒体の変形量を測定する一方法としては、機械式の厚さ測定法であり、板状体である記録媒体を一対の接触子で挟みこみ、接触子の間隔を測定するものがある。
一方、非接触で厚さを測定できる光学式の例は、特許文献1に記載された技術がある。この技術は、透明板状体に対して斜めからレーザの光線を照射し、透明板状体から反射する光線を受光し、受光位置のずれを検出することで透明板状体の厚さを測定する技術である。
「Holographic Data Storage」 2010年8月2日初版発行 pp325−pp327
ホログラム光記録媒体は、ホトポリマー等の高分子材質からなる柔軟な板状部材である。このため、上記接触子を用いて機械的に厚さを測定する技術では、薄い板状体や柔らかい板状体の厚さを測定する場合に、一対の接触子で挟持することによって挟持部分が変形してしまうために正確な測定ができないことが少なくない。また、接触により記録媒体表面に傷が付くため、ホログラム光記録装置には適さない。
一方、光学式で非接触に厚さを測定できる特許文献1の技術では、記録媒体である透明板状体に対して斜め方向からレーザ光を照射し、透明板状体からの反射光線の平行シフト量から厚さを検出しているため、透明板状体の温度が変化すると変形し、この変形により反射光線位置がずれるため、厚さの測定精度が低下していた。
本発明の目的は、光学記録媒体の厚さを高精度で測定可能な光学式厚さセンサを有し、記録再生性能を向上可能なホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することである。
上記目的を達成するために本発明は、次のように構成される。
ホログラム光再生装置において、光記録媒体に光を照射するレーザ光源と、レーザ光源が発生する光の波長を制御する波長制御部と、レーザ光源から発生された光のうちの参照光を反射し、光記録媒体に入射させる反射部と、反射部の反射角度を制御する角度制御部と、光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を発生させるセンサ光源と、光記録媒体の前面及び後面からの反射光との干渉光を受光する受光素子と、この受光素子からの干渉強度信号と、温度センサが測定した温度とに基づいて、光記録媒体の厚さの変化量を演算し、波長制御部に波長制御信号を供給するとともに上記角度制御部に角度制御信号を供給する演算部とを備える。
また、ホログラム光記録装置において、光記録媒体に光を照射するレーザ光源と、レーザ光源が発生する光の波長を制御する波長制御部と、レーザ光源から発生された光のうちの参照光を反射し、上記光記録媒体に入射させる反射部と、記レーザ光源から発生された光のうちの信号光線に情報を付加する空間光変調器と、空間光変調器により情報が付加された信号光線を、光記録媒体中で上記参照光と重ね合わせるために光記録媒体に入射させる光学部材と、記反射部の反射角度を制御する角度制御部と、記録媒体周囲の温度を測定する温度センサと、光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を発生するセンサ光源と、光記録媒体の前面及び後面から反射光の干渉光を受光する受光素子と、この受光素子からの干渉強度信号と、温度センサが測定した温度とに基づいて、光記録媒体の厚さの変化量を演算し、波長制御部に波長制御信号を供給するとともに、角度制御部に角度制御信号を供給する演算部とを備える。
ホログラム光記録媒体の厚さ測定方法において、ホログラム光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を照射し、ホログラム光記録媒体の前面及び後面から反射された光に基づいて干渉光強度信号を発生し、記録媒体周囲の温度を測定し、干渉光強度信号と、測定した温度とに基づいて、ホログラム光記録媒体の厚さを演算する。
本発明によれば、光学記録媒体の厚さを高精度で測定可能な光学式厚さセンサを有し、記録再生性能を向上可能なホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することができる。
以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
(実施例1)
本発明の実施例1に係るホログラム光記録再生装置100の構成について、図面を参照して説明する。
本発明の実施例1に係るホログラム光記録再生装置100の構成について、図面を参照して説明する。
初めに、光ディスク207に情報を記録する手順を説明する。
図1は、本発明の実施例1におけるホログラム光記録再生装置の全体構成を示す図である。レーザ光源201を出射した光線300は2分の1波長板202でP偏光とS偏光の割合を制御された後、偏光ビームスプリッタ203で信号光線301と参照光線302とに分離される。
信号光線301は偏光ビームスプリッタ204で反射し、空間光変調器205に入射する。空間光変調器205で情報を付加された信号光線301は、偏光ビームスプリッタ204を透過した後、対物レンズ206を透過し、光ディスク207に集光する。
なお、光ディスク207は記録媒体208を2枚のガラス基板209、210で挟み、ガラス基板210の下部にハブ211が接着された構造である。
一方、偏光ビームスプリッタ203で分離された参照光線302は、ガルバノミラー(反射部)200で光ディスク207に入射する角度が制御される。
信号光線301と参照光線302とを光ディスク207中で重ね合わせると、光ディスク207の記録媒体208には信号光線301と参照光線302で形成される干渉縞が記録され、これにより情報が記録される。
なお、偏光ビームスプリッタ204と対物レンズ206とにより、情報が付加された信号光線を、光記録媒体208中で記参照光と重ね合わせるために光記録媒体208に入射させる光学部材が形成される。
次に、記録媒体208に記録した情報を再生する手順を説明する。
記録媒体208に記録した情報を再生する時は、参照光線302のみを光ディスク207に照射する。参照光線302は光ディスク207を透過した後、ガルバノミラー212で、入射光軸と同一光軸上に反射される。ガルバノミラー212で反射された参照光線302は再び光ディスク207に入射すると、記録媒体208に記録された干渉縞で回折され、再生光線として対物レンズ206に入射する。対物レンズ206に入射した再生光線は偏光ビームスプリッタ204で反射された後、再生光受光素子213に入射し、記録した情報が再生される。
光ディスク207は、チャック218を介して固定されたモータ216で回転される。さらに、モータ216を搭載するステージ217で並進方向に移動される。それにより光ディスク207の任意の位置に記録再生が可能となる。
ここで、再生時にホログラム光記録再生装置100内部の温度が記録時と比べて変化していると、記録媒体208の体積が変化し、記録時に記録媒体208に形成された干渉縞は変形する。その結果、干渉縞で回折し、再生光受光素子213で再生される再生信号が劣化する。
なお、記録媒体208の温度変化による再生信号劣化はレーザ光源201から出射する光線300の波長や、ガルバノミラー200で光ディスク207に入射する参照光線302の入射角度を変更することで抑制できることが知られている。
そこで、実施例1では、温度変化による記録媒体208の変形量として記録媒体208の厚さ変化を光学式厚さセンサ219で計測する。演算回路226では、光学式厚さセンサ219から出力された干渉光強度信号401と、ホログラム光記録装置100内部の温度を測定する温度センサ225から出力された温度信号405とから記録媒体208の厚さ変化量を計算する。また、計算した記録媒体208の厚さ変化量を基に波長制御回路(波長制御部)214に波長制御信号402を出力し、レーザ光源201を最適な波長に調整することで記録媒体208の温度変化による再生信号劣化を抑制する。
また、同様に、計算した記録媒体208の厚さ変化量を基に角度制御回路(角度制御部)215に角度制御信号403を出力し、ガルバノミラー200を最適な角度に調整することで記録媒体208の温度変化による再生信号劣化を抑制する。なお、上記レーザ光源201の波長制御とガルバノミラー200の角度制御は、どちらか一方の制御だけでも良い。
次に、実施例1の特徴の一つである光学式厚さセンサ219の動作を説明する。
図2は、本実施例1における光学式厚さセンサ219を説明する図である。
光ディスク207は外周部位で反りが発生し易いものの、内周部位は反りが少ない。また、光ディスク207の記録媒体208は記録部と未記録部で屈折率が異なる。そこで、光学式厚さセンサ219は最内周側のハブ211領域を除き、このハブ211の外側で且つ光ディスク207の記録再生に用いる領域より内側の未記録領域で用いる。
ここで、未記録領域とは、記録再生に使用される領域ではなく、記録媒体の内周側であって、記録媒体の初期情報等が記録される領域内のうちの記録がされていない領域である(記録媒体の情報記録再生領域の内周側領域)。
光学式厚さセンサ219は、センサ光源220と、コリメートレンズ221と、フィルタ222と、センサ受光素子223とを備えている。光学式厚さセンサ219は、常に光ディスク207の同一円周上を測定するため、ステージ217上に搭載されている。
センサ光源220から出射した光線303はコリメートレンズ221で略平行光に変換され、フィルタ222を透過する。光ディスク207のガラス基板209、210は、空気との界面209a、210aにホログラム光記録装置100の記録再生に用いるレーザ光源201の波長に対応した反射防止膜が形成されている。ホログラム光記録再生装置100に用いるレーザ光源201の波長は一般的に400nm近辺のレーザが用いられる。
そこで、光学式厚さセンサ219に用いるセンサ光源220の波長はホログラム光記録再生装置100に用いるレーザ光源201の波長に近く、かつ、記録媒体208に吸収され難い長波長側の例えば500nm近辺とする。それにより、フィルタ222を透過した光線303は光ディスク207の空気との界面209a、210aで反射され難い。
一方、ガラス基板209、210と記録媒体208との界面209b、210bでは、光線303はガラス基板209、210と記録媒体208の屈折率差に起因した反射が発生する。
コリメートレンズ221、フィルタ222を通過した光線303は、光ディスク207の面に対して、斜め方向ではなく、略垂直方向に光ディスク207に入射する。そして、界面209bで反射された光線304、界面210bで反射された光線305は、光ディスク207の面に対して略垂直方向に進行して、それぞれフィルタ222で反射され、センサ受光素子223上で合波される。
センサ受光素子223で受光される光線は、光線304と光線305とが干渉した光線であり、その干渉光強度は各光線の光路長差で決定される。
光ディスク207の温度変化で記録媒体208厚さが変化すると、記録媒体208を透過し、界面209bで反射される光線304は、光ディスク207内を通過する光路長が変化する。一方、記録媒体208の手前の界面210bで反射される光線305が光ディスク207内を通過する光路長は、記録媒体208の厚さ変化の影響を受けない。
よって、光線304と305との光路長差は記録媒体208の厚さ変化に対応し、上記干渉光強度を検出することで記録媒体208の厚さ変化を検出することができる。
また、光線303は、光ディスク207の面に対して、斜め方向ではなく、略垂直方向に光ディスク207に入射するので、温度変化により、記録媒体208にそり等の変形が生じても、界面209bと210bとは平行移動するに過ぎず、厚さ測定の誤差の発生が抑制される。
これに対して、光線303を光ディスク207の面に対して、斜め方向に入射させ、その反射光を受けて厚さの変化を検出する方式の場合は、記録媒体208の曲がりの影響を受け、厚さ測定の誤差を生じる可能性が高い。
図3は、記録媒体208の厚さとセンサ受光素子223に照射される干渉光強度の関係を説明する図である。図3の縦軸は干渉光強度を示し、横軸は記録媒体208の厚さを示す。
図3に示すように、温度変化に伴って記録媒体208の厚さが変化すると、センサ受光素子223で受光される干渉光強度も振動的に変化する。例えば、温度変化前の厚さがd0の記録媒体208が温度低下すると、干渉光強度はP0からP1に増加し、その干渉光強度変化から記録媒体208の厚さはdlと演算される。よって、図3に示すような干渉光強度と記録媒体厚さとの関係を予めメモリに格納しておけば、検出した干渉光強度から記録媒体208の厚さを検出することができる。
しかし、記録媒体208の温度が上昇し、厚さがdhとなる点でも干渉光強度は温度下降した時と同じP1となる。つまり、干渉光強度は、記録媒体の厚さ変化に対して振動的に変化するため、干渉光強度の変化だけでは記録媒体208の厚さが増加したのか減少したのかが判別できない。
そこで、図2に示すようにホログラム光記録再生装置100内の温度を測定する温度センサ225を搭載する。温度センサ225では、ホログラム光記録装置110内の温度を継続的に測定し、温度信号405は演算回路226を介してメモリ224に記録される。演算回路226は、メモリ224に記録された温度信号405を基に、ホログラム光記録再生装置100内の温度が下降している局面では記録媒体208の厚さは減少する等を演算回路226で判断する。それにより、メモリ224に記録された温度変化前P0であった干渉光強度がP1に増加する時、記録媒体208厚さはd0からdlに減少したと判断する。
このようにして、演算回路226は、干渉光強度に基づいて、ホログラム光記録媒体の厚さを演算することができる。
なお、図3に示した干渉光強度と記録媒体厚さとの関係は、メモリ224に格納することができる。
以上のように、本発明の第1の実施例によれば、センサ光源220からの光線303は、コリメートレンズ221、フィルタ222を通過し、光ディスク207の面に対して、斜め方向ではなく、略垂直方向に光ディスク207に入射するように構成されているので、温度変化により、記録媒体208にそり等の変形が生じても、界面209bと210bとは平行移動するに過ぎず、厚さ測定の誤差の発生が抑制される。
さらに、本発明の第1の実施例によれば、温度センサ225により、ホログラム光記録再生装置100内の温度を測定し、温度上昇か温度下降かを判断し、検出した干渉光強度から記録媒体208の厚さを判断しているので、正確な厚さを検出することができる。
つまり、本発明の実施例1によれば、光学記録媒体の厚さを高精度で測定可能な光学式厚さセンサを有し、測定した光学記録媒体の厚さに基づいて、レーザ光源201から出力される光の波長及びガルバノミラー200の角度を適切な値に制御可能であり、記録再生性能を向上可能なホログラム光記録再生装置およびホログラム光記録再生方法を実現することができる。
また、光記録媒体の厚さを高精度に測定可能なホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することができる。
また、光学記録媒体の厚さを小型・高精度に測定でき、二光束干渉系を用いたホログラム光記録再生装置内の温度変化に対して再生信号劣化を抑制できる。
なお、情報再生時における光学記録媒体の厚さを計測し、波長及び参照光の照射角度の調整について述べたが、情報記録時においても、光学記録媒体の厚さを計測し、波長及び参照光の照射角度を調整することが可能である。
したがって、本発明は、ホログラム光再生装置及びホログラム光記録装置のそれぞれについても、適用可能である。
また、ホログラム光再生方法及びホログラム光記録方法のそれぞれについても、適用可能である。
(実施例2)
次に、本発明の実施例2に係るホログラム光記録再生装置の構成について、図面を参照して説明する。
次に、本発明の実施例2に係るホログラム光記録再生装置の構成について、図面を参照して説明する。
図4は、光ディスク207の回転角度と記録媒体208の厚さ分布の一例を示す図であり、縦軸は記録媒体208の厚さを示し、横軸は光ディスク207の回転角度を示す。
図4に示すように、光ディスク207の記録媒体208は同一円周上においても各回転角度での厚さが異なる。そのため、再生時に光ディスク207がモータ216により回転すると記録媒体208の厚さが変化したと認識され、測定誤差となる。そこで、本実施例2では、記録媒体208の初期の厚さ分布を相殺することで光学式厚さセンサ219の測定誤差を抑制する。本実施例2において、実施例1とホログラム光記録再生装置100の構成及び動作が異なる点を、図5を用いて説明する。
図5は、本実施例2におけるホログラム光記録再生装置100の光学式厚さセンサ219を説明する図である。
なお、ホログラム光記録再生装置100の全体構成は、図1に示した例と同等であるので、図示は省略する。
本実施例2では、実施例1とは異なり、図5に示すようにモータ216から回転角度信号404を取得し、演算回路226に入力する。他の構成は、図2に示した例と同一である。
図5において、光ディスク207がチャック218に装着されると、光ディスク207はモータ216により回転し、初期の記録媒体208が一周した干渉光強度を光学式厚さセンサ219で取得する。また、光ディスク207の回転角度信号404を例えばモータ216に搭載したロータリエンコーダから取得し、記録媒体208からの干渉光強度信号401、温度信号405と共に初期の干渉光強度データ(初期厚さ情報)としてメモリ224に記録する。
光ディスク207の再生中は、随時、記録媒体208からの干渉光強度信号401を測定し、測定角度での干渉光強度信号401が、メモリ224に記録された初期の干渉光強度データと異なる時、波長制御回路214、角度制御回路215にそれぞれレーザ光源201の波長を変更する波長制御信号402とガルバノミラー200の角度を変更する角度制御信号403とを送り、記録媒体208厚さ変化による再生信号の劣化を補正する。
または、厚さセンサ219からの干渉強度信号と、温度センサ225が測定した温度と、216モータの回転角度と、メモリ224に格納された初期厚さ情報とに基づいて、光記録媒体の厚さの変化量を演算し、波長制御回路214に波長制御信号を供給するとともに、角度制御回路215に角度制御信号を供給する。
これにより、同一円周上に厚さ分布を持つ光ディスクにおいても光学記録媒体208の厚さを小型・高精度に測定でき、二光束干渉系を用いたホログラム光記録装置内の温度変化に対して再生信号劣化を抑制できる。
つまり、本発明の実施例2によれば、光ディスク207の初期の厚さ不均等性をも考慮して、光学記録媒体の厚さを計測しているので、実施例1と同等な効果に加えて、さらに、記録再生性能を向上可能なホログラム光記録再生装置およびホログラム光記録再生方法を実現することができる。
また、ホログラム光記録媒体の厚さを、さらに高精度に測定可能なホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することができる。
なお、実施例2も実施例1と同様に、ホログラム光再生装置及びホログラム光記録装置のそれぞれについても、適用可能である。
また、ホログラム光再生方法及びホログラム光記録方法のそれぞれについても、適用可能である。
(実施例3)
次に、本発明の実施例3に係るホログラム光記録再生装置100の構成について、図面を参照して説明する。
次に、本発明の実施例3に係るホログラム光記録再生装置100の構成について、図面を参照して説明する。
図6は、本実施例3におけるホログラム光記録再生装置100の光学式厚さセンサ219を説明する図である。なお、ホログラム光記録再生装置100の全体構成は、図1に示した例と同等であるので、図示は省略する。
センサ光源220からの出射光量は変動する場合が考えられる。そこで、実施例3においては、図6に示すように、センサ光源220から出射した光線303の一部をパワーモニタ227で受光し、光量の変動信号を演算回路226に伝送する。演算回路226は、パワーモニタ227からの光量変動信号により、干渉光強度を補正し、記録媒体208の厚さを判断する。それにより、センサ光源220からの出射光量の変動による光学式厚さセンサ219の測定誤差を低減することができる。
本発明の実施例3によれば、センサ光源220からの出射光量の変動をも考慮して、光学記録媒体の厚さを計測しているので、実施例1と同等な効果に加えて、さらに、記録再生性能を向上可能なホログラム光記録再生装置およびホログラム光記録再生方法を実現することができる。
また、ホログラム光記録媒体の厚さを、さらに高精度に測定可能なホログラム光記録媒体の厚さ測定方法を実現することができる。
なお、実施例3も実施例1と同様に、ホログラム光再生装置及びホログラム光記録装置のそれぞれについても、適用可能である。
また、ホログラム光再生方法及びホログラム光記録方法のそれぞれについても、適用可能である。
また、実施例2と実施例3とを組み合わせることも可能である。つまり、光ディスク207の初期の厚さ不均等性も考慮するとともに、センサ光源220からの出射光量の変動をも考慮して、光学記録媒体の厚さを計測することも可能である。
100・・・ホログラム光記録再生装置、200・・・ガルバノミラー、201・・・レーザ光源、202・・・2分の1波長板、203・・・偏光ビームスプリッタ、204・・・偏光ビームスプリッタ、205・・・空間光変調器、206・・・対物レンズ、207・・・光ディスク、208・・・記録媒体、209・・・ガラス基板、209a、210a・・・空気との界面、209b、210b・・・記録媒体との界面、210・・・ガラス基板、211・・・ハブ、212・・・ガルバノミラー、213・・・再生光受光素子、214・・・波長制御回路、215・・・角度制御回路、216・・・モータ、217・・・ステージ、218・・・チャック、219・・・光学式厚さセンサ、220・・・センサ光源、221・・・コリメートレンズ、222・・・フィルタ、223・・・センサ受光素子、224・・・メモリ、225・・・温度センサ、226・・・演算回路、227・・・パワーモニタ、300、303、304、305・・・光線、301・・・信号光線、302・・・参照光線、401・・・光強度信号、402・・・波長制御信号、403・・・角度制御信号、404・・・回転角度信号、405・・・温度信号
Claims (12)
- レーザ光を発生し、光記録媒体に光を照射するレーザ光源と、
上記レーザ光源が発生する光の波長を制御する波長制御部と、
上記レーザ光源から発生された光のうちの参照光を反射し、上記光記録媒体に入射させる反射部と、
上記反射部の反射角度を制御する角度制御部と、
上記光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を発生させるセンサ光源と、
上記光記録媒体の前面からの反射光と、上記光記録媒体の後面からの反射光との干渉光を受光する受光素子と、
上記記録媒体周囲の温度を測定する温度センサと、
上記受光素子からの干渉強度信号と、上記温度センサが測定した温度とに基づいて、上記光記録媒体の厚さの変化量を演算し、上記波長制御部に波長制御信号を供給するとともに、上記角度制御部に角度制御信号を供給する演算部と、
を備えることを特徴とするホログラム光再生装置。 - 請求項1に記載のホログラム光再生装置において、
上記センサ光源は、上記記録媒体の情報記録再生領域の内周側に光を照射することを特徴とするホログラム光再生装置。 - 請求項1に記載のホログラム光再生装置において、
上記光記録媒体を回転させるモータと、上記光記録媒体の初期厚さ情報が格納されるメモリとを備え、上記演算部は、上記受光素子からの干渉強度信号と、上記温度センサが測定した温度と、上記モータの回転角度と、上記メモリに格納された上記初期厚さ情報とに基づいて、上記光記録媒体の厚さの変化量を演算することを特徴とするホログラム光再生装置。 - 請求項2に記載のホログラム光再生装置において、
上記センサ光源から発生された光の一部を受光するパワーモニタを備え、上記演算部は、上記パワーモニタが受光した光量の変動量に基づいて、上記干渉光強度を補正することを特徴とするホログラム光再生装置。 - レーザ光を発生し、光記録媒体に光を照射するレーザ光源と、
上記レーザ光源が発生する光の波長を制御する波長制御部と、
上記レーザ光源から発生された光のうちの参照光を反射し、上記光記録媒体に入射させる反射部と、
上記レーザ光源から発生された光のうちの信号光線に情報を付加する空間光変調器と、
上記空間光変調器により情報が付加された信号光線を、上記光記録媒体中で上記参照光と重ね合わせるために上記光記録媒体に入射させる光学部材と、
上記反射部の反射角度を制御する角度制御部と、
上記光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を発生させるセンサ光源と、
上記光記録媒体の前面からの反射光と、上記光記録媒体の後面からの反射光との干渉光を受光する受光素子と、
上記記録媒体周囲の温度を測定する温度センサと、
上記受光素子からの干渉強度信号と、上記温度センサが測定した温度とに基づいて、上記光記録媒体の厚さの変化量を演算し、上記波長制御部に波長制御信号を供給するとともに、上記角度制御部に角度制御信号を供給する演算部と、
を備えることを特徴とするホログラム光記録装置。 - 請求項5に記載のホログラム光記録装置において、
上記センサ光源は、上記記録媒体の情報記録再生領域の内周側に光を照射することを特徴とするホログラム光記録装置。 - 請求項5に記載のホログラム光記録装置において、
上記光記録媒体を回転させるモータと、上記光記録媒体の初期厚さ情報が格納されるメモリとを備え、上記演算部は、上記受光素子からの干渉強度信号と、上記温度センサが測定した温度と、上記モータの回転角度と、上記メモリに格納された上記初期厚さ情報とに基づいて、上記光記録媒体の厚さの変化量を演算することを特徴とするホログラム光記録装置。 - 請求項6に記載のホログラム光記録装置において、
上記センサ光源から発生された光の一部を受光するパワーモニタを備え、上記演算部は、上記パワーモニタが受光した光量の変動量に基づいて、上記干渉光強度信号を補正することを特徴とするホログラム光記録装置。 - ホログラム光記録媒体の面に対して略垂直方向に光を照射し、上記ホログラム光記録媒体の前面及び後面から反射された光に基づいて干渉光強度信号を発生し、
上記記録媒体周囲の温度を測定し、
上記干渉光強度信号と、上記測定した温度とに基づいて、上記ホログラム光記録媒体の厚さを演算することを特徴とするホログラム光記録媒体の厚さ測定方法。 - 請求項9に記載のホログラム光記録媒体の厚さ測定方法において、
ホログラム光記録媒体の面に対して略垂直方向に照射される光は、上記ホログラム光記録媒体の情報記録再生領域の内周側に照射することを特徴とするホログラム光記録媒体の厚さ測定方法。 - 請求項9に記載のホログラム光記録媒体の厚さ測定方法において、
上記干渉光強度信号と、上記温度センサが測定した温度と、上記ホログラム光記録媒体を回転させるモータの回転角度と、上記ホログラム光記録媒体の初期厚さ情報とに基づいて、上記光記録媒体の厚さを演算することを特徴とするホログラム光記録媒体の厚さ測定方法。 - 請求項10に記載のホログラム光記録媒体の厚さ測定方法において、
上記ホログラム光記録媒体の面に対して略垂直方向に照射される光の一部をパワーモニタで受光し、このパワーモニタが受光した光量の変動量に基づいて、上記干渉光強度を補正することを特徴とするホログラム光記録媒体の厚さ測定方法。
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JP2014229258A JP2016091590A (ja) | 2014-11-11 | 2014-11-11 | ホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法 |
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JP2014229258A JP2016091590A (ja) | 2014-11-11 | 2014-11-11 | ホログラム光再生装置およびホログラム光記録媒体の厚さ測定方法 |
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