JP2016069747A - 染色装置 - Google Patents
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Abstract
Description
また、樹脂体の染色が良好に行われたか否かの確認は、染色工程が完了した後、加工者が染色された樹脂体を確認することによって、行われていた。このため、染色工程を完了するまでは、染色の良否については、確認することが困難であり、染色が良好に行われていない樹脂体については、廃棄をしていた。
(2) 本開示の第2態様に係る染色装置は、染色用基体に付着された昇華性の染料を、設置部に設置された樹脂体に蒸着させることで、前記樹脂体を染色する染色装置であって、染料を前記設置部に設置された前記樹脂体に蒸着させる際に、少なくとも前記設置部に設置される樹脂体の周囲を閉塞する閉塞室と、前記閉塞室内の気圧を低下させる気圧低下手段と、前記気圧低下手段によって前記閉塞室内の気圧が低下された場合において、前記閉塞室の内部の圧力状態を検出する圧力検出手段と、前記圧力検出手段の検出結果が、異常であるか否かを判定する判定手段と、前記判定手段による判定結果に基づいて、染色装置の動作を次の動作へ切り換える制御手段と、を備えることを特徴とする。
例えば、圧力に応じた信号とは、電流値(電流値信号)、電圧値(電圧値信号)等が挙げられる。本実施形態において、センサ34は、電圧値を出力する。なお、センサ34から出力される電圧値は、閉塞室20内の圧力に比例している。例えば、制御部70は、センサ34の出力信号(本実施形態においては、電圧値)の変化量に基づいて、リーク量を取得する。すなわち、制御部70は、センサ34から出力される信号を監視し、電圧値の変化量に基づいて、リーク量を取得する。なお、センサ34から出力される信号を圧力に換算して、圧力の変化量とし、圧力の変化量に基づいてリーク量を取得するようにしてもよい。このように、例えば、圧力に応じた信号の変化量に基づいて、リーク量を取得することによって、簡易な構成で容易に閉塞室20内における圧力状態を確認することができる。また、例えば、圧力に応じた信号の変化量に基づいて、リーク量を取得することによって、気圧計(大気圧を計測する測定部)と差圧計(大気圧と閉塞室20の内部の圧力差を測定する測定部)の二つの圧力センサを使用して圧力を測定する構成を圧力検出手段として、適用した場合に対して、閉塞室20の外部の圧力を検出する必要がなく、圧力状態の検出を行うことができる。このため、外部環境の影響によって検出結果に誤差が生じることなく、より精度よく閉塞室20内の圧力状態を確認するができるため、より好ましい。また、気圧計と差圧計等の複数の圧力センサを必要としないためより好ましい。
気体の排出が完了すると、気圧の低下状態の判定を行う(S4)。すなわち、気圧の低下状態の判定では、閉塞室20内が略真空状態であるか否かが判定される。なお、例えば、染色装置1(本実施形態においては制御部70)は、ポンプ31の駆動を停止させるとともに、電磁弁33を閉塞し、閉塞室20内の密閉性を保った状態において、気圧の低下状態の判定を行う。
ここで、気圧の低下状態の判定について、図10を参照して説明する。例えば、気圧の低下状態の判定工程において、制御部70は、センサ34からの出力信号(本実施形態においては、電圧値)に基づいて取得されるリーク量を取得する(S41)。制御部70は、リーク量を取得すると、取得されたリーク量が異常であるか否かを判定する(S42、S43)。例えば、制御部70は、リーク量が所定の閾値以上である場合には、リーク量が異常であると判定する。また、例えば、制御部70は、リーク量が所定の閾値より小さい場合には、正常であると判定する。例えば、所定の閾値は、予め、実験やシミュレーション等によって、閉塞室20から漏れがある(略真空状態となっていない)場合におけるリーク量を算出しておくことによって、設定することができる。なお、閉塞室20の内部が略真空状態(正常である状態)であっても、閉塞室の連結部分等からわずかに気体が漏れ出ることがある。しかしながら、略真空状態に影響が及ぶほどではない。このため、リーク量を判定する際の閾値としては、わずかに漏れることを考慮した値が設定されることがより好ましい。
なお、本実施形態においては、リーク量が所定の閾値以上であるか否かに基づいて、気圧の低下状態の判定する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、リーク量が所定の閾値を超えるまでの時間を測定し、測定結果に基づいて、リーク量の判定を行ってもよい。
例えば、制御部70は、判定結果に基づいて、染色装置1の動作を次の動作へ切り換える。例えば、次の動作とは、染色装置1による気圧低下状態の判定工程を別の染色工程へ移行させる制御、染色装置1による染色工程の停止、表示手段(例えば、染色装置1のディスプレイ7、外部PCのディスプレイ等)への判定結果に基づく染色装置1の状態を報知する報知情報の表示等、が挙げられる。なお、次の動作としては、上記記載に限定されず、リーク量の判定結果をトリガとして、染色装置1における各種制御が実行されるものであればよい。
例えば、染色装置1による気圧低下状態の判定工程を別の染色工程へ移行させる制御としては、蒸着工程の実行、ポンプ31の駆動による樹脂体周辺の気圧低下工程(S3)の再実行、等が挙げられる。なお、ポンプ31による気圧低下工程(S3)の再実行を行う場合には、ポンプ31のパワー(吸引力)を調整するようにしてもよい。
例えば、染色装置1による染色工程の停止とは、蒸着工程(S4)を実施する直前の状態で一時停止させる制御(蒸着工程の実行の禁止制御)、染色装置1の全動作をリセットし、再度染色工程をはじめからやり直すための制御等が挙げられる。
例えば、判定結果に基づく染色装置1の状態を報知する報知情報の表示としては、取得されたリーク量情報の表示、閉塞室20内の圧力状態が異常であることを知らせるための情報(色の変更、メッセージ等)の表示、染色工程(例えば、蒸着工程等)を続行するか否かを決定するための設定画面の表示、異常状態を解決するために加工者がすべき動作をガイドするためのガイド情報(ポンプ31と染色装置1の接続状態を確認してください等のメッセージ)の表示等が挙げられる。
次いで、設置部移動モータ81が駆動されて、設置部50が閉塞室20の外側(本実施形態では、基部3における前側の壁面と閉塞室20との間の冷却位置)へ移動される。基体退避モータ82(図8参照)が駆動されて、基体保持枠58(図6参照)が退避機構(図示せず)によって退避される(S7)。設置部移動モータ81によって、設置部50が再び閉塞室20内に搬入される。
7 ディスプレイ
8 冷却ファン
11 電磁波発生部
14 分布調整部
20 閉塞室
24 温度検出手段
34 センサ
50 設置部
57 染色用基体
70 CPU
Claims (6)
- 染色用基体に付着された昇華性の染料を、設置部に設置された樹脂体に蒸着させることで、前記樹脂体を染色する染色装置であって、
染料を前記設置部に設置された前記樹脂体に蒸着させる際に、少なくとも前記設置部に設置される樹脂体の周囲を閉塞する閉塞室と、
前記閉塞室内の気圧を低下させる気圧低下手段と、
前記気圧低下手段によって前記閉塞室内の気圧が低下された場合において、前記閉塞室の内部の圧力状態を検出するために、前記閉塞室におけるリーク量を取得するリーク取得手段と、
を備えることを特徴とする染色装置。 - 請求項1の染色装置において、
さらに、前記リーク取得手段によって取得されたリーク量が異常であるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果に基づいて、染色装置の動作を次の動作へ切り換える制御手段と、
を備えることを特徴とする染色装置。 - 請求項2の染色装置において、
前記制御手段は、前記判定手段による前記判定結果に基づいて、蒸着工程を実行するか否かを制御することを特徴とする染色装置。 - 請求項2の染色装置において、
前記制御手段は、前記判定手段による前記判定結果に基づいて、表示手段に染色装置の状態を報知するための報知情報を表示することを特徴とする染色装置。 - 請求項1〜4に記載の染色装置において、
前記リーク取得手段は、前記閉塞室における圧力に応じた信号を出力するセンサを有し、前記センサの出力信号の変化量に基づいて、前記リーク量を取得することを特徴とする染色装置。 - 染色用基体に付着された昇華性の染料を、設置部に設置された樹脂体に蒸着させることで、前記樹脂体を染色する染色装置であって、
染料を前記設置部に設置された前記樹脂体に蒸着させる際に、少なくとも前記設置部に設置される樹脂体の周囲を閉塞する閉塞室と、
前記閉塞室内の気圧を低下させる気圧低下手段と、
前記気圧低下手段によって前記閉塞室内の気圧が低下された場合において、前記閉塞室の内部の圧力状態を検出する圧力検出手段と、
前記圧力検出手段の検出結果が、異常であるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果に基づいて、染色装置の動作を次の動作へ切り換える制御手段と、
を備えることを特徴とする染色装置。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03279680A (ja) * | 1990-03-27 | 1991-12-10 | Nec Corp | 真空処理装置 |
JP2003022974A (ja) * | 2001-07-06 | 2003-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子デバイス製造装置におけるリークチェック方法 |
JP2007095728A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Seiko Epson Corp | デバイス製造装置及びリークチェック方法 |
JP2014159648A (ja) * | 2013-02-19 | 2014-09-04 | Nidek Co Ltd | 染色装置 |
-
2014
- 2014-09-30 JP JP2014199572A patent/JP2016069747A/ja active Pending
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