JP2016057223A - 誘電分光センサ、誘電分光センサを用いた測定システムおよび誘電分光センサを用いた測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】誘電分光センサ1は、誘電体基板110の第1の面110aに第1の金属配線101を備え、誘電体基板110の第2の面110bに第1の金属配線101に対して線対称となるように第2の金属配線102を備え、第1の面110aに測定試料100が配置される。
【選択図】図1
Description
図1(a)は、第1の実施の形態に係る誘電分光センサ1の上面図であり、図1(b)は、誘電分光センサ1の横断面図である。図2は、誘電分光センサ1を構成する単ユニットの斜視図である。誘電分光センサ1は、マイクロ波からミリ波以上の周波数帯、例えばTHz帯までの電磁波により、測定試料の濃度を測定するためのものである。
図8は、第2の実施の形態に係る誘電分光センサ1Aの横断面図である。
100…測定試料
100B…参照試料
101…第1の金属配線
102…第2の金属配線
110、120…誘電体基板
110a…第1の面
110b…第2の面
Claims (5)
- 誘電体基板の第1の面に第1の金属配線を備え、
前記誘電体基板の第2の面に前記第1の金属配線に対して線対称となるように第2の金属配線を備え、
前記第1の面に測定試料が配置される
ことを特徴とする誘電分光センサ。 - 前記第2の面に前記測定試料とは異なる参照試料が配置される
ことを特徴とする請求項1記載の誘電分光センサ。 - 請求項1または2記載の誘電分光センサと、
前記誘電分光センサに電磁波を入射する手段と、
前記誘電分光センサを反射または透過した電磁波を受信する手段と
を備えることを特徴とする誘電分光センサを用いた測定システム。 - 請求項1記載の誘電分光センサに電磁波が入射した場合、前記誘電分光センサを反射または透過した電磁波における2つの共振ピークの周波数差を前記測定試料の誘電率に応じた値として測定することを特徴とする誘電分光センサを用いた測定方法。
- 請求項2記載の誘電分光センサに電磁波が入射した場合、前記誘電分光センサを反射または透過した電磁波における2つの共振ピークの周波数差を前記測定試料の誘電率と前記参照試料の誘電率の差に応じた値として測定することを特徴とする誘電分光センサを用いた測定方法。
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