JP2016032216A - 撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】温度により増大する固定パターンノイズを少ない消費電力で効果的に低減させる。
【解決手段】光学系を介して入射した像光を撮像する撮像素子13と、撮像素子13から出力される信号に基づいて画像信号を生成する画像処理部20と、制御部18とを備える。制御部18は、撮像素子13の遮光された領域の画素値を判断し、判断した画素値が閾値以上である場合に、撮像素子13を冷却させる冷却ファン32などの冷却機構を作動させる指令を生成させて、冷却機構を作動させるようにした。
【選択図】図1
【解決手段】光学系を介して入射した像光を撮像する撮像素子13と、撮像素子13から出力される信号に基づいて画像信号を生成する画像処理部20と、制御部18とを備える。制御部18は、撮像素子13の遮光された領域の画素値を判断し、判断した画素値が閾値以上である場合に、撮像素子13を冷却させる冷却ファン32などの冷却機構を作動させる指令を生成させて、冷却機構を作動させるようにした。
【選択図】図1
Description
本発明は、動画像又は静止画像を撮像する、デジタルカメラなどと称される撮像装置に関する。
デジタルカメラなどの撮像装置は、撮像素子として、例えばCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサやCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサが使用される。これらのCCDイメージセンサやCMOSイメージセンサは、使用する環境が高温になるにつれて、固定パターンのノイズが発生し易くなるという問題がある。この固定パターンのノイズの発生は、温度上昇に伴い暗電流成分が増加するという、フォトダイオードの電気的な特性が影響している。
暗電流は、一般的に温度が8℃〜10℃上昇する毎に、2倍の量に増加すると言われており、上述したイメージセンサの固定パターンのノイズは、その影響によって現れるものである。
暗電流の影響を回避するための手法としては、ノイズのパターンを認識して減算し、画像処理的に目立たなくする手法と、撮像素子を低温に保つことで、暗電流の発生を抑える手法とがある。ここで、撮像素子を低温に保つための構成としては、冷却ファンなどの冷却機構を駆動し、常時、あるいは撮像素子が高温となった時のみ冷却することが従来から行われている。
暗電流の影響を回避するための手法としては、ノイズのパターンを認識して減算し、画像処理的に目立たなくする手法と、撮像素子を低温に保つことで、暗電流の発生を抑える手法とがある。ここで、撮像素子を低温に保つための構成としては、冷却ファンなどの冷却機構を駆動し、常時、あるいは撮像素子が高温となった時のみ冷却することが従来から行われている。
特許文献1には、冷却システムを用いて撮像時の撮像素子の温度を一定に保つことで、撮像素子の暗電流によるノイズ量を一定に保つ技術が開示されている。
ところで、冷却ファンなどの冷却機構を駆動するためには、当然ながらそれを駆動するための電力が必要となり、それだけ撮像装置の消費電力が増大してしまうという問題がある。
したがって、撮像装置が持つ冷却機構を常時駆動させて冷却を行うと、撮像装置を低温環境下で使用する場合には過剰な冷却となってしまい、不必要に電力を消費することになる。
したがって、撮像装置が持つ冷却機構を常時駆動させて冷却を行うと、撮像装置を低温環境下で使用する場合には過剰な冷却となってしまい、不必要に電力を消費することになる。
また、高温時のみ冷却機構を駆動する場合には、温度を検知する温度センサ等の部品が必要となり、撮像装置の製造コストが上昇するという問題がある。また、温度センサを設けた場合には、温度センサと撮像素子双方の電気的特性のばらつきにより、同じ温度で冷却機構を駆動する設定にしても、1台ごとの撮像装置で適切な冷却機構の駆動管理が難しいという問題がある。
すなわち、仮に、ある撮像装置では、温度センサが冷却機構を作動させる温度を検知しても、冷却機構を駆動しなくても良い状況(つまり実害がない程度のノイズしか発生していない状況)であると想定される場合がある。逆に、他の撮像装置では、温度センサが冷却機構の作動を開始させる温度で、既に許容できないノイズが発生している状況が想定されることもある。
したがって、温度センサを使って、少ない消費電力で撮像素子の暗電流によるノイズを適正に制御するのは非常に困難であるという問題があった。
すなわち、仮に、ある撮像装置では、温度センサが冷却機構を作動させる温度を検知しても、冷却機構を駆動しなくても良い状況(つまり実害がない程度のノイズしか発生していない状況)であると想定される場合がある。逆に、他の撮像装置では、温度センサが冷却機構の作動を開始させる温度で、既に許容できないノイズが発生している状況が想定されることもある。
したがって、温度センサを使って、少ない消費電力で撮像素子の暗電流によるノイズを適正に制御するのは非常に困難であるという問題があった。
本発明は、温度により増大する固定パターンノイズを少ない消費電力で効果的に低減させることができる撮像装置を提供することを目的とする。
本発明の撮像装置は、光学系を介して入射した像光を撮像する撮像素子と、撮像素子から出力される信号に基づいて画像信号を生成する画像処理部と、制御部とを備える。
制御部は、撮像素子の遮光された領域から出力される画素値を判断し、判断した画素値が閾値以上である場合に、撮像素子を冷却させる冷却機構を作動させる指令を生成して、冷却機構を作動させる。
制御部は、撮像素子の遮光された領域から出力される画素値を判断し、判断した画素値が閾値以上である場合に、撮像素子を冷却させる冷却機構を作動させる指令を生成して、冷却機構を作動させる。
本発明によると、ノイズの要因となる暗電流量の増加に応じて撮像素子を冷却することができるため、消費電力の増加を必要最低限に抑えつつ、ノイズ低減の効果を得ることができる。
以下、本発明の一実施の形態例(以下、「本例」と称する。)を、添付図面を参照して説明する。
[1.撮像装置の構成例]
図1は、本例の撮像装置10の構成例を示すブロック図である。
撮像装置10は、撮像光を取り込む光学系の部品として、レンズ11と光学フィルタ12とを備え、これらレンズ11と光学フィルタ12を介して撮像光を撮像素子13に入射させる。光学フィルタ12は、撮像光から不要な波長成分を除去する。撮像素子13は、CCDイメージセンサやCMOSイメージセンサなどで構成され、光を電荷に変換する処理を行う。また、撮像素子13は、入射する光を電荷に変換する画素が配置された領域として、有効画素領域と遮光領域を有している。なお、この有効画素領域と遮光領域の具体的な例については後述する。
[1.撮像装置の構成例]
図1は、本例の撮像装置10の構成例を示すブロック図である。
撮像装置10は、撮像光を取り込む光学系の部品として、レンズ11と光学フィルタ12とを備え、これらレンズ11と光学フィルタ12を介して撮像光を撮像素子13に入射させる。光学フィルタ12は、撮像光から不要な波長成分を除去する。撮像素子13は、CCDイメージセンサやCMOSイメージセンサなどで構成され、光を電荷に変換する処理を行う。また、撮像素子13は、入射する光を電荷に変換する画素が配置された領域として、有効画素領域と遮光領域を有している。なお、この有効画素領域と遮光領域の具体的な例については後述する。
撮像素子13が出力する撮像信号は、アナログフロントエンド回路(以下、「AFE回路」と称する。)14に供給される。AFE回路14では、供給された撮像信号が増幅された後、デジタル信号に変換する処理が行われる。AFE回路14が出力するデジタル撮像信号は、画像処理部20に供給される。画像処理部20は、例えばFPGA(Field-Programmable Gate Array)と称される集積回路で構成され、AFE回路14から供給されるデジタル撮像信号を受信するAFEインターフェース部21を備える。画像処理部20では、AFEインターフェース部21で受信したデジタル撮像信号から、規定のフォーマットの画像信号が作成される。そして、画像処理部20で作成された画像信号が、撮像装置10の画像信号出力端子(不図示)から出力される。
画像処理部20で画像信号を作成する際には、例えば撮像素子13の遮光領域の画素の信号レベルを検出して、検出した遮光領域の信号レベルを画像信号の黒レベルに設定する処理が行われる。なお、図1では、画像処理部20が画像信号を生成する処理は周知の構成であり、ここでは説明を省略する。
また、画像処理部20は、遮光領域検波部22を備える。遮光領域検波部22では、撮像素子13の遮光領域内の特定の検出範囲(例えば図2に示す検出範囲13c)内の各画素の画素値が検波され、その検波された画素値の平均値が算出される。そして、画像処理部20には、メモリインターフェース部23を介してRAM15が接続され、このRAM15に遮光領域の画素値の平均値が記憶される。RAM15は、例えばDDR(Double-Data-Rate)型のメモリで構成され、RAM15に記憶される遮光領域の画素値の平均値は、撮像素子13から1フレームの撮像信号が供給されるごとに更新される。
RAM15に記憶された遮光領域の画素値の平均値は、制御インターフェース部24を介して制御部18に供給される。制御部18は、RAM15から読み出した遮光領域の画素値の平均値と、メモリ19に予め記憶されている閾値とを比較し、その比較結果に基づいて、撮像装置10の冷却機構の作動状態を制御する。
図1の例では、撮像装置10は、冷却機構として冷却ファン32を備える。冷却ファン32は、撮像装置10の筐体内に外気を導入することで、撮像素子13を含む撮像装置10内の各部材を冷却する。この冷却ファン23は、モータドライバ31から供給される電源により作動される。制御部18は、冷却ファン32の作動開始及び作動停止を制御する指令をモータドライバ31に供給する。
なお、メモリ19には、制御部18が実行する演算プログラムや初期設定値も記憶されている。そして、制御部18は、メモリ19に記憶された演算プログラムを読み出して、撮像装置10内の各部の動作を制御する。
なお、メモリ19には、制御部18が実行する演算プログラムや初期設定値も記憶されている。そして、制御部18は、メモリ19に記憶された演算プログラムを読み出して、撮像装置10内の各部の動作を制御する。
また、撮像装置10は、操作キー等が配置された操作部33を備える。そして、操作部33内の操作キー等の操作により生成される操作指令が、制御部18に供給される。
さらに、撮像装置10は、表示部17を備える。この表示部17には、制御部18や画像処理部20から表示インターフェース部16を介して表示データが供給される。そして、表示部17は、この供給された表示データに基づいて各種画面を表示する。例えば、表示部17は、撮像装置10の動作モードや各種設定値を表示する。後述する冷却ファン32を作動させる閾値を設定するモードであるときには、表示部17は、その設定用の画面を表示する。
なお、表示部17は、撮像中の画像を表示するモニタと兼用してもよい。
さらに、撮像装置10は、表示部17を備える。この表示部17には、制御部18や画像処理部20から表示インターフェース部16を介して表示データが供給される。そして、表示部17は、この供給された表示データに基づいて各種画面を表示する。例えば、表示部17は、撮像装置10の動作モードや各種設定値を表示する。後述する冷却ファン32を作動させる閾値を設定するモードであるときには、表示部17は、その設定用の画面を表示する。
なお、表示部17は、撮像中の画像を表示するモニタと兼用してもよい。
[2.撮像素子の各領域の例]
図2は、撮像装置10が備える撮像素子13の画素が配置された領域の構成例を示す図である。
撮像素子13は、光を電荷に変換する画素が縦横にマトリクス状に配置された撮像面を備え、その撮像面の周辺部を除く大部分の箇所が、有効画素領域13aとなっている。画像処理部20で生成される画像信号は、この有効画素領域13a内の画素が変換された電荷から得られる。
有効画素領域13aの周辺には、遮光領域13bが形成されている。この遮光領域13bは、オプティカルブラック領域或いはOB領域とも称され、領域内の画素に光が入射しないように遮光部材が配置されている。そして、画像処理部20で画像信号を生成する際には、この遮光領域13bの画素値を、画像の基準となるレベルである黒レベルにする処理が行われる。
図2は、撮像装置10が備える撮像素子13の画素が配置された領域の構成例を示す図である。
撮像素子13は、光を電荷に変換する画素が縦横にマトリクス状に配置された撮像面を備え、その撮像面の周辺部を除く大部分の箇所が、有効画素領域13aとなっている。画像処理部20で生成される画像信号は、この有効画素領域13a内の画素が変換された電荷から得られる。
有効画素領域13aの周辺には、遮光領域13bが形成されている。この遮光領域13bは、オプティカルブラック領域或いはOB領域とも称され、領域内の画素に光が入射しないように遮光部材が配置されている。そして、画像処理部20で画像信号を生成する際には、この遮光領域13bの画素値を、画像の基準となるレベルである黒レベルにする処理が行われる。
また、画像処理部20の遮光領域検波部22では、撮像素子13の遮光領域13b内の特定の検出範囲13c内の各画素値が検波され、その検波された画素値の平均値が算出される。
[3.冷却機構の制御例]
図3は、制御部18が行う冷却機構の制御処理の例を示すフローチャートである。
まず、撮影を開始すると、画像処理部20内の遮光領域検波部22が、遮光領域13bの検出範囲13cの画素値をリアルタイムで検波する(ステップS11)。そして、検波された画素値の平均値がRAM15に記憶される(ステップS12)。次に、制御部18は、RAM15に記憶された遮光領域13bの画素値の平均と、メモリ19に予め記憶されている閾値とを読み出し、それぞれの値を比較する(ステップS13)。
図3は、制御部18が行う冷却機構の制御処理の例を示すフローチャートである。
まず、撮影を開始すると、画像処理部20内の遮光領域検波部22が、遮光領域13bの検出範囲13cの画素値をリアルタイムで検波する(ステップS11)。そして、検波された画素値の平均値がRAM15に記憶される(ステップS12)。次に、制御部18は、RAM15に記憶された遮光領域13bの画素値の平均と、メモリ19に予め記憶されている閾値とを読み出し、それぞれの値を比較する(ステップS13)。
ここで、制御部18は、画素値の平均値とメモリ19に記憶された閾値とを比較して、画素値の平均値が上記閾値以上であるか否かを判断する(ステップS14)。
ステップS14で、画素値の平均値が上記閾値以上であると判断された場合には、制御部18は、モータドライバ31に冷却ファン32を駆動させる指令を送り(ステップS15)、冷却ファン32を回転させる(ステップS16)。
ステップS14で、画素値の平均値が上記閾値以上であると判断された場合には、制御部18は、モータドライバ31に冷却ファン32を駆動させる指令を送り(ステップS15)、冷却ファン32を回転させる(ステップS16)。
また、ステップS14で画素値の平均値が上記閾値未満であると判断された場合には、制御部18は、モータドライバ31に冷却ファン32を停止させる指令を送り(ステップS17)、冷却ファン32を停止させる(ステップS18)。
そして、ステップS16での冷却ファン32の回転又はステップS18での冷却ファン32の停止が行われた後は、ステップS11の処理に戻り、撮像装置10での撮影が続く限り、ステップS11〜ステップS18の処理が繰り返される。
なお、冷却ファン32が作動開始した後には、上述の制御以外に少なくとも一定時間作動するように制御部18が制御するようにもよい。
なお、冷却ファン32が作動開始した後には、上述の制御以外に少なくとも一定時間作動するように制御部18が制御するようにもよい。
図4は、遮光領域13bの画素値の検波値の平均値と温度との関係の例を示す図である。
図4に示す特性xは、温度に対する画素値の変化特性であり、図4から温度が上昇することで、徐々にノイズ量が増加して画素値が高くなることが分かる。
図4に示す特性xは、温度に対する画素値の変化特性であり、図4から温度が上昇することで、徐々にノイズ量が増加して画素値が高くなることが分かる。
ここで、図4に示すように閾値TH1を設定した場合には、温度t1以上のとき、特性xが閾値TH1以上となり、冷却ファン32が回転して冷却を行うようになる。また、閾値TH1をTH2に変更したときには、冷却ファン32が回転を開始する温度が、t2に変更される。このように閾値を変更することで、冷却ファン32が回転を開始する画素値が変化する。なお、上述したように、閾値を変更する例はあくまでも一例であり、例えば閾値TH1で固定してもよい。
遮光領域13bの画素値の平均が閾値TH1又はTH2を越えて、冷却ファン32が作動することで、撮像装置10内の撮像素子13は冷却されて温度が低下し、温度の低下に比例して暗電流が減少する。このため、暗電流に起因して発生するノイズも低下する。
次に、撮像素子13の遮光領域13bの画素値を検波することで、暗電流に起因したノイズ量を検出できる点について説明する。
撮像素子13の遮光領域13bは、光の当たらない領域であるため、本来、検波値は黒レベルと同等である。ところで、暗電流は光の当たらない状態で発生するフォトダイオードの漏れ電流であるため、暗電流の増加に伴い、遮光領域13bの画素値は、本来の黒レベルよりも高い輝度レベルを示すようになる。したがって、画像処理部20の遮光領域検波部22が遮光領域13bの画素値を検波することで、撮像素子13が出力する撮像信号に含まれる温度に依存したノイズを良好に検出できるようになる。
次に、撮像素子13の遮光領域13bの画素値を検波することで、暗電流に起因したノイズ量を検出できる点について説明する。
撮像素子13の遮光領域13bは、光の当たらない領域であるため、本来、検波値は黒レベルと同等である。ところで、暗電流は光の当たらない状態で発生するフォトダイオードの漏れ電流であるため、暗電流の増加に伴い、遮光領域13bの画素値は、本来の黒レベルよりも高い輝度レベルを示すようになる。したがって、画像処理部20の遮光領域検波部22が遮光領域13bの画素値を検波することで、撮像素子13が出力する撮像信号に含まれる温度に依存したノイズを良好に検出できるようになる。
したがって、本例の撮像装置10によると、撮像素子13が出力する信号の画素値を使用して、暗電流に比例したノイズ量を正確に検出することができ、冷却機構の作動状態の制御を適正に制御できるようになる。また、温度センサなどの別の検出部材が必要なく、簡単な構成で実現できるようになる。
上述した閾値TH1を設定するに際しては、例えば、撮像装置10の設計時に、温度槽などを使用して、撮像素子を常温から高温に推移させる。そして、その温度推移時に、撮像装置10が出力する画像信号による画面中に、設計的に許容できるぎりぎりのノイズが現れたときの、遮光領域検波部22の検波値(の平均値)を、閾値の初期値としてメモリ19に格納する。そして、閾値を変更する操作がない限りは、制御部18は、その初期値を閾値として使用し、以降の判断処理を行う。
なお、初期値は、撮像装置10を使用する際に常時閾値として使用してもよいが、作業者の操作で変更できるようにしてもよい。例えば、図4に示す閾値TH1を、小さな値の閾値TH2に変更することで、ノイズの発生がより少ない状態で使用できるようになる。一方、逆に閾値を大きな値に変更することによりノイズが多い状況での使用が許容される。この場合、冷却ファン32の作動する期間を少なくすることができる。
ところで、図4に示した閾値TH1及びTH2に対応した温度t1,t2の値は、個々の撮像素子13の特性のばらつきにより変動する。ここで本例の撮像装置10の場合には、温度の値を温度センサで測定するのではなく、遮光領域の画素値からノイズ量を直接検知するものであるため、撮像素子13の特性に個体差があったとしても、ノイズの発生を適正に抑制することが可能である。
[4.閾値の設定画面の例]
次に、メモリ19に記憶される閾値が変更される場合の例について説明する。上述したように、撮像装置10は、メモリ19に記憶される閾値を変更できるように構成してもよい。このように閾値を変更する場合の設定画面の例について説明する。
図5は、メモリ19に記憶される冷却ファン作動用の閾値の設定画面100の例を示す。この設定画面100は、例えば作業者による操作部33の操作で、閾値を変更するモードとしたときに表示部17に表示される。
次に、メモリ19に記憶される閾値が変更される場合の例について説明する。上述したように、撮像装置10は、メモリ19に記憶される閾値を変更できるように構成してもよい。このように閾値を変更する場合の設定画面の例について説明する。
図5は、メモリ19に記憶される冷却ファン作動用の閾値の設定画面100の例を示す。この設定画面100は、例えば作業者による操作部33の操作で、閾値を変更するモードとしたときに表示部17に表示される。
図5Aは、設定画面100で閾値を変更する場合の表示例である。
図5Aに示すように、設定画面100には、ファン制御閾値表示100aと、検波値表示100bと、決定ボタン100cとが表示される。ファン制御閾値表示100aは、現在設定中の閾値の値を示す。このファン制御閾値表示100aで示される値(閾値)は、操作部33の操作により変更することができる。ファン制御閾値表示100aの箇所に表示される表示値を変更したときには、作業者が操作部33で、「OK」と表示された決定ボタン100cの表示箇所をクリックする操作を行うことで、その変更した表示値が、新たなファン制御用の閾値に更新される。
図5Aに示すように、設定画面100には、ファン制御閾値表示100aと、検波値表示100bと、決定ボタン100cとが表示される。ファン制御閾値表示100aは、現在設定中の閾値の値を示す。このファン制御閾値表示100aで示される値(閾値)は、操作部33の操作により変更することができる。ファン制御閾値表示100aの箇所に表示される表示値を変更したときには、作業者が操作部33で、「OK」と表示された決定ボタン100cの表示箇所をクリックする操作を行うことで、その変更した表示値が、新たなファン制御用の閾値に更新される。
また、設定画面100には、現在の検波値100bが表示される。この現在の検波値100bの表示箇所には、現在の遮光領域検波部22での検波値が表示される。したがって、閾値を変更する操作を行う作業者は、撮像装置10で撮像された画像を確認しながら、閾値の変更作業を行うことができる。そして、その確認中の画像のノイズの発生状況を確認した上で、閾値を適正に調整することができる。すなわち、閾値を変更する操作を行う作業者は、検波値表示100bの値から、閾値を調整する上で比較対象となる数値が分かるようになり、閾値の変更を良好に行うことができるようになる。
図5Bは、設定画面100を使用して、閾値を無限大(∞)に調整して、冷却ファン32を常時作動させないように設定する場合の例である。
すなわち、図5Bの例では、ファン制御閾値表示100aが行う閾値の数値として、無限大(∞)に設定した状態を示す。操作部33による決定ボタン100cの操作で、この無限大の設定を確定させることで、メモリ19に記憶される閾値が無限大に設定される。
すなわち、図5Bの例では、ファン制御閾値表示100aが行う閾値の数値として、無限大(∞)に設定した状態を示す。操作部33による決定ボタン100cの操作で、この無限大の設定を確定させることで、メモリ19に記憶される閾値が無限大に設定される。
メモリ19に記憶される閾値が無限大に設定されると、制御部18では、遮光領域検波部22で検波された値が、閾値未満であると常に判断され、冷却ファン32は作動しなくなる。
したがって、設定値の設定画面100を使用して、冷却ファン32を常時作動させない設定とすることができるようになる。
なお、図5Bの設定画面100とは逆に、閾値を0に設定することで、冷却ファン32が常時作動するようにしてもよい。
したがって、設定値の設定画面100を使用して、冷却ファン32を常時作動させない設定とすることができるようになる。
なお、図5Bの設定画面100とは逆に、閾値を0に設定することで、冷却ファン32が常時作動するようにしてもよい。
[5.撮像装置の構成の変形例]
図1に示す構成の撮像装置10では、表示部17や操作部33が一体に配置される例とした。これに対して、これらの構成要素が、撮像装置本体とは別に配置される構成としてもよい。
図6は、撮像装置10′を監視装置40と接続して、監視装置40側に表示系や操作系を設ける場合の構成例を示す。図6に示す撮像装置10′において、図1に示す撮像装置10と同一の箇所には同一の符号を付す。
図1に示す構成の撮像装置10では、表示部17や操作部33が一体に配置される例とした。これに対して、これらの構成要素が、撮像装置本体とは別に配置される構成としてもよい。
図6は、撮像装置10′を監視装置40と接続して、監視装置40側に表示系や操作系を設ける場合の構成例を示す。図6に示す撮像装置10′において、図1に示す撮像装置10と同一の箇所には同一の符号を付す。
図6に示す撮像装置10′は、表示インターフェース部16に得られる表示データが、監視装置40の表示系41に伝送される。表示系41では、受信した表示データによる画面が表示される。この表示インターフェース部16から監視装置40の表示系41に伝送される表示データには、図5に示す設定画面100を表示させる表示データの他に、撮像装置10′で撮像して得た画像の表示データも含まれ、表示系41で撮像した画像が表示される。
また、撮像装置10′の制御部18には、制御インターフェース部34が接続してあり、監視装置40の操作系42から、制御インターフェース部34を介して制御部18に各種操作指令を送ることができる。
また、撮像装置10′の制御部18には、制御インターフェース部34が接続してあり、監視装置40の操作系42から、制御インターフェース部34を介して制御部18に各種操作指令を送ることができる。
このような構成とすることで、撮像装置10′は、外部の機器である監視装置40の操作系42による操作で、閾値などの設定を変更することができ、図1に示す撮像装置10と同様に、メモリ19に記憶される冷却ファン作動用の閾値を変更することができる。
[6.その他の変形例]
なお、上述した実施の形態例では、撮像装置10が冷却ファン32を備える例を説明した。これに対して、冷却ファン以外の冷却機構を備えた撮像装置において、その冷却機構の動作を制御部18が同様に制御してもよい。例えば、撮像装置が備える冷却機構として、撮像素子を冷却するペルチェ素子を使用し、そのペルチェ素子の駆動開始及び停止を、遮光領域の検波値に基づいて制御部18が制御するようにしてもよい。
なお、上述した実施の形態例では、撮像装置10が冷却ファン32を備える例を説明した。これに対して、冷却ファン以外の冷却機構を備えた撮像装置において、その冷却機構の動作を制御部18が同様に制御してもよい。例えば、撮像装置が備える冷却機構として、撮像素子を冷却するペルチェ素子を使用し、そのペルチェ素子の駆動開始及び停止を、遮光領域の検波値に基づいて制御部18が制御するようにしてもよい。
また、上述した実施の形態例では、撮像装置10が冷却ファン32を内蔵するようにした。これに対して、撮像装置10を収納するケースなどの、撮像装置10の外部に冷却ファンなどの冷却機構を配置して、その外部の冷却機構に、制御部18が動作開始及び動作停止の指示を行うようにしてもよい。
また、制御部18が閾値と比較する遮光領域の検波値として、特定範囲の画素値の平均値としたが、特定範囲内の画素値の最大値などのその他の値を、閾値と比較するようにしてもよい。
また、上述した実施の形態例では、撮像装置10が備える撮像素子13の遮光領域13bの画素値を検波して、ノイズ量を判断するようにした。これに対して、例えば撮像装置10がシャッタなどの蓋機構を有する撮像装置に適用してもよい。このような撮像装置の場合には、蓋機構を閉じて遮光した状態の有効画素領域の画素値を検波して、ノイズ量を判断することができる。蓋機構を閉じて画素値を検波する処理を、例えば一定期間ごとに間欠的に行うようにしてもよい。なお、このように蓋機構で撮像素子13を遮光して画素値を検波する際には、撮像動作を一時的に中断する必要があるため、撮像動作を一時的に止めることが可能な用途の撮像装置に適用可能である。
10,10′…撮像装置、11…レンズ、12…光学フィルタ、13…撮像素子、13a…有効画素領域、13b…遮光領域、13c…検出を行う特定範囲、14…アナログフロントエンド回路(AFE回路)、15…RAM、16…表示インターフェース部、17…表示部、18…制御部、19…メモリ、20…画像処理部、21…AFEインターフェース部、22…遮光領域検波部、23…メモリインターフェース部、24…制御インターフェース部、31…モータドライバ31…冷却ファン32…操作部、34…制御インターフェース部、40…監視装置、41…表示系、42…制御系、100…設定画面、100a…ファン制御閾値表示、100b…検波値表示、100c…決定ボタン
Claims (6)
- 光学系を介して入射した像光を撮像する撮像素子と、
前記撮像素子から出力される信号に基づいて、画像信号を生成する画像処理部と、
前記撮像素子の遮光された領域から出力される画素値を判断し、判断した画素値が閾値以上である場合に、前記撮像素子を冷却させる冷却機構を作動させる指令を生成させて、前記冷却機構を作動させるようにした制御部と、を備えた
撮像装置。 - 前記撮像素子の遮光された領域は、前記撮像素子の有効画素領域の周辺に設けられた遮光領域である
請求項1に記載の撮像装置。 - 前記制御部は、撮像装置内の操作部又は外部の操作部からの指示で、前記閾値を任意に変更できるようにした
請求項1に記載の撮像装置。 - 前記閾値の変更で、前記冷却機構を常時作動させない状態を設定できるようにした
請求項3に記載の撮像装置。 - 前記制御部は、前記閾値を変更するモードのとき、撮像装置内の表示部又は外部の表示部に、前記画像処理部が検出した現在の画素値と、設定中の閾値とを表示させるようにした
請求項4に記載の撮像装置。 - 前記冷却機構として、前記撮像素子が配置された筐体内を冷却する冷却用ファンを備え、
前記制御部は、前記冷却用ファンを作動させる
請求項1〜5のいずれか1項に記載の撮像装置。
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