JP2016026006A - 放射線撮像装置、放射線撮像方法、記録媒体及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】放射線撮像装置は、撮像手段で撮像した被写体像の縮小画像を、前記被写体像の画像の前に送信する送信手段と、前記縮小画像を表示した後に前記被写体像の画像を表示手段に表示する表示制御手段とを含む。
【選択図】図1
Description
F系)と呼ばれる撮影装置が使用されてきた。また蛍光体とイメージ・インテンシファイ
ア(I.I.)を組み合わせて放射線画像の増倍を行い、この増倍された画像を光学系を介して撮像管で撮影する、I.I.−TV撮影装置も使用されてきた。前者は一般撮影と呼ばれる静止画撮影に、また後者は透視撮影やアンギオ撮影と呼ばれる動画撮影に主に使用されてきた。
75aを選択すると、この信号線75aに転送されている電子が増幅されて読み取られ、A/D77でデジタル信号に変換される。続いて読み取りIC76は75b及び75cを順次選択し、それぞれの信号線に転送されている電子が順次読み取られる。この動作によって図6においてゲート線74aに接続された横一列分の3画素の信号電子が読み取られ、デジタル信号に変換される。次にゲート線74b及び74cが順次選択され、同様にゲート線74b及び74cに接続された横一列分のそれぞれ3画素の信号電子が順次読み取られ、デジタル信号に変換される。
再結合して消滅する。十分に長い時間この状態が続けばi層84内のホールはi層84から掃き出される。
ドープ層83が注入阻止層として働くためi層84に導かれることはない。この状態でi層84に光が入射すると、光は吸収され電子・ホール対が発生する。この電子は電界によりD電極に導かれ、ホールはi層84内を移動しi層84と絶縁層85との界面に達する。
れ次の光電変換モードでは再び光に比例した電流が流れる。
めればよい。また、更にリフレッシュモードにおいてi層84への電子の注入は必要条件ではなく、D電極のG電極に対する電位は負に限定されるものでもない。ホールが多数i層84に留まっている場合には例えD電極のG電極に対する電位が正であってもi層84内の電界はホールをD電極に導く方向に加わるからである。n+ドープ層83の注入阻止
層の特性も同様に電子をi層84に注入できることが必要条件ではない。
N次)暗電流補正画像に対し感度補正を施した画像を(N次)補正画像、(N次)補正画像に
対して画像診断に適した階調処理等の画像処理を施した画像を(N次)診断画像と呼ぶことがある。
定される暗電流画像をD1(x,y)とすると、暗電流補正後の1次暗電流補正画像C1X
(x,y)は次式で表される。ただしx,yは2次元配列した画素のアドレスである。また前記ランダム成分をR(x,y)、定常的なオフセット成分をF(x,y)としている。
y)とすると、感度補正後の補正画像C1(x,y)は次式で表される。
(x,y)は異なるため、ランダム成分R(x,y)は(3)式に示すオフセット補正では除去不可能である。この結果、暗電流補正と感度補正の両者を施した画像であっても、センサ由来の有限のランダムノイズが画像に残存することになる。このランダムノイズはランダム成分R(x,y)が放射線画像X(x,y)に比べて十分に小さければ問題はないが、低線量撮影のように信号である放射線画像X(x,y)が小さくなる撮影では信号雑音比の低下による画質の劣化を指摘される可能性がある。
含まれるランダム成分R(x,y)は1/2になり、良好な暗電流補正を施すことが可能になる。1次暗電流補正画像と4次暗電流補正画像のそれぞれに残存するランダム成分R(x,y)の標準偏差の比を(8)式に示す。ただし放射線画像そのものに重畳するランダム成分
と4回平均暗電流画像のランダム成分の両者を考慮している。
信号である。またRはリフレッシュ、Xは放射線撮影、Dは暗電流撮影、Te1及びTe2は蓄積時間、Tiは読取サイクル1回の所要時間である。
い、センサに蓄積されたホールを掃き出す。そして初期化駆動における読取サイクルの4回目が終了すると放射線曝射許可信号32がオンになり、センサは読取サイクルを停止し放射線曝射33がオンになり、センサは放射線による信号を蓄積する。放射線曝射33がオフになるとセンサは蓄積を直ちに終了し、放射線画像を読み取る(X)。このときのセンサの蓄積時間はTe1である。センサは直ちにリフレッシュ動作を行い、引き続いて読取サイクルを繰り返し、4回目の読取サイクルが終了すると、蓄積時間Te1で暗電流撮影(D)
を行う。
射線曝射33がオンになり、センサは放射線による信号を蓄積する。所定時間Te2が経過するとセンサは蓄積を終了し、放射線画像を読み取る(X)。センサは直ちにリフレッシュ動作を行い、引き続いて読取サイクルを繰り返し、4回目の読取サイクルが終了すると、蓄積時間Te2で暗電流撮影(D)を行う。蓄積時間Te2は長時間撮影にも対応できるように、1秒〜2秒の時間が設定される。この駆動方法については、非特許文献2に説明されている。
.2秒、蓄積時間Te2を2秒、暗電流撮影を4回行う例について考える。この場合、放射線曝射終了から4回目の暗電流撮影が終了しモニタに画像を映すまでに必要な時間Tdisplayは、画像転送時間及び画像処理時間の合計Tprocessを0.5秒として次式で表される。
x,y)は増加させるだけであり、平均化によるランダム成分R(x,y)の低減効果は期
待できない。その理由は以下のように説明される。
ーザのワークフローを改善すると共に、再撮影に要する待ち時間を大幅に短縮することができる放射線撮像装置及び方法を提供することを目的とする。
るため、ユーザの誤操作が防止される。
本発明の第1の実施形態を図1及び図2を用いて説明する。図1は第1の実施形態の放射線撮影方法を説明するフローチャート、図2は本発明の放射線撮像装置を示す模式図である。
回目の暗電流画像を読み取るステップ、7は第2回目の暗電流撮影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、8は第2回目の暗電流画像を読み取るステップ、9は第3回目の暗電流画像撮影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、10は第3回目の暗電流画像を読み取るステップ、11は第4回目の暗電流画像撮影に備えて放射線検出器を初期化するステップ、12は第4回目の暗電流画像を読み取るステップ、13は第1回目の暗電流画像を用いて暗電流補正した画像を表示するステップ、14は第1回目から第4回目ま
での暗電流画像を平均するステップ、15は第1回目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を保存するステップである。
が30msecであれば、Tdisplayは3秒程度も可能である。
本発明の第2の実施形態を図2及び図3を用いて説明する。図3は第2の実施形態の放射線撮影方法を説明するフローチャートである。図3において、図1と共通のステップは図1と共通の符号を用いる。
流画像を用いて暗電流補正した画像を表示するステップ、14は第1回目から第4回目ま
での暗電流画像を平均するステップ、15は第1回目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を保存するステップである。16は第1回目から第4回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を表示するステップ、51は画像更新方法を選択するステップ、52は放射線検出器43の動作状況を確認するステップ、53は画像処理状況を確認するステップである。
放射線を曝射することがなくなるため、放射線撮影システム40は安全に暗電流撮影を実行することができる。また患者に対して誤って無効な放射線被曝を与えることもない。なお複数枚の暗電流画像撮影中に放射線曝射を禁止することに関しては、暗電流撮影が放射線曝射前でも放射線曝射後であっても有効な方法である。
本発明の第3の実施形態を図2及び図4を用いて説明する。図4は第3の実施形態の放射線撮影方法を説明するフローチャートである。図4において、図1と共通のステップは図1と共通の符号を用いる。
回目から第四回目までの暗電流画像の平均を用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を表示するステップ、17は第1回目の暗電流画像と第2回目の暗電流画像の平均値を計算するステップ、18は第1回目の暗電流画像と第2回目の暗電流画像の平均値を用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を表示するステップ、19は第1回目から第3回目までの暗電流画像の平均値を計算するステップ、20は第1回目から第3回目の暗電流画像の平均値を用いて放射線画像の暗電流補正を行った画像を表示するステップである。
示する(ステップ18)。さらに放射線検出器43はステップ9に示される初期化駆動とステップ10に示される第3回目の暗電流撮影ステップを実行する。そして第1回目から第3回目の暗電流画像の平均計算を行い(ステップ19)、且つ放射線画像との減算処理、感度補正及び診断用画像処理を行い、得られた3次診断画像を表示装置48に表示する(ス
テップ20)。さらに放射線検出器43はステップ11に示される初期化駆動とステップ
12に示される第4回目の暗電流撮影ステップを実施する。そして第1回目から第4回目の暗電流画像の平均計算を行い(ステップ14)、且つ放射線画像との減算処理及び感度補正を施す。4回分の暗電流画像で補正された4次補正画像は、保存装置49に保存される(ステップ15)。さらに画像処理装置47は4次補正画像に対してトリミング処理、階調処理、鮮鋭化処理等を行い、4次診断画像を作成する。そして4次診断画像は表示装置48によって最終画像として表示される(ステップ16)。
実現される場合も、かかるプログラムは本発明の実施形態に含まれる。
41 放射線発生装置
42 患者
43 放射線検出器
44 コントロールPC
45 バスライン
46 キャプチャボード
47 画像処理装置
48 表示装置
49 保存装置
71 光電変換部
72 薄膜トランジスタ(TFT)
73 バイアス線
74 ゲート線
75 信号線
76 読み取りIC
77 アナログ-デジタル変換器(A/D)
78 ゲート駆動装置
82 上部電極(D電極)
83 n+ドープ層
84 a−Si真性半導体i層
85 絶縁層
86 下部電極(G電極)
Claims (12)
- 撮像手段で撮像した被写体像の縮小画像を、前記被写体像の画像の前に送信する送信手段と、
前記縮小画像を表示した後に前記被写体像の画像を表示手段に表示する表示制御手段と
を含むことを特徴とする放射線撮像装置。 - 被写体像を放射線で撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で前記被写体像の画像データを撮像した後に得られる第2の補正データを取得する途中段階の第1の補正データでの第1の補正処理と、前記第2の補正データでの第2の補正処理を前記被写体像の画像データに施す補正手段と、
前記第1の補正処理に基づく画像を表示した後に前記第2の補正処理に基づく画像を表示する表示手段と
を含むことを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記第1及び第2の補正データは、前記撮像手段の所定の特性であることを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置。
- 前記所定の特性は暗電流特性であることを特徴とする請求項3に記載の放射線撮像装置。
- 前記第1の補正データは、暗電流特性の取得回数が0回であることを特徴とする請求項4に記載の放射線撮像装置。
- 前記第2の補正データは、前記第1の補正データよりも回数の多い測定に基づいて得られるものであることを特徴とする請求項5に記載の放射線撮像装置。
- 撮像手段で被写体像の画像データを撮像した後に得られた第1の補正データに基づいた第1の補正処理と、前記第1の補正処理に用いられる前記第1の補正データの取得回数より多くの回数で取得された第2の補正データに基づいた第2の補正処理とを前記被写体像の画像データに施す補正手段と、
前記第1の補正処理に基づく画像を表示した後に前記第2の補正処理に基づく画像を表示手段に表示する表示制御手段と
を含むことを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記第1の補正処理は、前記被写体像の画像データの縮小画像に対して施されることを特徴とする請求項2〜7のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 撮像手段により被写体像を放射線で撮像するステップと、
前記撮像手段で前記被写体像の画像データを撮像した後に得られる第2の補正データを取得する途中段階の第1の補正データでの第1の補正処理と、前記第1の補正データに基づいて構成される前記第2の補正データでの第2の補正処理とを前記被写体像の画像データに施すステップと、
前記第1の補正処理に基づく画像を表示した後に前記第2の補正処理に基づく画像を表示手段に表示するステップと
を含むことを特徴とする放射線撮像方法。 - 撮像手段により被写体像を放射線で撮像するステップと、
前記撮像手段で前記被写体像の画像データを撮像した後に得られた第1の補正データに基づいた第1の補正処理と、前記第1の補正処理に用いられる前記第1の補正データの取得回数より多くの回数で撮像した後に取得された第2の補正データに基づいた第2の補正処理とを前記被写体像の画像データに施すステップと、
前記第1の補正処理に基づく画像を表示した後に前記第2の補正処理に基づく画像を表示手段に表示するステップと
を含むことを特徴とする放射線撮像方法。 - 請求項9又は10に記載の放射線撮像方法の前記各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 請求項9又は10に記載の放射線撮像方法の前記各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。
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