JP2016008951A - 光源検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】本願が開示する技術は、一つの側面として、光源に対する検査用光ファイバの位置ずれを抑制することを目的とする。【解決手段】光源検査方法は、光源３２を有する電子機器３０を搬送する搬送用パレット１４の第１面ファスナ２０に、第２面ファスナ５０を介して検査用光ファイバ４６を取り付ける。そして、検査用光ファイバ４６を通して光源３２の光をカメラ５６へ送る。【選択図】図４

Description

本願が開示する技術は、光源検査方法に関する。

光源から光ファイバに入射する光の光量を検査する検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１０−２４３７２９号公報 特開昭６３−１１０６７９号公報 特開平９−１４５９６２号公報 特開２０１３−２１４４１０号公報

ところで、検査対象物を搬送しながら当該検査対象物に実装されたＬＥＤランプ等の光源を点灯検査する場合、光を検出する光検出部に検査用光ファイバを介して光源の光を送ることが考えられる。

しかしながら、検査対象物の搬送時に検査用光ファイバが振動すると、光源に対して検査用光ファイバが位置ずれし、光源の光を十分に光検出部へ送ることができない可能性がある。

本願が開示する技術は、一つの側面として、光源に対する検査用光ファイバの位置ずれを抑制することを目的とする。

本願が開示する技術では、光源検査方法は、光源を有する検査対象物を搬送する搬送用パレットの第１面ファスナに、第２面ファスナを介して検査用光ファイバを取り付け、検査用光ファイバを通して光源の光を光検出部へ送る、ことを含む。

本願が開示する技術によれば、一つの側面として、光源に対する検査用光ファイバの位置ずれを抑制することができる。

図１は、第１実施形態に係る光源検査装置を示す平面図である。 図２は、図１に示される光源検査治具を示す縦断面図である。 図３は、図２に示される光源検査治具を中心軸の軸方向から見た断面図である。 図４は、図１に示される光源検査治具を示す平面図である。 図５は、搬送用パレットに対する光源検査治具の取付過程を示す図２に対応する縦断面図である。 図６は、第２実施形態に係る光源検査治具を示す斜視図である。 図７Ａは、図６に示される光源検査治具を示す縦断面図である。 図７Ｂは、図７Ａに示される光源検査治具を中心軸の軸方向から見た断面図である。 図８Ａは、図６に示される光源検査治具を示す縦断面図である。 図８Ｂは、図８Ａに示される光源検査治具を中心軸の軸方向から見た断面図である。 図９Ａは、図６に示される光源検査治具を示す縦断面図である。 図９Ｂは、図９Ａに示される光源検査治具を中心軸の軸方向から見た断面図である。 図１０は、図６に示される光源検査治具を中心軸の軸方向から見た断面図である。

先ず、第１実施形態について説明する。

図１に示されるように、本実施形態に係る光源検査装置１０は、コンベア１２と、複数の搬送用パレット１４と、光源検査治具４０と、スキャナ５４と、カメラ５６とを備える。

コンベア１２は、例えば、ベルトコンベアとされ、検査対象物の一例としての電子機器３０を長手方向（矢印Ｘ方向）に搬送する。このコンベア１２には、電子機器３０を搬送する複数の搬送用パレット１４が設けられる。

複数の搬送用パレット１４は、コンベア１２の長手方向に間隔を空けて配列される。各搬送用パレット１４は、薄型の箱状に形成される。この搬送用パレット１４の側面には、識別コード１６が設けられる。識別コード１６は、例えば、１次元バーコードまたは２次元バーコードとされ、搬送用パレット１４に設置された電子機器３０を特定する識別情報を有する。なお、２次元バーコードとは、例えば、ＱＲコード（登録商標）である。

図２に示されるように、搬送用パレット１４の上面は、電子機器３０が載せられる設置面１８とされる。設置面１８の中央部には、電子機器３０が設置される設置領域１８Ａが設けられる。この設置領域１８Ａ及び当該設置領域１８Ａの外周部１８Ｂには、第１面ファスナ２０が設けられる。

第１面ファスナ２０は、シート状に形成されたメス型面ファスナとされる。第１面ファスナ２０の一方の面は、接合面２０Ａとされる。接合面２０Ａには、繊維をループ状にした複数のループが密集して設けられる。これらのループは、クッション性を有する。

第１面ファスナ２０は、接合面２０Ａを上に向けた状態で設置面１８における設置領域１８Ａ及び外周部１８Ｂに亘って配置され、接着剤等により設置面１８に固定される。この第１面ファスナ２０の上に、電子機器３０が設置される。なお、第１面ファスナ２０は、外周部１８Ｂの全周に亘って設けられる。

電子機器３０は、光源３２と、プリント基板３４と、筐体３６とを有する。光源３２は、例えば、ＬＥＤ（Light Emitting Diode，発光ダイオード）ランプとされる。この光源３２は、プリント基板３４に実装された状態で筐体３６に収容される。なお、光源３２は、ＬＥＤランプに限らず、例えば、ハロゲンランプ等でも良い。

筐体３６は、箱状に形成される。この筐体３６は、底壁部３６Ａ及び側壁部３６Ｂを有する。底壁部３６Ａは、第１面ファスナ２０を介して設置面１８の設置領域１８Ａに載置される。側壁部３６Ｂは、底壁部３６Ａの外周部から立ち上げられる。この側壁部３６Ｂには、光源３２の光（矢印Ｓ）を通す貫通孔３８が形成される。

貫通孔３８は、光源３２と対向する位置に配置され、側壁部３６Ｂを厚み方向に貫通する。この貫通孔３８を通して、光源３２から水平方向に発せられた光が筐体３６の外部へ射出される。この筐体３６は、側壁部３６Ｂを搬送方向の前側（矢印Ｘ方向）に向けた状態で設置面１８の設置領域１８Ａに設置される。

設置領域１８Ａの外周部１８Ｂには、光源検査治具４０が取り付けられる。光源検査治具４０は、支持体４２と、第２面ファスナ５０と、検査用光ファイバ４６とを有する。図２及び図３に示されるように、支持体４２は円柱状に形成されており、中心軸Ｏの軸方向から見た断面形状が円形状とされる。この支持体４２は、一対の側面４２Ａ，４２Ｂ（図２参照）と、外周面４２Ｃ（図３参照）とを有する。

支持体４２は、一方の側面４２Ａを筐体３６の側壁部３６Ｂに対向させた状態で設置領域１８Ａの外周部１８Ｂに配置される。また、支持体４２の外周面４２Ｃには、支持体４２の周方向に延びる第２面ファスナ５０が設けられる。

第２面ファスナ５０は、シート状に形成されたオス型面ファスナとされる。第２面ファスナ５０の一方の面は、第１面ファスナ２０の接合面２０Ａに着脱される接合面５０Ａとされる。この接合面５０Ａには、第１面ファスナ２０の複数のループと噛み合わされると共にクッション性を有する複数のフックが密集して設けられる。この第２面ファスナ５０は、接合面５０Ａを外側に向けた状態で支持体４２の外周面４２Ｃに環状に巻き付けられる。つまり、第２面ファスナ５０は、支持体４２の外周面４２Ｃに沿って環状を成す。

ここで、第２面ファスナ５０の接合面５０Ａを第１面ファスナ２０の接合面２０Ａに押し付け、複数のフックを複数のループに噛み合わせることにより、第１面ファスナ２０と第２面ファスナ５０とが接着される。一方、第１面ファスナ２０から第２面ファスナ５０を上方へ引き上げ、フックとループとの噛み合い状態を解除することにより、第１面ファスナ２０から第２面ファスナ５０から取り外される。

なお、図３に二点鎖線で示されるように、第１面ファスナ２０と第２面ファスナ５０との接着領域Ｄは、平面視にて長方形に形成される。この接着領域Ｄの面積に応じて、第１面ファスナ２０と第２面ファスナ５０との接着力が決定される。

支持体４２の中心部には、当該中心部を支持体４２の中心軸Ｏの軸方向に貫通する貫通孔４４が形成される。この貫通孔４４には、検査用光ファイバ４６が挿入される。検査用光ファイバ４６は、例えば、複数の光ファイバを結束して形成される。各光ファイバは、例えば、ガラスまたはプラスチック等により繊維状に形成されると共に、光を透過しない樹脂製のチューブ等によって被覆される。

図４に示されるように、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａは、支持体４２の一方の側面４２Ａから中心軸Ｏの軸方向に突出し、電子機器３０の側壁部３６Ｂに形成された貫通孔３８に挿入される。また、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａには、貫通孔３８の周縁部に接触される円盤状のフランジ部４８が設けられる。

なお、図２に示されるように、支持体４２から突出する検査用光ファイバ４６の突出長さＬは、検査用光ファイバ４６がたわまないように適宜設定される。また、検査用光ファイバ４６の高さｈは、光源３２に高さｔに合わせて適宜設定される。

フランジ部４８は、例えば、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａにテープ等を巻き付けることにより形成される。このフランジ部４８は、検査用光ファイバ４６の外周面から径方向の外側へ張り出す。なお、フランジ部４８は、張出し部の一例である。

図４に示されるように、検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂは、搬送用パレット１４に設けられた保持具５２に保持される。保持具５２は、設置面１８の外周部１８Ｂにおけるカメラ５６側に固定される。この保持具５２は、平面視にて、検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂをコンベア１２の幅方向（矢印Ｙ方向）の一方側、すなわち電子機器３０の搬送方向と交差する方向の一方側へ向けた状態で保持する。なお、支持体４２と保持具５２との間の検査用光ファイバ４６は可撓性を有し、搬送用パレット１４に対する支持体４２の取り付け位置に応じて湾曲する。

図１に示されるように、コンベア１２の幅方向（矢印Ｙ方向）の一方側には、スキャナ５４及びカメラ５６が配置される。スキャナ５４は、搬送用パレット１４の側面に表示された識別コード１６を光学的に読み取る機器である。このスキャナ５４は、各搬送用パレット１４の識別コード１６を読み取り可能な位置に設置され、前を通過する複数の搬送用パレット１４の識別コード１６を順次読み取る。また、スキャナ５４には、後述するスキャナ制御部６２が電気的に接続される。このスキャナ５４は、搬送用パレット１４から読み取った識別コード１６をスキャナ制御部６２へ出力する。

スキャナ５４に対するコンベア１２の搬送方向の前側（矢印Ｘ側）には、カメラ５６が配置される。カメラ５６は、検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂから射出される光源３２の光を検出する機器である。このカメラ５６は、検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂから射出される光を検出可能な位置に配置され、前を通過する複数の検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂを順次撮像する。また、カメラ５６には、後述するカメラ制御部６４が電気的に接続される。このカメラ５６は、撮像した検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂの光情報をカメラ制御部６４へ出力する。なお、カメラ５６は、光検出部の一例である。

スキャナ５４及びカメラ５６には、制御ユニット６０が電気的に接続される。制御ユニット６０は、ＣＰＵ、メモリ、及び各種の制御プログラムが記憶された記憶部を備える。この制御ユニット６０は、スキャナ制御部６２と、カメラ制御部６４と、打鍵器制御部６６とを有する。

スキャナ制御部６２及びカメラ制御部６４には、打鍵器制御部６６が電気的に接続される。また、打鍵器制御部６６には、打鍵器６８が電気的に接続される。打鍵器６８は、電子機器３０に接続されたキーボードを打鍵し、例えば、電子機器３０に実装された光源３２を点灯させる機器である。なお、制御ユニット６０の機能及び動作については、次の光源検査方法と共に説明する。

次に、本実施形態に係る光源検査方法の一例について説明する。

図１に示されるように、先ず、電子機器３０は、コンベア１２に設けられた各搬送用パレット１４の設置面１８に設置される。この際、電子機器３０は、筐体３６の側壁部３６Ｂを搬送方向の前側（矢印Ｘ方向）に向けた状態で、設置面１８に設置領域１８Ａ（図２参照）に第１面ファスナ２０を介して設置される。

次に、図５に示されるように、設置領域１８Ａの外周部１８Ｂに設けられた第１面ファスナ２０に、第２面ファスナ５０を介して検査用光ファイバ４６が取り付けられる。具体的には、電子機器３０に対する搬送方向の前側（矢印Ｘ側）に、光源検査治具４０が配置される。そして、筐体３６の側壁部３６Ｂに形成された貫通孔３８に、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａが斜めに挿入される。これにより、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａが光源３２と対向される。また、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａに設けられたフランジ部４８が、貫通孔３８の周縁部に接触される。

次に、二点鎖線で示されるように、設置領域１８Ａの外周部１８Ｂに設けられた第１面ファスナ２０の接合面２０Ａに、支持体４２の外周面４２Ｃ（図３参照）に設けられた第２面ファスナ５０の接合面５０Ａが押し付けられる。これにより、第１面ファスナ２０に第２面ファスナ５０が接着され、搬送用パレット１４に検査用光ファイバ４６が固定される。

この状態で、コンベア１２が搬送用パレット１４を搬送すると、搬送用パレット１４がスキャナ５４の前を通過する。ここで、搬送用パレット１４の側面には、識別コード１６が設けられる。この識別コード１６は、スキャナ５４の前を通過するときに、スキャナ５４によって光学的に読み取られる。スキャナ５４は、読み取った識別コード１６をスキャナ制御部６２へ出力する。

スキャナ制御部６２は、スキャナ５４から入力された識別コード１６を画像処理し、当該識別コード１６から、搬送用パレット１４に設置された電子機器３０の識別情報を取得する。次に、スキャナ制御部６２は、識別コード１６から取得した電子機器３０の識別情報を打鍵器制御部６６へ出力する。

打鍵器制御部６６は、スキャナ制御部６２から入力された電子機器３０の識別情報に基づいて、打鍵器６８を作動する。これにより、電子機器３０に接続されたキーボードが打鍵器６８によって打鍵され、電子機器３０の光源３２が点灯する。この結果、光源３２の光が、当該光源３２と対向する検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａに入射される。この光源３２の光は、保持具５２で支持された検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂからコンベア１２の幅方向（矢印Ｙ方向）の一方側へ向けて射出される。

この状態で、コンベア１２が搬送用パレット１４をさらに搬送すると、検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂがカメラ５６の前を通過する。このとき、検査用光ファイバ４６の他端部４６Ｂから射出された光源３２の光がカメラ５６によって撮像される。カメラ５６は、撮像した光源３２の光情報をカメラ制御部６４へ出力する。

カメラ制御部６４は、カメラ５６から出力された光源３２の光情報に基づいて、光源３２の点灯良否を判定する。一例として、カメラ制御部６４は、光源３２の光情報に含まれる光量が所定値未満の場合に、光源３２を点灯不良と判定する。一方、光源３２の光量が所定値以上の場合は、光源３２を点灯良好と判定する。

そして、カメラ制御部６４が光源３２を点灯不良と判定した場合は、点灯不良情報を打鍵器制御部６６へ出力する。打鍵器制御部６６は、打鍵器制御部６６から入力された点灯不良情報及び前述した電子機器３０の識別情報に基づいて、打鍵器６８を作動する。打鍵器６８は、電子機器３０に接続されたキーボードを打鍵し、例えば、電子機器３０に接続されたモニタに点灯検査結果として点灯不良情報を表示させる。

一方、カメラ制御部６４が光源３２を点灯良好と判定した場合は、点灯良好情報を打鍵器制御部６６へ出力する。打鍵器制御部６６は、打鍵器制御部６６から出力された点灯良好情報及び前述した電子機器３０の識別情報に基づいて、打鍵器６８を作動する。打鍵器６８は、電子機器３０に接続されたキーボードを打鍵し、例えば、電子機器３０に接続されたモニタに点灯検査結果として点灯良好情報を表示させる。

次に、本実施形態の作用及び効果について説明する。

本実施形態によれば、光源３２は、電子機器３０の筐体３６に収容される。この光源３２の光は、筐体３６の側壁部３６Ｂに形成された貫通孔３８から電子機器３０の搬送方向の前側（矢印Ｘ）へ射出される。そのため、光源３２の点灯検査を目視で行う場合、作業者が光源３２（貫通孔３８）の高さに目線を合わせることになるため、光源３２の点灯検査に手間がかかる。

また、目視ではなく、コンベア１２の幅方向の一方側に設置されたカメラ５６によって筐体３６内の光源３２を撮像し、光源３２の点灯検査を行うことが考えられる。しかしながら、光源３２の光は、前述したように筐体３６の側壁部３６Ｂに形成された貫通孔３８から電子機器３０の搬送方向の前側へ射出される。そのため、コンベア１２の幅方向（矢印Ｙ方向）の一方側に設置されたカメラ５６では、筐体３６が障害となるため、光源３２の光を撮像することが難しい。

これに対して本実施形態では、搬送用パレット１４に検査用光ファイバ４６が取り付けられる。そして、この検査用光ファイバ４６を通して光源３２の光がコンベア１２の幅方向の一方側へ送られる。これにより、コンベア１２の幅方向の一方側に設置されたカメラ５６によって、光源３２の光を撮像し易くなる。

また、支持体４２に対する検査用光ファイバ４６の高さｈは、光源３２の高さｔに応じて設定される。したがって、光源３２に対する検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａの位置決めが容易となる。

ここで、コンベア１２による搬送用パレット１４の搬送時に、検査用光ファイバ４６が振動すると、光源３２に対して検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａが位置ずれする可能性がある。

これに対して本実施形態では、搬送用パレット１４の第１面ファスナ２０に、第２面ファスナ５０を介して検査用光ファイバ４６が取り付けられる。これにより、第１面ファスナ２０及び第２面ファスナ５０のクッション性により、搬送用パレット１４の振動が吸収される。したがって、光源３２に対する検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａの位置ずれが抑制される。

また、第１面ファスナ２０と第２面ファスナ５０との接着力は、せん断方向（図４において矢印Ｘ及び矢印Ｙ方向）の力に対して強い。したがって、搬送用パレット１４が水平方向（図４において矢印Ｘ及び矢印Ｙ方向）に振動しても、第１面ファスナ２０から第２面ファスナ５０が外れることが抑制される。

一方、第１面ファスナ２０と第２面ファスナ５０との接着力は、第１面ファスナ２０と第２面ファスナ５０とを互いに引き離す方向（図３において矢印Ｚ方向）の力に対して弱い。したがって、第１面ファスナ２０に対して支持体４２が上方へ引き上げられることにより、第１面ファスナ２０から第２面ファスナ５０が容易に取り外される。

しかも、第２面ファスナ５０は、支持体４２の外周面４２Ｃに環状に巻き付けられる。そのため、支持体４２の外周面４２Ｃの何れの部位が第１面ファスナ２０に押し付けられても、第１面ファスナ２０に支持体４２が取り付けられる。

また、図２に示されるように、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａに設けられたフランジ部４８を貫通孔３８の周縁部に接触させた状態で、搬送用パレット１４に検査用光ファイバ４６が取り付けられる。これにより、フランジ部４８と貫通孔３８の周縁部との間に発生する摩擦力によって、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａの振動が低減される。

さらに、電子機器３０の筐体３６は、第１面ファスナ２０を介して設置面１８の設置領域１８Ａに設置される。これにより、第１面ファスナ２０のクッション性によって筐体３６の振動が吸収される。したがって、光源３２に対する検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａの位置ずれがさらに抑制される。

また、第１面ファスナ２０は、設置領域１８Ａの外周部１８Ｂの全周に亘って設けられる。そのため、電子機器３０の搬送方向の前側（矢印Ｘ側）だけでなく、搬送方向の後側（矢印Ｘと反対側）等にも検査用光ファイバ４６を設置可能になる。したがって、光源検査装置１０の汎用性が向上する。

次に、第２実施形態について説明する。なお、第１実施形態と同じ構成のものは同符号を付して説明を省略する。

図６に示されるように、第２実施形態に係る光源検査治具７０では、検査用光ファイバ４６が、支持体４２の中心軸Ｏから外れた位置に配置される。具体的には、支持体４２の外周部には、当該外周部を支持体４２の中心軸Ｏの軸方向に貫通する貫通孔７２が形成される。この貫通孔７２に、検査用光ファイバ４６が挿入される。そのため、中心軸Ｏを回転軸として支持体４２を矢印Ｐ方向に回転させると、検査用光ファイバ４６の高さｈ（図７Ａ参照）が変動する。

ここで、図７Ａ、図８Ａ、及び図９Ａに示されるように、本実施形態の搬送用パレット１４には、光源３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃの高さｔが異なる複数種類（本実施形態では、３種類）の電子機器３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃが設置される。

また、図７Ｂ、図８Ｂ、及び図９Ｂに示されるように、支持体４２における筐体３６と反対側の側面４２Ｂには、検査用光ファイバ４６の高さｈを光源３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃの高さｔに合わせるための複数の目印７４Ａ，７４Ｂ，７４Ｃが設けられる。

複数の目印７４Ａ，７４Ｂ，７４Ｃは、支持体４２の半径方向に沿った直線とされ、支持体４２の外周部に設けられる。そして、支持体４２が中心軸Ｏを回転軸として回転され、何れかの目印７４Ａ，７４Ｂ，７４Ｃが真下（第１面ファスナ２０側）に向けられると、検査用光ファイバ４６の高さｈが何れかの光源３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃの高さｔに合わせられる。

なお、支持体４２に設ける目印７４Ａ，７４Ｂ，７４Ｃの数、形状及び配置は、変更可能である。また、目印７４Ａ，７４Ｂ，７４Ｃが例えば真上等の所定方向に向けられたときに、検査用光ファイバ４６の高さｈが何れかの光源３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃの高さｔに合せられても良い。さらに、目印７４Ａ，７４Ｂ，７４Ｃは、省略可能である。

次に、第２実施形態の作用及び効果について説明する。

図７Ａ、図８Ａ、及び図９Ａに示されるように、本実施形態の搬送用パレット１４には、光源３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃの高さｔが異なる３種類の電子機器３０が設置される。そして、例えば、図７Ａに示されるように、電子機器３０の光源３２Ａが高さｔの場合は、次の手順により搬送用パレット１４に検査用光ファイバ４６が取り付けられる。

先ず、筐体３６の側壁部３６Ｂに形成された貫通孔３８に検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａが挿入される。このとき、検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａに設けられたフランジ部４８が、貫通孔３８の周縁部に接触される。

次に、図７Ｂに示されるように、支持体４２が中心軸Ｏを回転軸として回転され、支持体４２の側面４２Ｂに表示された目印７４Ａが真下に向けられる。これにより、検査用光ファイバ４６の高さｈが光源３２Ａが高さｔに合せられる。

この状態で、支持体４２の外周面４２Ｃに設けられた第２面ファスナ５０が第１面ファスナ２０に押し付けられる。これにより、第１面ファスナ２０に第２面ファスナ５０が接着され、検査用光ファイバ４６が当該検査用光ファイバ４６の一端部４６Ａを光源３２Ａに対向させた状態で搬送用パレット１４に固定される。

これと同様に、図８Ａに示されるように、電子機器３０Ｂの光源３２Ｂが高さｔの場合は、図８Ｂに示されるように、支持体４２が中心軸Ｏを回転軸として回転され、支持体４２の側面４２Ｂに表示された目印７４Ｂが真下に向けられる。これにより、検査用光ファイバ４６の高さｈが光源３２Ａが高さｔに合せられる。

また、図９Ａに示されるように、電子機器３０Ｃの光源３２Ｃが高さｔの場合は、図９Ｂに示されるように、支持体４２が中心軸Ｏを回転軸として回転され、支持体４２の側面４２Ｂに表示された目印７４Ｃが真下に向けられる。これにより、検査用光ファイバ４６の高さｈが光源３２Ａが高さｔに合せられる。

このように本実施形態では、支持体４２が中心軸Ｏを回転軸として回転されることにより、検査用光ファイバ４６の高さｈが光源３２Ａが高さｔに合せられる。そのため、光源３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｃの高さｔが異なる複数種類の電子機器３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃを１つの光源検査治具７０によって検査可能になる。したがって、光源検査治具７０の汎用性が向上する。

なお、図１０に示されるように、支持体４２の回転角度θと検査用光ファイバ４６の高さｈ（筐体３６の貫通孔３８の高さｈ）との関係は、以下のように求められる。すなわち、支持体４２の回転角度θは、下記式（１）で表される。この式（１）及び式（２）〜式（４）から式（５）が得られる。そして、式（５）から、支持体４２の回転角度θと検査用光ファイバ４６の高さｈとの関係を表す式（６）が得られる。

ただし、
θ：支持体の回転角度（０≦θ≦１８０）
Ｒ：検査用光ファイバの半径
Ｈ：検査用光ファイバの最大高さ
ｈ：検査用光ファイバの高さ（Ｒ≦ｈ≦Ｈ）
である。

次に、上記第１，第２実施形態の変形例について説明する。なお、以下では、上記第１実施形態を例に各種の変形例について説明するが、これらの変形例は上記第２実施形態にも適宜適用可能である。

上記第１実施形態では、支持体４２が円柱状に形成されるが、ここでいう「円柱状」は、中心軸Ｏの軸方向から見た支持体４２の断面形状が円形状の場合だけでなく、例えば楕円形状や８角形等の多角形状の場合も含む概念である。また、支持体４２の形状は、円柱状に限らず、他の形状でも良い。

なお、楕円形状では、長径と短径との長さが異なる。したがって、上記第２実施形態において、支持体の上記断面形状が楕円形状にされた場合は、支持体の中心軸上に検査用光ファイバが配置されても良い。この場合、支持体の長径が上下方向（鉛直方向）された場合と短径を上下方向された場合とで、検査用光ファイバの高さが変更される。

また、上記第１実施形態では、支持体４２の外周面４２Ｃに第２面ファスナ５０が環状に巻き付けられるが、例えば、支持体４２の外周面４２Ｃの一部に第２面ファスナが巻き付けられても良い。

また、上記第１実施形態では、第１面ファスナ２０が設置面１８の設置領域１８Ａ及び外周部１８Ｂに設けられるが、第１面ファスナ２０は少なくとも外周部１８Ｂにあれば良い。また、第１面ファスナ２０は、外周部１８Ｂの全周ではなく、外周部１８Ｂの一部に設けられても良い。

また、上記第１実施形態では、第１面ファスナ２０がメス型面ファスナとされ、第２面ファスナ５０がオス型面ファスナとされる。これとは逆に、第１面ファスナ２０がオス型面ファスナとされ、第２面ファスナ５０がメス型面ファスナとされても良い。

また、上記第１実施形態では、フランジ部４８が円盤状とされるが、フランジ部４８は他の形状であっても良い。また、フランジ部４８は、省略可能である。

また、上記第１実施形態では、光源３２の光が電子機器３０の搬送方向の前側に射出されるが、光源３２の光は電子機器３０の搬送方向の後側や搬送方向と交差する方向へ射出されても良い。また、上記第１実施形態では、光源３２が筐体３６の内部に収容されるが、光源３２は筐体３６の外部に配置されても良い。

また、上記第１実施形態では、光検出部がカメラ５６とされるが、光検出部は、他の光検出機器とされても良い。

また、上記第１実施形態では、搬送用パレット１４に表示された識別コード１６によって当該搬送用パレット１４に設置された電子機器３０が識別されるが、他の方法によって電子機器３０が識別されても良い。

また、上記第１実施形態では、打鍵器６８により電子機器３０の光源３２が点灯されるが、他の方法により光源３２が点灯されても良い。さらに、上記第１実施形態では、光源３２の点灯検査結果が電子機器３０に接続されたモニタに表示されることにより作業者に通知されるが、点灯検査結果は、他の方法により作業者に通知されても良い。

さらに、上記実施形態では、検査対象物が電子機器３０とされるが、検査対象物は光源を有する他の製品とされても良い。

以上、本願が開示する技術の実施形態について説明したが、本願が開示する技術は上記の実施形態に限定されるものでない。また、上記実施形態及び各種の変形例を適宜組み合わせて用いても良いし、本願が開示する技術の要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施し得ることは勿論である。

なお、以上の実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。

（付記１）
光源を有する検査対象物を搬送する搬送用パレットの第１面ファスナに、第２面ファスナを介して検査用光ファイバを取り付け、
前記検査用光ファイバを通して前記光源の光を光検出部へ送る、
ことを含む光源検査方法。
（付記２）
前記検査用光ファイバの一端部を前記光源に対向させた状態で、該検査用光ファイバを前記第１面ファスナに取り付ける、
付記１に記載の光源検査方法。
（付記３）
円柱状に形成されると共に外周面に前記第２面ファスナが設けられた支持体を中心軸を回転軸として回転させ、該支持体を前記中心軸の軸方向に貫通する前記検査用光ファイバの高さを前記光源の高さに合わせた後、前記第１面ファスナに前記第２面ファスナを介して前記検査用光ファイバを取り付ける、
付記１または付記２に記載の光源検査方法。
（付記４）
前記支持体を前記中心軸を回転軸として回転させ、前記支持体に設けられた目印を所定方向に向けることにより、前記検査用光ファイバの高さを前記光源の高さに合わせる、
付記３に記載の光源検査方法。
（付記５）
前記検査対象物は、前記光源を収容する筐体を有し、
前記筐体の側壁部に形成された貫通孔に前記検査用光ファイバの一端部を挿入することにより、該一端部を前記光源に対向させる、
付記１〜付記４の何れか１つに記載の光源検査方法。
（付記６）
前記検査用光ファイバから該検査用光ファイバの径方向に張り出す張出し部を前記貫通孔の周縁部に接触させた状態で、前記第１面ファスナに前記検査用光ファイバを取り付ける、
付記５の記載の光源検査方法。
（付記７）
前記光源は、前記検査対象物の搬送方向に光を射出し、
前記検査用光ファイバの他端部を前記搬送方向と交差する方向へ向けた状態で、該検査用光ファイバを前記第１面ファスナに取り付ける、
付記５または付記６の記載の光源検査方法。
（付記８）
前記第１面ファスナに前記検査用光ファイバを取り付けた状態で前記光検出部に対して前記搬送用パレットを移動し、前記光源の光を前記検査用光ファイバを通して前記光検出部に検出させる、
付記１〜付記６の何れか１つに記載の光源検査方法。
（付記９）
光源を有する検査対象物を搬送する搬送用パレットと、
前記搬送用パレットに設けられる第１面ファスナと、
前記光源の光を検出する光検出部と、
前記第１面ファスナに着脱される第２面ファスナと、前記第２面ファスナを介して前記第１面ファスナに取り付けられ、前記光源の光を前記光検出部へ送る検査用光ファイバと、を有する光源検査治具と、
を備える光源検査装置。
（付記１０）
前記検査用光ファイバは、該検査用光ファイバの一端部を前記光源に対向させた状態で、前記第２面ファスナを介して前記第１面ファスナに取り付けられる、
付記９に記載の光源検査装置。
（付記１１）
光源検査治具は、円柱状に形成されると共に外周面に前記第２面ファスナが設けられる支持体を有し、
前記検査用光ファイバは、前記支持体の中心軸から外れた位置に配置され、該支持体を前記中心軸の軸方向に貫通する、
付記９または付記１０に記載の光源検査装置。
（付記１２）
前記第２面ファスナは、前記支持体の前記外周面に沿って環状を成す、
付記１１に記載の光源検査装置。
（付記１３）
前記支持体には、前記光源の高さと前記検査用光ファイバの高さとを合わせるための目印が設けられる、
付記１１または付記１２に記載の光源検査装置。
（付記１４）
前記検査対象物は、前記光源を収容する筐体を有し、
前記検査用光ファイバの一端部は、前記筐体の側壁部に形成された貫通孔に挿入された状態で前記光源と対向する、
付記９〜付記１３の何れか１つに記載の光源検査装置。
（付記１５）
前記検査用光ファイバには、該検査用光ファイバから径方向に張り出し、前記貫通孔の周縁部に接触される張出し部が設けられる、
付記１４の記載の光源検査装置。
（付記１６）
前記搬送用パレットに設けられ、前記検査用光ファイバにおける前記光源と反対側の他端部を保持する保持具を備え、
前記光源は、前記検査対象物の搬送方向に光を射出し、
保持具は、前記検査用光ファイバの他端部を前記搬送方向と交差する方向へ向けた状態で保持する、
付記１４または付記１５に記載の光源検査装置。
（付記１７）
前記光検出部に対して前記搬送用パレットを移動させるコンベアを備える、
付記９〜付記１６の何れか１つに記載の光源検査装置。
（付記１８）
前記搬送用パレットは、前記検査対象物が載せられる設置面を有し、
前記第１面ファスナは、前記設置面に設けられる、
付記９〜付記１７の何れか１つに記載の光源検査装置。
（付記１９）
前記第１面ファスナは、前記設置面における前記検査対象物の設置領域、及び該設置領域の外周部に設けられる、
付記１８に記載の光源検査装置。
（付記２０）
前記第１面ファスナは、メス型面ファスナであり、
前記第２面ファスナは、オス型面ファスナである、
付記９〜付記１９の何れか１つに記載の光源検査装置。
（付記２１）
前記光源は、ＬＥＤを有する、
付記９〜付記２０の何れか１つに記載の光源検査装置。

１０ 光源検査装置
１２ コンベア
１４ 搬送用パレット
１８ 設置面
１８Ａ 設置領域
１８Ｂ 外周部
２０ 第１面ファスナ
３０ 電子機器（検査対象物の一例）
３０Ａ 電子機器（検査対象物の一例）
３０Ｂ 電子機器（検査対象物の一例）
３０Ｃ 電子機器（検査対象物の一例）
３２ 光源
３２Ａ 光源
３２Ｂ 光源
３２Ｃ 光源
３６ 筐体
３６Ｂ 側壁部
３８ 貫通孔
４０ 光源検査治具
４２ 支持体
４２Ｃ 外周面
４６ 検査用光ファイバ
４６Ａ 一端部
４６Ｂ 他端部
４８ フランジ部（張出し部の一例）
５０ 第２面ファスナ
５２ 保持具
５６ カメラ（光検出部の一例）
７０ 光源検査治具
７４Ａ 目印
７４Ｂ 目印
７４Ｃ 目印
Ｏ 中心軸

Claims (5)

1. 光源を有する検査対象物を搬送する搬送用パレットの第１面ファスナに、第２面ファスナを介して検査用光ファイバを取り付け、
   前記検査用光ファイバを通して前記光源の光を光検出部へ送る、
   ことを含む光源検査方法。
2. 円柱状に形成されると共に外周面に前記第２面ファスナが設けられた支持体を中心軸を回転軸として回転させ、該支持体を前記中心軸の軸方向に貫通する前記検査用光ファイバの高さを前記光源の高さに合わせた後、前記第１面ファスナに前記第２面ファスナを介して前記検査用光ファイバを取り付ける、
   請求項１に記載の光源検査方法。
3. 前記検査対象物は、前記光源を収容する筐体を有し、
   前記筐体の側壁部に形成された貫通孔に前記検査用光ファイバの一端部を挿入することにより、該一端部を前記光源に対向させる、
   請求項１または請求項２に記載の光源検査方法。
4. 前記検査用光ファイバから該検査用光ファイバの径方向に張り出す張出し部を前記貫通孔の周縁部に接触させた状態で、前記第１面ファスナに前記検査用光ファイバを取り付ける、
   請求項３の記載の光源検査方法。
5. 前記第１面ファスナに前記検査用光ファイバを取り付けた状態で前記光検出部に対して前記搬送用パレットを移動し、前記光源の光を前記検査用光ファイバを通して前記光検出部に検出させる、
   請求項１〜請求項４の何れか１項に記載の光源検査方法。