JP2015528616A5 - - Google Patents

Description

本開示のこれらおよび他の側面は、以下の説明および付随の図面と併せて検討されることによって、さらに認識および理解されるであろう。しかしながら、以下の説明は、本開示の種々の実施形態およびその多数の具体的詳細を示すが、限定ではなく、例証として与えられることを理解されたい。多くの代用、修正、追加、および／または再配列が、その精神から逸脱することなく、本開示の範囲内で行われてもよく、本開示は、全てのそのような代用、修正、追加、および／または再配列を含む。
本願明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
（項目１）
センサ測定システム内の雑音を低減させるための方法であって、前記方法は、
容量／デジタル変換測定を行うことと、
前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することと、
サンプリング波形と関連付けられた１回以上の遅延を動的に修正することと
を含む、方法。
（項目２）
前記１回以上の遅延は、前記サンプリング波形のサンプル間の時間内に１回以上の遅延を含む、項目１に記載の方法。
（項目３）
前記１回以上の遅延は、１つのサンプリング波形の終了と次のサンプリング波形の開始との間の時間内に１回以上の遅延を含む、項目１に記載の方法。
（項目４）
前記１回以上の遅延は、サンプルの取得時間内に１回以上の遅延を含む、項目１に記載の方法。
（項目５）
前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することは、雑音スキャンを行うことと、測定集合間の合計平均差を判定することとを含む、項目１に記載の方法。
（項目６）
前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することは、雑音スキャンを行うことと、測定が非対称であるかどうかを判定することとを含む、項目１に記載の方法。
（項目７）
前記サンプリング波形をフィルタリングすることをさらに含む、項目１に記載の方法。
（項目９）
前記１回以上の遅延は、前記サンプリング波形のサンプル間の時間内に１回以上の遅延を含む、項目８に記載のシステム。
（項目１０）
前記１回以上の遅延は、１つのサンプリング波形の終了と次のサンプリング波形の開始との間の時間内に１回以上の遅延を含む、項目８に記載のシステム。
（項目１１）
前記１回以上の遅延は、サンプルの取得時間内に１回以上の遅延を含む、項目８に記載のシステム。
（項目１２）
前記雑音検出器は、雑音スキャンの測定集合間の合計平均差を判定するように構成される、項目８に記載のシステム。
（項目１３）
前記雑音検出器は、雑音スキャンの測定が非対称であるかどうかを判定するように構成される、項目８に記載のシステム。
（項目１４）
前記サンプリング波形をフィルタリングするためのデジタルフィルタをさらに備える、項目８に記載のシステム。
（項目１５）
命令を含む１つ以上の有形コンピュータ可読媒体を含むコンピュータプログラム製品であって、前記命令は、コンピュータ上で実行されると、センサ測定システム内の雑音を低減させるための方法を実装し、前記方法は、
容量／デジタル変換測定を行うことと、
前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することと、
サンプリング波形と関連付けられた１回以上の遅延を動的に修正することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
（項目１６）
前記１回以上の遅延は、前記サンプリング波形のサンプル間の時間内に１回以上の遅延を含む、項目１に記載のコンピュータプログラム製品。
（項目１７）
前記１回以上の遅延は、１つのサンプリング波形の終了と次のサンプリング波形の開始との間の時間内に１回以上の遅延を含む、項目１に記載のコンピュータプログラム製品。
（項目１８）
前記１回以上の遅延は、サンプルの取得時間内に１回以上の遅延を含む、項目１に記載のコンピュータプログラム製品。
（項目１９）
前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することは、雑音スキャンを行うことと、測定集合間の合計平均差を判定することとを含む、項目１に記載のコンピュータプログラム製品。
（項目２０）
前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することは、雑音スキャンを行うことと、測定が非対称であるかどうかを判定することとを含む、項目１に記載のコンピュータプログラム製品。
（項目２１）
前記サンプリング波形をフィルタリングすることをさらに含む、項目１に記載のコンピュータプログラム製品。

Claims (13)

1. センサ測定システム内の雑音を低減させるための方法であって、前記方法は、
   容量／デジタル変換測定を行うことと、
   前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することであって、前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することは、雑音スキャンを行うことと、測定集合間の合計平均差を判定することとを含む、ことと、
   サンプリング波形と関連付けられた１回以上の遅延を動的に修正することと
   を含む、方法。
2. 前記１回以上の遅延は、前記サンプリング波形のサンプル間の時間内に１回以上の遅延を含む、請求項１に記載の方法。
3. 前記１回以上の遅延は、１つのサンプリング波形の終了と次のサンプリング波形の開始との間の時間内に１回以上の遅延を含む、請求項１に記載の方法。
4. 前記１回以上の遅延は、サンプルの取得時間内に１回以上の遅延を含む、請求項１に記載の方法。
5. 前記センサ測定システムが雑音を被っていることを検出することは、雑音スキャンを行うことと、測定が非対称であるかどうかを判定することとをさらに含む、請求項１〜４のうちの１項に記載の方法。
6. 前記サンプリング波形をフィルタリングすることをさらに含む、請求項１〜５のうちの１項に記載の方法。
7. センサ測定システム内の雑音を低減させるためのシステムであって、前記システムは、
   容量／デジタル変換測定における雑音を検出するための雑音検出器であって、前記雑音検出器は、雑音スキャンの測定集合間の合計平均差を判定するように構成されている、雑音検出器と、
   前記雑音検出器に動作可能に結合された雑音補正モジュールであって、前記雑音補正モジュールは、サンプリング波形と関連付けられた１回以上の遅延を動的に修正するように構成されている、雑音補正モジュールと、
   前記サンプリング波形をフィルタリングするための雑音フィルタと
   を備える、システム。
8. 前記１回以上の遅延は、前記サンプリング波形のサンプル間の時間内に１回以上の遅延を含む、請求項７に記載のシステム。
9. 前記１回以上の遅延は、１つのサンプリング波形の終了と次のサンプリング波形の開始との間の時間内に１回以上の遅延を含む、請求項７または８に記載のシステム。
10. 前記１回以上の遅延は、サンプルの取得時間内に１回以上の遅延を含む、請求項７または８に記載のシステム。
11. 前記雑音検出器は、雑音スキャンの測定が非対称であるかどうかを判定するように構成されている、請求項７〜１０のうちの１項に記載のシステム。
12. 前記サンプリング波形をフィルタリングするためのデジタルフィルタをさらに備える、請求項７〜１１のうちの１項に記載のシステム。
13. 命令を含む１つ以上の有形コンピュータ可読媒体を含むコンピュータプログラム製品であって、前記命令は、コンピュータ上で実行されると、請求項１〜６のうちの１項に記載される方法を実装する、コンピュータプログラム製品。