JP2015528571A - センサデバイス及びサンプリングする方法 - Google Patents
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Abstract
Description
− 磁性粒子が供給されるチャンバであって、検出表面を有し、ターゲット成分が含まれるサンプルを受けるように構成される、チャンバ。
− 前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように構成された磁気操作装置。前記磁性粒子において前記ターゲット成分を捕獲する結合された磁性粒子は、前記検出表面で保持され、前記磁性粒子においてターゲット成分を捕獲しない結合されていない磁性粒子は、同様に検出表面で保持され、そして、前記結合されていない磁性粒子磁力を前記検出表面から解放するために、前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変える。
− 前記チャンバ内の前記サンプルの少なくとも部分を新たなサンプルと置換するように構成されたサンプル置換ユニット。
− 前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量を測定するように構成されたセンサユニット。
− 前記磁気操作装置、前記サンプル置換ユニット及び前記センサユニットに結合された制御ユニット。前記制御ユニットは、所与のサイクルに達するまで以下の動作を繰り返し実行するように構成される。
− 前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように前記磁気操作装置を制御する。
− 前記チャンバ内の前記サンプルの少なくとも部分を前記新たなサンプルに置換するように前記サンプル置換ユニットを制御する。
− 前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされる磁力を変えるように前記磁気操作装置を制御する。
− 前記所与のサイクルに達したときに前記検出表面に結合されている前記結合された磁性粒子の量を測定するように前記センサユニットを制御するように更に構成される。
− 磁性粒子が供給されるチャンバ。前記チャンバは、検出表面を有し、ターゲット成分が含まれるサンプルを受けるように構成される。
− 前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように構成された磁気操作装置。前記磁性粒子において前記ターゲット成分を捕獲する結合された磁性粒子は、前記検出表面で保持され、前記磁性粒子においてターゲット成分を捕獲しない結合されていない磁性粒子は、同様に前記検出表面で保持され、そして、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変える。
− 前記チャンバ内の前記サンプルの少なくとも部分を新たなサンプルに置換するように構成されたサンプル置換ユニット。
− 前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量を測定するように構成されたセンサユニット。
− 前記磁気操作装置、前記サンプル置換ユニット及び前記センサユニットに結合され、以下の動作を実行するように構成される制御ユニット。
i. 前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように前記磁気操作装置を制御する。
ii. 前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるように前記磁気操作装置を制御する。
iii. 前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量が予め決められた閾値より高いかどうかを決定する。
− 高くない場合には、前記制御ユニットは、以下の動作を実行するように更に構成される。
− 前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように前記磁気操作装置を制御する。
− 前記チャンバ内の前記サンプルの少なくとも部分を前記新たなサンプルと置換するように前記サンプル置換ユニットを制御する。
− 前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるように前記磁気操作装置を制御する。
そして、iからiiiまでの動作を実行する。
a. 磁性粒子が供給されるチャンバにサンプルを追加するステップ。前記サンプルはターゲット成分を含み、前記チャンバは検出表面を有する。
b. 前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすステップ。磁性粒子において前記ターゲット成分を捕獲する結合された磁性粒子は、前記検出表面で保持され、前記磁性粒子においてターゲット成分を捕獲しない結合されていない磁性粒子は、同様に前記検出表面で保持される。
c. 前記サンプルの少なくとも部分を前記チャンバから排出し、そして新たなサンプルを前記チャンバに追加するステップ。
d. 前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるステップ。
e. 所与のサイクルの間、ステップb〜dを繰り返すステップ。
A. 磁性粒子が供給されるチャンバにサンプルを追加するステップ。前記サンプルは、ターゲット成分を有し、前記チャンバは、検出表面を有する。
B. 前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすステップ。前記磁性粒子において前記ターゲット成分を捕獲する結合された磁性粒子は、前記検出表面で保持され、前記磁性粒子においてターゲット成分を捕獲しない結合されていない磁性粒子は、同様に前記検出表面で保持される。
C. 前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるステップ。
D. 前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量を測定するステップ。
E. 前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量が予め決められた閾値より高いかどうかを決定するステップ。
− 高くない場合には、以下のステップを実行する。
− 前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすステップ。
− 前記サンプルの少なくとも部分を前記チャンバから排出し、新たなサンプルを前記チャンバに追加するステップ。
− 前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるステップ。
− ステップB〜Eを実行するために戻るステップ。
Claims (15)
- サンプリングする方法であって、
a.磁性粒子が供給されるチャンバにサンプルを追加するステップであって、前記サンプルはターゲット成分を含み、前記チャンバは検出表面を有する、ステップと、
b.前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすステップであって、前記磁性粒子において前記ターゲット成分を捕獲する結合された磁性粒子は、前記検出表面で保持され、前記磁性粒子においてターゲット成分を捕獲しない結合されていない磁性粒子は、同様に前記検出表面で保持される、ステップと、
c.前記サンプルの少なくとも部分を前記チャンバから排出し、そして新たなサンプルを前記チャンバに追加するステップと、
d.前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるステップと、
e.所与のサイクルの間、前記ステップb〜dを繰り返すステップと
を有する、方法。 - 前記の繰り返すステップが終了したときに検出表面で保持された前記結合された磁性粒子の量を測定するステップを更に有する、請求項1に記載の方法。
- 前記ステップbは、前記及ぼすステップの前に、予め決められた期間の間、前記磁性粒子及び前記ターゲット成分を混合するステップを更に有する、請求項1に記載の方法。
- 前記混合するステップは、前記磁性粒子及び前記ターゲット成分を混合するために交互に起こる磁場を生成するステップを有する、請求項3に記載の方法。
- 前記及ぼすステップは、前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために第1の磁場を生成するステップを有し、
前記変えるステップは、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から放出するように前記第1の磁場を生成するのを中止するステップ、又は、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から離れるように引くように、前記第1の磁場を生成するのを中止するとともに第2の磁場を生成するステップを有する、請求項1に記載の方法。 - 前記第2の磁場は、第1の磁場の反対にある磁場である、請求項5に記載の方法。
- サンプリングする方法であって、
A.磁性粒子が供給されるチャンバにサンプルを追加するステップであって、前記サンプルはターゲット成分を有し、前記チャンバは検出表面を有する、ステップと、
B.前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすステップであって、前記磁性粒子において前記ターゲット成分を捕獲する結合された磁性粒子は、前記検出表面で保持され、前記磁性粒子においてターゲット成分を捕獲しない結合されていない磁性粒子は、同様に前記検出表面で保持される、ステップと、
C.前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるステップと、
D.前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量を測定するステップと、
E.前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量が予め決められた閾値より高いかどうかを決定するステップであって、高くない場合には、
前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすステップと、
前記サンプルの少なくとも部分を前記チャンバから排出し、新たなサンプルを前記チャンバに追加するステップと、
前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるステップと、
前記ステップB〜Eを実行するために戻るステップとを実行する、ステップと
を有する、方法。 - 前記ステップBは、前記及ぼすステップの前に、予め決められた期間の間、前記磁性粒子及び前記ターゲット成分を混合するステップを更に有する、請求項7に記載の方法。
- 前記及ぼすステップは、前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために第1の磁場を生成するステップを有し、
前記変えるステップは、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から放出するように前記第1の磁場を生成するのを中止するステップ、又は、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から離れるように引くように、前記第1の磁場を生成するのを中止するとともに第2の磁場を生成するステップを有する、請求項7に記載の方法。 - 磁性粒子が供給されるチャンバであって、前記チャンバは、検出表面を有し、ターゲット成分が含まれるサンプルを受けるように構成される、チャンバと、
前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように構成された磁気操作装置であって、前記磁性粒子において前記ターゲット成分を捕獲する結合された磁性粒子は、前記検出表面で保持され、前記磁性粒子においてターゲット成分を捕獲しない結合されていない磁性粒子は、同様に検出表面で保持され、そして、前記結合されていない磁性粒子磁力を前記検出表面から解放するために、前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変える、磁気操作装置と、
前記チャンバ内の前記サンプルの少なくとも部分を新たなサンプルと置換するように構成されたサンプル置換ユニットと、
前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量を測定するように構成されたセンサユニットと、
前記磁気操作装置、前記サンプル置換ユニット及び前記センサユニットに結合された制御ユニットであって、前記制御ユニットは、
前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように前記磁気操作装置を制御し、
前記チャンバ内の前記サンプルの少なくとも部分を前記新たなサンプルに置換するように前記サンプル置換ユニットを制御し、
前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされる磁力を変えるように前記磁気操作装置を制御する、
という動作を所与のサイクルに達するまで繰り返し実行するように構成され、前記所与のサイクルに達したときに前記検出表面に結合されている前記結合された磁性粒子の量を測定するように前記センサユニットを制御するように更に構成される、制御ユニットと
を有する、センサデバイス。 - 前記磁気操作装置は、前記検出表面の下に設けられた第1の磁石を有し、
前記制御ユニットは、前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるように第1の磁場を生成するためにスイッチを入れるように前記第1の磁石を制御し、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するためにスイッチを切るように前記第1の磁石を制御するように構成される、請求項10に記載のセンサデバイス。 - 前記磁気操作装置は、第2の磁石を更に有し、
前記制御ユニットは、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から離れるように引くために、前記第1の磁石をオフにするように制御するとともに前記第2の磁石をオンにするように制御するために構成される、請求項11に記載のセンサデバイス。 - 磁性粒子が供給されるチャンバであって、前記チャンバは、検出表面を有し、ターゲット成分が含まれるサンプルを受けるように構成される、チャンバと、
前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように構成された磁気操作装置であって、前記磁性粒子において前記ターゲット成分を捕獲する結合された磁性粒子は、前記検出表面で保持され、前記磁性粒子においてターゲット成分を捕獲しない結合されていない磁性粒子は、同様に前記検出表面で保持され、そして、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変える、磁気操作装置と、
前記チャンバ内の前記サンプルの少なくとも部分を新たなサンプルに置換するように構成されたサンプル置換ユニットと、
前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量を測定するように構成されたセンサユニットと、
前記磁気操作装置、前記サンプル置換ユニット及び前記センサユニットに結合され、
i.前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように前記磁気操作装置を制御し、
ii.前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるように前記磁気操作装置を制御し、
iii.前記検出表面で保持される前記結合された磁性粒子の量が予め決められた閾値より高いかどうかを決定し、高くない場合には、
前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるために前記磁性粒子上に磁力を及ぼすように前記磁気操作装置を制御し、
前記チャンバ内の前記サンプルの少なくとも部分を前記新たなサンプルと置換するように前記サンプル置換ユニットを制御し、
前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するために前記磁性粒子上に及ぼされた磁力を変えるように前記磁気操作装置を制御する動作を実行し、
前記iからiiiまでの動作を実行する、ように構成される制御ユニットと
を有する、センサデバイス。 - 前記磁気操作装置は、前記検出表面の下に設けられた第1の磁石を有し、
前記制御ユニットは、前記磁性粒子を前記検出表面に引きつけるように第1の磁場を生成するためにスイッチを入れるように前記第1の磁石を制御し、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から解放するためにスイッチを切るように前記第1の磁石を制御するように構成される、請求項13に記載のセンサデバイス。 - 前記磁気操作装置は、第2の磁石を更に有し、
前記制御ユニットは、前記結合されていない磁性粒子を前記検出表面から離れるように引くために、前記第1の磁石をオフにするように制御するとともに前記第2の磁石をオンにするように制御するために構成される、請求項14に記載のセンサデバイス。
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