JP2015518657A - パルス状co2出力−パルス成形および電力制御 - Google Patents

パルス状co2出力−パルス成形および電力制御 Download PDF

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Abstract

RF励起式密閉拡散冷却パルス状CO2ガス放電レーザ(160)において、一定レーザ出力パルス電力を維持するために、各レーザ出力パルスは、より短いRFパルスの列またはバーストによって生成される。レーザ出力パルス(176)間の時間が、あるパルス中の電力が前のパルスのガス放電加熱効果によって低減されるであろうほど十分に短くなるとき、RFパルス列(164)中の電力は、バースト中のパルスの持続時間またはデューティサイクルを変動させることによって変動され、それによって、レーザ出力パルス中の出力パルス電力を一定に保つ。任意のバースト中のRFパルスは、対応するレーザ出力パルスの時間的形状を調整するために、異なる持続時間を有することができる。

Description

本発明は、一般に、無線周波(RF)励起式パルス状二酸化炭素(CO)ガス放電レーザにおける出力電力制御に関する。本発明は、特に、あるレーザ出力パルスから次のレーザ出力パルスへと一定電力を提供し、また、そのようなレーザの出力パルスの時間的形状を制御することに関する。
RF励起式密閉拡散冷却パルス状COガス放電レーザでは、パルス間の時間が、十分に短い場合、拡散冷却が、抑えられ、COレーザ発振ガス混合物中に温度上昇をもたらし得る。これは、出力パルスの特性、特に、出力パルスの上昇および降下に影響を及ぼし得る。これは、パルス毎の電力の非一貫性、故に、平均電力のばらつきにつながり得る。典型的レーザ発振ガス混合物は、約80:10:10の割合において、ヘリウム(He)、窒素(N)、およびCOを含む。
図1Aおよび図1Bは、先行技術の拡散冷却COガス放電レーザを励起させるRFパルス(図1A)と、レーザから結果として生じるレーザ出力パルス(図1B)との間の関係を比較するタイミング図を提供する。レーザは、約10.6マイクロメートル(μm)の波長で動作(レーザ発振)するように同調されると仮定される。RFパルスは、時間tにおいて開始され、時間tにおいて終了される。ここに描写されるように、RFパルスは、約100マイクロ秒以上の持続時間を有する。
最初は、レーザ出力は存在しないが、時間の経過に伴って、レーザ発振ガス混合物中のNが、RFによって励起され、次いで、衝突によって、そのエネルギーがCOに移送される。比較的に短時間後、レーザ発振ガス混合物中に初期利得スパイク(電力スパイク)が現れ、時間tにおいて、ほぼゼロに降下する。非常に短い持続時間のため、本電力スパイク中のエネルギーは、プロセスの観点から有意ではない。電力スパイクに続いて、レーザ出力電力は、徐々に上昇する。本電力上昇周期は、図1Bでは、τとして指定される。本時間の間、ガス混合物の温度は、上昇し、時間tにおいて、(レーザが同調される10.6μmCO波長における)利得は、10.6μm波長および(レーザ共振器が同調されないと仮定される)約9.6μmにおける別のレーザ発振波長に対するエネルギー遷移間の競合の結果、徐々に降下し始める。利得低減の物理特性の詳細な説明は、本発明の原理を理解するために必要ではなく、本明細書には提示されない。レーザ発振ガス混合物の加熱による10.6μm電力の徐々に降下する本周期は、図1Bでは、周期τとして指定される。時間tにおいて、RFパルスが終了されると、利得、故に、レーザパルス電力は、図1Bでは、周期τとして指定される降下時間にかけて、ゼロに向かって指数関数的に降下する。
パルスRFパルス持続時間が、十分に短くされる場合、図1Bに描写されるような個々のレーザパルスにおけるガス加熱効果は、回避され得る。しかしながら、パルス間に十分に短い持続時間を伴うレーザパルス列では、ガス加熱は、依然として、生じるが、効果は、以下に論じられる異なる方法で現れる。
図2Aおよび図2Bは、3つのRFパルス列ARF、BRF、およびCRF(図2A)と、それぞれ、結果として生じるレーザ出力パルスA、B、およびCとの間の関係を比較する、タイミング図を提供する。ここでは、RFパルスは、パルス約0.15ミリ秒(ms)間に時間Tを提供するパルス繰り返し周波数Fで送達されると仮定される。パルス持続時間(T)は、約25マイクロ秒(μs)であると仮定される。本パルス持続時間は、図1Bのt効果が回避されるほど十分に短い。しかしながら、パルス間の時間は、レーザ発振ガスが、次のパルスが開始される前に、あるパルスが開始される温度に戻らないほど十分に短い。この結果、パルスBのピーク電力PL2は、パルスAのピーク電力PL1未満であって、パルスCのピーク電力PL3は、パルスBのピーク電力PL2未満である。あるパルスから次のパルスへの本ピーク電力低減は、定常状態ガス加熱条件に達するまで継続する。パルス間の例示的0.15msおよび約100トルのレーザ発振ガス圧力の場合、これは、約7パルスが送達されるまで生じ得ることはない。
図3は、従来技術の拡散冷却COレーザ中のパルス間の時間の関数として、隔離されたレーザ出力パルス対間の測定された振幅比(菱形によって示される)を図式的に図示するグラフである。円形は、3キロヘルツ(kHz)のパルス繰り返し周波数に対応する、パルス分離時間を示す。この場合のRFパルス持続時間(励起パルス)は、約25μsであったが、類似結果は、50μsの持続時間を有するRFパルスでも得られた。連続パルスの振幅は、パルス間の時間が、約750〜1000マイクロ秒以上であるとき、ほぼ等しくなることが分かる。
印刷基板(PCB)におけるビア孔のレーザ穿孔等の繊細なレーザ機械加工動作のために、パルス間の一貫性を維持することは、非常に重要である。パルスの非一貫性の発現は、使用され得るパルス繰り返し率の上限、故に、動作の処理量の限界を定義することになる。ほとんどの場合、定常状態条件は、特定の穿孔シーケンスが、不規則な間隔において、要望に応じたパルスを要求するため、選択肢とならない。故に、その間に比較的に短い間隔を伴って、要望に応じてトリガされるレーザ出力パルスのパルス間の一貫性を維持することができる、方法および装置の必要がある。
本発明は、レーザ出力パルスの形態においてレーザ出力を提供するためのガス放電レーザを動作させる方法を対象とする。レーザは、無線周波電力供給源(RFPS)によって給電される、離間されたガス放電電極とともに、放電電極間に形成されるレーザ共振器を含む。
本発明の一側面では、本方法は、レーザ共振器を励起するために、RFPSからガス放電電極に第1のRFパルス列を送達するステップを含む。その第1の列中のRFパルスは、第1のRFパルス列が単一RFパルスであるかのように、レーザ共振器が第1のRFパルス列に応答するほど十分に短い時間だけ時間的に離間され、それによって、レーザ共振器は、第1のRFパルス列による励起に応答して、第1のレーザ出力パルスを送達する。
別の側面では、本方法はさらに、第1のRFパルス列の送達に続いて、レーザ共振器を励起させるために、RFPSからガス放電電極に第2のRFパルス列を送達するステップを含んでもよい。第2のRFパルス列中のRFパルスはまた、第2のRFパルス列が単一RFパルスであるかのように、レーザ共振器が第2のRFパルス列に応答するほど十分に短い時間だけ時間的に離間され、それによって、第1の単一レーザ出力パルスの送達に続いて、レーザ共振器は、第2のRFパルス列による励起に応答して、第2のレーザ出力パルスを送達する。その第2の列中のRFパルスの持続時間および数のうちの1つは、第1および第2のレーザ出力パルスがほぼ等しい電力を有するように選択される。
図1Aおよび図1Bは、従来技術の拡散冷却COレーザにおけるRFパルスおよび対応するレーザ出力パルスの時間の関数としての電力間の関係を図式的に図示する、タイミング図を形成する。 図2Aおよび図2Bは、従来技術の拡散冷却COレーザにおけるRFパルス列および対応するレーザ出力パルス列の時間の関数としての電力間の関係を図式的に図示する、タイミング図を形成し、ピークパルス電力は、RFパルスによるレーザ発振ガス加熱の結果として、あるパルスから次のパルスに低減される。 図3は、従来技術の拡散冷却COレーザにおけるパルス間の時間の関数としての隔離されたレーザ出力パルス対間の測定された振幅比を図式的に図示する、グラフである。 図4Aは、対応するレーザ出力パルスにおいて、図2Bのピーク電力低減を生じさせるほど、その間に十分に短い時間を有すると仮定される、第1および第2の連続する従来技術のRF励起パルスを図式的に図示する、グラフである。図4Bは、本発明による、パルス内変調を図式的に図示する、グラフであって、図4Aの従来技術のレーザパルスは、同様に、等しい持続時間であるが、第1の列より第2の列中により短いパルスを含めることによって、第2のより短いパルス列のパルス繰り返し周波数が増加され、図2Bのピーク電力低減効果を補償する、より短いパルスの連続する第1および第2の等しい持続時間列と置換される。図4Cは、本発明による、パルス内変調を図式的に図示する、グラフであって、図4Aの従来技術のレーザパルスは、各列中に同一のパルス数を伴うが、第2の列中のパルスは、第1の列中のパルスより長い持続時間を有し、図2Bのピーク電力低減効果を補償する、より短いパルスの連続する第1および第2の等しい持続時間列と置換される。図4Dは、本発明による、パルス内変調を図式的に図示する、グラフであって、図4Cの方式に類似するが、その各列中の第1のパルスは、パルス列によって生成される対応するレーザパルスの上昇時間を低下させるために、その列中の他のパルスより長い持続時間を有する。 図5は、図4Dのパルス列に類似するが、より長い第1のサブパルスに続いて、12のサブパルスが存在する、25マイクロ秒長のRFパルス列によって生成される測定されたレーザパルスを図式的に図示する、オシロスコープトレースの複製である。 図6は、図5のレーザパルスの生成のために使用される実験装置を図式的に図示する、高レベル回路図である。 図7は、本発明による、パルス内変調によってパルス電力制御を実装するための回路の一実施例を図式的に図示する、高レベル回路図である。 図7Aは、図7の回路を組み込む、ガス放電レーザを図式的に図示する。 図8A、8B、8C、および8Dは、図7の回路内のある動作モードを図式的に図示する、グラフである。
図4B、4C、および4Dは、本発明による、RF励起パルスのパルス間変調の3つの異なる実施形態を図式的に図示する。図4Aは、図4B−Dとの比較のために提供され、第1および第2の連続する非変調(従来技術の)RFパルスP1およびP2を図式的に図示し、図4B−Dの変調パルス列と比較され得る。図4Aでは、従来技術の非変調パルスはそれぞれ、同一の持続時間Tを有する。パルスP1の終了とパルスP2の開始との間には、時間Tが存在する。パルス繰り返し周期は、1/(T+T)のPRFに相当するT+Tである。TAの好ましい値は、約25μs〜約50μsである。TBの好ましい値は、約200μs以上である。
本説明の目的のために、時間Tは、レーザ出力パルスの電力が、直前のパルスの生成の間の前述のガス加熱によって低減される、約750μs以下の範囲内であると仮定される(図3参照)。図3に描写されるように、パルス間周期TBの関数として、連続するパルスの測定された電力比を表化することによって、ルックアップテーブルが形成されると仮定される。
本発明のパルス間変調方式では、その全実施形態において、先行技術の非変調(連続)パルスは、列が単一連続パルスであるかのように、レーザがパルス列に応答するほど十分に短いサブパルス間の時間を伴う、サブパルスのバーストまたは列によって置換される。これが生じるために、サブパルスのパルス間周期は、約1μsであるべきである。パルス列は、正方変調エンベロープおよび100%変調深度を伴うパルス列の持続時間を有する、変調パルスと見なされ得る。これは、パルス幅変調またはPRF変動によって、そのように変調されたパルス中の電力を便宜的に変動させることをもたらす。
図4Bの実施形態では、図4Aの連続パルスP1は、等しい振幅の5つのサブパルス列PTによって置換される。パルスは全て、100*T/(T+T)のパルス列の変調のためのパーセントデューティサイクルに対して、同一の(サブパルスオン)持続時間Tおよび同一のパルス間(サブパルスオフ)周期Tを有する。実験的に判定されたルックアップテーブルおよびTの知識から、連続するパルス列によって生成される連続するレーザパルスが同一の電力を有するように、どれだけの付加的電力が連続するパルス列PT(列PTと同一の持続時間を有する)中になければならないかが判定される。ここでは、PTは、対応するレーザパルスが等しい電力を有するために、PTの電力の1.2倍を有していなければならないと仮定される。これを達成するために、PTは、PTのサブパルスと同一の持続時間および振幅ならびに列の持続時間を有する、6つのサブパルス列となる。これは、余剰サブパルスを提供し、効果的に、PTのデューティサイクルを1.2倍(有理分数の観点では、6/5)増加させることによって、列中に付加的電力を提供する。
図4Cの実施形態では、図4Aの連続パルスP1は、再び、前述のように、等しい振幅および持続時間の5つのサブパルス列PTによって置換される。第2のパルス列PTは、列PT中と同一のPRFにおいて、同一のサブパルス数を有するが、PT中のサブパルスの持続時間(時間的「幅」)は、レーザパルス電力を一定に保つために、1.2倍増加され、付加的RF電力を提供する。再び、PTの持続時間は、PTと同一であるため、PTにおけるデューティサイクルは、PTの1.2倍である。
図4Dの実施形態では、パルスP1は、列の持続時間と比較して比較的に長い、例えば、列の持続時間の約半分長い、持続時間Tを有する初期サブパルスSP1を含む、パルス列PTによって置換される。残りのサブパルスは、図4Bおよび4Cの実施形態におけるサブパルスパルスの持続時間およびデューティサイクルに匹敵する持続時間およびデューティサイクルを有する。ここでは、サブパルスは、持続時間Tを有するように指定される。
比較的に長いサブパルスを伴う列PTから開始する理由は、対応するレーザパルスの前縁における電力を増加させ、図2Bの「ピーク状」パルスと比較して、「正方形」または「長方形」の時間的形状をレーザパルスに提供するためである。そのような「正方形」または「長方形」パルスは、あるレーザ処理動作において望ましい。本パルス内変調方式は、レーザ出力パルスの時間的分離が、同一の変調が後続パルスに印加され得るほど十分に長い場合でも有用である。しかしながら、補正が要求される場合、これは、次の励起パルス列中の全サブパルスの持続時間を比例して増加させることによって提供されることができる。これは、図4Dに図示され、列PT中の全サブパルスの持続時間は、1.2倍増加される。
ここで、図4A−Dに図式的に描写されるパルスおよびサブパルスは、実際には、電力供給源のRF周波数発振のエンベロープ(図示せず)であることに留意されたい。本RF周波数は、典型的には、約100メガヘルツ(MHz)、すなわち、発振周期は、約0.01μsである。
図5は、65%のデューティサイクルで送達される、13μsの持続時間を有する初期サブパルスに続いて、12のサブパルスから成る、25マイクロ秒長のRFパルス列によって生成される測定されたレーザパルスを図式的に図示する、オシロスコープトレースの複製である。パルス開始時の前述の「利得スパイク」効果は、明らかに明白であって、実質的である。パルスの「平坦」部分の見掛け変調は、パルス測定のために使用される検出器における電子雑音または「リンギング」であって、実際には、レーザパルス中には存在しない。これは、変調されたRFパルス列に対するレーザ応答ではない。
図5のパルスを生成するために使用される実験装置100は、図6に図式的に図示される。パルス遅延発生器102が、それぞれ、端子AおよびBから2つの同期パルス104および106を生成するために使用された。パルス持続時間およびパルスの分離は、調節可能である。遅延発生器は、Stanford Research Systems Inc.(Sunnyvale, California)製モデルDG535発生器であった。パルス104は、パルス106より早期に放出される。端子Aからのパルスの持続時間は、パルス列中の初期長サブパルスの所望の持続時間(図4Dにおける列PTの観点における持続時間T)となるように選択された。
パルス106は、関数発生器100をトリガするために使用される。使用された関数発生器は、Agilent Inc(Sunnyvale, California)から利用可能なモデル番号33220A関数発生器であった。関数発生器は、Tより短い持続時間(図4Dにおける列PTの観点における持続時間T)を有するパルス列(ここでは、3つのパルス)を放出するように調節された。持続時間Tならびにパルス列の選定されたデューティサイクルおよび持続時間は、パルス内持続時間(図4Dにおける列PTの観点における持続時間T)を決定する。パルス列は、t後の時間TG+TEにおいて、パルス106によってトリガされ、図5においてパルス列112として現れる。パルス104およびパルス列112は、反対に接続されたダイオード108および114に接続される。パルス列は、ダイオード間のノード116において加算され、パルス列118(図4Dにおけるパルス列PTに相当する)を提供し、これは、レーザの放電電極に接続されたRFPS120からのRFパルスを命令するために使用される。
ここで、図6の実験回路は、単に、レーザ出力パルスを「正方化」するために、図4Dに描写されるタイプの変調されたパルス(パルス列)を形成することが可能であることに留意されたい。回路は、図4B−Dのモードのいずれかにおいて、本発明のパルス内変調によってパルス間出力電力制御を実装するためのいかなる規定も有していない。
図7は、本発明による、パルス内変調によるパルス間パルス電力制御を実装するための回路の一実施例を図式的に図示する、高レベル回路図130である。回路の説明は、図8A、8B、8C、および8Dに加え、図4Aおよび図4Dを参照して、以下に説明される。本説明では、図4Dに描写される「平方化」タイプのサブパルス列、例えば、サブパルス列PTが、既に生成されていると仮定する。
端子132において、ユーザ提供(PC、マイクロプロセッサ、または同等物から)パルスコマンド134が、提供される。コマンド134は、前に送達された図4AのパルスP1に対応する類似コマンドを伴う、図4Aの従来技術の(非変調)パルスP2に等しくあり得る。パルス134は、ノード136において分割され、ある部分は、ANDゲート138のある入力に接続され、別の部分は、オフ時間測定回路140に接続され、別の部分は、前述のように、パルス列デューティサイクルに対するパルスコマンド間のデータ関連時間を含むルックアップテーブル(LUT)を含む、勾配発生器142に接続される。コマンドパルスのさらに別の部分は、高周波パルス発生器144および起動タイマ146の両方に接続される。コマンドパルス134の持続時間は、コマンドに対応するサブパルス列、例えば、図4Dのサブパルス列PTの持続時間を決定する。
オフ時間測定回路140は、前のパルスコマンドの終了以降の経過した時間toffを測定する。これは、回路142に伝送され、記憶されたLUTからデューティサイクル値を判定する。デューティサイクル値は、送達されるべきサブパルス列(図4DのPT)中の電力と前のサブパルス列(図4DのPT)によって送達されたその電力とを等しくするために要求されるものである。要求されるデューティサイクル値は、高周波パルス発生器144に通信される。デューティサイクル値は、列中のサブパルスのPRFの要求される増加として(図4Bに描写されるように)、または列中のサブパルスの持続時間の増加として(図4Cおよび4D)、解釈される。いずれの方法が実装される場合でも、パルス発生器144は、コマンドパルス134の一部の受信に応答して、所望のサブパルス列中のパルスの選択されたPRF、またはそのパルス間周期に対応する持続時間を有する、立ち下りパルス列148(要求されるサブパルスに対応する)を放出する。
コマンドパルス134の一部の受信に応答して、起動タイマ146は、サブパルス列中の延長初期パルスに対応する持続時間を有する、立ち上りパルス150を生成する。パルス150の持続時間は、サブパルス列毎に一定である、または高周波パルス発生器144から中継される、LUT110からのデューティサイクルまたはパルス持続時間データを使用して、パルス列毎に調節されることができる。立ち下りパルス列148およびパルス150は、ORゲート152の別個の入力に接続される。いずれかのパルスからの信号が、ORゲートの2つの入力のうちの一方に存在すると、ANDゲートの他方の入力への出力信号が、提供される。ANDゲートの出力は、図4DのサブパルスPTEに類似するサブパルス列154である。本サブパルス列は、コマンドパルス134の立ち下りエッジによって終了され、これはまた、別のパルスコマンドを見込んで、パルス発生器144および起動タイマ146をリセットする。
図7Aは、本発明による、ガス放電レーザ160内に組み込まれた図7Aのコマンドパルス変調回路を図式的に図示する。回路130からのパルス列(変調されたコマンドパルス)154は、RFPS162に送達される。変調されたコマンドパルスの受信に応答して、RFPSは、対応するRFサブパルス列、すなわち、変調されたRFパルスを、ライブまたは「ホット」電極168および接地電極170を含む、電極アセンブリ166に送達する。本列中のパルスは、励起パルスとして特徴付けられ得る。RFPS162は、インピーダンス整合ネットワークを含み、当技術分野において公知のように、RFPSの出力インピーダンスと電極のインピーダンスを整合させる。レーザ共振器(ここでは、不安定レーザ共振器)が、鏡172と174との間に形成される。電極および共振器は、同様に、当技術分野において公知のように、レーザ発振ガス混合物を含む、筐体(図示せず)内にある。前述のように、本発明の方法では、サブパルス間の時間は、サブパルス列が、連続パルスであるかのように、サブパルス列によって励起されたレーザ発振ガス混合物が応答するほど十分に短くされる。その結果、単一レーザ出力パルス176のみ、サブパルス列164による励起に応答して、レーザ共振器によって送達される。
ここで、図7の回路実施例は、本発明のパルス内変調方法を実装するための回路の一実施例にすぎないことに留意されたい。本回路説明および本明細書に提示される本発明のパルス内変調方法の説明から、電子技術の当業者は、本発明の精神および範囲から逸脱することなく、本発明の方法を実装するための他の回路も考案し得る。
要するに、本発明は、本明細書では、好ましい実施形態および他の実施形態の観点から説明される。しかしながら、本発明は、本明細書に説明および描写される実施形態に限定されない。むしろ、本発明は、本明細書に添付の請求項によってのみ限定される。

Claims (20)

  1. レーザ出力パルスの形態においてレーザ出力を提供するためのガス放電レーザを動作させる方法であって、前記レーザは、無線周波電力供給源(RFPS)によって給電される、離間されたガス放電電極とともに、前記放電電極間に形成されるレーザ共振器を含み、
    前記方法は、
    前記レーザ共振器を励起するために、前記RFPSから前記ガス放電電極に第1のRFパルス列を送達するステップであって、前記列中の各パルスは、複数のサイクルのRFエネルギーを含み、前記第1のRFパルス列内のRFパルスは、前記第1のRFパルス列が単一RFパルスであるかのように、前記レーザ共振器が前記第1のRFパルス列に応答するほど十分に短い時間だけ時間的に離間され、それによって、前記レーザ共振器は、前記第1のRFパルス列による励起に応答して、第1のレーザ出力パルスを送達する、ステップ
    を含む、方法。
  2. 前記第1のRFパルス列は、第1の持続時間を有する初期パルスに続いて、前記第1の持続時間より短い第2の持続時間を有する複数のパルスを含む、請求項1に記載の方法。
  3. その前記第1の列中のRFパルスは全て、同一の持続時間を有する、請求項1に記載の方法。
  4. 前記第1のRFパルス列の送達に続いて、前記レーザ共振器を励起させるために、前記RFPSから前記ガス放電電極に第2のRFパルス列を送達するステップであって、前記第2の列中の各パルスは、複数のサイクルのRFエネルギーを含み、前記第2のRFパルス列中のRFパルスは、前記第2のRFパルス列が、単一RFパルスであるかのように、前記レーザ共振器が前記第2のRFパルス列に応答するほど十分に短い時間だけ時間的に離間され、それによって、前記第1の単一レーザ出力パルスの送達に続いて、前記レーザ共振器は、前記第2のRFパルス列による励起に応答して、第2のレーザ出力パルスを送達し、その前記第2の列中のRFパルスの持続時間および数のうちの1つは、前記第1および第2のレーザ出力パルスがほぼ等しい電力を有するように選択される、ステップ
    をさらに含む、請求項1に記載の方法。
  5. 前記第1および第2のRFパルス列は、ほぼ同一の持続時間を有する、請求項4に記載の方法。
  6. 前記第1および第2のRFパルス列は、同一のパルス数をその中に有する、請求項5に記載の方法。
  7. その前記第1の列中のRFパルスは、第1の持続時間を有し、その前記第2の列中のRFパルスは、第2の持続時間を有し、前記第2の持続時間は、前記第1の持続時間より長い、請求項6に記載の方法。
  8. 前記第1のRFパルス列は、第1の持続時間を有する初期パルスに続き、それぞれ、第2の持続時間を有する複数のパルスを含み、第2のRFパルス列は、第3の持続時間を有する初期パルスに続き、それぞれ、第4の持続時間を有する複数のパルスを含み、前記第3の持続時間は、前記第1の持続時間より長く、前記第4の持続時間は、前記第2の持続時間より長い、請求項6に記載の方法。
  9. その前記第1および第2の列中のRFパルスの持続時間は、同一であり、その前記第2の列中のパルス数は、その前記第1の列中のパルス数より多い、請求項5に記載の方法。
  10. その前記第2の列中のRFパルスの数または持続時間の選択は、前記第1のレーザ出力パルスの終了と前記第2のレーザ出力パルスの開始との間の時間に依存する、請求項4に記載の方法。
  11. ガス放電レーザ装置であって、
    離間された放電電極と、
    前記放電電極間に延在するレーザ共振器と、
    前記レーザ共振器を励起するために、前記放電電極に接続された無線周波電力供給源(RFPS)と、
    前記RFPSに接続された電子回路であって、前記電子回路は、第1のコマンドパルスを受信し、前記コマンドパルスを第1のコマンドパルス列に変換し、前記第1のコマンドパルス列を前記RFPSに送達し、それによって、前記RFPSに、第1の励起パルス列が単一RF励起パルスであるかのように、前記レーザ共振器が前記第1の励起パルス列に応答するほど十分に短い前記RF励起パルス間の時間的間隔を伴って、対応する第1のRF励起パルス列を前記レーザ共振器に送達させるように構成および配列され、それによって、前記レーザ共振器は、前記第1のRF励起パルス列による励起に応答して、第1の単一レーザ出力パルスを送達する、電子回路と
    を備える、装置。
  12. 前記電子回路はさらに、前記第1のコマンドパルスの受信に続いて、第2のコマンドパルスを受信し、前記第1のコマンドパルスの終了と前記第2のコマンドパルスの開始との間の時間を判定し、前記第2のコマンドパルスを第2のコマンドパルス列に変換し、前記第2のコマンドパルス列を前記RFPSに送達し、それによって、前記RFPSに、第2の励起パルス列が、単一RF励起パルスであるかのように、前記レーザ共振器が前記第2の励起パルス列に応答するほど十分に短い前記RF励起パルス間の時間的間隔を伴って、対応する第2のRF励起パルス列を前記レーザ共振器に送達させるように構成および配列され、それによって、前記レーザ共振器は、前記第2のRF励起パルス列による励起に応答して、第2の単一レーザ出力パルスを送達し、前記第2のコマンドパルス列中と、それに対応して、前記第2のRF励起パルス列中のパルスの数および持続時間のうちの1つは、前記第1のコマンドパルスの終了と前記第2のコマンドパルスの開始との間の前記判定された時間に基づいて、前記第1および第2のレーザ出力パルスが、ほぼ等しい電力を有するように選択される、請求項11に記載の装置。
  13. ガスレーザを動作させる方法であって、前記レーザは、電極間でガスを励起させるために、無線周波(RF)電力供給源に接続された電極を含み、
    前記方法は、
    第1のレーザパルスを産生するために、コマンドを生成するステップと、
    第1のレーザパルスを産生するための前記コマンドに応答して、RF電力の第1のエンベロープを前記電極に送達し、前記第1のエンベロープは、第1のパルス列を含み、前記列中の各パルスは、複数のサイクルのRFエネルギーを含む、ステップと、
    第2のレーザパルスを産生するためのコマンドを生成するステップと、
    第2のレーザパルスを産生するための前記コマンドに応答して、RF電力の第2のエンベロープを前記電極に送達し、前記第1および第2のエンベロープは、ほぼ同一の持続時間を有し、前記第2のエンベロープは、第2のパルス列を含み、前記列中の各パルスは、複数のサイクルのRFエネルギーを含み、前記第2のレーザパルスを産生するための前記第1のレーザパルスの終了と前記第2のコマンドの開始との間の時間が、所定の周期より短い場合、前記第2のレーザパルス中のエネルギーが、前記第1のレーザパルス中のエネルギーにより密接に一致するように、前記第2のパルス列中のパルスのデューティサイクルを増加させるステップと
    を含む、方法。
  14. 前記第2のパルス列中のデューティサイクルは、前記第1のレーザパルスの終了と前記第2のレーザパルスを産生するための第2のコマンドの生成との間の時間に逆比例する量だけ増加される、請求項13に記載の方法。
  15. 前記所定の周期は、前記第1および第2のパルス列中のデューティサイクルが不変のままである場合、前記第2のレーザパルスは、依然として、前記第1のレーザパルスとほぼ同一のエネルギーを有するであろう、最短時間に対応する、請求項13に記載の方法。
  16. 前記第2のパルス列のデューティサイクルは、前記第2のパルス列中のパルス数を増加させることによって増加される、請求項13に記載の方法。
  17. 前記第2のパルス列のデューティサイクルは、前記第2のパルス列中のパルスの長さを増加させることによって増加される、請求項13に記載の方法。
  18. 各パルス列中の前記第1のパルスは、前記列中のパルスの残りより長い、請求項13に記載の方法。
  19. 前記レーザパルスは、孔をワークピース内に穿孔するために使用される、請求項13に記載の方法。
  20. 前記レーザパルスは、ビア孔を印刷基板内に穿孔するために使用される、請求項13に記載の方法。
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