JP2015517723A - タンデム質量分析計内のインターリービング窓幅を使用するためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2012年5月18日に出願された米国仮特許出願第61/649,199号の利益を主張する。上記文献の内容は、その全体として参照することによって本明細書において援用される。
定質的かつ定量的両方の情報は、タンデム質量分析計から得ることができる。そのような器具では、前駆体イオンが、第1の質量分析器において選択され、断片化され、断片が、第2の質量分析器または第1の分析器の第2の走査において分析される。断片イオンスペクトルは、分子を同定するために使用することができ、1つ以上の断片の強度は、試料内に存在する化合物の量を定量化するために使用することができる。
図1は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム100を例証する、ブロック図である。コンピュータシステム100は、情報を通信するためのバス102または他の通信機構と、情報を処理するために、バス102と結合されたプロセッサ104と、を含む。コンピュータシステム100はまた、プロセッサ104によって実行される命令を記憶するために、バス102に結合される、ランダムアクセスメモリ(RAM)または他の動的記憶デバイスであり得る、メモリ106を含む。メモリ106はまた、プロセッサ104によって実行される命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するために使用されてもよい。コンピュータシステム100はさらに、プロセッサ104のための静的情報および命令を記憶するために、バス102に結合された読取専用メモリ(ROM)108または他の静的記憶デバイスを含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス110は、情報および命令を記憶するために、提供され、バス102に結合される。
前述のように、窓化質量分析走査を使用して、質量範囲全体を走査するための一例示的方法は、逐次窓化取得(SWATH)と呼ばれる。しかしながら、SWATHユーザは、SWATH実験数、蓄積時間、およびまたピークにわたるデータ点の数の平衡を保つ必要がある。
2C=走査2+走査3−走査1−走査4(1)
図5は、種々の実施形態による、重複測定質量選択窓幅を使用して、試料を分析するためのシステム500を示す、概略図である。システム500は、タンデム質量分析計510およびプロセッサ520を含む。プロセッサ520は、限定ではないが、コンピュータ、マイクロプロセッサ、または制御信号およびデータを質量分析計510から送受信し、データを処理可能な任意のデバイスであることができる。
図6は、種々の実施形態による、重複質量選択窓幅を使用して、試料を分析するための方法600を示す、例示的流れ図である。
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、有形コンピュータ可読記憶媒体を含み、そのコンテンツは、重複質量選択窓幅を使用して、試料を分析するための方法を行うように、プロセッサ上で実行される命令を伴う、プログラムを含む。本方法は、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含む、システムによって行われる。
Claims (20)
- 重複測定質量選択窓幅を使用して、試料を分析するためのシステムであって、前記システムは、
重複測定質量選択窓幅を可能にする質量分析器を含むタンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、試料の質量範囲を2つ以上の標的質量選択窓幅に分割し、前記タンデム質量分析計に、前記質量範囲にわたって2つ以上の断片化走査を行うように命令し、前記2つ以上の断片化走査の各断片化走査は、測定された質量選択窓幅を備え、前記2つ以上の断片化走査のうちの少なくとも2つの断片化走査の測定された質量選択窓幅内の重複は、前記2つ以上の標的質量選択窓幅の少なくとも1つの標的質量選択窓幅に対応する、システム。 - 前記2つ以上の標的質量選択窓幅は、同一の幅を有する、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 前記2つ以上の標的質量選択窓幅は、可変幅を有する、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 前記2つ以上の断片化走査の2つ以上の測定された質量選択窓幅は、同一の幅を有する、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 前記2つ以上の断片化走査の2つ以上の測定された質量選択窓幅は、可変幅を有する、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 前記2つ以上の標的質量選択窓幅の各標的質量選択窓幅は、同一の数の測定された質量選択窓幅を含む重複測定質量選択窓幅に対応する、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 前記2つ以上の標的質量選択窓幅の各標的質量選択窓幅は、可変数の測定された質量選択窓幅を含む重複測定質量選択窓幅に対応する、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 前記プロセッサはさらに、前記少なくとも2つの断片化走査の測定された質量選択窓幅からの情報を組み合わせることによって、前記少なくとも1つの標的質量選択窓幅に関する情報を抽出することを含む、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 前記少なくとも2つの断片化走査の測定された質量選択窓幅からの情報を組み合わせることは、数学演算を含む、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 前記少なくとも2つの断片化走査の測定された質量選択窓幅からの情報を組み合わせることは、論理演算を含む、先行システム請求項に記載の任意の組み合わせのシステム。
- 重複測定質量選択窓幅を使用して、試料を分析するための方法であって、前記方法は、
プロセッサを使用して、試料の質量範囲を2つ以上の標的質量選択窓幅に分割することと、
タンデム質量分析計に、プロセッサを使用して、前記質量範囲前記にわたって、2つ以上の断片化走査を行うように命令することと
を含み、
前記2つ以上の断片化走査の各断片化走査は、測定された質量選択窓幅を備え、前記2つ以上の断片化走査のうちの少なくとも2つの断片化走査の測定された質量選択窓幅内の重複は、前記2つ以上の標的質量選択窓幅の少なくとも1つの標的質量選択窓幅に対応する、方法。 - 前記2つ以上の標的質量選択窓幅は、同一の幅を有する、先行方法請求項に記載の任意の組み合わせの方法。
- 前記2つ以上の標的質量選択窓幅は、可変幅を有する、先行方法請求項に記載の任意の組み合わせの方法。
- 前記2つ以上の断片化走査の2つ以上の測定された質量選択窓幅は、同一の幅を有する、先行方法請求項に記載の任意の組み合わせの方法。
- 前記2つ以上の断片化走査の2つ以上の測定された質量選択窓幅は、可変幅を有する、先行方法請求項に記載の任意の組み合わせの方法。
- 前記2つ以上の標的質量選択窓幅の各標的質量選択窓幅は、同一の数の測定された質量選択窓幅を含む重複測定質量選択窓幅に対応する、先行方法請求項に記載の任意の組み合わせの方法。
- 前記2つ以上の標的質量選択窓幅の各標的質量選択窓幅は、可変数の測定された質量選択窓幅を含む重複測定質量選択窓幅に対応する、先行方法請求項に記載の任意の組み合わせの方法。
- 前記プロセッサを使用して、前記少なくとも2つの断片化走査の測定された質量選択窓幅からの情報を組み合わせることによって、前記少なくとも1つの標的質量選択窓幅に関する情報を抽出することをさらに含む、先行方法請求項に記載の任意の組み合わせの方法。
- 有形コンピュータ可読記憶媒体を備えるコンピュータプログラム製品であって、前記有形コンピュータ可読記憶媒体のコンテンツは、重複測定質量選択窓幅を使用して試料を分析するための方法を行うようにプロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含み、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、前記個別のソフトウェアモジュールは、分析モジュールおよび断片化走査モジュールを備える、ことと、
前記分析モジュールを使用して、試料の質量範囲を2つ以上の標的質量選択窓幅に分割することと、
タンデム質量分析計に、前記断片化走査モジュールを使用して、前記質量範囲にわたって、2つ以上の断片化走査を行うように命令することと
を含み、
前記2つ以上の断片化走査の各断片化走査は、測定された質量選択窓幅を備え、前記2つ以上の断片化走査のうちの少なくとも2つの断片化走査の測定された質量選択窓幅内の重複は、前記2つ以上の標的質量選択窓幅の少なくとも1つの標的質量選択窓幅に対応する、コンピュータプログラム製品。 - 前記少なくとも2つの断片化走査の測定された質量選択窓幅からの情報を組み合わせることによって、前記少なくとも1つの標的質量選択窓幅に関する情報を抽出することをさらに含む、先行コンピュータプログラム製品請求項に記載の任意の組み合わせのコンピュータプログラム製品。
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