JP4191094B2 - マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法及びマススペクトル解析プログラム - Google Patents
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Description
14 ピーク位置検出部、15 一致度算出部、16 一致度の差算出部、
17 表示部、20 計測装置、
51 窓、52 窓の形状
Claims (9)
- 複数のサンプルに対して計測されたマススペクトルを解析するマススペクトル解析装置であって、
前記マススペクトルがピークとなるピーク位置を検出するピーク位置検出手段と、
複数の前記マススペクトルにおいて検出された前記ピーク位置が質量数に対して幅を持つ窓であって、複数の前記マススペクトル間で同じ質量数の範囲を示すように設定された窓に含まれる数に基づいて複数の前記マススペクトル間のピークの一致度を算出する一致度算出手段とを備えるマススペクトル解析装置。 - 前記窓の位置に応じてピークの数が重み付けされていることを特徴とする請求項1記載のマススペクトル解析装置。
- 異なる2群のサンプルに対して前記複数のマススペクトルがそれぞれ計測され、
前記異なる2群の前記一致度の差を算出する一致度の差算出手段をさらに備える請求項1又は2記載のマススペクトル解析装置。 - 複数のサンプルに対して計測されたマススペクトルを解析するマススペクトル解析方法であって、
前記マススペクトルがピークとなるピーク位置を検出するピーク位置検出ステップと、
複数の前記マススペクトルにおいて検出された前記ピーク位置が質量数に対して幅を持つ窓であって、複数の前記マススペクトル間で同じ質量数の範囲を示すように設定された窓に含まれる数に基づいて複数のマススペクトル間のピークの一致度を算出する一致度算出ステップとを備えるマススペクトル解析方法。 - 前記窓の位置に応じてピークの数が重み付けされていることを特徴とする請求項4記載のマススペクトル解析方法。
- 異なる2群のサンプルに対して前記複数のマススペクトルがそれぞれ計測され、
前記異なる2群の前記一致度の差を算出する一致度の差算出ステップをさらに備える請求項4又は5記載のマススペクトル解析方法。 - 複数のサンプルに対して計測されたマススペクトルを解析するマススペクトル解析プログラムであって、
コンピュータに対して、
前記マススペクトルがピークとなるピーク位置を検出させるピーク位置検出ステップと、
複数の前記マススペクトルにおいて検出された前記ピーク位置が質量数に対して幅を持つ窓であって、複数の前記マススペクトル間で同じ質量数の範囲を示すように設定された窓に含まれる数に基づいて複数のマススペクトル間のピークの一致度を算出させる一致度算出ステップとを備えるマススペクトル解析プログラム。 - 前記窓の位置に応じてピークの数が重み付けされていることを特徴とする請求項7記載のマススペクトル解析プログラム。
- 異なる2群のサンプルに対して前記複数のマススペクトルがそれぞれ計測され、
前記異なる2群の前記一致度の差を算出させる一致度の差算出ステップをさらに備える請求項7又は8記載のマススペクトル解析プログラム。
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