JP2015517024A - 単結晶ミクロ構造およびそれに関する方法と機器 - Google Patents

単結晶ミクロ構造およびそれに関する方法と機器 Download PDF

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Abstract

製品、例えば、一つ以上の薄板であって、それぞれが単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む薄板が提供される。一つの態様において、介在物含有磁性ミクロ構造はガルフェノール炭化物ミクロ構造である。様々な方法と機器、ならびに組成物も記載される。【選択図】図2

Description

関連出願
[0001]本出願は米国仮出願61/610256号(2012年3月13日提出)の米国特許法第119条(e)による利益について権利主張するものであり、その出願と公報は、それらの全体がそのままで参考文献として本明細書に取り込まれる。
本発明は、適切に配向した結晶粒から成る望ましいエータ(η)-繊維組織のような、望ましい繊維組織を有する単結晶の、またはほぼ単結晶の磁歪性ミクロ構造を含む介在物含有磁性材料に関する。本発明はまた、その材料を製造および使用する方法、ならびにこれらのミクロ構造を含む機器に関する。
[0002]作動器(アクチュエーター)やセンサーなどの多くの機器は、望ましい結果を得るためには適切なフォームファクター(形状因子)を備えたスマートマテリアル(知的材料)を拠りどころとしている。しかし、多くのそのような材料は、適切なフォームファクターを備えているようには製造することができておらず、そして/または、それらを製造するのに用いられる方法が適切な特性を付与することを達成しないために、望ましい集合組織または最適な性能を備えていない。
[0003]最適な性能を得るために望ましい繊維組織(例えば、η-繊維組織)を伴った適切なフォームファクターを備えたスマートマテリアルに対する必要性を、発明者らは認識している。一つの態様において、一つ以上の薄板を含む製品であって、各々の薄板が単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含んでいる製品が提供される。一つの態様において、介在物含有磁性ミクロ構造はガルフェノール(Galfenol)炭化物ミクロ構造である。
[0004]一つの態様において、一つ以上の薄板を製造する方法が提供され、この方法は、一種以上のフォームファクター成分をドーパント、磁性材料、磁性材料の性能向上剤および析出物形成剤とともに溶解し、それにより溶融した合金を製造すること;溶融した合金を型の中に注入し、それにより少なくとも一つのインゴットを製造すること;場合により、その少なくとも一つのインゴットをさらに加工すること;少なくとも一つのインゴットについて厚さの低減処理と焼鈍を行い、それにより一つ以上の焼鈍した薄板を製造すること;および、その一つ以上の焼鈍した薄板について集合組織焼鈍(texture annealing)を行い、それにより一つ以上の薄板であって各々の薄板が単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む薄板を製造すること;を含む。
[0005]一つの態様において、一つ以上の磁性の薄板(磁気シート)の性能を向上させる方法が提供され、この方法は、磁性材料に一種以上のフォームファクター成分、ドーパント、磁性材料の性能向上剤および析出物形成剤を添加し、それにより溶融した合金を得ること;溶融した合金を型の中に注入し、それにより一つ以上のインゴットを製造すること;場合により、その一つ以上のインゴットをさらに加工すること;一つ以上のインゴットについて厚さの低減処理と焼鈍を行い、それにより一つ以上の焼鈍した薄板を製造すること;および、その一つ以上の焼鈍した薄板について集合組織焼鈍を行い、それにより一つ以上の磁性の薄板であって各々の薄板が単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む薄板を製造すること;を含む。
[0006]一つの態様において、(Fe-Ga-Al-Mo-Ge-Sn-Si-Be)(Nb-Ti-Mo-Ta-W(C-N-B-S)(ここで、a≧98、b≦1、c≦1、d≦2、そして(a+b+c=100))の組成式を有する磁性ミクロ構造を含む組成物が提供される。一つの態様において、d=1または2である。一つの態様において、この組成物は(Fe-Ga)99(Nb)0.5(C)0.5から成る。
[0007]一つの態様において、各々が単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む薄板または薄板の集まりを含む機器が提供される。この機器には、例えば、約20kHz以下、またはそれ以上、例えば50kHz以下といった高い周波数で作動する作動器、センサーまたは環境発電機が含まれる。そのような機器は、医療機器の分野(例えば、組織や骨を切断するための刃を作動させる作動器)、製造プラント(例えば、プラントの内部の無線センサー網に動力を供給するために振動エネルギーを収集するための振動式モーターに付属したもの)、その他同種類のものなどの、広範囲の用途で用いることができる。
[0008]この特許または出願の書類にはカラーで制作された少なくとも一つの図面が含まれる。この特許または特許出願をカラー図面とともに公表したもののコピーは、要求があったときに、必要な料金を支払うとともに特許庁に提出されるだろう。
[0009]図1は、介在物を含まないガルフェノールの薄板の一般的な走査型電子顕微鏡(SEM)/後方散乱電子回折(SEM/EBSD)の画像を示す。 [0010]図2は、一つの態様に従って単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物を含む磁性ミクロ構造を含む薄板を製造する方法を示す流れ図である。 [0011]図3は、本発明に従って図2のインゴットについて厚さを低減して焼鈍する方法を示す流れ図である。 [0012]図4は、一つの態様に従って図2のインゴットをさらに加工する方法を示す流れ図である。 [0013]図5は、様々な態様に係る一般的な磁歪(ppm)対回転角度(度)の曲線を示すグラフである。 [0014]図6は、実施例1において製造した集合組織焼鈍をした薄板の一部の巨視的な(肉眼で見える)画像を示し、様々な態様に係るSEM/EBSDと磁歪のそれぞれについての試験サンプルの位置(実線)が示されている。 [0015]図7は、一つの態様に関して図6で示した磁歪サンプルの領域のSEM/EBSD画像(200倍)を示す。 [0016]図8は、様々な態様に関して図7で示す結晶粒についてのエータ(η)-繊維組織と圧延方向(RD)との間の配向不整角度(すなわち、以下では「配向不整」という)を示すヒストグラム(度数分布図)である。 [0017]図9は、様々な態様に関して図7で示す結晶粒についての極点図の解析を示す。 [0018]図10は、実施例2において製造した集合組織焼鈍をした薄板の一部の巨視的な画像を示し、様々な態様に係る磁歪の解析と集合組織の解析(SEM/EBSD)のそれぞれについての試験サンプルの位置(破線)が示されている。 [0019]図11A(500倍)と図11B(1500倍)は、一つの態様に関して図10で示した磁歪サンプルの領域のSEM画像を示す。 [0020]図12Aは、図10の磁歪サンプルの領域における結晶粒についてのEBSDによる方位画像化マップ(200倍)を示し、「#1」、「#2」および「#3」と番号付けしたものは様々な態様に係る三つの異なる結晶粒の領域を示す。 [0021]図12Bは、様々な態様に関して図12Aで示す三つの結晶粒についての配向不整を示すヒストグラムである。 [0022]図13は、様々な態様に関して図12Bで示す三つの結晶粒についての極点図の解析を示す。 [0023]図14は、実施例3において製造した集合組織焼鈍をした薄板の一部の巨視的な画像を示し、様々な態様に係る集合組織の解析(SEM/EBSD)と磁歪の解析(#1および#2)についての試験サンプルの位置(破線)が示されている。 [0024]図15は、図14の磁歪サンプルの領域における結晶粒についてのEBSDによる方位画像化マップを示し、#1(6°の配向不整)および#2(15°の配向不整)と番号付けしたものは様々な態様に係る二つの異なる結晶粒の領域を示す。 [0025]図16は、様々な態様に関して図15で示す二つの結晶粒についての配向不整を示すヒストグラムである。 [0026]図17は、様々な態様に関して図15で示す二つの結晶粒についての極点図の解析を示す。 [0027]図18は、実施例4において製造した集合組織焼鈍をした薄板の一部の巨視的な画像を示し、様々な態様に係る磁歪(「MS」)とSEM/EBSD(「A」)のそれぞれについての試験サンプルの位置(実線)が示されている。 [0028]図19は、図18の磁歪サンプルの領域における結晶粒についてのEBSDによる方位画像化マップを示し、「#1」、「#2」および「#3」と番号付けしたものは様々な態様に係る三つの異なる結晶粒の領域を示す。 [0029]図20は、様々な態様に関して図19で示す三つの結晶粒についての配向不整を示すヒストグラムである。 [0030]図21は、様々な態様に関して図19で示す三つの結晶粒についての極点図の解析を示す。 [0031]図22は、一つの態様に関して図18において「MS」と表示した領域からのサンプルについてのマイクロプローブ分析によるSEM画像(150倍)である。 [0032]図23は、実施例5において製造した集合組織焼鈍をした薄板の集合組織の解析(SEM/EBSD)である。 [0033]図24は、図23で示す結晶粒についての配向不整を示すヒストグラムである。 [0034]図25は、図23で示す結晶粒についての極点図の解析を示す。 [0035]図26は、様々な態様に係る幾つかの典型的なサンプルについての測定された飽和磁歪対配向不整角度を示すグラフである。
[0036]本発明の態様についての以下の詳細な説明において、各態様は当業者がそれらを実施できる程度に十分に詳しく説明され、本発明の主題の真意と範囲から逸脱することなく他の態様を用いることができて、また化学的な変更または手順上の変更を成しうるということが理解されるべきである。従って、以下の詳細な説明は限定的な意味で解釈されるべきではなく、本発明の態様の範囲は添付する特許請求の範囲によってのみ確定される。以下の詳細な説明は定義づけの項で始まり、続いてガルフェノールについての簡潔な概略、実施態様についての説明、実施例の項、および簡潔な結論と続く。
[0037]ここで用いられる「インゴット」という用語は、さらなる加工に適した形状に鋳造された中間製品を指す。
[0038]ここで用いられる「薄板(sheet)」という用語は、圧延などによってさらに加工されたインゴットを指す。
[0039]「スマートマテリアル(知的材料)」という用語は、応力、温度、湿度、pH、電界または磁界のような外部からの刺激によって制御されたやり方で変化しうる一つ以上の特性を有する材料を指す。
[0040]ここで用いられる「磁歪」という用語は、磁界に晒されたときに強磁性材料がその形状または寸法の変化を起す強磁性材料の特性を指し、そのような特性は材料の磁気ひずみが変化する結果として生じる。加えた磁界によって材料の磁化が変化することによって、磁気ひずみはその飽和値λに達するまで変化する。磁歪性材料はスマートマテリアルの一種である。本明細書において条件をつけずに用いる場合、「磁歪」という用語は「飽和磁歪」を指すことを意図している。
[0041]ここで用いられる「うず電流損」という用語は、変化する磁界またはAC状態(交流状態)に晒されたときに、磁歪性材料のような導電体の中で発生する電流を指す。そのような電流は内部磁界の形成を誘導し、それは外部で変化する磁界を妨害し、従って、磁歪性材料の効率を低下させる。
[0042]ここで用いられる「ガルフェノール(Galfenol)」という用語は、主として鉄とガリウムで構成される合金を指す。
[0043]ここで用いられる「軟質」という用語は、1kA/m(12.5 Oe)未満の保磁力を有するか、あるいは飽和に達するのに低い磁界(すなわち、<1000Oe)を要する磁性材料を指す。
[0044]ここで用いられる「環境発電機(energy harvester)」という用語は、その周囲からエネルギーを収集する機器を指す。太陽電池と風力タービンは環境発電機の例である。ポンプ、モーター、送風機、その他同種類のものからの振動は、磁歪性材料から製造された振動に基づく環境発電機を使用して電気エネルギーに変換することができる。
[0045]ここで用いられる「繊維組織」または「集合組織」または「エータ(η)-繊維組織」という用語は、結晶方位を指す。ガルフェノールについて望ましい繊維組織は、ミラー指数の表示法によって定義すると、加えた磁界または応力の方向に平行な<001>である。ガルフェノールのような体心立方晶(bcc)金属については、この集合組織は「エータ(η)-繊維組織」とも定義される。
[0046]ここで用いられる「圧延方向」または「(RD)」という用語は、圧延される金属の薄板の面内の方向であって、圧延を行う際のロールの軸(すなわち、縦方向)に垂直な方向を指す。
[0047]ここで用いられる「繊維組織の配向不整(エータ(η))」または「繊維組織の配向不整角度」または「配向不整」という用語は、エータ(η)-繊維組織結晶粒(すなわち、エータ(η)-繊維組織)と圧延方向(RD)との間の(角度の)ずれを指す。弱い配向不整は約15度未満である。中程度の配向不整は約16度と約30度の間である。強い配向不整は少なくとも約31度である。
[0048]ここで用いられる「薄い」という用語は、0.110インチ(2.8mm)未満の厚さを有する材料を指す。
[0049]ここで用いられる「ほぼ単結晶」という用語は、比較的大きな単結晶の領域の中に数個の小さな結晶粒を含むミクロ構造を指す。従って、「ほぼ単結晶の薄板」はそのようなミクロ構造を含む薄板を指す。
[0050]ここで用いられる「注入温度」または「注入点」という用語は、溶融した金属を型の中に注ぎ、そして実質的に型を満たすことのできる過熱温度を指す。これは、固体が固体から液体へと状態を変化させるもっと低い温度である「溶融温度」とは異なる。
[0051]ここで用いられる「トランプエレメント」という用語は、鉄鉱石の中に含まれる不純物元素であって、鉄鉱石をシムストックに転化するプロセスの間に除去されない元素を指す。トランプエレメントには周期表を通しての多くの様々な元素が含まれ、それらの濃度は典型的に10ppmw未満である。
[0052]ここで用いられる「シムストック(shim stock)」という用語は、金属(例えば、アルミニウム、黄銅、低炭素鋼など)の薄い(≦0.031インチ(0.079cm))板を指す。1008〜1010低炭素鋼はシムストックの一例である。
[0053]ここで用いられる「ドーパント(微量添加元素)」という用語は、物質の特性を変えるためにその物質に添加される元素を指す。結晶質の物質の場合、ドーパントの原子は材料の結晶格子の中にあった元素と入れ代わることができ、あるいは結晶格子の周期性によって作り出される空間の中に割り込む。溶融工程の前に合金系において用いられる場合、ドーパントは後続の加工工程においてマトリックス(の混合物)の全体に分散して残る。
[0054]ここで用いられる「介在物」という用語は、材料の特性を変えるためにその材料の中に意図的に含ませる粒子を指す。介在物は添加されるドーパントと析出物形成剤の組み合わせから形成される。例としては、(これらに限定はされないが)金属の酸化物、窒化物、炭化物、カルシウム化物または硫化物がある。従って、望ましくない外来の粒子を指すものである「介在物」という用語についての一般的な用法と比較すると、ここで用いられる「介在物」という用語は、望ましい析出物を指すことが意図されている。
[0055]ここで用いられる「均一密度の倍数(Multiples of Uniform Density)」または「MUD」という用語は、ランダムな分布による強度と比較しての極点(結晶面または結晶方向)の集まりの強度の尺度を指す。MUDの値は標準化した値であり、従って、様々なデータのセットどうしの間での直接の比較を考慮するものである。データのセットを比較する場合、より大きなMUD値は集合組織のより強い度合いを示す。
[0056]ここで用いられる「異常結晶粒成長(Abnormal Grain Growth)」または「AGG」という用語は、不連続な結晶粒成長を指す。異常結晶粒成長は、少数の極めて大きな結晶粒によって占められたミクロ構造を生じさせる場合がある。弱いAGGは、望ましい繊維組織とともに35面積%未満のミクロ構造を有する。中程度のAGGは、望ましい繊維組織とともに35面積%と50面積%の間のミクロ構造を有する。強いAGGは、望ましい繊維組織とともに50面積%よりも大きなミクロ構造を有する。
[0057]ジュール効果を用いると、ガルフェノールに磁界を加えることができ、このとき、この材料は公知で制御可能な形状または寸法の変化を伴った反応を示す。磁界はDC(直流)からkHzの範囲までで、これと同じ周波数で振動するガルフェノールのひずみ反応とともに、振動させることができる。ヴィラリー効果を利用して、ガルフェノールは外部から加えた応力に対してこの材料内での磁化の変化を伴って反応する。
[0058]従って、ガルフェノールは機械的な状態(応力、ひずみ、および力)の変化を感知するためのセンサーとして、作動器として、および環境発電機として用いることができる。エネルギーを収集すること(環境発電)において、例えば、ポンプ発動機からの振動する機械的応力をガルフェノール含有材料と結びつけることができ、それによって生じるガルフェノール内での振動する磁化の変化を電気エネルギーに変換して、これを警報器またはその他のセンサーによって直接用いるか、あるいは将来使用するための電池またはコンデンサーのようなエネルギー貯蔵機器において貯蔵する。
[0059]明確な結晶方位(例えば、繊維組織)は、ガルフェノール材料が上記の条件に対して好都合に反応することを可能にする。この特性は、ガルフェノール(およびその他の軟磁歪性材料)中に存在する異方性を相殺するのを助ける。ガルフェノールについて、これらの好都合な結果を生じさせるための望ましい繊維組織(η-繊維組織)は、ミラー指数の表示法によって定義すると、加えた磁界または応力の方向に平行な<001>である。
[0060]ガルフェノールにおける最大の効率(最小のうず電流損)は、作動器、センサーまたは環境発電機の適切な操作を可能にする。うず電流損は、次のように定義される一つの表皮深さ未満の適切なフォームファクター(形状因子)を選択することによって最小化することができる:
ここで、ω=角周波数(2πf)、σ=導電率、μ=空間の透磁率、およびμ=材料の比透磁率である。このようなフォームファクターとしては、例えば、適当な厚さまたは直径の薄板、線材、薄膜または粉末がある。一例として、0.015インチ(0.381mm)未満の薄板の厚さまたは線材の直径が、作動器、センサーまたは環境発電機として20kHz以下で作動するガルフェノールにおけるうず電流損を最小にするのに有用である。
[0061]棒状の望ましいη-繊維組織を有するガルフェノールを製造するための指向性凝固の製造法が開発された(例えば、ブリッジマン・フリースタンド帯溶融法(FSZM))。しかし、ガルフェノールを一つの表皮深さ未満のフォームファクターまで薄く打ち延ばすために、凝固後の高価な加工工程が必要となる。ガルフェノールを適当なフォームファクターで製造するために、圧延や線引き加工のような一般的な金属成形方法を用いることもできる。しかし、これらの方法は、最適な性能を得るための望ましいη-繊維組織の開発を伴わない。
[0062]ガルフェノールを薄板の形に圧延するための試みが成された。しかし、結果は満足できるものではなく、EBSDによって証明されたように、飽和磁歪は154ppm以下となり、またサンプルのわずかに38面積%だけが圧延方向から30度以下で配向不整したエータ(η)-繊維組織を有する低い集合組織ないしは中程度の集合組織となった。介在物の存在を伴わずに得られたミクロ構造と極点図(すなわち、繊維組織の分析)の一例を図1に示す。図1において、エータ(η)-繊維組織の配向を有する結晶粒を黒色で示していて、このサンプルの38面積%を包含する。極点図からの5.63の最大のMUD値は弱い集合組織を示唆している。E. Summers, R. Meloy, Suok-Min Na,「焼鈍したガルフェノール合金における磁歪と集合組織の関係」Journal of Applied Physics, 105巻, 2009, 07A922, 2009年2月19日, を参照されたい。
[0063]ここで説明する様々な態様は、適切に配向した結晶粒から成る望ましいエータη-繊維組織のような、望ましい繊維組織を有する単結晶の、またはほぼ単結晶の磁歪性ミクロ構造を含む介在物含有磁性材料を提供する。様々な態様はさらに、その材料を製造および使用する方法、ならびにこれらのミクロ構造を含む機器を提供する。一つの態様において、磁歪性ミクロ構造はガルフェノールを含む。
[0064]望ましい特性を有する単結晶の、またはほぼ単結晶の磁歪性ミクロ構造を製造することができることは驚くべきことである。何故ならば、加工を行う間に介在物を形成するためにドーパントを使用することは、これまでは、得られる材料に対して有害な影響があるために、望ましくないと考えられてきたからである。例えば、一般的な変圧器用鋼(すなわち、電気用鋼)の製造プロセスにおいて、炭素のドーパントを添加することは、それが材料の変圧器性能に悪影響を及ぼすことがあるので、通常は回避される。従って、従来の知識によれば、単結晶の、またはほぼ単結晶のミクロ構造を形成する際にドーパントを意図的に添加することは否定される。
[0065]それに対して、ここで説明する様々な態様は、望ましい特性を有する介在物含有ミクロ構造を製造するためにドーパントを望ましい量で意図的に添加することによって製造される製品を含む。一つの態様において、ドーパントは炭素(C)である。一つの態様において、ドーパントをマトリックス中に存在する析出物形成剤と組み合わせ(すなわち、出発成分の混合物)、それにより最終製品中に介在物(例えば、炭化物の介在物)を形成する。一つの態様において、析出物形成剤はNbであり、生じる介在物は炭化ニオブ(NbCおよび/またはNbC))である。NbCだけを含む材料よりもむしろ、少なくともある量のNbCが存在すると、材料の性能が改善されるかもしれない。
[0066]公知の(結晶粒)方向性変圧器用鋼(すなわち、電気用鋼)(例えば、Fe-Si合金)もまた、望ましい「ゴス組織」(cube-on-edge)を有する薄板を製造するために冷却を行う間のオーステナイト相(γ相)からフェライト相(α相)への相変態を拠りどころとしている。それに対して、ここで説明する態様においては、プロセスのいずれの段階においてもフェライト相が変態しない(すなわち、不変のままである)材料(例えば、ガルフェノール合金)が用いられる。
[0067]様々な態様は、これまでに未達成であった高いエータ(η)-繊維組織を有する材料を提供する。一つの態様において、エータ(η)-繊維組織は約45.3面積%よりも大きく約80面積%以上まで、例えば約100面積%までであり、それらの間のすべての範囲を含む。一つの態様において、エータ(η)-繊維組織は約45.4面積%と約80面積%の間であり、例えば約50面積%と約80面積%の間である。
[0068]様々な態様はまた、従来の材料と比較して(本明細書で定義している用語としての)繊維組織の配向不整が低減した材料を提供する。一つの態様において、配向不整は約20°未満、例えば約10°未満、約5°未満、約2°以下である。
[0069]磁歪は、ある程度、繊維組織および配向不整と相関する。一つの態様において、また所定の量の磁性材料の性能向上剤(例えばガリウム)について、ここで説明する結晶質ミクロ構造は、一般的な単結晶の(またはほぼ単結晶の)ミクロ構造と比較して、実質的に同等の磁歪を有する。また、一つの態様において、ここで説明する結晶質ミクロ構造は、一般的な単結晶の(またはほぼ単結晶の)ミクロ構造と比較して増大した磁歪を有することができ、例えばその磁歪は約200ppmよりも大きく約300ppm以上まで、例えば350ppm以上まで、例えば390ppm以上、例えば約399.9ppmである。一つの態様において、磁歪は約200.1ppmと約300ppmの間である。一つの態様において、磁歪は少なくとも約200ppmである。一つの態様において、単結晶のミクロ構造は本質的に完全な単結晶(すなわち、欠陥の無いもの)であり、400.0ppmの磁歪を有する。
[0070]様々な態様は、圧延方向(RD)−横断方向(TD)の面で大きな結晶粒径を有する材料を提供する。一つの態様において、結晶粒径は少なくとも約8mmからその1〜2桁以上の大きさである(例えば、少なくとも約800mm以上)。一つの態様において、結晶粒径は約8.1mmと約90mm以上の間、例えば少なくとも約250mmである。一つの態様において、RD−TD面における結晶粒径は少なくとも約10mmである。
さらに大きな粒径も可能であろう。
[0071]様々な態様は、一つの態様において約0.118インチ(3mm)以下の厚さを有する薄い材料を提供する。一つの態様において、その厚さは0.110インチ(2.8mm)未満からその1桁以下までの小ささであり、例えば約0.08インチ(0.02mm)未満、例えば約0.04インチ(0.1mm)未満、例えば約0.01インチ(0.254mm)以下であり、これらの間の任意の範囲が含まれる。一つの態様において、その材料は約0.015インチ(0.381mm)以下の厚さを有する。一つの態様において、厚さは約0.006インチ(0.17mm)以下である。一つの態様において、厚さは約0.005インチ(0.127mm)から約0.015インチ(0.381mm)までの範囲である。
[0072]材料が示す周波数での性能は、ある程度、材料の厚さに依存する。ここで説明している新規な材料は数10Hzからその1〜2桁以上までの周波数を示す(すなわち、数100Hz、数1000Hz)。一つの態様において、作動周波数は少なくとも約1kHz以上であり、例えば約25kHz以上、例えば約30kHz以下であり、これらの間の任意の範囲が含まれる。一つの態様において、周波数は約20kHzよりも大きい。一つの態様において、材料は約0.38mm以下の厚さを有し、そして作動周波数は約10kHz程度の高さである。一つの態様において、材料は約0.12mm以下の厚さを有し、そして作動周波数は約20kHzまたは約30kHz程度の高さである。もっと高い周波数(例えば、50kHz)も得られるだろう。
[0073]一つの態様において、得られる材料は薄板として提供される。一つの態様において、薄板のサイズは大きく、そして薄板を形成するために用いられる機械によってのみ限定される。一つの態様において、薄板は少なくとも1平方インチ(約6.45cm)または約1〜約19平方インチ(6.45〜122.58cm)の面積を有し、これらの間の任意の範囲が含まれる。一つの態様において、薄板は少なくとも5平方インチ(32.36cm)の面積、または約5平方インチ(32.36cm)と約10平方インチ(64.52cm)の間の面積を有し、これらの間の任意の範囲が含まれ、あるいはもっと大きくて、例えば約15平方インチ(96.77cm)以上、例えば約20平方インチ(129.03cm)であり、これらの間の任意の面積サイズが含まれる。幾つかの態様において、薄板は約20平方インチ(129.03cm)よりも大きな面積、例えばそれよりも1〜2桁以上大きな面積を有する。
[0074]ここで説明している材料を製造するために、様々な方法が用いられる。しかし、得られる材料が所望のサイズと機能性を有する単結晶の、またはほぼ単結晶の磁歪性ミクロ構造を含むことを確実にするために、特定の工程が用いられる。
[0075]図2に示す態様において、方法200は、フォームファクター成分を析出物形成剤、ドーパント、磁性材料、および磁性材料の性能向上剤を含む成分とともに溶解し(例えば、誘導溶解し)、それにより溶融した合金を製造する工程202;溶融した合金を型の中に注入し、それによりインゴットを製造する工程204;場合により、そのインゴットをさらに加工する工程205;インゴットについて厚さの低減処理と焼鈍を行い、それにより厚さが低減して焼鈍した薄板を製造する工程206;および、その厚さが低減して焼鈍した薄板について集合組織焼鈍(texture annealing)を行い、それにより単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む薄板を製造する工程208;を含む。一つの態様において、一つよりも多くのインゴットを製造することができる。一つの態様において、一つよりも多くのインゴットから一つよりも多くの薄板を製造することができる。
[0076]一つの態様において、溶解は真空または部分真空(例えば、約15インチHg(0.5気圧))の下で行われる。
[0077]一つの態様において、フォームファクター成分は、薄い壁の閉じた円筒に形成された適当な長さを有する1個のシムストックを含み、その長さは用途に応じて変えることができる。様々な態様において、シムストックはその長さを約20〜約25cmとすることができ、例えば約23〜約24cmの長さとし、これらの間の任意の範囲が含まれる。一つの態様において、約23.5cmの長さを有するシムストックが用いられる。フォームファクター成分は、溶解の工程の間にこのフォームファクター成分が装入される容器(例えば、るつぼ)の中を埋めて、少量の炭素と合金の成形性を改善するトランプエレメントを含む溶融物を提供し、従って、得られる薄板の圧延性を改善する。
[0078]一つの態様において、シムストックは炭素鋼であり、例えば、約400ppmw未満のC(炭素)を含む低炭素鋼合金である。一つの態様において、フォームファクター成分として1008低炭素鋼合金が用いられる。一つの態様において、1018、1020またはその他の低炭素鋼合金が用いられる。一つの態様において、約0.01インチと約0.31インチの間(0.025〜0.79cm)の厚さを有する1008〜1010低炭素鋼が用いられる。一つの態様において、厚さはおよそ0.01±0.05インチ(0.025±0.13cm)である。
[0079]一つの態様において、鉄は磁性材料のものとする。一つの態様において、鉄と炭素が鉄-炭素(Fe-C)母合金として添加され、炭素は最終的な合金の成形性を改善し、従って、その最終的な合金は通常の金属加工技術を用いて加工することができる。鉄-炭素合金中の炭素はまた、炭化物を形成するための炭素供給源(すなわち、ドーパント)も提供する。
[0080]一つの態様において、電解鉄も用いられる。一つの態様において、合金中の不純物の量を制御するための「基礎」成分として高純度の電解鉄(例えば、少なくとも約99.95%の純度)が用いられる。
[0081]一つの態様において、磁性材料向上剤はガリウム(Ga)である。ガリウムは磁性材料(例えば鉄)の磁気性能を増大させることができる。一つの態様において、Gaは4Nの純度(99.99%の純度)を有する。一つの態様において、Gaは約0.1重量%(0.08原子%)と約24重量%(20.2原子%)の間の範囲で添加され、これらの間の任意の範囲が含まれ、例えば約20重量%と約24重量%の間、例えば約22重量%と約24重量%の間、例えば約22重量%(18.4原子%)と約23重量%(19.3原子%)の間であり、これらの間の任意の範囲が含まれる。一つの態様において、磁性材料の性能向上剤はGa、アルミニウム(Al)、モリブデン(Mo)、ゲルマニウム(Ge)、スズ(Sn)、ケイ素(Si)、ベリリウム(Be)またはこれらの組み合わせから選択される。
[0082]任意の適当なドーパントを用いることができる。一つの態様において、ドーパントは炭素である。一つの態様において、炭素は鉄-炭素合金の中に存在し、例えば鉄中に約1.5〜約3.5重量%炭素の範囲で存在する。従って、一つの態様において、炭素は鉄-炭素合金の一部としてか、あるいは単独で、重量で約1.5%〜約3.5%の範囲で添加され、例えば約1.5〜約3.0重量%の範囲、また例えば約2.0〜約2.5重量%の範囲で添加され、これらの間の任意の範囲が含まれる。一つの態様において、少なくとも約2.1重量%の炭素が添加される。
[0083]一つの態様において、溶解されるときに炭素の含有量は低減され(すなわち、「希釈」され)、例えば約0.14重量%(重量で100万分の1400部(ppmw)、0.68原子%C)の量まで、あるいはもっと低い量、例えば0.023重量%(230ppmw)まで低減され、これらの間の任意の範囲が含まれる。一つの態様において、炭素量の低減は最少限にまでされ、例えば約200ppmw以下にされる。
[0084]一つの態様において、ドーパントには追加として、あるいは代替として、窒素(N)および/またはホウ素(B)が含まれていてもよい。合金が脆くなって成形不能になるのが防止されるように注意が払われるならば、ドーパントとして硫黄(S)を用いてもよい。
[0085]ここで説明している様々な態様では、最終製品の特性と特徴に影響を及ぼす複数の介在物を利用する。一つの態様において、プロセスの集合組織焼鈍の工程を行う間に、すなわち、異常結晶粒成長(AGG)をさせる間に、適切な集合組織を発現させるために介在物が有用である。ドーパントと析出物形成剤を組み合わせると介在物が形成される。任意の適当な析出物形成剤を用いることができる。一つの態様において、マトリックス(母相)において固溶強化の効果を与え、それにより合金の機械的強靭さを改善するために、過剰な析出物形成剤が添加される。
[0086]一つの態様において、析出物形成剤としてニオブ(Nb)が用いられる。用いられるNbの量は、目標とする介在物の総含有量によって決定される。一つの態様において、ドーパントの大部分が析出して過剰なNbが固溶体の中に留まるように、十分なNbが添加される。一つの態様において、ドーパントは炭化物として析出する炭素であり、そしてNbは約0.8重量%(0.5原子%Nb)以上の量で添加される。
[0087]生じる介在物が集合組織焼鈍の温度において安定で、マトリックスの溶体の中に入って行かない限りにおいて、他の析出物形成剤を用いてもよい。そのような析出物形成剤としては、例えば、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)およびタンタル(Ta)がある。しかし、炭化バナジウムは集合組織焼鈍温度において安定ではなく、磁歪が低くなり、また測定できるほどのAGGが生じないようである(38.3重量%の1008低炭素鋼(Earle M. Jorgensen Co., Lynwood, カリフォルニア州)、39.7重量%の電解鉄(99.95%最低純度、Less Common Metals)、21.8重量%のガリウム(99.99%最低純度、Continental Metals)、および0.18重量%のバナジウム金属(99.7%最低純度、Alfa Aesar)を用いて試験した)。
[0088]ドーパントと析出物形成剤の濃度は、任意の適当なやり方で増減させて変えることができる。あまりに多くのドーパントと析出物形成剤を用いると、あまりに多くの介在物が形成される場合があり、そのため、高い集合組織焼鈍温度(すなわち、保持温度)においてさえAGGが生じない。むしろ、介在物は小さな結晶粒を固定する場合があり、従って、それらは優先サイズについての利点を得ることができない。
[0089]ここで提示する理論によって拘束されることは望まないが、集合組織焼鈍のプロセスの際に、熱処理を行う間に温度が上昇するとき、介在物が存在することによって全てのタイプの配向した結晶粒(すなわち集合組織)の著しい成長が抑制されると考えられる。一つの態様において、保持温度に達したとき、顕著な結晶粒成長または集合組織の発達はまだ生じていない。特定の潜伏期(すなわち、保持時間)の後、エータ(η)-繊維組織に配向した結晶粒は介在物の固着効果を克服するためのかなりの熱エネルギーを吸収することができ、一方、非エータ(η)結晶粒は固着されたままとなる。やがてはエータ(η)-繊維組織となる結晶粒はこの潜伏期の後に急速に成長し始めることができ、そして残っているマトリックスの結晶粒の大部分を消費する大きなサイズによる有利性を得て、その結果、単結晶状の生成物が生じる、すなわち異常結晶粒成長(AGG)の反応が生じる。
[0090]様々な集合組織焼鈍のパラメーターを用いることができる。満足なAGG反応を生じさせるのに十分な熱が与えられ、そしてエータ(η)-繊維組織の結晶粒が介在物の固着効果を克服するのに十分な熱エネルギーが与えられるように、保持温度が選択される。一つの態様において、保持温度は約1100℃から約1250℃までの範囲とすることができる。AGG反応に悪影響を及ぼさない限りにおいて、もっと高い温度を用いることができるだろう。そのような悪影響とは、理想的でない結晶粒が固着を解かれて、そしてエータ(η)-繊維組織の結晶粒と平行に成長し、それによりAGG反応の大きさが低下する、といったことである。温度が低すぎる場合は、供給される熱エネルギーの量は、エータ(η)-繊維組織の結晶粒が介在物の固着効果を克服するのには不十分となる。
[0091]AGGを生じさせるためには十分な保持時間が必要となる。一つの態様において、保持時間は約12時間未満であり、例えば約6時間未満、またはそれよりも短く、例えば約2.5時間以下である。
[0092]保持温度(焼鈍温度)と保持時間は逆比例の関係にあり、例えば、保持温度が高いほど、より短い保持時間を用いることができる。任意の適当な保持温度を用いることができる。一つの態様において、保持温度は約1100℃と約1250℃の間である。
[0093]任意の適当な加熱および冷却の速度を用いることができる。一つの態様において、加熱と冷却の速度は約1℃/分から約10℃/分まで変えることができる。
[0094]集合組織焼鈍の工程を行う間、任意の適当な大気環境または組み合わせた環境を用いることができる。一つの態様において、アルゴンまたはヘリウムのような不活性の環境が用いられる。一つの態様において、その環境は追加して、または代替として、(プロセスにおける異なる時点において)100%の乾燥水素(H)を含む。一つの態様において、その環境は追加して、または代替として、50%乾燥H/50%窒素(N)の混合物を含む。
[0095]一つの態様において、保持温度は1250℃を超えず、そして保持時間は約6時間未満であり、例えばアルゴンの環境中で約2.5時間である。
[0096]一つの態様において、100%の乾燥H環境中での集合組織焼鈍によって、わずかの残留マトリックス結晶粒(すなわち、島)を有するミクロ構造が生成する。一つの態様において、そのような環境中で生成した材料のミクロ構造の分析によれば、それは、アルゴンの環境中で製造した材料と比較して、およそ33.3%少ない残留マトリックス結晶粒を有する。一つの態様において、100%の乾燥H環境中では明確な全体にわたるエータ(η)-繊維組織を形成することができ、それはRD(圧延方向)との不整合さが、アルゴンの環境中で製造した材料の全体的なエータ(η)-繊維組織よりも平均して約33%低い。一つの態様において、全体的なエータ(η)-繊維組織は、アルゴンの環境についてはRDとの不整合さが平均して少なくとも約18°であるのと比較して、RDとの不整合さが平均して約13°以下である。
[0097]エータ(η)配向不整の低減とエータ(η)-繊維組織の面積%の増大は磁歪性能の改善に寄与する。一つの態様において、磁性材料の性能向上剤はガリウムであり、集合組織焼鈍を行う際の環境は100%の乾燥H環境であり、このとき材料は、アルゴンの環境中で製造する材料の飽和磁歪よりも、平均して少なくとも8%以上、例えば約9%以上、あるいはもっと高い飽和磁歪を示す。一つの態様において、アルゴンの環境については飽和磁歪は平均して約231ppm以下であるのと比較して、飽和磁歪は平均して少なくとも約252ppmである。しかしながら、一つの態様において、ここで説明している他の態様と組み合わせてアルゴンを用いると、先行技術のプロセスと比較して改善された製品が得られる。
[0098]一つの態様において、AGGは中程度であるか、あるいは強く、そして炭素のような添加されるドーパントの量に依存する。一つの態様において、約230ppm(0.1原子%)以下のCが存在し、そして生じるAGGは弱い。一つの態様において、約230〜約1400ppmw(0.1〜0.68原子%)のCが存在し、生じるAGGは中程度ないしは強い。一つの態様において、炭素が約700ppmw(0.34原子%)と約1000ppmw(0.5原子%)の間の範囲で添加され、生じるAGGは中程度ないしは強い。もっと多くの炭素含有量を用いる態様は集合組織焼鈍を行った後に残る残留マトリックス結晶粒をもたらし、それは磁歪のような磁気特性に悪影響を及ぼすかもしれない。
[0099]一つの態様において、図3に示すように、厚さを低減させる工程206は、最初にインゴットを熱間圧延し、それにより第一の厚さが低減した薄板を製造する工程302;薄板の表面に対してビーズブラスティング(ビーズ吹付け)を行い、それにより周囲のき裂がない第二の厚さが低減した薄板を製造する工程304;第二の厚さが低減した薄板を温間圧延し、それにより第三の厚さが低減した薄板を製造する工程306;第三の厚さが低減した薄板について封孔処理と焼鈍を行い、それにより焼鈍した薄板を製造する工程308;および、焼鈍した薄板を圧延し、それにより厚さが低減して焼鈍した薄板を製造する工程310(冷間圧延);を含み、これによる製品は、図2で説明した集合組織焼鈍の工程208に供される。この場合もまた、一つの態様において、一つよりも多いインゴットおよび/または一つよりも多い薄板であって前述したタイプの任意のものを製造することができる。
[00100]一つの態様において、熱間圧延の工程は選択的に行うクロスローリングの工程であり、これは薄板の幅を大きくするために行うことができる(90°の回転)。封孔処理と焼鈍の工程(308)は、冷間圧延の工程(310)を行う前に内部応力を低減または除去するのに有用である。封孔処理と焼鈍の工程(308)は、ステンレス鋼のバッグのような任意の適当な容器の中で行うことができる。この工程においては任意の適当な温度と時間を用いることができる。圧延工程310は潤滑剤と重ね圧延の組み合わせを用いて行うことができる。
[00101]一つの態様において、図4に示すように、インゴットをさらに加工する選択的な工程205は、図2の鋳造工程204において製造したインゴットを分割し、それにより分割したインゴットを製造する工程402、およびその分割したインゴットの表面を研磨し、それにより研磨されたインゴットを製造する工程404を含み、このインゴットは図1および図2に示す厚さを低減する工程206に供される。この場合もまた、一つの態様において、一つよりも多いインゴットおよび/または一つよりも多い薄板であって前述したタイプの任意のものを製造することができる。
[00102]一つの態様において、用いられる炉のサイズの制限のために、鋳造物をもっと小さな部分に分割する。一つの態様において、分割を行わずに、鋳造物の全体を一つの部分として圧延する。
[00103]一つの態様において、(Fe-Ga-Al-Mo-Ge-Sn-Si-Be)(Nb-Ti-Mo-Ta-W(C-N-B-S)(ここで、a≧98、b≦1、c≦1およびd≦2(例えば、d=1または2)、そして(a+b+c=100))の組成式を有する組成物が提供される。一つの態様において、(Fe-Ga)99(Nb)0.5(C)0.5の組成を有する組成物が提供される。
[00104]得られる材料は、例えば変換器、作動器、環境発電機、その他同種類のものを含めた様々な機器において有用である。一つの態様において、得られる材料は、組織を除去して骨を切断するために刃を作動させる動きを与える、磁歪性を有する医療用ハンドピース工具に合体される。一つの態様において、得られる材料は、振動式モーターに結合される環境発電用機器に合体される。モーターの振動は得られる材料に磁化の変化を誘導し、その材料に結合したコイルにおいて電圧が発生し、それにより電池またはコンデンサーに蓄えるための電流が生じ、あるいはこの電流をセンサーまたは電灯において直接使用する。
[00105]以下の実施例を参照して本発明の態様をさらに説明するが、これらの実施例は本発明の様々な態様をさらに例証するために提供される。しかし、本明細書で説明している様々な態様の範囲内で多くの変形や修正が成されうることを理解すべきである。
実施例1: 803ppmwのC、50H /50N の環境
出発材料
[00106]0.8重量%の1008低炭素鋼(Earle M. Jorgensen Co., Lynwood, カリフォルニア州)、72.6重量%の電解鉄(99.95%最低純度、Less Common Metals, Birkenhead, 英国)、21.5重量%のガリウム(99.99%最低純度、Continental Metals, Union City, カリフォルニア州)、2.4重量%の炭素を含む4.3重量%の鉄-炭素母合金(Ames Laboratory, Ames, アイオワ州)および0.8重量%のニオブ(Nb)金属(99.8%最低純度、Alfa Aesar, Ward Hill, マサチューセッツ州)をるつぼの中で一緒にした。このガルフェノール合金系はおよそ1450℃の溶融温度を有する。
[00107]この内容物をMK11誘導溶解装置(Pillar Induction, Brookfield, ウィスコンシン州)を用いて約1587℃の最大温度になるまで溶解した。注湯温度は約1560℃であった。
[00108]この溶解した内容物をおよそ1.45インチ×0.6インチ×12インチ(36.83mm×15.24mm×304.8mm)のサイズを有する鋼製の鋳型に鋳込んでインゴットを製造し、その後、インゴットの化学組成を測定した。
[00109]インゴットを、(反応を最小限にするために)アルゴンの被覆ガスの下で、International Rolling Mills (IRM) Model 2050 5x8 Hot Lab Rolling Mill(5インチ(127mm)の直径と8インチ(203.2mm)の長さを有するローラーと7.5HPモーターを備えているもの、International Rolling Mills, Pawtucket, ロードアイランド州)を用いて900℃で熱間圧延し、このとき、30分間予熱し、次いで、1パス当り5分間の再加熱を行った。ローラーに入る前に、インゴットは0.610インチ(15.494mm)の最初の厚さを有し、次いで、1パス当り25%の圧下率となった。12パスの後、最終の厚さは0.049インチ(1.245mm)であった。
[00110]次いで、得られた薄板をアルゴンガスの下でIRM圧延機で300℃において温間圧延し、このとき、15分間予熱し、次いで、2パス毎に2〜3分間の再加熱を行った。最初のパスの後、得られた薄板は0.049インチ(1.245mm)の厚さを有し、その後、1パス当り0.002インチ(0.051mm)圧下した。33回のパスの後、最終的な厚さは0.023インチ(0.584mm)であった。
[00111]各々の薄板を、アルゴンガスを充填したステンレス鋼製のバッグの中に密封し、そしてアルゴンを流す環境を用いて850℃で約1時間、炉中での中間焼鈍に供した。
[00112]その後、各々の薄板を室温(RT)でIRM圧延機で冷間圧延した。最初のパスの後、得られた薄板は0.023インチ(0.584mm)の厚さを有し、その後、1パス当り0.001インチ(0.025mm)圧下した。38回のパスの後、最終的な厚さは0.015インチ(0.381mm)であった。従って、0.610インチ(15.494mm)の最初の厚さからの合計の厚さの減少率は97.5%であり、最終的な薄板のサイズは約1.75インチ(幅)(44.45mm)×約12インチ(長さ)(304.8mm)であった。
[00113]それに続く熱処理すなわち集合組織焼鈍の工程を外部の設備においてバッチ炉の中で、5分の保持時間を含む比較的複雑な熱処理サイクルの下で、800℃において湿潤水素雰囲気(50℃の露点)の中で行った。次いで、送風機を用いて薄板を室温まで強制的に空冷し、次に35℃/分で室温から950℃まで加熱し、次いで1℃/分で1175℃まで加熱し、このとき50%乾燥H/50%Nのガス混合物の中で12時間の保持時間を用いた。
特徴づけの方法
マクロ構造
[00114]各々の集合組織焼鈍した薄板を巨視的に分析して、異常結晶粒成長(AGG)の程度、結晶粒の性質、および繊維組織を判定した。図6は、前述した条件の下で製造した集合組織焼鈍をした薄板の一部の巨視的な(肉眼で見える)画像を示し、SEM/EBSDと磁歪のそれぞれについての試験サンプルの位置(実線)が示されている。図6に示すように(目盛線:mm)、およそ9.5インチ×1.5インチ(241.3mm×38.1mm)である薄板全体の100%近くが一つの結晶粒(およそ14平方インチ)(90.322cm)であり、輪郭を示したA、B、Cはもっと小さな三つの結晶粒である。
化学組成
[00115]上記のインゴットの組成を測定するための化学分析を行った。特に、炭素の含有量を測定するために、LECO Model CS-444LS装置(LECO Corp., St. Joseph, ミシガン州)による燃焼分析法を用いた。Nbの含有量を測定するために、真空発生器であるModel VG9000装置(Newburyport, マサチューセッツ州)によるグロー放電質量分析法(GDMS)を用い、そして誘導結合プラズマ質量分析法(ICP-MS)を用いてGaの含有量を測定し、これは真空発生器であるModel PQ3装置を用いて行った。例えば、http://northernanalytical.com/techniques.htm), Northern Analytical Laboratory Inc.,(これは参考文献として本明細書に取り込まれる)を参照されたい。介在物の化学組成と化学量論量を、五つの波長分散型分光測定器(WDS)を備えたJEOL JXA-8200電子ミクロプローブ装置(Peabody, マサチューセッツ州)を用いて測定した。
合計の量を表1に示す。
集合組織とミクロ構造
[00116]各々の薄板について、結晶粒の特徴と繊維組織を評価するために、SEM/EBSDを用いてミクロ構造も検査した。特に、方位画像化マップと極点図の測定を用いてミクロ構造と集合組織の量を定めるために、各々の薄板について後方散乱電子回折(EBSD)の分析を行った。EBSD分析法は、Carl Zeiss Evo 50走査型電子顕微鏡(SEM)(Carl Zeiss Microscopy LLC, Thornwood, ニューヨーク)、Oxford Instruments Nordlys電子後方散乱パターン(EBSP)検出器、およびHKL Channel 5方位画像化検鏡法(OIM)入力ソフトウェア(Oxford Instruments, Tubney Woods, Abingdon, Oxfordshire, 英国)を用いて行った。SEM加速電圧は15〜20kV SEM、典型的なステップ幅は35μm、そして走査面積は12mm×10mmであった。
[00117]図7は、図6で示した磁歪サンプルの領域のSEM/EBSD画像(200倍)を示す。エータ(η)-繊維に配向した結晶粒の領域区画分析によって、単結晶が99面積%を構成していて、少量の島状結晶粒が存在することが示された。図8は、このサンプルにおける9〜13°の配向不整を示すヒストグラムである。
[00118]図9はこのサンプルについての極点図の解析を示す。そこでわかるように、RD(圧延方向)に平行な極めて強い{100}集合組織があり、最大のMUDは26.13である。この集合組織は望ましいエータ(η)-繊維組織の一部である。
磁歪
[00119]熱処理した薄板からの多数のサンプルについて、50mmの間隙を横切って2テスラの磁界を発生する電磁石付きステッピングモーター装置を用いて試験を行った。典型的なサンプルのサイズは15mm×10mmであり、15mmの方向はサンプルのRDに平行であった。
[00120]各々の薄板のサンプルをRDに平行なVishay CEA-06-250UN-350歪ゲージに取り付け、そして磁界の中に置き、それをステッピングモーターによって薄板の面内で400度回転させた。
[00121]試験によって磁歪対回転角度のコサインプロットが得られ、これにおいて、飽和磁歪の値(λsat)はピークの値(λ||)(0°または180°における)と谷の値(λ)(90°または270°における)の間の差であるとみなされ、λsat=λ||−λである。図5はこのタイプの特徴づけによって得ることのできるタイプのグラフの一般的な表現である。
[00122]このサンプルについての飽和磁歪は、約9°と13°の間の配向不整に対して284ppmと測定された(図8を参照されたい)。この大きな磁歪の値は、強いエータ(η)-繊維の配向を伴う(またはRD(圧延方向)について配向不整が無い)単結晶の、またはほぼ単結晶のミクロ構造が、この材料系を利用する用途に望ましいことの証拠である。
実施例2: 621ppmwのC、アルゴンの環境
出発材料
[00123]0.5重量%の1008低炭素鋼(Earle M. Jorgensen Co., Lynwood, カリフォルニア州)、71.7重量%の電解鉄(99.95%最低純度、Less Common Metals)、22.7重量%のガリウム(99.99%最低純度、Continental Metals)、4.3重量%の炭素を含む4.3重量%の鉄-炭素母合金(Ames Laboratory)および0.8重量%のNb金属(99.8%最低純度、Alfa Aesar)をるつぼの中で一緒にした。このガルフェノール合金系はおよそ1450℃の溶融温度を有する。
[00124]この内容物をMK11誘導溶解装置を用いて約1581℃の最大温度になるまで溶解した。注湯温度は約1560℃であった。
[00125]この溶解した内容物を、実施例1におけるものと同じサイズの鋼製の鋳型に鋳込んだ。実施例1で説明したようにして、CとNbの含有量を測定するために化学分析を行った。(この場合、ガルフェノールは測定しなかったが、しかしそれは約20〜約22重量%の範囲にあると考えられた。)合計の量を表2に示す。
[00126]この内容物を、(反応を最小限にするために)アルゴンの被覆ガスの下で、実施例1に記載したIRM圧延機を用いて900℃で熱間圧延し、このとき、30分間予熱し、次いで、1パス当り5分間の再加熱を行った。ローラーに入る前に、インゴットは0.603インチ(15.316mm)の最初の厚さを有し、次いで、1パス当り25%の圧下率となった。12パスの後、最終の厚さは0.046インチ(1.168mm)であった。
[00127]次いで、得られた薄板をアルゴンガスの下でIRM圧延機で300℃において温間圧延し、このとき、15分間予熱し、次いで、2パス毎に2〜3分間の再加熱を行った。最初のパスの後、得られた薄板は0.046インチ(1.168mm)の厚さを有し、その後、1パス当り0.002インチ(0.0508mm)圧下した。26回のパスの後、最終的な厚さは0.023インチ(0.584mm)であった。
[00128]各々の薄板を、アルゴンガスを充填したステンレス鋼製のバッグの中に密封し、そしてアルゴンを流す環境を用いて850℃で約1時間、炉中での中間焼鈍に供した。
[00129]その後、各々の薄板を室温(RT)でIRM圧延機で冷間圧延した。最初のパスの後、得られた薄板は0.023インチ(0.584mm)の厚さを有し、その後、1パス当り0.001インチ(0.025mm)圧下した。38回のパスの後、最終的な厚さは0.014インチ(0.356mm)であった。従って、0.603インチ(15.316mm)の最初の厚さからの合計の厚さの減少率は97.7%であり、最終的な薄板のサイズは約1.75インチ(幅)(44.45mm)×約12インチ(長さ)(304.8mm)であった。
[00130]それに続く熱処理すなわち集合組織焼鈍の工程を、社内でCarbolite(登録商標)Model CTF 12/65/550管状炉(Hope Valley, 英国)を用いて行った。焼鈍工程の全体を通してアルゴンガスを流す環境を維持し、このとき、各々の薄板を10℃/分で室温から850℃まで加熱し、次いで10℃/分で1175℃まで加熱し、12時間の保持時間を設けた。
特徴づけと結果
[00131]実施例1で説明したようにしてサンプルの特徴づけを行った。
[00132]図10は、製造した集合組織焼鈍をした薄板の一部の巨視的な画像を示し、磁歪の解析と集合組織の解析(SEM/EBSD)のそれぞれについての試験サンプルの位置(破線)が示されている。図11A(500倍)と図11B(1500倍)は、磁歪サンプルの領域のSEM画像を示す。ImageJ 1.44pソフトウェア(NIH, 米国)を用いて取り込んだ画像の解析によって、炭化物の面積%は2.4%であることが示された。
[00133]図12Aは、磁歪サンプルの領域における結晶粒についてのEBSDによる方位画像化マップを示し、「#1」、「#2」および「#3」と番号付けしたものは三つの異なる結晶粒の領域を示す。取り込んだ画像の解析によれば、三つの結晶は87面積%を構成していて、少量の島状の結晶粒が存在する。図12Bは三つの結晶粒についての配向不整を示すヒストグラムであり、測定された最大の配向不整は18°である。図13は、このサンプルについての極点図の解析を示す。そこでわかるように、RD(圧延方向)に平行な極めて強い{100}集合組織があり、最大のMUDは21.56である。この集合組織は望ましいエータ(η)-繊維組織の一部である。
[00134]#3の結晶粒(これは18°の配向不整角度を有する)から取り出したサンプルについて飽和磁歪を測定すると、225ppmであった。
実施例3: 621ppmwのC、100%の乾燥H の環境
[00135]実施例2で説明したものと同じ材料を、実施例2において行ったのと同じやり方で集合組織焼鈍のサイクルまで加工処理した。
[00136]本実施例においては、熱処理すなわち集合組織焼鈍の工程を、外部の実験室で管状炉を用いて行った。焼鈍工程の全体を通して流通する100%の乾燥Hの環境を維持し、このとき、各々の薄板を10℃/分で室温から850℃まで加熱し、次いで約1℃/分の速度で約1250℃の温度まで加熱し、およそ12時間の保持時間を設けた。
特徴づけと結果
[00137]前の各実施例で行ったようにしてサンプルの特徴づけを行った。
[00138]図14は、製造した集合組織焼鈍をした薄板の一部の巨視的な画像を示し、磁歪の解析と集合組織の解析(SEM/EBSD)のそれぞれについての試験サンプルの位置(破線)が示されている。領域1402における多数の結晶粒界の輪郭によって示されているように、図14(目盛線:インチ)は、このサンプルが大きなAGG反応を示したことを表している。
[00139]図15は、領域#1と領域#2(図14)についてのEBSDによる方位画像化マップを示し、二つの結晶粒がエータ(η)-繊維組織の本質的に全てを包含していることを示す。#1についての配向不整角度は6°以内であり、#2についての配向不整角度は15°以内である。従って、両方の結晶粒は15°以内で配向している(93面積%)。
[00140]図16は、二つの結晶粒についてのエータ(η)-繊維組織とRD(圧延方向)との間の6°と15°の配向不整角度を示すヒストグラムである。
[00141]図17は、このサンプルについての極点図の解析を示す。そこでわかるように、RD(圧延方向)に平行な極めて強い{100}集合組織があり、最大のMUDは22.34である。この集合組織は望ましいエータ(η)-繊維組織の一部である。
[00142](6°の配向不整角度を有する)このサンプルについて、飽和磁歪は225ppmと測定された。これらの結果は、この材料系において大きな磁歪を達成するためには強いエータ(η)-繊維組織が必要である、という理論を支持する。
実施例4: 1402ppmwのC、アルゴンの環境
[00143]1.1重量%のNb金属(99.8%最低純度、Alfa Aesar, Ward Hill, マサチューセッツ州)、3.0重量%の1008低炭素鋼(Earle M. Jorgensen Co., Lynwood, カリフォルニア州)、67.9重量%の電解鉄(99.95%最低純度、Less Common Metals)、21.6重量%のガリウム(99.99%最低純度、Continental Metals)、および2.2重量%の炭素を含む6.4重量%の鉄-炭素母合金(Ames Laboratory)をるつぼの中で一緒にした。このガルフェノール合金系はおよそ1450℃の溶融温度を有する。
[00144]この内容物をMK11誘導溶解装置を用いて約1600℃の最大温度になるまで溶解した。注湯温度は約1555℃であった。
[00145]この溶解した内容物を、実施例1で説明した鋼製の鋳型に鋳込んだ。Cの含有量を測定するために実施例1で説明したようにして化学分析を行い、1402ppmwであった。炭素との最小限の1:1原子比率を維持するために、Nbの量はおそらく約1〜1.3重量%であった。Gaの量はおそらく約20〜約22重量%であった。
[00146]この内容物を、(反応を最小限にするために)アルゴンの被覆ガスの下で、実施例1に記載したIRM圧延機を用いて900℃で熱間圧延し、このとき、30分間予熱し、次いで、1パス当り5分間の再加熱を行った。ローラーに入る前に、インゴットは0.603インチ(15.316mm)の最初の厚さを有し、次いで、1パス当り25%の圧下率となった。12パスの後、最終の厚さは0.044インチ(1.118mm)であった。
[00147]次いで、得られた薄板をアルゴンガスの下でIRM圧延機で300℃において温間圧延し、このとき、15分間予熱し、次いで、2パス毎に2〜3分間の再加熱を行った。最初のパスの後、得られた薄板は0.044インチ(1.118mm)の厚さを有し、その後、1パス当り0.002インチ(0.051mm)圧下した。30回のパスの後、最終的な厚さは0.020インチ(0.508mm)であった。
[00148]各々の薄板を、アルゴンガスを充填したステンレス鋼製のバッグの中に密封し、そしてアルゴンを流す環境を用いて850℃で約1時間、炉中での中間焼鈍に供した。
[00149]その後、各々の薄板を室温(RT)でIRM圧延機で冷間圧延した。最初のパスの後、得られた薄板は0.020インチ(0.508mm)の厚さを有し、その後、1パス当り0.001インチ(0.025mm)圧下した。18回のパスの後、最終的な厚さは0.015インチ(0.381mm)であった。従って、0.603インチ(15.316mm)の最初の厚さからの合計の厚さの減少率は97.7%であり、最終的な薄板のサイズは約1.75インチ(幅)(44.45mm)×約12インチ(長さ)(304.8mm)であった。
[00150]それに続く熱処理すなわち集合組織焼鈍の工程を、社内のCarbolite(登録商標)管状炉を用いて行った。焼鈍工程の全体を通してアルゴンガスを流す環境を維持し、このとき、各々の薄板を10℃/分で室温から1185℃まで加熱し、12時間の保持時間を設けた。
特徴づけと結果
[00151]前の各実施例と同様にサンプルの特徴づけを行った。
[00152]図18は、集合組織焼鈍をした薄板の一部の巨視的な画像を示す。結晶粒界の輪郭によって示されているように、このサンプルは大きなAGG反応を示した。RDは矢印によって示されていて、磁歪(「MS」)とSEM/EBSD(「A」)についての試験サンプルの位置(実線)が示されている。
[00153]図19は磁歪サンプルの領域における結晶粒についてのEBSDによる方位画像化マップを示し、「#1」、「#2」および「#3」と番号付けしたものは様々な態様に係る三つの異なる結晶粒の領域を示す。三つの結晶粒はエータ(η)-繊維組織の本質的に全てを包含していた。
[00154]図20は三つの結晶粒についての配向不整を示すヒストグラムである。そこでわかるように、全ての結晶粒は20°以内に配向していた(87.1面積%)。
[00155]図21は三つの結晶粒についての極点図の解析を示す。そこでわかるように、RD(圧延方向)に平行な極めて強い{100}集合組織があり、最大のMUDは12.35である。この集合組織は望ましいエータ(η)-繊維組織の一部である。しかし、図19でわかるように、多くの数の島状結晶粒が存在するために、このMUD値は他の実験の場合よりも弱い。この結果は、炭素が多すぎると集合組織焼鈍をした後に残る島の数が増大することがある、という仮説を確証するものである。
[00156]図22は、図18のSEM/EBSDサンプルの領域についてのJEOLマイクロプローブを用いるマイクロプローブ分析によるSEM画像(150倍)を示す。そこでわかるように、集合組織焼鈍をした薄板の中にかなりの数の介在物(明るい点)が存在する。マイクロプローブ分析によって測定されたこの介在物の化学組成は2:1のNb:C比が示され、これはNbC粒子の存在を示唆している。
[00157](16°の配向不整角度を有する)#1の結晶粒から取り出したサンプルについて、飽和磁歪は245ppmと測定された。
[00158]この大きな磁歪の結果は、小さな配向不整角度を有するように形成された強いエータ(η)-繊維組織によるものであると予想される。
実施例5: 介在物または粒子を含まず、アルゴンの環境
出発材料
[00159]39重量%の1008低炭素鋼(Earle M. Jorgensen Co., Lynwood, カリフォルニア州)、39重量%の電解鉄(99.95%最低純度、Less Common Metals)および22重量%のガリウム(99.99%最低純度、Continental Metals)をるつぼの中で一緒にした。重要なことは、Nbのような析出物形成剤を用いなかったことである。
[00160]この内容物をMK11誘導溶解装置を用いて約1570℃の最大温度になるまで溶解した。注湯温度は約1560℃であった。
[00161]この溶解した内容物を、実施例1のものと同じサイズの鋼製の鋳型に鋳込んだ。1008低炭素鋼からの炭素含有量は最低限であり、約250ppmw未満であったと考えられる。加工を行う間のGaの減量は最少限であったので、Gaの量は約20〜22重量%であったと考えられる。重要なことは、析出物形成剤を用いなかったために、介在物が形成されなかったことである。
[00162]この内容物を、アルゴンの被覆ガスの下で、実施例1に記載したIRM圧延機を用いて900℃で熱間圧延し、このとき、30分間予熱し、次いで、1パス当り5分間の再加熱を行った。最初のパスの後、得られた薄板は0.593インチ(15.062mm)の厚さを有し、その後、1パス当り25%の圧下率となった。13パスの後、最終の厚さは0.047インチ(1.194mm)であった。
[00163]次いで、得られた薄板をアルゴンガスの下でIRM圧延機で300℃において温間圧延し、このとき、15分間予熱し、次いで、2パス毎に2〜3分間の再加熱を行った。最初のパスの後、得られた薄板は0.047インチ(1.194mm)の厚さを有し、その後、1パス当り0.002インチ(0.051mm)圧下した。52回のパスの後、最終的な厚さは0.022インチ(0.559mm)であった。
[00164]各々の薄板を、アルゴンガスを充填したステンレス鋼製のバッグの中に密封し、そしてアルゴンを流す環境を用いて850℃で約1時間、炉中での中間焼鈍に供した。
[00165]その後、各々の薄板を室温(RT)でIRM圧延機で冷間圧延した。最初のパスの後、得られた薄板は0.022インチ(0.559mm)の厚さを有し、その後、1パス当り0.001インチ(0.025mm)圧下した。38回のパスの後、最終的な厚さは0.014インチ(0.356mm)であった。従って、0.593インチ(15.062mm)の最初の厚さからの合計の厚さの減少率は97.7%であり、最終的な薄板のサイズは約1.75インチ(幅)(44.45mm)×約12インチ(長さ)(304.8mm)であった。
[00166]それに続く熱処理すなわち集合組織焼鈍の工程を、社内のCarbolite(登録商標)管状炉を用いて行った。焼鈍工程の全体を通してアルゴンガスを流す環境を維持し、このとき、各々の薄板を10℃/分で室温から1100℃まで加熱し、24時間の保持時間を設けた。
[00167]図23は集合組織焼鈍をした薄板の集合組織の解析(SEM/EBSD)である。図23でわかるように、介在物が存在しないとAGGが生じず、平均の結晶粒サイズは340μm以下と小さくなる。
[00168]図24は、図23で示す結晶粒についての配向不整を示すヒストグラムである。そこでわかるように、存在する様々なエータ(η)-繊維組織に配向した結晶粒は強い優先方位を持たない。さらに、エータ(η)-繊維組織の配向不整を伴うサンプルの総面積%はわずかに23.9%であり、AGGサンプルにおいて観察される典型的な80%以上にはかなり不足している。
[00169]図25は、図23で示す結晶粒についての極点図の解析を示す。そこでわかるように、極点図の解析によってRD(圧延方向)に平行な弱い{100}集合組織が示され、最大のMUDは2.69である。この弱い集合組織は望ましいエータ(η)-繊維組織の一部である。このMUD値は異常結晶粒成長(AGG)が無いために弱いのであり、これはサンプル中に炭化物(介在物)が無いことの結果である。
[00170]磁歪の特徴づけを行うために、集合組織焼鈍した薄板から五つのサンプルを取り出した。磁歪の範囲は94〜136ppmで、測定された平均の磁歪は117ppmであった。この低い磁歪の値は加工を行う間に生じた弱い結晶集合組織の結果であり、これも炭化物のような介在物が無い中で生じる不十分な結果を証明している。
[00171]様々な態様は、当分野においてこれまでに得られなかったミクロ構造、方法および機器を提供する。一つの態様において、例えばガルフェノール-炭化物ミクロ構造のような、単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む製品が提供される。一つの態様において、その製品は一つ以上の薄板を含む。様々な態様において、介在物含有磁性ミクロ構造における介在物は炭化ニオブであり、それにはある量のNbCが含まれてもよい。
[00172]その製品は様々な特徴を有することができて、そのような特徴とは、(これらに限定はされないが)約45.3面積%よりも多くて約100面積%以下のエータ(η)-繊維組織と約30度未満の配向不整;および/または約200.1ppmと約400ppmの間の磁歪;および/または圧延方向(RD)−横断方向(TD)の面での少なくとも約10mmの結晶粒径;および/または約3mm以下(例えば、約0.381mm以下)の厚さ;および/またはほぼ直流(DC)から約30kHzまでの動作周波数;および/または約230〜約1400ppmwのC(0.1〜0.68原子%)および中程度から強い程度までのAGGである。一つの態様において、AGGは弱い。一つの態様において、製品は(Fe-Ga)99(Nb)0.5(C)0.5を含んでいてもよい。
[00173]その製品は作動器、センサーまたは環境発電機などの機器において用いるように構成または改造することができる。一つの態様において、環境発電機はモーターからのモーター振動を電気エネルギーに変換するように構成されたモーターマウントである。
[00174]一つの態様において、一つ以上の薄板を製造することを含む方法が提供され、この方法は、一種以上のフォームファクター成分(例えば、薄い壁の閉じた円筒に形成されるシムストック)をドーパント(例えば、炭素(C)、窒素(N)、ホウ素(B)、硫黄(S)またはこれらの組み合わせ)、磁性材料(例えば、鉄)、磁性材料の性能向上剤(例えば、ガリウム(Ga)、アルミニウム(Al)、モリブデン(Mo)、ゲルマニウム(Ge)、スズ(Sn)、ケイ素(Si)、ベリリウム(Be)またはこれらの組み合わせ)および析出物形成剤(例えば、チタン(Ti)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、タンタル(Ta)またはこれらの組み合わせ)と一緒にして、それにより溶融した合金を製造すること;溶融した合金を型の中に注入し、それにより少なくとも一つのインゴットを製造すること;場合により、その少なくとも一つのインゴットをさらに加工すること;少なくとも一つのインゴットについて厚さの低減処理と焼鈍を行い、それにより一つ以上の焼鈍した薄板を製造すること;および、その一つ以上の焼鈍した薄板について集合組織焼鈍を行い、それにより一つ以上の薄板において異常結晶粒成長(AGG)を生じさせること;を含み、このとき一つ以上の薄板の各々は単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造(例えば、ガルフェノール炭化物ミクロ構造)を含む。
[00175]一つの態様において、上で述べた方法はさらに、(例えば、Fe-C合金中のものとして)炭素を1.5重量%と3.5重量%の間の範囲で添加すること、および/または集合組織焼鈍を約1100℃から約1250℃までの保持温度および/または約12時間未満の保持時間で行うこと、および/または磁性材料の性能向上剤は約0.1重量%(0.08原子%)と約24重量%(20.2原子%)の間の範囲で添加されるガリウムであること、および/または集合組織焼鈍は水素、水素と窒素、アルゴン、またはこれらの組み合わせから選択される環境の中で行われることを含む。
[00176]一つの態様において、ここで説明している方法のいずれか、またはそれらの全てに従って製造される製品が提供される。
[00177]一つの態様において、一つ以上の磁性の薄板(磁気シート)の性能を向上させる方法が提供され、この方法は、磁性材料に一種以上のフォームファクター成分、ドーパント、磁性材料の性能向上剤および析出物形成剤を溶解し、それにより溶融した合金を得ること;溶融した合金を型の中に注入し、それにより一つ以上のインゴットを製造すること;場合により、その一つ以上のインゴットをさらに加工すること;一つ以上のインゴットについて厚さの低減処理と焼鈍を行い、それにより一つ以上の焼鈍した薄板を製造すること;および、その一つ以上の焼鈍した薄板について集合組織焼鈍を行い、それにより一つ以上の磁性の薄板であって各々の薄板が単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む薄板を製造すること;を含む。一つの態様において、溶解は真空または部分真空の下で行われる誘導溶解である。
[00178]一つの態様において、(Fe-Ga-Al-Mo-Ge-Sn-Si-Be)(Nb-Ti-Mo-Ta-W(C-N-B-S)(ここで、a≧98、b≦1、c≦1、d≦2、そしてa+b+c=100)の組成式を有する磁性ミクロ構造を含む組成物が提供される。一つの態様において、d=1または2である。一つの態様において、この組成物は(Fe-Ga)99(Nb)0.5(C)0.5から成る。
[00179]一つの態様において、ハウジングと、このハウジングの中に収容された一つ以上の薄板とを含む機器が提供され、一つ以上の薄板の各々は単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む。
[00180]ここで説明している様々な態様は、薄板の形でのかなり長いスケールの単一結晶粒の成長反応を与える。一つの態様において、結晶粒の大きさは薄板の全体のサイズによってのみ限定されると思われる。一つの態様において、単一結晶粒の薄板は、少なくとも1平方インチ(約6.45cm)の面積または約1〜約19平方インチ(6.45〜122.58cm)の面積を有するものとして提供され、これらの任意の範囲が含まれ、また単一結晶粒の薄板は、サイズが約19平方インチ(122.58cm)以下で厚さが0.015インチ(0.038mm)である。これらの大きな単結晶は、RD(圧延方向)に平行に配向した<001>磁化容易軸を有する望ましいエータ(η)-繊維組織の方位を有する。一つの態様において、この望ましい方位と大きな単結晶の面積が組み合わさって、約200ppmよりも大きな磁歪が生じる。加えて、一つの態様において、組成と加工方法により、厚さが0.015インチ(0.0381mm)またはそれよりも薄い高度に集合した組織の薄板材料を製造することができて、それは50kHz以下の周波数で作動する機器のために理想的なものである。
[00181]図26は幾つかの典型的なサンプルについての測定された飽和磁歪対配向不整角度を示すグラフである。図26に示した全てのサンプルは、実施例1〜4の条件と内容ならびにそれら実施例に記載した条件と内容の変形を用いて製造した。最も注目すべきは、三つの異なる熱処理雰囲気が用いられ、用いられた環境の如何にかかわらず、それぞれが、RD(圧延方向)の30度以内の強いエータ-繊維組織の方位を伴う好結果をもたらした、ということである。
[00182]全ての刊行物、特許および特許文献は、個々にそっくりそのまま引用文献として本明細書に取り込まれる。何らかの不一致がある場合は、本明細書中の定義を含めて、本明細書の開示が優先される。
[00183]本明細書において特定の態様を例示して説明したが、同じ目的を達成すると判断されるいかなる手順もここに示された特定の態様の代わりになりうると、当業者であれば認識するであろう。例えば、様々な態様をXに関して説明したが、Yであっても可能である。本出願は、本発明の主題のいかなる改作または変形にも及ぶことが意図されている。従って、本発明の態様は特許請求の範囲とその同等物によってのみ限定されることが、明白に意図されている。

Claims (33)

  1. 単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む製品。
  2. 一つ以上の薄板を含む、請求項1に記載の製品。
  3. 介在物含有磁性ミクロ構造はガルフェノール炭化物ミクロ構造である、請求項2に記載の製品。
  4. 介在物含有磁性ミクロ構造の中の介在物は炭化ニオブである、請求項3に記載の製品。
  5. ある量のNbCが炭化ニオブの中に含まれている、請求項4に記載の製品。
  6. 約45.3面積%よりも多くて約100面積%以下のエータ(η)-繊維組織と約30度未満の配向不整を有する、請求項4に記載の製品。
  7. 約200.1ppmと約400ppmの間の磁歪を有する、請求項4に記載の製品。
  8. 圧延方向(RD)−横断方向(TD)の面での少なくとも約10mmの結晶粒径および約3mm以下の厚さを有する、請求項4に記載の製品。
  9. 厚さは約0.381mm以下である、請求項8に記載の製品。
  10. ほぼ直流(DC)から約30kHzまでの動作周波数を有する、請求項1から9のいずれかに記載の製品。
  11. 約230〜約1400ppmwのC(0.1〜0.68原子%)が存在し、AGGは中程度から強い程度までである、請求項10に記載の製品。
  12. (Fe-Ga)99(Nb)0.5(C)0.5を含む、請求項11に記載の製品。
  13. 作動器、センサーまたは環境発電機を含む機器において用いるように構成された、請求項9に記載の製品。
  14. 環境発電機はモーターからのモーター振動を電気エネルギーに変換するように構成されたモーターマウントである、請求項13に記載の製品。
  15. 一つ以上の薄板を製造する方法であって、次の工程:
    一種以上のフォームファクター成分をドーパント、磁性材料、磁性材料の性能向上剤および析出物形成剤と一緒にして、それにより溶融した合金を製造すること;
    溶融した合金を型の中に注入し、それにより少なくとも一つのインゴットを製造すること;
    場合により、その少なくとも一つのインゴットをさらに加工すること;
    少なくとも一つのインゴットについて厚さの低減処理と焼鈍を行い、それにより一つ以上の焼鈍した薄板を製造すること;および
    その一つ以上の焼鈍した薄板について集合組織焼鈍を行い、それにより一つ以上の薄板において異常結晶粒成長(AGG)を生じさせること(このとき、一つ以上の薄板の各々は単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む);
    を含む、前記方法。
  16. フォームファクター成分は薄い壁の閉じた円筒に形成されたシムストックを含む、請求項15に記載の方法。
  17. ドーパントは炭素(C)、窒素(N)、ホウ素(B)、硫黄(S)およびこれらの組み合わせから選択される、請求項15に記載の方法。
  18. ドーパントは1.5重量%と3.5重量%の間の範囲でFe-C合金として添加される炭素である、請求項15に記載の方法。
  19. 集合組織焼鈍は約1100℃から約1250℃までの保持温度および約12時間未満の保持時間で行われる、請求項15に記載の方法。
  20. 磁性材料は鉄であり、そして磁性材料の性能向上剤はガリウム(Ga)、アルミニウム(Al)、モリブデン(Mo)、ゲルマニウム(Ge)、スズ(Sn)、ケイ素(Si)、ベリリウム(Be)およびこれらの組み合わせから選択される、請求項15から19のいずれかに記載の方法。
  21. 磁性材料の性能向上剤は約0.1重量%(0.08原子%)と約24重量%(20.2原子%)の間の範囲で添加されるガリウムである、請求項20に記載の方法。
  22. 析出物形成剤はチタン(Ti)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、タンタル(Ta)およびこれらの組み合わせから選択される、請求項21に記載の方法。
  23. 介在物含有磁性ミクロ構造はガルフェノール炭化物ミクロ構造である、請求項22に記載の方法。
  24. 集合組織焼鈍は水素、水素と窒素、アルゴン、およびこれらの組み合わせから選択される環境の中で行われる、請求項23に記載の方法。
  25. 請求項24に記載の方法に従って製造された製品。
  26. 一つ以上の磁性の薄板の性能を向上させる方法であって、次の工程:
    磁性材料に一種以上のフォームファクター成分、ドーパント、磁性材料の性能向上剤および析出物形成剤を溶解し、それにより溶融した合金を得ること;
    溶融した合金を型の中に注入し、それにより一つ以上のインゴットを製造すること;
    場合により、その一つ以上のインゴットをさらに加工すること;
    一つ以上のインゴットについて厚さの低減処理と焼鈍を行い、それにより一つ以上の焼鈍した薄板を製造すること;および
    その一つ以上の焼鈍した薄板について集合組織焼鈍を行い、それにより一つ以上の磁性の薄板であって各々の薄板が単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む薄板を製造すること;
    を含む、前記方法。
  27. 溶解は真空または部分真空の下で行われる誘導溶解である、請求項26に記載の方法。
  28. (Fe-Ga-Al-Mo-Ge-Sn-Si-Be)(Nb-Ti-Mo-Ta-W(C-N-B-S)(ここで、a≧98、b≦1、c≦1、d≦2、そしてa+b+c=100)の組成式を有する磁性ミクロ構造を含む組成物。
  29. d=1または2である、請求項28に記載の組成物。
  30. (Fe-Ga)99(Nb)0.5(C)0.5を含む、請求項29に記載の組成物。
  31. ハウジング;および
    ハウジングの中に収容された一つ以上の薄板(これら一つ以上の薄板の各々は単結晶の、またはほぼ単結晶の介在物含有磁性ミクロ構造を含む);
    を含む機器。
  32. 作動器、センサーまたは環境発電機を含む、請求項31に記載の機器。
  33. 環境発電機はモーターからのモーター振動を電気エネルギーに変換するように構成されたモーターマウントである、請求項32に記載の機器。
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