JP2015225906A - 実装基板製造システム - Google Patents
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Abstract
【課題】キャリアテープの誤セットを早期に発見して不良基板の発生を抑制することができる実装基板製造システムを提供することを目的とする。【解決手段】部品実装装置M3,M4は、基板2に実装された部品の実装履歴情報を基板2毎にホストコンピュータ4に送信する。ホストコンピュータ4は、実装履歴情報に基づいて新たなキャリアテープから最初に取り出された部品が実装された基板2と当該基板2を識別するための基板識別情報とを関連づけた抜き取り検査情報を作成する。作業コンベアM6は、搬入された基板2に対応する抜き取り検査情報が作成されている場合にはその旨を報知する。オペレータOPは、報知の対象となった基板2を作業コンベアM6から抜き取り、インサーキットテスタM8に投入する。インサーキットテスタM8は、抜き取り検査情報に基づいて基板を検査する。【選択図】図1
Description
本発明は、基板に部品が実装された実装基板を製造する実装基板製造システムに関するものである。
電子部品実装分野においては、基板に部品が実装された実装基板を製造するための複数の実装用装置を備えた実装基板製造システムが知られている。実装用装置としては、テープフィーダによって供給された部品を基板に実装する部品実装装置、基板に実装された部品の外観に基づいて実装状態を検査する外観検査装置などが挙げられる。
部品実装装置において、テープフィーダには複数の部品を保持したキャリアテープが装着されており、キャリアテープをピッチ送りすることによって部品を実装ヘッドによるピックアップ位置に供給する。キャリアテープに保持された部品の残数が少なくなった場合、既装着のキャリアテープと新たに供給されるキャリアテープとを接合テープによって継ぎ合わせるスプライシング作業が行われる。
外観検査装置は、部品実装後の基板をカメラによって撮像し、取得した撮像データを認識処理することによって部品の実装状態を検査する。これにより、部品が異常な姿勢で実装されていないか、若しくは誤った部品が実装されていないかを判定することができる。しかしながら、外観検査装置では正規部品と誤実装部品とが外観上において明瞭に区別できない場合、判定ミスが発生するおそれがある。そのため、基板の電気的特性を検査するICT(In−circuit Tester)を外観検査装置と併用する場合がある(例えば特許文献1を参照)。
特許文献1に示す例では、プローブを専用の移動機構によって水平方向及び垂直方向に移動自在とし、基板の電極にプローブを接触させたときの静電量を通じて基板の電気的特性を検出する。そして、検出した電気的特性に基づいて部品実装後の基板を検査する。このような方法によって基板を検査することで、正規部品と誤実装部品とが外観上において明確に区別できないような場合であっても実装不良をより確実に検出することができる。
ICTによる検査は、基板に形成された複数の電極にプローブを順次接触させて行うため、基板単位での作業タクトが他の実装用装置に比べて大幅に長くなる傾向にある。したがって、生産性を重視する場合には全ての基板をICTによって検査することがきわめて難しい。そのため従来では、ICTによる検査の一形態として、所定の基準(例えば、所定枚数毎)に則して基板を抜き取って検査する、いわゆる抜き取り検査が行われていた。
しかしながら、上記従来技術では次のような問題が生じていた。すなわち、スプライシング作業時に作業者が既装着のキャリアテープに誤ったキャリアテープを継ぎ合わせるミス(誤セット)を起こした場合、正規部品とは異なる部品が実装された不良基板が連続して発生するおそれがある。このような状況下で上述の基準に則して基板を抜き取って検査する場合、基板を抜き取るタイミング如何によっては多数の不良基板がICTによる検査を受けずに見逃され、キャリアテープの誤セットを早期に発見することが困難になるという問題があった。
そこで本発明は、キャリアテープの誤セットを早期に発見して不良基板の発生を抑制することができる実装基板製造システムを提供することを目的とする。
本発明の実装基板製造システムは、テープフィーダによって部品を保持したキャリアテープをピッチ送りし、実装ヘッドによってピックアップ位置に供給された部品を取り出して基板に実装する部品実装装置と、前記部品実装装置により部品が実装された基板をリフローするリフロー装置と、リフローされた基板のうち抜き取るべき基板を報知する報知装置と、前記部品実装装置および前記報知装置に接続されたホストコンピュータと、を含む実装基板を製造する実装基板製造システムであって、前記部品実装装置は、基板に実装された部品の実装履歴情報を基板毎に前記ホストコンピュータに送信し、前記ホストコンピュータは、前記実装履歴情報に基づいて、新たなキャリアテープから最初に取り出された部品が実装された基板と、当該基板を識別するための基板識別情報とを関連づけた抜き取り検査情報を作成し、前記報知装置は、前記抜き取り検査情報に基づいて前記抜き取るべき基板を報知する。
本発明によれば、キャリアテープの誤セットを早期に発見して不良基板の発生を抑制することができる。
まず図1を参照して、本発明の一実施の形態における実装基板製造システムの全体構成を説明する。実装基板製造システム1は基板2に部品が実装された実装基板を製造する機能を有し、基板供給装置M1、印刷装置M2、部品実装装置M3,M4、リフロー装置M5、作業コンベアM6および基板回収装置M7を連結した部品実装ライン1aを主体とし、さらに部品実装ライン1aの外部にインサーキットテスタM8(検査装置)を備えている。各装置は通信ネットワーク3を介して相互に接続されるとともに、ホストコンピュータ4に通信可能に接続されている。
図2において、基板2には複数の実装位置R1〜R5が設定されている。各実装位置R1〜R5には、実装データに示された部品ID(P1〜P5)によって規定される部品が実装される。基板2にはバーコードラベルなどの基板識別マーク2mが形成されている。部品実装装置M3,M4、作業コンベアM6、インサーキットテスタM8にそれぞれ設けられた基板ID読み取り部8、9、10によって、基板識別マーク2mから基板ID(基板識別情報)が読み取られる。
基板供給装置M1は、基板2を印刷装置M2に順次供給する。印刷装置M2は、基板2に部品接合用の半田を印刷する。部品実装装置M3,M4は、半田印刷後の基板2の実装位置に部品を実装する。リフロー装置M5は、部品実装装置M3,M4により部品が実装された基板2をリフロー(加熱)することによって、基板2と部品を半田接合させる。作業コンベアM6は、リフロー後の基板2を基板回収装置M7へ搬送する。基板回収装置M7は、作業コンベアM6によって搬送された基板2を回収する。インサーキットテスタM8は、オペレータOPによって作業コンベアM6から抜き取られた所定の基板2を検査する。
次に図3を参照して、部品実装装置M3、M4について説明する。基台5の略中央部には基板搬送方向(X方向)に伸びた基板搬送機構14が設けられている。基板搬送機構14は基板2を搬送して実装作業位置に位置決めする。基板搬送機構14の上流端には基板ID読み取り部8が配置されており、基板搬送機構14によって搬送される基板2の基板識別マーク2mから基板IDを読み取る。
基台5の両側には部品供給部6が設けられている。部品供給部6にはテープフィーダ7を装着した台車6aがセットされている。この台車6aの上部には、テープフィーダ7を装着するためのスロットが複数並列して形成されたフィーダテーブル(以下、単に「テーブル」と称する。)が設けられている。これらのテーブル、スロットには番号が個別に付与されており、制御部16はこれらの番号(テーブルNo.スロットNo.)に基づいて、各位置にセットされたテープフィーダ7を個別に特定できるようになっている。
台車6aには、複数の部品を保持したキャリアテープ12が巻回収納された供給リール11が保持されている。供給リール11から引き出されたキャリアテープ12は、テープフィーダ7によってピッチ送りされる。これにより、キャリアテープ12に保持された部品を実装ヘッド15によるピックアップ位置まで供給することができる。実装ヘッド15は、基板搬送機構14及び部品供給部6の上方においてX方向およびY方向(X方向と水平面内において直交する方向)に移動自在に設けられている。実装ヘッド15の下端には、Z方向(垂直方向)に移動自在な吸着ノズル15aが備えられている。実装ヘッド15は、テープフィーダ7によって供給された部品を吸着ノズル15aによって取り出して基板2に実装する機能を有する。このように、部品実装装置M3,M4は、テープフィーダ7によって部品を保持したキャリアテープ12をピッチ送りし、実装ヘッド15によってピックアップ位置に供給された部品を取り出して基板2に実装する。
実装動作が繰り返し行われる過程でキャリアテープ12に保持された部品の残数が少なくなった場合、補充用の新たな供給リール11*がセットされる。これにより、キャリアテープ12が新たに補充される。このキャリアテープ12の補充方法として、2つのキャリアテープ12をオペレータOP(図1)が手作業によって接合テープで継ぎ合わせるスプライシング方式や、継ぎ合わせを行うことなく新たなキャリアテープ12を追加して補充するいわゆるスプライシングレス方式が用いられている。
いずれの方法においても、新たなキャリアテープ12の供給は、当該キャリアテープ12を収納した新たな供給リール11*をオペレータOPが手作業でテープフィーダ7にセットすることでなされる。そのため、オペレータOPの錯誤により誤ったキャリアテープ12がテープフィーダ7にセットされるセットミスが発生するおそれがある。このようなセットミスが検出されないまま部品の供給が実行されると、本来実装されるべき部品とは異なる部品が実装され得る。このような事態を防止すべく、従来ではキャリアテープ12を補充する際に部品照合作業が行われているが、人為的ミスが介入する余地があり、供給リール11のセットミスを完全に防ぐことは困難であった。
テープフィーダ7には、既装着のキャリアテープ12と新たなキャリアテープ12との境界を検出するための継ぎ目検出センサ13が設けられている。スプライシング方式では、継ぎ目検出センサ13は2つのキャリアテープ12を継ぎ合わせるスプライシング部を検出する。スプライシングレス方式では、継ぎ目検出センサ13は新たに装着されたキャリアテープ12の先端部を検出する。このように、継ぎ目検出センサ13によってキャリアテープ12の切り替わりを検出することにより、キャリアテープ12の切り替えタイミングを履歴情報として記録することができる。また、追加補充される供給リール11のセットミスが発生した場合でも、セットミス発生時に部品の実装対象となった基板2を特定することが可能となっている。
次に図4を参照して、作業コンベアM6について説明する。基台20の上面には基板搬送機構21がX方向に伸びて設けられている。基板搬送機構21は、リフロー装置M5によりリフローされた基板2を基板回収装置M7へ搬送する基板搬送手段として機能する。基板搬送機構21の上流端には基板ID読み取り部9が配置されており、基板搬送機構21によって搬送される基板2の基板識別マーク2mから基板IDを読み取る。
基台20には、モニタなどの表示部22、シグナルタワーなどの報知部23がさらに設けられており、これらは基台20に内蔵された制御部24によって制御される。制御部24は、基板ID読み取り部9によって読み取った基板IDをホストコンピュータ4に問い合わせ、当該基板IDに対応する基板2が所定の理由により作業コンベアM6から抜き取られるべき基板(以後、「抜き取り基板」と称する)に該当するかを判定する(詳細は後述する)。判定結果は報知部23若しくは表示部22を通じて報知される。このように作業コンベアM6は、リフローされた基板2のうち抜き取るべき基板2を報知する報知装置として機能する。
次に図5を参照して、インサーキットテスタM8について説明する。基台25には、X方向に伸びた基板搬送機構26が配設されている。基板搬送機構26は、オペレータOPによって作業コンベアM6から抜き取られた基板2を検査位置まで搬送する。基板搬送機構26の上流端には基板ID読み取り部10が配置されており、基板搬送機構26によって搬送される基板2の基板識別マーク2mから基板IDを読み取る。
基板搬送機構26の上方には、プローブヘッド27がX方向、Y方向、Z方向に移動自在に設けられており、基台25に内蔵された制御部28によって制御される。プローブヘッド27はプローブ27aを備えており、プローブ27aは基板2の電極に接触することで基板2の回路の電気的特性を検出する。このときの検出結果に基づいて、制御部28は実装基板の良否を判定する検査処理を行う。検査結果はインサーキットテスタM8に設けられた表示部29に表示される。このように、インサーキットテスタM8は、基板搬送手段から抜き取られた基板2を検査する機能を有している。また、インサーキットテスタM8は、基板2にプローブ27aを接触させることによって検出した電気的特性に基づいて実装基板を検査する。
インサーキットテスタM8による検査は、基板2に実装された部品の電気的特性に基づいて行うため、検査結果の信頼性が高いという長所がある。しかしながらその一方で、検査対象を撮像した画像に基づいて光学的に良否判定を行う外観検査と比較して検査に要する時間が長く、検査作業のスループットが低下するという欠点がある。このような欠点を補うべく、本実施の形態では、検査を行う必要性が特に高い検査対象のみをインサーキットテスタM8による検査対象としている。本実施の形態における検査対象は、キャリアテープ12の切り替え後に最初に部品実装動作が実行された基板2、換言すれば新たなキャリアテープ12から最初に取り出された部品が実装された基板2である。さらに、プローブ27aを接触させる電極は当該部品が実装された実装位置のみである。
次に図6を参照して、制御系の構成を説明する。部品実装装置M3,M4に備えられた制御部16は、記憶部31、テープ切替検出部32、実装履歴情報作成部33を含んで構成される。記憶部31には実装データ40、部品配置データ41等が記憶されている。図7(a)において、実装データ40は「部品実装装置番号」40a、「基板種」40b、「実装位置番号」40c、「実装位置(座標)」40d、「部品ID」40eを含んでいる。
「部品実装装置番号」40aは、基板2に部品を実装する部品実装装置を識別するための装置番号を示す(本実施の形態では図1に示す#1,#2の2基)。「基板種」40bは、実装対象となる基板2の種類を示す。「実装位置番号」40cは、基板2に設定された実装位置の位置座標をx、y、θ方向ごとに示す。「部品ID」40eは、実装位置に対応して実装される部品の部品種を特定するための部品ID(部品識別情報)を示す。
図7(b)において、部品配置データ41は、部品実装装置の装置番号を示す「部品実装装置番号」41aによって特定される部品実装装置ごとに、部品供給部6における部品の配置を特定するデータであり、「部品ID」41b、「テーブルNo.」41c、「スロットNo.」41dを含む。すなわち、「部品ID」41bに示される部品IDに対応する部品は、「テーブルNo.」41cに示されるテーブルNo.において、「スロットNo.」41dに示されるスロットNo.にセットされたテープフィーダ7によって供給されることを示している。部品の搭載動作時には実装データ40、部品配置データ41が参照される。本実施の形態における部品実装装置M3,M4には複数の部品供給部6が設けられているため、1基の部品実装装置に対して複数のテーブルNo.が存在する。
テープ切替検出部32は、継ぎ目検出センサ13からの検出信号に基づき、各テープフィーダ7においてキャリアテープ12が既装着のキャリアテープ12から新たなキャリアテープ12に切り替えられたことを検出する。実装履歴情報作成部33は、部品実装装置M3、M4において実行された部品実装動作の実行履歴を示す実装履歴情報34aを作成する処理を行う。作成した実装履歴情報34aは、基板2ごとに通信ネットワーク3を介してホストコンピュータ4に送信される。
実装履歴情報34aには、キャリアテープ12の切り替え後において、最初の部品実装動作が実行された基板2、すなわち新たなキャリアテープ12から最初に取り出された部品が実装された基板2と、当該基板2において当該部品が実装された実装位置を特定する情報が含まれている。
ホストコンピュータ4は、記憶部34、抜き取り検査情報作成部35を備えている。記憶部34には前述した実装履歴情報34aに加え、抜き取り検査情報42等が記憶される。抜き取り検査情報42は、作業コンベアM6から抜き取られてインサーキットテスタM8による抜き取り検査を実行すべき基板2、すなわちスプライシング後に先頭の部品が実装された基板2について作成される情報である。抜き取り検査情報作成部35は、実装履歴情報34aと基板ID(基板識別情報)とを関連づけた状態で抜き取り検査情報42を作成する。
図8において、抜き取り検査情報42は「基板ID」42a、「検査対象フラグ」42b、「検査対象情報」42cを含む。「基板ID」42aは、抜き取り検査の対象となる基板2を特定するための基板IDを示す。「検査対象フラグ」42bは、基板2ごとにインサーキットテスタM8による抜き取り検査の対象を特定する情報を示すものである。1枚の基板2について複数の検査対象が存在する場合、「検査対象フラグ」42bは[I]、[II]・・・と区別される。1つの「検査対象フラグ」42bには、検査対象であるスプライシング後の先頭の部品に関する検査対象情報42cが対応している。「検査対象情報」42cには、当該部品の実装位置、実装装置番号、テーブルNo.スロットNo.部品IDなど、検査対象を特定するための情報が含まれる。
インサーキットテスタM8による抜き取り検査は、オペレータOPの手作業による供給リール11の補充作業において、人為的ミスによるキャリアテープ12の誤セットを早期に発見して不良基板の発生を抑制することを目的としている。すなわち、スプライシング後に先頭の部品が実装された基板2を特定して、インサーキットテスタM8による抜き取り検査の対象とすることにより、人為的ミスによるキャリアテープの誤セットが発生した場合においても、インサーキットテスタM8による検査によって速やかに異部品の実装を検出することができる。
すなわち、ホストコンピュータ4は、実装履歴情報34aに基づいて、新たなキャリアテープ12から最初に取り出された部品が実装された基板2と、当該基板2を識別するための基板識別情報とを関連づけた抜き取り検査情報42を作成する機能を有している。そして、作成された抜き取り検査情報42は、通信ネットワーク3を介してインサーキットテスタM8に送信される。すなわち、本実施の形態では、ホストコンピュータ4はインサーキットテスタM8にも通信ネットワーク3を介して接続されており、インサーキットテスタM8はホストコンピュータ4から送信された抜き取り検査情報42に基づいて基板2を検査する構成となっている。
先に説明した図6において、作業コンベアM6に備えられた制御部24は、基板ID記憶部24aを有している。基板ID記憶部24aは、基板ID読み取り部9によって読み取った基板IDを一時的に記憶する。制御部24はホストコンピュータ4に問い合わせし、読み取った基板IDについての抜き取り検査情報42が作成されているかを判断する。
インサーキットテスタM8に備えられた制御部28は、検査処理部36、記憶部37を備えている。検査処理部36は、プローブヘッド27を制御してインサーキットテストを実行させる処理を行う。記憶部37には、前述した実装データ40に加え、部品検査データ43等が記憶されている。
図9において、部品検査データ43はプローブヘッド27による検査を実行するためのデータであり、検査対象となる「実装位置」43aごとに「検査条件情報」43bを組み合わせて構成される。「検査条件情報」43bには、インサーキットテスタM8における検査方法や良否判定に用いられる検査基準、プローブ27aを接触させる電極位置など、検査処理を実行するために必要とされる各種の情報が含まれる。
本実施の形態における実装基板製造システム1は以上のように構成され、次に図10を参照して部品実装装置M3,M4における部品実装処理フローについて説明する。まず、制御部16は上流側装置からの基板2の搬入を待機する(ST1:待機工程)。その後、基板搬送機構14は上流側装置から基板2を搬入する(ST2:基板搬入工程)。次いで、基板ID読み取り部8は基板識別マーク2mから基板IDを読み取る(ST3:基板ID読み取り工程)。
次いで、図示しないクランプ機構によって基板2を実装作業位置にてクランプする(ST4:クランプ工程)。そして、この状態で基板2に対して部品実装動作が実行される(ST5:部品実装動作実行工程)。すなわち、実装ヘッド15は所定のテープフィーダ7によって供給された部品をピックアップして基板2に実装する。次いで、制御部16は実装履歴情報34aを基板2ごとに作成し、ホストコンピュータ4に送信する(ST6:実装履歴情報送信工程)。ホストコンピュータ4は、受信した実装履歴情報34aに基づいて、スプライシング後の先頭の部品を実装したか判断する(ST7:部品判断工程)。すなわち、ホストコンピュータ4は実装した部品がテープフィーダ7において新たに供給が開始されたキャリアテープ12から最初に取り出された部品であるか否かを判断する。ここで、スプライシング後の先頭の部品を実装したと判断したならば、ホストコンピュータ4は抜き取り検査情報42を作成する(ST8:抜き取り検査情報作成工程)。
クランプ機構による基板2のクランプを解除後、基板搬送機構14によって基板2を下流側装置に搬出する(ST9:基板搬出工程)。その後、(ST1)に戻って同様の処理を反復実行する。
次に図11を参照して、作業コンベアM6における作業コンベア処理フローについて説明する。まず、制御部24はリフロー装置M5からの基板2の搬入を待機する(ST11:待機工程)。その後、基板搬送機構21はリフロー装置M5から基板2を搬入する(ST12:基板搬入工程)。次いで、基板ID読み取り部9は基板識別マーク2mから基板IDを読み取る(ST13:基板ID読み取り工程)。このとき、基板搬送機構21は基板搬送を一時的に停止する(ST14:基板搬送一時停止工程)。
次いで、制御部24はホストコンピュータ4に対して読み取った基板IDの問い合わせを行う(ST15:問い合わせ工程)。次いで、制御部24は読み取った基板IDと、ホストコンピュータ4が記憶する抜き取り検査情報42の基板IDが一致するかを判断する(ST16:基板ID判断工程)。ここで、双方の基板IDが一致しない場合、基板搬送機構21によって基板2を基板回収装置M7に搬出する(ST17:基板搬出工程)。
また、(ST16)において双方の基板IDが一致した場合、報知部23(若しくは表示部22)はその旨を報知する(ST18:報知工程)。報知を承けたオペレータOPは、当該基板2を作業コンベアM6から抜き取り、インサーキットテスタM8に投入する。このとき、制御部24はオペレータOPによる基板抜き取り済み入力が確認されたか否かを判断する(ST19:基板抜き取り済み入力有無判断工程)。基板抜き取り済み入力有りを確認した場合、報知部23は報知を停止する(ST20:報知停止工程)。報知停止の後、若しくは(ST17)にて基板2を搬出した後、(ST11)に戻って同様の処理が反復実行される。
次に図12を参照して、インサーキットテスタM8(ICT)における検査処理フローについて説明する。オペレータOPによってインサーキットテスタM8に基板2が投入された後、基板搬送機構26は当該基板2を搬入する(ST21:基板搬入工程)。次いで、基板ID読み取り部10は基板識別マーク2mから基板IDを読み取る(ST22:基板ID読み取り工程)。次いで、図示しないクランプ機構によって基板2をクランプする(ST23:クランプ工程)。これにより、基板2は検査位置に位置決めされる。次いで、制御部28はホストコンピュータ4に抜き取り検査情報42の問い合わせを行う(ST24:抜き取り検査情報問い合わせ工程)。これにより、抜き取り検査情報42に規定された検査対象フラグにて指定される実装位置など、検査に必要なデータが読み込まれる。
次いで、プローブヘッド27は抜き取り検査情報42や、部品検査データ43に基づいて基板2の検査を実行する(ST25:検査実行工程)。このとき、プローブヘッド27は、新たに供給が開始されたキャリアテープ12から最初に取り出された部品に対応する実装位置のみを検査する。次いで、制御部28は検査結果を表示部29に出力する(ST26:検査結果出力工程)。ここで検査結果がNGの場合、制御部28は実装位置番号、実装装置番号、テーブルNo.スロットNo.など、当該部品を供給したテープフィーダ7を特定するための情報を表示部29に出力する。その後、基板2はインサーキットテスタM8から搬出される。
以上説明したように、本実施の形態における実装基板製造システム1では、部品実装装置M3,M4は基板2に実装された部品の実装履歴情報34aを基板2毎にホストコンピュータ4に送信し、ホストコンピュータ4は実装履歴情報34aに基づいて新たなキャリアテープ12から最初に取り出された部品が実装された基板2と当該基板2を識別するための基板識別情報とを関連づけた抜き取り検査情報42を作成し、作業コンベアM6は抜き取り検査情報42に基づいて抜き取るべき基板2を報知するようにしている。
これにより、部品補充の際に人為的ミスによって正しくないキャリアテープ12がセットされた場合でも、インサーキットテスタM8による特性検査によって異部品であることが確実に検出される。また、キャリアテープ12から最初に取り出された部品が実装された基板2を検査対象としているため、キャリアテープ12の誤セットを早期に発見して不良基板の発生を抑制することができる。しかも、単位基板あたりの検査の所要時間が長いという短所を有するインサーキットテスタM8による検査対象を、前述した基板2に限定しているため生産性を担保することが可能となっている。
本発明の実装基板製造システムはキャリアテープの誤セットを早期に発見して不良基板の発生を抑制することができ、電子部品実装分野において有用である。
1 実装基板製造システム
2 基板
4 ホストコンピュータ
7 テープフィーダ
12 キャリアテープ
15 実装ヘッド
27a プローブ
34a 実装履歴情報
42 抜き取り検査情報
M3,M4 部品実装装置
M5 リフロー装置
M6 作業コンベア
M8 インサーキットテスタ(検査装置)
2 基板
4 ホストコンピュータ
7 テープフィーダ
12 キャリアテープ
15 実装ヘッド
27a プローブ
34a 実装履歴情報
42 抜き取り検査情報
M3,M4 部品実装装置
M5 リフロー装置
M6 作業コンベア
M8 インサーキットテスタ(検査装置)
Claims (3)
- テープフィーダによって部品を保持したキャリアテープをピッチ送りし、実装ヘッドによってピックアップ位置に供給された部品を取り出して基板に実装する部品実装装置と、
前記部品実装装置により部品が実装された基板をリフローするリフロー装置と、
リフローされた基板のうち抜き取るべき基板を報知する報知装置と、
前記部品実装装置および前記報知装置に接続されたホストコンピュータと、を含む実装基板を製造する実装基板製造システムであって、
前記部品実装装置は、基板に実装された部品の実装履歴情報を基板毎に前記ホストコンピュータに送信し、
前記ホストコンピュータは、前記実装履歴情報に基づいて、新たなキャリアテープから最初に取り出された部品が実装された基板と、当該基板を識別するための基板識別情報とを関連づけた抜き取り検査情報を作成し、
前記報知装置は、前記抜き取り検査情報に基づいて前記抜き取るべき基板を報知することを特徴とする実装基板製造システム。 - 前記抜き取られた基板を検査する検査装置を備え、
前記ホストコンピュータは前記検査装置にも接続されており、
前記検査装置は、前記抜き取り検査情報に基づいて基板を検査することを特徴とする請求項1記載の実装基板製造システム。 - 前記検査装置は、基板にプローブを接触させることによって検出した電気的特性に基づいて実装基板を検査することを特徴とする請求項2に記載の実装基板製造システム。
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Cited By (1)
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WO2020121361A1 (ja) * | 2018-12-10 | 2020-06-18 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 部品実装システム |
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2014
- 2014-05-27 JP JP2014108702A patent/JP2015225906A/ja active Pending
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WO2020121361A1 (ja) * | 2018-12-10 | 2020-06-18 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 部品実装システム |
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